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JP7632412B2 - Parts sorting device - Google Patents
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)

Description

本発明は、部品選別装置に関する。 The present invention relates to a part sorting device.

積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品(チップ部品ともいう。)の良品および不良品を選別する装置がある。特許文献1には、このような部品選別装置として外観検査装置が開示されている。特許文献1に開示の外観検査装置は、電子部品を搬送するリニアフィーダと、リニアフィーダによって搬送された電子部品を回転搬送するターンテーブルと、ターンテーブル上の電子部品の6面を撮像する複数の撮像デバイスとを備え、電子部品を搬送しながら電子部品の6面の外観検査を行う。これにより、良品および不良品を選別して排出することができる。 There is a device that separates non-defective and defective surface-mount electronic components (also called chip components) such as multilayer ceramic capacitors. Patent Document 1 discloses an appearance inspection device as such a component sorting device. The appearance inspection device disclosed in Patent Document 1 includes a linear feeder that transports electronic components, a turntable that rotates and transports the electronic components transported by the linear feeder, and multiple imaging devices that capture images of six sides of the electronic components on the turntable, and performs an appearance inspection of the six sides of the electronic components while transporting them. This allows non-defective and defective products to be separated and discharged.

特許文献1に開示の外観検査装置は、リニアフィーダにおいて、振動により電子部品を搬送することによって、電子部品を帯電させ、ターンテーブルにおいて、静電気により電子部品を静電吸着して回転搬送する。ターンテーブルの搬送速度は、リニアフィーダの搬送速度よりも速い。これにより、ターンテーブルにおいて電子部品の間隔を空けることができ、電子部品の搬送方向の端面の外観検査が可能となる。 The visual inspection device disclosed in Patent Document 1 charges electronic components by transporting them using vibration in a linear feeder, and then electrostatically attracts the electronic components on a turntable, which then rotates and transports them. The transport speed of the turntable is faster than the transport speed of the linear feeder. This allows electronic components to be spaced apart on the turntable, making it possible to visually inspect the end faces of the electronic components in the transport direction.

特開2017-44579号公報JP 2017-44579 A

このような部品選別装置では、製造ロットごとに異なる種類の電子部品の検査および選別を行うことがある。例えば、表面実装型の電子部品には、同一サイズであっても特性が異なる部品がある。より具体的には、積層セラミックコンデンサには、同一サイズであっても容量が異なる部品がある。 Such component sorting devices may inspect and sort different types of electronic components for each production lot. For example, surface-mount electronic components may have different characteristics even if they are the same size. More specifically, multilayer ceramic capacitors may have different capacitances even if they are the same size.

また、このような部品検査装置では、ターンテーブル上の電子部品を撮像デバイスで撮像するため、一般にターンテーブル上は開放状態であり、ターンテーブル上に種類が異なる電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしまうと、例え外観検査の精度が高くとも、選別の精度が低下してしまう。 In addition, in such component inspection devices, the turntable is generally open as the image of the electronic components on the turntable is captured by an imaging device, and there is a possibility that different types of electronic components may end up on the turntable. If electronic components of the same size but different characteristics end up being mixed in this way, the sorting accuracy will decrease even if the accuracy of the appearance inspection is high.

本発明は、部品選別の精度を向上する部品選別装置を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide a parts sorting device that improves the accuracy of parts sorting.

(1) 本発明に係る部品選別装置は、部品を搬送しながら検査し、良品を選別する部品選別装置であって、前記部品を回転搬送するターンテーブルと、前記ターンテーブル上の前記部品における複数の外面をそれぞれ撮像する複数の撮像デバイスと、前記複数の撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、前記外観検査の結果に基づいて前記良品を選別する検査選別コントローラと、前記検査選別コントローラによって選別された前記良品を、前記ターンテーブルから排出する排出機構と、前記ターンテーブル上に配置され、前記ターンテーブル上において回転搬送される前記部品を覆うカバーと、を備える。 (1) The part selection device of the present invention is a part selection device that inspects parts while transporting them and selects non-defective parts, and includes a turntable that rotates and transports the parts, a plurality of imaging devices that respectively capture images of a plurality of outer surfaces of the parts on the turntable, an inspection and selection controller that performs a visual inspection of the parts based on the imaging results from the plurality of imaging devices and selects the non-defective parts based on the results of the visual inspection, a discharge mechanism that discharges the non-defective parts selected by the inspection and selection controller from the turntable, and a cover that is placed on the turntable and covers the parts that are rotated and transported on the turntable.

(2) (1)に記載の部品選別装置において、前記カバーは光透過性を有していてもよい。 (2) In the part sorting device described in (1), the cover may be optically transparent.

(3) (1)または(2)に記載の部品選別装置において、前記カバーと前記ターンテーブルとは離間していてもよく、前記カバーと前記ターンテーブルとの離間距離は、前記部品の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さくてもよい。 (3) In the part sorting device described in (1) or (2), the cover and the turntable may be spaced apart, and the distance between the cover and the turntable may be smaller than the smallest dimension among the length, width, and thickness of the part.

