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JP7658778B2 - Mounting Equipment - Google Patents
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JP7658778B2 - Mounting Equipment - Google Patents

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Description

本発明は、実装装置に関する。 The present invention relates to a mounting apparatus .

ロジック、メモリ、画像センサなどの半導体素子である電子部品を、基板に実装する際には、半導体素子が形成されたウエーハを、切断することにより個片化したチップとする。そして、このチップを一つずつピックアップし、基板へ移送して実装することが行われている。 When mounting electronic components, such as logic, memory, and image sensors, which are semiconductor elements, on a substrate, the wafer on which the semiconductor elements are formed is cut into individual chips. These chips are then picked up one by one and transferred to the substrate for mounting.

このような電子部品の実装において、電子部品と基板との間に気泡が残留する場合がある。電子部品と基板との間に気泡が存在すると、接続不良、強度不足となり、実装不良につながる。これに対処するため、電子部品を実装する際に、基板に対して圧着する実装ツールにおいて、電子部品を湾曲させて保持し、電子部品の一部を基板に接触させてから、弾性体で押圧することにより、電子部品と基板との間の気体を押し出すように実装することが行われていた。 When mounting such electronic components, air bubbles may remain between the electronic component and the board. If air bubbles exist between the electronic component and the board, this can lead to poor connection and insufficient strength, leading to mounting defects. To address this issue, when mounting electronic components, the mounting tool that presses the electronic component against the board curves and holds the electronic component, brings part of the electronic component into contact with the board, and then presses it with an elastic body to push out the gas between the electronic component and the board.

特許第3757193号公報Patent No. 3757193 特開2003-203946号公報JP 2003-203946 A 特開2005-150311号公報JP 2005-150311 A

しかし、弾性体が押圧しながら変形していって押し潰して行くツールでは、電子部品のサイズによっては、押圧される領域が均一に広がらないことや、外縁部分に十分な力がかからず、気泡を押し出すことができない場合があった。また、中央部分に過剰な押圧力がかかって電子部品が破損する場合があった。 However, with a tool that uses an elastic body to deform and crush as it presses, depending on the size of the electronic component, the pressed area may not spread evenly, or sufficient pressure may not be applied to the outer edges, making it impossible to push out air bubbles. There may also be cases where excessive pressure is applied to the center, damaging the electronic component.

本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、電子部品を基板に実装する際の気泡の残留及び基板の破損を低減できる実装ツール及び実装装置を提供することにある。 The present invention has been made to solve the above problems, and its purpose is to provide a mounting tool and mounting device that can reduce the residual air bubbles and damage to the board when mounting electronic components on the board.

本発明の実装装置は、電子部品を基板に実装する実装ツールであって、前記電子部品が湾曲して接するように隆起した保持面と、前記保持面に設けられた複数の開口と、前記開口に連通し、内部の圧力を負圧にすることにより前記保持面に前記電子部品を保持し、一部から順次正圧とすることにより、前記保持面から前記電子部品を離脱させる通気孔と、を有し、前記複数の通気孔のうち、前記保持面の最も隆起した峰部分に近い通気孔から、隣接する通気孔を順次正圧とする実装ツールと、前記実装ツールを、受け渡し位置と実装位置との間で往復移動させ、受け渡し位置及び実装位置で昇降させるツール移動機構と、前記実装ツールに対する接触を検知する検知部と、前記検知部により接触を検知した場合に、前記実装ツールの通気孔に対する負圧及び正圧を切り替える切替部と、を有する。 The mounting device of the present invention is a mounting tool for mounting an electronic component on a substrate, the mounting tool having a raised holding surface so that the electronic component curves and comes into contact with the holding surface, a plurality of openings provided on the holding surface, and air holes that communicate with the openings and hold the electronic component on the holding surface by making the internal pressure negative and sequentially making the pressure positive from one portion to the other, the mounting tool sequentially making the pressure positive from the air hole closest to the most raised ridge portion of the holding surface to adjacent air holes, a tool moving mechanism that moves the mounting tool back and forth between a transfer position and a mounting position and raises and lowers it at the transfer position and the mounting position, a detection unit that detects contact with the mounting tool, and a switching unit that switches between negative and positive pressure for the air holes of the mounting tool when contact is detected by the detection unit .

本発明の実装ツール及び実装装置によれば、電子部品を基板に実装する際の気泡の残留及び基板の破損を低減できる。 The mounting tool and mounting device of the present invention can reduce air bubbles remaining and damage to the board when mounting electronic components to the board.

実施形態の実装装置を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing the mounting device according to the embodiment. 実施形態の実装装置を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a mounting device according to an embodiment. 実施形態の実装ツールを示す側面図(A)、断面図(B)、底面図(C)である。1A is a side view, FIG. 1B is a cross-sectional view, and FIG. 実施形態の制御装置の機能ブロック図である。FIG. 2 is a functional block diagram of a control device according to the embodiment. 実施形態の電子部品を実装する手順を示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a procedure for mounting an electronic component according to the embodiment. 実施形態の電子部品の実装態様を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a mounting state of an electronic component according to an embodiment. 実装ツールの変形例を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing a modified example of the mounting tool. 実装ツールによる電子部品の受取態様を示す説明図である。10A and 10B are explanatory diagrams showing a manner in which an electronic component is received by a mounting tool;

実施形態の実装装置について、図面を参照して説明する。なお、図面は模式図であって、各部のサイズ、比率等は、理解を容易にするために誇張している部分を含んでいる。図1及び図2に示すように、実装装置1は、供給装置10、ピックアップ装置20、搭載装置30、制御装置50を備え、電子部品2をピックアップ装置20によって搭載装置30へと受け渡し、搭載装置30によって、基板ステージ60における基板Wに実装する装置である。電子部品2は、例えば、チップ状の部品である。本実施形態では、電子部品2は、ウエーハを個片に分割した半導体チップである。 The mounting device of the embodiment will be described with reference to the drawings. Note that the drawings are schematic diagrams, and the size, ratio, etc. of each part include parts that are exaggerated for ease of understanding. As shown in Figs. 1 and 2, the mounting device 1 includes a supply device 10, a pick-up device 20, a mounting device 30, and a control device 50, and is an apparatus in which the pick-up device 20 transfers an electronic component 2 to the mounting device 30, and the mounting device 30 mounts the electronic component 2 on a substrate W on a substrate stage 60. The electronic component 2 is, for example, a chip-shaped component. In this embodiment, the electronic component 2 is a semiconductor chip obtained by dividing a wafer into individual pieces.

