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JP7601126B2 - Manufacturing method of circuit board and resin sheet with metal foil - Google Patents
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JP7601126B2 - Manufacturing method of circuit board and resin sheet with metal foil - Google Patents

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JP7601126B2 JP2023025418A JP2023025418A JP7601126B2 JP 7601126 B2 JP7601126 B2 JP 7601126B2 JP 2023025418 A JP2023025418 A JP 2023025418A JP 2023025418 A JP2023025418 A JP 2023025418A JP 7601126 B2 JP7601126 B2 JP 7601126B2
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Description

本発明は、回路基板の製造方法に関する。さらには、該回路基板の製造方法に用いられる金属箔付き樹脂シートに関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a circuit board. It also relates to a resin sheet with metal foil used in the method for manufacturing the circuit board.

携帯電子機器用マザーボード、システムインパッケージ基板、チップスケールパッケージ基板などの回路基板は、これまで、繊維強化されたプリプレグと銅箔をコア基材にビルドアップすることで製造されてきた。 Until now, circuit boards such as motherboards for portable electronic devices, system-in-package boards, and chip-scale package boards have been manufactured by building up fiber-reinforced prepreg and copper foil on a core substrate.

昨今、各電子機器の高機能化ならびに低背化にともない、これら回路基板においても微細配線化に対応することが求められており、金属箔付き樹脂シートを用いた回路基板の製造が検討されている。この金属箔付き樹脂シートは、金属箔と支持基材を含む支持基材付き金属箔と、該支持基材付き金属箔の金属箔と接合している樹脂組成物層を備える(例えば、特許文献1)。該樹脂組成物層のもう一方の面には、保護フィルム等としてプラスチックフィルムを備える構成が想定され、回路基板の製造において該金属箔付き樹脂シートを基材に積層するに先立ち、該プラスチックフィルムを剥離して樹脂組成物層を露出させる。 Recently, as electronic devices become more functional and thinner, there is a demand for circuit boards to be able to accommodate finer wiring, and the manufacture of circuit boards using resin sheets with metal foil is being considered. This resin sheet with metal foil comprises a metal foil with a supporting substrate, which comprises a metal foil and a supporting substrate, and a resin composition layer bonded to the metal foil of the metal foil with supporting substrate (see, for example, Patent Document 1). It is assumed that the other side of the resin composition layer is provided with a plastic film as a protective film or the like, and prior to laminating the resin sheet with metal foil to a substrate in the manufacture of a circuit board, the plastic film is peeled off to expose the resin composition layer.

特開2018-172785号公報JP 2018-172785 A

金属箔付き樹脂シートに関しては、プリプレグのように繊維基材が存在しないため、回路基板の製造において基材に積層する際の加熱加圧条件下では、プリプレグに比べて樹脂フロー性が高くなり、その結果、膜厚が均一な絶縁層を得ることが困難となる傾向にある。この点、樹脂フロー性を抑制するために、樹脂組成物に含まれる樹脂の分子量や配合量を大きくするといったことも考えられるが、熱硬化後の架橋密度の低下等、得られる絶縁層の物性への影響が課題となる。 Metal foil-attached resin sheets do not have a fiber base material like prepregs, so under the heat and pressure conditions used when laminating the base material in the manufacture of circuit boards, resin flow tends to be higher than with prepregs, making it difficult to obtain an insulating layer with a uniform thickness. In order to suppress resin flow, it is possible to increase the molecular weight or amount of resin contained in the resin composition, but this would have an impact on the physical properties of the resulting insulating layer, such as a decrease in crosslink density after thermal curing, which is an issue.

一方、樹脂組成物の設計の自由度を維持しつつ、樹脂フロー性を抑制する方法として、基材への積層を低い圧力条件下で実施することが考えられる。しかしながら、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層すると、配線間の絶縁抵抗値が低下し歩留まりが低下してしまう現象が生じることを本発明者らは見出した。とりわけ、金属箔をめっきシード層として利用するモディファイドセミアディティブ法、又は、金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法により配線を形成する回路基板の製造において、配線間距離が35μm以下である配線を形成する場合に、上記の歩留まり低下の問題が顕著となる傾向にあることを見出した。 On the other hand, as a method of suppressing resin flow while maintaining the degree of freedom in the design of the resin composition, lamination onto the substrate under low pressure conditions is considered. However, the present inventors have found that laminating a resin sheet with metal foil onto a substrate under low pressure conditions results in a phenomenon in which the insulation resistance between wiring decreases, resulting in a decrease in yield. In particular, in the manufacture of circuit boards in which wiring is formed by a modified semi-additive method using metal foil as a plating seed layer, or a semi-additive method using the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil, the inventors have found that the above-mentioned problem of decreased yield tends to become more pronounced when forming wiring with an inter-wiring distance of 35 μm or less.

本発明は、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層して微細配線を形成する場合であっても、配線間の絶縁抵抗値の低下を抑制し良好な歩留まりを実現することのできる新規な技術を提供することを課題とする。 The objective of the present invention is to provide a new technology that can suppress the decrease in insulation resistance between wiring and achieve good yields, even when forming fine wiring by laminating a resin sheet with metal foil on a substrate under low pressure conditions.

本発明者らは、鋭意検討した結果、下記構成を有する回路基板の製造方法および金属箔付き樹脂シートにより上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成させるに至った。 As a result of intensive research, the inventors discovered that the above problems could be solved by a circuit board manufacturing method and a resin sheet with metal foil having the following configuration, and thus completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1]
(Y)第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートを、該樹脂組成物層の第2の主面が基材と接合するように、基材に積層する工程を含む、回路基板の製造方法であって、
工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、方法。
[2]
工程(Y)において、金属箔付き樹脂シートを1.5MPa以下の圧力にて基材に積層する、[1]に記載の方法。
[3]
(Z)モディファイドセミアディティブ法又はセミアディティブ法により配線を形成する工程をさらに含む、[1]又は[2]に記載の方法。
[4]
工程(Z)において、配線間距離が35μm以下である配線を形成する、[3]に記載の方法。
[5]
該金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、[1]~[4]の何れかに記載の方法。
[6]
支持基材付き金属箔における金属箔の厚さが5μm以下である、[1]~[5]の何れかに記載の方法。
[7]
支持基材付き金属箔における支持基材がプラスチックフィルム又はキャリア金属箔である、[1]~[6]の何れかに記載の方法。
[8]
樹脂組成物層が、該樹脂組成物層の不揮発成分を100質量%としたとき、無機充填材を40質量%以上含有する、[1]~[7]の何れかに記載の方法。
[9]
第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートであって、
該金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、金属箔付き樹脂シート。
[10]
該金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、[9]に記載の金属箔付き樹脂シート。
That is, the present invention includes the following.
[1]
(Y) A method for producing a circuit board, comprising a step of laminating a resin sheet with a metal foil, the resin sheet including a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, onto a substrate such that the second main surface of the resin composition layer is bonded to the substrate,
A method in which the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil-attached resin sheet used in step (Y) on the metal foil-attached metal foil side is 5 or less per cm2 .
[2]
The method according to [1], wherein in the step (Y), the resin sheet with the metal foil is laminated on the substrate at a pressure of 1.5 MPa or less.
[3]
(Z) The method according to [1] or [2], further comprising a step of forming wiring by a modified semi-additive method or a semi-additive method.
[4]
The method according to [3], wherein in the step (Z), wiring is formed with a distance between wirings of 35 μm or less.
[5]
The method according to any one of [1] to [4], wherein the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the plastic film side of the resin sheet with the metal foil is 5 or less per cm2 .
[6]
The method according to any one of [1] to [5], wherein the thickness of the metal foil in the metal foil with supporting substrate is 5 μm or less.
[7]
The method according to any one of [1] to [6], wherein the supporting substrate in the metal foil with a supporting substrate is a plastic film or a carrier metal foil.
[8]
The method according to any one of [1] to [7], wherein the resin composition layer contains 40% by mass or more of an inorganic filler when the non-volatile components of the resin composition layer are taken as 100% by mass.
[9]
A resin sheet with a metal foil, comprising: a resin composition layer having first and second main surfaces; a metal foil with a support substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side; and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer,
A resin sheet with a metal foil, in which the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more is 5 or less per cm2 on the surface of the resin sheet with a metal foil on the supporting substrate side.
[10]
The resin sheet with a metal foil according to [9], wherein the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the plastic film side of the resin sheet with the metal foil is 5 or less per cm2.

本発明によれば、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層して微細配線を形成する場合であっても、配線間の絶縁抵抗値の低下を抑制し良好な歩留まりを実現することのできる新規な技術を提供することができる。 The present invention provides a new technology that can suppress the decrease in insulation resistance between wiring and achieve good yields, even when forming fine wiring by laminating a resin sheet with metal foil on a substrate under low pressure conditions.

図1は、金属箔付き樹脂シートの概略端面図である。FIG. 1 is a schematic end view of a resin sheet with a metal foil. 図2aは、本発明の金属箔付き樹脂シートの製造方法を説明するための模式図(1)である。FIG. 2a is a schematic diagram (1) for explaining the method for producing a resin sheet with a metal foil of the present invention. 図2bは、本発明の金属箔付き樹脂シートの製造方法を説明するための模式図(2)である。FIG. 2b is a schematic diagram (2) for explaining the method for producing a resin sheet with a metal foil of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、各図面は、発明が理解できる程度に、構成要素の形状、大きさおよび配置が概略的に示されているに過ぎない。本発明は以下の記述によって限定されるものではなく、各構成要素は本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。以下の説明に用いる図面において、同様の構成要素については同一の符号を付して示し、重複する説明については省略する場合がある。また、本発明の実施形態にかかる構成は、必ずしも図示例の配置により、製造されたり、使用されたりするとは限らない。 Below, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that each drawing merely shows the shape, size, and arrangement of the components in a schematic manner to the extent that the invention can be understood. The present invention is not limited by the following description, and each component can be modified as appropriate without departing from the gist of the present invention. In the drawings used in the following description, similar components are indicated with the same reference numerals, and duplicated explanations may be omitted. Furthermore, the configuration according to the embodiment of the present invention is not necessarily manufactured or used according to the arrangement of the illustrated example.

[回路基板の製造方法]
本発明の回路基板の製造方法(以下、単に「本発明の方法」ともいう。)は、
(Y)第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートを、該樹脂組成物層の第2の主面が基材と接合するように、基材に積層する工程を含み、
工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下であることを特徴とする。
[Method of manufacturing circuit board]
The method for producing a circuit board of the present invention (hereinafter also simply referred to as the "method of the present invention") comprises the steps of:
(Y) a step of laminating a resin sheet with a metal foil, the resin sheet including a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, onto a substrate such that the second main surface of the resin composition layer is bonded to the substrate,
The resin sheet with metal foil used in step (Y) is characterized in that the surface of the resin sheet with metal foil on the side of the supporting substrate on which the metal foil is attached has 5 or less concave or convex portions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more per cm2 .

先述のとおり、金属箔付き樹脂シートに関しては、プリプレグのように繊維基材が存在しないため、回路基板の製造において基材に積層する際の加熱加圧条件下では、プリプレグに比べて樹脂フロー性が高くなり、その結果、膜厚が均一な絶縁層を得ることが困難となる傾向にある。この点、樹脂フロー性を抑制するために、樹脂組成物に含まれる樹脂の分子量や配合量を大きくするといったことも考えられるが、熱硬化後の架橋密度の低下等、得られる絶縁層の物性への影響が課題となる。 As mentioned above, resin sheets with metal foil do not have a fiber base material like prepregs, so under the heat and pressure conditions when laminating to a base material in the manufacture of circuit boards, resin flow tends to be higher than with prepregs, making it difficult to obtain an insulating layer with a uniform thickness. In order to suppress resin flow, it is possible to increase the molecular weight or amount of resin contained in the resin composition, but this has an impact on the physical properties of the resulting insulating layer, such as a decrease in crosslink density after thermal curing, which is an issue.

一方、樹脂組成物の設計の自由度を維持しつつ、樹脂フロー性を抑制する方法として、基材への積層を低い圧力条件下で実施することが考えられる。しかしながら、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層すると、配線間の絶縁抵抗値が低下し歩留まりが低下してしまう現象が生じることを本発明者らは見出した。とりわけ、金属箔をめっきシード層として利用するモディファイドセミアディティブ法、又は、金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法により配線を形成する回路基板の製造において、配線間距離が35μm以下である配線を形成する場合に、上記の歩留まり低下の問題が顕著となる傾向にあることを見出した。 On the other hand, as a method of suppressing resin flow while maintaining the degree of freedom in the design of the resin composition, lamination onto the substrate under low pressure conditions is considered. However, the present inventors have found that laminating a resin sheet with metal foil onto a substrate under low pressure conditions results in a phenomenon in which the insulation resistance between wiring decreases, resulting in a decrease in yield. In particular, in the manufacture of circuit boards in which wiring is formed by a modified semi-additive method using metal foil as a plating seed layer, or a semi-additive method using the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil, the inventors have found that the above-mentioned problem of decreased yield tends to become more pronounced when forming wiring with an inter-wiring distance of 35 μm or less.

本発明者らは、配線間の絶縁抵抗値が低下し歩留まりの低下が生じた回路基板について、回路配線の状態を確認したところ、本来の回路形成部とは異なる箇所に導体が存在し、これが配線間の絶縁抵抗値を低下させている原因の一つであることを確認した。金属箔付き樹脂シートを用いて回路基板を製造するにあたっては、後述のとおり、該シートの金属箔をめっきシード層として利用するモディファイドセミアディティブ法や、該金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法により配線を形成することができるが、前者の場合であれば金属箔の露出表面に、後者の場合であれば絶縁層の露出表面に、面内寸法において数μmから数百μmサイズの凹部や凸部が存在する場合のあること、また、斯かる凹部や凸部が存在する場合に歩留まりが低下することも併せて確認した。金属箔に凹部が存在すると、モディファイドセミアディティブ法において回路形成部以外の金属箔を除去する際に、凹部に存在する金属箔は除去され難く残存し易い。絶縁層の露出表面に凹部が存在する場合にも、セミアディティブ法において無電解めっきにて形成したシード層のうち凹部に存在するシード層は除去され難く残存し易い。このように、回路形成部以外に導体が残存してしまい、これが配線間の絶縁抵抗値を低下させたものと推察した。配線間距離が小さい配線を備える回路基板においては、斯かる残存導体による影響は相対的に増し、先述のように配線間距離が35μm以下である配線を形成する場合に歩留まり低下の問題が顕著となったものと考えられる。また、凸部が存在すると、モディファイドセミアディティブ法やセミアディティブ法においてめっきレジストの密着が不良となり、電解めっきの際に意図しない箇所にめっき導体の潜り込みが生じたり、凸部において電解めっき厚が不足し局所的に配線厚さが不足したり断線したりすることから、所期の配線デザインを達成するにあたり障害となる。これらの中でも、凹部が存在すると、回路基板の製造において歩留まりの低下が生じ易い。 The inventors of the present invention confirmed the state of the circuit wiring of a circuit board in which the insulation resistance between wirings was reduced and the yield was reduced, and confirmed that a conductor was present in a location different from the original circuit formation portion, which was one of the causes of the reduction in the insulation resistance between wirings. When manufacturing a circuit board using a resin sheet with metal foil, as described below, wiring can be formed by a modified semi-additive method in which the metal foil of the sheet is used as a plating seed layer, or a semi-additive method in which the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil is used. In the former case, the exposed surface of the metal foil, and in the latter case, the exposed surface of the insulating layer, may have recesses or protrusions with in-plane dimensions of several μm to several hundred μm, and it was also confirmed that the yield is reduced when such recesses or protrusions exist. If a recess exists in the metal foil, when removing the metal foil other than the circuit formation portion in the modified semi-additive method, the metal foil present in the recess is difficult to remove and tends to remain. Even when a recess exists on the exposed surface of the insulating layer, the seed layer formed by electroless plating in the semi-additive method in the recess is difficult to remove and tends to remain. In this way, it is presumed that the conductor remains in areas other than the circuit formation area, which reduces the insulation resistance between the wiring. In circuit boards with wiring with a small distance between the wiring, the influence of such remaining conductors is relatively increased, and it is considered that the problem of reduced yield becomes prominent when forming wiring with a distance between the wiring of 35 μm or less as described above. In addition, the presence of a protrusion causes poor adhesion of the plating resist in the modified semi-additive method and the semi-additive method, which causes the plating conductor to slip into unintended places during electrolytic plating, or the electrolytic plating thickness is insufficient at the protrusion, causing localized insufficient wiring thickness or disconnection, which is an obstacle to achieving the desired wiring design. Among these, the presence of a recess tends to cause a decrease in yield in the manufacture of circuit boards.

本発明者らは、このような金属箔や絶縁層(樹脂組成物層)の凹部や凸部が、回路基板の製造に使用する金属箔付き樹脂シートに元から存在していることを見出した。上記のとおり、回路基板の製造において低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層する場合には、これら凹部や凸部が十分に平坦化されず、配線を形成する段階でも残存したものと考える。また、これら凹部や凸部が生じる原因につき検討したところ、それらが金属箔付き樹脂シートの製造において、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを、あるいは、第2の樹脂シートとプラスチックフィルムとを積層する過程で、意図せず形成されていることを見出した。積層に用いる圧着ロールの表面に付着した異物が積層時に打痕として支持基材付き金属箔やプラスチックフィルムに凹部を形成し、これが金属箔側や樹脂組成物層の第1の主面側でみると、凹部(積層時に支持基材付き金属箔と接するロール表面に付着した異物が原因)や凸部(積層時にプラスチックフィルムと接するロール表面に付着した異物が原因)を形成したと推察される。なお、後述のとおり、金属箔付き樹脂シートの製造に用いられる「第1の樹脂シート」とは、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとからなり、また「第2の樹脂シート」とは、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第1の主面に金属箔側で接合している支持基材付き金属箔とからなる。 The present inventors have found that such recesses and protrusions of the metal foil and insulating layer (resin composition layer) are originally present in the resin sheet with metal foil used in the manufacture of the circuit board. As described above, when the resin sheet with metal foil is laminated to the substrate under low pressure conditions in the manufacture of the circuit board, it is believed that these recesses and protrusions are not sufficiently flattened and remain even at the stage of forming the wiring. In addition, when the cause of the formation of these recesses and protrusions was examined, it was found that they are unintentionally formed in the process of laminating the first resin sheet and the metal foil with the supporting substrate, or the second resin sheet and the plastic film in the manufacture of the resin sheet with metal foil. It is presumed that foreign matter adhering to the surface of the pressure roll used for lamination forms recesses in the metal foil with the supporting substrate or the plastic film as dents during lamination, and when viewed from the metal foil side or the first main surface side of the resin composition layer, this forms recesses (caused by foreign matter adhering to the roll surface that contacts the metal foil with the supporting substrate during lamination) or protrusions (caused by foreign matter adhering to the roll surface that contacts the plastic film during lamination). As described below, the "first resin sheet" used in the manufacture of the resin sheet with metal foil consists of a resin composition layer and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, and the "second resin sheet" consists of a resin composition layer and a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side.

これに対し、金属箔付き樹脂シートと基材とを積層する工程(工程(Y))において、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である金属箔付き樹脂シートを用いる本発明の回路基板の製造方法によれば、基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、配線の形成対象面に凹部や凸部が生じることを減じ、良好な歩留まりを達成することができる。このように、本発明は、金属箔付き樹脂シートにおける樹脂組成物の設計の自由度を維持しつつ、微細な配線を備えた回路基板の製造において良好な歩留まりを実現することができ、回路基板の微細配線化に著しく寄与するものである。 In contrast, in the process (step (Y)) of laminating a resin sheet with a metal foil and a substrate, the method for producing a circuit board of the present invention uses a resin sheet with a metal foil having 5 or less recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil with supporting substrate side, even when lamination to the substrate is performed under low pressure conditions, the occurrence of recesses or protrusions on the surface on which the wiring is to be formed is reduced, and a good yield can be achieved. Thus, the present invention can achieve a good yield in the production of circuit boards with fine wiring while maintaining the degree of freedom in designing the resin composition in the resin sheet with a metal foil, and significantly contributes to the fine wiring of circuit boards.

工程(Y)において、第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートを、該樹脂組成物層の第2の主面が基材と接合するように、基材に積層する。 In step (Y), a resin sheet with metal foil, which includes a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, is laminated onto a substrate so that the second main surface of the resin composition layer is bonded to the substrate.

工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートを構成する樹脂組成物層、支持基材付き金属箔、プラスチックフィルムに関しては、それらの好適な例を含め後述することとするが、本発明の方法は、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下であることを特徴とする。 The resin composition layer, metal foil with supporting substrate, and plastic film constituting the resin sheet with metal foil used in step (Y) will be described later, including suitable examples thereof, but the method of the present invention is characterized in that the surface of the resin sheet with metal foil used in step (Y) on the side of the metal foil with supporting substrate has 5 or less concave or convex portions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more per cm2.

図1に、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの概略端面図を示す。金属箔付き樹脂シート10は、第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層1と、該樹脂組成物層の第1の主面(図1における下側主面)と金属箔3a側で接合している支持基材付き金属箔3と、該樹脂組成物層の第2の主面(図1における上側主面)と接合しているプラスチックフィルム2とを含む。また、支持基材付き金属箔3は、金属箔3aと、該金属箔と剥離可能な状態で接合している支持基材3bとからなる。 Figure 1 shows a schematic end view of the resin sheet with metal foil used in step (Y). The resin sheet with metal foil 10 includes a resin composition layer 1 having first and second main surfaces, a metal foil 3 with a support substrate bonded to the first main surface (lower main surface in Figure 1) of the resin composition layer on the metal foil 3a side, and a plastic film 2 bonded to the second main surface (upper main surface in Figure 1) of the resin composition layer. The metal foil 3 with a support substrate is composed of the metal foil 3a and the support substrate 3b bonded to the metal foil in a peelable state.

