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JP7603853B2 - Circuit board dividing jig - Google Patents
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Description

本開示は、基板分割治具に関する。 This disclosure relates to a substrate dividing jig.

特開昭63-191599号公報(特許文献1)には、基板分割用装置が記載されている。特許文献1に記載の基板分割用装置は、基台とスライド板とを有している。基台は、垂直壁部を有している。スライド板は、垂直壁部と対向するように、基台上に配置されている。垂直壁部とスライド板との間には、プリント基板が挟持される。 JP 63-191599 A (Patent Document 1) describes a substrate dividing device. The substrate dividing device described in Patent Document 1 has a base and a slide plate. The base has a vertical wall. The slide plate is arranged on the base so as to face the vertical wall. A printed circuit board is sandwiched between the vertical wall and the slide plate.

プリント基板には、複数の回路基板が含まれている。隣り合う回路基板の間には、V溝が形成されている。V溝の延在方向は、垂直壁部の上端及びスライド板の上端に沿っている。垂直壁部とスライド板との間に挟持されていないプリント基板の部分を倒すことにより、プリント基板は、V溝に沿って分割される。 The printed circuit board includes multiple circuit boards. A V-groove is formed between adjacent circuit boards. The V-groove extends along the upper end of the vertical wall portion and the upper end of the sliding plate. By tilting the portion of the printed circuit board that is not clamped between the vertical wall portion and the sliding plate, the printed circuit board is divided along the V-groove.

特開昭63-191599号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 191599/1983

しかしながら、特許文献1に記載の基板分割用装置を用いてプリント基板の分割を行う際、プリント基板の支持が不十分であるため、プリント基板に大きなひずみが加わり、プリント基板又はプリント基板に搭載されている部品が損傷してしまうことがある。However, when dividing a printed circuit board using the board dividing device described in Patent Document 1, the printed circuit board is not supported sufficiently, so a large strain is applied to the printed circuit board, which may result in damage to the printed circuit board or the components mounted on the printed circuit board.

本開示は、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされたものである。より具体的には、本開示は、分割時における基板又は基板に搭載されている部品の損傷を抑制可能な基板分割治具を提供するものである。This disclosure has been made in consideration of the problems of the conventional technology as described above. More specifically, this disclosure provides a substrate dividing tool that can suppress damage to the substrate or components mounted on the substrate during division.

本開示の基板分割治具は、第1分割線を有する基板を分割するための治具である。基板分割治具は、第1方向において隣り合って配置されている第1ベースプレート及び第2ベースプレートを有するベースプレートユニットと、第1基板押えユニット及び第2基板押えユニットとを備える。第1ベースプレートと第2ベースプレートとの境界である第1境界は、第1方向に直交する第2方向に沿っている。第1ベースプレートは、第1面と、第1面の反対面である第2面とを含む。第2ベースプレートは、第3面と、第3面の反対面である第4面とを含む。第1面上及び第3面上には、第1分割線が第1境界と対向するように基板が配置されている。第1ベースプレートは、第2方向に沿う第1回転軸回りに回転可能に第2ベースプレートに連結されている。第1基板押えユニット及び第2基板押えユニットは、それぞれ、第1面及び第3面との間に基板を挟持する。The substrate dividing jig of the present disclosure is a jig for dividing a substrate having a first dividing line. The substrate dividing jig includes a base plate unit having a first base plate and a second base plate arranged adjacent to each other in a first direction, and a first substrate holding unit and a second substrate holding unit. A first boundary between the first base plate and the second base plate is along a second direction perpendicular to the first direction. The first base plate includes a first surface and a second surface that is the opposite surface to the first surface. The second base plate includes a third surface and a fourth surface that is the opposite surface to the third surface. Substrates are arranged on the first surface and the third surface such that the first dividing line faces the first boundary. The first base plate is connected to the second base plate so as to be rotatable around a first rotation axis along the second direction. The first substrate holding unit and the second substrate holding unit respectively clamp the substrate between the first surface and the third surface.

本開示の基板分割治具によると、分割時における基板又は基板に搭載されている部品の損傷を抑制可能である。 The substrate dividing tool disclosed herein makes it possible to prevent damage to the substrate or components mounted on the substrate during division.

基板分割治具100の分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of the substrate dividing jig 100. ベースプレートユニット10の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of the base plate unit 10. 第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際のベースプレートユニット10の斜視図である。1 is a perspective view of the base plate unit 10 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12. FIG. 基板40の平面図である。FIG. 図4中のV-Vにおける断面図である。5 is a cross-sectional view taken along line VV in FIG. 4. 基板40が配置された状態のベースプレートユニット10の斜視図である。2 is a perspective view of the base plate unit 10 with a substrate 40 disposed thereon. FIG. 基板40が配置された状態の基板分割治具100の斜視図である。1 is a perspective view of the substrate dividing jig 100 with a substrate 40 placed thereon. FIG. 図7中のVIII-VIIIにおける断面図である。8 is a cross-sectional view taken along line VIII-VIII in FIG. 7. 基板40が配置された状態で第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際の基板分割治具100の斜視図である。1 is a perspective view of the substrate dividing jig 100 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12 with the substrate 40 placed thereon. FIG. 基板40が配置された状態で第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際の基板分割治具200の斜視図である。13 is a perspective view of the substrate dividing jig 200 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12 with the substrate 40 placed thereon. FIG. 第1部分11e及び第3部分12eを第2部分11f及び第4部分12fに対してそれぞれ回転させた際の基板分割治具200の斜視図である。13 is a perspective view of the substrate dividing jig 200 when the first portion 11e and the third portion 12e are rotated relative to the second portion 11f and the fourth portion 12f, respectively. FIG.

本開示の実施形態の詳細を、図面を参照しながら説明する。以下の図面では、同一又は相当する部分に同一の参照符号を付し、重複する説明は繰り返さないものとする。The details of the embodiments of the present disclosure will be described with reference to the drawings. In the following drawings, the same or corresponding parts are given the same reference symbols, and redundant explanations will not be repeated.

実施の形態1.
実施の形態1に係る基板分割治具を説明する。実施の形態1に係る基板分割治具を、基板分割治具100とする。
Embodiment 1.
A description will now be given of a substrate dividing jig according to the embodiment 1. The substrate dividing jig according to the embodiment 1 is designated as a substrate dividing jig 100.

(基板分割治具100の構成)
以下に、基板分割治具の構成を説明する。
(Configuration of substrate dividing jig 100)
The configuration of the substrate dividing jig will be described below.

図1は、基板分割治具100の分解斜視図である。図1に示されるように、基板分割治具100は、ベースプレートユニット10と、第1基板押えユニット20と、第2基板押えユニット30とを有している。 Figure 1 is an exploded perspective view of a substrate dividing jig 100. As shown in Figure 1, the substrate dividing jig 100 has a base plate unit 10, a first substrate holding unit 20, and a second substrate holding unit 30.