供給装置10は、電子部品2をピックアップ装置20へと供給する装置である。供給装置10は、ピックアップ対象の電子部品2を供給位置P1に移動させる。供給位置P1とは、ピックアップ装置20が、ピックアップ対象となる電子部品2をピックアップする位置である。供給装置10は、電子部品2が貼り付けられたシート11を支持する供給ステージ12、供給ステージ12を移動させるステージ移動機構13を備える。ステージ移動機構13は、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構である。 The supply device 10 is a device that supplies electronic components 2 to the pickup device 20. The supply device 10 moves the electronic components 2 to be picked up to a supply position P1. The supply position P1 is the position where the pickup device 20 picks up the electronic components 2 to be picked up. The supply device 10 includes a supply stage 12 that supports a sheet 11 to which the electronic components 2 are attached, and a stage movement mechanism 13 that moves the supply stage 12. The stage movement mechanism 13 is, for example, a ball screw mechanism driven by a servo motor.

電子部品2が貼り付けられたシート11は、ここでは、図示しないウエーハリングに貼り付けられた粘着性を有するウエーハシートである。シート11上には電子部品2がマトリクス(行列)状に配置されている。本実施形態では、電子部品2は、機能面が上方に露出したフェイスアップ状態で配置されている。 The sheet 11 to which the electronic components 2 are attached is an adhesive wafer sheet attached to a wafer ring (not shown). The electronic components 2 are arranged in a matrix on the sheet 11. In this embodiment, the electronic components 2 are arranged face-up with their functional surfaces exposed upward.

供給ステージ12は、シート11が貼り付けられたウエーハリングを水平に支持する台である。つまり、電子部品2が貼り付けられたシート11を、ウエーハリングを介して支持する。供給ステージ12は、ステージ移動機構13によって、水平方向に移動可能に設けられている。シート11は供給ステージ12とともに水平に支持されているため、シート11及び当該シート11に載せられた電子部品2もまた、水平方向に移動可能に設けられている。 The supply stage 12 is a platform that horizontally supports the wafer ring to which the sheet 11 is attached. In other words, it supports the sheet 11 to which the electronic components 2 are attached via the wafer ring. The supply stage 12 is provided so that it can move horizontally by a stage movement mechanism 13. Since the sheet 11 is supported horizontally together with the supply stage 12, the sheet 11 and the electronic components 2 placed on the sheet 11 are also provided so that they can move horizontally.

なお、図1及び図2に示すように、水平方向のうち、供給装置10と搭載装置30が並ぶ方向をX軸方向、X軸に直交する方向をY軸方向という。また、シート11の平面に直交する方向をZ軸方向または上下方向という。上方向とは、シート11の平面を境界として電子部品2が載せられている側の方向であり、下方向とは、シート11の平面を境界として電子部品2が載せられていない側の方向である。 As shown in Figures 1 and 2, the horizontal direction in which the supply device 10 and the mounting device 30 are aligned is called the X-axis direction, and the direction perpendicular to the X-axis is called the Y-axis direction. The direction perpendicular to the plane of the sheet 11 is called the Z-axis direction or up-down direction. The upward direction is the direction toward the side on which the electronic components 2 are placed, with the plane of the sheet 11 as the boundary, and the downward direction is the direction toward the side on which the electronic components 2 are not placed, with the plane of the sheet 11 as the boundary.

[ピックアップ装置]
ピックアップ装置20は、供給装置10から電子部品2をピックアップし、ピックアップした電子部品2を搭載装置30に受け渡す中継装置である。このピックアップ装置20は、ピックアップノズル21と、ノズル移動機構22と、方向転換部23と、突き上げピン24とを備える。
[Pickup device]
The pickup device 20 is a relay device that picks up the electronic components 2 from the supply device 10 and delivers the picked-up electronic components 2 to the mounting device 30. The pickup device 20 includes a pickup nozzle 21, a nozzle moving mechanism 22, a direction changing unit 23, and a push-up pin 24.

ピックアップノズル21は、電子部品2を保持し、また保持状態を解除して電子部品2を解放する筒状の吸着ノズルである。ピックアップノズル21は、その先端の吸着面に開口するノズル孔を有する。ノズル孔は真空ポンプ等の負圧発生回路(図示しない)と連通しており、当該回路が負圧を発生させることによって、ノズル孔で電子部品2を吸着保持する。また、負圧を解除することでピックアップノズル21から電子部品2を解放する。 The pick-up nozzle 21 is a cylindrical suction nozzle that holds the electronic component 2 and releases the held state to release the electronic component 2. The pick-up nozzle 21 has a nozzle hole that opens into the suction surface at the tip of the pick-up nozzle 21. The nozzle hole is connected to a negative pressure generating circuit (not shown) such as a vacuum pump, and the circuit generates negative pressure to suction and hold the electronic component 2 at the nozzle hole. The electronic component 2 is released from the pick-up nozzle 21 by releasing the negative pressure.

ノズル移動機構22は、供給位置P1と受け渡し位置P2との間でピックアップノズル21を往復移動させ、また、供給位置P1及び受け渡し位置P2で昇降させる機構である。具体的には、ノズル移動機構22は、スライド機構221、昇降機構222を備える。なお、受け渡し位置P2とは、ピックアップ装置20が、供給位置P1でピックアップした電子部品2を後述する受取部として機能する実装ツール31に受け渡す位置である。 The nozzle movement mechanism 22 is a mechanism that moves the pickup nozzle 21 back and forth between the supply position P1 and the transfer position P2, and also raises and lowers it at the supply position P1 and the transfer position P2. Specifically, the nozzle movement mechanism 22 includes a slide mechanism 221 and a lifting mechanism 222. The transfer position P2 is a position where the pickup device 20 passes the electronic component 2 picked up at the supply position P1 to the mounting tool 31, which functions as a receiving unit described later.

供給位置P1及び受け渡し位置P2は、主にXY方向の位置を意味し、必ずしもZ軸方向の位置を意味するものではない。また、Z軸方向の位置(高さ)を意味する場合であっても、その高さには所定の幅があるものとする。所定の幅には、電子部品2の受け渡しの際の、電子部品2の厚み、電子部品2を突き上げる距離、電子部品2を吸着可能な距離などが含まれる。 The supply position P1 and the transfer position P2 mainly refer to positions in the XY directions, and do not necessarily refer to positions in the Z axis direction. Even if they refer to the position (height) in the Z axis direction, the height is assumed to have a predetermined width. The predetermined width includes the thickness of the electronic component 2, the distance the electronic component 2 is pushed up, the distance at which the electronic component 2 can be adsorbed, etc., when transferring the electronic component 2.

