JP7574580B2

JP7574580B2 - Material testing machine and method for controlling material testing machine

Info

Publication number: JP7574580B2
Application number: JP2020149547A
Authority: JP
Inventors: 俊一上田
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2020-09-07
Filing date: 2020-09-07
Publication date: 2024-10-29
Anticipated expiration: 2040-09-07
Also published as: JP2022044097A

Description

本発明は、材料試験機、及び材料試験機の制御方法に関する。 The present invention relates to a materials testing machine and a method for controlling a materials testing machine.

材料試験機において、材料試験の対象である試験片を所定の温度に保持する恒温槽が知られている。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機の恒温槽は、下記の構成を有する。すなわち、恒温槽には、主室と副室が設けられる。主室には、試験治具又は試験片を貫通させるための第１貫通孔が設けられると共に、前面に第１扉が配設され、内部に試験空間が形成される。そして、第１扉の上側の領域には、副室が配設される。副室には、試験片を貫通させるための第２貫通孔が設けられると共に、前面に第２扉が配設され、内部に試験空間が形成される。副室の第２扉とは逆側の背面は主室の試験空間に向けて開放されており、副室の試験空間と主室の試験空間とは連通する。 2. Description of the Related Art In a material testing machine, a thermostatic chamber is known that maintains a test piece, which is a target of a material test, at a predetermined temperature.
For example, the thermostatic chamber of the material testing machine described in Patent Document 1 has the following configuration. That is, the thermostatic chamber is provided with a main chamber and an auxiliary chamber. The main chamber is provided with a first through hole for passing a test jig or a test piece therethrough, and a first door is disposed at the front side, forming a test space therein. The auxiliary chamber is disposed in the area above the first door. The auxiliary chamber is provided with a second through hole for passing a test piece therethrough, and a second door is disposed at the front side, forming a test space therein. The rear side of the auxiliary chamber opposite to the second door is open toward the test space of the main chamber, and the test space of the auxiliary chamber is connected to the test space of the main chamber.

特開２０１７－２０７４７３号公報JP 2017-207473 A

しかしながら、特許文献１に記載の材料試験機では、材料試験機本体によって実行される材料試験の制御と、恒温槽の制御とは、両者の応答性が大きく相違するため、別々に実行されていた。また、両者を同期させる必要性も見出されていなかった。そこで、両者を同期させることは困難であった。 However, in the material testing machine described in Patent Document 1, the control of the material test performed by the main body of the material testing machine and the control of the thermostatic chamber are performed separately because their responsiveness differs greatly. Furthermore, the need to synchronize the two has not been found. Therefore, it has been difficult to synchronize the two.

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、材料試験機本体によって実行される材料試験の制御と、恒温槽の制御とを同期させることの可能な材料試験機、及び材料試験機の制御方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in consideration of these circumstances, and aims to provide a materials testing machine and a control method for a materials testing machine that can synchronize the control of the materials test performed by the materials testing machine main body with the control of the thermostatic chamber.

本発明の第１態様に係る材料試験機は、試験片に対して材料試験を実行する材料試験機本体と、前記試験片の温度を調整する恒温槽と、前記材料試験機本体と前記恒温槽とを同期して制御する制御部と、を備える。 The material testing machine according to the first aspect of the present invention includes a material testing machine main body that performs material testing on a test piece, a thermostatic chamber that adjusts the temperature of the test piece, and a control unit that controls the material testing machine main body and the thermostatic chamber in synchronization.

本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法は、試験片に対して材料試験を実行する材料試験機本体と、前記試験片の温度を調整する恒温槽と、を備える材料試験機の制御方法であって、前記材料試験機本体と前記恒温槽とを同期して制御する。 The method for controlling a materials testing machine according to the second aspect of the present invention is a method for controlling a materials testing machine that includes a materials testing machine main body that performs a materials test on a test piece and a thermostatic chamber that adjusts the temperature of the test piece, and controls the materials testing machine main body and the thermostatic chamber in a synchronized manner.

本発明の第１態様に係る材料試験機、及び本発明の第２態様に係る材料試験機の制御方法の各々は、材料試験機本体と恒温槽とを同期して制御する。したがって、材料試験機本体によって実行される材料試験の制御と、恒温槽の制御とを同期させて実行できる。 The material testing machine according to the first aspect of the present invention and the method for controlling the material testing machine according to the second aspect of the present invention each control the material testing machine body and the thermostatic chamber in synchronization. Therefore, the control of the material test performed by the material testing machine body and the control of the thermostatic chamber can be performed in synchronization.

本実施形態に係る引張試験機の構成の一例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a tensile testing machine according to an embodiment of the present invention. 本実施形態に係る制御回路ユニットの構成の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a configuration of a control circuit unit according to the present embodiment. 表示装置に表示される制御条件設定画面の一例を示す画面図である。FIG. 4 is a screen diagram showing an example of a control condition setting screen displayed on a display device. 表示装置に表示される試験結果表示画面の一例を示す画面図である。FIG. 11 is a screen diagram showing an example of a test result display screen displayed on a display device. 本実施形態に係る制御部の処理の一例を示すフローチャートである。6 is a flowchart illustrating an example of a process of a control unit according to the embodiment.

以下、図面を参照して本実施形態について説明する。 This embodiment will be described below with reference to the drawings.

［１．引張試験機の構成］
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力Ｆは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力Ｆを与えて引張試験を行う引張試験機本体２と、恒温槽６と、引張試験機本体２及び恒温槽６を制御する制御ユニット４と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。また、引張試験機本体２は、「材料試験機本体」の一例に対応する。 [1. Configuration of tensile tester]
FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a tensile testing machine 1 according to the present embodiment.
The tensile tester 1 of the present embodiment performs a tensile test by applying a test force F to a test piece TP to measure mechanical properties of a sample, such as tensile strength, yield point, elongation, and reduction in area. The test force F is a tensile force.
The tensile testing machine 1 comprises a tensile testing machine main body 2 that applies a test force F to a test piece TP, which is the material to be tested, to perform a tensile test, a constant temperature chamber 6, and a control unit 4 that controls the tensile testing machine main body 2 and the constant temperature chamber 6.
The tensile tester 1 corresponds to an example of a "material testing machine". The tensile tester main body 2 corresponds to an example of a "material testing machine main body".

引張試験機本体２は、テーブル２６と、このテーブル２６上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹２８、２９と、これらのねじ棹２８、２９に沿って移動可能なクロスヘッド１０と、このクロスヘッド１０を移動させて試験片ＴＰに負荷を与える負荷機構１２と、ロードセル１４と、を備える。ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる引張荷重である試験力Ｆを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を出力するセンサである。
ロードセル１４は、「第１センサ」の一例に対応する。 The tensile tester main body 2 includes a table 26, a pair of threaded rods 28, 29 rotatably mounted on the table 26 while facing vertically, a crosshead 10 movable along the threaded rods 28, 29, a load mechanism 12 that applies a load to the test piece TP by moving the crosshead 10, and a load cell 14. The load cell 14 is a sensor that measures a test force F, which is a tensile load applied to the test piece TP, and outputs a test force measurement signal SG1.
The load cell 14 corresponds to an example of a "first sensor."

負荷機構１２は、各ねじ棹２８、２９の下端部に連結されるウォーム減速機１６、１７と、各ウォーム減速機１６、１７に連結されるサーボモータ１８と、ロータリエンコーダ２０と、を備える。ロータリエンコーダ２０は、サーボモータ１８の回転量を測定し、回転量に応じたパルス数の回転測定信号ＳＧ２を制御ユニット４に出力するセンサである。
そして負荷機構１２は、ウォーム減速機１６、１７を介して、一対のねじ棹２８、２９にサーボモータ１８の回転を伝達し、各ねじ棹２８、２９が同期して回転することによって、ねじ棹２８、２９に沿ってクロスヘッド１０が昇降する。 The load mechanism 12 includes worm reducers 16, 17 connected to the lower ends of the threaded shafts 28, 29, a servo motor 18 connected to each of the worm reducers 16, 17, and a rotary encoder 20. The rotary encoder 20 is a sensor that measures the amount of rotation of the servo motor 18 and outputs a rotation measurement signal SG2 having a number of pulses according to the amount of rotation to the control unit 4.
The load mechanism 12 transmits the rotation of the servo motor 18 to a pair of threaded rods 28, 29 via the worm reducers 16, 17, and the threaded rods 28, 29 rotate synchronously, causing the crosshead 10 to rise and fall along the threaded rods 28, 29.

クロスヘッド１０には、試験片ＴＰの上端部を把持する上つかみ具２１が付設され、テーブル２６には、試験片ＴＰの下端部を把持する下つかみ具２２が付設される。引張試験機本体２は、引張試験の際に、試験片ＴＰの両端部を上つかみ具２１及び下つかみ具２２によって把持した状態で、制御ユニット４の制御に従って、クロスヘッド１０を上昇させることによって、試験片ＴＰに試験力Ｆを与える。 The crosshead 10 is provided with an upper grip 21 that grips the upper end of the test piece TP, and the table 26 is provided with a lower grip 22 that grips the lower end of the test piece TP. During a tensile test, the tensile tester body 2 applies a test force F to the test piece TP by raising the crosshead 10 under the control of the control unit 4 while both ends of the test piece TP are gripped by the upper grip 21 and the lower grip 22.