(4) (1)から(3)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記部品の回転搬送経路を覆うように配置されていてもよく、前記複数の撮像デバイスの各々は、前記カバーを介して前記部品を撮像してもよい。 (4) In the part selection device described in any one of (1) to (3), the cover may be arranged to cover a rotational transport path of the parts on the turntable, and each of the multiple imaging devices may image the parts through the cover.

(5) (4)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿った円弧形状を有していてもよい。 (5) In the part selection device described in (4), the cover may have an arc shape that follows the rotational conveying path on the turntable.

(6) (4)または(5)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面を有していてもよい。 (6) In the part selection device described in (4) or (5), the cover may have a surface perpendicular to the line of sight of each of the multiple imaging devices.

(7) (6)に記載の部品選別装置において、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に交差する前記カバーの断面形状は、円弧形状であってもよい。 (7) In the part selection device described in (6), the cross-sectional shape of the cover that intersects with the rotational conveying path on the turntable may be an arc shape.

(8) (6)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿う方向に傾斜する面を有していてもよい。 (8) In the part selection device described in (6), the cover may have a surface that is inclined in a direction along the rotational conveying path on the turntable.

(9) (6)から(8)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーにおける前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面は、前記カバーにおける他の面よりも薄くてもよい。 (9) In the part selection device described in any one of (6) to (8), a surface of the cover perpendicular to the line of sight of each of the multiple imaging devices may be thinner than other surfaces of the cover.

(10) (1)から(9)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、偏光性を有していてもよい。 (10) In the part sorting device described in any one of (1) to (9), the cover may be polarized.

(11) (1)から(9)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、有色であってもよい。 (11) In the part selection device described in any one of (1) to (9), the cover may be colored.

本発明によれば、部品選別装置における部品選別の精度を向上することができる。 The present invention can improve the accuracy of part selection in a part selection device.

本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図である。1 is a schematic plan view of an example of a part selection device according to an embodiment of the present invention, viewed from above; 図1に示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図である。2 is a schematic plan view showing an enlarged view of a part II in the part selection device shown in FIG. 1. 図1に示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。FIG. 2 is a schematic side view of the part selecting device shown in FIG. 1, in which a portion II is enlarged. 図1に示す部品選別装置のIV-IV線断面図である。4 is a cross-sectional view of the part selecting device shown in FIG. 1 along line IV-IV. 変形例に係る部品選別装置の断面図であって、図1に示す部品選別装置のIV-IV線相当の断面図である。4 is a cross-sectional view of a part selecting device according to a modified example, taken along line IV-IV of the part selecting device shown in FIG. 1 . FIG. 変形例に係る部品選別装置の断面図であって、図1に示す部品選別装置のIV-IV線相当の断面図である。4 is a cross-sectional view of a part selecting device according to a modified example, taken along line IV-IV of the part selecting device shown in FIG. 1 . FIG. 図1に示す部品選別装置のV-V線断面図である。2 is a cross-sectional view of the part selecting device shown in FIG. 1 along line V-V. 図1に示す部品選別装置のVI-VI線断面図である。6 is a cross-sectional view of the part selecting device shown in FIG. 1 taken along line VI-VI. 本実施形態の変形例に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図である。FIG. 11 is a schematic plan view of an example of a part selection device according to a modified example of the present embodiment, as viewed from above. 部品の外観の概略斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of the exterior of the component.

以下、添付の図面を参照して本発明の実施形態の一例について説明する。なお、各図面において同一または相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。 An example of an embodiment of the present invention will be described below with reference to the attached drawings. Note that the same or equivalent parts in each drawing will be given the same reference numerals.

図1は、本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図であり、図2は、図1に示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図であり、図3は、図1に示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。なお、図1~図3には、XY直交座標系が示されている。 Figure 1 is a schematic plan view of an example of a part sorting device according to this embodiment, seen from above; Figure 2 is a schematic plan view of an enlarged portion II of the part sorting device shown in Figure 1; and Figure 3 is a schematic side view of the part sorting device shown in Figure 1, seen from the side, and a schematic side view of an enlarged portion II. Note that an XY orthogonal coordinate system is shown in Figures 1 to 3.

図1~図3に示す部品選別装置1は、複数の電子部品3を順次に搬送しながら検査し、良品を選別する装置である。部品選別装置1は、ボールフィーダ10と、リニアフィーダ20と、ターンテーブル30と、カバー36と、複数の撮像デバイス40と、排出機構50と、検査選別コントローラ70とを備える。 The component selection device 1 shown in Figures 1 to 3 is a device that inspects multiple electronic components 3 while transporting them in sequence and selects non-defective products. The component selection device 1 includes a ball feeder 10, a linear feeder 20, a turntable 30, a cover 36, multiple imaging devices 40, a discharge mechanism 50, and an inspection and selection controller 70.