スライド機構221は、ピックアップノズル21を供給位置P1と受け渡し位置P2との間で往復移動させる。ここでは、スライド機構221は、X軸方向と平行に延び、支持フレーム221aに固定されたレール221bと、レール221b上を走行するスライダ221cとを有する。昇降機構222は、ピックアップノズル21を上下方向に移動させる。具体的には、昇降機構222は、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。すなわち、サーボモータの駆動により、ピックアップノズル21がZ軸方向に沿って昇降する。 The slide mechanism 221 moves the pick-up nozzle 21 back and forth between the supply position P1 and the transfer position P2. Here, the slide mechanism 221 has a rail 221b that extends parallel to the X-axis direction and is fixed to the support frame 221a, and a slider 221c that runs on the rail 221b. The lift mechanism 222 moves the pick-up nozzle 21 up and down. Specifically, the lift mechanism 222 can use a ball screw mechanism driven by a servo motor. That is, the pickup nozzle 21 moves up and down along the Z-axis direction by driving the servo motor.

方向転換部23は、ピックアップノズル21とノズル移動機構22の間に設けられている。方向転換部23は、ここでは、ピックアップノズル21の向きを変更するモータ等の駆動源を含んでなるアクチュエータである。向きを変更するとは、上下方向に0°~180°回転させることである。例えば、吸着面を供給ステージ12へと向けたピックアップノズル21が供給位置P1で電子部品2を吸着保持する。その後、方向転換部23は、吸着面が上に向くようにピックアップノズル21の向きを変更する。この時、回転角度は180°である。 The direction changing unit 23 is provided between the pick-up nozzle 21 and the nozzle movement mechanism 22. Here, the direction changing unit 23 is an actuator including a drive source such as a motor that changes the direction of the pick-up nozzle 21. Changing the direction means rotating the pick-up nozzle 21 up or down by 0° to 180°. For example, the pick-up nozzle 21 with its suction surface facing the supply stage 12 suctions and holds the electronic component 2 at the supply position P1. The direction changing unit 23 then changes the direction of the pick-up nozzle 21 so that the suction surface faces upward. At this time, the rotation angle is 180°.

突き上げピン24は、供給装置10のシート11の下方に設けられている。突き上げピン24は、先端の尖った針状の部材である。突き上げピン24は、長さ方向がZ軸方向に平行になるようにバックアップ体241の内部に設けられている。 The push-up pin 24 is provided below the sheet 11 of the supply device 10. The push-up pin 24 is a needle-shaped member with a sharp tip. The push-up pin 24 is provided inside the backup body 241 so that its length is parallel to the Z-axis direction.

バックアップ体241は、突き上げピン24をその内部から進出またはその内部へと退避させる駆動機構を有する。この進出または退避は、上下方向に行われる。この駆動機構は、例えば、エアシリンダやカム機構によって駆動される機構である。 The backup body 241 has a drive mechanism that advances or retreats the thrust pin 24 from its interior. This advancement or retreat occurs in the vertical direction. This drive mechanism is, for example, a mechanism driven by an air cylinder or a cam mechanism.

[搭載装置]
搭載装置30は、ピックアップ装置20から受け取った電子部品2を実装位置P3まで搬送し、基板Wに実装する装置である。実装位置P3とは、電子部品2を基板Wに実装する位置である。搭載装置30は、実装ツール31、ツール移動機構32を有する。
[On-board equipment]
The mounting device 30 is a device that transports the electronic component 2 received from the pickup device 20 to a mounting position P3 and mounts the electronic component 2 on the substrate W. The mounting position P3 is a position where the electronic component 2 is mounted on the substrate W. The mounting device 30 has a mounting tool 31 and a tool moving mechanism 32.

実装ツール31は、受け渡し位置P2でピックアップノズル21から電子部品2を受け取る受取部としての機能を有し、また当該電子部品2を実装位置P3で基板Wに実装する部材である。実装ツール31は、電子部品2を保持し、また実装後は保持状態を解除して電子部品2を解放する。 The mounting tool 31 functions as a receiving part that receives the electronic component 2 from the pickup nozzle 21 at the transfer position P2, and is a member that mounts the electronic component 2 on the board W at the mounting position P3. The mounting tool 31 holds the electronic component 2, and after mounting, releases the held state to release the electronic component 2.

具体的には、実装ツール31は、図3(A)、(B)に示すように、略直方体形状のブロックであり、保持面311、開口312、通気孔313を有する。保持面311は、実装ツール31の底面であり、電子部品2が湾曲して接するように隆起した面である。湾曲とは、角が生じないように曲がることをいい、図3(B)に示すように、平坦面の間に曲面が生じて曲がるような、いわゆる屈曲と呼べるような態様も含む。本実施形態の保持面311は、山形である。ここでいう山形は、角度の異なる2つの平坦面が、中央の最も高い頂点を含む峰部分で緩やかに連続している形状をいう。つまり、保持面311は、平面形状は矩形であり、長辺方向の両側面の中央が峰部分となり、両側面の峰部分を結ぶ稜線が短辺方向となっている。なお、保持面311は、電子部品2の実装時の圧力では弾性変形しないように、実装ツール31は硬質な材料で形成されていることが好ましい。保持面311は、実装する電子部品2に応じて、平面形状が長方形であっても、正方形であってもよい。なお、上記のように、図3及びその他の図面は模式図であって、保持面311の隆起の程度や、他の部分との比率等は、理解を容易にするために誇張している。 Specifically, as shown in Figs. 3A and 3B, the mounting tool 31 is a block having an approximately rectangular parallelepiped shape, and has a holding surface 311, an opening 312, and an air hole 313. The holding surface 311 is the bottom surface of the mounting tool 31, and is a raised surface so that the electronic component 2 is curved and in contact with it. The term "curved" refers to bending without creating corners, and includes a form that can be called bending, such as a curved surface being created between flat surfaces as shown in Fig. 3B. The holding surface 311 in this embodiment is mountain-shaped. The mountain shape here refers to a shape in which two flat surfaces with different angles are gently connected at a peak portion including the highest apex in the center. In other words, the holding surface 311 has a rectangular planar shape, with the center of both sides in the long side direction being the peak portion, and the ridge line connecting the peak portions of both sides being in the short side direction. It is preferable that the mounting tool 31 is made of a hard material so that the holding surface 311 does not elastically deform under the pressure when the electronic component 2 is mounted. The holding surface 311 may have a rectangular or square planar shape depending on the electronic component 2 to be mounted. As mentioned above, FIG. 3 and other drawings are schematic diagrams, and the degree of protrusion of the holding surface 311 and its ratio to other parts are exaggerated for ease of understanding.