図2は、ベースプレートユニット10の斜視図である。図2に示されるように、ベースプレートユニット10は、第1ベースプレート11と、第2ベースプレート12とを有している。第1ベースプレート11及び第2ベースプレート12は、平板状の部材である。第1ベースプレート11及び第2ベースプレート12は、耐熱性材料により形成されている。第1ベースプレート11及び第2ベースプレート12は、例えば、フィラー及びガラス繊維を編み込んだガラス布を含侵した樹脂材料により形成されている。 Figure 2 is an oblique view of the base plate unit 10. As shown in Figure 2, the base plate unit 10 has a first base plate 11 and a second base plate 12. The first base plate 11 and the second base plate 12 are flat plate-shaped members. The first base plate 11 and the second base plate 12 are formed from a heat-resistant material. The first base plate 11 and the second base plate 12 are formed, for example, from a resin material impregnated with a glass cloth woven with a filler and glass fibers.

第1ベースプレート11及び第2ベースプレート12は、第1方向DR1において隣り合って配置されている。第1ベースプレート11と第2ベースプレート12との境界である第1境界13は、第2方向DR2に沿っている。第2方向DR2は、第1方向DR1に直交する方向である。第1方向DR1及び第2方向DR2に直交する方向を、第3方向DR3とする。 The first base plate 11 and the second base plate 12 are arranged adjacent to each other in the first direction DR1. The first boundary 13, which is the boundary between the first base plate 11 and the second base plate 12, is along the second direction DR2. The second direction DR2 is a direction perpendicular to the first direction DR1. The direction perpendicular to the first direction DR1 and the second direction DR2 is the third direction DR3.

第1ベースプレート11は、第1面11aと第2面11bとを有している。第1面11a及び第2面11bは、第3方向DR3における第1ベースプレート11の端面である。第2面11bは、第1面11aの反対面である。第2ベースプレート12は、第3面12aと第4面12bとを有している。第3面12a及び第4面12bは、第3方向DR3における第2ベースプレート12の端面である。第4面12bは、第3面12aの反対面である。 The first base plate 11 has a first surface 11a and a second surface 11b. The first surface 11a and the second surface 11b are end surfaces of the first base plate 11 in the third direction DR3. The second surface 11b is the opposite surface to the first surface 11a. The second base plate 12 has a third surface 12a and a fourth surface 12b. The third surface 12a and the fourth surface 12b are end surfaces of the second base plate 12 in the third direction DR3. The fourth surface 12b is the opposite surface to the third surface 12a.

第1面11aには、第1凹部11cが形成されている。第1面11aは、第1凹部11cにおいて、第2面11b側に窪んでいる。第1凹部11cは、例えば、第1面11aに対してポケット加工を行うことにより形成されている。第3面12aには、第2凹部12cが形成されている。第3面12aは、第2凹部12cにおいて、第4面12b側に窪んでいる。第2凹部12cは、例えば、第3面12aに対してポケット加工を行うことにより形成されている。平面視において、第1凹部11cの外形及び第2凹部12cの外形を合わせた形状は、矩形状である。A first recess 11c is formed in the first surface 11a. The first surface 11a is recessed toward the second surface 11b at the first recess 11c. The first recess 11c is formed, for example, by performing pocket machining on the first surface 11a. A second recess 12c is formed in the third surface 12a. The third surface 12a is recessed toward the fourth surface 12b at the second recess 12c. The second recess 12c is formed, for example, by performing pocket machining on the third surface 12a. In a plan view, the combined shape of the outer shape of the first recess 11c and the outer shape of the second recess 12c is rectangular.

第1凹部11cの底面には、複数の第3凹部11dが形成されている。第1凹部11cの底面は、第3凹部11dにおいて、第2面11b側に窪んでいる。第3凹部11dは、例えば、第1凹部11cの底面に対して座ぐり加工を行うことにより形成されている。第2凹部12cの底面には、複数の第4凹部12dが形成されている。第4凹部12dの底面は、第4凹部12dにおいて、第4面12b側に窪んでいる。第4凹部12dは、第2凹部12cの底面に対して座ぐり加工を行うことにより形成されている。A plurality of third recesses 11d are formed in the bottom surface of the first recess 11c. The bottom surface of the first recess 11c is recessed toward the second surface 11b at the third recess 11d. The third recess 11d is formed, for example, by performing a countersinking process on the bottom surface of the first recess 11c. A plurality of fourth recesses 12d are formed in the bottom surface of the second recess 12c. The bottom surface of the fourth recess 12d is recessed toward the fourth surface 12b at the fourth recess 12d. The fourth recess 12d is formed by performing a countersinking process on the bottom surface of the second recess 12c.

図3は、第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際のベースプレートユニット10の斜視図である。図3に示されるように、第1ベースプレート11は、第2方向DR2に沿っている第1回転軸回りに回転可能に第2ベースプレート12に連結されている。第1ベースプレート11と第2ベースプレート12との連結は、例えば、蝶番14(図2参照)により行われている。 Figure 3 is an oblique view of the base plate unit 10 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12. As shown in Figure 3, the first base plate 11 is connected to the second base plate 12 so as to be rotatable about a first rotation axis along the second direction DR2. The first base plate 11 and the second base plate 12 are connected, for example, by a hinge 14 (see Figure 2).

図2に示されるように、ベースプレートユニット10は、さらに、複数の押え具15を有している。押え具15は、第1凹部11cの周囲にある第1面11aの部分上及び第2凹部12cの周囲にある第3面12aの部分上に取り付けられている。押え具15は、第3方向DR3に沿う回転軸回りに回転可能になっている。押え具15は、押え板15aを有している。押え具15を第3方向DR3に沿う回転軸回りに回転させることにより、押え板15aを第1凹部11cの底面の上方又は第2凹部12cの底面の上方に位置させることができる。As shown in FIG. 2, the base plate unit 10 further has a plurality of clamps 15. The clamps 15 are attached to a portion of the first surface 11a around the first recess 11c and to a portion of the third surface 12a around the second recess 12c. The clamps 15 are rotatable about a rotation axis along the third direction DR3. The clamps 15 have a clamp plate 15a. By rotating the clamps 15 about a rotation axis along the third direction DR3, the clamp plate 15a can be positioned above the bottom surface of the first recess 11c or above the bottom surface of the second recess 12c.

図1に示されるように、第1基板押えユニット20は、第1天板プレート21と、複数の第1ピン22とを有している。第1天板プレート21は、平板状の部材である。第1天板プレート21は、主面21aと主面21bとを有している。主面21a及び主面21bは、第1天板プレート21の厚さ方向における端面である。主面21bは、主面21aの反対面である。第1天板プレート21には、複数の貫通穴21cが形成されている。貫通穴21cは、第1天板プレート21を厚さ方向に沿って貫通している。複数の貫通穴21cの数は、複数の第1ピン22の数に等しい。平面視における貫通穴21cの形状は、例えば円形である。1, the first board holding unit 20 has a first top plate 21 and a plurality of first pins 22. The first top plate 21 is a flat member. The first top plate 21 has a main surface 21a and a main surface 21b. The main surface 21a and the main surface 21b are end surfaces in the thickness direction of the first top plate 21. The main surface 21b is the opposite surface to the main surface 21a. A plurality of through holes 21c are formed in the first top plate 21. The through holes 21c penetrate the first top plate 21 along the thickness direction. The number of the plurality of through holes 21c is equal to the number of the plurality of first pins 22. The shape of the through holes 21c in a plan view is, for example, circular.