電子部品3は、積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品(チップ部品ともいう。)である。電子部品3は、例えば図8に示すように、セラミック材料からなる複数の誘電体層と1または複数の導体層とが積層された積層体3aと、積層体3aの2つの端面の各々に配置された2つの外部電極3bとを備える。積層体3a、すなわち電子部品3は、直方体形状であり、積層方向に相対する2つの主面TS1およびTS2と、積層方向に交差する幅方向に相対する2つの側面WS1およびWS2と、積層方向および幅方向に交差する長さ方向に相対する2つの端面LS1およびLS2とを有する。 The electronic component 3 is a surface-mount electronic component (also called a chip component) such as a multilayer ceramic capacitor. As shown in FIG. 8, the electronic component 3 includes a laminate 3a in which multiple dielectric layers and one or multiple conductor layers made of ceramic material are laminated, and two external electrodes 3b arranged on each of the two end faces of the laminate 3a. The laminate 3a, i.e., the electronic component 3, is a rectangular parallelepiped shape, and has two main surfaces TS1 and TS2 that face each other in the lamination direction, two side surfaces WS1 and WS2 that face each other in the width direction that intersects with the lamination direction, and two end surfaces LS1 and LS2 that face each other in the length direction that intersects with the lamination direction and the width direction.

電子部品3の寸法は特に限定されないが、例えば、長さ方向の寸法が3.2mm以上0.1mm以下であり、幅方向の寸法が1.6mm以上0.05mm以下であり、積層方向の寸法が1.6mm以上0.05mm以下であってもよい。なお、これらの寸法は、交差により変動し得る。 The dimensions of the electronic component 3 are not particularly limited, but may be, for example, a lengthwise dimension of 3.2 mm or more and 0.1 mm or less, a widthwise dimension of 1.6 mm or more and 0.05 mm or less, and a stacking direction dimension of 1.6 mm or more and 0.05 mm or less. These dimensions may vary depending on the intersection.

電子部品3は、上述した誘電体セラミックを用いた積層セラミックコンデンサに限定されず、圧電体セラミックを用いた圧電部品、半導体セラミックを用いたサーミスタ、磁性体セラミックを用いたインダクタ等の種々の電子部品であってもよい。 The electronic component 3 is not limited to the laminated ceramic capacitor using the dielectric ceramic described above, but may be various electronic components such as a piezoelectric component using a piezoelectric ceramic, a thermistor using a semiconductor ceramic, or an inductor using a magnetic ceramic.

図1~図3に示すように、ボールフィーダ10は、例えばホッパーによって供給された複数の電子部品3を整列させて搬送する。ホッパーは、ボールフィーダ10内の電子部品3の数の不足を検知して、ボールフィーダ10に電子部品3を自動的に補充し、ボールフィーダ10内の電子部品3の数を一定量に保つ装置である。 As shown in Figures 1 to 3, the ball feeder 10 aligns and transports a number of electronic components 3 supplied by, for example, a hopper. The hopper is a device that detects a shortage of electronic components 3 in the ball feeder 10 and automatically replenishes the ball feeder 10 with electronic components 3, thereby maintaining a constant number of electronic components 3 in the ball feeder 10.

ボールフィーダ10には、ボールフィーダ10に振動を供給する振動機構12が設けられている。振動機構12としては、例えば電圧に応じた周波数の振動を発生する圧電素子が挙げられる。ボールフィーダ10の外形形状は円形状である。ボールフィーダ10は、振動により、円形状の中央部から外側へ向けて、電子部品3を円運動させながら、スパイラル状に整列させて搬送する。 The ball feeder 10 is provided with a vibration mechanism 12 that supplies vibration to the ball feeder 10. An example of the vibration mechanism 12 is a piezoelectric element that generates vibrations at a frequency corresponding to the voltage. The outer shape of the ball feeder 10 is circular. The ball feeder 10 conveys the electronic components 3 in a spiral arrangement by vibrating them in a circular motion from the center of the circle to the outside.

リニアフィーダ20は、ボールフィーダ10によって整列搬送された複数の電子部品3を順次に直線的に搬送する。リニアフィーダ20には、リニアフィーダ20に振動を供給する振動機構22が設けられている。振動機構22としては、例えば電圧に応じた周波数の振動を発生する圧電素子が挙げられる。リニアフィーダ20は水平面に対して傾斜していると好ましい。リニアフィーダ20は、振動により、電子部品3を搬送する。 The linear feeder 20 sequentially and linearly transports the multiple electronic components 3 aligned and transported by the ball feeder 10. The linear feeder 20 is provided with a vibration mechanism 22 that supplies vibration to the linear feeder 20. An example of the vibration mechanism 22 is a piezoelectric element that generates vibrations at a frequency corresponding to the voltage. It is preferable that the linear feeder 20 is inclined with respect to the horizontal plane. The linear feeder 20 transports the electronic components 3 by vibration.

リニアフィーダ20は、SUS等の材料からなると好ましい。これにより、リニアフィーダ20において、振動によって電子部品3を搬送する際に、電子部品3を帯電させることができる。 The linear feeder 20 is preferably made of a material such as SUS. This allows the electronic components 3 to be charged when the linear feeder 20 transports the electronic components 3 by vibration.