開口312は、図3(C)に示すように、保持面311に複数設けられている。複数の開口312は、複数の列に並べて設けられている。各列の方向は、ここでは、保持面311が長方形である場合にその短辺に平行な方向である。但し、この方向には限定されない。本実施形態における開口312は、峰部分に設けられた1列である列[1]を挟んで、保持面311の両短辺側に列[2]、列[3]の2列ずつ設けられている。 As shown in FIG. 3(C), a plurality of openings 312 are provided on the holding surface 311. The plurality of openings 312 are arranged in a plurality of rows. In this embodiment, the direction of each row is parallel to the short side of the holding surface 311 when the holding surface 311 is rectangular. However, the direction is not limited to this. In this embodiment, the openings 312 are provided in two rows, row [2] and row [3], on both short sides of the holding surface 311, with row [1] being one row provided on the ridge portion.

通気孔313は、一端が開口312に連通し、孔内の圧力を、負圧にすることにより保持面311に電子部品2を保持し、正圧とすることにより電子部品2を離脱させる。各通気孔313の他端は、負圧及び正圧を切り替えて発生させる空気圧回路(図示せず)に連通している。本実施形態は、列毎に、負圧及び正圧を切り替えることができるように、各列の通気孔313がそれぞれ配管及びバルブに接続されている。このようなバルブは、通気孔313に対する負圧及び正圧を切り替える切替部として機能する。 One end of the vent hole 313 communicates with the opening 312, and the pressure inside the hole can be made negative to hold the electronic component 2 on the holding surface 311, or made positive to release the electronic component 2. The other end of each vent hole 313 communicates with an air pressure circuit (not shown) that switches between generating negative and positive pressure. In this embodiment, each row of vent holes 313 is connected to a pipe and a valve so that negative and positive pressures can be switched for each row. Such a valve functions as a switch that switches between negative and positive pressure for the vent hole 313.

ツール移動機構32は、実装ツール31を受け渡し位置P2と実装位置P3との間で往復移動させ、受け渡し位置P2と実装位置P3で昇降させる。ツール移動機構32は、スライド機構321、昇降機構322を有する。 The tool movement mechanism 32 moves the mounting tool 31 back and forth between the transfer position P2 and the mounting position P3, and raises and lowers it between the transfer position P2 and the mounting position P3. The tool movement mechanism 32 has a slide mechanism 321 and a lifting mechanism 322.

スライド機構321は、実装ツール31を受け渡し位置P2と実装位置P3との間で往復移動させる。ここでは、スライド機構321は、X軸方向と平行に延び、支持フレーム321aに固定された2本のレール321bと、レール321b上を走行するスライダ321cとを有する。なお、図示はしないが、スライド機構321は、実装ツール31をY軸方向にスライド移動させるスライド機構を有している。このスライド機構も、Y軸方向のレールとレールを走行するスライダによって構成できる。 The slide mechanism 321 moves the mounting tool 31 back and forth between the transfer position P2 and the mounting position P3. Here, the slide mechanism 321 has two rails 321b that extend parallel to the X-axis direction and are fixed to the support frame 321a, and a slider 321c that runs on the rails 321b. Although not shown, the slide mechanism 321 has a slide mechanism that slides the mounting tool 31 in the Y-axis direction. This slide mechanism can also be composed of a rail in the Y-axis direction and a slider that runs on the rails.

昇降機構322は、実装ツール31が着脱可能に設けられたアームを駆動することにより、実装ツール31を上下方向に移動させる。具体的には、昇降機構322は、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構を用いることができる。すなわち、サーボモータの駆動により、実装ツール31がZ軸方向に沿って昇降する。さらに、昇降機構322には、実装ツール31に対する接触を検知する検知部322aが設けられている。検知部322aとしては、歪ゲージやピエゾ素子などの荷重センサを用いることができる。 The lifting mechanism 322 moves the mounting tool 31 in the up and down direction by driving an arm to which the mounting tool 31 is detachably attached. Specifically, the lifting mechanism 322 can use a ball screw mechanism driven by a servo motor. That is, the mounting tool 31 is raised and lowered along the Z-axis direction by driving the servo motor. Furthermore, the lifting mechanism 322 is provided with a detector 322a that detects contact with the mounting tool 31. A load sensor such as a strain gauge or a piezoelectric element can be used as the detector 322a.

基板ステージ60は、電子部品2を実装するための基板Wを支持する台である。基板ステージ60は、ステージ移動機構61に設けられている。ステージ移動機構61は、基板ステージ60をXY平面上でスライド移動させ、基板Wにおける電子部品2の実装位置P3に合わせる移動機構である。ステージ移動機構61は、例えば、サーボモータによって駆動されるボールねじ機構である。 The substrate stage 60 is a platform that supports the substrate W on which the electronic component 2 is mounted. The substrate stage 60 is provided on a stage movement mechanism 61. The stage movement mechanism 61 is a movement mechanism that slides the substrate stage 60 on the XY plane to align it with the mounting position P3 of the electronic component 2 on the substrate W. The stage movement mechanism 61 is, for example, a ball screw mechanism driven by a servo motor.

制御装置50は、供給装置10、ピックアップ装置20、搭載装置30、基板ステージ60の起動、停止、速度、動作タイミング等を制御する。すなわち、制御装置50は、実装装置1の制御装置である。制御装置50は、例えば、専用の電子回路又は所定のプログラムで動作するコンピュータ等によって実現できる。制御装置50には、オペレータが制御に必要な指示や情報を入力する入力装置、装置の状態を確認するための出力装置が接続されている。入力装置は、スイッチ、タッチパネル、キーボード、マウスなどを用いることができる。出力装置は、液晶、有機ELなどの表示部を用いることができる。 The control device 50 controls the start, stop, speed, operation timing, etc. of the supply device 10, the pickup device 20, the mounting device 30, and the substrate stage 60. In other words, the control device 50 is a control device for the mounting device 1. The control device 50 can be realized, for example, by a dedicated electronic circuit or a computer that operates with a specified program. The control device 50 is connected to an input device through which an operator inputs instructions and information required for control, and an output device for checking the status of the device. The input device can be a switch, a touch panel, a keyboard, a mouse, etc. The output device can be a display unit such as a liquid crystal or an organic electroluminescence (EL).

図4は、制御装置50の機能ブロック図である。制御装置50は、供給装置制御部51、突き上げピン制御部52、ピックアップノズル制御部53、実装ツール制御部54、基板ステージ制御部56、記憶部57を有している。 Figure 4 is a functional block diagram of the control device 50. The control device 50 has a supply device control unit 51, a push-up pin control unit 52, a pickup nozzle control unit 53, a mounting tool control unit 54, a substrate stage control unit 56, and a memory unit 57.

