JP7711938B2 - Dressing Equipment - Google Patents
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Description
本発明は、ワークを研磨する研磨機の定盤に取り付けられた研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置に関する発明である。 The present invention relates to a dressing device that dresses a polishing pad attached to the platen of a polishing machine that polishes a workpiece.
従来、シリコンウェーハ等のワークを研磨する定盤に取り付けられた研磨パッドのドレッシングを行うドレッシング装置が知られている。従来のドレッシング装置では、例えば、図13(a)、(b)に示すように、上下定盤の間に配置されるドレッサー100が、上定盤に対向するドレッシング面101aを有する棒状の第1砥石101と、下定盤に対向するドレッシング面102aを有する棒状の第2砥石102と、備えている。そして、従来のドレッサー100では、弾性部材(板バネ等)103を介して第1、第2砥石101、102を押圧用の同軸シリンダ104でそれぞれ上下定盤に向けて押圧する(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, a dressing device that dresses a polishing pad attached to a platen for polishing a workpiece such as a silicon wafer is known. In a conventional dressing device, as shown in Figs. 13(a) and (b), for example, a dresser 100 arranged between upper and lower platens includes a rod-shaped first grindstone 101 having a dressing surface 101a facing the upper platen, and a rod-shaped second grindstone 102 having a dressing surface 102a facing the lower platen. In the conventional dresser 100, the first and second grindstones 101 and 102 are pressed against the upper and lower platens by a coaxial cylinder 104 for pressing via an elastic member (such as a leaf spring) 103 (see, for example, Patent Document 1).
また、図13(a)、(b)に示す例では、第1砥石101と第2砥石102とが同一の長さに設定されているが、例えば、図14(a)、(b)に示す変形例のドレッサー200のように、棒状の第1砥石201と第2砥石202との長さが異なっているドレッシング装置も存在する。図14(a)、(b)に示す従来のドレッサー200においても、第1砥石201が上定盤に対向するドレッシング面201aを有し、第2砥石202が下定盤に対向するドレッシング面202aを有している。そして、ドレッサー200は、弾性部材(板バネ等)203を介して第1砥石201を押圧用の第1シリンダ204aで上定盤に向けて押圧し、第2砥石202を押圧用の第2シリンダ204bで下定盤に向けて押圧する。 In the example shown in Fig. 13(a) and (b), the first grinding wheel 101 and the second grinding wheel 102 are set to the same length, but there are also dressing devices in which the lengths of the rod-shaped first grinding wheel 201 and the second grinding wheel 202 are different, such as the modified dresser 200 shown in Fig. 14(a) and (b). In the conventional dresser 200 shown in Fig. 14(a) and (b), the first grinding wheel 201 has a dressing surface 201a facing the upper platen, and the second grinding wheel 202 has a dressing surface 202a facing the lower platen. The dresser 200 presses the first grinding wheel 201 against the upper platen with the first cylinder 204a for pressing through the elastic member (leaf spring, etc.) 203, and presses the second grinding wheel 202 against the lower platen with the second cylinder 204b for pressing.
さらに、従来、ドレッシング面が、ドレッシング中に定盤の内縁側に位置する内側領域部と、ドレッシング中に定盤の外縁側に位置する外側領域部と、内側領域部と外側領域部との間に位置する中間領域部とを有するドレッシング装置が知られている(例えば、特許文献2参照)。ここで、内側領域部は、定盤径方向に所要長さで延びると共に、定盤の内縁に沿う形状に形成されている。外側領域部は、定盤径方向に所要長さで延びると共に、定盤の外縁に沿う形状に形成されている。さらに、中間領域部は、定盤径方向に所要長さで延びると共に、定盤周方向に延びる長さが、内側領域部及び外側領域部の定盤周方向に延びる長さよりも短くなるように設定されている。 Furthermore, conventionally, there is known a dressing device in which the dressing surface has an inner region located on the inner edge side of the platen during dressing, an outer region located on the outer edge side of the platen during dressing, and an intermediate region located between the inner region and the outer region (see, for example, Patent Document 2). Here, the inner region extends a required length in the platen radial direction and is formed in a shape that follows the inner edge of the platen. The outer region extends a required length in the platen radial direction and is formed in a shape that follows the outer edge of the platen. Furthermore, the intermediate region extends a required length in the platen radial direction and is set so that the length of the intermediate region extending in the platen circumferential direction is shorter than the length of the inner region and the outer region extending in the platen circumferential direction.