基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、良好な歩留まりを達成する観点から、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面(図1における下側表面)における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の個数は、5個/cm以下であり、好ましくは4.5個/cm以下、より好ましくは4個/cm以下である。特に上記凹部又は凸部の個数が4個/cm以下であると、モディファイドセミアディティブ法やセミアディティブ法により配線を形成する回路基板の製造において、配線間距離が35μm以下である配線を形成する場合であっても、良好な歩留まりを達成し得るため好適である。モディファイドセミアディティブ法やセミアディティブ法により微細な配線を形成する場合であってもいっそう良好な歩留まりを達成し得る観点から、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の個数は、3.5個/cm以下であることがさらに好ましく、3個/cm以下、2.5個/cm以下又は2個/cm以下であることがさらにより好ましい。 From the viewpoint of achieving a good yield even when lamination to a substrate is performed under low pressure conditions, the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface (lower surface in FIG. 1 ) of the resin sheet with metal foil used in step (Y) on the side of the metal foil with supporting substrate is 5/cm 2 or less, preferably 4.5/cm 2 or less, and more preferably 4/cm 2 or less. In particular, when the number of the recesses or protrusions is 4/cm 2 or less, it is preferable because a good yield can be achieved even when wiring with an inter-wiring distance of 35 μm or less is formed in the manufacture of a circuit board in which wiring is formed by a modified semi-additive method or a semi-additive method. From the viewpoint of achieving a better yield even when fine wiring is formed by the modified semi-additive method or the semi-additive method, it is more preferable that the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil-attached resin sheet used in step (Y) on the metal foil-attached metal foil side is 3.5 pcs/cm2 or less , and even more preferably 3 pcs/cm2 or less , 2.5 pcs/cm2 or less , or 2 pcs/cm2 or less .

本発明において金属箔付き樹脂シートの表面凹凸についていう「最大径」とは、金属箔付き樹脂シートの表面の面方向における凹凸の最大寸法をいい、表面を真上からみた場合に凹凸が真円であればその直径が、凹凸が真円以外の形状であればその形状における面内方向の最大寸法を指す。また、「最大高低差」とは、金属箔付き樹脂シートの表面に垂直な方向(厚さ方向)における凹凸の最高高さと最低高さの差をいう。 In the present invention, the "maximum diameter" of the surface irregularities of the resin sheet with metal foil refers to the maximum dimension of the irregularities in the planar direction of the surface of the resin sheet with metal foil. If the irregularities are perfect circles when viewed from directly above the surface, this refers to the diameter. If the irregularities are other than perfect circles, this refers to the maximum dimension in the planar direction of the shape. Furthermore, the "maximum height difference" refers to the difference between the maximum height and minimum height of the irregularities in the direction perpendicular to the surface of the resin sheet with metal foil (thickness direction).

本発明において、金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の個数は、該表面を顕微鏡で観察し、同定された凹凸を段差計により解析し、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の数をカウントすることにより求めることができる。表面観察に用いる顕微鏡としては、デジタルマイクロスコープを用いればよく、例えば、キーエンス社製「VHX-900」が挙げられる。凹凸解析に用いる段差計としては、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部を解析し得る限り特に限定されないが、接触式段差計を用いればよく、例えば、Bruker社製触針式プロファイリングシステム「DektakXT」が挙げられる。 In the present invention, the number of recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil-attached resin sheet on the side of the metal foil-attached support substrate can be determined by observing the surface under a microscope, analyzing the identified recesses and protrusions with a step gauge, and counting the number of recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more. A digital microscope may be used as the microscope used for surface observation, and an example of the microscope may be Keyence's "VHX-900." The step gauge used for the unevenness analysis is not particularly limited as long as it can analyze recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more, but a contact step gauge may be used, and an example of the microscope may be Bruker's "DektakXT" stylus profiling system.

本発明における最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の数は、後述の「(1-4)金属箔付き樹脂シートの表面凹凸の観察」欄に記載するとおり、金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面15cm×15cmの中で1cmのエリアを無作為に10点選択して観察・解析し、10点のエリアについて求めた最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の数の算術平均値(個/cm)に基づくものである。表面凹凸の個数を上記のとおり決定することにより、基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、良好な歩留まりを達成するのに好適な、表面凹凸に係る条件の成否を精度良く判定することができる。 The number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more in the present invention is based on the arithmetic mean value (pieces/cm 2 ) of the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more, determined by randomly selecting 10 areas of 1 cm 2 from within a 15 cm x 15 cm surface of the metal foil-attached resin sheet on the metal foil-attached metal foil side of the supporting substrate, observing and analyzing the selected 10 areas, as described in the section "( 1-4 ) Observation of surface unevenness" below. By determining the number of surface unevenness as described above, it is possible to accurately determine the success or failure of conditions related to surface unevenness suitable for achieving a good yield, even when lamination to a substrate is performed under low pressure conditions.

金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の個数の下限は、特に限定されず0個/cmであってよい。 The lower limit of the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the resin sheet with metal foil on the side of the metal foil with supporting substrate is not particularly limited and may be 0 pcs/cm 2 .

金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、凹部又は凸部の最大径の上限は、例えば、100,000μm以下、10,000μm以下、5,000μm以下、2,000μm以下、1,000μm以下などであり、最大高低差の上限は、例えば、5μm以下、4μm以下、3μm以下などである。 The upper limit of the maximum diameter of the recesses or protrusions on the surface of the metal foil with support substrate side of the resin sheet with metal foil is, for example, 100,000 μm or less, 10,000 μm or less, 5,000 μm or less, 2,000 μm or less, 1,000 μm or less, and the upper limit of the maximum height difference is, for example, 5 μm or less, 4 μm or less, 3 μm or less.

基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、いっそう良好な歩留まりを達成する観点から、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面(図1における上側表面)における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部の個数は、好ましくは5個/cm以下であり、より好ましくは4.5個/cm以下、さらに好ましくは4個/cm以下、3.5個/cm以下又は3個/cm以下である。プラスチックフィルム側の表面における上記凹部又は凸部の個数は、支持基材付き金属箔側の表面における凹部又は凸部の個数について先述した方法と同様にして求めればよい。金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面における、凹部又は凸部の最大径の上限は、金属箔側の表面について先述したとおりである。 Even when lamination to the substrate is performed under low pressure conditions, from the viewpoint of achieving a better yield, the number of recesses or protrusions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the plastic film side surface (upper surface in FIG. 1) of the metal foil-attached resin sheet used in step (Y) is preferably 5 pieces/cm 2 or less, more preferably 4.5 pieces/cm 2 or less, even more preferably 4 pieces/cm 2 or less, 3.5 pieces/cm 2 or less, or 3 pieces/cm 2 or less. The number of the recesses or protrusions on the plastic film side surface may be determined in the same manner as the number of recesses or protrusions on the metal foil-attached surface with the support substrate. The upper limit of the maximum diameter of the recesses or protrusions on the plastic film side surface of the metal foil-attached resin sheet is as described above for the metal foil side surface.

工程(Y)において、金属箔付き樹脂シートを積層する「基材」としては、主として、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板、又は該基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成された基板をいう。また回路基板を製造する際に、さらに絶縁層及び/又は導体層が形成されるべき中間製造物の内層回路基板も本発明でいう「基材」に含まれる。回路基板が部品内蔵回路板である場合、部品を内蔵した基板を使用すればよい。 In step (Y), the "substrate" on which the resin sheet with metal foil is laminated mainly refers to a substrate such as a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, or a thermosetting polyphenylene ether substrate, or a substrate on one or both sides of which a patterned conductor layer (circuit) is formed. In addition, when manufacturing a circuit board, the inner layer circuit board of an intermediate product on which an insulating layer and/or a conductor layer is to be further formed is also included in the "substrate" of the present invention. When the circuit board is a circuit board with built-in components, a substrate with built-in components may be used.

なお、工程(Y)に先立ち、金属箔付き樹脂シートからプラスチックフィルムを剥離して樹脂組成物層の表面(すなわち、第2の主面)を露出させる。そして、樹脂組成物層の第2の主面が基材と接合するように、金属箔付き樹脂シートを基材に積層する。 Prior to step (Y), the plastic film is peeled off from the resin sheet with the metal foil to expose the surface of the resin composition layer (i.e., the second main surface). Then, the resin sheet with the metal foil is laminated onto the substrate so that the second main surface of the resin composition layer is bonded to the substrate.

先述のとおり、本発明の方法によれば、樹脂フロー性を抑制すべく基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、配線の形成対象面に凹部や凸部が生じることを減じ、良好な歩留まりを達成することができる。 As mentioned above, the method of the present invention can reduce the occurrence of concave and convex parts on the surface on which the wiring is to be formed, and achieve good yields, even when lamination to the substrate is performed under low pressure conditions to suppress resin flow.

したがって一実施形態において、本発明の方法は、工程(Y)において、金属箔付き樹脂シートを1.5MPa以下の圧力にて基材に積層する工程を含む。本発明の方法によれば、後述のとおり、積層時の圧力をさらに低くする場合であっても、良好な歩留まりを達成することができる。 Therefore, in one embodiment, the method of the present invention includes, in step (Y), a step of laminating the resin sheet with the metal foil onto the substrate at a pressure of 1.5 MPa or less. According to the method of the present invention, as described below, even when the pressure during lamination is further reduced, a good yield can be achieved.

工程(Y)において、金属箔付き樹脂シートと基材との積層は、減圧雰囲気下で実施することが好ましく、例えば、真空熱プレス処理又は真空ラミネート処理により実施することが好ましい。以下、真空熱プレス処理によって積層する実施形態を「第1実施形態」、真空ラミネート処理によって積層する実施形態を「第2実施形態」という。 In step (Y), lamination of the resin sheet with the metal foil and the substrate is preferably performed under a reduced pressure atmosphere, for example, by vacuum heat pressing or vacuum lamination. Hereinafter, the embodiment in which lamination is performed by vacuum heat pressing is referred to as the "first embodiment," and the embodiment in which lamination is performed by vacuum lamination is referred to as the "second embodiment."

-第1実施形態-
第1実施形態において、回路基板は、真空熱プレス装置を用いて以下の手順で製造することが好適である。
-First embodiment-
In the first embodiment, the circuit board is preferably manufactured using a vacuum hot press device in the following procedure.

まず、樹脂組成物層と基材とが接合するように、基材の片面又は両面に金属箔付き樹脂シートを配置した積層構造を準備し、該積層構造を真空熱プレス装置にセットする。 First, a laminate structure is prepared in which a resin sheet with metal foil is placed on one or both sides of a substrate so that the resin composition layer and the substrate are bonded, and the laminate structure is set in a vacuum heat press device.

積層構造は、クッション紙、ステンレス板(SUS板)等の金属板、離型フィルムなどを介して真空熱プレス装置にセットすることが好ましい。積層構造は、例えば、基材の両面に金属箔付き樹脂シートを配置する場合、クッション紙/金属板/離型フィルム/積層構造(すなわち、金属箔付き樹脂シート/基材/金属箔付き樹脂シート)/離型フィルム/SUS板/クッション紙の順に積層されて真空熱プレス装置にセットされる。ここで記号「/」はこれを挟むように示されている構成要素同士が互いに接するように配置されていることを意味している(本明細書における積層構造の説明等において同様である。)。 The laminated structure is preferably set in a vacuum heat press device via cushion paper, a metal plate such as a stainless steel plate (SUS plate), a release film, etc. For example, when a resin sheet with metal foil is placed on both sides of a substrate, the laminated structure is set in the vacuum heat press device in the following order: cushion paper/metal plate/release film/laminated structure (i.e., resin sheet with metal foil/substrate/resin sheet with metal foil)/release film/SUS plate/cushion paper. Here, the symbol "/" means that the components shown sandwiching it are arranged so that they are in contact with each other (the same applies in the explanation of the laminated structure in this specification, etc.).

次いで、減圧条件下で積層構造を加熱圧着する真空熱プレス処理を行う。 Next, a vacuum heat press process is performed to heat and press the laminated structure under reduced pressure.

真空熱プレス処理は、加熱されたSUS板等の金属板によって積層構造をその両面側から押圧する従来公知の真空熱プレス装置を用いて実施することができる。市販されている真空熱プレス装置としては、例えば、名機製作所社製の「MNPC-V-750-5-200」、北川精機社製の「VH1-1603」等が挙げられる。 The vacuum hot press process can be carried out using a conventional vacuum hot press device that presses the laminated structure from both sides with a heated metal plate such as a stainless steel plate. Commercially available vacuum hot press devices include, for example, the "MNPC-V-750-5-200" manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd. and the "VH1-1603" manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.

真空熱プレス処理は、1回のみ実施してもよく、2回以上繰り返して実施してもよい。 The vacuum heat pressing process may be performed only once, or may be repeated two or more times.

真空熱プレス処理において、圧着圧力(押圧力)は、樹脂フロー性を抑制して膜厚の均一な絶縁層を得る観点から、上記のとおり好ましくは1.5MPa以下であり、より好ましくは1.4MPa以下、さらに好ましくは1.2MPa以下又は1MPa以下である。その下限は、金属箔付き樹脂シートと基材との積層を実施し得る限り特に限定されないが、例えば0.2MPa以上、0.3MPa以上、0.4MPa以上などとし得る。 In the vacuum hot press process, the bonding pressure (pressing force) is preferably 1.5 MPa or less, as described above, from the viewpoint of suppressing resin flowability and obtaining an insulating layer with a uniform thickness, more preferably 1.4 MPa or less, and even more preferably 1.2 MPa or less or 1 MPa or less. The lower limit is not particularly limited as long as lamination of the resin sheet with metal foil and the substrate can be performed, but it can be, for example, 0.2 MPa or more, 0.3 MPa or more, 0.4 MPa or more, etc.

真空熱プレス処理において、雰囲気の圧力、すなわち、処理対象の積層構造が格納されるチャンバ内の減圧時の圧力は、好ましくは3×10-2MPa以下、より好ましくは1×10-2MPa以下である。 In the vacuum hot press treatment, the atmospheric pressure, that is, the reduced pressure inside the chamber in which the laminate structure to be treated is stored, is preferably 3×10 −2 MPa or less, and more preferably 1×10 −2 MPa or less.

真空熱プレス処理において、加熱温度(T)は、樹脂組成物層の組成によっても異なるが、通常130℃以上であり、好ましくは140℃以上、150℃以上、又は160℃以上である。加熱温度(T)の上限は特に限定されないが、通常、240℃以下などとし得る。 In the vacuum hot press treatment, the heating temperature (T) varies depending on the composition of the resin composition layer, but is usually 130°C or higher, and preferably 140°C or higher, 150°C or higher, or 160°C or higher. There is no particular upper limit to the heating temperature (T), but it can usually be 240°C or lower.

真空熱プレス処理は、クラックや歪み等を抑制する観点から、温度を段階的に若しくは連続的に上昇させながら、及び/又は温度を段階的に若しくは連続的に下降させながら、実施することが好ましい。斯かる場合、最高到達温度が、上記所望の温度条件を満たすことが好ましい。 From the viewpoint of suppressing cracks, distortion, etc., it is preferable to carry out the vacuum heat pressing process while increasing the temperature stepwise or continuously and/or decreasing the temperature stepwise or continuously. In such a case, it is preferable that the maximum temperature reached satisfies the desired temperature condition described above.

真空熱プレス処理は、例えば、常温から加熱温度(T)まで昇温速度Sで昇温し、加熱温度(T)にて所定時間保持した後、降温速度Sで加熱温度(T)から常温まで降温する加熱条件で実施してよい。昇温速度S及び降温速度Sは、通常0.5℃/分~30℃/分、好ましくは1℃/分~10℃/分、より好ましくは2℃/分~8℃/分である。加熱温度(T)にて保持する時間は、樹脂組成物層の組成により適宜決定してよいが、通常1分間~180分間、好ましくは5分間~150分間、より好ましくは10分間~120分間である。 The vacuum hot press treatment may be carried out under heating conditions in which, for example, the temperature is increased from room temperature to the heating temperature (T) at a temperature increase rate S 1 , the heating temperature (T ) is held for a predetermined time, and then the temperature is decreased from the heating temperature (T) to room temperature at a temperature decrease rate S 2. The temperature increase rate S 1 and the temperature decrease rate S 2 are usually 0.5°C/min to 30°C/min, preferably 1°C/min to 10°C/min, and more preferably 2°C/min to 8°C/min. The time for holding at the heating temperature (T) may be appropriately determined depending on the composition of the resin composition layer, but is usually 1 minute to 180 minutes, preferably 5 minutes to 150 minutes, and more preferably 10 minutes to 120 minutes.

真空熱プレス処理によって、樹脂組成物層は硬化して絶縁層を形成する。したがって、得られる積層板は、上記のように基材の両面に金属箔付き樹脂シートを積層した場合、支持基材付き金属箔(支持基材/金属箔)/絶縁層/基材/絶縁層/支持基材付き金属箔(金属箔/支持基材)の層構成を有する。 By the vacuum hot press treatment, the resin composition layer is cured to form an insulating layer. Therefore, when the resin sheet with metal foil is laminated on both sides of the substrate as described above, the resulting laminate has a layer structure of metal foil with supporting substrate (supporting substrate/metal foil)/insulating layer/substrate/insulating layer/metal foil with supporting substrate (metal foil/supporting substrate).

-第2実施形態-
第2実施形態において、回路基板は、真空ラミネート処理を用いて下記工程(I)及び(II)を含む方法により製造することが好適である。
(I)樹脂組成物層と基材とが接合するように、基材の片面又は両面に本発明の製造方法より得られた金属箔付き樹脂シートを配置し、真空ラミネート処理する工程
(II)樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する工程
-Second embodiment-
In the second embodiment, the circuit board is preferably manufactured by a method including the following steps (I) and (II) using a vacuum lamination process.
(I) A step of placing a resin sheet with a metal foil obtained by the manufacturing method of the present invention on one or both sides of a substrate so that the resin composition layer and the substrate are bonded, and performing a vacuum lamination process. (II) A step of thermally curing the resin composition layer to form an insulating layer.

工程(I)において、樹脂組成物層と基材とが接合するように、基材の片面又は両面に本発明の製造方法より得られた金属箔付き樹脂シートを配置し、真空ラミネート処理する。 In step (I), the resin sheet with metal foil obtained by the manufacturing method of the present invention is placed on one or both sides of the substrate so that the resin composition layer and the substrate are bonded, and then vacuum lamination is performed.

真空ラミネート処理は、支持基材付き金属箔側から金属箔付き樹脂シートを基材に加熱圧着することにより行うことができる。金属箔付き樹脂シートを基材に加熱圧着する部材(以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(SUS鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を金属箔付き樹脂シートに直接プレスするのではなく、耐熱ゴム等の弾性材を介してプレスするのが好ましい。 Vacuum lamination can be performed by heat-pressing the resin sheet with metal foil to the substrate from the metal foil side with supporting substrate. Examples of the member for heat-pressing the resin sheet with metal foil to the substrate (hereinafter also referred to as the "heat-pressing member") include a heated metal plate (such as a SUS panel) or a metal roll (SUS roll). Note that it is preferable to press the heat-pressing member through an elastic material such as heat-resistant rubber, rather than directly against the resin sheet with metal foil.

真空ラミネート処理において、加熱温度は、好ましくは60℃~160℃、より好ましくは80℃~140℃の範囲である。圧着圧力は、樹脂フロー性を抑制して膜厚の均一な絶縁層を得る観点から、上記のとおり好ましくは1.5MPa以下であり、より好ましくは1.4MPa以下、さらに好ましくは1.2MPa以下又は1MPa以下であり、その下限は、金属箔付き樹脂シートと基材との積層を実施し得る限り特に限定されないが、例えば0.1MPa以上、0.2MPa以上、0.3MPa以上などとし得る。圧着時間は、好ましくは20秒間~400秒間、より好ましくは30秒間~300秒間の範囲である。真空ラミネート処理は、好ましくは26.7hPa以下の減圧条件下で実施する。 In the vacuum lamination process, the heating temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably 80°C to 140°C. From the viewpoint of suppressing resin flowability and obtaining an insulating layer with a uniform thickness, the pressure bonding is preferably 1.5 MPa or less, more preferably 1.4 MPa or less, and even more preferably 1.2 MPa or less or 1 MPa or less, as described above, and the lower limit is not particularly limited as long as lamination of the resin sheet with metal foil and the substrate can be performed, but may be, for example, 0.1 MPa or more, 0.2 MPa or more, 0.3 MPa or more, etc. The pressure bonding time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably 30 seconds to 300 seconds. The vacuum lamination process is preferably performed under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.

真空ラミネート処理は、市販の真空ラミネーターを用いて行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニッコー・マテリアルズ社製の2ステージビルドアップラミネーター、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニチゴー・モートン社製のバキュームアップリケーター等が挙げられる。 The vacuum lamination process can be carried out using a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a two-stage build-up laminator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., a vacuum pressure laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., and a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd.

真空ラミネート処理の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を指示基材付き金属箔側からプレスすることにより、積層された金属箔付き樹脂シートの平滑化処理を行ってもよい。平滑化処理の加熱圧着条件は、上記真空ラミネート処理の加熱圧着条件と同様の条件としてよい。平滑化処理は、市販のラミネーターによって行うことができる。なお、積層と平滑化処理は、上記の市販の真空ラミネーターを用いて連続的に行ってもよい。 After the vacuum lamination process, the laminated resin sheet with metal foil may be smoothed under normal pressure (atmospheric pressure), for example by pressing a heat-pressure bonding member from the metal foil side with the support substrate. The heat-pressure bonding conditions for the smoothing process may be the same as the heat-pressure bonding conditions for the vacuum lamination process described above. The smoothing process may be performed using a commercially available laminator. Note that lamination and smoothing may be performed consecutively using the commercially available vacuum laminator described above.

工程(II)において、樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する。 In step (II), the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer.

熱硬化の条件は特に限定されず、回路基板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を使用してよい。 The conditions for thermal curing are not particularly limited, and the conditions normally used for forming insulating layers for circuit boards may be used.

例えば、樹脂組成物層の熱硬化条件は、樹脂組成物層の組成によっても異なるが、硬化温度は120℃~240℃の範囲(好ましくは150℃~210℃の範囲、より好ましくは170℃~190℃の範囲)、硬化時間は5分間~90分間の範囲(好ましくは10分間~75分間、より好ましくは15分間~60分間)としてよい。 For example, the thermal curing conditions for the resin composition layer may vary depending on the composition of the resin composition layer, but the curing temperature may be in the range of 120°C to 240°C (preferably in the range of 150°C to 210°C, more preferably in the range of 170°C to 190°C), and the curing time may be in the range of 5 minutes to 90 minutes (preferably in the range of 10 minutes to 75 minutes, more preferably in the range of 15 minutes to 60 minutes).