試験片ＴＰには、変位センサ１５が配置される。試験片ＴＰは、例えば、中央がくびれて形成されたダンベル型試験片が用いられる。変位センサ１５は、試験片ＴＰの１対の標点の間の距離を測定することによって、伸び計測値ＥＤを測定し、伸び測定信号ＳＧ３を出力するセンサである。１対の標点は、試験片ＴＰがくびれた領域の上部と下部とに配置される。
変位センサ１５は、「第１センサ」の一例に対応する。 A displacement sensor 15 is disposed on the test piece TP. For example, a dumbbell-shaped test piece formed with a constriction in the center is used as the test piece TP. The displacement sensor 15 is a sensor that measures an elongation measurement value ED by measuring the distance between a pair of reference points on the test piece TP and outputs an elongation measurement signal SG3. The pair of reference points are disposed above and below the constriction area of the test piece TP.
The displacement sensor 15 corresponds to an example of a "first sensor."

恒温槽６は、恒温槽本体６０と、ヒータ６１と、温度センサ６２とを備える。
恒温槽６は、試験片ＴＰの温度を調整する。恒温槽本体６０は、内部空間を有する箱状に構成され、試験片ＴＰ、ヒータ６１、及び温度センサ６２を収納する。
ヒータ６１は、恒温槽本体６０の内部空間の温度を上昇することによって、試験片ＴＰの温度を上昇する。ヒータ６１は、例えば、電熱ヒータ等で構成される。
温度センサ６２は、恒温槽本体６０の内部空間の温度を検出し、温度検出信号ＳＧ４を出力する。温度センサ６２は、例えば、熱電対、サーミスタ等で構成される。試験片ＴＰは、恒温槽本体６０の内部空間に配置されるため、温度センサ６２は、間接的に試験片ＴＰを検出する。
温度センサ６２は、「第２センサ」の一例に対応する。 The thermostatic chamber 6 includes a thermostatic chamber main body 60 , a heater 61 , and a temperature sensor 62 .
The thermostatic chamber 6 adjusts the temperature of the test piece TP. The thermostatic chamber body 60 is configured in a box shape having an internal space, and houses the test piece TP, a heater 61, and a temperature sensor 62 therein.
The heater 61 increases the temperature of the test piece TP by increasing the temperature of the internal space of the thermostatic chamber main body 60. The heater 61 is, for example, an electric heater.
The temperature sensor 62 detects the temperature of the internal space of the thermostatic chamber main body 60 and outputs a temperature detection signal SG4. The temperature sensor 62 is composed of, for example, a thermocouple, a thermistor, etc. Since the test piece TP is placed in the internal space of the thermostatic chamber main body 60, the temperature sensor 62 indirectly detects the test piece TP.
The temperature sensor 62 corresponds to an example of a "second sensor."

本実施形態では、恒温槽６が試験片ＴＰの温度を調整する場合について説明するが、恒温槽６が、試験片ＴＰの温度と、試験片ＴＰの周囲の空気の湿度とを調整してもよい。この場合には、恒温槽６は、いわゆる、恒温恒湿槽である。また、この場合には、恒温槽６は、加湿器及び除湿器と、湿度センサとを備える。 In this embodiment, the thermostatic chamber 6 adjusts the temperature of the test piece TP, but the thermostatic chamber 6 may also adjust the temperature of the test piece TP and the humidity of the air surrounding the test piece TP. In this case, the thermostatic chamber 6 is a so-called thermo-hygroscopic chamber. In addition, in this case, the thermostatic chamber 6 is equipped with a humidifier, a dehumidifier, and a humidity sensor.

また、本実施形態では、恒温槽６がヒータ６１を備えるが、恒温槽６が恒温槽本体６０の内部空間の温度を調整可能に構成されていればよい。恒温槽６がヒータ６１及び冷却器の少なくとも一方を備えればよい。また、恒温槽本体６０の内部空間の温度を均一にするために、恒温槽６が、恒温槽本体６０の内部空間の空気を循環させるファン等を備えてもよい。 In addition, in this embodiment, the thermostatic chamber 6 is equipped with a heater 61, but it is sufficient that the thermostatic chamber 6 is configured to be able to adjust the temperature of the internal space of the thermostatic chamber body 60. The thermostatic chamber 6 may be equipped with at least one of the heater 61 and a cooler. In order to make the temperature of the internal space of the thermostatic chamber body 60 uniform, the thermostatic chamber 6 may be equipped with a fan or the like that circulates air in the internal space of the thermostatic chamber body 60.

制御ユニット４は、統括制御装置３０と、表示装置３２と、試験プログラム実行装置３４と、を備える。
統括制御装置３０は、引張試験機本体２及び恒温槽６を中枢的に制御する装置であり、引張試験機本体２及び恒温槽６との間で信号を送受信可能に接続される。
引張試験機本体２から受信する信号は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３、及び制御や試験に要する適宜の信号等である。
恒温槽６から受信する信号は、温度センサ６２が出力する温度検出信号ＳＧ４及び制御や試験に要する適宜の信号等である。 The control unit 4 includes an overall control device 30, a display device 32, and a test program execution device 34.
The overall control device 30 is a device that centrally controls the tensile tester main body 2 and the thermostatic chamber 6, and is connected to the tensile tester main body 2 and the thermostatic chamber 6 so as to be able to send and receive signals therebetween.
The signals received from the tensile testing machine main body 2 include a test force measurement signal SG1 output by the load cell 14, a rotation measurement signal SG2 output by the rotary encoder 20, an elongation measurement signal SG3 output by the displacement sensor 15, and other appropriate signals required for control and testing.
The signals received from the thermostatic chamber 6 include a temperature detection signal SG4 output by the temperature sensor 62, appropriate signals required for control and testing, and the like.

表示装置３２は、ＬＣＤ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌａｙ）等を備え、統括制御装置３０から入力される信号に基づいて各種情報を表示する装置である。
例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、伸び測定信号ＳＧ３に基づいて試験片ＴＰの伸びの測定値である伸び計測値ＥＤを表示装置３２に表示する。また、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、回転測定信号ＳＧ２に基づくクロスヘッド１０の変位を示す変位計測値ＸＤを表示装置３２に表示する。更に、例えば、統括制御装置３０は、引張試験の間、温度検出信号ＳＧ４に基づいて、試験片ＴＰの温度の検出値である温度検出値ＴＤを表示装置３２に表示する。
また、表示装置３２は、制御条件を設定する制御条件設定画面７００、及び、試験結果を表示する試験結果表示画面８００を表示する。
制御条件設定画面７００については、後述にて図３を参照して説明し、試験結果表示画面８００については、後述にて図４を参照して説明する。
表示装置３２は、「ディスプレイ」の一例に対応する。 The display device 32 includes an LCD (Liquid Crystal Display) or the like, and displays various types of information based on signals input from the overall control device 30 .
For example, during the tensile test, the overall control device 30 displays an elongation measurement value ED, which is a measurement of the elongation of the test piece TP, on the display device 32 based on the elongation measurement signal SG3. Also, for example, during the tensile test, the overall control device 30 displays a displacement measurement value XD, which indicates the displacement of the crosshead 10, based on the rotation measurement signal SG2, on the display device 32. Furthermore, for example, during the tensile test, the overall control device 30 displays a temperature detection value TD, which is a detection value of the temperature of the test piece TP, on the display device 32 based on the temperature detection signal SG4.
The display device 32 also displays a control condition setting screen 700 for setting control conditions, and a test result display screen 800 for displaying test results.
The control condition setting screen 700 will be described later with reference to FIG. 3, and the test result display screen 800 will be described later with reference to FIG.
The display device 32 corresponds to an example of a "display."

引張試験プログラム実行装置３４は、引張試験の試験条件ＴＣ１といった各種設定パラメータの設定操作や実行指示操作などのユーザ操作を受け付け、統括制御装置３０に出力する機能や、試験力計測値ＦＤのデータを解析する機能などを備えた装置である。 The tensile test program execution device 34 is a device that has functions such as accepting user operations such as setting various setting parameters such as the test conditions TC1 of the tensile test and execution instruction operations, outputting them to the overall control device 30, and analyzing the data of the test force measurement value FD.

次いで、本実施形態の統括制御装置３０について、更に説明する。統括制御装置３０は、信号入出力ユニット４０と、制御回路ユニット５０と、を備える。
信号入出力ユニット４０は、引張試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４６と、カウンタ回路４３と、サーボアンプ４４と、を有する。 Next, the overall control device 30 of this embodiment will be further described. The overall control device 30 includes a signal input/output unit 40 and a control circuit unit 50.
The signal input/output unit 40 constitutes an input/output interface circuit for transmitting and receiving signals between the tensile testing machine main body 2, and in this embodiment, has a first sensor amplifier 42, a second sensor amplifier 45, a third sensor amplifier 46, a counter circuit 43, and a servo amplifier 44.