しかしながら、例えば、特許文献1に記載のドレッシング装置では、定盤の外周部及び内周部で研磨パッドの削り量が少なく、定盤の外周部及び内周部と中間部とで、研磨パッドの削り量に差が生じる。そのため、研磨パッドの全面を一様に平坦化することが難しいという問題がある。また、例えば特許文献2に記載のドレッシング装置では、ドレッシング時、定盤の外周縁及び内周縁の近傍位置で研磨パッドを削り過ぎる傾向があり、定盤の外周部及び内周部で研磨パッドの削り量が大きく変動する。 However, for example, in the dressing device described in Patent Document 1, the amount of polishing pad removed is small at the outer and inner periphery of the platen, and there is a difference in the amount of polishing pad removed between the outer and inner periphery of the platen and the middle part. This makes it difficult to uniformly flatten the entire surface of the polishing pad. Also, for example, in the dressing device described in Patent Document 2, there is a tendency for the polishing pad to be removed too much near the outer and inner edges of the platen during dressing, and the amount of polishing pad removed varies greatly between the outer and inner periphery of the platen.
本発明は、上記問題に着目してなされたもので、ドレッシング時に研磨パッドの平坦度を向上させることや、研磨パッドの削り量を均一にさせることができるドレッシング装置を提供することを課題としている。 The present invention was made with the above problem in mind, and aims to provide a dressing device that can improve the flatness of the polishing pad during dressing and make the amount of polishing pad removed uniform.
上記目的を達成するため、本発明は、ワークを研磨する定盤に取り付けられた研磨パッドをドレッシングするドレッサーを備えたドレッシング装置において、前記ドレッサーは、前記研磨パッドに対向するドレッシング面を有し、前記ドレッシング面には、所定のドレッシング力である第1領域と、前記第1領域よりも前記ドレッシング力が低い第2領域と、が設定されている。そして、前記第1領域と前記第2領域とは、定盤周方向に並ぶと共に、前記第1領域が、前記ドレッシング面の前記定盤周方向の一方の端部側に配置されている。さらに、前記第1領域と前記第2領域とを区画する区画線は、定盤径方向の中間部に、両端部よりも前記ドレッシング面の前記定盤周方向の一方の端部に近い位置に設定される中間点を有する。そして、前記ドレッシング面は、前記定盤周方向の一方の端部から、前記定盤周方向の他方の端部に向かって、前記定盤径方向の寸法が次第に長くなる形状を呈し、前記ドレッサーが前記定盤の外周縁に位置するとき、前記定盤径方向の外周側の側部が前記定盤の外周縁の接線方向に沿い、前記ドレッサーが前記定盤の内周縁に位置するとき、前記定盤径方向の内周側の側部が前記定盤の内周縁の接線方向に沿う。また、前記中間点は、前記定盤の内周縁の接線方向に平行であって、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部と、前記定盤周方向の一方の端部との交点を通る第1直線と、前記定盤の外周縁の接線方向に平行であって、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部と、前記定盤周方向の一方の端部との交点を通る第2直線との交点上に設定される。また、前記定盤の外周縁の接線方向と前記区画線とでなす角と、前記定盤の内周縁の接線方向と前記区画線とでなす角とは、同一の角度に設定され、前記定盤の外周縁の接線方向と前記第1直線とでなす角と、前記定盤の内周縁の接線方向と前記第2直線とでなす角とは、同一の角度に設定される。そして、前記研磨パッドと前記第1領域との前記定盤周方向の接触長さは、前記ドレッサーが前記定盤の外周縁に位置するとき、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部から、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部に向かうにつれて、次第に低減し、前記ドレッサーが前記定盤の内周縁に位置するとき、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部から、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部に向かうにつれて、次第に低減することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention provides a dressing device including a dresser for dressing a polishing pad attached to a platen for polishing a workpiece, the dresser having a dressing surface facing the polishing pad, and a first region having a predetermined dressing force and a second region having a dressing force lower than that of the first region set on the dressing surface. The first region and the second region are aligned in the circumferential direction of the platen, and the first region is disposed on one end side of the dressing surface in the circumferential direction of the platen. Furthermore, a dividing line dividing the first region and the second region has a midpoint set at a position closer to one end of the dressing surface in the circumferential direction of the platen than both end portions at a midpoint in the radial direction of the platen . The dressing surface has a shape in which the dimension in the radial direction of the platen gradually increases from one end in the circumferential direction of the platen to the other end in the circumferential direction of the platen, and when the dresser is located on the outer circumferential edge of the platen, the outer circumferential side of the platen in the radial direction is aligned along the tangential direction of the outer circumferential edge of the platen, and when the dresser is located on the inner circumferential edge of the platen, the inner circumferential side of the platen in the radial direction is aligned along the tangential direction of the inner circumferential edge of the platen. The midpoint is set on the intersection of a first straight line that is parallel to the tangential direction of the inner circumferential edge of the platen and passes through the intersection of the outer circumferential side of the dressing surface in the radial direction and the one end in the