樹脂組成物層を熱硬化させる前に、樹脂組成物層を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。例えば、樹脂組成物層を熱硬化させるのに先立ち、50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物層を5分間以上(好ましくは5分間~150分間、より好ましくは15分間~120分間)予備加熱してもよい。 Before the resin composition layer is thermally cured, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermally curing the resin composition layer, the resin composition layer may be preheated for 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes) at a temperature of 50°C or more and less than 120°C (preferably 60°C or more and 110°C or less, more preferably 70°C or more and 100°C or less).

工程(II)により、樹脂組成物層が硬化して絶縁層が形成される。したがって得られる積層板は、基材の両面に金属箔付き樹脂シートを積層した場合、支持基材付き金属箔(支持基材/金属箔)/絶縁層/基材/絶縁層/支持基材付き金属箔(金属箔/支持基材)の層構成を有する。 In step (II), the resin composition layer is cured to form an insulating layer. Therefore, when a resin sheet with metal foil is laminated on both sides of a substrate, the resulting laminate has a layer structure of metal foil with supporting substrate (supporting substrate/metal foil)/insulating layer/substrate/insulating layer/metal foil with supporting substrate (metal foil/supporting substrate).

第1実施形態及び第2実施形態の別を問わず、穴あけする工程、デスミア処理を行う工程、配線を形成する工程をさらに実施してよい。 Regardless of whether the first or second embodiment is used, a process of drilling holes, a process of performing a desmear process, and a process of forming wiring may be further performed.

穴あけする工程において、絶縁層にビアホール等を形成することができる。当該工程は、絶縁層の形成に使用した樹脂組成物層の組成等に応じて、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等を使用する公知の手順で実施してよい。 In the drilling process, via holes or the like can be formed in the insulating layer. This process may be carried out by known procedures using, for example, a drill, a laser, plasma, or the like, depending on the composition of the resin composition layer used to form the insulating layer.

穴あけする工程において形成されたビアホール内部には、一般に、絶縁層由来の樹脂残渣(スミア)が付着している。斯かるスミアは、層間の電気接続不良の原因となるため、スミアを除去する処理(デスミア処理)を実施する。 The inside of the via holes formed during the drilling process generally contains resin residue (smear) from the insulating layer. Since such smears can cause poor electrical connections between layers, a process to remove the smear (desmear process) is carried out.

デスミア処理の手順、条件は特に限定されず、回路基板の製造において通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。例えば、膨潤液による膨潤処理、酸化剤溶液による酸化処理、中和液による中和処理をこの順に実施してデスミア処理を行うことができる。膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン社製の「スウェリング・ディップ・セキュリガンスP」、「スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU」等を挙げることができる。膨潤処理は、ビアホールの形成された積層板を、60℃~80℃に加熱した膨潤液に5分間~10分間浸漬させることにより行うことが好ましい。酸化剤溶液としては、アルカリ性過マンガン酸水溶液が好ましく、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解した溶液を挙げることができる。酸化剤溶液による酸化処理は、膨潤処理後の積層板を、60℃~80℃に加熱した酸化剤溶液に10分間~30分間浸漬させることにより行うことが好ましい。アルカリ性過マンガン酸水溶液の市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製の「コンセントレート・コンパクトCP」、「ド-ジングソリューション・セキュリガンスP」等が挙げられる。中和液による中和処理は、酸化処理後の積層板を、30℃~50℃の中和液に3分間~10分間浸漬させることにより行うことが好ましい。中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製の「リダクションソリューション・セキュリガントP」が挙げられる。 The procedure and conditions of the desmear treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions that are normally used in the manufacture of circuit boards can be adopted. For example, the desmear treatment can be performed by carrying out a swelling treatment using a swelling liquid, an oxidation treatment using an oxidizing agent solution, and a neutralization treatment using a neutralizing liquid in this order. Examples of the swelling liquid include "Swelling Dip Securigans P" and "Swelling Dip Securigans SBU" manufactured by Atotech Japan. The swelling treatment is preferably performed by immersing the laminate with the via holes formed in the swelling liquid heated to 60°C to 80°C for 5 to 10 minutes. The oxidizing agent solution is preferably an alkaline permanganate solution, such as a solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide. The oxidation treatment using the oxidizing agent solution is preferably performed by immersing the laminate after the swelling treatment in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 80°C for 10 to 30 minutes. Commercially available alkaline permanganate aqueous solutions include, for example, "Concentrate Compact CP" and "Dosing Solution Securiganth P" manufactured by Atotech Japan. The neutralization treatment using a neutralizing solution is preferably carried out by immersing the laminated plate after oxidation treatment in a neutralizing solution at 30°C to 50°C for 3 to 10 minutes. The neutralizing solution is preferably an acidic aqueous solution, and a commercially available product is, for example, "Reduction Solution Securiganth P" manufactured by Atotech Japan.

次いで、絶縁層の表面に配線を形成する。先述のとおり、本発明の方法によれば、金属箔をめっきシード層として利用するモディファイドセミアディティブ法、あるいは、金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法により、配線間距離が小さい配線を形成する場合であっても、良好な歩留まりを達成することができる。 Next, wiring is formed on the surface of the insulating layer. As described above, according to the method of the present invention, a good yield can be achieved even when forming wiring with a small distance between the wirings by using the modified semi-additive method that uses the metal foil as a plating seed layer, or the semi-additive method that uses the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil.

したがって一実施形態において、本発明の回路基板の製造方法は、
(Z)モディファイドセミアディティブ法又はセミアディティブ法により配線を形成する工程を含む。
Thus, in one embodiment, the method for producing a circuit board of the present invention includes the steps of:
(Z) A step of forming wiring by a modified semi-additive method or a semi-additive method is included.

工程(Z)に先立ち、積層板から支持基材(すなわち、支持基材付き金属箔由来の支持基材)を除去する。後述のとおり、支持基材は、金属箔に剥離可能な状態で接合していることから、容易に剥離除去することができる。こうして、金属箔を露出させることができる。例えば、上記のように基材の両面に金属箔付き樹脂シートを積層した場合、支持基材を剥離することで、金属箔/絶縁層/基材/絶縁層/金属箔の層構成を有する積層板を得ることができる。 Prior to step (Z), the supporting substrate (i.e., the supporting substrate derived from the metal foil with supporting substrate) is removed from the laminate. As described below, the supporting substrate is joined to the metal foil in a peelable state, and therefore can be easily peeled off and removed. In this way, the metal foil can be exposed. For example, when a resin sheet with metal foil is laminated on both sides of the substrate as described above, a laminate having a layer structure of metal foil/insulating layer/substrate/insulating layer/metal foil can be obtained by peeling off the supporting substrate.

-モディファイドセミアディティブ法による配線の形成-
モディファイドセミアディティブ法(MSAP)においては、金属箔の非回路形成部をめっきレジストにより保護し、電解めっきにより回路形成部に銅等の金属を厚付けした後、めっきレジストを除去し、回路形成部以外の金属箔をエッチングで除去して、回路を形成する。モディファイドセミアディティブ法による回路形成は公知の手順に従って実施してよい。例えば、モディファイドセミアディティブ法による回路形成は、i)金属箔の表面にめっきレジストを設けること、ii)めっきレジストを露光、現像して配線パターンを形成すること、iii)めっきレジストを介して電解めっきすること、iv)めっきレジストを除去すること、v)回路形成部以外の金属箔をエッチングして除去すること、を含む方法により実施することができる。なお、金属箔付き樹脂シート由来の金属箔が厚い場合には、上記i)の前に、金属箔が所望の厚さ(通常5μm以下、4μm以下、又は3μm以下)となるようにエッチング等により金属箔全面を薄化してもよい。
- Wiring formation using modified semi-additive method -
In the modified semi-additive method (MSAP), non-circuit forming portions of a metal foil are protected by a plating resist, and a metal such as copper is thickly applied to the circuit forming portion by electrolytic plating, and then the plating resist is removed, and the metal foil other than the circuit forming portion is removed by etching to form a circuit. The circuit formation by the modified semi-additive method may be carried out according to a known procedure. For example, the circuit formation by the modified semi-additive method can be carried out by a method including: i) providing a plating resist on the surface of the metal foil; ii) exposing and developing the plating resist to form a wiring pattern; iii) electroplating through the plating resist; iv) removing the plating resist; and v) etching and removing the metal foil other than the circuit forming portion. In addition, when the metal foil derived from the resin sheet with the metal foil is thick, the entire surface of the metal foil may be thinned by etching or the like before the above i) so that the metal foil has a desired thickness (usually 5 μm or less, 4 μm or less, or 3 μm or less).

-セミアディティブ法による配線の形成-
セミアディティブ法(SAP)においては、金属箔をエッチング等により除去して絶縁層を露出させる。このとき、絶縁層の露出表面は金属箔に由来したプロファイルを有する。そして、絶縁層の露出表面にめっき等により回路を形成する。セミアディティブ法による回路形成は、絶縁層の露出表面プロファイルを利用することで従来の絶縁層表面の粗化処理を省いてもよいことを除いては、公知の手順に従って実施してよい。例えば、セミアディティブ法による回路形成は、i)絶縁層の露出表面に無電解めっきによりシード層を形成すること、ii)シード層にめっきレジストを設けること、iii)めっきレジストを露光、現像して配線パターンを形成すること、iv)めっきレジストを介して電解めっきすること、v)めっきレジストを除去すること、vi)回路形成部以外のシード層をエッチングして除去すること、を含む方法により実施することができる。金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルの程度によっては、上記i)に先立ち、絶縁層表面を粗化処理してもよい。
- Wiring formation using semi-additive method -
In the semi-additive process (SAP), the metal foil is removed by etching or the like to expose the insulating layer. At this time, the exposed surface of the insulating layer has a profile derived from the metal foil. Then, a circuit is formed on the exposed surface of the insulating layer by plating or the like. The circuit formation by the semi-additive process may be carried out according to a known procedure, except that the conventional roughening treatment of the insulating layer surface may be omitted by utilizing the exposed surface profile of the insulating layer. For example, the circuit formation by the semi-additive process may be carried out by a method including: i) forming a seed layer by electroless plating on the exposed surface of the insulating layer; ii) providing a plating resist on the seed layer; iii) exposing and developing the plating resist to form a wiring pattern; iv) electroplating through the plating resist; v) removing the plating resist; and vi) etching and removing the seed layer other than the circuit formation portion. Depending on the degree of the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil, the insulating layer surface may be roughened prior to the above i).

先述のとおり、本発明の方法によれば、配線の形成対象面(モディファイドセミアディティブ法においては金属箔表面、セミアディティブ法において絶縁層表面)に凹部や凸部が生じることを減じ、良好な歩留まりを達成することができる。これにより、配線間距離が小さい配線を形成する場合であっても、良好な歩留まりを達成することができる。例えば、工程(Z)において、配線間距離が35μm以下である配線を歩留まりよく形成することができ、さらには配線間距離が30μm以下又は25μm以下と小さい配線も歩留まりよく形成することができる。特に配線間距離が25μm以下である配線を形成する場合、従来の回路基板の製造方法においては、歩留まりの低下が顕著であるのに対し、本発明の方法によれば、良好な歩留まりを達成しつつ、より配線間距離の小さい配線を形成することができる。本発明の方法によれば、配線間距離が、例えば、20μm以下、15μm以下、14μm以下、12μm以下、10μm以下と小さい配線も歩留まりよく形成することが可能である。配線間距離の下限は、良好な歩留まりを達成し得る観点から、好ましくは5μm以上又は6μm以上である。 As described above, according to the method of the present invention, the occurrence of concaves and convexities on the wiring formation surface (metal foil surface in the modified semi-additive method, insulating layer surface in the semi-additive method) can be reduced, and good yields can be achieved. As a result, good yields can be achieved even when wiring with a small wiring distance is formed. For example, in step (Z), wiring with a wiring distance of 35 μm or less can be formed with good yields, and even wiring with a small wiring distance of 30 μm or less or 25 μm or less can be formed with good yields. In particular, when forming wiring with a wiring distance of 25 μm or less, the conventional circuit board manufacturing method shows a significant decrease in yield, whereas the method of the present invention can form wiring with a smaller wiring distance while achieving good yields. According to the method of the present invention, it is possible to form wiring with a small wiring distance of, for example, 20 μm or less, 15 μm or less, 14 μm or less, 12 μm or less, or 10 μm or less with good yields. The lower limit of the distance between the wirings is preferably 5 μm or more or 6 μm or more from the viewpoint of achieving good yield.

[金属箔付き樹脂シート]
本発明の回路基板の製造方法は、先述のとおり、工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートとして、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である金属箔付き樹脂シートを用いることを特徴とし、これにより、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層して微細配線を形成する場合であっても、配線間の絶縁抵抗値の低下を抑制し良好な歩留まりを実現することができる。本発明は斯かる金属箔付き樹脂シートも提供する。
[Resin sheet with metal foil]
As described above, the method for producing a circuit board of the present invention is characterized in that the resin sheet with metal foil used in step (Y) has 5 or less concave or convex parts with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on its surface on the metal foil-attached metal foil-attached substrate side, and this makes it possible to suppress a decrease in the insulation resistance value between wiring and achieve a good yield even when the resin sheet with metal foil is laminated on the substrate under low pressure conditions to form fine wiring. The present invention also provides such a resin sheet with metal foil.

本発明の金属箔付き樹脂シートは、第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートであって、該金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下であることを特徴とする。 The resin sheet with metal foil of the present invention is a resin sheet with metal foil comprising a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, and is characterized in that the surface of the resin sheet with metal foil on the side of the supporting substrate on the metal foil side has 5 or less concave or convex portions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more per cm2.

ここで、本発明の金属箔付き樹脂シートの層構成は、図1を参照して先述したとおりであり、また、該金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における上記凹凸の個数やプラスチックフィルム側の表面における凹凸の個数の好適な範囲、該凹凸の個数の求め方に関しては、上記[回路基板の製造方法]欄において先述したとおりである。 Here, the layer structure of the resin sheet with metal foil of the present invention is as described above with reference to FIG. 1, and the preferred range of the number of the projections and recesses on the surface of the resin sheet with metal foil on the metal foil side with the supporting substrate and the number of projections and recesses on the surface of the plastic film side, as well as the method of determining the number of projections and recesses, are as described above in the section [Method of manufacturing a circuit board].

以下、本発明の金属箔付き樹脂シートを構成する「樹脂組成物層」、「プラスチックフィルム」、「支持基材付き金属箔」について説明する。 The "resin composition layer," "plastic film," and "metal foil with supporting substrate" that constitute the resin sheet with metal foil of the present invention are described below.

<樹脂組成物層>
樹脂組成物層に使用される樹脂組成物は、その硬化物が十分な絶縁性を呈する限り特に限定されず、回路基板の絶縁層の形成に用いられる従来公知の樹脂組成物を用いてよい。
<Resin composition layer>
The resin composition used in the resin composition layer is not particularly limited as long as the cured product exhibits sufficient insulation properties, and any known resin composition used in the formation of insulating layers for circuit boards may be used.

先述のとおり、金属箔付き樹脂シートに関しては、プリプレグのように繊維基材が存在しないため、回路基板の製造において基材に積層する際の加熱加圧条件下では、プリプレグに比べて樹脂フロー性が高くなり、その結果、膜厚が均一な絶縁層を得ることが困難となる傾向にある。この点、樹脂フロー性を抑制するために、樹脂組成物に含まれる樹脂の分子量や配合量を大きくするといったことも考えられるが、熱硬化後の架橋密度の低下等、得られる絶縁層の物性への影響が課題となる。一方、樹脂組成物の設計の自由度を維持しつつ、樹脂フロー性を抑制する方法として、基材への積層を低い圧力条件下で実施することが考えられるものの、低圧条件下で金属箔付き樹脂シートを基材に積層すると、配線間の絶縁抵抗値が低下し歩留まりが低下してしまう現象が生じる。 As mentioned above, resin sheets with metal foils do not have a fiber base material like prepregs, so under the heating and pressurizing conditions when laminating them to a base material in the manufacture of circuit boards, the resin flow is higher than that of prepregs, and as a result, it tends to be difficult to obtain an insulating layer with a uniform thickness. In order to suppress the resin flow, it is possible to increase the molecular weight or amount of the resin contained in the resin composition, but this has an impact on the physical properties of the resulting insulating layer, such as a decrease in crosslink density after thermal curing, which is an issue. On the other hand, laminating the resin sheet with metal foils to a base material under low pressure conditions is a method of suppressing the resin flow while maintaining the freedom of design of the resin composition, but when the resin sheet with metal foils is laminated to a base material under low pressure conditions, the insulation resistance between the wiring decreases, resulting in a phenomenon of a decrease in yield.

これに対し、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である本発明の金属箔付き樹脂シートによれば、樹脂フロー性を抑制すべく基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、良好な歩留まりを達成することができ、それ故、該金属箔付き樹脂シートに用いる樹脂組成物(層)の設計の自由度を有利に維持することが可能である。 In contrast, according to the resin sheet with metal foil of the present invention, in which the surface on the metal foil side with a supporting substrate has 5 or fewer concave or convex parts with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more, a good yield can be achieved even when lamination to the substrate is performed under low pressure conditions to suppress resin flow, and therefore, it is possible to advantageously maintain the freedom in designing the resin composition (layer) used in the resin sheet with metal foil.

例えば、樹脂組成物層を構成する樹脂組成物としては、(a)硬化性樹脂を含み、さらに必要に応じて、(b)硬化剤、(c)無機充填材、(d)熱可塑性樹脂、(e)硬化促進剤からなる群から選択される1種以上を含む樹脂組成物が挙げられる。以下、樹脂組成物に含有させ得る各成分について説明する。 For example, the resin composition constituting the resin composition layer may be a resin composition that contains (a) a curable resin and, if necessary, further contains one or more selected from the group consisting of (b) a curing agent, (c) an inorganic filler, (d) a thermoplastic resin, and (e) a curing accelerator. Each component that may be contained in the resin composition is described below.

-(a)硬化性樹脂-
硬化性樹脂としては、回路基板の絶縁層を形成する際に使用される従来公知の硬化性樹脂を用いてよい。良好な絶縁性と耐熱性を併せて呈する硬化物をもたらすことができる観点から、硬化性樹脂は、熱硬化性樹脂及びラジカル重合性樹脂からなる群から選択される1種以上であることが好ましい。
-(a) Curing resin-
As the curable resin, a conventionally known curable resin used in forming an insulating layer of a circuit board may be used. From the viewpoint of being able to provide a cured product exhibiting both good insulation and heat resistance, The curable resin is preferably at least one selected from the group consisting of thermosetting resins and radically polymerizable resins.

熱硬化性樹脂及びラジカル重合性樹脂としては、回路基板の絶縁層を形成する際に使用される公知の樹脂を用いてよい。以下、硬化性樹脂として用いることのできる熱硬化性樹脂及びラジカル重合性樹脂について説明する。 As the thermosetting resin and radically polymerizable resin, known resins used in forming insulating layers of circuit boards may be used. Below, the thermosetting resins and radically polymerizable resins that can be used as the curable resin are described.

熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、ポリアリーレンエーテル樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、エポキシアクリレート樹脂、ウレタンアクリレート樹脂、ウレタン樹脂、シアネート樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂等が挙げられる。熱硬化性樹脂は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。中でも、良好な絶縁性と良好な耐熱性を併せて呈する硬化物をもたらすことができる観点から、硬化性樹脂は、エポキシ樹脂を含むことが好ましい。 Examples of thermosetting resins include epoxy resins, polyarylene ether resins, benzocyclobutene resins, epoxy acrylate resins, urethane acrylate resins, urethane resins, cyanate resins, melamine resins, and silicone resins. The thermosetting resins may be used alone or in combination of two or more. Among them, it is preferable that the curable resin contains an epoxy resin, from the viewpoint of being able to produce a cured product that exhibits both good insulating properties and good heat resistance.

エポキシ樹脂は、1分子中に1個以上(好ましくは2個以上)のエポキシ基を有する限り、その種類は特に限定されない。エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、フルオレン骨格型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂等が挙げられる。本発明によれば、エポキシ樹脂の種類によらず、回路基板の製造において良好な歩留まりをもたらす金属箔付き樹脂シートを実現することができる。 The type of epoxy resin is not particularly limited as long as it has one or more (preferably two or more) epoxy groups in one molecule. Examples of epoxy resins include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, tert-butyl-catechol type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, glycidylamine type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, phenol aralkyl type epoxy resins, biphenyl aralkyl type epoxy resins, fluorene skeleton type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, anthracene type epoxy resins, linear aliphatic epoxy resins, epoxy resins having a butadiene structure, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, spiro ring-containing epoxy resins, cyclohexane dimethanol type epoxy resins, trimethylol type epoxy resins, halogenated epoxy resins, etc. According to the present invention, it is possible to realize a resin sheet with metal foil that provides good yields in the manufacture of circuit boards, regardless of the type of epoxy resin.

エポキシ樹脂は、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」という。)と、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」という。)に分類し得るが、本発明に用いる樹脂組成物は、硬化性樹脂として、液状エポキシ樹脂のみを含んでもよく、固体状エポキシ樹脂のみを含んでもよく、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて含んでもよい。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて含む場合、配合割合(液状:固体状)は質量比で20:1~1:20の範囲(好ましくは10:1~1:10、より好ましくは3:1~1:3)としてよい。 Epoxy resins can be classified into epoxy resins that are liquid at a temperature of 20°C (hereinafter referred to as "liquid epoxy resins") and epoxy resins that are solid at a temperature of 20°C (hereinafter referred to as "solid epoxy resins"). The resin composition used in the present invention may contain only liquid epoxy resins as the curable resin, may contain only solid epoxy resins, or may contain a combination of liquid and solid epoxy resins. When a combination of liquid and solid epoxy resins is contained, the blending ratio (liquid:solid) may be in the range of 20:1 to 1:20 by mass (preferably 10:1 to 1:10, more preferably 3:1 to 1:3).

エポキシ樹脂のエポキシ基当量は、好ましくは50g/eq.~2000g/eq.、より好ましくは60g/eq.~1000g/eq.、さらに好ましくは80g/eq.~500g/eq.である。エポキシ基当量は、1当量のエポキシ基を含むエポキシ樹脂の質量であり、JIS K7236に従って測定することができる。 The epoxy group equivalent of the epoxy resin is preferably 50 g/eq. to 2000 g/eq., more preferably 60 g/eq. to 1000 g/eq., and even more preferably 80 g/eq. to 500 g/eq. The epoxy group equivalent is the mass of the epoxy resin containing one equivalent of epoxy groups, and can be measured according to JIS K7236.