供給装置制御部51は、供給ステージ12の移動を制御する。すなわち、シート11に載せられたピックアップ対象となる電子部品2の移動を制御する。突き上げピン制御部52は、突き上げピン24の移動を制御する。 The supply device control unit 51 controls the movement of the supply stage 12. In other words, it controls the movement of the electronic components 2 to be picked up that are placed on the sheet 11. The push-up pin control unit 52 controls the movement of the push-up pins 24.

ピックアップノズル制御部53は、ピックアップノズル21の移動、すなわちノズル移動機構22及び方向転換部23の動作を制御する。また、ピックアップノズル制御部53は、ノズル孔21bと連通した負圧発生回路を制御し、電子部品2の保持及び解放を制御する。 The pickup nozzle control unit 53 controls the movement of the pickup nozzle 21, i.e., the operation of the nozzle movement mechanism 22 and the direction change unit 23. The pickup nozzle control unit 53 also controls the negative pressure generating circuit connected to the nozzle hole 21b, and controls the holding and release of the electronic component 2.

実装ツール制御部54は、実装ツール31の移動、すなわちツール移動機構32の動作を制御する。また、実装ツール制御部54は、実装ツール31の通気孔313と連通した空気圧回路を制御し、各列の開口312の負圧及び正圧を切替えて、電子部品2の保持及び解放を制御する。また、実装ツール制御部54は、検知部322aによる接触検知に応じて、通気孔313の負圧と正圧の切り替えを制御する。基板ステージ制御部56は、基板ステージ60の移動、すなわちステージ移動機構61の動作を制御する。 The mounting tool control unit 54 controls the movement of the mounting tool 31, i.e., the operation of the tool movement mechanism 32. The mounting tool control unit 54 also controls the air pressure circuit connected to the air vents 313 of the mounting tool 31, and switches between negative and positive pressures at the openings 312 of each row to control the holding and release of the electronic components 2. The mounting tool control unit 54 also controls the switching between negative and positive pressures at the air vents 313 in response to contact detection by the detection unit 322a. The substrate stage control unit 56 controls the movement of the substrate stage 60, i.e., the operation of the stage movement mechanism 61.

記憶部57は、HDDまたはSSDなどの記録媒体である。記憶部57には、実装装置1の動作に必要なデータ、プログラムが予め記憶され、また、実装装置1の動作に必要なデータを記憶する。この必要なデータとは、例えば、供給位置P1、受け渡し位置P2、実装位置P3の位置座標、各移動機構の位置座標である。上述の各移動機構は、これらの座標に基づいて各構成の移動制御を行う。また、記憶部57には、実装ツール31の通気孔313の列のいずれを負圧から正圧へと切り替えるかのタイミングが記憶されている。 The storage unit 57 is a recording medium such as an HDD or SSD. The storage unit 57 prestores data and programs necessary for the operation of the mounting device 1, and also stores data necessary for the operation of the mounting device 1. This necessary data is, for example, the position coordinates of the supply position P1, the transfer position P2, and the mounting position P3, and the position coordinates of each moving mechanism. Each of the above-mentioned moving mechanisms controls the movement of each component based on these coordinates. The storage unit 57 also stores the timing for switching which of the rows of air vents 313 of the mounting tool 31 from negative pressure to positive pressure.

[動作]
以上のような実装装置1の動作を説明する。まず、ピックアップ装置20は、供給装置10から電子部品2をピックアップし、当該電子部品2を搭載装置30に受け渡す。つまり、ピックアップ装置20によって、ピックアップノズル21を突き上げピン24が位置する供給位置P1に移動させ、ピックアップノズル21のノズル孔21bと突き上げピン24を対向させる
[Action]
The operation of the mounting apparatus 1 described above will be described. First, the pickup device 20 picks up the electronic component 2 from the supply device 10 and transfers the electronic component 2 to the mounting device 30. That is, the pickup device 20 moves the pickup nozzle 21 to the supply position P1 where the push-up pin 24 is located, and the nozzle hole 21b of the pickup nozzle 21 faces the push-up pin 24.

一方、供給装置10は、供給ステージ12を移動させ、供給位置P1にピックアップ対象の電子部品2を位置させる。この後、ピックアップノズル21を下降させて吸着面を供給位置P1の電子部品2に当接させて電子部品2を吸着する。次いで、電子部品2を保持したままピックアップノズル21を上昇させつつ、電子部品2を突き上げピン24で突き上げることによって、電子部品2をシート11から剥がしながらピックアップする。 Meanwhile, the supply device 10 moves the supply stage 12 to position the electronic component 2 to be picked up at the supply position P1. After this, the pick-up nozzle 21 is lowered to bring the suction surface into contact with the electronic component 2 at the supply position P1 and pick up the electronic component 2. Next, while still holding the electronic component 2, the pick-up nozzle 21 is raised and the electronic component 2 is pushed up by the push-up pin 24, thereby peeling the electronic component 2 off the sheet 11 and picking it up.

ピックアップ装置20は、方向転換部23によって、ピックアップノズル21を反転させる。すなわち、ピックアップノズル21の向きを上下方向に180°回転させ、ピックアップノズル21の吸着面を上方へ向ける。なお、反転動作は供給位置P1から受け渡し位置P2までの間のどの地点で行われてもよい。 The pickup device 20 inverts the pickup nozzle 21 using the direction changer 23. That is, the orientation of the pickup nozzle 21 is rotated 180° in the vertical direction so that the suction surface of the pickup nozzle 21 faces upward. The inversion operation may be performed at any point between the supply position P1 and the transfer position P2.

ピックアップ装置20は、ノズル移動機構22によって、受け渡し位置P2にピックアップした電子部品2を移動させる。搭載装置30の実装ツール31は、ツール移動機構32によって、受け渡し位置P2に移動して待機して、電子部品2を介してピックアップノズル21のノズル孔21bと、実装ツール31の保持面311が対向する。 The pickup device 20 moves the picked-up electronic component 2 to the transfer position P2 by the nozzle movement mechanism 22. The mounting tool 31 of the mounting device 30 moves to the transfer position P2 by the tool movement mechanism 32 and waits there, until the nozzle hole 21b of the pickup nozzle 21 faces the holding surface 311 of the mounting tool 31 through the electronic component 2.