circumferential direction of the platen, and a second straight line that is parallel to the tangential direction of the outer circumferential edge of the platen and passes through the intersection of the inner circumferential side of the dressing surface in the radial direction and the one end in the circumferential direction of the platen. The angle between the tangent direction of the outer peripheral edge of the platen and the dividing line is set to the same angle, and the angle between the tangent direction of the inner peripheral edge of the platen and the dividing line is set to the same angle, and the angle between the tangent direction of the outer peripheral edge of the platen and the first straight line is set to the same angle, and the angle between the tangent direction of the inner peripheral edge of the platen and the second straight line is set to the same angle. The contact length between the polishing pad and the first region in the platen circumferential direction is gradually reduced from a side portion on the outer peripheral side in the platen radial direction of the dressing surface to a side portion on the inner peripheral side in the platen radial direction of the dressing surface when the dresser is located at the outer peripheral edge of the platen, and is gradually reduced from a side portion on the inner peripheral side in the platen radial direction of the dressing surface to a side portion on the outer peripheral side in the platen radial direction of the dressing surface when the dresser is located at the inner peripheral edge of the platen .
本発明のドレッシング装置では、ドレッシング時に研磨パッドの平坦度を向上させることや、研磨パッドの削り量を均一にさせることができる。 The dressing device of the present invention can improve the flatness of the polishing pad during dressing and make the amount of polishing pad removed uniform.
以下、本発明のドレッシング装置を実施するための形態を、図面に示す実施例1に基づいて説明する。 Below, a form for implementing the dressing device of the present invention will be described based on Example 1 shown in the drawings.
実施例1のドレッシング装置1は、薄板状のワークの表裏両面を研磨する両面研磨機10の上定盤11に取り付けられた研磨パッド11aと、両面研磨機10の下定盤12に取り付けられた研磨パッド12aとを同時にドレッシングする両面研磨機用のドレッシング装置である。なお、ドレッシングとは、研磨パッド11a、12aの表面を研削や粗化などをして、研磨パッド11a、12aのスラリーの保持性を回復させ、両面研磨機10の研磨能力を維持させることをいう。研磨パッド11a、12aの表面は、ドレッシングを行うことで一様に平坦化される、もしくは研磨パッドの削り量を均一にさせることが望ましい。 The dressing device 1 of the first embodiment is a dressing device for a double-sided polisher that simultaneously dresses the polishing pad 11a attached to the upper platen 11 of the double-sided polisher 10 that polishes both the front and back sides of a thin workpiece, and the polishing pad 12a attached to the lower platen 12 of the double-sided polisher 10. Note that dressing refers to grinding or roughening the surfaces of the polishing pads 11a and 12a to recover the slurry retention of the polishing pads 11a and 12a and maintain the polishing ability of the double-sided polisher 10. It is desirable that the surfaces of the polishing pads 11a and 12a are uniformly flattened by dressing, or that the amount of polishing of the polishing pads is made uniform.
ドレッシング時、ドレッシング装置1は、上下定盤11、12の間にドレッサー3を入れる。また、両面研磨機10は、ドレッサー3を上定盤11と下定盤12で挟んだ状態で、回転軸13によって上定盤11を第1の方向(例えば反時計回り方向、以下「上定盤回転方向CCW」という)に回転させ、下定盤12を第1の方向に対して逆向きの第2の方向(例えば時計回り方向、以下「下定盤回転方向CW」という)に回転させる。これにより、研磨パッド11a、12aとドレッサー3とが摺接し、研磨パッド11a、12aがドレッシングされる。また、上定盤11及び下定盤12は、いずれも中心に回転軸13が取り付けられたドーナツ円盤形状を呈しており、ドレッシング中、ドレッサー3は、上下定盤11、12の外周縁14と内周縁15との間を移動する。 During dressing, the dressing device 1 places the dresser 3 between the upper and lower platens 11 and 12. In addition, the double-sided polisher 10 rotates the upper platen 11 in a first direction (e.g., counterclockwise, hereinafter referred to as the "upper platen rotation direction CCW") by the rotating shaft 13 while sandwiching the dresser 3 between the upper platen 11 and the lower platen 12, and rotates the lower platen 12 in a second direction opposite to the first direction (e.g., clockwise, hereinafter referred to as the "lower platen rotation direction CW"). As a result, the polishing pads 11a and 12a come into sliding contact with the dresser 3, and the polishing pads 11a and 12a are dressed. In addition, both the upper platen 11 and the lower platen 12 have a donut disk shape with the rotating shaft 13 attached to their centers, and during dressing, the dresser 3 moves between the outer periphery 14 and inner periphery 15 of the upper and lower platens 11 and 12.