ターンテーブル30は、リニアフィーダ20によって搬送された複数の電子部品3を順次に回転搬送する。図1および図2に示すように、ターンテーブル30は、上流側にガイド機構32を有し、ガイド機構32によって、リニアフィーダ20からの電子部品3を、回転搬送経路(回転搬送軌跡)31に導く。ターンテーブル30は、回転搬送経路31に沿って電子部品3を搬送する。 The turntable 30 sequentially rotates and transports the multiple electronic components 3 transported by the linear feeder 20. As shown in Figures 1 and 2, the turntable 30 has a guide mechanism 32 on the upstream side, which guides the electronic components 3 from the linear feeder 20 to a rotational transport path (rotational transport trajectory) 31. The turntable 30 transports the electronic components 3 along the rotational transport path 31.

図3に示すように、ターンテーブル30の下側には、静電吸着機構34が設けられていると好ましい。これにより、リニアフィーダ20において帯電した電子部品3を静電吸着して搬送することができる。 As shown in FIG. 3, it is preferable to provide an electrostatic adsorption mechanism 34 below the turntable 30. This allows the charged electronic components 3 to be electrostatically adsorbed and transported by the linear feeder 20.

ターンテーブル30の搬送速度は、リニアフィーダ20の搬送速度よりも速い。これにより、図2および図3に示すように、電子部品3の間隔を空けることができ、電子部品3の端面側の外観検査が可能となる。 The conveying speed of the turntable 30 is faster than the conveying speed of the linear feeder 20. This allows the electronic components 3 to be spaced apart, as shown in Figures 2 and 3, making it possible to perform visual inspection of the end faces of the electronic components 3.

ターンテーブル30は、ガラスまたは樹脂等の材料からなり、透明性を有する。これにより、電子部品3の裏面側の外観検査が可能となる。 The turntable 30 is made of a material such as glass or resin and is transparent. This allows for visual inspection of the back side of the electronic component 3.

図1に示すように、ターンテーブル30上には、電子部品3を覆うためのカバー36が配置されている。カバー36の詳細は後述する。 As shown in FIG. 1, a cover 36 for covering the electronic components 3 is disposed on the turntable 30. Details of the cover 36 will be described later.

図1に示すように、撮像デバイス40は、例えばカメラまたはイメージセンサである。なお、図示しないがカメラ近傍に光源を備えている。ターンテーブル30の回転搬送経路31に沿って、6個の撮像デバイス40が設けられている。6個の撮像デバイス40は、ターンテーブル30上の電子部品3の6個の外面、すなわち2つの主面TS1およびTS2、2つの側面WS1およびWS2、および2つの端面LS1およびLS2、をそれぞれ撮像する。撮像デバイス40の各々には、電子部品3の撮像面を照らす、リング照明またはドーム照明等の照明デバイスが設けられてもよい。 As shown in FIG. 1, the imaging device 40 is, for example, a camera or an image sensor. Note that a light source (not shown) is provided near the camera. Six imaging devices 40 are provided along the rotational transport path 31 of the turntable 30. The six imaging devices 40 capture images of six outer surfaces of the electronic component 3 on the turntable 30, namely, the two main surfaces TS1 and TS2, the two side surfaces WS1 and WS2, and the two end surfaces LS1 and LS2. Each imaging device 40 may be provided with an illumination device, such as a ring light or a dome light, that illuminates the imaging surface of the electronic component 3.

図1に示すように、排出機構50は、後述する検査選別コントローラ70によって外観検査の結果に基づいて選別された良品を、ターンテーブル30から排出してケース等に収容する。排出機構50による良品の排出方法は、特に限定されないが、エアー吹付、エアー吸引、物理的接触押出、等が挙げられる。例えば、排出機構50は、良品が搬送されてきた場合、検査選別コントローラ70からの指令に従って、ターンテーブル30上の良品にエアーを吹き付けることにより、良品をターンテーブル30から排出してケース等に収容する。 As shown in FIG. 1, the discharge mechanism 50 discharges non-defective products selected by the inspection and sorting controller 70 (described later) based on the results of the visual inspection from the turntable 30 and stores them in a case or the like. The method of discharging non-defective products by the discharge mechanism 50 is not particularly limited, but examples include air blowing, air suction, physical contact extrusion, and the like. For example, when a non-defective product is transported, the discharge mechanism 50, in accordance with a command from the inspection and sorting controller 70, blows air onto the non-defective product on the turntable 30, thereby discharging the non-defective product from the turntable 30 and storing it in a case or the like.

検査選別コントローラ70は、部品選別装置1全体を制御する。具体的には、検査選別コントローラ70は、撮像デバイス40からの撮像結果に基づいて、ターンテーブル30上の電子部品3の外観検査を行い、外観検査の結果に基づいて良品および不良品を選別する。 The inspection and selection controller 70 controls the entire component selection device 1. Specifically, the inspection and selection controller 70 performs a visual inspection of the electronic components 3 on the turntable 30 based on the imaging results from the imaging device 40, and selects non-defective and defective components based on the results of the visual inspection.