第1ピン22の一方端側は、貫通穴21cに挿入されている。これにより、第1ピン22は、第1天板プレート21に取り付けられている。第1ピン22は、例えば、円柱状である。第1ピン22は、主面21bから突出している。第1ピン22の他方端と主面21bとの間の距離は、複数の第1ピン22に関して、一定になっている。隣り合う2つの第1ピン22の間の距離は、30mm以下であることが好ましい。One end of the first pin 22 is inserted into the through hole 21c. This allows the first pin 22 to be attached to the first top plate 21. The first pin 22 is, for example, cylindrical. The first pin 22 protrudes from the main surface 21b. The distance between the other end of the first pin 22 and the main surface 21b is constant for each of the multiple first pins 22. It is preferable that the distance between two adjacent first pins 22 is 30 mm or less.

第2基板押えユニット30は、第2天板プレート31と、複数の第2ピン32とを有している。第2天板プレート31は、平板状の部材である。第2天板プレート31は、主面31aと主面31bとを有している。主面31a及び主面31bは、第2天板プレート31の厚さ方向における端面である。主面31bは、主面31aの反対面である。第2天板プレート31には、複数の貫通穴31cが形成されている。貫通穴31cは、第2天板プレート31を厚さ方向に沿って貫通している。複数の貫通穴31cの数は、複数の第2ピン32の数に等しい。平面視における貫通穴31cの形状は、例えば円形である。The second board holding unit 30 has a second top plate 31 and a plurality of second pins 32. The second top plate 31 is a flat member. The second top plate 31 has a main surface 31a and a main surface 31b. The main surface 31a and the main surface 31b are end surfaces in the thickness direction of the second top plate 31. The main surface 31b is the opposite surface to the main surface 31a. A plurality of through holes 31c are formed in the second top plate 31. The through holes 31c penetrate the second top plate 31 along the thickness direction. The number of the plurality of through holes 31c is equal to the number of the plurality of second pins 32. The shape of the through holes 31c in a plan view is, for example, circular.

第2ピン32の一方端側は、貫通穴31cに挿入されている。これにより、第2ピン32は、第2天板プレート31に取り付けられている。第2ピン32は、例えば、円柱状である。第2ピン32は、主面31bから突出している。第2ピン32の他方端と主面31bとの間の距離は、複数の第2ピン32に関して、一定になっている。隣り合う2つの第2ピン32の間の距離は、30mm以下であることが好ましい。One end of the second pin 32 is inserted into the through hole 31c. This allows the second pin 32 to be attached to the second top plate 31. The second pin 32 is, for example, cylindrical. The second pin 32 protrudes from the main surface 31b. The distance between the other end of the second pin 32 and the main surface 31b is constant for each of the multiple second pins 32. It is preferable that the distance between two adjacent second pins 32 is 30 mm or less.

第1天板プレート21及び第2天板プレート31は、例えば、金属材料により形成されている。金属材料の具体例としては、例えば、ステンレス鋼等の鉄合金、銅合金、アルミニウム合金である。但し、第1天板プレート21及び第2天板プレート31は、金属材料以外により形成されていてもよい。第1天板プレート21及び第2天板プレート31は、例えば、強化ガラス又は金属フィラーを含侵した樹脂材料により形成されていてもよい。すなわち、第1天板プレート21及び第2天板プレート31は、剛性のある材料により形成されていればよい。第1ピン22及び第2ピン32は、例えば、エポキシ樹脂等の樹脂材料により形成されている。 The first top plate 21 and the second top plate 31 are formed, for example, from a metal material. Specific examples of metal materials include iron alloys such as stainless steel, copper alloys, and aluminum alloys. However, the first top plate 21 and the second top plate 31 may be formed from a material other than a metal. The first top plate 21 and the second top plate 31 may be formed, for example, from reinforced glass or a resin material impregnated with a metal filler. In other words, it is sufficient that the first top plate 21 and the second top plate 31 are formed from a rigid material. The first pin 22 and the second pin 32 are formed, for example, from a resin material such as an epoxy resin.

図4は、基板40の平面図である。図5は、図4中のV-Vにおける断面図である。図4及び図5に示されるように、基板40には、複数の基板41が含まれている。図4及び図5に示される例では、基板40には、2つの基板41が含まれている。これら2つの基板41を、それぞれ、基板41a及び基板41bとすることがある。基板40は、主面40aと主面40bとを有している。主面40a及び主面40bは、基板40の厚さ方向における端面である。主面40bは、主面40aの反対面である。 Figure 4 is a plan view of substrate 40. Figure 5 is a cross-sectional view taken along line V-V in Figure 4. As shown in Figures 4 and 5, substrate 40 includes a plurality of substrates 41. In the example shown in Figures 4 and 5, substrate 40 includes two substrates 41. These two substrates 41 may be referred to as substrate 41a and substrate 41b, respectively. Substrate 40 has main surface 40a and main surface 40b. Main surface 40a and main surface 40b are end surfaces in the thickness direction of substrate 40. Main surface 40b is the opposite surface to main surface 40a.

基板40には、第1分割線42が形成されている。第1分割線42は、溝42aと溝42bとにより構成されている。溝42a及び溝42bは、それぞれ、主面40a及び主面40bに形成されている。溝42a及び溝42bは、断面視においてV字状であり、基板40の厚さ方向において対向している。溝42a及び溝42bは、例えば、互いに対向する一対の刃部を有する分割機スライサにより形成される。但し、第1分割線42は、これに限られない。第1分割線42は、例えば、ルータにより形成されたミシン目であってもよい。A first dividing line 42 is formed on the substrate 40. The first dividing line 42 is composed of a groove 42a and a groove 42b. The grooves 42a and 42b are formed on the main surface 40a and the main surface 40b, respectively. The grooves 42a and 42b are V-shaped in cross section and face each other in the thickness direction of the substrate 40. The grooves 42a and 42b are formed, for example, by a dividing machine slicer having a pair of blades facing each other. However, the first dividing line 42 is not limited to this. The first dividing line 42 may be, for example, a perforation formed by a router.

基板40は、基材43と、導体パターン44及び導体パターン45と、ソルダレジスト46及びソルダレジスト47とを有している。The substrate 40 has a base material 43, conductor patterns 44 and 45, and solder resist 46 and solder resist 47.

