JP7693066B2 - 基板処理システム及び収納モジュール - Google Patents
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Description
[基板処理システム1の構成]
図1は、本開示の第1実施形態における基板処理システムの一例を示す横断平面図である。図1に示す基板処理システム1は、枚葉でウエハ(例えば、半導体ウエハ。)にプラズマ処理等の各種処理を施すことが可能な基板処理システムである。
図2は、第1実施形態における収納モジュールの一例を示す正面断面図である。図2は、収納モジュール22をVTM11b側から見た断面図である。図2に示すように、収納モジュール22は、フレーム24の上にチャンバ30が設置され、チャンバ30の上部に機械室40を有する。チャンバ30は、内部を真空、大気圧に切り換え可能である。また、チャンバ30には、パージガスとして例えばN2ガスが供給され、調圧可能となっている。機械室40は、大気圧雰囲気である。
次に、第1実施形態に係る搬送方法について説明する。図7は、第1実施形態における搬送処理の一例を示すフローチャートである。図7では、カセット35の設置からロボットアーム12bがアライメントされたエッジリング50を取得するまでを説明する。
第1実施形態では、ステージ31内に回転部を設けてエッジリング50を回転させてアライメントを行ったが、載置台、収納部および昇降部を固定した台座を回転させてもよく、この場合の実施の形態につき、第2実施形態として説明する。なお、第1実施形態と同一の構成には同一符号を付すことで、その重複する構成および動作の説明については省略する。
図10は、第2実施形態における収納モジュールの一例を示す正面断面図である。図10に示す収納モジュール22aは、第1実施形態の収納モジュール22と比較して、チャンバ30および機械室40に代えて、チャンバ70および機械室90を有する。また、収納モジュール22aは、ステージ31、ラインセンサ32、ボールねじ36、モータ38ストレージ39に代えて、ステージ71、画像センサ72、ボールねじ76、モータ78およびストレージ79を有する。さらに、収納モジュール22aは、チャンバ70の底面にボールねじ76およびモータ78が設置された台座73を有する。また、ストレージ79は、ステージ71と、カゴ34とを有する。
10 処理システム本体
11a,11b 真空搬送室(VTM)
12a,12b ロボットアーム
13 プロセスモジュール(PM)
15 ロードロックモジュール(LLM)
18 EFEM
20 アッシャーモジュール
22,22a 収納モジュール
23 ゲートバルブ
30,70 チャンバ
31,71 ステージ
32 ラインセンサ
33 発光部
34 カゴ
35 カセット
36,76 ボールねじ
37 ガイド
38,78 モータ
39,79 ストレージ
40,90 機械室
41,81 窓
42 扉
50 エッジリング
72 画像センサ
73 台座
74 上部台座
75 ベース部
100 制御装置
120 フォーク
Claims (18)
- 真空搬送モジュールと、
前記真空搬送モジュールに接続される少なくとも1つの基板処理モジュールと、
前記真空搬送モジュールに接続される収納モジュールと、を有し、
前記収納モジュールは、
チャンバと、
前記チャンバ内に配置された支持体と、
前記支持体上で、前記少なくとも1つの基板処理モジュールにおいて使用される消耗部材の向きを検出するセンサと、
前記センサによって検出された前記消耗部材の向きに基づいて、前記支持体を回転させる駆動部と、
前記チャンバ内で前記支持体の下方に配置され、1つ又は複数の消耗部材を収納するよう構成される収納部と、
前記チャンバ内で前記収納部を昇降させる昇降部と、
を有する、基板処理システム。 - 前記消耗部材は環状部材であり、
前記支持体は、回転基台と、前記回転基台から外側に延びる複数のリング支持部材とを含み、
前記複数のリング支持部材は、前記環状部材を支持するよう構成される、
請求項1に記載の基板処理システム。 - 前記昇降部は、前記支持体とともに前記収納部を昇降させるよう構成される、
請求項1に記載の基板処理システム。 - 前記支持体と、前記収納部と、前記昇降部とが固定された台座をさらに含み、
前記駆動部は、前記台座を回転させる、
請求項1に記載の基板処理システム。 - 前記消耗部材は、エッジリング、カバーリングおよび上部電極のうち、1つまたは複数である、
請求項1~4のいずれか1つに記載の基板処理システム。 - 前記環状部材は、エッジリング又はカバーリングである、
請求項2に記載の基板処理システム。 - 前記センサは、ラインセンサである、
請求項1~6のいずれか1つに記載の基板処理システム。 - 前記センサは、画像センサである、
請求項1~6のいずれか1つに記載の基板処理システム。 - 前記昇降部は、ボールねじである、
請求項1~8のいずれか1つに記載の基板処理システム。 - チャンバと、
前記チャンバ内に配置された支持体と、
前記支持体上で消耗部材の向きを検出するセンサと、
前記センサによって検出された前記消耗部材の向きに基づいて、前記支持体を回転させる駆動部と、
前記チャンバ内で前記支持体の下方に配置され、1つ又は複数の消耗部材を収納するよう構成される収納部と、
前記チャンバ内で前記収納部を昇降させる昇降部と、
を有する、収納モジュール。 - 前記消耗部材は環状部材であり、
前記支持体は、回転基台と、前記回転基台から外側に延びる複数のリング支持部材とを含み、
前記複数のリング支持部材は、前記環状部材を支持するよう構成される、
請求項10に記載の収納モジュール。 - 前記昇降部は、前記支持体とともに前記収納部を昇降させるよう構成される、
請求項10に記載の収納モジュール。 - 前記支持体と、前記収納部と、前記昇降部とが固定された台座をさらに含み、
前記駆動部は、前記台座を回転させる、
請求項10に記載の収納モジュール。 - 前記消耗部材は、エッジリング、カバーリングおよび上部電極のうち、1つまたは複数である、
請求項10~13のいずれか1つに記載の収納モジュール。 - 前記環状部材は、エッジリング又はカバーリングである、
請求項11に記載の収納モジュール。 - 前記センサは、ラインセンサである、
請求項10~15のいずれか1つに記載の収納モジュール。 - 前記センサは、画像センサである、
請求項10~15のいずれか1つに記載の収納モジュール。 - 前記昇降部は、ボールねじである、
請求項10~17のいずれか1つに記載の収納モジュール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024110387A JP7693066B2 (ja) | 2020-06-19 | 2024-07-09 | 基板処理システム及び収納モジュール |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020106519A JP7519822B2 (ja) | 2020-06-19 | 2020-06-19 | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 |