エポキシ樹脂の重量平均分子量(Mw)は、好ましくは100~5,000、より好ましくは250~3,000、さらに好ましくは400~1,500である。エポキシ樹脂のMwは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定できる。 The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin is preferably 100 to 5,000, more preferably 250 to 3,000, and even more preferably 400 to 1,500. The Mw of the epoxy resin can be measured as a polystyrene-equivalent value by gel permeation chromatography (GPC).

ラジカル重合性樹脂としては、1分子中に1個以上(好ましくは2個以上)のラジカル重合性不飽和基を有する限り、その種類は特に限定されない。ラジカル重合性樹脂としては、例えば、ラジカル重合性不飽和基として、マレイミド基、ビニル基、アリル基、スチリル基、ビニルフェニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、フマロイル基、及びマレオイル基から選ばれる1種以上を有する樹脂が挙げられる。中でも、良好な絶縁性と良好な耐熱性を併せて呈する硬化物をもたらすことができる観点から、硬化性樹脂は、マレイミド樹脂、(メタ)アクリル樹脂及びスチリル樹脂から選ばれる1種以上を含むことが好ましい。 The type of radically polymerizable resin is not particularly limited as long as it has one or more (preferably two or more) radically polymerizable unsaturated groups in one molecule. Examples of radically polymerizable resins include resins having one or more radically polymerizable unsaturated groups selected from maleimide groups, vinyl groups, allyl groups, styryl groups, vinylphenyl groups, acryloyl groups, methacryloyl groups, fumaroyl groups, and maleoyl groups. In particular, from the viewpoint of being able to produce a cured product that exhibits both good insulating properties and good heat resistance, it is preferable that the curable resin contains one or more selected from maleimide resins, (meth)acrylic resins, and styryl resins.

マレイミド樹脂としては、1分子中に1個以上(好ましくは2個以上)のマレイミド基(2,5-ジヒドロ-2,5-ジオキソ-1H-ピロール-1-イル基)を有する限り、その種類は特に限定されない。マレイミド樹脂としては、例えば、「BMI-3000J」、「BMI-5000」、「BMI-1400」、「BMI-1500」、「BMI-1700」、「BMI-689」(いずれもデジグナーモレキュールズ社(Designer molecules Inc.)製)などの、脂肪族骨格(好ましくは炭素原子数10以上の環状構造を含む脂肪族骨格、より好ましくはダイマージアミン由来の炭素原子数36の脂肪族骨格)を含むマレイミド樹脂;発明協会公開技報公技番号2020-500211号に記載される、インダン骨格を含むマレイミド樹脂;「MIR-3000-70MT」(日本化薬社製)、「BMI-4000」、「BMI-1000」(大和化成社製)、「BMI-80」(ケイアイ化成社製)などの、マレイミド基の窒素原子と直接結合している芳香環骨格を含むマレイミド樹脂が挙げられる。 There is no particular limitation on the type of maleimide resin, so long as it has one or more (preferably two or more) maleimide groups (2,5-dihydro-2,5-dioxo-1H-pyrrol-1-yl groups) in one molecule. Examples of maleimide resins include "BMI-3000J", "BMI-5000", "BMI-1400", "BMI-1500", "BMI-1700", and "BMI-689" (all manufactured by Designer Molecules, Inc.). Maleimide resins containing an aliphatic skeleton (preferably an aliphatic skeleton containing a cyclic structure having 10 or more carbon atoms, more preferably an aliphatic skeleton having 36 carbon atoms derived from dimer diamine), such as "MIR-3000-70MT" (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), "BMI-4000", "BMI-1000" (manufactured by Daiwa Kasei Co., Ltd.), and "BMI-80" (manufactured by Keiai Kasei Co., Ltd.); maleimide resins containing an indane skeleton, as described in the Technical Journal of the Japan Institute of Invention and Innovation, No. 2020-500211; maleimide resins containing an aromatic ring skeleton directly bonded to the nitrogen atom of the maleimide group, such as "MIR-3000-70MT" (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), "BMI-4000", "BMI-1000" (manufactured by Daiwa Kasei Co., Ltd.), and "BMI-80" (manufactured by Keiai Kasei Co., Ltd.).

(メタ)アクリル樹脂としては、1分子中に1個以上(好ましくは2個以上)の(メタ)アクリロイル基を有する限り、その種類は特に限定されず、モノマー、オリゴマーであってもよい。ここで、「(メタ)アクリロイル基」という用語は、アクリロイル基及びメタクリロイル基の総称である。メタクリル樹脂としては、(メタ)アクリレートモノマーのほか、例えば、「A-DOG」(新中村化学工業社製)、「DCP-A」(共栄社化学社製)、「NPDGA」、「FM-400」、「R-687」、「THE-330」、「PET-30」、「DPHA」(何れも日本化薬社製)などの、(メタ)アクリル樹脂が挙げられる。 The (meth)acrylic resin may be a monomer or an oligomer, and is not particularly limited in type, so long as it has one or more (preferably two or more) (meth)acryloyl groups in one molecule. Here, the term "(meth)acryloyl group" is a general term for acryloyl and methacryloyl groups. Examples of methacrylic resins include (meth)acrylate monomers, as well as (meth)acrylic resins such as "A-DOG" (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), "DCP-A" (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), "NPDGA", "FM-400", "R-687", "THE-330", "PET-30", and "DPHA" (all manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).

スチリル樹脂としては、1分子中に1個以上(好ましくは2個以上)のスチリル基又はビニルフェニル基を有する限り、その種類は特に限定されず、モノマー、オリゴマーであってもよい。スチリル樹脂としては、スチレンモノマーのほか、例えば、「OPE-2St」、「OPE-2St 1200」、「OPE-2St 2200」(何れも三菱ガス化学社製)などの、スチリル樹脂が挙げられる。 The type of styryl resin is not particularly limited, and may be a monomer or oligomer, as long as it has one or more (preferably two or more) styryl groups or vinylphenyl groups in one molecule. Examples of styryl resins include styrene monomers, as well as styryl resins such as "OPE-2St", "OPE-2St 1200", and "OPE-2St 2200" (all manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.).

本発明に用いる樹脂組成物は、硬化性樹脂として、熱硬化性樹脂のみ含んでもよく、ラジカル重合性樹脂のみ含んでもよく、熱硬化性樹脂とラジカル重合性樹脂を組み合わせて含んでもよい。 The resin composition used in the present invention may contain only a thermosetting resin as the curable resin, may contain only a radically polymerizable resin, or may contain a combination of a thermosetting resin and a radically polymerizable resin.

良好な絶縁性と良好な耐熱性を併せて呈する硬化物をもたらす観点から、樹脂組成物中の硬化性樹脂の含有量は、樹脂組成物中の樹脂成分を100質量%とした場合、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは12質量%以上、14質量%以上又は15質量%以上である。該含有量の上限は、特に限定されず、樹脂組成物に要求される特性に応じて決定すればよく、100質量%であってよいが、例えば、90質量%以下、80質量%以下、75質量%以下又は70質量%以下などとしてもよい。本発明において、樹脂組成物についていう「樹脂成分」とは、樹脂組成物を構成する不揮発成分のうち、後述する無機充填材を除いた成分をいう。 From the viewpoint of producing a cured product exhibiting both good insulation and good heat resistance, the content of the curable resin in the resin composition is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and even more preferably 12% by mass or more, 14% by mass or more, or 15% by mass or more, when the resin component in the resin composition is 100% by mass. The upper limit of the content is not particularly limited and may be determined according to the properties required of the resin composition, and may be 100% by mass, but may also be, for example, 90% by mass or less, 80% by mass or less, 75% by mass or less, or 70% by mass or less. In the present invention, the "resin component" of the resin composition refers to the non-volatile components constituting the resin composition, excluding the inorganic filler described later.

-(b)硬化剤-
本発明に用いる樹脂組成物は、さらに硬化剤を含んでもよい。硬化剤としては、硬化性樹脂を硬化する機能を有する限り特に限定されず、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、酸無水物系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、カルボジイミド系硬化剤及びアミン系硬化剤が挙げられる。硬化剤は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
--(b) Hardener--
The resin composition used in the present invention may further contain a curing agent. The curing agent is not particularly limited as long as it has the function of curing the curable resin, and examples thereof include phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, active ester-based curing agents, acid anhydride-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, carbodiimide-based curing agents, and amine-based curing agents. The curing agent may be used alone or in combination of two or more.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤、又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層との密着強度(ピール強度)が良好な絶縁層を達成し得る観点から、含窒素フェノール系硬化剤又は含窒素ナフトール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤又はトリアジン骨格含有ナフトール系硬化剤がより好ましい。中でも、耐熱性、耐水性、及び導体層との密着強度を高度に満足させる観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂が好ましい。 As the phenol-based hardener and naphthol-based hardener, from the viewpoint of heat resistance and water resistance, a phenol-based hardener having a novolac structure or a naphthol-based hardener having a novolac structure is preferred. Furthermore, from the viewpoint of achieving an insulating layer having good adhesion strength (peel strength) with the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based hardener or a nitrogen-containing naphthol-based hardener is preferred, and a triazine skeleton-containing phenol-based hardener or a triazine skeleton-containing naphthol-based hardener is more preferred. Among them, from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion strength with the conductor layer, a triazine skeleton-containing phenol novolac resin is preferred.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成社製の「MEH-7700」、「MEH-7810」、「MEH-7851」、「MEH-8000H」;日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」;日鉄ケミカル&マテリアル社製の「SN-170」、「SN-180」、「SN-190」、「SN-475」、「SN-485」、「SN-495」、「SN-495V」、「SN-375」、「SN-395」;DIC社製の「TD-2090」、「TD-2090-60M」、「LA-7052」、「LA-7054」、「LA-1356」、「LA-3018」、「LA-3018-50P」、「EXB-9500」、「HPC-9500」、「KA-1160」、「KA-1163」、「KA-1165」;群栄化学社製の「GDP-6115L」、「GDP-6115H」、「ELPC75」等が挙げられる。 Specific examples of phenol-based and naphthol-based hardeners include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851", and "MEH-8000H" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.; "NHN", "CBN", and "GPH" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.; and "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-495V", and "SN-37" manufactured by Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd. 5" and "SN-395" manufactured by DIC Corporation; "TD-2090", "TD-2090-60M", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018", "LA-3018-50P", "EXB-9500", "HPC-9500", "KA-1160", "KA-1163", and "KA-1165" manufactured by Gun-ei Chemical Co., Ltd.; "GDP-6115L", "GDP-6115H", and "ELPC75" manufactured by Gun-ei Chemical Co., Ltd.

活性エステル系硬化剤としては、1分子中に1個以上の活性エステル基を有する化合物を用いることができる。中でも、活性エステル系硬化剤としては、フェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N-ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましい。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に、耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物由来の活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましく、カルボン酸化合物と芳香族ヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がさらに好ましい。 As the active ester curing agent, a compound having one or more active ester groups in one molecule can be used. Among them, as the active ester curing agent, a compound having two or more highly reactive ester groups in one molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds, is preferable. The active ester curing agent is preferably one obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent derived from a carboxylic acid compound is preferable, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is more preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and an aromatic hydroxy compound is even more preferable.

カルボン酸化合物としては、芳香族カルボン酸化合物及び脂肪族カルボン酸のいずれを用いてもよく、例えば、安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。 The carboxylic acid compound may be either an aromatic carboxylic acid compound or an aliphatic carboxylic acid, such as benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, or pyromellitic acid.

芳香族ヒドロキシ化合物としては、例えば、(i)1分子中に二重結合を2個含有する不飽和脂肪族環状化合物とフェノール類との重付加反応物、(ii)各種ビスフェノール化合物、(iii)芳香環上の炭素原子に2個以上のヒドロキシ基が結合した芳香族ポリオール、(iv)芳香環上の炭素原子に1個のヒドロキシ基が結合した芳香族モノオール等が挙げられる。不飽和脂肪族環状化合物とフェノール類の重付加反応物としては、例えば、ジシクロペンタジエン、テトラヒドロインデン、ノルボルナジエン、リモネン、ビニルシクロヘキセン等の不飽和脂肪族環状化合物と、置換基を有していてもよいフェノール(例えば、フェノール、クレゾール、キシレノール、エチルフェノール、プロピルフェノール、ビニルフェノール、アリルフェノール、フェニルフェノール、ベンジルフェノール、ハロフェノール等)との重付加反応物が挙げられ、具体的には例えば、ジシクロペタジエン-フェノール類重付加物等が挙げられる。ビスフェノール化合物としては、例えば、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールAF、ビスフェノールAP、ビスフェノールB、ビスフェノールBP、ビスフェノールC、ビスフェノールM等が挙げられる。芳香環上の炭素原子に2個以上のヒドロキシ基が結合した芳香族ポリオールとしては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、カテコール、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、フェノールノボラック等が挙げられる。芳香環上の炭素原子に1個のヒドロキシ基が結合した芳香族モノオールとしては、例えば、フェノール、クレゾール、キシレノール、エチルフェノール、プロピルフェノール、ビニルフェノール、アリルフェノール、フェニルフェノール、ベンジルフェノール、ハロフェノール、ナフトール、メチルナフトール、ジメチルナフトール、エチルナフトール、プロピルナフトール、ビニルナフトール、アリルナフトール、フェニルナフトール、ベンジルナフトール、ハロナフトール等が挙げられる。 Examples of aromatic hydroxy compounds include (i) polyaddition products of unsaturated aliphatic cyclic compounds containing two double bonds in one molecule and phenols, (ii) various bisphenol compounds, (iii) aromatic polyols having two or more hydroxy groups bonded to the carbon atoms on the aromatic ring, and (iv) aromatic monools having one hydroxy group bonded to the carbon atoms on the aromatic ring. Examples of polyaddition products of unsaturated aliphatic cyclic compounds and phenols include polyaddition products of unsaturated aliphatic cyclic compounds such as dicyclopentadiene, tetrahydroindene, norbornadiene, limonene, and vinylcyclohexene with phenols that may have a substituent (e.g., phenol, cresol, xylenol, ethylphenol, propylphenol, vinylphenol, allylphenol, phenylphenol, benzylphenol, halophenol, etc.), specifically, for example, dicyclopentadiene-phenol polyaddition products. Examples of bisphenol compounds include bisphenol A, bisphenol F, bisphenol AF, bisphenol AP, bisphenol B, bisphenol BP, bisphenol C, and bisphenol M. Examples of aromatic polyols having two or more hydroxy groups bonded to carbon atoms on an aromatic ring include hydroquinone, resorcinol, catechol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucinol, benzenetriol, and phenol novolak. Examples of aromatic monools having one hydroxyl group bonded to a carbon atom on an aromatic ring include phenol, cresol, xylenol, ethylphenol, propylphenol, vinylphenol, allylphenol, phenylphenol, benzylphenol, halophenol, naphthol, methylnaphthol, dimethylnaphthol, ethylnaphthol, propylnaphthol, vinylnaphthol, allylnaphthol, phenylnaphthol, benzylnaphthol, and halonaphthol.

活性エステル系硬化剤の好適な具体例としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が挙げられる。中でも、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物がより好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン-ジシクロペンタレン-フェニレンからなる2価の構造単位を表す。 Specific examples of suitable active ester-based curing agents include active ester compounds containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, active ester compounds containing a naphthalene structure, active ester compounds containing an acetylated product of phenol novolac, and active ester compounds containing a benzoylated product of phenol novolac. Among these, active ester compounds containing a naphthalene structure and active ester compounds containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure are more preferred. The term "dicyclopentadiene-type diphenol structure" refers to a divalent structural unit consisting of phenylene-dicyclopentalene-phenylene.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル樹脂として、「EXB-9451」、「EXB-9460」、「EXB-9460S」、「HPC-8000-65T」、「HPC-8000H-65TM」、「HPC-8000L-65TM」(DIC社製);ナフタレン構造を含む活性エステル樹脂として「EXB-8100L-65T」、「EXB-8150-60T」、「EXB-8150-62T」、「EXB-9416-70BK」、「HPC-8150-60T」、「HPC-8150-62T」、「HP-B-8151-62T」、「HP-C-8151-62T」(DIC社製);りん含有活性エステル樹脂として「EXB9401」(DIC社製);フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル樹脂として「DC808」(三菱ケミカル社製);フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル樹脂として「YLH1026」、「YLH1030」、「YLH1048」(三菱ケミカル社製);スチリル基及びナフタレン構造を含む活性エステル樹脂として「PC1300-02-65MA」(エア・ウォーター社製)等が挙げられる。 Commercially available active ester curing agents include active ester resins containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure such as "EXB-9451", "EXB-9460", "EXB-9460S", "HPC-8000-65T", "HPC-8000H-65TM", and "HPC-8000L-65TM" (manufactured by DIC Corporation); active ester resins containing a naphthalene structure such as "EXB-8100L-65T", "EXB-8150-60T", "EXB-8150-62T", "EXB-9416-70BK", "HPC-8150-60T", and "HPC-8150-62T", Examples include "HP-B-8151-62T" and "HP-C-8151-62T" (manufactured by DIC Corporation); "EXB9401" (manufactured by DIC Corporation) as a phosphorus-containing active ester resin; "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester resin that is an acetylated product of phenol novolac; "YLH1026", "YLH1030", and "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as active ester resins that are benzoylated products of phenol novolac; and "PC1300-02-65MA" (manufactured by Air Water Inc.) as an active ester resin containing a styryl group and a naphthalene structure.

酸無水物系硬化剤としては、1分子内中に1個以上の酸無水物基を有する硬化剤が挙げられる。酸無水物系硬化剤の具体例としては、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5-(2,5-ジオキソテトラヒドロ-3-フラニル)-3-メチル-3-シクロヘキセン-1,2-ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物、3,3’-4,4’-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,3,3a,4,5,9b-ヘキサヒドロ-5-(テトラヒドロ-2,5-ジオキソ-3-フラニル)-ナフト[1,2-C]フラン-1,3-ジオン、エチレングリコールビス(アンヒドロトリメリテート)、スチレンとマレイン酸とが共重合したスチレン・マレイン酸樹脂などのポリマー型の酸無水物などが挙げられる。酸無水物系硬化剤の市販品としては、新日本理化社製の「MH-700」等が挙げられる。 Examples of acid anhydride curing agents include curing agents having one or more acid anhydride groups in one molecule. Specific examples of acid anhydride curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, and benzophenonetetracarboxylic dianhydride. Examples of acid anhydrides include polymeric acid anhydrides such as biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1,3-dione, ethylene glycol bis(anhydrotrimellitate), and styrene-maleic acid resins in which styrene and maleic acid are copolymerized. Examples of commercially available acid anhydride-based hardeners include "MH-700" manufactured by New Japan Chemical Co., Ltd.

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、JFEケミカル社製の「JBZ-OD100」(ベンゾオキサジン環当量218)、「JBZ-OP100D」(ベンゾオキサジン環当量218)、「ODA-BOZ」(ベンゾオキサジン環当量218);四国化成工業社製の「P-d」(ベンゾオキサジン環当量217)、「F-a」(ベンゾオキサジン環当量217);昭和高分子社製の「HFB2006M」(ベンゾオキサジン環当量432)等が挙げられる。 Specific examples of benzoxazine-based curing agents include "JBZ-OD100" (benzoxazine ring equivalent: 218), "JBZ-OP100D" (benzoxazine ring equivalent: 218), and "ODA-BOZ" (benzoxazine ring equivalent: 218) manufactured by JFE Chemical Corporation; "P-d" (benzoxazine ring equivalent: 217) and "F-a" (benzoxazine ring equivalent: 217) manufactured by Shikoku Kasei Corporation; and "HFB2006M" (benzoxazine ring equivalent: 432) manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3-メチレン-1,5-フェニレンシアネート)、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルフェニルシアネート)、4,4’-エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2-ビス(4-シアネート)フェニルプロパン、1,1-ビス(4-シアネートフェニルメタン)、ビス(4-シアネート-3,5-ジメチルフェニル)メタン、1,3-ビス(4-シアネートフェニル-1-(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4-シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4-シアネートフェニル)エーテル、等の2官能シアネート樹脂;フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂;これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマー;などが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン社製の「PT30」及び「PT60」(フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「ULL-950S」(多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of cyanate ester curing agents include bifunctional cyanate resins such as bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo(3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4-cyanate phenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanate phenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cyanate phenyl)thioether, and bis(4-cyanate phenyl)ether; polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac and cresol novolac; and prepolymers in which these cyanate resins have been partially converted to triazine. Specific examples of cyanate ester-based hardeners include Lonza Japan's "PT30" and "PT60" (phenol novolac-type multifunctional cyanate ester resins), "ULL-950S" (multifunctional cyanate ester resin), "BA230" and "BA230S75" (prepolymers in which part or all of bisphenol A dicyanate has been converted to triazine and formed into a trimer).

カルボジイミド系硬化剤の具体例としては、日清紡ケミカル社製のカルボジライト(登録商標)V-03(カルボジイミド基当量:216g/eq.)、V-05(カルボジイミド基当量:262g/eq.)、V-07(カルボジイミド基当量:200g/eq.);V-09(カルボジイミド基当量:200g/eq.);ラインケミー社製のスタバクゾール(登録商標)P(カルボジイミド基当量:302g/eq.)が挙げられる。 Specific examples of carbodiimide-based curing agents include Carbodilite (registered trademark) V-03 (carbodiimide group equivalent: 216 g/eq.), V-05 (carbodiimide group equivalent: 262 g/eq.), V-07 (carbodiimide group equivalent: 200 g/eq.), V-09 (carbodiimide group equivalent: 200 g/eq.), and Stavaxol (registered trademark) P (carbodiimide group equivalent: 302 g/eq.), all manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd.