第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して制御回路ユニット５０に試験力計測値ＦＤを出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して制御回路ユニット５０に伸び計測値ＥＤを出力する増幅器である。
第３センサアンプ４６は、温度センサ６２が出力する温度検出信号ＳＧ４を増幅して制御回路ユニット５０に温度検出値ＴＤを出力する増幅器である。
カウンタ回路４３は、ロータリエンコーダ２０が出力する回転測定信号ＳＧ２のパルス数を計数し、サーボモータ１８の回転量、すなわちサーボモータ１８の回転によって昇降するクロスヘッド１０の変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御回路ユニット５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御回路ユニット５０の制御に従って、サーボモータ１８を制御する装置である。 The first sensor amplifier 42 is an amplifier that amplifies the test force measurement signal SG 1 output by the load cell 14 and outputs a test force measurement value FD to the control circuit unit 50 .
The second sensor amplifier 45 is an amplifier that amplifies the extension measurement signal SG 3 output by the displacement sensor 15 and outputs the extension measurement value ED to the control circuit unit 50 .
The third sensor amplifier 46 is an amplifier that amplifies the temperature detection signal SG 4 output by the temperature sensor 62 and outputs the temperature detection value TD to the control circuit unit 50 .
The counter circuit 43 counts the number of pulses of the rotation measurement signal SG2 output by the rotary encoder 20, and outputs a displacement measurement signal A3 in the form of a digital signal to the control circuit unit 50, which indicates the amount of rotation of the servo motor 18, i.e., the displacement measurement value XD of the crosshead 10 which rises and falls due to the rotation of the servo motor 18.
The servo amplifier 44 is a device that controls the servo motor 18 under the control of the control circuit unit 50 .

制御回路ユニット５０は、通信部５１と、フィードバック制御部５２と、制御部５３と、入力部５６と、を備える。
制御部５３は、プロセッサ５４と、メモリ５５と、を備える。
制御部５３、プロセッサ５４、及びメモリ５５については、後述にて図２を参照して説明する。 The control circuit unit 50 includes a communication section 51 , a feedback control section 52 , a control section 53 , and an input section 56 .
The control unit 53 includes a processor 54 and a memory 55 .
The control unit 53, the processor 54, and the memory 55 will be described later with reference to FIG.

制御回路ユニット５０は、ＨＤＤ（ＨａｒｄＤｉｓｋＤｒｉｖｅ）やＳＳＤ（ＳｏｌｉｄＳｔａｔｅＤｒｉｖｅ）などのストレージ装置と、信号入出力ユニット４０とのインターフェース回路と、引張試験プログラム実行装置３４と通信する通信装置と、表示装置３２を制御する表示制御回路と、各種の電子回路と、を備えたコンピュータを備える。
また、制御回路ユニット５０の制御部５３のプロセッサ５４がメモリ５５又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することで、図１に示す通信部５１を実現する。
また、信号入出力ユニット４０とのインターフェース回路にはＡ／Ｄ変換器が設けられており、アナログ信号の試験力測定信号ＳＧ１、伸び測定信号ＳＧ３及び温度検出信号ＳＧ４の各々がＡ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換される。
なお、制御回路ユニット５０は、コンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。 The control circuit unit 50 comprises a computer having a storage device such as a hard disk drive (HDD) or a solid state drive (SSD), an interface circuit with the signal input/output unit 40, a communication device that communicates with the tensile test program execution device 34, a display control circuit that controls the display device 32, and various electronic circuits.
1 is realized by the processor 54 of the control unit 53 of the control circuit unit 50 executing a control program stored in the memory 55 or a storage device.
An A/D converter is provided in the interface circuit with the signal input/output unit 40, and each of the analog signals of the test force measurement signal SG1, the extension measurement signal SG3 and the temperature detection signal SG4 is converted into a digital signal by the A/D converter.
The control circuit unit 50 is not limited to a computer, and may be configured by one or more appropriate circuits such as integrated circuits, such as IC chips and LSIs.

通信部５１は、引張試験プログラム実行装置３４との間で通信し、試験条件の設定や各種設定パラメータの設定値、引張試験の実行指示や中断指示などを試験プログラム実行装置３４から受信する。また、通信部５１は、伸び測定信号ＳＧ３に基づく伸び計測値ＥＤ、及び試験力測定信号ＳＧ１に基づく試験力計測値ＦＤを適宜のタイミングで引張試験プログラム実行装置３４に送信する。また、通信部５１は、回転測定信号ＳＧ２に基づく変位計測値ＸＤを適宜のタイミングで引張試験プログラム実行装置３４に送信する。また、通信部５１は、温度検出信号ＳＧ４に基づく温度検出値ＴＤを適宜のタイミングで引張試験プログラム実行装置３４に送信する。 The communication unit 51 communicates with the tensile test program execution device 34, and receives test condition settings, setting values of various setting parameters, instructions to execute the tensile test, instructions to interrupt the tensile test, and the like from the test program execution device 34. The communication unit 51 also transmits the elongation measurement value ED based on the elongation measurement signal SG3 and the test force measurement value FD based on the test force measurement signal SG1 to the tensile test program execution device 34 at an appropriate timing. The communication unit 51 also transmits the displacement measurement value XD based on the rotation measurement signal SG2 to the tensile test program execution device 34 at an appropriate timing. The communication unit 51 also transmits the temperature detection value TD based on the temperature detection signal SG4 to the tensile test program execution device 34 at an appropriate timing.

フィードバック制御部５２は、引張試験機本体２のサーボモータ１８をフィードバック制御して引張試験を実行する。フィードバック制御部５２は、サーボモータ１８のフィードバック制御を実行する回路である。
フィードバック制御部５２が位置制御を実行する場合には、フィードバック制御部５２は、例えば、ロードセル１４が出力する試験力計測値ＦＤについて位置制御を実行する。この場合には、フィードバック制御部５２は、試験力計測値ＦＤを試験力目標値ＦＴに一致させるように変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、当該指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力する。なお、試験力目標値ＦＴは、試験力計測値ＦＤの目標値を示す。
なお、「位置制御」とは、センサ等によって測定された検出値を、その目標値に一致させるように制御することを示す。 The feedback control unit 52 executes a tensile test by feedback controlling the servo motor 18 of the tensile tester main body 2. The feedback control unit 52 is a circuit that executes feedback control of the servo motor 18.
When the feedback control unit 52 executes position control, the feedback control unit 52 executes position control, for example, for the test force measurement value FD output by the load cell 14. In this case, the feedback control unit 52 calculates a command value dX of the displacement measurement value XD so as to make the test force measurement value FD coincide with the test force target value FT, and outputs a command signal A4 indicating the command value dX to the servo amplifier 44. The test force target value FT indicates a target value of the test force measurement value FD.
It should be noted that "position control" refers to controlling a detection value measured by a sensor or the like so as to coincide with a target value.

なお、フィードバック制御部５２が位置制御を実行する場合について説明したが、フィードバック制御部５２が速度制御を実行してもよい。「速度制御」とは、センサ等によって測定された検出値の単位時間当たりの変化量を、その目標値に一致させるように制御することを示す。 Although the above describes a case where the feedback control unit 52 performs position control, the feedback control unit 52 may also perform speed control. "Speed control" refers to controlling the amount of change per unit time of a detection value measured by a sensor or the like so that it matches a target value.

入力部５６は、ユーザからの操作入力を受け付けて、入力信号を生成し、入力信号を制御部５３に出力する。入力部５６は、例えば、キーボード、マウス等を備える。 The input unit 56 receives operation input from the user, generates an input signal, and outputs the input signal to the control unit 53. The input unit 56 includes, for example, a keyboard, a mouse, etc.

［２．制御回路ユニットの構成］
図２は、本実施形態に係る制御回路ユニット５０の構成の一例を示す図である。
制御部５３は、例えば、パーソナルコンピュータで構成され、制御回路ユニット５０の動作を制御する。制御部５３は、プロセッサ５４と、メモリ５５と、を備える。
プロセッサ５４は、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－ＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）などで構成される。
メモリ５５は、ＲＯＭ(ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ)やＲＡＭ(ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭｅｍｏｒｙ)などで構成される。 [2. Configuration of the control circuit unit]
FIG. 2 is a diagram showing an example of the configuration of the control circuit unit 50 according to the present embodiment.
The control unit 53 is configured by, for example, a personal computer, and controls the operation of the control circuit unit 50. The control unit 53 includes a processor 54 and a memory 55.
The processor 54 is composed of a CPU (Central Processing Unit), an MPU (Micro-Processing Unit), and the like.
The memory 55 is composed of a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), or the like.

なお、制御部５３は、パーソナルコンピュータに限らず、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、制御部５３は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。
また、制御部５３は、ＤＳＰ（ＤｉｇｉｔａｌＳｉｇｎａｌＰｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（ＦｉｅｌｄＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部５３は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。 The control unit 53 is not limited to a personal computer, and may be configured by one or more appropriate circuits such as integrated circuits such as IC chips and LSIs. The control unit 53 may also be configured by, for example, a tablet terminal, a smartphone, or the like.
The control unit 53 may also include programmed hardware such as a digital signal processor (DSP) or a field programmable gate array (FPGA), etc. The control unit 53 may also include a system-on-a-chip (SoC)-FPGA.