そして、受け渡し位置P2に位置したピックアップノズル21に向けて実装ツール31を下降させ、実装ツール31の通気孔313に負圧を作用させて電子部品2を保持した後、ピックアップノズル21が負圧を解除することにより、ピックアップノズル21から実装ツール31へと電子部品2を受け渡す。これにより、電子部品2が保持面311の隆起に倣うように湾曲して吸着保持される。 Then, the mounting tool 31 is lowered toward the pickup nozzle 21 located at the transfer position P2, and negative pressure is applied to the air hole 313 of the mounting tool 31 to hold the electronic component 2. The pickup nozzle 21 then releases the negative pressure, and the electronic component 2 is transferred from the pickup nozzle 21 to the mounting tool 31. As a result, the electronic component 2 is curved to follow the bulge of the holding surface 311 and is held by suction.

この後、実装ツール31は、実装位置P3へと移動し、電子部品2を基板Wに実装する。この実装動作を、図5のフローチャート、図6の動作説明図を参照して説明する。まず、実装ツール31が実装位置P3に移動して、図6(A)に示すように、実装ツール31に保持された電子部品2が、基板Wに対向する(ステップS01)。そして、実装ツール31が下降して、電子部品2を基板Wに接近させる(ステップS02)。 Then, the mounting tool 31 moves to the mounting position P3 and mounts the electronic component 2 on the board W. This mounting operation will be described with reference to the flowchart in FIG. 5 and the operation explanatory diagram in FIG. 6. First, the mounting tool 31 moves to the mounting position P3, and as shown in FIG. 6 (A), the electronic component 2 held by the mounting tool 31 faces the board W (step S01). Then, the mounting tool 31 descends to bring the electronic component 2 close to the board W (step S02).

実装ツール31の検知部322aが電子部品2と基板Wとの接触を検知すると(ステップS03のYES)、実装ツール31が下降を停止する(ステップS04)。そして、通気孔313の一部から順次、負圧を停止するとともに、正圧とすることにより、電子部品2を離脱させて基板Wに実装する。つまり、図3に示した列[1]、列[2]、列[3]の順に、正圧に切り替えて、開口312からブローを行う(ステップS05~S07)。 When the detector 322a of the mounting tool 31 detects contact between the electronic component 2 and the board W (YES in step S03), the mounting tool 31 stops descending (step S04). Then, the negative pressure is stopped and positive pressure is applied sequentially from some of the vent holes 313, thereby removing the electronic component 2 and mounting it on the board W. In other words, positive pressure is applied in the order of row [1], row [2], and row [3] shown in FIG. 3, and blowing is performed from the openings 312 (steps S05 to S07).

このとき、図6(B)、(C)、(D)に示すように、通気孔313の複数の列のうち、保持面311の最も隆起した峰部分に対応する電子部品2の部分が、最初に基板Wに接して、この峰部分の列から隣接する列へと順次負圧(図中白塗りの矢印)から正圧(図中黒塗りの矢印)に切り替わる。これにより、湾曲した電子部品2が、峰部分から外側に向かって、徐々に基板Wの平坦面に倣うように離脱して行くので、気泡が外側に排除されながら基板Wに実装される。実装後は、図6(E)に示すように、実装ツール31が上昇して、電子部品2を残して基板Wから退避する(ステップS08)。 At this time, as shown in Figures 6(B), (C), and (D), the part of the electronic component 2 corresponding to the most elevated ridge of the holding surface 311 among the multiple rows of ventilation holes 313 comes into contact with the substrate W first, and the pressure is switched from negative (white arrow in the figure) to positive (black arrow in the figure) from this ridge row to the adjacent row in sequence. As a result, the curved electronic component 2 gradually moves outward from the ridge to follow the flat surface of the substrate W, and the electronic component 2 is mounted on the substrate W while air bubbles are expelled to the outside. After mounting, as shown in Figure 6(E), the mounting tool 31 rises and retreats from the substrate W, leaving the electronic component 2 behind (step S08).

[効果]
(1)本実施形態は、電子部品2を基板Wに実装する実装ツール31であって、電子部品2が湾曲して接するように隆起した保持面311と、保持面311に設けられた複数の開口312と、開口312に連通し、負圧により保持面311に電子部品2を保持し、一部から順次正圧となることにより、保持面311から電子部品2を離脱させる通気孔313と、を有する。
[effect]
(1) This embodiment relates to a mounting tool 31 for mounting an electronic component 2 on a substrate W, and includes a holding surface 311 that is raised so that the electronic component 2 curves and comes into contact with it, a plurality of openings 312 provided in the holding surface 311, and air vents 313 that communicate with the openings 312 and hold the electronic component 2 on the holding surface 311 by applying negative pressure and gradually become positive pressure in parts, thereby removing the electronic component 2 from the holding surface 311.

また、本実施形態の実装装置1は、実装ツール31を有し、実装ツール31を、受け渡し位置と実装位置との間で往復移動させ、受け渡し位置及び実装位置で昇降させるツール移動機構32と、実装ツール31に対する接触圧を検知する検知部322aと、検知部322aにより接触を検知した場合に、実装ツール31の通気孔313に対する負圧及び正圧を切り替える切替部と、を有する。 The mounting device 1 of this embodiment also has a mounting tool 31, a tool movement mechanism 32 that moves the mounting tool 31 back and forth between a transfer position and a mounting position and raises and lowers it at the transfer position and the mounting position, a detection unit 322a that detects the contact pressure on the mounting tool 31, and a switching unit that switches between negative and positive pressure on the air hole 313 of the mounting tool 31 when contact is detected by the detection unit 322a.

このため、負圧によって保持面311に電子部品2が湾曲して保持された状態から、通気孔を順次正圧とすることにより、電子部品2が基板Wに倣うように平坦となる過程で、気泡が排出されながら実装される。これにより、電子部品2と基板Wとの間に気泡が残留することが抑制され、実装不良が低減する。電子部品2自体の湾曲が復元することを利用して実装されるので、押圧力が偏ることなく均一に働き、気泡を均一に押し出すことができるとともに、電子部品2の破損も低減できる。 Therefore, by sequentially applying positive pressure to the vent holes from a state in which the electronic component 2 is held curved on the holding surface 311 by negative pressure, the electronic component 2 becomes flat to conform to the substrate W, and air bubbles are expelled during mounting. This prevents air bubbles from remaining between the electronic component 2 and the substrate W, reducing mounting defects. Since mounting is performed by utilizing the restoration of the curvature of the electronic component 2 itself, the pressing force acts evenly without bias, allowing air bubbles to be pushed out evenly and reducing damage to the electronic component 2.