アミン系硬化剤としては、1分子内中に1個以上のアミノ基を有する硬化剤が挙げられ、例えば、脂肪族アミン類、ポリエーテルアミン類、脂環式アミン類、芳香族アミン類等が挙げられる。アミン系硬化剤の具体例としては、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルアニリン)、ジフェニルジアミノスルホン、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン、m-フェニレンジアミン、m-キシリレンジアミン、ジエチルトルエンジアミン、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,3’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジヒドロキシベンジジン、2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3-ジメチル-5,5-ジエチル-4,4-ジフェニルメタンジアミン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、ビス(4-(3-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、等が挙げられる。アミン系硬化剤は市販品を用いてもよく、例えば、日本化薬社製の「KAYABOND C-200S」、「KAYABOND C-100」、「カヤハードA-A」、「カヤハードA-B」、「カヤハードA-S」、三菱ケミカル社製の「エピキュアW」等が挙げられる。 Amine-based curing agents include curing agents having one or more amino groups in one molecule, such as aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, and aromatic amines. Specific examples of amine-based curing agents include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), diphenyldiaminosulfone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenylether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)-2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, and 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)-2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl. bis(4-aminophenyl)propane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane, 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone, and the like. Commercially available amine-based curing agents may be used, such as "KAYABOND C-200S", "KAYABOND C-100", "KAYAHARD A-A", "KAYAHARD A-B", and "KAYAHARD A-S" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., and "Epicure W" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

回路基板の製造においてより良好な歩留まりを達成し得る観点から、硬化剤は、活性エステル系硬化剤を含むことが好ましい。硬化剤中の不揮発成分を100質量%としたとき、活性エステル系硬化剤の含有量は、好ましくは30質量%以上、より好ましくは50質量%以上又は60質量%以上である。 From the viewpoint of achieving a better yield in the manufacture of circuit boards, it is preferable that the curing agent contains an active ester-based curing agent. When the non-volatile components in the curing agent are taken as 100% by mass, the content of the active ester-based curing agent is preferably 30% by mass or more, more preferably 50% by mass or more or 60% by mass or more.

樹脂組成物が硬化剤を含む場合、硬化剤の含有量は、樹脂組成物中の樹脂成分を100質量%とした場合、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは15質量%以上である。硬化剤の含有量の上限は、好ましくは60質量%以下、より好ましくは50質量%以下、又は40質量%以下である。 When the resin composition contains a curing agent, the content of the curing agent is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and even more preferably 15% by mass or more, assuming that the resin component in the resin composition is 100% by mass. The upper limit of the content of the curing agent is preferably 60% by mass or less, more preferably 50% by mass or less, or 40% by mass or less.

-(c)無機充填材-
本発明に用いる樹脂組成物は、さらに無機充填材を含んでもよい。無機充填材を含有させることにより、線熱膨張率や誘電正接の低い絶縁層を実現することができる。
-(c) Inorganic filler-
The resin composition used in the present invention may further contain an inorganic filler. By including an inorganic filler, it is possible to realize an insulating layer having a low linear thermal expansion coefficient and a low dielectric loss tangent.

無機充填材の材料としては、例えば、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、ケイ酸アルミニウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウム等が挙げられる。これらの中でも、シリカが特に好適である。シリカとしては、例えば、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が挙げられる。また、シリカとしては球形シリカが好ましい。無機充填材は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of inorganic filler materials include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum silicate, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Among these, silica is particularly suitable. Examples of silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. In addition, spherical silica is preferred as the silica. The inorganic filler may be used alone or in combination of two or more types.

無機充填材の市販品としては、例えば、電化化学工業社製の「UFP-30」;日鉄ケミカル&マテリアル社製の「SP60-05」、「SP507-05」;アドマテックス社製の「YC100C」、「YA050C」、「YA050C-MJE」、「YA010C」;デンカ社製の「UFP-30」;トクヤマ社製の「シルフィルNSS-3N」、「シルフィルNSS-4N」、「シルフィルNSS-5N」;アドマテックス社製の「SC2500SQ」、「SO-C4」、「SO-C2」、「SO-C1」;デンカ社製の「DAW-03」、「FB-105FD」;太平洋セメント社製の「セルフィアーズ」、「MGH-005」;日揮触媒化成社製の「エスフェリーク」、「BA-1」などが挙げられる。 Commercially available inorganic fillers include, for example, "UFP-30" manufactured by Denka Chemical Industry Co., Ltd.; "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd.; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", and "YA010C" manufactured by Admatechs Co., Ltd.; "UFP-30" manufactured by Denka Co., Ltd.; "Silfil NSS-3N", "Silfil NSS-4N", and "Silfil NSS-5N" manufactured by Tokuyama Corporation; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", and "SO-C1" manufactured by Admatechs Co., Ltd.; "DAW-03" and "FB-105FD" manufactured by Denka Co., Ltd.; "Cellfiers" and "MGH-005" manufactured by Taiheiyo Cement Corporation; "Sferique" and "BA-1" manufactured by JGC Catalysts and Chemicals Co., Ltd., and the like.

無機充填材の平均粒径は、特に限定されるものではないが、好ましくは10μm以下、より好ましくは5μm以下、さらに好ましくは3μm以下、2μm以下、1μm以下又は0.7μm以下である。該平均粒径の下限は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.05μm以上、さらに好ましくは0.07μm以上、0.1μm以上又は0.2μm以上である。無機充填材の平均粒径は、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的には、レーザー回折散乱式粒径分布測定装置により、無機充填材の粒径分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材100mg、メチルエチルケトン10gをバイアル瓶に秤取り、超音波にて10分間分散させたものを使用することができる。測定サンプルを、レーザー回折式粒径分布測定装置を使用して、使用光源波長を青色及び赤色とし、フローセル方式で無機充填材の体積基準の粒径分布を測定し、得られた粒径分布からメディアン径として平均粒径を算出した。レーザー回折式粒径分布測定装置としては、例えば堀場製作所社製「LA-960」等が挙げられる。 The average particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less, even more preferably 3 μm or less, 2 μm or less, 1 μm or less, or 0.7 μm or less. The lower limit of the average particle size is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, even more preferably 0.07 μm or more, 0.1 μm or more, or 0.2 μm or more. The average particle size of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler is created on a volume basis using a laser diffraction/scattering particle size distribution measuring device, and the median diameter is used as the average particle size. The measurement sample can be prepared by weighing 100 mg of the inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone into a vial and dispersing it by ultrasonic waves for 10 minutes. The measurement sample was measured using a laser diffraction type particle size distribution measuring device with blue and red light source wavelengths and a flow cell method to measure the volumetric particle size distribution of the inorganic filler, and the average particle size was calculated as the median diameter from the obtained particle size distribution. An example of a laser diffraction type particle size distribution measuring device is the "LA-960" manufactured by Horiba, Ltd.

無機充填材の比表面積は、特に限定されるものではないが、好ましくは0.1m/g以上、より好ましくは0.5m/g以上、さらに好ましくは1m/g以上、3m/g以上又は5m/g以上である。該比表面積の上限は、特に限定されるものではないが、好ましくは100m/g以下、より好ましくは80m/g以下、さらに好ましくは60m/g以下、50m/g以下又は40m/g以下である。無機充填材の比表面積は、BET法に従って、比表面積測定装置(マウンテック社製Macsorb HM-1210)を使用して試料表面に窒素ガスを吸着させ、BET多点法を用いて比表面積を算出することで得られる。 The specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 m 2 /g or more, more preferably 0.5 m 2 /g or more, and even more preferably 1 m 2 /g or more, 3 m 2 /g or more, or 5 m 2 /g or more. The upper limit of the specific surface area is not particularly limited, but is preferably 100 m 2 /g or less, more preferably 80 m 2 /g or less, and even more preferably 60 m 2 /g or less, 50 m 2 /g or less, or 40 m 2 /g or less. The specific surface area of the inorganic filler is obtained by adsorbing nitrogen gas to the sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountech Co., Ltd.) according to the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multipoint method.

無機充填材は、適切な表面処理剤で表面処理されていることが好ましい。表面処理されることにより、無機充填材の耐湿性及び分散性を高めることができる。表面処理剤としては、例えば、ビニル系シランカップリング剤、エポキシ系シランカップリング剤、スチリル系シランカップリング剤、(メタ)アクリル系シランカップリング剤、アミノ系シランカップリング剤、イソシアヌレート系シランカップリング剤、ウレイド系シランカップリング剤、メルカプト系シランカップリング剤、イソシアネート系シランカップリング剤、酸無水物系シランカップリング剤等のシランカップリング剤;メチルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン等の非シランカップリング-アルコキシシラン化合物;シラザン化合物等が挙げられる。表面処理剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The inorganic filler is preferably surface-treated with an appropriate surface treatment agent. By performing the surface treatment, the moisture resistance and dispersibility of the inorganic filler can be improved. Examples of the surface treatment agent include silane coupling agents such as vinyl silane coupling agents, epoxy silane coupling agents, styryl silane coupling agents, (meth)acrylic silane coupling agents, amino silane coupling agents, isocyanurate silane coupling agents, ureido silane coupling agents, mercapto silane coupling agents, isocyanate silane coupling agents, and acid anhydride silane coupling agents; non-silane coupling-alkoxysilane compounds such as methyltrimethoxysilane and phenyltrimethoxysilane; and silazane compounds. The surface treatment agent may be used alone or in combination of two or more.

表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業社製「KBM403」(3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM803」(3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBE903」(3-アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM573」(N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「SZ-31」(ヘキサメチルジシラザン)等が挙げられる。 Examples of commercially available surface treatment agents include Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.'s "KBM403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.'s "KBM803" (3-mercaptopropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.'s "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.'s "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), and Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.'s "SZ-31" (hexamethyldisilazane).

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の分散性向上の観点から、所定の範囲に収まることが好ましい。具体的には、無機充填材100質量%は、好ましくは0.2~5質量%の表面処理剤で表面処理されていることが好ましい。 From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, it is preferable that the degree of surface treatment with the surface treatment agent falls within a specified range. Specifically, it is preferable that 100% by mass of the inorganic filler is surface-treated with 0.2 to 5% by mass of the surface treatment agent.

樹脂組成物が無機充填材を含む場合、樹脂組成物中の無機充填材の含有量は、いっそう良好な誘電特性をもたらす樹脂組成物を実現し易い観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、例えば、40質量%以上であり、好ましくは50質量%以上、60質量%以上、65質量%以上又は70質量%以上である。無機充填材の含有量の上限は、特に限定されないが、例えば90質量%以下、85質量%以下などとし得る。 When the resin composition contains an inorganic filler, the content of the inorganic filler in the resin composition is, for example, 40% by mass or more, preferably 50% by mass or more, 60% by mass or more, 65% by mass or more, or 70% by mass or more, assuming that the non-volatile components in the resin composition are 100% by mass, from the viewpoint of easily realizing a resin composition that provides even better dielectric properties. The upper limit of the content of the inorganic filler is not particularly limited, but may be, for example, 90% by mass or less, 85% by mass or less, etc.

-(d)熱可塑性樹脂-
本発明に用いる樹脂組成物は、さらに熱可塑性樹脂を含んでもよい。熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。
-(d) Thermoplastic resin-
The resin composition used in the present invention may further contain a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin include a phenoxy resin, a polyvinyl acetal resin, a polyolefin resin, a polystyrene resin, a polyimide resin, a polyamide-imide resin, and a polyether-imide resin. Examples of the thermoplastic resin include polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polyetheretherketone resin, and polyester resin. The thermoplastic resin may be used alone or in combination of two or more. good.

熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、好ましくは8000以上、より好ましくは10000以上、さらに好ましくは20000以上又は30000以上である。上限は、好ましくは100000以下、より好ましくは70000以下、さらに好ましくは60000以下である。熱可塑性樹脂のポリスチレン換算のMwは、GPC法で測定される。具体的には、熱可塑性樹脂のポリスチレン換算のMwは、測定装置として島津製作所社製LC-9A/RID-6Aを、カラムとして昭和電工社製Shodex K-800P/K-804L/K-804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度を40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。 The polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, even more preferably 20,000 or more or 30,000 or more. The upper limit is preferably 100,000 or less, more preferably 70,000 or less, even more preferably 60,000 or less. The polystyrene-equivalent Mw of the thermoplastic resin is measured by the GPC method. Specifically, the polystyrene-equivalent Mw of the thermoplastic resin is measured at a column temperature of 40°C using a Shimadzu Corporation LC-9A/RID-6A measuring device, a Showa Denko Corporation Shodex K-800P/K-804L/K-804L column, and chloroform or the like as the mobile phase, and can be calculated using the calibration curve of standard polystyrene.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱ケミカル社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂)、「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、及び「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂)が挙げられ、その他にも、日鉄ケミカル&マテリアル社製の「FX280」及び「FX293」、三菱ケミカル社製の「YL7800BH40」、「YL7500BH30」、「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」及び「YL7482」等が挙げられる。 Examples of phenoxy resins include phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene skeleton, and trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. The phenoxy resin may be used alone or in combination of two or more types. Specific examples of phenoxy resins include "1256" and "4250" (both phenoxy resins containing a bisphenol A skeleton), "YX8100" (phenoxy resin containing a bisphenol S skeleton), and "YX6954" (phenoxy resin containing a bisphenol acetophenone skeleton) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Other examples include "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd., and "YL7800BH40", "YL7500BH30", "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30", "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290", and "YL7482" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

ポリビニルアセタール樹脂としては、例えば、ポリビニルホルマール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂が挙げられ、ポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、例えば、電気化学工業社製の「電化ブチラール4000-2」、「電化ブチラール5000-A」、「電化ブチラール6000-C」、「電化ブチラール6000-EP」、積水化学工業社製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX-5Z)、KSシリーズ(例えばKS-1)、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。 Examples of polyvinyl acetal resins include polyvinyl formal resins and polyvinyl butyral resins, with polyvinyl butyral resins being preferred. Specific examples of polyvinyl acetal resins include Denka Butyral 4000-2, Denka Butyral 5000-A, Denka Butyral 6000-C, and Denka Butyral 6000-EP, manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., and the S-LEC BH series, BX series (e.g. BX-5Z), KS series (e.g. KS-1), BL series, and BM series, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.

ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化社製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。ポリイミド樹脂の具体例としてはまた、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006-37083号公報記載のポリイミド)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002-12667号公報及び特開2000-319386号公報等に記載のポリイミド)等の変性ポリイミドが挙げられる。 Specific examples of polyimide resins include "Rikacoat SN20" and "Rikacoat PN20" manufactured by New Japan Chemical Co., Ltd. Specific examples of polyimide resins also include modified polyimides such as linear polyimides obtained by reacting bifunctional hydroxyl-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound, and a tetrabasic acid anhydride (polyimides described in JP-A-2006-37083), and polysiloxane skeleton-containing polyimides (polyimides described in JP-A-2002-12667 and JP-A-2000-319386, etc.).

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡社製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成工業社製の「KS9100」、「KS9300」(ポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド)等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。 Specific examples of polyamide-imide resins include "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of polyamide-imide resins include modified polyamide-imides such as "KS9100" and "KS9300" (polyamide-imide containing a polysiloxane skeleton) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学社製の「PES5003P」等が挙げられる。ポリフェニレンエーテル樹脂の具体例としては、三菱ガス化学社製のオリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂「OPE-2St 1200」等が挙げられる。ポリエーテルエーテルケトン樹脂の具体例としては、住友化学社製の「スミプロイK」等が挙げられる。ポリエーテルイミド樹脂の具体例としては、GE社製の「ウルテム」等が挙げられる。 A specific example of polyethersulfone resin is "PES5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd. A specific example of polyphenylene ether resin is "OPE-2St 1200" oligophenylene ether styrene resin manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. A specific example of polyetheretherketone resin is "Sumiploy K" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd. A specific example of polyetherimide resin is "Ultem" manufactured by GE Corporation.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ社製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。 Specific examples of polysulfone resins include polysulfones "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers.

ポリオレフィン樹脂としては、例えば低密度ポリエチレン、超低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、エチレン-酢酸ビニル共重合体、エチレン-アクリル酸エチル共重合体、エチレン-アクリル酸メチル共重合体等のエチレン系共重合樹脂;ポリプロピレン、エチレン-プロピレンブロック共重合体等のポリオレフィン系エラストマー等が挙げられる。 Examples of polyolefin resins include ethylene-based copolymer resins such as low-density polyethylene, very low-density polyethylene, high-density polyethylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer, and ethylene-methyl acrylate copolymer; and polyolefin-based elastomers such as polypropylene and ethylene-propylene block copolymer.

ポリスチレン樹脂としては、例えば、スチレンの単独重合体や、スチレンとジエン化合物(ブタジエン、イソプレン等)との共重合体及びその水添物が挙げられる。 Examples of polystyrene resins include homopolymers of styrene, copolymers of styrene and diene compounds (butadiene, isoprene, etc.), and hydrogenated products thereof.

ポリエステル樹脂としては、例えばポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンナフタレート樹脂、ポリトリメチレンテレフタレート樹脂、ポリトリメチレンナフタレート樹脂、ポリシクロヘキサンジメチルテレフタレート樹脂等が挙げられる。 Examples of polyester resins include polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polybutylene naphthalate resin, polytrimethylene terephthalate resin, polytrimethylene naphthalate resin, polycyclohexane dimethyl terephthalate resin, etc.

樹脂組成物が熱可塑性樹脂を含む場合、熱可塑性樹脂の含有量は、樹脂組成物中の樹脂成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.3質量%以上、さらに好ましくは0.5質量%以上である。上限は、好ましくは20質量%以下、より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下である。 When the resin composition contains a thermoplastic resin, the content of the thermoplastic resin is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.3% by mass or more, and even more preferably 0.5% by mass or more, assuming that the resin components in the resin composition are 100% by mass. The upper limit is preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass or less, and even more preferably 10% by mass or less.

-(e)硬化促進剤-
本発明に用いる樹脂組成物は、さらに硬化促進剤を含んでもよい。硬化促進剤としては、例えば、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤、過酸化物系硬化促進剤等が挙げられる。硬化促進剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
-(e) Curing accelerator-
The resin composition used in the present invention may further contain a curing accelerator. Examples of the curing accelerator include amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and peroxide-based curing accelerators. The curing accelerator may be used alone or in combination of two or more.

樹脂組成物が硬化促進剤を含有する場合、樹脂組成物中の硬化促進剤の含有量は、樹脂組成物に要求される特性に応じて決定してよいが、樹脂組成物中の樹脂成分を100質量%とした場合、好ましくは5質量%以下、より好ましくは4質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下であり、下限は、0.01質量%以上、0.05質量%以上、0.1質量%以上などとし得る。 When the resin composition contains a curing accelerator, the content of the curing accelerator in the resin composition may be determined according to the properties required of the resin composition, but when the resin component in the resin composition is taken as 100% by mass, it is preferably 5% by mass or less, more preferably 4% by mass or less, and even more preferably 3% by mass or less, and the lower limit may be 0.01% by mass or more, 0.05% by mass or more, 0.1% by mass or more, etc.

本発明に用いる樹脂組成物は、さらに他の添加剤を含んでもよい。このような添加剤としては、例えば、ゴム粒子等の有機充填材;スルホニウム塩系、ヨードニウム塩系、非イオン系などの光カチオン重合開始剤や光酸発生剤;ナフトキノンジアジド化合物などの感光剤;過酸化物系ラジカル重合開始剤、アゾ系ラジカル重合開始剤等のラジカル重合開始剤;有機銅化合物、有機亜鉛化合物、有機コバルト化合物等の有機金属化合物;フタロシアニンブルー、フタロシアニングリーン、アイオディングリーン、ジアゾイエロー、クリスタルバイオレット、酸化チタン、カーボンブラック等の着色剤;ハイドロキノン、カテコール、ピロガロール、フェノチアジン等の重合禁止剤;シリコーン系レベリング剤、アクリルポリマー系レベリング剤等のレベリング剤;ベントン、モンモリロナイト等の増粘剤;シリコーン系消泡剤、アクリル系消泡剤、フッ素系消泡剤、ビニル樹脂系消泡剤等の消泡剤;ベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤等の紫外線吸収剤;尿素シラン等の接着性向上剤;トリアゾール系密着性付与剤、テトラゾール系密着性付与剤、トリアジン系密着性付与剤等の密着性付与剤;ヒンダードフェノール系酸化防止剤等の酸化防止剤;スチルベン誘導体等の蛍光増白剤;フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤等の界面活性剤;リン系難燃剤(例えばリン酸エステル化合物、ホスファゼン化合物、ホスフィン酸化合物、赤リン)、窒素系難燃剤(例えば硫酸メラミン)、ハロゲン系難燃剤、無機系難燃剤(例えば三酸化アンチモン)等の難燃剤;リン酸エステル系分散剤、ポリオキシアルキレン系分散剤、アセチレン系分散剤、シリコーン系分散剤、アニオン性分散剤、カチオン性分散剤等の分散剤;ボレート系安定剤、チタネート系安定剤、アルミネート系安定剤、ジルコネート系安定剤、イソシアネート系安定剤、カルボン酸系安定剤、カルボン酸無水物系安定剤等の安定剤等が挙げられる。斯かる添加剤の含有量は、樹脂組成物に要求される特性に応じて決定してよい。 The resin composition used in the present invention may further contain other additives. Examples of such additives include organic fillers such as rubber particles; photocationic polymerization initiators and photoacid generators such as sulfonium salts, iodonium salts, and nonionics; photosensitizers such as naphthoquinone diazide compounds; radical polymerization initiators such as peroxide radical polymerization initiators and azo radical polymerization initiators; organometallic compounds such as organocopper compounds, organozinc compounds, and organocobalt compounds; colorants such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, diazo yellow, crystal violet, titanium oxide, and carbon black; polymerization inhibitors such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, and phenothiazine; leveling agents such as silicone leveling agents and acrylic polymer leveling agents; thickeners such as bentone and montmorillonite; defoamers such as silicone defoamers, acrylic defoamers, fluorine defoamers, and vinyl resin defoamers; ultraviolet absorbers such as benzotriazole ultraviolet absorbers. surfactants such as fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants; flame retardants such as phosphorus-based flame retardants (e.g., phosphate ester compounds, phosphazene compounds, phosphinic acid compounds, red phosphorus), nitrogen-based flame retardants (e.g., melamine sulfate), halogen-based flame retardants, and inorganic flame retardants (e.g., antimony trioxide); dispersants such as phosphate ester-based dispersants, polyoxyalkylene-based dispersants, acetylene-based dispersants, silicone-based dispersants, anionic dispersants, and cationic dispersants; stabilizers such as borate-based stabilizers, titanate-based stabilizers, aluminate-based stabilizers, zirconate-based stabilizers, isocyanate-based stabilizers, carboxylic acid-based stabilizers, and carboxylic acid anhydride-based stabilizers. The amount of such additives may be determined according to the properties required for the resin composition.