ドレッシング装置1は、図1及び図2に示すように、アーム部材2と、アーム部材2の先端部2bに設けられたドレッサー3と、アーム部材2を回動する駆動機構4と、駆動機構4を制御する制御部(図示せず)とを備えている。 As shown in Figures 1 and 2, the dressing device 1 includes an arm member 2, a dresser 3 provided at the tip 2b of the arm member 2, a drive mechanism 4 that rotates the arm member 2, and a control unit (not shown) that controls the drive mechanism 4.
アーム部材2は、両面研磨機10の近傍に配置された駆動機構4に基部2aが保持され、駆動機構4から水平方向に延びたパイプ部材である。アーム部材2は、駆動機構4によって基部2aを中心に回動し、先端部2bを上下定盤11、12の間に進退可能に進入させる。すなわち、アーム部材2の先端部2bは、図2に示すように、基部2aを中心にした円弧状の軌道2cに沿って移動する。そして、アーム部材2は、ドレッシング中に上下定盤11、12の間で回動させられ、ドレッサー3を軌道2cに沿って移動させる。また、アーム部材2は、ドレッシング時以外は上下定盤11、12の間からドレッサー3を退避させる位置に回動させられる。 The arm member 2 is a pipe member whose base 2a is held by the drive mechanism 4 arranged near the double-sided polisher 10 and which extends horizontally from the drive mechanism 4. The arm member 2 is rotated around the base 2a by the drive mechanism 4, and the tip 2b is moved between the upper and lower surface plates 11 and 12. That is, the tip 2b of the arm member 2 moves along an arc-shaped track 2c centered on the base 2a, as shown in FIG. 2. The arm member 2 is rotated between the upper and lower surface plates 11 and 12 during dressing, and moves the dresser 3 along the track 2c. The arm member 2 is also rotated to a position where the dresser 3 is retracted from between the upper and lower surface plates 11 and 12 except when dressing is being performed.
ドレッサー3は、ドレッシング部材3aと、洗浄水噴射機構3bとを有している。ドレッシング部材3aは、研磨パッド11a、12aをドレッシングする機能を有する。ドレッシング部材3aは、ドレッシング時に上定盤11に対向する平坦な第1ドレッシング面31(図3参照)と、ドレッシング時に下定盤12に対向する平坦な第2ドレッシング面32(図4参照)とを有している。第1ドレッシング面31及び第2ドレッシング面32には、それぞれ砥粒が電着され、粒度の番手が任意に設定されている。第1ドレッシング面31及び第2ドレッシング面32に電着される砥粒は、ダイヤモンドやCBN砥粒等が使用可能である。なお、図3及び図4に示す第1ドレッシング面31及び第2ドレッシング面32に設けられた複数の円形の穴3cは、任意に形成されるネジ穴である。 The dresser 3 has a dressing member 3a and a cleaning water injection mechanism 3b. The dressing member 3a has a function of dressing the polishing pads 11a and 12a. The dressing member 3a has a flat first dressing surface 31 (see FIG. 3) that faces the upper platen 11 during dressing, and a flat second dressing surface 32 (see FIG. 4) that faces the lower platen 12 during dressing. Abrasive grains are electroplated on the first dressing surface 31 and the second dressing surface 32, and the grain size is set arbitrarily. Diamond, CBN abrasive grains, etc. can be used as the abrasive grains electroplated on the first dressing surface 31 and the second dressing surface 32. The multiple circular holes 3c provided on the first dressing surface 31 and the second dressing surface 32 shown in FIG. 3 and FIG. 4 are screw holes that are arbitrarily formed.