基材43は、例えば、難燃性エポキシ樹脂を含侵させたガラス布の芯材と当該芯材の両主面上に配置されており、かつエポキシ樹脂を含侵させたガラス布により形成されている補強層とを有する積層板であるCEM-3基材である。但し、基材43は、これに限られるものではない。基材43は、例えば、エポキシ樹脂を含侵させたガラス布であるFR-4基材、絶縁紙にフェノール樹脂を浸透させた紙フェノール基材であってもよい。基材43は、主面43aと主面43bとを有している。主面43a及び主面43bは、基材43の厚さ方向における端面である。主面43a及び主面43bは、それぞれ、主面40a側及び主面40b側にある。主面43bは、主面43aの反対面である。 The substrate 43 is, for example, a CEM-3 substrate, which is a laminate having a core material of glass cloth impregnated with a flame-retardant epoxy resin and a reinforcing layer formed of glass cloth impregnated with epoxy resin, which is arranged on both main surfaces of the core material. However, the substrate 43 is not limited to this. The substrate 43 may be, for example, an FR-4 substrate, which is a glass cloth impregnated with epoxy resin, or a paper phenol substrate, which is insulating paper impregnated with phenol resin. The substrate 43 has a main surface 43a and a main surface 43b. The main surface 43a and the main surface 43b are end surfaces in the thickness direction of the substrate 43. The main surface 43a and the main surface 43b are on the main surface 40a side and the main surface 40b side, respectively. The main surface 43b is the opposite surface to the main surface 43a.

導体パターン44及び導体パターン45は、それぞれ、主面43a上及び主面43b上に配置されている。導体パターン44及び導体パターン45は、例えば、銅箔をエッチングでパターンニングすることにより形成されている。ソルダレジスト46は、導体パターン44を覆うように、主面43a上に配置されている。但し、ソルダレジスト46には、導体パターン44の電極パッドを露出させる開口が形成されている。ソルダレジスト47は、導体パターン45を覆うように、主面43b上に配置されている。但し、ソルダレジスト47には、導体パターン45の電極パッドを露出させる開口が形成されている。The conductor patterns 44 and 45 are arranged on the main surface 43a and the main surface 43b, respectively. The conductor patterns 44 and 45 are formed, for example, by patterning copper foil by etching. The solder resist 46 is arranged on the main surface 43a so as to cover the conductor pattern 44. However, the solder resist 46 has an opening formed therein that exposes the electrode pads of the conductor pattern 44. The solder resist 47 is arranged on the main surface 43b so as to cover the conductor pattern 45. However, the solder resist 47 has an opening formed therein that exposes the electrode pads of the conductor pattern 45.

基板40には、複数の部品50が搭載されている。部品50は、例えば、セラミックコンデンサ51、半導体パッケージ52である。但し、部品50は、これらに限られるものではない。複数の部品50のうちの一部は、接合部53により、導体パターン44の電極パッドに接合されている。複数の部品50の残部は、接合部53により、導体パターン45の電極パッドに接合されている。接合部53は、例えば、はんだ合金により形成されている。はんだ合金は、例えば、Sn(スズ)-3.0Ag(銀)-0.5Cu(銅)はんだ合金、Sn-Ag系はんだ合金、Sn-Cu系はんだ合金、Sn-Zn(亜鉛)系はんだ合金、Sn-Sb(アンチモン)系合金である。接合部53は、例えば、フロー法又はリフロー法により形成されている。 A plurality of components 50 are mounted on the substrate 40. The components 50 are, for example, ceramic capacitors 51 and semiconductor packages 52. However, the components 50 are not limited to these. Some of the plurality of components 50 are joined to the electrode pads of the conductor pattern 44 by joints 53. The remaining portions of the plurality of components 50 are joined to the electrode pads of the conductor pattern 45 by joints 53. The joints 53 are formed of, for example, a solder alloy. The solder alloy is, for example, a Sn (tin)-3.0Ag (silver)-0.5Cu (copper) solder alloy, a Sn-Ag solder alloy, a Sn-Cu solder alloy, a Sn-Zn (zinc) solder alloy, or a Sn-Sb (antimony) alloy. The joints 53 are formed by, for example, a flow method or a reflow method.

なお、基板41aにある導体パターン44の電極パッドに接合されている部品50及び基板41bにある導体パターン44の電極パッドに接合されている部品50を、それぞれ部品50a及び部品50bとすることがある。 Note that the component 50 joined to the electrode pad of the conductor pattern 44 on the substrate 41a and the component 50 joined to the electrode pad of the conductor pattern 44 on the substrate 41b may be referred to as component 50a and component 50b, respectively.

図6は、基板40が配置された状態のベースプレートユニット10の斜視図である。図7は、基板40が配置された状態の基板分割治具100の斜視図である。図8は、図7中のVIII-VIIIにおける断面図である。図6、図7及び図8に示されるように、基板40は、第1面11a上及び第3面12a上に配置される。より具体的には、基板40は、第1凹部11c及び第2凹部12c内に配置される。主面40aは、第1凹部11cの底面及び第2凹部12cの底面に対向している。 Figure 6 is an oblique view of the base plate unit 10 with a substrate 40 arranged thereon. Figure 7 is an oblique view of the substrate dividing jig 100 with a substrate 40 arranged thereon. Figure 8 is a cross-sectional view taken along line VIII-VIII in Figure 7. As shown in Figures 6, 7 and 8, the substrate 40 is arranged on the first surface 11a and the third surface 12a. More specifically, the substrate 40 is arranged in the first recess 11c and the second recess 12c. The main surface 40a faces the bottom surface of the first recess 11c and the bottom surface of the second recess 12c.

部品50a及び部品50bは、それぞれ、第3凹部11d内及び第4凹部12d内に配置されている。基板40が第1面11a上及び第3面12a上に配置された状態で、第1境界13は、第1分割線42と対向している。The components 50a and 50b are disposed in the third recess 11d and the fourth recess 12d, respectively. When the substrate 40 is disposed on the first surface 11a and the third surface 12a, the first boundary 13 faces the first dividing line 42.

第1基板押えユニット20は、第1面11aとの間で基板40を挟持するように配置される。より具体的には、複数の第1ピン22は、第1凹部11cの底面との間で基板40を挟持している。但し、複数の第1ピン22は、好ましくは、第3凹部11dが形成されていない第1凹部11cの底面との間で基板40を挟持している。第2基板押えユニット30は、第3面12aとの間で基板40を挟持するように配置される。より具体的には、複数の第2ピン32は、第2凹部12cの底面との間で基板40を挟持している。但し、複数の第2ピン32は、好ましくは、第4凹部12dが形成されていない第2凹部12cの底面との間で基板40を挟持している。The first board holding unit 20 is arranged to sandwich the board 40 between the first surface 11a. More specifically, the multiple first pins 22 sandwich the board 40 between the bottom surface of the first recess 11c. However, the multiple first pins 22 preferably sandwich the board 40 between the bottom surface of the first recess 11c where the third recess 11d is not formed. The second board holding unit 30 is arranged to sandwich the board 40 between the third surface 12a. More specifically, the multiple second pins 32 sandwich the board 40 between the bottom surface of the second recess 12c. However, the multiple second pins 32 preferably sandwich the board 40 between the bottom surface of the second recess 12c where the fourth recess 12d is not formed.

(基板分割治具100を用いた基板40の分割方法)
以下に、基板分割治具100を用いた基板40の分割方法を説明する。
(Method of dividing substrate 40 using substrate dividing jig 100)
A method for dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100 will be described below.