［３．制御部の構成］
制御部５３は、引張試験機本体２と恒温槽６とを同期して制御する。
図２に示すように、制御部５３は、制御条件受付部５４１と、切替判定部５４２と、温度制御部５４３と、本体制御部５４４と、表示制御部５４５と、制御条件記憶部５５１と、を備える。
具体的には、制御部５３のプロセッサ５４が、メモリ５５又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、制御条件受付部５４１、切替判定部５４２、温度制御部５４３、本体制御部５４４、及び表示制御部５４５、として機能する。また、制御部５３のプロセッサ５４が、メモリ５５又はストレージ装置に記憶された制御プログラムを実行することによって、メモリ５５を、制御条件記憶部５５１として機能させる。 [3. Configuration of the control unit]
The control unit 53 controls the tensile tester main body 2 and the thermostatic chamber 6 in synchronization with each other.
As shown in FIG. 2, the control unit 53 includes a control condition receiving unit 541 , a switching determination unit 542 , a temperature control unit 543 , a main body control unit 544 , a display control unit 545 , and a control condition storage unit 551 .
Specifically, the processor 54 of the control unit 53 executes a control program stored in the memory 55 or a storage device, thereby functioning as a control condition receiving unit 541, a switching determination unit 542, a temperature control unit 543, a main body control unit 544, and a display control unit 545. The processor 54 of the control unit 53 also executes a control program stored in the memory 55 or a storage device, thereby causing the memory 55 to function as a control condition storage unit 551.

制御条件記憶部５５１は、引張試験機本体２によって実行される引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２とを対応付けて記憶する。なお、引張試験の試験条件ＴＣ１と温度制御の条件ＴＣ２とは、制御条件受付部５４１によって受け付けられ、制御条件受付部５４１によって制御条件記憶部５５１に記憶される。
具体的には、制御条件記憶部５５１は、切替点ＰＴによって分割される複数の領域ＡＲの各々に対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と、温度制御の条件ＴＣ２とを記憶する。切替点ＰＴは、引張試験の試験条件ＴＣ１、及び温度制御の条件ＴＣ２の少なくとも一方を変更するタイミングを示す。
領域ＡＲ及び切替点ＰＴについては、図３を参照して詳細に説明する。 The control condition storage unit 551 stores the test conditions TC1 of the tensile test performed by the tensile tester body 2 and the temperature control conditions TC2 performed by the thermostatic chamber 6 in association with each other. The test conditions TC1 of the tensile test and the temperature control conditions TC2 are received by the control condition receiving unit 541 and stored in the control condition storage unit 551 by the control condition receiving unit 541.
Specifically, the control condition storage unit 551 stores the test conditions TC1 for the tensile test and the temperature control conditions TC2 in association with each of the multiple areas AR divided by the switching point PT. The switching point PT indicates the timing for changing at least one of the test conditions TC1 for the tensile test and the temperature control conditions TC2.
The area AR and the switching point PT will be described in detail with reference to FIG.

制御条件受付部５４１は、入力部５６を介するユーザからの操作入力に基づいて、引張試験機本体２によって実行される引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２とを受け付ける。
具体的には、制御条件受付部５４１は、表示装置３２に表示された制御条件設定画面７００に対するユーザの操作入力に基づいて、引張試験の試験条件ＴＣ１と温度制御の条件ＴＣ２とを対応付けて受け付ける。また、制御条件受付部５４１は、切替点ＰＴを受け付け、切替点ＰＴによって分割される複数の領域ＡＲの各々に対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と、温度制御の条件ＴＣ２とを受け付ける。
また、制御条件受付部５４１は、受け付けた切替点ＰＴを制御条件記憶部５５１に記憶させ、複数の領域ＡＲの各々に対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と温度制御の条件ＴＣ２とを、制御条件記憶部５５１に記憶させる。
制御条件設定画面７００については、図３を参照して詳細に説明する。 The control condition receiving unit 541 receives test conditions TC1 for the tensile test performed by the tensile testing machine main body 2 and conditions TC2 for the temperature control performed by the thermostatic chamber 6 based on operational input from the user via the input unit 56.
Specifically, the control condition receiving unit 541 receives test conditions TC1 for the tensile test and temperature control conditions TC2 in association with each other, based on a user's operation input to a control condition setting screen 700 displayed on the display device 32. The control condition receiving unit 541 also receives a switching point PT, and receives test conditions TC1 for the tensile test and temperature control conditions TC2 in association with each of a plurality of areas AR divided by the switching point PT.
In addition, the control condition receiving unit 541 stores the received switching point PT in the control condition memory unit 551, and stores the test conditions TC1 for the tensile test and the temperature control conditions TC2 in the control condition memory unit 551 in correspondence with each of the multiple areas AR.
The control condition setting screen 700 will be described in detail with reference to FIG.

切替判定部５４２は、制御条件記憶部５５１が記憶する切替点ＰＴに到達したか否かを判定する。 The switching determination unit 542 determines whether the switching point PT stored in the control condition storage unit 551 has been reached.

温度制御部５４３は、引張試験機本体２の動作と同期して、恒温槽６を制御する。温度制御部５４３は、例えばロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１に基づいて、恒温槽６を制御する。
温度制御部５４３は、例えば、引張試験機本体２の動作と同期して、恒温槽６の温度目標値ＴＡを設定する。温度制御部５４３は、例えば、試験力計測値ＦＤが試験力目標値ＦＴに到達したときに、恒温槽６の温度目標値ＴＡを設定する。温度目標値ＴＡが設定された場合には、温度制御部５４３は、温度検出値ＴＤが温度目標値ＴＡと一致するようにヒータ６１を制御する。
温度目標値ＴＡは、温度制御の条件ＴＣ２の一例に対応する。 The temperature control unit 543 controls the thermostatic chamber 6 in synchronization with the operation of the tensile tester main body 2. The temperature control unit 543 controls the thermostatic chamber 6 based on the test force measurement signal SG1 output by the load cell 14, for example.
The temperature control unit 543 sets a target temperature value TA of the thermostatic chamber 6, for example, in synchronization with the operation of the tensile tester main body 2. The temperature control unit 543 sets a target temperature value TA of the thermostatic chamber 6, for example, when the test force measurement value FD reaches the test force target value FT. When the target temperature value TA is set, the temperature control unit 543 controls the heater 61 so that the detected temperature value TD coincides with the target temperature value TA.
The temperature target value TA corresponds to an example of a temperature control condition TC2.

本体制御部５４４は、恒温槽６と同期して引張試験機本体２の動作を制御する。本体制御部５４４は、例えば、温度センサ６２が出力する温度検出信号ＳＧ４に基づいて、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力することによってサーボモータ１８を制御する。
本体制御部５４４は、例えば、温度検出値ＴＤが温度目標値ＴＡに到達するまでは、クロスヘッド１０の変位計測値ＸＤを保持するように、すなわち、変位一定制御を実行するように、サーボモータ１８を制御する。
変位計測値ＸＤは、引張試験の試験条件ＴＣ１の一例に対応する。 The main body control unit 544 controls the operation of the tensile tester main body 2 in synchronization with the thermostatic chamber 6. The main body control unit 544 calculates a command value dX for the displacement measurement value XD based on, for example, a temperature detection signal SG4 output by the temperature sensor 62, and controls the servo motor 18 by outputting a command signal A4 indicating the command value dX to the servo amplifier 44.
The main body control unit 544 controls the servo motor 18 to hold the displacement measurement value XD of the crosshead 10 until the detected temperature value TD reaches the target temperature value TA, that is, to execute constant displacement control.
The displacement measurement value XD corresponds to an example of a test condition TC1 of a tensile test.

表示制御部５４５は、ロードセル１４が検出する試験力計測値ＦＤと、温度センサ６２が検出する温度検出値ＴＤとを対応付けて表示装置３２に表示する。
表示制御部５４５は、例えば、試験結果表示画面８００を表示装置３２に表示する。
試験結果表示画面８００については、後述にて図４を参照して説明する。 The display control unit 545 displays the test force measurement value FD detected by the load cell 14 and the temperature detection value TD detected by the temperature sensor 62 on the display device 32 in association with each other.
The display control unit 545 displays, for example, a test result display screen 800 on the display device 32 .
The test result display screen 800 will be described later with reference to FIG.

［４．制御条件設定画面］
図３は、表示装置３２に表示される制御条件設定画面７００の一例を示す画面図である。
制御条件設定画面７００は、表示制御部５４５によって表示装置３２に表示される。また、制御条件受付部５４１は、制御条件設定画面７００を介して、引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２とを受け付ける。
なお、図３では、試験片ＴＰの材質が、例えば鉄、アルミニウム等の金属である場合について説明する。 [4. Control condition setting screen]
FIG. 3 is a screen diagram showing an example of a control condition setting screen 700 displayed on the display device 32. As shown in FIG.
The control condition setting screen 700 is displayed on the display device 32 by the display control unit 545. In addition, the control condition receiving unit 541 receives test conditions TC1 for the tensile test and conditions TC2 for temperature control performed by the thermostatic chamber 6 via the control condition setting screen 700.
In addition, in FIG. 3, a case will be described in which the material of the test piece TP is a metal such as iron or aluminum.