本発明に用いる樹脂組成物は、揮発性成分として、さらに有機溶媒を含んでもよい。有機溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸イソブチル、酢酸イソアミル、プロピオン酸メチル、プロピオン酸エチル、γ-ブチロラクトン等のエステル系溶媒;テトラヒドロピラン、テトラヒドロフラン、1,4-ジオキサン、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、ジフェニルエーテル等のエーテル系溶媒;メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、エチレングリコール等のアルコール系溶媒;酢酸2-エトキシエチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセタート、エチルジグリコールアセテート、γ-ブチロラクトン、メトキシプロピオン酸メチル等のエーテルエステル系溶媒;乳酸メチル、乳酸エチル、2-ヒドロキシイソ酪酸メチル等のエステルアルコール系溶媒;2-メトキシプロパノール、2-メトキシエタノール、2-エトキシエタノール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル(ブチルカルビトール)等のエーテルアルコール系溶媒;N,N-ジメチルホルムアミド、N,N-ジメチルアセトアミド、N-メチル-2-ピロリドン等のアミド系溶媒;ジメチルスルホキシド等のスルホキシド系溶媒;アセトニトリル、プロピオニトリル等のニトリル系溶媒;ヘキサン、シクロペンタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒;ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒等が挙げられる。有機溶媒は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 The resin composition used in the present invention may further contain an organic solvent as a volatile component. Examples of the organic solvent include ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; ester-based solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, isoamyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, and γ-butyrolactone; ether-based solvents such as tetrahydropyran, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, and diphenyl ether; alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, propanol, butanol, and ethylene glycol; 2-ethoxyethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, ethyl diglycol acetate, γ-butyrolactone, and methyl methoxypropionate. ether ester solvents such as ethyl lactate, ethyl lactate, methyl 2-hydroxyisobutyrate, and the like; ether alcohol solvents such as 2-methoxypropanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, propylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether (butyl carbitol), and the like; amide solvents such as N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone; sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide; nitrile solvents such as acetonitrile and propionitrile; aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, cyclopentane, cyclohexane, and methylcyclohexane; aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, and trimethylbenzene. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more.

樹脂組成物は、上記の成分のうち必要な成分を適宜混合し、また、必要に応じて三本ロール、ボールミル、ビーズミル、サンドミル等の混練手段、あるいはスーパーミキサー、プラネタリーミキサー等の撹拌手段により混練または混合することにより調製することができる。 The resin composition can be prepared by appropriately mixing the necessary components among the above components, and kneading or mixing them as necessary using a kneading means such as a triple roll mill, ball mill, bead mill, or sand mill, or a stirring means such as a super mixer or planetary mixer.

本発明に用いる樹脂組成物層は、例えば、液状の樹脂組成物をそのまま、或いは有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、これを、ダイコーター等を用いて、後述する「第1の樹脂シート」を形成する場合にはプラスチックフィルム上に、あるいは、後述する「第2の樹脂シート」を形成する場合には支持基材付き金属箔の金属箔上に塗布し、更に乾燥させることにより形成することができる。 The resin composition layer used in the present invention can be formed, for example, by preparing a resin varnish by dissolving the liquid resin composition in an organic solvent or by applying the resin varnish directly to a plastic film using a die coater or the like when forming a "first resin sheet" described below, or by applying the resin varnish to a metal foil of a metal foil with a support substrate when forming a "second resin sheet" described below, and then drying the applied resin varnish.

有機溶剤としては、樹脂組成物の成分として説明した有機溶剤と同様のものが挙げられる。有機溶剤は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。 The organic solvent may be the same as the organic solvent described as a component of the resin composition. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more kinds.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂組成物又は樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%~60質量%の有機溶剤を含む樹脂組成物又は樹脂ワニスを用いる場合、50℃~150℃で3分間~10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be performed by known methods such as heating or blowing hot air. There are no particular limitations on the drying conditions, but drying is performed so that the content of organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Although it varies depending on the boiling point of the organic solvent in the resin composition or resin varnish, for example, when using a resin composition or resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of organic solvent, the resin composition layer can be formed by drying at 50°C to 150°C for 3 to 10 minutes.

樹脂組成物層の厚さは、回路基板の低背化の観点から、好ましくは40μm以下、より好ましくは30μm以下、さらに好ましくは25μm以下、又は20μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、1μm以上、5μm以上などとし得る。 From the viewpoint of reducing the height of the circuit board, the thickness of the resin composition layer is preferably 40 μm or less, more preferably 30 μm or less, and even more preferably 25 μm or less, or 20 μm or less. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but can usually be 1 μm or more, 5 μm or more, etc.

<プラスチックフィルム>
本発明の金属箔付き樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の第2の主面はプラスチックフィルムと接合している(図1参照;金属箔付き樹脂シート10において、樹脂組成物層1の第2の主面(図1において上側の主面)は、プラスチックフィルム2と接合している)。
<Plastic film>
In the resin sheet with metal foil of the present invention, the second main surface of the resin composition layer is bonded to a plastic film (see Figure 1; in the resin sheet 10 with metal foil, the second main surface of the resin composition layer 1 (the upper main surface in Figure 1) is bonded to a plastic film 2).

プラスチックフィルムの材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル、ポリカーボネート(PC)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 Examples of materials for plastic films include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN), acrylics such as polycarbonate (PC) and polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, and polyimide. Among these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferred, with inexpensive polyethylene terephthalate being particularly preferred.

プラスチックフィルムは、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理、帯電防止処理を施してあってもよい。また、プラスチックフィルムとしては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付きプラスチックフィルムを使用してもよい。離型層付きプラスチックの離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、ポリオレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。 The plastic film may be subjected to a matte treatment, a corona treatment, or an antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer. In addition, the plastic film may be a plastic film with a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer. The release agent used in the release layer of the plastic with a release layer may be, for example, one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resins, polyolefin resins, urethane resins, and silicone resins.

プラスチックフィルムは、市販品を用いてもよく、例えば、PETフィルムである、リンテック社製の「SK-1」、「AL-5」、「AL-7」、東レ社製の「ルミラーT60」、帝人社製の「ピューレックス」、ユニチカ社製の「ユニピール」等が挙げられる。 The plastic film may be a commercially available product, such as PET film "SK-1", "AL-5", or "AL-7" manufactured by Lintec Corporation, "Lumirror T60" manufactured by Toray Industries, "Purex" manufactured by Teijin Limited, or "Unipeel" manufactured by Unitika Limited.

プラスチックフィルムの厚さは、特に限定されないが、5μm~75μmの範囲が好ましく、10μm~60μmの範囲がより好ましい。なお、離型層付きプラスチックフィルムを使用する場合、離型層付きプラスチックフィルム全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the plastic film is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. When using a plastic film with a release layer, it is preferable that the overall thickness of the plastic film with a release layer is in the above range.

<支持基材付き金属箔>
本発明の金属箔付き樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の第1の主面は、支持基材付き金属箔の金属箔側と接合している(図1参照;金属箔付き樹脂シート10において、樹脂組成物層1の第1の主面(図1において下側の主面)は、支持基材付き金属箔3の金属箔3aと接合している)。
<Metal foil with supporting substrate>
In the resin sheet with metal foil of the present invention, the first main surface of the resin composition layer is bonded to the metal foil side of the metal foil with supporting substrate (see Figure 1; in the resin sheet with metal foil 10, the first main surface of the resin composition layer 1 (the lower main surface in Figure 1) is bonded to the metal foil 3a of the metal foil with supporting substrate 3).

支持基材付き金属箔は、金属箔と、該金属箔と剥離が可能な状態で接合している支持基材とを含む。図1を参照すると、支持基材付き金属箔10は、金属箔3aと、該金属箔と剥離が可能な状態で接合している支持基材3bとを含む。 The metal foil with a support substrate includes a metal foil and a support substrate that is bonded to the metal foil in a peelable manner. Referring to FIG. 1, the metal foil with a support substrate 10 includes a metal foil 3a and a support substrate 3b that is bonded to the metal foil in a peelable manner.

支持基材付き金属箔において、支持基材の材質は、特に限定されず、プラスチックフィルム又はキャリア金属箔であってよい。 In metal foil with a supporting substrate, the material of the supporting substrate is not particularly limited and may be a plastic film or a carrier metal foil.

支持基材がプラスチックフィルムである場合、その材料としては、上記「<プラスチックフィルム>」について説明したものと同様としてよい。また支持基材がキャリア金属箔である場合、例えば、アルミニウム箔、アルミニウム合金箔、ステンレス鋼箔、チタン箔、チタン合金箔、銅箔、銅合金箔等が挙げられる。支持基材としてキャリア金属箔を用いる場合、電解金属箔、圧延金属箔であってよく、中でも電解銅箔、電解銅金箔、圧延銅箔、圧延銅合金箔が好ましい。 When the supporting substrate is a plastic film, the material may be the same as that explained in "<Plastic film>" above. When the supporting substrate is a carrier metal foil, examples include aluminum foil, aluminum alloy foil, stainless steel foil, titanium foil, titanium alloy foil, copper foil, copper alloy foil, etc. When a carrier metal foil is used as the supporting substrate, it may be electrolytic metal foil or rolled metal foil, and among these, electrolytic copper foil, electrolytic copper gold foil, rolled copper foil, and rolled copper alloy foil are preferred.

支持基材は、回路基板の製造にあたり、金属箔から剥離除去される。斯かる剥離を円滑に実施し得る観点から、支持基材は、金属箔と接合する面に剥離層を有する剥離層付き支持基材であってよい。剥離層は、金属箔から支持基材を剥離できれば特に限定されず、例えば、Cr、Ni、Co、Fe、Mo、Ti、W、Pからなる群から選択される元素の合金層;有機被膜等が挙げられる。 The support substrate is peeled off from the metal foil during the manufacture of the circuit board. From the viewpoint of being able to carry out such peeling smoothly, the support substrate may be a support substrate with a peeling layer having a peeling layer on the surface that is bonded to the metal foil. The peeling layer is not particularly limited as long as it can peel the support substrate from the metal foil, and examples thereof include an alloy layer of an element selected from the group consisting of Cr, Ni, Co, Fe, Mo, Ti, W, and P; an organic coating, and the like.

支持基材付き金属箔において、金属箔の材質としては、例えば、銅箔、銅合金箔が好ましい。 In the case of metal foil with a supporting substrate, the material of the metal foil is preferably, for example, copper foil or copper alloy foil.

支持基材付き金属箔において、支持基材の厚さは、特に限定されないが、好ましくは7μm以上、より好ましくは9μm以上又は10μm以上であり、その上限は、好ましくは250μm以下、より好ましくは200μm以下又は150μm以下である。剥離層付き支持基材を使用する場合、剥離層付き支持基材全体の厚さが上記範囲にあることが好適である。 In the metal foil with a support substrate, the thickness of the support substrate is not particularly limited, but is preferably 7 μm or more, more preferably 9 μm or more or 10 μm or more, and the upper limit is preferably 250 μm or less, more preferably 200 μm or less or 150 μm or less. When using a support substrate with a release layer, it is preferable that the overall thickness of the support substrate with a release layer is within the above range.

支持基材付き金属箔において、金属箔の厚さは、微細配線形成性に寄与する観点から、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下であり、その下限は、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.5μm以上又は1μm以上である。 In the case of metal foil with a supporting substrate, the thickness of the metal foil is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, from the viewpoint of contributing to the formation of fine wiring, and the lower limit is preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.5 μm or more or 1 μm or more.

支持基材付き金属箔は、市販品を用いてもよく、例えば、極薄銅箔と該極薄銅箔と剥離が可能な状態で接合しているキャリア銅箔を含むものとして、三井金属社製の「MT18Ex」、「MT18SD-H」、「MT18FL」、「MT18GN」、JX金属社製の「JXUT-III箔」等が挙げられる。 Metal foil with a supporting substrate may be a commercially available product. For example, products including an ultra-thin copper foil and a carrier copper foil bonded to the ultra-thin copper foil in a peelable state include "MT18Ex", "MT18SD-H", "MT18FL", and "MT18GN" manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd., and "JXUT-III foil" manufactured by JX Metals Corporation.

以下、本発明の金属箔付き樹脂シートを製造する方法について述べる。 The method for producing the resin sheet with metal foil of the present invention is described below.

本発明の金属箔付き樹脂シートは、先述のとおり、第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む。斯かる層構成を有する金属箔付き樹脂シートは、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとからなる第1の樹脂シートに、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合するように支持基材付き金属箔を積層するか、又は、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第1の主面に金属箔側で接合している支持基材付き金属箔とからなる第2の樹脂シートに、該樹脂組成物層の第2の主面と接合するようにプラスチックフィルムを積層することによって製造することができる。そして本発明の金属箔付き樹脂シートは、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下であることを特徴とするが、これは、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを、あるいは、第2の樹脂シートとプラスチックフィルムとを積層する際に、支持基材付き金属箔の支持基材と接する積層用ロールに付着した異物を除去するためのロールを設けたり、積層後に金属箔付き樹脂シートの表面を平坦化する処理に付したりすることで実現することができる。 As described above, the resin sheet with metal foil of the present invention includes a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a support substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer. The resin sheet with metal foil having such a layer structure can be produced by laminating a metal foil with a support substrate to a first resin sheet consisting of a resin composition layer and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer so as to be bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, or by laminating a plastic film to be bonded to the second main surface of the resin composition layer on a second resin sheet consisting of a resin composition layer and a metal foil with a support substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side. The resin sheet with metal foil of the present invention is characterized in that the surface on the side of the metal foil with supporting substrate has 5 or less concave or convex portions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more per cm2. This can be achieved by providing a roll for removing foreign matter adhering to the lamination roll that comes into contact with the supporting substrate of the metal foil with supporting substrate when laminating the first resin sheet and the metal foil with supporting substrate, or by subjecting the resin sheet with metal foil to a process for flattening the surface after lamination.

<第1の樹脂シート>
一実施形態において、本発明の金属箔付き樹脂シートは、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとからなる第1の樹脂シートに、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合するように支持基材付き金属箔を積層することにより製造される(図2a参照;第1の樹脂シート5と支持基材付き金属箔3とを、樹脂組成物層と金属箔とが接合するように積層して、金属箔付き樹脂シート10を得る)。
<First Resin Sheet>
In one embodiment, the resin sheet with a metal foil of the present invention is produced by laminating a metal foil with a supporting substrate to a first resin sheet consisting of a resin composition layer and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, so that the metal foil side is bonded to the first main surface of the resin composition layer (see Figure 2a; a first resin sheet 5 and a metal foil with a supporting substrate 3 are laminated so that the resin composition layer and the metal foil are bonded to obtain a resin sheet with a metal foil 10).

図1を参照すると、第1の樹脂シート5は、樹脂組成物層1と、該樹脂組成物層の第2の主面(図1において上側の主面)と接合しているプラスチックフィルム2とからなる。第1の樹脂シートを構成する樹脂組成物層やプラスチックフィルムは、その好適な例を含め、先述したとおりである。 Referring to FIG. 1, the first resin sheet 5 is composed of a resin composition layer 1 and a plastic film 2 bonded to the second main surface of the resin composition layer (the upper main surface in FIG. 1). The resin composition layer and the plastic film constituting the first resin sheet are as described above, including preferred examples thereof.

第1の樹脂シートは、プラスチックフィルム上に、樹脂組成物層を設けて形成される。例えば、液状の樹脂組成物をそのまま、或いは有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、これを、ダイコーター等を用いてプラスチックフィルム上に塗布し、更に乾燥させることにより形成することができる。有機溶剤や乾燥の条件は先述したとおりである。 The first resin sheet is formed by providing a resin composition layer on a plastic film. For example, the first resin sheet can be formed by preparing a resin varnish by dissolving the resin composition in a liquid form in its original form or in an organic solvent, applying this to a plastic film using a die coater or the like, and then drying the same. The organic solvent and drying conditions are as described above.

<第2の樹脂シート>
他の一実施形態において、本発明の金属箔付き樹脂シートは、樹脂組成物層と該樹脂組成物層の第1の主面に金属箔側で接合している支持基材付き金属箔とからなる第2の樹脂シートに、該樹脂組成物層の第2の主面と接合するようにプラスチックフィルムを積層することにより製造される(図2b参照;第2の樹脂シート6とプラスチックフィルム2とを、樹脂組成物層とプラスチックフィルムとが接合するように積層して、金属箔付き樹脂シート10を得る)。
<Second Resin Sheet>
In another embodiment, the resin sheet with metal foil of the present invention is produced by laminating a plastic film to a second resin sheet consisting of a resin composition layer and a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side, so that the plastic film is bonded to the second main surface of the resin composition layer (see Figure 2b; the second resin sheet 6 and the plastic film 2 are laminated so that the resin composition layer and the plastic film are bonded to each other, thereby obtaining a resin sheet with metal foil 10).

図1を参照すると、第2の樹脂シート6は、樹脂組成物層1と、該樹脂組成物層の第1の主面(図1において下側の主面)と接合している支持基材付き金属箔3とからなり、支持基材付き金属箔の金属箔3aと樹脂組成物層とが接合している。第2の樹脂シートを構成する樹脂組成物層や支持基材付き金属箔は、その好適な例を含め、先述したとおりである。 Referring to FIG. 1, the second resin sheet 6 is composed of a resin composition layer 1 and a metal foil 3 with a supporting substrate that is bonded to the first main surface (the lower main surface in FIG. 1) of the resin composition layer, and the metal foil 3a of the metal foil with a supporting substrate is bonded to the resin composition layer. The resin composition layer and the metal foil with a supporting substrate that constitute the second resin sheet are as described above, including preferred examples thereof.

第2の樹脂シートは、支持基材付き金属箔の金属箔上に、樹脂組成物層を設けて形成される。例えば、液状の樹脂組成物をそのまま、或いは有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、これを、ダイコーター等を用いて支持基材付き金属箔の金属箔上に塗布し、更に乾燥させることにより形成することができる。有機溶剤や乾燥の条件は先述したとおりである。 The second resin sheet is formed by providing a resin composition layer on the metal foil of the metal foil with a supporting substrate. For example, the second resin sheet can be formed by preparing a resin varnish by dissolving the resin composition in an organic solvent or by applying the liquid resin composition directly onto the metal foil of the metal foil with a supporting substrate using a die coater or the like, and then drying the same. The organic solvent and drying conditions are as described above.

一実施形態において、本発明の金属箔付き樹脂シートは、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを、又は、第2の樹脂シートとプラスチックフィルムとを、一対のロールA及びB間に挟んだ状態で、少なくとも一方のロールを他方のロール方向に押圧することで積層して製造することができる。斯かる積層工程において、支持基材付き金属箔と接するロールAの表面に付着した異物を除去するためのロールC1を設けることにより、支持基材付き金属箔側の表面に凹部が生じることを低減することができ、また、プラスチックフィルムと接するロールBの表面に付着した異物を除去するためのロールC2を設けることにより、支持基材付き金属箔側に凸部が生じることを低減することができる。 In one embodiment, the resin sheet with metal foil of the present invention can be manufactured by sandwiching a first resin sheet and a metal foil with a support substrate, or a second resin sheet and a plastic film between a pair of rolls A and B, and pressing at least one of the rolls in the direction of the other roll. In such a lamination process, by providing roll C1 for removing foreign matter adhering to the surface of roll A that contacts the metal foil with a support substrate, it is possible to reduce the occurrence of recesses on the surface of the metal foil with a support substrate, and by providing roll C2 for removing foreign matter adhering to the surface of roll B that contacts the plastic film, it is possible to reduce the occurrence of protrusions on the metal foil with a support substrate.

図2aに、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを積層して金属箔付き樹脂シートを得る方法を説明するための模式図(1)を示す。以下、図2aに示す積層工程を「工程(X-1)」ともいう。 Figure 2a shows a schematic diagram (1) for explaining a method for obtaining a resin sheet with metal foil by laminating a first resin sheet and a metal foil with a supporting substrate. Hereinafter, the lamination process shown in Figure 2a is also referred to as "process (X-1)."

図2aに示す積層工程、すなわち工程(X-1)では、第1の樹脂シート5に、該第1の樹脂シートの樹脂組成物層と金属箔側で接合するように支持基材付き金属箔3を積層する。よって、図2aにおいて、第1の樹脂シート5は、左側にプラスチックフィルム、右側に樹脂組成物層を含む。また図2aにおいて、支持基材付き金属箔3は、左側に金属箔、右側に支持基材を含む。これら第1の樹脂シート5と支持基材付き金属箔3とが積層されて金属箔付き樹脂シート10が得られる。 In the lamination step shown in FIG. 2a, i.e., step (X-1), a metal foil 3 with a supporting substrate is laminated onto a first resin sheet 5 so that the metal foil side is bonded to the resin composition layer of the first resin sheet. Thus, in FIG. 2a, the first resin sheet 5 includes a plastic film on the left side and a resin composition layer on the right side. Also in FIG. 2a, the metal foil 3 with a supporting substrate includes a metal foil on the left side and a supporting substrate on the right side. The first resin sheet 5 and the metal foil 3 with a supporting substrate are laminated to obtain a resin sheet 10 with a metal foil.

図2bに、第2の樹脂シートとプラスチックフィルムとを積層して金属箔付き樹脂シートを得る方法を説明するための模式図(2)を示す。以下、図2bに示す積層工程を「工程(X-2)」ともいう。 Figure 2b shows a schematic diagram (2) for explaining a method for laminating a second resin sheet and a plastic film to obtain a resin sheet with a metal foil. Hereinafter, the lamination process shown in Figure 2b is also referred to as "process (X-2)."

図2bに示す積層工程、すなわち工程(X-2)では、第2の樹脂シート6に、該第2の樹脂シートの樹脂組成物層と接合するようにプラスチックフィルム2を積層する。よって、図2bにおいて、第1の樹脂シート6は、左側に樹脂組成物層、右側に支持基材付き金属箔を含み、支持基材付き金属箔の金属箔と樹脂組成物層が接合している。これら第2の樹脂シート6とプラスチックフィルム2とが積層されて金属箔付き樹脂シート10が得られる。 In the lamination step shown in Figure 2b, i.e., step (X-2), a plastic film 2 is laminated onto a second resin sheet 6 so as to be bonded to the resin composition layer of the second resin sheet. Thus, in Figure 2b, the first resin sheet 6 includes a resin composition layer on the left side and a metal foil with a supporting substrate on the right side, with the metal foil of the metal foil with a supporting substrate and the resin composition layer being bonded. The second resin sheet 6 and the plastic film 2 are laminated together to obtain a resin sheet 10 with metal foil.