基板分割治具100を用いた基板40の分割方法では、第1に、基板分割治具100及び基板40が準備される。第2に、押え板15aが第1凹部11cの底面の上方及び第2凹部12cの底面の上方に位置しないように押え具15を回転させた状態で、基板40が第1凹部11cの底面及び第2凹部12c上に配置される。第3に、押え板15aが第1凹部11cの底面の上方及び第2凹部12cの底面の上方に位置するように押え具15を回転させることにより、基板40がベースプレートユニット10に固定される。In the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100, first, the substrate dividing jig 100 and the substrate 40 are prepared. Second, the substrate 40 is placed on the bottom surface of the first recess 11c and the second recess 12c in a state in which the pressing tool 15 is rotated so that the pressing plate 15a is not positioned above the bottom surface of the first recess 11c and above the bottom surface of the second recess 12c. Third, the substrate 40 is fixed to the base plate unit 10 by rotating the pressing tool 15 so that the pressing plate 15a is positioned above the bottom surface of the first recess 11c and above the bottom surface of the second recess 12c.

基板分割治具100を用いた基板40の分割方法では、第4に、第1凹部11cの底面との間で基板40を挟持するように第1基板押えユニット20が配置されるとともに、第2凹部12cの底面との間で基板40を挟持するように第2基板押えユニット30が配置される。Fourthly, in the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100, a first substrate holding unit 20 is positioned so as to clamp the substrate 40 between the bottom surface of the first recess 11c, and a second substrate holding unit 30 is positioned so as to clamp the substrate 40 between the bottom surface of the second recess 12c.

図9は、基板40が配置された状態で第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際の基板分割治具100の斜視図である。図9に示されるように、基板分割治具100を用いた基板40の分割方法では、第5に、ベースプレートユニット10、第1基板押えユニット20及び第2基板押えユニット30を把持した状態で、第2面11bが第4面12bに近づくように(すなわち、ベースプレートユニット10が山折りになるように)、第1ベースプレート11が第1回転軸回りに第2ベースプレート12に対して回転される。これにより、基板40が第1分割線42に沿って分割され、複数の基板41が得られることになる。9 is a perspective view of the substrate dividing jig 100 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12 with the substrate 40 placed thereon. As shown in FIG. 9, in the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100, the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12 about the first rotation axis while holding the base plate unit 10, the first substrate holding unit 20, and the second substrate holding unit 30, so that the second surface 11b approaches the fourth surface 12b (i.e., the base plate unit 10 is folded in a mountain shape). This divides the substrate 40 along the first dividing line 42, and a plurality of substrates 41 are obtained.

(基板分割治具100の効果)
以下に、基板分割治具100の効果を説明する。
(Effects of the substrate dividing jig 100)
The effects of the substrate dividing jig 100 will be described below.

基板40の分割を行う際に基板41aとなる基板40の部分及び基板41bとなる基板40の部分に局所的なひずみが加わると、基板41a、基板41b及びこれらに搭載されている部品50に損傷が生じることがある。このような損傷は、部品50が脆いセラミックを積層して形成されるセラミックコンデンサ51である場合に、特に生じやすい。When dividing the substrate 40, if localized strain is applied to the portion of the substrate 40 that will become substrate 41a and the portion of the substrate 40 that will become substrate 41b, damage may occur to the substrates 41a and 41b and the components 50 mounted thereon. Such damage is particularly likely to occur when the components 50 are ceramic capacitors 51 formed by laminating brittle ceramics.

基板分割治具100を用いて基板40の分割を行う際、基板41aとなる基板40の部分が第1面11aと第1基板押えユニット20とにより挟持されるとともに、基板41bとなる基板40の部分が第2面11bと第2基板押えユニット30とにより挟持されるため、基板分割治具100を用いて基板40の分割を行うに際して基板40の全体が十分に支持されることにより、基板41aとなる基板40の部分及び基板41bとなる基板40の部分に局所的なひずみが加わりにくい。そのため、基板分割治具100によると、基板41a、基板41b及びこれらに搭載されている部品50に損傷が生じることを抑制可能である。When dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100, the portion of the substrate 40 that will become substrate 41a is clamped between the first surface 11a and the first substrate holding unit 20, and the portion of the substrate 40 that will become substrate 41b is clamped between the second surface 11b and the second substrate holding unit 30. Therefore, when dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 100, the entire substrate 40 is sufficiently supported, and localized strain is unlikely to be applied to the portion of the substrate 40 that will become substrate 41a and the portion of the substrate 40 that will become substrate 41b. Therefore, the substrate dividing jig 100 can prevent damage to the substrates 41a, 41b, and the components 50 mounted thereon.

第1面11a及び第3面12aに第1凹部11c及び第2凹部12cがそれぞれ形成されている場合、第1凹部11cの底面及び第2凹部12cの底面上に基板40を配置することにより、基板40の位置決めを容易に行うことが可能である。第1凹部11cの底面及び第2凹部12cの底面にそれぞれ第3凹部11d及び第4凹部12dが形成されている場合、部品50aと第1ベースプレート11との干渉及び部品50bと第2ベースプレート12との干渉を回避することが可能である。When the first recess 11c and the second recess 12c are formed on the first surface 11a and the third surface 12a, respectively, the substrate 40 can be easily positioned by placing the substrate 40 on the bottom surface of the first recess 11c and the bottom surface of the second recess 12c. When the third recess 11d and the fourth recess 12d are formed on the bottom surface of the first recess 11c and the bottom surface of the second recess 12c, respectively, interference between the component 50a and the first base plate 11 and interference between the component 50b and the second base plate 12 can be avoided.

複数の第1ピン22が第3凹部11dの形成されていない第1凹部11cの底面との間で基板40を挟持するように配置されているとともに、複数の第2ピン32が第4凹部12dの形成されていない第2凹部12cの底面との間で基板40を挟持するように配置されている場合には、主面40aが第1ベースプレート11により支持されていない基板40の部分を第1ピン22で押えてしまうことが回避されるとともに、主面40aが第2ベースプレート12により支持されていない部分を第2ピン32で押えてしまうことが回避される。そのため、この場合には、基板41aとなる基板40の部分及び基板41bとなる基板40の部分に局所的なひずみがさらに加わりにくくなり、基板41a、基板41b及びこれらに搭載されている部品50に損傷が生じることをさらに抑制可能である。When the first pins 22 are arranged to sandwich the substrate 40 between the bottom surface of the first recess 11c where the third recess 11d is not formed, and the second pins 32 are arranged to sandwich the substrate 40 between the bottom surface of the second recess 12c where the fourth recess 12d is not formed, the first pins 22 are prevented from pressing the portion of the substrate 40 where the main surface 40a is not supported by the first base plate 11, and the second pins 32 are prevented from pressing the portion of the substrate 40 where the main surface 40a is not supported by the second base plate 12. Therefore, in this case, local strain is further reduced in the portion of the substrate 40 that becomes the substrate 41a and the portion of the substrate 40 that becomes the substrate 41b, and damage to the substrate 41a, the substrate 41b, and the components 50 mounted thereon can be further suppressed.