制御条件設定画面７００には、４つの領域ＡＲ、すなわち、第１領域ＡＲ１、第２領域ＡＲ２、第３領域ＡＲ３、及び第４領域ＡＲ４が表示されている。また、第１領域ＡＲ１～第３領域ＡＲ３の各々に、対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と、切替点ＰＴとが表示されている。
第４領域ＡＲ４の引張試験の試験条件ＴＣ１には、「ＯＦＦ」と表示され、試験が終了することを示している。
第１領域ＡＲ１～第３領域ＡＲ３の各々を区別しない場合には、以下の説明において、領域ＡＲと記載する場合がある。
切替点ＰＴは、次の領域に進める条件を示す。例えば、第１領域ＡＲ１に記載された切替点ＰＴは、第２領域ＡＲ２に進める条件を示す。また、例えば、第２領域ＡＲ２に記載された切替点ＰＴは、第３領域ＡＲ３に進める条件を示す。また、例えば、第３領域ＡＲ３に記載された切替点ＰＴは、試験を終了する条件を示す。 Four areas AR, i.e., a first area AR1, a second area AR2, a third area AR3, and a fourth area AR4, are displayed on the control condition setting screen 700. In addition, a test condition TC1 for the tensile test and a switching point PT are displayed in association with each of the first area AR1 to the third area AR3.
The test condition TC1 for the tensile test of the fourth area AR4 is displayed as "OFF," indicating that the test is to be ended.
In the following description, when there is no need to distinguish between the first area AR1 to the third area AR3, they may be referred to as area AR.
The switching point PT indicates a condition for proceeding to the next area. For example, the switching point PT written in the first area AR1 indicates a condition for proceeding to the second area AR2. For example, the switching point PT written in the second area AR2 indicates a condition for proceeding to the third area AR3. For example, the switching point PT written in the third area AR3 indicates a condition for ending the test.

第１領域ＡＲ１の試験条件ＴＣ１は、クロスヘッド１０を１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇することを示す。すなわち、本体制御部５４４は、クロスヘッド１０が１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇するように、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力することによってサーボモータ１８を制御する。 The test condition TC1 for the first region AR1 indicates that the crosshead 10 is raised at a speed of 1 mm/min. That is, the main body control unit 544 calculates a command value dX of the displacement measurement value XD so that the crosshead 10 is raised at a speed of 1 mm/min, and controls the servo motor 18 by outputting a command signal A4 indicating the command value dX to the servo amplifier 44.

第１領域ＡＲ１に記載された切替点ＰＴは、試験力計測値ＦＤが試験力目標値ＦＴ（ここでは、５０Ｎ）に到達することを示す。すなわち、試験力計測値ＦＤが５０Ｎに到達するまで、クロスヘッド１０が１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇し、試験力計測値ＦＤが５０Ｎに到達すると、第１領域ＡＲ１の試験条件ＴＣ１から第２領域ＡＲ２の試験条件ＴＣ１に遷移する。
なお、第１領域ＡＲ１には、温度制御の条件ＴＣ２が表示されていないため、温度制御部５４３は、温度制御を実行しない。すなわち、ヒータ６１がオフにされる。 The switching point PT described in the first area AR1 indicates that the test force measurement value FD reaches the test force target value FT (here, 50 N). That is, the crosshead 10 rises at a speed of 1 mm/min until the test force measurement value FD reaches 50 N, and when the test force measurement value FD reaches 50 N, the test condition TC1 of the first area AR1 transitions to the test condition TC1 of the second area AR2.
Since the temperature control condition TC2 is not displayed in the first area AR1, the temperature control section 543 does not execute the temperature control, that is, the heater 61 is turned off.

第２領域ＡＲ２の試験条件ＴＣ１は、クロスヘッド１０が移動しないように保持することを示す。すなわち、本体制御部５４４は、クロスヘッド１０が移動しないように、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力することによってサーボモータ１８を制御する。 The test condition TC1 for the second region AR2 indicates that the crosshead 10 is held so as not to move. That is, the main body control unit 544 calculates a command value dX of the displacement measurement value XD so that the crosshead 10 does not move, and controls the servo motor 18 by outputting a command signal A4 indicating the command value dX to the servo amplifier 44.

第２領域ＡＲ２に記載された切替点ＰＴは、恒温槽６の温度検出値ＴＤが温度目標値ＴＡ（ここでは、１００℃）に到達することを示す。すなわち、温度制御部５４３は、温度検出値ＴＤが１００℃に到達するようにヒータ６１を制御する。また、温度検出値ＴＤが１００℃に到達すると、第２領域ＡＲ２の試験条件ＴＣ１から第３領域ＡＲ３の試験条件ＴＣ１に遷移する。
第２領域ＡＲ２に記載された切替点ＰＴは、温度制御の条件ＴＣ２の一例に対応する。 The switching point PT written in the second area AR2 indicates that the temperature detection value TD of the thermostatic chamber 6 reaches the temperature target value TA (here, 100° C.). That is, the temperature control unit 543 controls the heater 61 so that the temperature detection value TD reaches 100° C. Furthermore, when the temperature detection value TD reaches 100° C., the test conditions transition from the test conditions TC1 in the second area AR2 to the test conditions TC1 in the third area AR3.
The switching point PT written in the second area AR2 corresponds to an example of the temperature control condition TC2.

第３領域ＡＲ３の試験条件ＴＣ１は、クロスヘッド１０を１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇することを示す。すなわち、本体制御部５４４は、クロスヘッド１０が１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇するように、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボアンプ４４に出力することによってサーボモータ１８を制御する。 The test condition TC1 for the third region AR3 indicates that the crosshead 10 is raised at a speed of 1 mm/min. That is, the main body control unit 544 calculates a command value dX of the displacement measurement value XD so that the crosshead 10 is raised at a speed of 1 mm/min, and controls the servo motor 18 by outputting a command signal A4 indicating the command value dX to the servo amplifier 44.

第３領域ＡＲ３に記載された切替点ＰＴは、試験力計測値ＦＤが試験力目標値ＦＴ（ここでは、５００Ｎ）に到達することを示す。すなわち、試験力計測値ＦＤが５０Ｎに到達するまで、クロスヘッド１０が１ｍｍ／ｍｉｎの速度で上昇し、試験力計測値ＦＤが５００Ｎに到達すると、試験が終了する。 The switching point PT written in the third area AR3 indicates that the test force measurement value FD reaches the test force target value FT (here, 500 N). In other words, the crosshead 10 rises at a speed of 1 mm/min until the test force measurement value FD reaches 50 N, and when the test force measurement value FD reaches 500 N, the test ends.

このようにして、引張試験機本体２によって実行される材料試験の制御と、恒温槽６の制御とを同期させることができる。
また、材料試験機１によって実行される材料試験の制御と、恒温槽６の制御とを同期して行うことによって、試験片ＴＰを構成する材料の新たな機械的な特性の評価が可能になり、その評価結果に基づいて、新たな材料の開発が可能になる。例えば、試験片ＴＰに試験力Ｆを作用させて試験片ＴＰが変形しているときに、試験片ＴＰの温度を変えることによって、試験片ＴＰを構成する材料の物性が変化する場合がある。 In this way, the control of the material test performed by the tensile testing machine main body 2 and the control of the thermostatic chamber 6 can be synchronized.
Furthermore, by synchronizing the control of the material test performed by the material testing machine 1 with the control of the thermostatic chamber 6, it becomes possible to evaluate new mechanical properties of the material constituting the test piece TP, and based on the evaluation results, it becomes possible to develop new materials. For example, when the test piece TP is deformed by applying a test force F to the test piece TP, changing the temperature of the test piece TP may change the physical properties of the material constituting the test piece TP.

本実施形態では、制御条件設定画面７００に、各領域ＡＲに対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と、切替点ＰＴとが表示されているが、制御条件設定画面７００に、各領域ＡＲに対応付けて、引張試験の試験条件ＴＣ１と、温度制御の条件ＴＣ２と、切替点ＰＴとが表示されることが好ましい。この場合には、各領域ＡＲにおいて、引張試験の試験条件ＴＣ１と温度制御の条件ＴＣ２とを同期させることができる。
換言すれば、制御条件設定画面７００では、第１領域ＡＲ１及び第３領域ＡＲ３には、温度制御の条件ＴＣ２が表示さていないが、第１領域ＡＲ１及び第３領域ＡＲ３の各々における温度制御の条件ＴＣ２を表示することによって、温度制御の条件ＴＣ２をより明確に規定できる。 In this embodiment, the test conditions TC1 of the tensile test and the switching point PT are displayed in association with each region AR on the control condition setting screen 700, but it is preferable that the test conditions TC1 of the tensile test, the temperature control conditions TC2, and the switching point PT are displayed in association with each region AR on the control condition setting screen 700. In this case, the test conditions TC1 of the tensile test and the temperature control conditions TC2 can be synchronized in each region AR.
In other words, in the control condition setting screen 700, the temperature control condition TC2 is not displayed in the first area AR1 and the third area AR3, but by displaying the temperature control condition TC2 in each of the first area AR1 and the third area AR3, the temperature control condition TC2 can be defined more clearly.

［５．試験結果表示画面］
図４は、表示装置３２に表示される試験結果表示画面８００の一例を示す画面図である。試験結果表示画面８００は、表示制御部５４５によって表示装置３２に表示される。
なお、試験結果表示画面８００と、図４に示す制御条件設定画面７００とは対応していない。換言すれば、試験結果表示画面８００に示す試験結果は、制御条件設定画面７００が示す試験条件によって実行された試験の結果ではない。
また、図４では、試験片ＴＰの材質が、例えば、ポリエチレン等の樹脂である場合について説明する。 [5. Test result display screen]
4 is a screen diagram showing an example of a test result display screen 800 displayed on the display device 32. The test result display screen 800 is displayed on the display device 32 by the display control unit 545.
It should be noted that the test result display screen 800 does not correspond to the control condition setting screen 700 shown in Fig. 4. In other words, the test results shown on the test result display screen 800 are not the results of a test performed under the test conditions shown on the control condition setting screen 700.
In addition, in FIG. 4, a case will be described in which the material of the test piece TP is, for example, a resin such as polyethylene.