(2)複数の開口312は複数の列に並べて形成されている。このため、列毎に順次負圧を正圧に切り替えていくことにより、電子部品2の一部に過大な力が加わることを防止しつつ、湾曲を平坦に戻して実装することができる。 (2) The multiple openings 312 are arranged in multiple rows. Therefore, by sequentially switching the negative pressure to positive pressure for each row, it is possible to prevent excessive force from being applied to a part of the electronic component 2 and to return the curve to a flat surface for mounting.

(3)複数の通気孔313のうち、保持面311の最も隆起した峰部分に近い通気孔313から、隣接する通気孔313を順次正圧とする。このため、始めに電子部品2が基板Wに接触した部分から、徐々に外縁に向かって基板Wに接触させて、気泡を排出することができる。なお、各列を短辺方向に平行とすることにより、長方形状の電子部品2が変形しやすい長辺方向に湾曲を生じさせることができる。 (3) Of the multiple air vents 313, positive pressure is applied to the air vent 313 closest to the most raised ridge of the holding surface 311, and then to the adjacent air vents 313 in sequence. This allows the electronic component 2 to be brought into contact with the substrate W from the portion where it first comes into contact with the substrate W, gradually moving toward the outer edge, thereby allowing air bubbles to be expelled. By making each row parallel to the short side direction, it is possible to cause a curve in the long side direction, which is the direction in which the rectangular electronic component 2 is likely to deform.

(3)保持面311は山形である。このため、中央の峰部分を挟んで両側の外縁に向かって、徐々に基板Wが平坦となることにより、電子部品2の中央から湾曲が平坦に戻りながら基板Wに接して行く距離が短くて済むので、気泡を巻き込むおそれも少ない。さらに、保持面311の長辺に山形を形成し、峰部分を結ぶ稜線を短辺方向とすることにより、電子部品2の長辺方向に湾曲を生じさせるので、電子部品2が保持面311に倣い易い。なお、峰部分を結ぶ稜線を保持面311のいずれかの辺上に設けることもできる。例えば、一端の短辺上に稜線を設けた場合に、一端から他端に向かって順次正圧とすることにより、電子部品2が一端から他端に向かって基板Wに接して行く。この場合であっても、気泡を排除しつつ、電子部品2の破損を低減できる効果は得られる。電子部品2に湾曲が生じない分さらに破損の虞が低減される。例えば、図3(C)のように開口312の列が設けられている場合、一端側の列[3]から、列[2]、列[1]、他端側の列[2]、列[3]の順に負圧から正圧に切り替える。 (3) The holding surface 311 is mountain-shaped. Therefore, the substrate W gradually becomes flat toward the outer edges on both sides of the central ridge, so that the distance from the center of the electronic component 2 to contact the substrate W while the curve returns to flat is short, and there is little risk of air bubbles being drawn in. Furthermore, by forming a mountain shape on the long side of the holding surface 311 and making the ridge line connecting the ridge lines in the short side direction, the electronic component 2 is curved in the long side direction, so that the electronic component 2 can easily follow the holding surface 311. The ridge line connecting the ridge lines can also be provided on either side of the holding surface 311. For example, when a ridge line is provided on the short side of one end, the electronic component 2 comes into contact with the substrate W from one end to the other end by applying positive pressure sequentially from one end to the other end. Even in this case, the effect of reducing damage to the electronic component 2 while eliminating air bubbles can be obtained. The risk of damage is further reduced because the electronic component 2 does not curve. For example, if rows of openings 312 are provided as shown in FIG. 3(C), the pressure is switched from negative to positive in the order of row [3] on one end, row [2], row [1], row [2] on the other end, and row [3].

[変形例]
本実施形態は、以下のような変形例も適用可能である。
(1)保持面311は曲面であってもよい。例えば、図7に示すように、保持面311が、円筒の側面の一部のように隆起した形状であってもよい。なお、ここでいう円筒の側面の一部とは、断面が円形、楕円形、角丸長方形、トラック形の筒状体の一部である場合も含む。これにより、電子部品2の湾曲が緩やかとなり、電子部品2に対する影響を抑えることができる。なお、上記の態様では、峰部分を結ぶ稜線部分に開口312を設けている。しかし、開口312は、必ずしも稜線上に設ける必要はなく、その近傍に設けられていてもよい。各開口312の通気孔313のうち、稜線に近いところから、順次負圧から正圧にすることで、上記と同様の効果を得られる。また、このような曲面の場合であっても、稜線部分を保持面311のいずれかの辺上に設けることもできる。
[Modification]
The present embodiment can also be modified as follows.
(1) The holding surface 311 may be a curved surface. For example, as shown in FIG. 7, the holding surface 311 may be a raised shape like a part of the side surface of a cylinder. The part of the side surface of a cylinder here includes a part of a cylindrical body whose cross section is a circle, an ellipse, a rounded rectangle, or a track shape. This makes the electronic component 2 curve gently, and the influence on the electronic component 2 can be suppressed. In the above embodiment, the opening 312 is provided on the ridge line portion connecting the ridge portions. However, the opening 312 does not necessarily have to be provided on the ridge line, and may be provided in the vicinity of the ridge line. The same effect as above can be obtained by sequentially changing the pressure from negative to positive among the ventilation holes 313 of each opening 312 from the part closest to the ridge line. Even in the case of such a curved surface, the ridge line portion can be provided on any side of the holding surface 311.

(2)実装ツール31が、ピックアップノズル21から電子部品2を受け取る際には、保持面311の一部の通気孔313から、隣接する通気孔313を順次負圧としてもよい。つまり、実装ツール31が電子部品2を受け取る際に、電子部品2を保持面311に倣って湾曲させようとしても、一部が浮いてしまったり、片寄ってしまったりすると、電子部品2の位置認識ができなくなるなどの問題が生じる。また、電子部品2の浮きや片寄りが生じたままで実装しようとすると、稜線から外縁に沿って離れる際に、タイミングのずれが生じて気泡を巻き込む可能性がある。 (2) When the mounting tool 31 receives the electronic component 2 from the pick-up nozzle 21, negative pressure may be applied sequentially from some of the vents 313 on the holding surface 311 to adjacent vents 313. In other words, when the mounting tool 31 receives the electronic component 2, even if the mounting tool 31 attempts to bend the electronic component 2 to conform to the holding surface 311, if some of the electronic component 2 floats or shifts to one side, problems such as being unable to recognize the position of the electronic component 2 may arise. Furthermore, if mounting is attempted with the electronic component 2 floating or shifting, there is a possibility that a timing shift will occur when the electronic component 2 moves away from the ridge along the outer edge, resulting in the inclusion of air bubbles.