(変形例)
第1基板押えユニット20は第1ピン22を有していなくてもよく、第2基板押えユニット30は第2ピン32を有していなくてもよい。この場合、基板40のサイズ及び第1分割線42の位置が共通していれば、基板40のその他の点が異なっていても、基板分割治具100を変更することなく用いることができる。また、この場合、基板40上における部品50の位置の自由度が向上するため、基板40の設計上の制約が少なくなる。
(Modification)
The first board holding unit 20 may not have the first pin 22, and the second board holding unit 30 may not have the second pin 32. In this case, as long as the size of the board 40 and the position of the first dividing line 42 are the same, the board dividing tool 100 can be used without modification even if other points of the board 40 are different. Also, in this case, the degree of freedom of the position of the component 50 on the board 40 is improved, so that the design constraints of the board 40 are reduced.

実施の形態2.
実施の形態2に係る基板分割治具を説明する。実施の形態1に係る基板分割治具を、基板分割治具200とする。ここでは、基板分割治具100と異なる点を主に説明し、重複する説明は繰り返さないものとする。
Embodiment 2.
A substrate dividing jig according to embodiment 2 will be described. The substrate dividing jig according to embodiment 1 is designated as substrate dividing jig 200. Here, differences from substrate dividing jig 100 will be mainly described, and overlapping descriptions will not be repeated.

(基板分割治具200の構成)
以下に、基板分割治具200の構成を説明する。
(Configuration of substrate dividing jig 200)
The configuration of the substrate dividing jig 200 will be described below.

図10は、基板40が配置された状態で第1ベースプレート11を第2ベースプレート12に対して回転させた際の基板分割治具200の斜視図である。図11は、第1部分11e及び第3部分12eを第2部分11f及び第4部分12fに対してそれぞれ回転させた際の基板分割治具200の斜視図である。図10及び図11に示されるように、基板分割治具200は、ベースプレートユニット10と、第1基板押えユニット20と、第2基板押えユニット30とを有している。この点に関して、基板分割治具200の構成は、基板分割治具100の構成と共通している。 Figure 10 is an oblique view of the substrate dividing jig 200 when the first base plate 11 is rotated relative to the second base plate 12 with the substrate 40 placed thereon. Figure 11 is an oblique view of the substrate dividing jig 200 when the first portion 11e and the third portion 12e are rotated relative to the second portion 11f and the fourth portion 12f, respectively. As shown in Figures 10 and 11, the substrate dividing jig 200 has a base plate unit 10, a first substrate holding unit 20, and a second substrate holding unit 30. In this regard, the configuration of the substrate dividing jig 200 is common to the configuration of the substrate dividing jig 100.

基板分割治具200では、第1ベースプレート11が第1部分11e及び第2部分11fを有しており、第2ベースプレート12が第3部分12e及び第4部分12fを有している。第1部分11e及び第3部分12eは、第1方向DR1において隣り合って配置されている。第2部分11f及び第4部分12fは、第1方向DR1において隣り合って配置されている。In the substrate dividing jig 200, the first base plate 11 has a first portion 11e and a second portion 11f, and the second base plate 12 has a third portion 12e and a fourth portion 12f. The first portion 11e and the third portion 12e are arranged adjacent to each other in the first direction DR1. The second portion 11f and the fourth portion 12f are arranged adjacent to each other in the first direction DR1.

第1部分11eと第2部分11fとの境界である第2境界16は、第1方向DR1に沿っている。第3部分12eと第4部分12fとの境界である第3境界17は、第1方向DR1に沿っており、かつ第2境界16の延長線上にある。第1部分11eは、例えば蝶番(図示せず)により、第1方向DR1に沿う第2回転軸回りに回転可能に第2部分11fに連結されている。第3部分12eは、例えば蝶番(図示せず)により、第2回転軸回りに回転可能に第4部分12fに連結されている。 The second boundary 16, which is the boundary between the first portion 11e and the second portion 11f, is along the first direction DR1. The third boundary 17, which is the boundary between the third portion 12e and the fourth portion 12f, is along the first direction DR1 and is an extension of the second boundary 16. The first portion 11e is connected to the second portion 11f by, for example, a hinge (not shown) so as to be rotatable about a second rotation axis along the first direction DR1. The third portion 12e is connected to the fourth portion 12f by, for example, a hinge (not shown) so as to be rotatable about the second rotation axis.

基板40には、第1分割線42に直交する第2分割線48が形成されている。第2分割線48は、例えば、主面40aに形成されている溝及び主面40bに形成されている溝により構成されている。これらの溝は、断面視においてV字状であり、基板40の厚さ方向において対向している。基板40は、第2分割線48が第2境界16及び第3境界17に対向するように配置されている。図10及び図11に示される例では、基板40に4つの基板41が含まれている。これら4つの基板を、基板41c、基板41d、基板41e及び基板41fとすることがある。 The substrate 40 has a second dividing line 48 formed thereon, which is perpendicular to the first dividing line 42. The second dividing line 48 is, for example, formed by a groove formed on the main surface 40a and a groove formed on the main surface 40b. These grooves are V-shaped in cross section and face each other in the thickness direction of the substrate 40. The substrate 40 is arranged so that the second dividing line 48 faces the second boundary 16 and the third boundary 17. In the example shown in Figures 10 and 11, the substrate 40 includes four substrates 41. These four substrates may be referred to as substrate 41c, substrate 41d, substrate 41e, and substrate 41f.

基板分割治具200は、第3基板押えユニット60をさらに有していてもよい。第3基板押えユニット60は、第3天板プレート61と、複数の第3ピン32とを有している。第3天板プレート61は、平板状の部材である。第3天板プレート61は、主面61aと主面61bとを有している。主面61a及び主面61bは、第3天板プレート61の厚さ方向における端面である。主面61bは、主面61aの反対面である。第3天板プレート61には、複数の貫通穴61cが形成されている。貫通穴61cは、第3天板プレート61を厚さ方向に沿って貫通している。複数の貫通穴61cの数は、複数の第3ピン62の数に等しい。平面視における貫通穴61cの形状は、例えば円形である。The substrate dividing jig 200 may further include a third substrate holding unit 60. The third substrate holding unit 60 includes a third top plate 61 and a plurality of third pins 32. The third top plate 61 is a flat member. The third top plate 61 has a main surface 61a and a main surface 61b. The main surface 61a and the main surface 61b are end surfaces in the thickness direction of the third top plate 61. The main surface 61b is the opposite surface to the main surface 61a. A plurality of through holes 61c are formed in the third top plate 61. The through holes 61c penetrate the third top plate 61 along the thickness direction. The number of the plurality of through holes 61c is equal to the number of the plurality of third pins 62. The shape of the through holes 61c in a plan view is, for example, circular.

第3ピン62の一方端側は、貫通穴61cに挿入されている。これにより、第3ピン62は、第3天板プレート61に取り付けられている。第3ピン62は、例えば、円柱状である。第3ピン62は、主面61bから突出している。第3ピン62の他方端と主面61bとの間の距離は、複数の第3ピン62に関して、一定になっている。One end of the third pin 62 is inserted into the through hole 61c. This allows the third pin 62 to be attached to the third top plate 61. The third pin 62 is, for example, cylindrical. The third pin 62 protrudes from the main surface 61b. The distance between the other end of the third pin 62 and the main surface 61b is constant for each of the multiple third pins 62.