なお、図2aや図2bには、樹脂シート等の積層対象部材を上側から下側に搬送しつつ左右方向から圧着して積層する態様を示しているが、樹脂シート等の積層対象部材を水平方向に搬送しつつ上下方向から圧着して積層してもよい。 Note that Figures 2a and 2b show a mode in which the resin sheets or other materials to be laminated are conveyed from top to bottom and laminated by pressure bonding from the left and right directions, but the resin sheets or other materials to be laminated may also be conveyed horizontally and laminated by pressure bonding from the top and bottom directions.

上記の工程(X-1)、(X-2)の別を問わず、ロールAは、支持基材付き金属箔の支持基材と接するように設けられており(図2aや図2bにおけるR)、ロールBは、プラスチックフィルムと接するように設けられている(図2aや図2bにおけるR)。 Regardless of whether the above process is (X-1) or (X-2), roll A is provided so as to be in contact with the supporting substrate of the metal foil with a supporting substrate (R A in FIG. 2a or FIG. 2b), and roll B is provided so as to be in contact with the plastic film (R B in FIG. 2a or FIG. 2b).

ロールAとロールBのロール面長(図2aや図2bにおいてロールの奥行き方向の寸法)は、工程(X-1)であれば、使用する第1の樹脂シートや支持基材付き金属箔の幅(搬送方向に垂直な方向(TD方向)における寸法;以下、同様である。)に応じて、また、工程(X-2)であれば、使用する第2の樹脂シートやプラスチックフィルムの幅に応じて、互いに積層させて金属箔付き樹脂シートを製造し得るように適宜決定してよい。ロールAとロールBの材質は、樹脂シート等の各部材を互いに積層させて金属箔付き樹脂シートを製造し得る限り特に限定されず、ゴム製ロール、金属製ロール、金属製芯材とゴム製ライニングからなる複合材ロールの何れを使用してもよい。また、ロールAとロールBとしては、互いに同じ材質のロールを用いてもよく、異なる材質のロールを用いてもよい。ロールAとロールBとの間の圧着圧力(積層対象部材に加えられる圧力)は、樹脂シート等の各部材を互いに積層させて金属箔付き樹脂シートを製造し得る限り特に限定されず、例えば0.1MPa~3MPaの範囲にて適宜決定してよく、好ましくは0.2MPa~2.5MPaの範囲、0.3MPa~2MPaの範囲としてよい。後述する除塵ロールC1やC2を備えることにより、斯かる圧着圧力によらず、積層時に支持基材付き金属箔側に凹部や凸部が生じることを低減でき、それ故、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である本発明の金属箔付き樹脂シートを製造することができる。ロールAとロールBにより圧着して積層する際の温度は、樹脂シート等の各部材を互いに積層させて金属箔付き樹脂シートを製造し得る限り特に限定されず、常温(25℃程度)であってもよく、加熱条件としてもよい。樹脂シート等の各部材を十分に密着させ得る観点から、加熱条件下で積層することが好ましく、その温度は、例えば50℃~130℃の範囲、好ましくは80℃~120℃の範囲としてよい。ロールAとロールBにより圧着して積層する際の、樹脂シート等の各部材の搬送速度(積層速度)は、樹脂シート等の各部材を互いに積層させて金属箔付き樹脂シートを製造し得る限り特に限定されず、例えば、0.1m/分~50m/分の範囲で適宜決定してよい。 The roll surface lengths of roll A and roll B (dimension in the depth direction of the roll in FIG. 2a or FIG. 2b) may be appropriately determined according to the width (dimension in the direction perpendicular to the conveying direction (TD direction)) of the first resin sheet or the metal foil with the support substrate used in the step (X-1), or according to the width of the second resin sheet or the plastic film used in the step (X-2) so that a resin sheet with a metal foil can be produced by laminating them together. The material of roll A and roll B is not particularly limited as long as each member such as a resin sheet can be laminated together to produce a resin sheet with a metal foil, and any of a rubber roll, a metal roll, and a composite roll consisting of a metal core material and a rubber lining may be used. In addition, rolls made of the same material or different materials may be used as roll A and roll B. The pressure between the roll A and the roll B (pressure applied to the laminated member) is not particularly limited as long as the resin sheet with the metal foil can be produced by laminating each member such as a resin sheet on top of the other, and may be appropriately determined within a range of, for example, 0.1 MPa to 3 MPa, and may preferably be within a range of 0.2 MPa to 2.5 MPa, or 0.3 MPa to 2 MPa. By providing the dust removal rolls C1 and C2 described later, it is possible to reduce the occurrence of concaves or convexities on the metal foil with the support substrate side during lamination, regardless of the pressure applied, and therefore it is possible to produce a resin sheet with the metal foil of the present invention in which the concaves or convexities on the surface of the metal foil with the support substrate side having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more are 5 pieces/cm 2 or less. The temperature when laminating by laminating with the roll A and the roll B is not particularly limited as long as the resin sheet with the metal foil can be produced by laminating each member such as a resin sheet on top of the other, and may be room temperature (about 25 ° C.) or may be a heating condition. From the viewpoint of being able to sufficiently adhere each member such as a resin sheet, it is preferable to laminate under heating conditions, and the temperature may be, for example, in the range of 50° C. to 130° C., and preferably in the range of 80° C. to 120° C. The conveying speed (lamination speed) of each member such as a resin sheet when laminated by pressure bonding with roll A and roll B is not particularly limited as long as each member such as a resin sheet can be laminated on top of each other to produce a resin sheet with a metal foil, and may be appropriately determined, for example, in the range of 0.1 m/min to 50 m/min.

上記のとおり、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である本発明の金属箔付き樹脂シートを製造するに際し、支持基材付き金属箔の支持基材と接するロールAの表面に付着した異物を除去するためのロールC1(以下、「除塵ロールC1」ともいう。)を設けることが好適である(図2aや図2bにおけるRC1)。 As described above, when producing the resin sheet with metal foil of the present invention, in which the surface on the metal foil side with a supporting substrate has 5 or less concave or convex portions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more, it is preferable to provide a roll C1 (hereinafter also referred to as "dust removal roll C1") for removing foreign matter adhering to the surface of roll A that contacts the supporting substrate of the metal foil with a supporting substrate (R C1 in Figures 2a and 2b ).

除塵ロールC1としては、ロールAの表面に付着した塵等の異物を除去する機能を有するロールを用いることができ、例えば、ロールAの表面に付着した異物を吸着することのできる吸着面を有するロールが挙げられる。斯かる吸着面は、ロールAの表面に付着した異物を吸着することができ、かつ、ロールAの表面に付着することのない材料からなることが好ましい。例えば、異物に対し吸着性を呈する粘着性若しくは非粘着性の高分子化合物(シリコン系ゴム、ノンシリコン系ゴムなど)からなる吸着面を有するロールを用いてよい。除塵ロールC1のロール面長は、使用する支持基材付き金属箔の幅に応じて、適宜決定してよい。また、ロールC1の径は、ロールAの表面に付着した異物を除去し得る限り特に限定されず適宜決定してよく、例えば、ロールC1の径は、当該ロールC1が接するロールAの径より小さくてよい。なお、図2aや図2bには、ロールAの表面に接して1個のロールC1を設けた態様を示しているが、ロールAに対し2個以上のロールC1を設けてもよい。ロールAとロールC1との間の圧着圧力は、ロールAの表面に付着した異物を除去し得る限り特に限定されず、例えば0.01MPa~0.1MPaの範囲にて適宜決定してよく、好ましくは0.02MPa~0.08MPaの範囲としてよい。除塵ロールC1は、市販品を用いてもよく、例えば、YanGo社製の高分子ゴム除塵ロール(RUSシリーズ、HSSシリーズ、LPSシリーズ、SRRシリーズなど)、TEKNEK社製の除塵ローラーが挙げられる。 As the dust-removing roll C1, a roll having a function of removing foreign matter such as dust adhering to the surface of the roll A can be used, and for example, a roll having an adsorption surface capable of adsorbing foreign matter adhering to the surface of the roll A can be used. Such an adsorption surface is preferably made of a material capable of adsorbing foreign matter adhering to the surface of the roll A and not adhering to the surface of the roll A. For example, a roll having an adsorption surface made of a sticky or non-sticky polymer compound (such as silicon-based rubber or non-silicon-based rubber) that exhibits adsorption properties against foreign matter may be used. The roll surface length of the dust-removing roll C1 may be appropriately determined according to the width of the metal foil with support substrate used. In addition, the diameter of the roll C1 is not particularly limited as long as it can remove foreign matter adhering to the surface of the roll A, and may be appropriately determined. For example, the diameter of the roll C1 may be smaller than the diameter of the roll A with which the roll C1 is in contact. Although FIG. 2a and FIG. 2b show an embodiment in which one roll C1 is provided in contact with the surface of the roll A, two or more rolls C1 may be provided for the roll A. The pressure between roll A and roll C1 is not particularly limited as long as it can remove foreign matter adhering to the surface of roll A, and may be appropriately determined, for example, in the range of 0.01 MPa to 0.1 MPa, and preferably in the range of 0.02 MPa to 0.08 MPa. The dust removal roll C1 may be a commercially available product, such as a polymer rubber dust removal roll manufactured by YanGo (RUS series, HSS series, LPS series, SRR series, etc.) or a dust removal roller manufactured by TEKNEK.

また上記のとおり、本発明の金属箔付き樹脂シートを製造するに際し、プラスチックフィルムと接するロールBの表面に付着した異物を除去するためのロールC2(以下、「除塵ロールC2」ともいう。)を設けてよい(図2aや図2bにおけるRC2)。 As described above, when producing the resin sheet with a metal foil of the present invention, a roll C2 (hereinafter also referred to as "dust removal roll C2") may be provided to remove foreign matter adhering to the surface of roll B that comes into contact with the plastic film (R C2 in Figures 2a and 2b).

除塵ロールC2は、その好適な例を含め、除塵ロールC1と同様としてよい。また、ロールBとロールC2との間の圧着圧力は、ロールAとロールC1との圧着圧力と同様としてよい。 The dust removal roll C2 may be the same as the dust removal roll C1, including preferred examples thereof. In addition, the pressure between roll B and roll C2 may be the same as the pressure between roll A and roll C1.

本発明の金属箔付き樹脂シートを製造するに際し、除塵ロールC1の表面に付着した異物を除去するためのロールD1や、除塵ロールC2の表面に付着した異物を除去するためのロールD2を設けてもよい。ロールD1やD2は、除塵ロールC1やC2の表面に付着した異物を除去する機能を有する限り、その構成は特に限定されないが、表面に塵等の異物を吸着させるための粘着層を備えていることが好ましい。このようなロールD1やD2を備えることにより、積層工程において除塵ロールC1やC2の表面に異物が堆積して除塵ロールの吸着力が低下することを防止することができ、ロールAやBの表面に付着した異物をより確実に長時間安定して除去することができる。このようなロールD1やD2は、市販品を用いてもよく、例えば、YanGo社製の塵埃転写用粘着テープロールや「GaplessTMULT」、「GaplessTMSRR」、TEKNEK社製の粘着ロールが挙げられる。 When manufacturing the resin sheet with metal foil of the present invention, a roll D1 for removing foreign matter adhering to the surface of the dust removal roll C1 and a roll D2 for removing foreign matter adhering to the surface of the dust removal roll C2 may be provided. The configuration of the rolls D1 and D2 is not particularly limited as long as they have the function of removing foreign matter adhering to the surface of the dust removal roll C1 and C2, but it is preferable that the rolls D1 and D2 have an adhesive layer for adsorbing foreign matter such as dust on the surface. By providing such rolls D1 and D2, it is possible to prevent foreign matter from accumulating on the surface of the dust removal roll C1 and C2 in the lamination process and reducing the adsorption force of the dust removal roll, and it is possible to more reliably remove foreign matter adhering to the surface of the rolls A and B stably for a long time. Such rolls D1 and D2 may be commercially available products, and examples of such rolls include dust transfer adhesive tape rolls, "Gapless TMULT" and "Gapless TMSRR" manufactured by YanGo Co., Ltd., and adhesive rolls manufactured by TEKNEK Co., Ltd.

上記の除塵ロールC1やC2を用いることに加えて/代えて、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを、又は、第2の樹脂シートとプラスチックフィルムとを積層した後、得られた金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面を平滑化する処理に付して、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である本発明の金属箔付き樹脂シートを製造してもよい。 In addition to/instead of using the above-mentioned dust removal rolls C1 and C2, a first resin sheet and a metal foil with a supporting substrate, or a second resin sheet and a plastic film may be laminated together, and then the surface of the resulting resin sheet with metal foil on the side of the metal foil with supporting substrate may be subjected to a smoothing treatment to produce a resin sheet with metal foil of the present invention having 5 or less recesses or protrusions on the surface on the side of the metal foil with supporting substrate with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more per cm2 .

斯かる平滑化処理としては、金属箔付き樹脂シートの表面に異物の付着がない状態で(あるいは異物の付着量を減じた上で)、常圧下(大気圧下)、例えば、平滑な圧着部材を指示基材付き金属箔側からプレスすることにより実施してよい。平滑化処理の圧着条件は、上記[回路基板の製造方法]欄において述べた真空ラミネート処理の加熱圧着条件と同様の条件としてよい。 Such a smoothing process may be carried out under normal pressure (atmospheric pressure), for example, by pressing a smooth pressure-bonding member from the metal foil-bearing substrate side, with no foreign matter adhering to the surface of the resin sheet with the metal foil (or after reducing the amount of foreign matter adhering to the surface). The pressure-bonding conditions for the smoothing process may be the same as the heat-bonding conditions for the vacuum lamination process described in the above section [Method for manufacturing circuit boards].

本発明の金属箔付き樹脂シートは、その支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下であり、それ故、回路基板の製造において基材への積層を低圧条件下で実施する場合であっても、配線の形成対象面に凹部や凸部が生じることを減じ、良好な歩留まりを達成することができる。したがって本発明の金属箔付き樹脂シートは、回路基板の製造に好適に用いることができ、該金属箔付き樹脂シートを低圧条件下(例えば1.5MPa以下の圧力;好適な圧力条件は先述のとおりである。)にて基材に積層する工程を含む回路基板の製造において好適に用いることができる。 The resin sheet with metal foil of the present invention has 5 or less concaves or convexities with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil with supporting substrate, and therefore, even when lamination to a substrate is performed under low pressure conditions in the manufacture of a circuit board, the occurrence of concaves or convexities on the surface on which wiring is to be formed is reduced, and a good yield can be achieved. Therefore, the resin sheet with metal foil of the present invention can be suitably used in the manufacture of a circuit board, and can be suitably used in the manufacture of a circuit board including a step of laminating the resin sheet with metal foil to a substrate under low pressure conditions (for example, a pressure of 1.5 MPa or less; suitable pressure conditions are as described above).

また、本発明の金属箔付き樹脂シートは、金属箔をめっきシード層として利用するモディファイドセミアディティブ法、あるいは、金属箔を除去した後の絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法により配線を形成する回路基板の製造において、配線間距離が小さい配線を形成する場合であっても、良好な歩留まりを達成することができる。したがって本発明の金属箔付き樹脂シートは、モディファイドセミアディティブ法又はセミアディティブ法により配線を形成する工程を含む回路基板の製造において好適に用いることができ、配線間距離が小さい(例えば35μm以下、30μm以下、25μm以下)回路基板の製造に好適に用いることができる。 The resin sheet with metal foil of the present invention can achieve good yield even when forming wiring with a small distance between the wirings in the manufacture of circuit boards in which wiring is formed by a modified semi-additive method using the metal foil as a plating seed layer, or a semi-additive method using the exposed surface profile of the insulating layer after removing the metal foil. Therefore, the resin sheet with metal foil of the present invention can be suitably used in the manufacture of circuit boards including a process of forming wiring by a modified semi-additive method or a semi-additive method, and can be suitably used in the manufacture of circuit boards in which the distance between the wirings is small (e.g., 35 μm or less, 30 μm or less, 25 μm or less).

以下、本発明を実施例により具体的に説明する。本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下において、量を表す「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。 The present invention will be specifically explained below with reference to examples. The present invention is not limited to these examples. In the following, "parts" and "%" representing amounts mean "parts by mass" and "% by mass", respectively, unless otherwise specified.

[実施例1]
(1)金属箔付き樹脂シートの製造
(1-1)樹脂組成物1の調製
テトラメチルビスフェノール型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX4000H」、エポキシ基当量194g/eq.)8部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC3000L」、エポキシ基当量約271g/eq.)10部、ナフタレン型エポキシ樹脂(DIC社製「HP6000L」、エポキシ基当量約213g/eq.)2部、2官能エポキシ樹脂(日鉄ケミカル&マテリアル社製「ZX1658GS」、エポキシ基当量約133g/eq.)2部、トリアジン骨格及びクレゾールノボラック構造を有するフェノール系硬化剤(DIC社製「LA-3018-50P」、フェノール当量約151、固形分50%の2-メトキシプロパノール溶液)4部、活性エステル樹脂(DIC社製「HP-C-8151-62T」、フェノール当量約238、固形分62%のトルエン溶液)6部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YL7800BH40」、固形分40%のMEKならびにシクロヘキサン溶液)5部、及びアミノ系シランカップリング剤(信越化学工業社製「KBM573」、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン)で表面処理された無機充填材(アドマテックス社製「SO-C2」、表面処理量:無機充填材100質量%に対しアミノ系シランカップリング剤0.6質量%)40部、硬化促進剤(1,4-ジメチルアミノピリジン)の固形部5%のMEK溶液1部を添加して、樹脂組成物1を調製した。
[Example 1]
(1) Production of resin sheet with metal foil (1-1) Preparation of resin composition 1 Tetramethylbisphenol type epoxy resin ("YX4000H" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy group equivalent 194 g/eq.), 8 parts of biphenylaralkyl type epoxy resin ("NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy group equivalent about 271 g/eq.), 10 parts of naphthalene type epoxy resin ("HP6000L" manufactured by DIC Corporation, epoxy group equivalent about 213 g/eq.), 2 parts of bifunctional epoxy resin ("ZX1658GS" manufactured by Nippon Steel Chemical & Material Co., Ltd., epoxy group equivalent about 133 g/eq.), 4 parts of phenol-based hardener having a triazine skeleton and a cresol novolac structure ("LA-3018-50P" manufactured by DIC Corporation, phenol equivalent about 151, 2-methoxypropanol solution with a solid content of 50%) 6 parts of an active ester resin (DIC Corporation "HP-C-8151-62T", phenol equivalent of about 238, toluene solution with solids of 62%), 5 parts of a phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation "YL7800BH40", MEK and cyclohexane solution with solids of 40%), and 40 parts of an inorganic filler (Admatechs Corporation "SO-C2", surface treatment amount: 0.6 mass% of amino-based silane coupling agent relative to 100 mass% of inorganic filler) surface-treated with an amino-based silane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573", N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), and 1 part of a MEK solution with a solids content of 5% of a curing accelerator (1,4-dimethylaminopyridine) were added to prepare resin composition 1.

(1-2)第1の樹脂シートの作製
PETフィルム(リンテック社製「AL5」、厚さ38μm)上に、上記(1-1)で調製した樹脂組成物1を、乾燥後の厚さが18μmになるように、ダイコーターにて均一に塗布した。その後、オーブンで乾燥させて、樹脂組成物層/PETフィルムの層構成を有する第1の樹脂シートを作製した。
(1-2) Preparation of a first resin sheet The resin composition 1 prepared in (1-1) above was uniformly applied to a PET film ("AL5" manufactured by Lintec Corporation, thickness 38 μm) using a die coater so that the thickness after drying would be 18 μm. The film was then dried in an oven to prepare a first resin sheet having a layer structure of a resin composition layer/PET film.

(1-3)金属箔付き樹脂シートの製造
支持基材付き金属箔(三井金属社製「MT18Ex(2um)」、極薄銅箔厚さ2μm、キャリア銅箔厚さ18μm)を用意した。そして、ロールラミネーター(大成ラミネーター社製「VA770」)を用いて、上記(1-2)で作製した第1の樹脂シートに、樹脂組成物層と極薄銅箔側で接合するように上記支持基材付き金属箔を積層した。詳細には、第1の樹脂シートと支持基材付き金属箔とを一対のロールA及びB間に挟んだ状態で、一方のロールを他方のロール方向に押圧することで積層した(支持基材付き金属箔の支持基材と接するロールをロールAとし、第1の樹脂シートのPETフィルムと接するロールをロールBと称する)。その際、異物を模した100μmメッシュの銅粉を、事前にロールAとロールBのロール面に意図的に付着させておき、ロールAの表面に付着した異物を除去するためのロールC1(Yango社製ノンシリコン系クリーニングロール「SRR-370」)を設けてクリーニングした。積層条件は、温度100℃、圧力0.3MPaとした。こうして、プラスチックフィルム/樹脂組成物層/支持基材付き金属箔(金属箔/支持基材)の層構成を有する金属箔付き樹脂シートを製造した。
(1-3) Production of resin sheet with metal foil A metal foil with a support substrate ("MT18Ex (2 um)" manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd., ultra-thin copper foil thickness 2 μm, carrier copper foil thickness 18 μm) was prepared. Then, using a roll laminator ("VA770" manufactured by Taisei Laminator Co., Ltd.), the above-mentioned metal foil with a support substrate was laminated on the first resin sheet prepared in (1-2) above so as to bond the resin composition layer and the ultra-thin copper foil side. In detail, the first resin sheet and the metal foil with a support substrate were sandwiched between a pair of rolls A and B, and one roll was pressed in the direction of the other roll to laminate (the roll in contact with the support substrate of the metal foil with a support substrate is referred to as roll A, and the roll in contact with the PET film of the first resin sheet is referred to as roll B). At that time, copper powder of 100 μm mesh simulating foreign matter was intentionally attached to the roll surfaces of roll A and roll B in advance, and roll C1 (non-silicon cleaning roll "SRR-370" manufactured by Yango) was provided to remove the foreign matter attached to the surface of roll A and clean it. The lamination conditions were a temperature of 100° C. and a pressure of 0.3 MPa. In this way, a resin sheet with metal foil was produced having a layer structure of plastic film/resin composition layer/metal foil with supporting substrate (metal foil/supporting substrate).