試験結果表示画面８００には、グラフＧ１と、グラフＧ２とが対応付けて表示される。
グラフＧ１は、変位計測値ＸＤに対応するクロスヘッド１０の変位と、試験力計測値ＦＤに対応する試験力との関係を示す。グラフＧ２は、変位計測値ＸＤに対応するクロスヘッド１０の変位と、温度検出値ＴＤに対応する槽温度との関係を示す。
横軸は、変位計測値ＸＤに対応するクロスヘッド１０の変位を示し、左側の縦軸は、試験力計測値ＦＤに対応する試験力を示し、右側の縦軸は、温度検出値ＴＤに対応する槽温度を示す。
また、試験結果表示画面８００には、変位計測値ＸＤに対応するクロスヘッド１０の変位の範囲として、第１領域ＰＡと、第２領域ＰＢと、第３領域ＰＣとが設定されている。第１領域ＰＡ～第３領域ＰＣの各々を区別しない場合には、以下の説明において、領域ＡＲと記載する場合がある。 The test result display screen 800 displays a graph G1 and a graph G2 in association with each other.
Graph G1 shows the relationship between the displacement of the crosshead 10 corresponding to the displacement measurement value XD and the test force corresponding to the test force measurement value FD. Graph G2 shows the relationship between the displacement of the crosshead 10 corresponding to the displacement measurement value XD and the bath temperature corresponding to the temperature detection value TD.
The horizontal axis indicates the displacement of the crosshead 10 corresponding to the displacement measurement value XD, the left vertical axis indicates the test force corresponding to the test force measurement value FD, and the right vertical axis indicates the bath temperature corresponding to the temperature detection value TD.
Furthermore, a first area PA, a second area PB, and a third area PC are set as the range of displacement of the crosshead 10 corresponding to the displacement measurement value XD on the test result display screen 800. When the first area PA to the third area PC are not to be distinguished from one another, they may be referred to as an area AR in the following description.

第１領域ＰＡでは、本体制御部５４４は、クロスヘッド１０が一定速度で上昇するように、サーボモータ１８を制御する。また、第１領域ＰＡでは、温度制御部５４３は、恒温槽６の温度目標値ＴＡを３４℃に設定し、温度検出値ＴＤが温度目標値ＴＡと一致するように、ヒータ６１を制御する。 In the first area PA, the main body control unit 544 controls the servo motor 18 so that the crosshead 10 rises at a constant speed. Also, in the first area PA, the temperature control unit 543 sets the target temperature value TA of the thermostatic chamber 6 to 34°C, and controls the heater 61 so that the detected temperature value TD matches the target temperature value TA.

第２領域ＰＢでは、本体制御部５４４は、ロードセル１４が出力する試験力計測値ＦＤが一定値（ここでは、４５Ｎ）になるように、サーボモータ１８を制御する。また、第２領域ＰＢでは、温度制御部５４３は、恒温槽６の温度検出値ＴＤが一定値（ここでは、３３℃）になるように、ヒータ６１を制御する。 In the second region PB, the main body control unit 544 controls the servo motor 18 so that the test force measurement value FD output by the load cell 14 becomes a constant value (here, 45 N). Also, in the second region PB, the temperature control unit 543 controls the heater 61 so that the temperature detection value TD of the thermostatic chamber 6 becomes a constant value (here, 33°C).

第３領域ＰＣでは、本体制御部５４４は、ロードセル１４が出力する試験力計測値ＦＤが試験力目標値ＦＴ（ここでは、２０Ｎ）に到達するように、サーボモータ１８を制御する。また、第３領域ＰＣでは、温度制御部５４３は、恒温槽６の温度目標値ＴＡを３８℃に設定し、温度検出値ＴＤが温度目標値ＴＡと一致するように、ヒータ６１を制御する。 In the third area PC, the main body control unit 544 controls the servo motor 18 so that the test force measurement value FD output by the load cell 14 reaches the test force target value FT (here, 20 N). Also, in the third area PC, the temperature control unit 543 sets the temperature target value TA of the thermostatic chamber 6 to 38°C, and controls the heater 61 so that the temperature detection value TD matches the temperature target value TA.

このようにして、引張試験機本体２によって実行される材料試験の制御と、恒温槽６の制御とを同期させることができる。
また、試験力計測値ＦＤに対応する試験力の変化を示すグラフＧ１と、恒温槽６の温度検出値ＴＤに対応する槽温度の変化を示すグラフＧ２とを、対応付けて表示することによって、試験片ＴＰを構成する材料の新たな機械的な特性の評価が可能になり、その評価結果に基づいて、新たな材料の開発が可能になる。 In this way, the control of the material test performed by the tensile testing machine main body 2 and the control of the thermostatic chamber 6 can be synchronized.
Furthermore, by displaying a graph G1 showing the change in test force corresponding to the test force measurement value FD and a graph G2 showing the change in bath temperature corresponding to the temperature detection value TD of the thermostatic bath 6 in association with each other, it becomes possible to evaluate new mechanical properties of the material constituting the test piece TP, and based on the evaluation results, it becomes possible to develop new materials.

［６．制御部の動作］
次に、図５を参照して、制御部５３の処理について説明する。
図５は、本実施形態に係る制御部５３の処理の一例を示すフローチャートである。なお、図５では、制御条件記憶部５５１が、第１領域ＡＲ１を含む複数の領域ＡＲの各々について、引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２と、切替点ＰＴとを、予め対応付けて記憶している場合について説明する。
まず、ステップＳ１０１において、制御部５３は、第１領域ＡＲ１における引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２と、切替点ＰＴの条件とを制御条件記憶部５５１から読み出すことによって取得する。
次に、ステップＳ１０３において、本体制御部５４４は、第１領域ＡＲ１における引張試験の試験条件ＴＣ１に基づいて、引張試験機本体２を制御する。
次に、ステップＳ１０５において、温度制御部５４３は、第１領域ＡＲ１における温度制御の条件ＴＣ２に基づいて、恒温槽６を制御する。 [6. Operation of the control unit]
Next, the process of the control unit 53 will be described with reference to FIG.
Fig. 5 is a flowchart showing an example of the process of the control unit 53 according to the present embodiment. In Fig. 5, a case will be described in which the control condition storage unit 551 stores in advance the test conditions TC1 of the tensile test, the conditions TC2 of the temperature control performed by the thermostatic chamber 6, and the switching point PT in association with each other for each of the multiple areas AR including the first area AR1.
First, in step S101, the control unit 53 acquires the test conditions TC1 for the tensile test in the first area AR1, the conditions TC2 for the temperature control performed by the thermostatic chamber 6, and the conditions for the switching point PT from the control condition memory unit 551.
Next, in step S103, the main body control unit 544 controls the tensile tester main body 2 based on the test conditions TC1 of the tensile test in the first area AR1.
Next, in step S105, the temperature control unit 543 controls the thermostatic chamber 6 based on the condition TC2 of the temperature control in the first area AR1.

次に、ステップＳ１０７において、制御部５３は、第１領域ＡＲ１における切替点ＰＴに到達したか否かを判定する。
第１領域ＡＲ１における切替点ＰＴに到達していないと制御部５３が判定した場合（ステップＳ１０７；ＮＯ）には、処理がステップＳ１０３に戻る。第１領域ＡＲ１における切替点ＰＴに到達したと制御部５３が判定した場合（ステップＳ１０７；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１０９に進む。
そして、ステップＳ１０９において、次の領域ＡＲにおける引張試験の試験条件ＴＣ１と、恒温槽６によって実行される温度制御の条件ＴＣ２と、切替点ＰＴの条件とを制御条件記憶部５５１から読み出すことによって取得する。
次に、ステップＳ１１１において、本体制御部５４４は、ステップＳ１０９で取得された引張試験の試験条件ＴＣ１に基づいて、引張試験機本体２を制御する。
次に、ステップＳ１１３において、温度制御部５４３は、ステップＳ１０９で取得された温度制御の条件ＴＣ２に基づいて、恒温槽６を制御する。 Next, in step S107, the control unit 53 determines whether or not the switching point PT in the first area AR1 has been reached.
When the control unit 53 determines that the switching point PT in the first area AR1 has not been reached (step S107; NO), the process returns to step S103. When the control unit 53 determines that the switching point PT in the first area AR1 has been reached (step S107; YES), the process proceeds to step S109.
Then, in step S109, the test conditions TC1 for the tensile test in the next region AR, the conditions TC2 for the temperature control performed by the thermostatic chamber 6, and the conditions for the switching point PT are read out from the control condition storage unit 551 and acquired.
Next, in step S111, the main body control unit 544 controls the tensile tester main body 2 based on the test conditions TC1 of the tensile test acquired in step S109.
Next, in step S113, the temperature control unit 543 controls the thermostatic chamber 6 based on the temperature control condition TC2 acquired in step S109.