例えば、複数の通気孔313のうち、保持面311の最も隆起した峰部分に近い通気孔313から、隣接する通気孔313を順次負圧とするとよい。より具体的には、図8(A)に示すように、実装ツール31の保持面311が電子部品2に接近して、検知部322aが接触を検知すると、図8(B)~(D)に示すように、開口312の列[1]から、列[2]、列[3](図3(B)参照)を順次負圧とする。これにより、保持面311に倣うように電子部品2を徐々に湾曲させながら、実装ツール31がピックアップノズル21から電子部品2を受け取ることができるので、浮きや片寄りが抑制され、位置認識ができなくなることを防止できる。また、浮きや片寄りが低減されるので、電子部品2を実装する際に、離脱するタイミングのずれが生じ難く、気泡を巻き込む可能性を低減できる。 For example, among the multiple ventilation holes 313, negative pressure may be applied to the ventilation holes 313 adjacent to the ventilation hole 313 closest to the most raised ridge of the holding surface 311 in sequence. More specifically, as shown in FIG. 8(A), when the holding surface 311 of the mounting tool 31 approaches the electronic component 2 and the detection unit 322a detects contact, negative pressure is applied to the row [1], row [2], and row [3] (see FIG. 3(B)) of the openings 312 in sequence, as shown in FIGS. 8(B) to (D). This allows the mounting tool 31 to receive the electronic component 2 from the pickup nozzle 21 while gradually curving the electronic component 2 to follow the holding surface 311, thereby suppressing floating and offset, and preventing the electronic component 2 from becoming unable to recognize its position. In addition, since floating and offset are reduced, when mounting the electronic component 2, it is less likely that the timing of removal will be shifted, and the possibility of air bubbles being drawn in can be reduced.

[他の実施形態]
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、下記に示す他の実施形態も包含する。また、本発明は、上記実施形態及び下記の他の実施形態を全て又はいずれかを組み合わせた形態も包含する。さらに、これらの実施形態を発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができ、その変形も本発明に含まれる。
[Other embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, but also includes other embodiments described below. The present invention also includes a combination of all or any of the above-described embodiment and the other embodiments described below. Furthermore, these embodiments can be omitted, replaced, or modified in various ways without departing from the scope of the invention, and such modifications are also included in the present invention.

1 実装装置
2 電子部品
10 供給装置
11 シート
12 供給ステージ
13 ステージ移動機構
20 ピックアップ装置
21 ピックアップノズル
21b ノズル孔
22 ノズル移動機構
23 方向転換部
24 突き上げピン
30 搭載装置
31 実装ツール
32 ツール移動機構
50 制御装置
51 供給装置制御部
52 突き上げピン制御部
53 ピックアップノズル制御部
54 実装ツール制御部
56 基板ステージ制御部
57 記憶部
60 基板ステージ
61 ステージ移動機構
221 スライド機構
221a 支持フレーム
221b レール
221c スライダ
222 昇降機構
241 バックアップ体
311 保持面
312 開口
313 通気孔
321 スライド機構
321a 支持フレーム
321b レール
321c スライダ
322 昇降機構
322a 検知部
1 Mounting device 2 Electronic component 10 Supply device 11 Sheet 12 Supply stage 13 Stage movement mechanism 20 Pickup device 21 Pickup nozzle 21b Nozzle hole 22 Nozzle movement mechanism 23 Direction change unit 24 Push-up pin 30 Mounting device 31 Mounting tool 32 Tool movement mechanism 50 Control device 51 Supply device control unit 52 Push-up pin control unit 53 Pickup nozzle control unit 54 Mounting tool control unit 56 Substrate stage control unit 57 Memory unit 60 Substrate stage 61 Stage movement mechanism 221 Slide mechanism 221a Support frame 221b Rail 221c Slider 222 Lifting mechanism 241 Backup body 311 Holding surface 312 Opening 313 Vent 321 Slide mechanism 321a Support frame 321b Rail 321c Slider 322 Lifting mechanism 322a Detection unit

Claims (5)

電子部品を基板に実装する実装ツールであって、
前記電子部品が湾曲して接するように隆起した保持面と、
前記保持面に設けられた複数の開口と、
前記開口に連通し、内部の圧力を負圧にすることにより前記保持面に前記電子部品を保持し、一部から順次正圧とすることにより、前記保持面から前記電子部品を離脱させる通気孔と、
を有し、
前記複数の通気孔のうち、前記保持面の最も隆起した峰部分に近い通気孔から、隣接する通気孔を順次正圧とする実装ツールと、
前記実装ツールを、受け渡し位置と実装位置との間で往復移動させ、受け渡し位置及び実装位置で昇降させるツール移動機構と、
前記実装ツールに対する接触を検知する検知部と、
前記検知部により接触を検知した場合に、前記実装ツールの通気孔に対する負圧及び正圧を切り替える切替部と、
を有することを特徴とする実装装置。
A mounting tool for mounting electronic components on a substrate, comprising:
a holding surface that is raised so that the electronic component is curved and comes into contact with the holding surface;
A plurality of openings provided on the holding surface;
an air vent that communicates with the opening and holds the electronic component on the holding surface by making the internal pressure negative and sequentially makes a portion of the electronic component positive, thereby removing the electronic component from the holding surface;
having
a mounting tool that sequentially applies positive pressure to adjacent vent holes among the plurality of vent holes, starting from the vent hole closest to the most raised ridge portion of the holding surface ;
a tool moving mechanism for moving the mounting tool back and forth between a transfer position and a mounting position and for raising and lowering the mounting tool at the transfer position and the mounting position;
A detection unit that detects contact with the mounting tool;
a switching unit that switches between negative pressure and positive pressure applied to the vent hole of the mounting tool when the detection unit detects contact;
A mounting device comprising:
前記実装ツールの前記複数の開口は複数の列に並べて形成されていることを特徴とする請求項1記載の実装装置。 The mounting apparatus according to claim 1 , wherein the plurality of openings of the mounting tool are formed in a plurality of rows. 前記実装ツールの前記保持面は、山形であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の実装装置。 3. The mounting apparatus according to claim 1, wherein the holding surface of the mounting tool is mountain-shaped. 前記実装ツールの前記保持面は、曲面であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の実装装置。 3. The mounting apparatus according to claim 1, wherein the holding surface of the mounting tool is a curved surface . 前記複数の通気孔のうち、前記保持面の最も隆起した峰部分に近い通気孔から、隣接する通気孔を順次負圧とすることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の実装装置。 5. The mounting device according to claim 1 , wherein the negative pressure is sequentially applied to the plurality of vent holes, starting from the vent hole closest to the most elevated ridge portion of the holding surface, and progressing to adjacent vent holes.
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