また、検査選別コントローラ70は、排出機構50による良品の排出を制御する。例えば、検査選別コントローラ70は、ターンテーブル30の搬送速度(或いは、回転速度、および、回転搬送経路長さまたは半径)、ターンテーブル30における撮像デバイス40の位置等の情報から、良品を排出機構50から排出するタイミングを算出して、排出機構50に指令する。 The inspection and sorting controller 70 also controls the discharge of non-defective products by the discharge mechanism 50. For example, the inspection and sorting controller 70 calculates the timing for discharging non-defective products from the discharge mechanism 50 based on information such as the conveying speed (or rotation speed, and the length or radius of the rotational conveying path) of the turntable 30 and the position of the imaging device 40 on the turntable 30, and issues a command to the discharge mechanism 50.

検査選別コントローラ70は、例えば、PLC(Programmable Logic Controller)、DSP(Digital Signal Processor)、FPGA(Field-Programmable Gate Array)等の演算プロセッサで構成される。検査選別コントローラ70の各種機能は、例えば記憶部に格納された所定のソフトウェア(プログラム)を実行することで実現される。検査選別コントローラ70の各種機能は、ハードウェアとソフトウェアとの協働で実現されてもよいし、ハードウェア(電子回路)のみで実現されてもよい。 The inspection and sorting controller 70 is composed of an arithmetic processor such as a programmable logic controller (PLC), a digital signal processor (DSP), or a field-programmable gate array (FPGA). The various functions of the inspection and sorting controller 70 are realized, for example, by executing a predetermined software (program) stored in a memory unit. The various functions of the inspection and sorting controller 70 may be realized by a combination of hardware and software, or may be realized by hardware (electronic circuits) alone.

検査選別コントローラ70における記憶部は、例えばEEPROM等の書き換え可能なメモリである。記憶部は、選別コントローラの各種機能を実行するための所定のソフトウェア(プログラム)を格納する。また、記憶部は、例えば外部から入力された各種設定値を格納する。各種設定値は、リニアフィーダ20の搬送速度、ターンテーブル30の搬送速度(或いは、回転速度、および、回転搬送経路長さまたは半径)、撮像デバイス40の位置、および排出機構50の位置に関する情報、および良品/不良品の判定基準、等を含む。 The memory unit in the inspection and sorting controller 70 is a rewritable memory such as an EEPROM. The memory unit stores predetermined software (programs) for executing various functions of the sorting controller. The memory unit also stores various setting values input from the outside, for example. The various setting values include information regarding the conveying speed of the linear feeder 20, the conveying speed of the turntable 30 (or the rotation speed, and the length or radius of the rotational conveying path), the position of the imaging device 40, and the position of the discharge mechanism 50, as well as criteria for determining whether a product is good or bad.

以下では、カバー36について詳細に説明する。図1に示すように、カバー36は、ターンテーブル30上に配置されており、ターンテーブル30上において回転搬送される電子部品3を覆う。より具体的には、カバー36は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように配置されている。カバー36は、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿った円弧形状を有する。 The cover 36 will be described in detail below. As shown in FIG. 1, the cover 36 is disposed on the turntable 30 and covers the electronic components 3 that are rotated and transported on the turntable 30. More specifically, the cover 36 is disposed so as to cover the rotational transport path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30. The cover 36 has an arc shape that follows the rotational transport path 31 on the turntable 30.

図4Aは、図1に示す部品選別装置のIV-IV線断面図であり、図5は、図1に示す部品選別装置のV-V線断面図である。図4Aおよび図5に示すように、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に交差するカバー36の断面形状は、円弧形状である。これにより、図4Aに示すように、カバー36は、例えば電子部品3の主面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。また、図5に示すように、カバー36は、例えば電子部品3の側面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。このように、カバー36の面が撮像デバイス40の視線に対して垂直であると、カバー36による屈折を低減でき、電子部品3の主面および側面を正確に撮像することができる。なお、円弧形状に限られず、撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を持つ形状を含むものとする。また、カバーの一部をレンズ状にして拡大機能を持たせてもよい。 Figure 4A is a cross-sectional view of the part selection device shown in Figure 1 taken along line IV-IV, and Figure 5 is a cross-sectional view of the part selection device shown in Figure 1 taken along line V-V. As shown in Figures 4A and 5, the cross-sectional shape of the cover 36 intersecting the rotary conveying path 31 on the turntable 30 is an arc shape. As a result, as shown in Figure 4A, the cover 36 can have a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the main surface of the electronic component 3, for example. Also, as shown in Figure 5, the cover 36 can have a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the side surface of the electronic component 3, for example. In this way, if the surface of the cover 36 is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40, refraction by the cover 36 can be reduced, and the main surface and side surface of the electronic component 3 can be accurately imaged. Note that this is not limited to an arc shape, and includes a shape having a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40. Also, a part of the cover may be made into a lens shape to have a magnifying function.

図4Aおよび図5において、カバー36における撮像デバイス40の視線に対して垂直な面は、カバー36における他の面よりも薄くてもよい。これによれば、カバー36による屈折をより低減でき、電子部品3の主面および側面をより正確に撮像することができる。 4A and 5, the surface of the cover 36 perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 may be thinner than the other surfaces of the cover 36. This can further reduce refraction caused by the cover 36, allowing the main and side surfaces of the electronic component 3 to be imaged more accurately.