| JP2024110387A JP7693066B2 (ja) | 2020-06-19 | 2024-07-09 | 基板処理システム及び収納モジュール |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020106519A Division JP7519822B2 (ja) | 2020-06-19 | 2020-06-19 | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2024133133A JP2024133133A (ja) | 2024-10-01 |
| JP7693066B2 true JP7693066B2 (ja) | 2025-06-16 |
Family
ID=78912507
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020106519A Active JP7519822B2 (ja) | 2020-06-19 | 2020-06-19 | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 |
| JP2024110387A Active JP7693066B2 (ja) | 2020-06-19 | 2024-07-09 | 基板処理システム及び収納モジュール |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020106519A Active JP7519822B2 (ja) | 2020-06-19 | 2020-06-19 | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12125738B2 (ja) |
| JP (2) | JP7519822B2 (ja) |
| KR (2) | KR102857181B1 (ja) |
| CN (2) | CN113823547B (ja) |
| TW (2) | TW202538952A (ja) |
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| JP7519822B2 (ja) * | 2020-06-19 | 2024-07-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 収納モジュール、基板処理システムおよび消耗部材の搬送方法 |
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| TWI814375B (zh) * | 2022-05-10 | 2023-09-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 承盤裝置、取盤方法、補盤方法及作業機 |
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| KR102090278B1 (ko) | 2019-06-27 | 2020-03-17 | 에이피티씨 주식회사 | 반도체용 부품의 교환을 위한 부품 교환 장치 및 이에 의한 부품의 교환 방법 |
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-
2020
- 2020-06-19 JP JP2020106519A patent/JP7519822B2/ja active Active
-
2021
- 2021-06-07 TW TW114121161A patent/TW202538952A/zh unknown
- 2021-06-07 TW TW110120536A patent/TWI891810B/zh active
- 2021-06-09 CN CN202110643230.XA patent/CN113823547B/zh active Active
- 2021-06-09 CN CN202510680708.4A patent/CN120545160A/zh active Pending
- 2021-06-10 KR KR1020210075704A patent/KR102857181B1/ko active Active
- 2021-06-18 US US17/351,294 patent/US12125738B2/en active Active
-
2024
- 2024-07-09 JP JP2024110387A patent/JP7693066B2/ja active Active
-
2025
- 2025-08-12 KR KR1020250111172A patent/KR20250130531A/ko active Pending
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| JP2012216614A (ja) | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2022002255A (ja) | 2022-01-06 |
| KR20250130531A (ko) | 2025-09-02 |
| CN113823547B (zh) | 2025-06-13 |
| CN113823547A (zh) | 2021-12-21 |
| TW202538952A (zh) | 2025-10-01 |
| JP2024133133A (ja) | 2024-10-01 |
| TW202203351A (zh) | 2022-01-16 |
| US20210398838A1 (en) | 2021-12-23 |
| CN120545160A (zh) | 2025-08-26 |
| TWI891810B (zh) | 2025-08-01 |
| JP7519822B2 (ja) | 2024-07-22 |
| KR102857181B1 (ko) | 2025-09-08 |
| US12125738B2 (en) | 2024-10-22 |
| KR20210157334A (ko) | 2021-12-28 |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240801 |
|
| A977 | Report on retrieval |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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