第3天板プレート61は、例えば、金属材料により形成されている。金属材料の具体例としては、例えばステンレス鋼等の鉄合金、銅合金、アルミニウム合金である。但し、第3天板プレート61は、金属材料以外により形成されていてもよい。第3天板プレート61は、例えば強化ガラス又は金属フィラーを含侵した樹脂材料により形成されていてもよい。すなわち、第3天板プレート61は、剛性のある材料により形成されていればよい。第3ピン62は、例えば、エポキシ樹脂等の樹脂材料により形成されている。これらの点に関して、基板分割治具200の構成は、基板分割治具100の構成と異なっている。 The third top plate 61 is formed, for example, from a metal material. Specific examples of metal materials include iron alloys such as stainless steel, copper alloys, and aluminum alloys. However, the third top plate 61 may be formed from a material other than a metal. The third top plate 61 may be formed, for example, from reinforced glass or a resin material impregnated with a metal filler. In other words, it is sufficient that the third top plate 61 is formed from a rigid material. The third pin 62 is formed, for example, from a resin material such as epoxy resin. In these respects, the configuration of the substrate dividing jig 200 differs from the configuration of the substrate dividing jig 100.

(基板分割治具200を用いた基板40の分割方法)
以下に、基板分割治具200を用いた基板40の分割方法を説明する。
(Method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 200)
A method for dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 200 will be described below.

基板分割治具200を用いた基板40の分割方法では、第1に、基板分割治具200及び基板40が準備される。第2に、押え板15aが第1凹部11cの底面の上方及び第2凹部12cの底面の上方に位置しないように押え具15を回転させた状態で、基板40が第1凹部11cの底面及び第2凹部12c上に配置される。第3に、押え板15aが第1凹部11cの底面の上方及び第2凹部12cの底面の上方に位置するように押え具15を回転させることにより、基板40がベースプレートユニット10に固定される。In the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 200, first, the substrate dividing jig 200 and the substrate 40 are prepared. Second, the substrate 40 is placed on the bottom surface of the first recess 11c and the second recess 12c in a state in which the pressing tool 15 is rotated so that the pressing plate 15a is not located above the bottom surface of the first recess 11c and above the bottom surface of the second recess 12c. Third, the substrate 40 is fixed to the base plate unit 10 by rotating the pressing tool 15 so that the pressing plate 15a is located above the bottom surface of the first recess 11c and above the bottom surface of the second recess 12c.

基板分割治具200を用いた基板40の分割方法では、第4に、第1凹部11cの底面との間で基板40を挟持するように第1基板押えユニット20が配置されるとともに、第2凹部12cの底面との間で基板40を挟持するように第2基板押えユニット30が配置される。基板分割治具200を用いた基板40の分割方法では、第5に、ベースプレートユニット10、第1基板押えユニット20及び第2基板押えユニット30を把持した状態で、第2面11bが第4面12bに近づく(すなわち、ベースプレートユニット10が山折りになる)ように、第1ベースプレート11が第1回転軸回りに第2ベースプレート12に対して回転される。これにより、基板40が第1分割線42に沿って分割され、基板41a及び基板41bが得られる。In the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing tool 200, the first substrate holding unit 20 is arranged so as to sandwich the substrate 40 between the bottom surface of the first recess 11c, and the second substrate holding unit 30 is arranged so as to sandwich the substrate 40 between the bottom surface of the second recess 12c. In the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing tool 200, the first base plate 11 is rotated around the first rotation axis relative to the second base plate 12 so that the second surface 11b approaches the fourth surface 12b (i.e., the base plate unit 10 is folded in a mountain shape) while holding the base plate unit 10, the first substrate holding unit 20, and the second substrate holding unit 30. As a result, the substrate 40 is divided along the first dividing line 42, and the substrate 41a and the substrate 41b are obtained.

基板分割治具200を用いた基板40の分割方法では、第6に、第1凹部11cの底面との間で基板41aを挟持するとともに、第2凹部12cの底面との間で基板41bを挟持するように第3基板押えユニット60が配置される。Sixthly, in the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 200, a third substrate holding unit 60 is positioned so as to clamp the substrate 41a between the bottom surface of the first recess 11c and the substrate 41b between the bottom surface of the second recess 12c.

基板分割治具200を用いた基板40の分割方法では、第7に、ベースプレートユニット10及び第3基板押えユニット60を把持した状態で、第1部分11eにある第2面11bが第2部分11fにある第2面11bに近づく(すなわち、第1ベースプレート11が山折りになる)ように第1部分11eが第2回転軸回りに第2部分11fに対して回転される。この際、第3部分12eは、第3部分12eにある第4面12bが第4部分12fにある第4面12bに近づく(すなわち、第2ベースプレート12が山折りになる)ように、第2回転軸回りに第4部分12fに対して回転される。これにより、基板41a及び基板41bが第2分割線48に沿って分割され、基板41c、基板41d、基板41e及び基板41fが得られることになる。 In the method of dividing the substrate 40 using the substrate dividing jig 200, in the seventh step, while holding the base plate unit 10 and the third substrate holding unit 60, the first portion 11e is rotated about the second rotation axis relative to the second portion 11f so that the second surface 11b of the first portion 11e approaches the second surface 11b of the second portion 11f (i.e., the first base plate 11 is folded in a mountain shape). At this time, the third portion 12e is rotated about the second rotation axis relative to the fourth portion 12f so that the fourth surface 12b of the third portion 12e approaches the fourth surface 12b of the fourth portion 12f (i.e., the second base plate 12 is folded in a mountain shape). As a result, the substrates 41a and 41b are divided along the second dividing line 48, and the substrates 41c, 41d, 41e, and 41f are obtained.

(基板分割治具200の効果)
以下に、基板分割治具200の効果を説明する。
(Effects of the substrate dividing jig 200)
The effects of the substrate dividing jig 200 will be described below.

基板分割治具200を用いると、基板40を基板分割治具200に一度セットすることにより基板40に対する複数回の分割工程を行うことができるため、効率的に基板40の分割を行うことができる。By using the substrate dividing jig 200, the substrate 40 can be divided efficiently because the dividing process can be performed multiple times on the substrate 40 by simply setting the substrate 40 on the substrate dividing jig 200 once.

今回開示された実施の形態は全ての点で例示であり、制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の基本的な範囲は、上記の実施の形態ではなく、請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。The embodiments disclosed herein are illustrative in all respects and should not be considered limiting. The basic scope of the present disclosure is indicated by the claims, not the above embodiments, and is intended to include all modifications within the meaning and scope of the claims.