図6は、図1に示す部品選別装置のVI-VI線断面図である。図6に示すように、カバー36は、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿う方向に傾斜する面を有する。これにより、カバー36は、例えば電子部品3の端面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。このように、カバー36の面が撮像デバイス40の視線に対して垂直であると、カバー36による屈折を低減でき、電子部品3の端面を正確に撮像することができる。 Figure 6 is a cross-sectional view of the part selection device shown in Figure 1 taken along line VI-VI. As shown in Figure 6, the cover 36 has a surface that is inclined in a direction along the rotary conveying path 31 on the turntable 30. This allows the cover 36 to have a surface that is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the end faces of the electronic components 3, for example. In this way, when the surface of the cover 36 is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40, refraction by the cover 36 can be reduced, and the end faces of the electronic components 3 can be accurately imaged.

図6において、カバー36における撮像デバイス40の視線に対して垂直な面は、カバー36における他の面よりも薄くてもよい。これによれば、カバー36による屈折をより低減でき、電子部品3の端面をより正確に撮像することができる。 In FIG. 6, the surface of the cover 36 perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 may be thinner than other surfaces of the cover 36. This can further reduce refraction caused by the cover 36, allowing the end faces of the electronic components 3 to be imaged more accurately.

また、図4Aおよび図5に示すように、カバー36とターンテーブル30とは離間している。例えば、図1および図4Aに示すように、カバー36は、固定部材(図示省略)に固定された支持柱等を含むカバー支持部材47であって、等間隔に並んだ複数のカバー支持部材47によって、吊るされて支持されていてもよい。或いは、図4Bに示すように、カバー36は、撮像デバイス40の各々に固定された支持柱等を含む複数のカバー支持部材47によって、吊るされて支持されていてもよい。或いは、図4Cに示すように、カバー36は、カバー36とターンテーブル30との間に設けられた車輪等を含むカバー支持部材47であって、等間隔に並んだ複数のカバー支持部材47によって、支持されていてもよい。これにより、ターンテーブル30は、カバー36と干渉することなく、回転することができる。カバー36とターンテーブル30との離間距離は、電子部品3の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さい。これにより、カバー36内に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入することを防止することができる。また、カバー36の外に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31の外に、搬送中の電子部品3が外れることを防止することができる。 Also, as shown in FIG. 4A and FIG. 5, the cover 36 and the turntable 30 are spaced apart. For example, as shown in FIG. 1 and FIG. 4A, the cover 36 may be supported by a plurality of cover support members 47 arranged at equal intervals, which are cover support members 47 including support columns or the like fixed to a fixed member (not shown). Alternatively, as shown in FIG. 4B, the cover 36 may be supported by a plurality of cover support members 47 including support columns or the like fixed to each of the imaging devices 40. Alternatively, as shown in FIG. 4C, the cover 36 may be supported by a plurality of cover support members 47 arranged at equal intervals, which are cover support members 47 including wheels or the like provided between the cover 36 and the turntable 30. This allows the turntable 30 to rotate without interfering with the cover 36. The distance between the cover 36 and the turntable 30 is smaller than the smallest dimension of the length, width, and thickness of the electronic component 3. This makes it possible to prevent different types of electronic components from being mixed inside the cover 36, i.e., on the rotary transport path 31 on the turntable 30. It also makes it possible to prevent the electronic components 3 being transported from falling out of the cover 36, i.e., out of the rotary transport path 31 on the turntable 30.

カバー36は、ガラスまたは樹脂等の材料からなり、光透過性(例えば、透明性)を有する。これにより、撮像デバイス40は、カバー36を介して電子部品3を撮像することができる。 The cover 36 is made of a material such as glass or resin, and has optical transparency (e.g., transparency). This allows the imaging device 40 to capture an image of the electronic component 3 through the cover 36.

なお、カバー36は、有色(例えば、長波長変調(赤色)または短波長変調(青色)させる色等)であってもよい。これにより、光を変調させ、透明光では検出できない部品の表面状態を検出することができる。或いは、カバー36は、偏光性を有していてもよい。これにより、透明光では検出できない部品の表面状態を検出することができる。なお、光の変調はカバーに限られず、光源の光を変調させてもいい。 The cover 36 may be colored (for example, a color that modulates long wavelengths (red) or short wavelengths (blue)). This allows the light to be modulated, making it possible to detect the surface condition of the part that cannot be detected with transparent light. Alternatively, the cover 36 may be polarized. This allows the surface condition of the part that cannot be detected with transparent light to be detected. The modulation of light is not limited to the cover, and the light from the light source may also be modulated.

以上説明したように、本実施形態の部品選別装置1によれば、電子部品3を回転搬送する透明なターンテーブル30と、ターンテーブル30上の電子部品3の6つの外面をそれぞれ撮像する6つの撮像デバイス40と、撮像デバイス40からの撮像結果に基づいて電子部品3の外観検査を行い、外観検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラ70と、検査選別コントローラ70によって選別された良品を、ターンテーブル30から排出する排出機構50とを備える。これにより、複数の電子部品3を搬送しながら外観検査し、良品を選別することができる。 As described above, the component selection device 1 of this embodiment includes a transparent turntable 30 that rotates and transports the electronic components 3, six imaging devices 40 that capture images of the six outer surfaces of the electronic components 3 on the turntable 30, an inspection and selection controller 70 that performs a visual inspection of the electronic components 3 based on the imaging results from the imaging devices 40 and selects non-defective products based on the results of the visual inspection, and a discharge mechanism 50 that discharges the non-defective products selected by the inspection and selection controller 70 from the turntable 30. This makes it possible to perform a visual inspection of multiple electronic components 3 while transporting them, and to select non-defective products.