次に、ステップＳ１１５において、制御部５３は、ステップＳ１０９で取得された切替点ＰＴに到達したか否かを判定する。
ステップＳ１０９で取得された切替点ＰＴに到達していないと制御部５３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ１１１に戻る。ステップＳ１０９で取得された切替点ＰＴに到達したと制御部５３が判定した場合（ステップＳ１１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ１１７に進む。
そして、ステップＳ１１７において、制御部５３は、制御条件記憶部５５１に記憶された情報に基づき、試験を終了するかを判定する。
試験を終了しないと制御部５３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＮＯ）には、処理がステップＳ１０９に戻る。試験を終了すると制御部５３が判定した場合（ステップＳ１１７；ＹＥＳ）には、試験が終了される。 Next, in step S115, the control unit 53 determines whether or not the switching point PT obtained in step S109 has been reached.
If the control unit 53 determines that the switching point PT acquired in step S109 has not been reached (step S115; NO), the process returns to step S111. If the control unit 53 determines that the switching point PT acquired in step S109 has been reached (step S115; YES), the process proceeds to step S117.
Then, in step S117, the control unit 53 determines, based on the information stored in the control condition storage unit 551, whether to end the test.
When the control unit 53 determines that the test should not be ended (step S117; NO), the process returns to step S109. When the control unit 53 determines that the test should be ended (step S117; YES), the test is ended.

このようにして、各領域ＡＲにおいて、引張試験機本体２によって実行される材料試験の制御と、恒温槽６の制御とを同期させることができる。 In this way, in each area AR, the control of the material test performed by the tensile testing machine main body 2 can be synchronized with the control of the thermostatic chamber 6.

［７．態様と効果］
上述した実施形態及び変形例は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。 [7. Aspects and Effects]
It will be understood by those skilled in the art that the above-described embodiments and modifications are specific examples of the following aspects.

（第１項）
第１態様に関わる材料試験機は、試験片に対して材料試験を実行する材料試験機本体と、前記試験片の温度を調整する恒温槽と、前記材料試験機本体と前記恒温槽とを同期して制御する制御部と、を備える。 (Section 1)
The material testing machine according to the first aspect includes a material testing machine main body that performs material testing on a test piece, a thermostatic chamber that adjusts the temperature of the test piece, and a control unit that controls the material testing machine main body and the thermostatic chamber in synchronization with each other.

第１項に記載の材料試験機によれば、制御部は、前記材料試験機本体と前記恒温槽とを同期して制御する。
したがって、材料試験機本体によって実行される材料試験の制御と、恒温槽の制御とを同期できる。 According to the material testing machine described in paragraph 1, the control unit controls the material testing machine main body and the thermostatic chamber in synchronization with each other.
Therefore, the control of the material test performed by the material testing machine body and the control of the thermostatic chamber can be synchronized.

（第２項）
第１項に記載の材料試験機において、前記制御部は、前記材料試験機本体の動作と同期して、前記恒温槽を制御する。 (Section 2)
In the material testing machine described in paragraph 1, the control unit controls the thermostatic chamber in synchronization with the operation of the material testing machine main body.

第２項に記載の材料試験機によれば、前記制御部は、前記材料試験機本体の動作と同期して、前記恒温槽を制御する。
したがって、材料試験機本体の動作と同期して、恒温槽を制御できる。 According to the material testing machine described in the second aspect, the control unit controls the thermostatic chamber in synchronization with the operation of the material testing machine main body.
Therefore, the thermostatic chamber can be controlled in synchronization with the operation of the main body of the material testing machine.

（第３項）
第１項又は第２項に記載の材料試験機において、前記材料試験機本体は、第１センサを備え、前記制御部は、前記第１センサの検出信号に基づいて、前記恒温槽を制御する。 (Section 3)
In the material testing machine described in the first or second aspect, the material testing machine body includes a first sensor, and the control unit controls the thermostatic chamber based on a detection signal of the first sensor.

第３項に記載の材料試験機によれば、前記制御部は、前記材料試験機本体が備える前記第１センサの検出信号に基づいて、前記恒温槽を制御する。
よって、材料試験機本体が備える第１センサの検出信号に基づいて、恒温槽を制御できる。したがって、材料試験機本体が備える第１センサの検出信号と同期して、恒温槽を制御できる。 According to the material testing machine described in the third aspect, the control unit controls the thermostatic chamber based on a detection signal of the first sensor included in the material testing machine main body.
Therefore, the thermostatic chamber can be controlled based on the detection signal of the first sensor included in the material testing machine body, and therefore the thermostatic chamber can be controlled in synchronization with the detection signal of the first sensor included in the material testing machine body.

（第４項）
第３項に記載の材料試験機において、前記材料試験は、引張試験であり、前記第１センサは、前記試験片に付与される引張力を検出するロードセルを含む。 (Section 4)
In the material testing machine described in paragraph 3, the material test is a tensile test, and the first sensor includes a load cell that detects a tensile force applied to the test piece.

第４項に記載の材料試験機によれば、前記材料試験は、引張試験であり、前記第１センサは、前記試験片に付与される引張力を検出するロードセルを含む。
したがって、引張試験において、ロードセルの検出する引張力と同期して、恒温槽を制御できる。 According to the material testing machine described in paragraph 4, the material test is a tensile test, and the first sensor includes a load cell that detects a tensile force applied to the test piece.
Therefore, in a tensile test, the thermostatic chamber can be controlled in synchronization with the tensile force detected by the load cell.

（第５項）
第１項から第４項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記制御部は、前記材料試験機本体と同期して、前記恒温槽の温度目標値を設定する。 (Section 5)
In the material testing machine according to any one of claims 1 to 4, the control unit sets a target temperature value of the thermostatic chamber in synchronization with the material testing machine main body.

第５項に記載の材料試験機によれば、前記制御部は、前記材料試験機本体と同期して、前記恒温槽の温度目標値を設定する。
したがって、前記材料試験機本体と同期して、前記恒温槽の温度目標値を設定できる。 According to the material testing machine described in the fifth aspect, the control unit sets the target temperature value of the thermostatic chamber in synchronization with the material testing machine main body.
Therefore, the target temperature value of the thermostatic chamber can be set in synchronization with the main body of the material testing machine.

（第６項）
第１項から第５項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記恒温槽は、前記恒温槽内の温度を検出する第２センサを備え、前記制御部は、前記第２センサの検出信号に基づいて、前記材料試験機本体を制御する。 (Section 6)
In the material testing machine described in any one of paragraphs 1 to 5, the thermostatic chamber is provided with a second sensor that detects the temperature inside the thermostatic chamber, and the control unit controls the material testing machine main body based on a detection signal of the second sensor.

第６項に記載の材料試験機によれば、前記制御部は、前記恒温槽内の温度を検出する第２センサの検出信号に基づいて、前記材料試験機本体を制御する。
したがって、前記恒温槽内の温度を検出する第２センサの検出信号と同期して、前記材料試験機本体を制御できる。 According to the material testing machine described in the sixth aspect, the control unit controls the material testing machine body based on a detection signal from a second sensor that detects the temperature inside the thermostatic chamber.
Therefore, the main body of the material testing machine can be controlled in synchronization with the detection signal of the second sensor that detects the temperature inside the thermostatic chamber.

（第７項）
第３項又は第４項に記載の材料試験機において、前記恒温槽は、前記恒温槽内の温度を検出する第２センサを備え、前記制御部は、前記第１センサの検出信号と前記第２センサの検出信号とを対応付けて、ディスプレイに表示する。 (Section 7)
In the material testing machine described in paragraph 3 or 4, the thermostatic chamber is provided with a second sensor that detects the temperature inside the thermostatic chamber, and the control unit associates the detection signal of the first sensor with the detection signal of the second sensor and displays them on a display.

第７項に記載の材料試験機によれば、前記恒温槽は、前記恒温槽内の温度を検出する第２センサを備え、前記制御部は、前記第１センサの検出信号と前記第２センサの検出信号とを対応付けて、ディスプレイに表示する。
したがって、材料試験機本体によって実行される材料試験の制御と、恒温槽の制御とが同期していることを、ユーザが視認できる。また、試験片を構成する材料の新たな機械的な特性の評価が可能になり、その評価結果に基づいて、新たな材料の開発が可能になる。 According to the material testing machine described in paragraph 7, the thermostatic chamber is provided with a second sensor that detects the temperature inside the thermostatic chamber, and the control unit correlates the detection signal of the first sensor with the detection signal of the second sensor and displays them on a display.
Therefore, the user can visually confirm that the control of the material test executed by the main body of the material testing machine and the control of the thermostatic chamber are synchronized. In addition, it becomes possible to evaluate new mechanical properties of the material constituting the test piece, and based on the evaluation results, it becomes possible to develop new materials.

（第８項）
第２態様に関わる材料試験機の制御方法は、試験片に対して材料試験を実行する材料試験機本体と、前記試験片の温度を調整する恒温槽と、を備える材料試験機の制御方法であって、前記材料試験機本体と前記恒温槽とを同期して制御する。 (Section 8)
The control method for a materials testing machine relating to the second aspect is a control method for a materials testing machine that includes a materials testing machine main body that performs materials testing on a test piece and a thermostatic chamber that adjusts the temperature of the test piece, and controls the materials testing machine main body and the thermostatic chamber in synchronization with each other.

第８項に記載の材料試験機の制御方法によれば、第１項に記載の材料試験機と同様の作用効果を奏する。 The method for controlling the material testing machine described in paragraph 8 provides the same effects as the material testing machine described in paragraph 1.