10 ベースプレートユニット、11 第1ベースプレート、12 第2ベースプレート、11a 第1面、11b 第2面、11c 第1凹部、11d 第3凹部、11e 第1部分、11f 第2部分、12a 第3面、12b 第4面、12c 第2凹部、12d 第4凹部、12e 第3部分、12f 第4部分、13 第1境界、14 蝶番、15 押え具、15a 押え板、16 第2境界、17 第3境界、20 第1基板押えユニット、21 第1天板プレート、21a 主面、21b 主面、21c 貫通穴、30 第2基板押えユニット、31 第2天板プレート、31a,31b 主面、31c 貫通穴、40 基板、40a,40b 主面、41,41a,41b,41c,41d,41e,41f 基板、42 第1分割線、42a,42b 溝、43 基材、43a,43b 主面、44,45 導体パターン、46,47 ソルダレジスト、48 第2分割線、50,50a,50b 部品、51 セラミックコンデンサ、52 半導体パッケージ、53 接合部、60 第3基板押えユニット、61 第3天板プレート、61a,61b 主面、61c 貫通穴、100,200 基板分割治具、DR1 第1方向、DR2 第2方向、DR3 第3方向。10 base plate unit, 11 first base plate, 12 second base plate, 11a first surface, 11b second surface, 11c first recess, 11d third recess, 11e first part, 11f second part, 12a third surface, 12b fourth surface, 12c second recess, 12d fourth recess, 12e third part, 12f fourth part, 13 first boundary, 14 hinge, 15 clamp, 15a clamp plate, 16 second boundary, 17 third boundary, 20 first board clamp unit, 21 first top plate, 21a main surface, 21b main surface, 21c through hole, 30 second board clamp unit, 31 second top plate, 31a, 31b main surface, 31c through hole, 40 board, 40a, 40b Main surface, 41, 41a, 41b, 41c, 41d, 41e, 41f substrate, 42 first dividing line, 42a, 42b groove, 43 base material, 43a, 43b main surface, 44, 45 conductor pattern, 46, 47 solder resist, 48 second dividing line, 50, 50a, 50b component, 51 ceramic capacitor, 52 semiconductor package, 53 joint, 60 third substrate holding unit, 61 third top plate, 61a, 61b main surface, 61c through hole, 100, 200 substrate dividing jig, DR1 first direction, DR2 second direction, DR3 third direction.

Claims (2)

第1分割線を有する基板を分割するための基板分割治具であって、
第1方向において隣り合って配置されている第1ベースプレート及び第2ベースプレートを有するベースプレートユニットと、
第1基板押えユニット及び第2基板押えユニットとを備え、
前記第1ベースプレートと前記第2ベースプレートとの境界である第1境界は、前記第1方向に直交する第2方向に沿っており、
前記第1ベースプレートは、第1面と、前記第1面の反対面である第2面とを含み、
前記第2ベースプレートは、第3面と、前記第3面の反対面である第4面とを含み、
前記第1面上及び前記第3面上には、前記第1分割線が前記第1境界と対向するように前記基板が配置され、
前記第1ベースプレートは、前記第2方向に沿う第1回転軸回りに回転可能に前記第2ベースプレートに連結されており、
前記第1基板押えユニット及び前記第2基板押えユニットは、それぞれ、前記第1面及び前記第3面との間に前記基板を挟持し、
前記第1面及び前記第面には、それぞれ、第1凹部及び第2凹部が形成されており、
前記基板は、第5面と、前記第5面の反対面である第6面とを有し、
前記第1凹部の底面及び前記第2凹部の底面上には、前記第1凹部の底面及び前記第2凹部の底面と前記第5面が対向するように前記基板が配置され、
前記第1凹部の底面及び前記第2凹部の底面には、それぞれ、第3凹部及び第4凹部が形成されており、
前記第3凹部内及び前記第4凹部内には、それぞれ、前記第5面上に搭載されている第1部品及び第2部品が配置され、
前記第1基板押えユニットは、第1天板プレートと、前記第1天板プレートに取り付けられており、かつ前記基板に接触する第1ピンとを有し、
前記第2基板押えユニットは、第2天板プレートと、前記第2天板プレートに取り付けられており、かつ前記基板に接触する第2ピントを有し、
前記第1ピン及び前記第2ピンは、それぞれ、前記第1基板押えユニット及び前記第2基板押えユニットが前記基板を挟持している際に前記第3凹部及び前記第4凹部を避けるように前記第6面に接して配置されている、基板分割治具。
A substrate dividing tool for dividing a substrate having a first dividing line,
a base plate unit including a first base plate and a second base plate arranged adjacent to each other in a first direction;
A first substrate holding unit and a second substrate holding unit are provided,
a first boundary between the first base plate and the second base plate is along a second direction perpendicular to the first direction;
The first base plate includes a first surface and a second surface opposite to the first surface,
the second base plate includes a third surface and a fourth surface opposite the third surface;
the substrate is disposed on the first surface and the third surface such that the first division line faces the first boundary;
the first base plate is coupled to the second base plate so as to be rotatable about a first rotation axis along the second direction,
the first substrate holding unit and the second substrate holding unit respectively hold the substrate between the first surface and the third surface,
A first recess and a second recess are formed in the first surface and the third surface, respectively;
the substrate has a fifth surface and a sixth surface opposite the fifth surface;
the substrate is disposed on a bottom surface of the first recess and a bottom surface of the second recess such that the fifth surface faces the bottom surfaces of the first recess and the second recess ;
a third recess and a fourth recess are formed on a bottom surface of the first recess and a bottom surface of the second recess, respectively;
a first component and a second component mounted on the fifth surface are disposed in the third recess and the fourth recess, respectively;
the first substrate holding unit has a first top plate and a first pin attached to the first top plate and in contact with the substrate;
the second substrate holding unit has a second top plate and a second pin attached to the second top plate and in contact with the substrate;
A substrate dividing jig, wherein the first pin and the second pin are each positioned in contact with the sixth surface so as to avoid the third recess and the fourth recess when the first substrate holding unit and the second substrate holding unit are clamping the substrate.
前記基板は、前記第1分割線に直交する第2分割線を有し、
前記第1ベースプレートは、第1部分と、第2部分とを有し、
前記第2ベースプレートは、第3部分と、第4部分とを有し、
前記第1部分及び前記第3部分は、前記第1方向において隣り合って配置されており、
前記第2部分及び前記第4部分は、前記第1方向において隣り合って配置されており、
前記第1部分と前記第2部分との境界である第2境界は、前記第1方向に沿っており、
前記第3部分と前記第4部分との境界である第3境界は、前記第1方向に沿っており、
かつ前記第2境界の延長線上にあり、
前記第1部分は、前記第1方向に沿う第2回転軸回りに回転可能に前記第2部分に連結されており、
前記第3部分は、前記第2回転軸回りに回転可能に前記第4部分に連結されており、
前記第1面上及び前記第面上には、前記第2分割線が前記第2境界及び前記第3境界に対向するように前記基板が配置される、請求項1に記載の基板分割治具。
the substrate has a second division line perpendicular to the first division line,
The first base plate has a first portion and a second portion.
the second base plate has a third portion and a fourth portion;
the first portion and the third portion are disposed adjacent to each other in the first direction,
the second portion and the fourth portion are disposed adjacent to each other in the first direction,
a second boundary between the first portion and the second portion is aligned along the first direction,
a third boundary between the third portion and the fourth portion is aligned along the first direction,
And it is on an extension of the second boundary,
the first portion is coupled to the second portion so as to be rotatable about a second rotation axis along the first direction;
the third portion is connected to the fourth portion so as to be rotatable about the second axis of rotation;
The substrate dividing jig according to claim 1 , wherein the substrate is disposed on the first surface and the third surface such that the second dividing line faces the second boundary and the third boundary.
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