ここで、このような部品選別装置では、製造ロットごとに異なる種類の電子部品の検査および選別を行うことがある。例えば、表面実装型の電子部品には、同一サイズであっても特性が異なる部品がある。より具体的には、積層セラミックコンデンサには、同一サイズであっても容量が異なる部品がある。 Here, such component sorting devices may inspect and sort different types of electronic components for each production lot. For example, surface-mount electronic components may have different characteristics even if they are the same size. More specifically, multilayer ceramic capacitors may have different capacitances even if they are the same size.

また、従来の部品選別装置では、ターンテーブル上の電子部品を撮像デバイスで撮像するため、ターンテーブル上は開放状態であった。そのため、ターンテーブル上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしい、良品として排出されてしまうと、部品の混入が生じてしまう。 In addition, in conventional parts sorting devices, the turntable is left open in order to capture images of the electronic parts on the turntable using an imaging device. This means that there is a possibility that electronic parts of different types may get mixed in with the rotary transport path 31 on the turntable. If electronic parts of the same size but different characteristics get mixed in like this and are rejected as non-defective products, then part mixing will occur.

この点に関し、本実施形態の部品選別装置1によれば、ターンテーブル30上に、ターンテーブル30上において回転搬送される電子部品3を覆うカバー36が配置されている。これにより、カバー36内に、すなわちターンテーブル上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入することを防止することができる。そのため、部品選別の精度を向上することができる。 In this regard, according to the component selection device 1 of this embodiment, a cover 36 is disposed on the turntable 30 to cover the electronic components 3 that are rotated and transported on the turntable 30. This makes it possible to prevent different types of electronic components from being mixed inside the cover 36, i.e., on the rotary transport path 31 on the turntable. This makes it possible to improve the accuracy of component selection.

また、ターンテーブル上が開放状態である従来の部品選別装置では、搬送中の電子部品が、回転搬送経路の外に外れてしまい、前回ロットの電子部品がターンテーブル上に残ってしまうことがある。このような場合に、今回ロットの電子部品の種類が前回ロットの電子部品の種類と異なると、今回ロットの電子部品に、種類が異なる前回ロットの電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしまうと、例え外観検査の精度が高くとも、選別の精度が低下してしまう。 Furthermore, in conventional component sorting devices where the turntable is in an open state, electronic components being transported can fall outside the rotary transport path, leaving electronic components from the previous lot on the turntable. In such a case, if the type of electronic components in the current lot is different from the type of electronic components in the previous lot, there is a possibility that electronic components of a different type from the previous lot will be mixed in with the electronic components in the current lot. When electronic components of the same size but different characteristics are mixed in this way, the sorting accuracy will decrease, even if the accuracy of the appearance inspection is high.

この点に関し、本実施形態の部品選別装置によれば、カバー36は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように配置されている。これにより、カバー36の外に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31の外に、搬送中の電子部品3が外れることを防止することができる。そのため、部品選別の精度を向上することができる。 In this regard, according to the component selection device of this embodiment, the cover 36 is arranged to cover the rotary transport path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30. This makes it possible to prevent the electronic components 3 from falling out of the cover 36, i.e., out of the rotary transport path 31 on the turntable 30, during transport. This makes it possible to improve the accuracy of component selection.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、種々の変更および変形が可能である。上述した実施形態では、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31に沿って連続する1つのカバー36を備える部品選別装置1を例示した(図1)。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31に沿って分割された複数のカバー36を備える形態であってもよい(図7、なお図7では上述したカバー支持部材37を省略)。この場合、隣り合うカバー36の離間間隔は、電子部品3の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さいことが好ましい。例えば、0.02mm以下が好ましい。 Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and various modifications and variations are possible. In the above-mentioned embodiment, a component selection device 1 having one cover 36 that is continuous along the rotary transport path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30 is exemplified (FIG. 1). However, the present invention is not limited to this, and for example, the component selection device 1 may have a form having multiple covers 36 that are divided along the rotary transport path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30 (FIG. 7, note that the above-mentioned cover support member 37 is omitted in FIG. 7). In this case, it is preferable that the separation distance between adjacent covers 36 is smaller than the smallest dimension among the length, width, and thickness of the electronic components 3. For example, it is preferable that it is 0.02 mm or less.

また、上述した実施形態では、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿った円弧形状を有するカバー36を備える部品選別装置1を例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、ターンテーブル30の全体を覆うカバー36を備える形態であってもよい。 In the above-described embodiment, the component selection device 1 is provided with a cover 36 having an arc shape that follows the rotational transport path 31 on the turntable 30 so as to cover the rotational transport path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30. However, the present invention is not limited to this, and for example, the component selection device 1 may be provided with a cover 36 that covers the entire turntable 30.