［８．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が引張試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。また、例えば、材料試験機が、疲労試験機でもよい。 8. Other embodiments
The tensile testing machine 1 according to this embodiment is merely an example of an embodiment of a material testing machine according to the present invention, and can be modified and applied as desired without departing from the spirit and scope of the present invention.
For example, in the present embodiment, the case where the material testing machine is a tensile testing machine 1 has been described, but the present embodiment is not limited to this. The material testing machine may apply a test force to the test piece TP and deform the test piece TP to perform a material test. For example, the material testing machine may be a compression testing machine, a bending testing machine, or a torsion testing machine. Furthermore, for example, the material testing machine may be a fatigue testing machine.

また、本実施形態では、恒温槽６が試験片ＴＰの温度を調整する場合について説明するが、恒温槽６が、試験片ＴＰの温度と、試験片ＴＰの周囲の空気の湿度とを調整してもよい。この場合には、恒温槽６は、いわゆる、恒温恒湿槽である。また、この場合には、恒温槽６は、加湿器及び除湿器と、湿度センサとを備える。 In addition, in this embodiment, the case where the thermostatic chamber 6 adjusts the temperature of the test piece TP is described, but the thermostatic chamber 6 may also adjust the temperature of the test piece TP and the humidity of the air surrounding the test piece TP. In this case, the thermostatic chamber 6 is a so-called thermo-hygroscopic chamber. In addition, in this case, the thermostatic chamber 6 is equipped with a humidifier, a dehumidifier, and a humidity sensor.

また、本実施形態では、「第１センサ」がロードセル１４である場合について説明したが、「第１センサ」が、例えば、変位センサ１５でもよい。 In addition, in this embodiment, the "first sensor" is a load cell 14, but the "first sensor" may be, for example, a displacement sensor 15.

また、本実施形態では、表示制御部５４５は、試験結果表示画面８００を表示装置３２に表示するが、表示制御部５４５は、ロードセル１４が検出する試験力計測値ＦＤ、及び、変位センサ１５が検出する伸び計測値ＥＤの少なくとも一方と、温度センサ６２が検出する温度検出値ＴＤとを対応付けて表示装置３２に表示すればよい。 In addition, in this embodiment, the display control unit 545 displays the test result display screen 800 on the display device 32, but the display control unit 545 only needs to display on the display device 32 a correspondence between at least one of the test force measurement value FD detected by the load cell 14 and the extension measurement value ED detected by the displacement sensor 15 and the temperature detection value TD detected by the temperature sensor 62.

また、図１及び図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。 Furthermore, each functional unit shown in FIG. 1 and FIG. 2 indicates a functional configuration, and the specific implementation form is not particularly limited. In other words, it is not necessarily necessary to implement hardware that corresponds to each functional unit individually, and it is of course possible to implement a configuration in which one processor executes a program to realize the functions of multiple functional units. Furthermore, some of the functions realized by software in the above embodiment may be realized by hardware, or some of the functions realized by hardware may be realized by software.

また、図５に示すフローチャートの処理単位は、制御部５３の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図５のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。 The processing units in the flowchart shown in FIG. 5 are divided according to the main processing content in order to make the processing of the control unit 53 easier to understand. There is no limitation to the manner in which the processing units are divided or the names shown in the flowchart in FIG. 5, and they can be divided into even more processing units depending on the processing content, or one processing unit can be divided to include even more processes. Furthermore, the processing order in the above flowchart is not limited to the example shown.

また、引張試験機１の制御方法は、制御部５３が備えるプロセッサ５４に、引張試験機１の制御方法に対応した制御プログラムを実行させることで実現できる。また、この制御プログラムは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｋＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標）Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、制御部５３が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、引張試験機１の制御方法に対応した制御プログラムをサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から制御部５３に、制御プログラムをダウンロードすることで引張試験機１の制御方法を実現することもできる。 The control method of the tensile tester 1 can be realized by having the processor 54 of the control unit 53 execute a control program corresponding to the control method of the tensile tester 1. The control program can also be recorded in a computer-readable recording medium. The recording medium can be a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory device. Specifically, portable or fixed recording media such as a flexible disk, HDD, CD-ROM (Compact Disk Read Only Memory), DVD, Blu-ray (registered trademark) Disc, magneto-optical disk, flash memory, and card-type recording media can be mentioned. The recording medium may also be a non-volatile storage device such as a RAM, ROM, or HDD, which is an internal storage device of the control unit 53. The control method of the tensile tester 1 can also be realized by storing a control program corresponding to the control method of the tensile tester 1 in a server device or the like and downloading the control program from the server device to the control unit 53.

１引張試験機（材料試験機）
２引張試験機本体（材料試験機本体）
４制御ユニット
６恒温槽
１０クロスヘッド
１２負荷機構
１４ロードセル（第１センサ）
１５変位センサ（第１センサ）
２０ロータリエンコーダ
２１上つかみ具
２２下つかみ具
２６テーブル
２８、２９ねじ棹
３０統括制御装置
３２表示装置（ディスプレイ）
３４試験プログラム実行装置
４０信号入出力ユニット
４２第１センサアンプ
４３カウンタ回路
４４サーボアンプ
４５第２センサアンプ
４６第３センサアンプ
５０制御回路ユニット
５１通信部
５２フィードバック制御部
５３制御部
５４プロセッサ
５４１制御条件受付部
５４２切替判定部
５４３温度制御部
５４４本体制御部
５４５表示制御部
５５メモリ
５５１制御条件記憶部
６０恒温槽本体
６１ヒータ
６２温度センサ（第２センサ）
ＥＤ伸び計測値
ＦＤ試験力計測値
ＰＴ切替点
ＲＡ領域
ＲＡ１、ＰＡ第１領域
ＲＡ２、ＰＢ第２領域
ＲＡ３、ＰＣ第３領域
ＳＧ１試験力測定信号
ＳＧ２回転測定信号
ＳＧ３伸び測定信号
ＴＡ温度目標値
ＴＣ１引張試験の試験条件
ＴＣ２温度制御の条件
ＴＤ温度検出値
ＴＰ試験片
ＸＤ変位計測値 1. Tensile testing machine (material testing machine)
2 Tensile testing machine body (material testing machine body)
4 Control unit 6 Thermostatic chamber 10 Crosshead 12 Load mechanism 14 Load cell (first sensor)
15 Displacement sensor (first sensor)
20 Rotary encoder 21 Upper gripper 22 Lower gripper 26 Table 28, 29 Threaded rod 30 Overall control device 32 Display device (display)
34 Test program execution device 40 Signal input/output unit 42 First sensor amplifier 43 Counter circuit 44 Servo amplifier 45 Second sensor amplifier 46 Third sensor amplifier 50 Control circuit unit 51 Communication unit 52 Feedback control unit 53 Control unit 54 Processor 541 Control condition reception unit 542 Switching determination unit 543 Temperature control unit 544 Main body control unit 545 Display control unit 55 Memory 551 Control condition storage unit 60 Thermostatic chamber main body 61 Heater 62 Temperature sensor (second sensor)
ED Measured elongation value FD Measured test force value PT Switching point RA Area RA1, PA First area RA2, PB Second area RA3, PC Third area SG1 Test force measurement signal SG2 Rotation measurement signal SG3 Elongation measurement signal TA Target temperature value TC1 Test condition for tensile test TC2 Temperature control condition TD Detected temperature value TP Test piece XD Measured displacement value

Claims

a material testing machine body for performing a material test on a test piece;
A thermostatic bath for adjusting the temperature of the test piece;
A control unit that controls the material testing machine body and the thermostatic chamber in synchronization with each other;
Equipped with
the control unit sets a target temperature value of the thermostatic chamber when a measurement value of the material testing machine body reaches a target value;
When the target temperature value is set, the control unit controls the thermostatic chamber so that the detected temperature value coincides with the target temperature value.
The material test is a tensile test or a compression test,
The measurement value of the material testing machine body is a test force measurement value or an elongation measurement value.
Material testing machine.

The control unit controls the thermostatic chamber in synchronization with the operation of the material testing machine body.
2. A material testing machine according to claim 1.

The material testing machine body includes a first sensor,
The control unit controls the thermostatic chamber based on a detection signal of the first sensor.
3. A material testing machine according to claim 1 or 2.

The first sensor includes a load cell that detects a tensile force applied to the test piece.
4. A material testing machine according to claim 3.

The control unit sets a target temperature value of the thermostatic chamber in synchronization with the material testing machine body.
A material testing machine according to any one of claims 1 to 4.

the thermostatic chamber includes a second sensor that detects a temperature inside the thermostatic chamber;
The control unit controls the material testing machine body based on the detection signal of the second sensor.
A material testing machine according to any one of claims 1 to 5.

the thermostatic chamber includes a second sensor that detects a temperature inside the thermostatic chamber;
The control unit associates the detection signal of the first sensor with the detection signal of the second sensor and displays the associated signal on a display.
5. A material testing machine according to claim 3 or 4.

1. A method for controlling a materials testing machine including a materials testing machine main body that performs a materials test on a test piece and a thermostatic chamber that adjusts a temperature of the test piece, comprising:
Synchronously controlling the material testing machine body and the thermostatic chamber;
When the measured value of the material testing machine body reaches a target value, a target temperature value of the thermostatic chamber is set;
When the target temperature value is set, the thermostatic chamber is controlled so that the detected temperature value coincides with the target temperature value;
The material test is a tensile test or a compression test,
The measurement value of the material testing machine body is a test force measurement value or an elongation measurement value.
A method for controlling a materials testing machine.