(1-4)金属箔付き樹脂シートの表面凹凸の観察
得られた金属箔付き樹脂シートについて、その支持基材付き金属箔側の表面をデジタルマイクロスコープ(キーエンス社製「VHX-900」)を用いて観察した。詳細には、支持基材付き金属箔側の表面について、15cm×15cmの中で1cmのエリアを無作為に10点選択して観察した。そして、観察により同定された凹凸を、接触式段差計(Bruker社製触針式プロファイリングシステム「DektakXT」)を用いて解析し、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部の数を求めた。10点のエリアについて求めた上記凹部又は凸部の数の算術平均値を求め、該算術平均値の小数点以下第一位を四捨五入して得た整数値を、金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における凹部又は凸部の数(個/cm)とした。その結果、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部は4個/cmであった。
(1-4) Observation of surface irregularities of resin sheet with metal foil The surface of the resin sheet with metal foil on the side of the supporting substrate and the metal foil was observed using a digital microscope (Keyence Corporation's "VHX-900"). In detail, 10 areas of 1 cm2 were randomly selected from within a 15 cm x 15 cm area on the surface of the supporting substrate and the metal foil, and observed. The irregularities identified by the observation were then analyzed using a contact step gauge (Bruker's "DektakXT" stylus profiling system), and the number of recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm was determined. The arithmetic mean value of the number of recesses or protrusions determined for the 10 areas was calculated, and the integer value obtained by rounding off the arithmetic mean value to the first decimal place was used as the number of recesses or protrusions (pieces/ cm2 ) on the surface of the resin sheet with metal foil on the side of the supporting substrate and the metal foil. As a result, the number of concave or convex portions having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm was 4/cm 2 .

上記と全く同様にして、得られた金属箔付き樹脂シートについて、そのプラスチックフィルム側の表面における凹部又は凸部の数を求めた。その結果、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部は1個/cmであった。 In the same manner as above, the number of recesses or protrusions on the surface of the plastic film side of the obtained resin sheet with metal foil was determined. As a result, the number of recesses or protrusions with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm was 1/ cm2 .

(2)評価用回路基板の製造
(2-1)金属箔付き樹脂シートの基材への積層
得られた金属箔付き樹脂シートからPETフィルムを剥離して樹脂組成物層を露出させた。また、基材として銅張積層板(パナソニック電工社製「R1515A」、銅層の厚さ18μm、基板の厚さ0.8mm)を用意した。バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製の2ステージビルドアップラミネーター「CVP700」)を用いて、金属箔付き樹脂シートを、樹脂組成物層が銅張積層板と接するように、銅張積層板の両面に積層した。積層は、30秒間減圧して気圧を5hPa以下とし、温度100℃、圧力1.0MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。次いで、温度100℃、圧力0.55MPaにて60秒間熱プレスを行った。
(2) Manufacturing of evaluation circuit board (2-1) Lamination of resin sheet with metal foil to substrate The PET film was peeled off from the obtained resin sheet with metal foil to expose the resin composition layer. In addition, a copper-clad laminate (Panasonic Electric Works "R1515A", copper layer thickness 18 μm, substrate thickness 0.8 mm) was prepared as a substrate. Using a batch-type vacuum pressure laminator (Nikko Materials Co., Ltd. two-stage build-up laminator "CVP700"), the resin sheet with metal foil was laminated on both sides of the copper-clad laminate so that the resin composition layer was in contact with the copper-clad laminate. The lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to 5 hPa or less, and pressing at a temperature of 100 ° C. and a pressure of 1.0 MPa for 30 seconds. Next, a heat press was performed at a temperature of 100 ° C. and a pressure of 0.55 MPa for 60 seconds.

(2-2)樹脂組成物層の熱硬化
金属箔付き樹脂シートが積層された銅張積層板を、180℃のオーブンに投入後30分間加熱して、樹脂組成物層を熱硬化させ絶縁層を形成した。
(2-2) Heat Curing of Resin Composition Layer The copper-clad laminate having the resin sheet with the metal foil laminated thereon was placed in an oven at 180° C. and heated for 30 minutes to heat cure the resin composition layer and form an insulating layer.

(2-3)配線の形成
次いで、以下の手順にしたがって、モディファイドセミアディティブ法(MSAP)により配線を形成した。
(2-3) Formation of Wiring Next, wiring was formed by the modified semi-additive process (MSAP) according to the following procedure.

(2-3-1)支持基材の除去
上記(2-2)で得られた積層体からキャリア銅箔を剥離し、極薄銅箔を露出させた。
(2-3-1) Removal of Support Substrate The carrier copper foil was peeled off from the laminate obtained in (2-2) above to expose the ultra-thin copper foil.

(2-3-2)めっきレジストの形成と露光・現像
極薄銅箔を露出させた後、めっきレジスト(昭和電工社製のパターン形成用ドライフィルム「RY5115」、厚さ15μm)を、基板の両面に積層した。次いで、配線パターン(詳細は以下に示す。)を形成した15cm角のガラスマスク(露光マスク)を、めっきレジスト上に配置して、ステッパー(ウシオ電機社製の投影露光装置「UX-2240」)により露光した(露光量210mJ)。その後、室温で30分間エージングを行った後に、スプレータイプの現像機を用いて、30℃の1wt%炭酸ナトリウム水溶液を30秒間噴射して、めっきレジストの現像(パターン形成)を行った。
(2-3-2) Formation of plating resist and exposure/development After exposing the ultra-thin copper foil, plating resist (Showa Denko K.K.'s pattern forming dry film "RY5115", thickness 15 μm) was laminated on both sides of the substrate. Next, a 15 cm square glass mask (exposure mask) on which a wiring pattern (details are shown below) was formed was placed on the plating resist, and it was exposed (exposure amount 210 mJ) by a stepper (Ushio Inc.'s projection exposure device "UX-2240"). After that, it was aged at room temperature for 30 minutes, and then a 1 wt % sodium carbonate aqueous solution at 30° C. was sprayed for 30 seconds using a spray-type developer to develop the plating resist (pattern formation).

ガラスマスクの配線パターン:
陽極からの配線と陰極からの配線とが対抗した櫛歯パターン(配線幅20μm、配線間距離20μm、配線長10mm、16ライン)を25個有するガラスマスクを使用した。
Glass mask wiring pattern:
A glass mask having 25 comb-tooth patterns (wiring width 20 μm, spacing 20 μm, wiring length 10 mm, 16 lines) in which wiring from the anode and wiring from the cathode face each other was used.

(2-3-3)電解めっき
次いで、アトテックジャパン社製の薬液を使用して電解銅めっきを行い、配線高さが10μmとなるように配線を形成した。
(2-3-3) Electrolytic Plating Next, electrolytic copper plating was carried out using a chemical solution manufactured by Atotech Japan, to form wiring with a wiring height of 10 μm.

(2-3-4)めっきレジストの除去
電解めっきの後、基板をレジスト剥離液(三菱ガス化学社製「R100S」)に50℃で120秒間、超音波処理を行いながら浸漬させて、めっきレジストを剥離した。
(2-3-4) Removal of Plating Resist After electrolytic plating, the substrate was immersed in a resist stripper ("R100S" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.) at 50° C. for 120 seconds while performing ultrasonic treatment, to strip the plating resist.

(2-3-5)フラッシュエッチング
次いで、得られた基板をセミアディティブ法用めっきシード層エッチング剤(メルストリップSE-300)に25℃で浸漬させて、配線形成部以外の不要な銅めっき層を除去することにより、櫛歯配線を形成した。こうして評価用基板を得た。
(2-3-5) Flash Etching Next, the obtained substrate was immersed in a plating seed layer etching agent for the semi-additive process (Melstrip SE-300) at 25° C. to remove unnecessary copper plating layer other than the wiring formation portion, thereby forming comb-tooth wiring. In this way, an evaluation substrate was obtained.

[実施例2]
支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部が2個/cmである金属箔付き樹脂シートを製造した以外は、実施例1と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。なお、支持基材付き金属箔側の表面凹凸の個数は、異物を模した100μmメッシュの銅粉の付着量を変更することにより調整した。
[Example 2]
Except for producing a resin sheet with metal foil having 2 concave or convex portions/ cm2 with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm on the surface of the metal foil with supporting substrate side, an evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 1. The number of surface concave or convex portions on the metal foil with supporting substrate side was adjusted by changing the amount of attached copper powder of 100 μm mesh simulating foreign matter.

[実施例3]
極薄銅箔をめっきシード層として利用するMSAPに代えて、絶縁層の露出表面プロファイルを利用するセミアディティブ法(SAP)により配線を形成した以外は、実施例1と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。
[Example 3]
An evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 1, except that wiring was formed by a semi-additive process (SAP) utilizing the exposed surface profile of an insulating layer instead of MSAP, which utilizes an ultra-thin copper foil as a plating seed layer.

詳細には、実施例1の(2-3-1)に代えて、下記(2-3-1’(1))及び(2-3-1’(2))を実施してめっきシード層(無電解銅めっき層)を形成した以外は、実施例1と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。 In detail, instead of (2-3-1) in Example 1, the following (2-3-1'(1)) and (2-3-1'(2)) were carried out to form a plating seed layer (electroless copper plating layer), but the evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 1.

(2-3-1’(1))支持基材付き金属箔の除去
樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成した後、キャリア銅箔を剥離し、極薄銅箔を露出させた。次いで、極薄銅箔を湿式エッチング処理(塩化第二鉄水溶液)により除去して絶縁層を露出させた。
(2-3-1'(1)) Removal of metal foil with supporting substrate After the resin composition layer was thermally cured to form an insulating layer, the carrier copper foil was peeled off to expose the ultra-thin copper foil. The ultra-thin copper foil was then removed by wet etching (aqueous ferric chloride solution) to expose the insulating layer.

(2-3-1’(2))無電解めっき
絶縁層の露出表面に、下記1~6の工程を含むめっき工程(アトテックジャパン社製の薬液を使用した銅めっき工程)を行って導体層を形成した。
1.アルカリクリーニング(絶縁層の表面の洗浄と電荷調整)
Cleaning Cleaner Securiganth 902(商品名)を用いて60℃で5分間洗浄した。
2.ソフトエッチング(絶縁層の表面の洗浄)
硫酸酸性ペルオキソ二硫酸ナトリウム水溶液を用いて、30℃で1分間処理した。
3.プレディップ(Pd付与のための絶縁層の表面の電荷の調整)
Pre. Dip Neoganth B(商品名)を用い、室温で1分間処理した。
4.アクティヴェーター付与(絶縁層の表面へのPdの付与)
Activator Neoganth 834(商品名)を用い、35℃で5分間処理した。
5.還元(絶縁層に付与されたPdを還元)
Reducer Neoganth WA(商品名)とReducer Acceralator 810 mod.(商品名)との混合液を用い、30℃で5分間処理した。
6.無電解銅めっき工程(Cuを絶縁層の表面(Pd表面)に析出)
Basic Solution Printganth MSK-DK(商品名)と、Copper solution Printganth MSK(商品名)と、Stabilizer Printganth MSK-DK(商品名)と、Reducer Cu(商品名)との混合液を用いて、35℃で20分間処理した。形成された無電解銅めっき層の厚さは0.8μmであった。
(2-3-1'(2)) Electroless Plating A conductor layer was formed on the exposed surface of the insulating layer by carrying out a plating process including the following steps 1 to 6 (copper plating process using a chemical solution manufactured by Atotech Japan).
1. Alkaline cleaning (cleaning the surface of the insulating layer and adjusting the charge)
The plate was washed at 60° C. for 5 minutes using Cleaning Cleaner Security 902 (trade name).
2. Soft etching (cleaning the surface of the insulating layer)
The film was treated with an aqueous solution of sulfuric acid and sodium peroxodisulfate at 30° C. for 1 minute.
3. Pre-dip (adjustment of the charge on the surface of the insulating layer for Pd application)
The film was treated with Pre.Dip Neoganth B (trade name) at room temperature for 1 minute.
4. Adding an activator (adding Pd to the surface of the insulating layer)
The cells were treated with Activator Neoganth 834 (trade name) at 35° C. for 5 minutes.
5. Reduction (reduction of Pd added to the insulating layer)
The mixture was treated with Reducer Neoganth WA (trade name) and Reducer Accelerator 810 mod. (trade name) at 30° C. for 5 minutes.
6. Electroless copper plating process (precipitating Cu on the surface of the insulating layer (Pd surface))
The substrate was treated for 20 minutes at 35° C. using a mixture of Basic Solution Printganth MSK-DK (trade name), Copper solution Printganth MSK (trade name), Stabilizer Printganth MSK-DK (trade name), and Reducer Cu (trade name). The thickness of the electroless copper plating layer formed was 0.8 μm.

[実施例4]
(1)支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部が2個/cmである金属箔付き樹脂シートを製造した点、(2)櫛歯パターン(配線幅8μm、配線間距離8μm、配線長10mm、16ライン)を25個有するガラスマスクを使用した点以外は、実施例3と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。
[Example 4]
An evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 3, except that (1) a resin sheet with metal foil was produced in which the surface on the metal foil side with the supporting substrate had 2 concave or convex portions/ cm2 each having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm, and (2) a glass mask having 25 comb-tooth patterns (wiring width 8 μm, wiring distance 8 μm, wiring length 10 mm, 16 lines) was used.

[実施例5]
(1)実施例1の(1-1)に代えて、下記(1-1’)を実施して樹脂組成物2を調製し第1の樹脂シートを作製した点、(2)支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部が2個/cmである金属箔付き樹脂シートを製造した点以外は、実施例1と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。
[Example 5]
(1) Instead of (1-1) in Example 1, the following (1-1') was carried out to prepare resin composition 2 and produce a first resin sheet, and (2) a resin sheet with metal foil was produced in which the surface on the metal foil side with a supporting substrate had 2 recesses or protrusions/ cm2 with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm. An evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 1, except for the above.

(1-1’)樹脂組成物2の調製
マレイミド樹脂(信越化学工業社製「SLK-6895-M90」、マレイミド当量345g/eq.固形分90wt%のMEK溶液)5部、ビフェニルアラルキル型マレイミド樹脂(日本化薬社製「MIR-3000-70MT」、マレイミド当量393g/eq.固形分70wt%のMEKならびにトルエン溶液)10部、液状アクリレート樹脂(新中村化学工業社製「A-DOG」、ビニル基当量約163g/eq.)5部、共重合体エラストマー(旭化成社製「P2000」)の30wt%トルエン溶液2部、及びアミノ系シランカップリング剤(信越化学工業社製「KBM573」、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン)で表面処理された無機充填材(アドマテックス社製「SO-C2」、表面処理量:無機充填材100質量%に対しアミノ系シランカップリング剤0.6質量%)40部、過酸化物硬化促進剤(日油化学社製「パーヘキシン25B」)の固形部5%のトルエン溶液1部を添加して、樹脂組成物2を調製した。
(1-1') Preparation of Resin Composition 2 5 parts of maleimide resin ("SLK-6895-M90" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., maleimide equivalent 345 g/eq., MEK solution with solid content of 90 wt%), 10 parts of biphenylaralkyl type maleimide resin ("MIR-3000-70MT" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., maleimide equivalent 393 g/eq., MEK and toluene solution with solid content of 70 wt%), 5 parts of liquid acrylate resin ("A-DOG" manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., vinyl group equivalent of about 163 g/eq.), copolymer elastomer ("P200" manufactured by Asahi Kasei Corporation) Resin composition 2 was prepared by adding 2 parts of a 30 wt % toluene solution of an amino-silane coupling agent ("KBM573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), 40 parts of an inorganic filler ("SO-C2" manufactured by Admatechs Co., Ltd., surface treatment amount: 0.6% by mass of amino-silane coupling agent per 100% by mass of inorganic filler), and 1 part of a toluene solution of 5% solids of a peroxide curing accelerator ("Perhexyne 25B" manufactured by NOF Chemical Corporation).

[比較例1]
支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部が8個/cmである金属箔付き樹脂シートを製造した以外は、実施例1と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。なお、支持基材付き金属箔側の表面凹凸の個数は、異物を模した100μmメッシュの銅粉の付着量を変更すると共に、ロールAの表面に付着した異物を除去するためのロールC1を省略することにより調整した。
[Comparative Example 1]
Except for producing a resin sheet with metal foil having 8 concave or convex portions/ cm2 with a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm on the surface of the metal foil with supporting substrate, an evaluation circuit board having comb-tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 1. The number of surface concave or convex portions on the metal foil with supporting substrate side was adjusted by changing the amount of copper powder of 100 μm mesh simulating foreign matter attached thereto and by omitting roll C1 for removing foreign matter attached to the surface of roll A.

[比較例2]
(1)支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上、最大高低差0.7μmである凹部又は凸部が8個/cmである金属箔付き樹脂シートを製造した点、(2)櫛歯パターン(配線幅8μm、配線間距離8μm、配線長10mm、16ライン)を25個有するガラスマスクを使用した点以外は、実施例3と同様にして櫛歯配線を有する評価用回路基板を得た。なお、支持基材付き金属箔側の表面凹凸の個数は、異物を模した100μmメッシュの銅粉の付着量を変更すると共に、ロールAの表面に付着した異物を除去するためのロールC1を省略することにより調整した。
[Comparative Example 2]
(1) A resin sheet with metal foil was produced in which the number of concaves or convexities on the surface of the metal foil with support substrate, each having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm, was 8/ cm2 , and (2) a glass mask having 25 comb tooth patterns (wiring width 8 μm, wiring distance 8 μm, wiring length 10 mm, 16 lines) was used. Except for this, an evaluation circuit board with comb tooth wiring was obtained in the same manner as in Example 3. The number of surface irregularities on the metal foil with support substrate side was adjusted by changing the amount of copper powder of 100 μm mesh simulating foreign matter and omitting roll C1 for removing foreign matter attached to the surface of roll A.

<配線歩留まりの評価>
各実施例及び比較例で得た評価用回路基板について、櫛歯配線の絶縁抵抗値を、抵抗測定器(J-RAS社製「ECM-100」)を用いて測定した。絶縁抵抗値が1×10Ω以上である櫛歯配線の割合が60%以上(すなわち1×10Ω以上である櫛歯配線の数が15以上)の場合に「〇」、60%未満の場合に「×」と評価した。
<Evaluation of wiring yield>
For the evaluation circuit boards obtained in each Example and Comparative Example, the insulation resistance value of the comb-tooth wiring was measured using a resistance meter ("ECM-100" manufactured by J-RAS). When the ratio of comb-tooth wirings having an insulation resistance value of 1× 10 Ω or more was 60% or more (i.e., the number of comb-tooth wirings having an insulation resistance value of 1× 10 Ω or more was 15 or more), it was evaluated as "good", and when it was less than 60%, it was evaluated as "poor".

Figure 0007601126000001
Figure 0007601126000001

1 樹脂組成物層
2 プラスチックフィルム
3 支持基材付き金属箔
3a 金属箔
3b 支持基材
5 第1の樹脂シート
6 第2の樹脂シート
10 金属箔付き樹脂シート
ロールA
ロールB
C1 ロールC1
C2 ロールC2
REFERENCE SIGNS LIST 1 resin composition layer 2 plastic film 3 metal foil with supporting substrate 3a metal foil 3b supporting substrate 5 first resin sheet 6 second resin sheet 10 resin sheet with metal foil R A roll A
R B Roll B
R C1 Roll C1
R C2 Roll C2

Claims (10)

(Y)第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートを、該樹脂組成物層の第2の主面が基材と接合するように、基材に積層する工程を含む、回路基板の製造方法であって、
工程(Y)に用いる金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、方法。
(Y) A method for producing a circuit board, comprising a step of laminating a resin sheet with a metal foil, the resin sheet including a resin composition layer having first and second main surfaces, a metal foil with a supporting substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on a metal foil side, and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer, onto a substrate such that the second main surface of the resin composition layer is bonded to the substrate,
A method in which the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the metal foil-attached resin sheet used in step (Y) on the metal foil-attached metal foil side is 5 or less per cm2 .
工程(Y)において、金属箔付き樹脂シートを1.5MPa以下の圧力にて基材に積層する、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, in which in step (Y), the resin sheet with the metal foil is laminated to the substrate at a pressure of 1.5 MPa or less. (Z)モディファイドセミアディティブ法又はセミアディティブ法により配線を形成する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, further comprising the step of forming wiring by a modified semi-additive method or a semi-additive method. 工程(Z)において、配線間距離が35μm以下である配線を形成する、請求項3に記載の方法。 The method according to claim 3, in which in step (Z), wiring is formed with a distance between wirings of 35 μm or less. 該金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, wherein the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the plastic film side of the resin sheet with the metal foil is 5 or less per cm2 . 支持基材付き金属箔における金属箔の厚さが5μm以下である、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, wherein the thickness of the metal foil with the supporting substrate is 5 μm or less. 支持基材付き金属箔における支持基材がプラスチックフィルム又はキャリア金属箔である、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, wherein the support substrate in the metal foil with a support substrate is a plastic film or a carrier metal foil. 樹脂組成物層が、該樹脂組成物層の不揮発成分を100質量%としたとき、無機充填材を40質量%以上含有する、請求項1に記載の方法。 The method according to claim 1, wherein the resin composition layer contains 40% by mass or more of an inorganic filler when the non-volatile components of the resin composition layer are taken as 100% by mass. 第1及び第2の主面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1の主面と金属箔側で接合している支持基材付き金属箔と、該樹脂組成物層の第2の主面と接合しているプラスチックフィルムとを含む金属箔付き樹脂シートであって、
該金属箔付き樹脂シートの支持基材付き金属箔側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、金属箔付き樹脂シート。
A resin sheet with a metal foil, comprising: a resin composition layer having first and second main surfaces; a metal foil with a support substrate bonded to the first main surface of the resin composition layer on the metal foil side; and a plastic film bonded to the second main surface of the resin composition layer,
A resin sheet with a metal foil, in which the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more is 5 or less per cm2 on the surface of the resin sheet with a metal foil on the supporting substrate side.
該金属箔付き樹脂シートのプラスチックフィルム側の表面における、最大径0.8μm以上かつ最大高低差0.7μm以上の凹部又は凸部が5個/cm以下である、請求項9に記載の金属箔付き樹脂シート。 10. The resin sheet with a metal foil according to claim 9, wherein the number of concave or convex parts having a maximum diameter of 0.8 μm or more and a maximum height difference of 0.7 μm or more on the surface of the resin sheet with the metal foil on the plastic film side is 5 or less per cm 2 .
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