また、上述した実施形態では、カバー36がターンテーブル30と撮像デバイス40との間に介在する部品選別装置1を例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、カバー36が撮像デバイス40をも覆う形態であってもよい。 In addition, in the above-described embodiment, a component selection device 1 in which the cover 36 is interposed between the turntable 30 and the imaging device 40 has been exemplified. However, the present invention is not limited to this, and for example, the component selection device 1 may be configured such that the cover 36 also covers the imaging device 40.

1 部品選別装置
3 電子部品
10 ボールフィーダ
12 振動機構
20 リニアフィーダ
22 振動機構
30 ターンテーブル
31 回転搬送経路(回転搬送軌跡)
32 ガイド機構
34 静電吸着機構
36 カバー
37 カバー支持部材
40 撮像デバイス
50 排出機構
70 検査選別コントローラ
REFERENCE SIGNS LIST 1 Component sorting device 3 Electronic component 10 Ball feeder 12 Vibration mechanism 20 Linear feeder 22 Vibration mechanism 30 Turntable 31 Rotational conveying path (rotational conveying trajectory)
32 Guide mechanism 34 Electrostatic adsorption mechanism 36 Cover 37 Cover support member 40 Imaging device 50 Discharge mechanism 70 Inspection and sorting controller

Claims (11)

部品を搬送しながら検査し、良品を選別する部品選別装置であって、
前記部品を回転搬送するターンテーブルと、
前記ターンテーブル上の前記部品における複数の外面をそれぞれ撮像する複数の撮像デバイスと、
前記複数の撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、前記外観検査の結果に基づいて前記良品を選別する検査選別コントローラと、
前記検査選別コントローラによって選別された前記良品を、前記ターンテーブルから排出する排出機構と、
前記ターンテーブル上に配置され、前記ターンテーブル上において回転搬送される前記部品を覆うカバーと、
を備え、
前記カバーが、透明性を備え、前記ターンテーブルの面内方向と同方向も覆っている、
部品選別装置。
A parts sorting device that inspects parts while transporting them and selects non-defective parts,
A turntable for rotating and conveying the part;
a plurality of imaging devices configured to capture images of a plurality of outer surfaces of the component on the turntable;
an inspection and selection controller that performs an appearance inspection of the component based on the imaging results from the plurality of imaging devices and selects the non-defective component based on the result of the appearance inspection;
a discharge mechanism that discharges the non-defective product selected by the inspection and selection controller from the turntable;
a cover that is placed on the turntable and covers the part that is rotated and transported on the turntable;
Equipped with
The cover is transparent and covers the turntable in the same direction as the in-plane direction.
Parts sorting device.
前記カバーは光透過性を有する、請求項1に記載の部品選別装置。 The component sorting device of claim 1, wherein the cover is optically transparent. 前記カバーと前記ターンテーブルとは離間しており、
前記カバーと前記ターンテーブルとの離間距離は、前記部品の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さい、
請求項1に記載の部品選別装置。
The cover and the turntable are spaced apart from each other,
a distance between the cover and the turntable is smaller than the smallest dimension among the length, width, and thickness of the part;
The parts selection device according to claim 1.
前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記部品の回転搬送経路を覆うように配置されており、
前記複数の撮像デバイスの各々は、前記カバーを介して前記部品を撮像する、
請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。
the cover is disposed so as to cover a rotational transport path of the component on the turntable,
each of the plurality of imaging devices captures an image of the component through the cover;
The parts selection device according to any one of claims 1 to 3.
前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿った円弧形状を有する、請求項4に記載の部品選別装置。 The part sorting device according to claim 4, wherein the cover has an arc shape that follows the rotational conveying path on the turntable. 前記複数の撮像デバイスは、前記部品の主面および側面をそれぞれ撮像する撮像デバイスを含み、
前記カバーは、前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面を有する、請求項4に記載の部品選別装置。
the plurality of imaging devices include imaging devices that respectively capture images of a main surface and a side surface of the component,
The component sorting apparatus according to claim 4 , wherein the cover has a surface perpendicular to a line of sight of each of the plurality of imaging devices.
前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に交差する前記カバーの断面形状は、円弧形状である、請求項6に記載の部品選別装置。 The part selection device according to claim 6, wherein the cross-sectional shape of the cover that intersects with the rotational transport path on the turntable is an arc shape. 前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿う方向に傾斜する面を有する、請求項6に記載の部品選別装置。 The part sorting device according to claim 6, wherein the cover has a surface that is inclined in a direction along the rotational conveying path on the turntable. 前記カバーにおける前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面は、前記カバーにおける他の面よりも薄い、請求項6に記載の部品選別装置。 The component selection device according to claim 6, wherein a surface of the cover perpendicular to the line of sight of each of the imaging devices is thinner than other surfaces of the cover. 前記カバーは、偏光性を有する、請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。 The component sorting device according to any one of claims 1 to 3, wherein the cover has polarizing properties. 前記カバーは、有色である、請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。
The part selection device according to any one of claims 1 to 3, wherein the cover is colored.
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