洗浄水噴射機構3bは、ドレッシング時に高圧の洗浄水を噴射する機能を有する。洗浄水噴射機構3bは、第1ドレッシング面31の側方に設けられた一対の第1噴射口38(図3参照)と、第2ドレッシング面32の側方に設けられた三カ所の第2噴射口39(図4参照)と、ドレッシング部材3aを貫通し、第1噴射口38及び第2噴射口39に連通する洗浄水通路(不図示)等とを有している。なお、洗浄水は、アーム部材2の内部を介して供給される。ここで、第1噴射口38は、第1ドレッシング面31よりも、上定盤回転方向CCWの上流側に位置している。また、第2噴射口39は、第2ドレッシング面32よりも、下定盤回転方向CWの上流側に位置している。さらに、第1、第2噴射口38、39は、いずれもドレッシング時に研磨パッド11a、12aに接触しない高さに設定されている。 The cleaning water injection mechanism 3b has a function of injecting high-pressure cleaning water during dressing. The cleaning water injection mechanism 3b has a pair of first injection ports 38 (see FIG. 3) provided on the sides of the first dressing surface 31, three second injection ports 39 (see FIG. 4) provided on the sides of the second dressing surface 32, and a cleaning water passage (not shown) that penetrates the dressing member 3a and communicates with the first injection ports 38 and the second injection ports 39. The cleaning water is supplied through the inside of the arm member 2. Here, the first injection port 38 is located upstream of the first dressing surface 31 in the upper platen rotation direction CCW. The second injection port 39 is located upstream of the second dressing surface 32 in the lower platen rotation direction CW. Furthermore, the first and second injection ports 38 and 39 are set at a height that does not contact the polishing pads 11a and 12a during dressing.
第1ドレッシング面31は、図5に示すように、上下定盤11、12の周方向である定盤周方向X(図2~図5参照)の一方の端部31aから、定盤周方向Xの他方の端部31bに向かって、上下定盤11、12の径方向である定盤径方向Y(定盤周方向Xに直交する方向。図2~図5参照)の寸法Wが次第に長くなる形状を呈している。これにより、図2に示すように、第1ドレッシング面31は、定盤径方向Yの一方の側部31c(外周側の側部)が、ドレッシング中にドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置したとき、外周縁14の接線方向Lαに沿う。また、第1ドレッシング面31は、定盤径方向Yの他方の側部31d(内周側の側部)が、ドレッシング中にドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置したとき、内周縁15の接線方向Lβに沿う。さらに、第1ドレッシング面31の定盤周方向Xの両端部31a、31bは、略平行に延びている。このため、第1ドレッシング面31は、平面視で略台形形状を呈している。 As shown in Figure 5, the first dressing surface 31 has a shape in which the dimension W in the platen radial direction Y (direction perpendicular to the platen circumferential direction X; see Figures 2 to 5), which is the radial direction of the upper and lower platens 11, 12, gradually increases from one end 31a in the platen circumferential direction X (see Figures 2 to 5), which is the circumferential direction of the upper and lower platens 11, 12, to the other end 31b in the platen circumferential direction X. As a result, as shown in Figure 2, one side 31c (side on the outer periphery) of the first dressing surface 31 in the platen radial direction Y is aligned along the tangent direction Lα of the outer periphery 14 when the dresser 3 is positioned at the outer periphery 14 of the upper and lower platens 11, 12 during dressing. In addition, the other side 31d (the inner peripheral side) of the first dressing surface 31 in the platen radial direction Y is aligned with the tangent direction Lβ of the inner peripheral edge 15 when the dresser 3 is positioned at the inner peripheral edge 15 of the upper and lower platens 11 and 12 during dressing. Furthermore, both ends 31a, 31b of the first dressing surface 31 in the platen circumferential direction X extend approximately parallel to each other. Therefore, the first dressing surface 31 has an approximately trapezoidal shape in a plan view.
ここで、「ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置したとき」とは、ドレッサー3が上下定盤11、12の最外周まで移動した状態である。また、「ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置したとき」とは、ドレッサー3が上下定盤11、12の最内周まで移動した状態である。 Here, "when the dresser 3 is located on the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11, 12" means that the dresser 3 has moved to the outermost periphery of the upper and lower surface plates 11, 12. Also, "when the dresser 3 is located on the inner periphery 15 of the upper and lower surface plates 11, 12" means that the dresser 3 has moved to the innermost periphery of the upper and lower surface plates 11, 12.
なお、第1ドレッシング面31は、定盤周方向Xの一方の端部31a及び定盤周方向Xの他方の端部31bの双方に、研磨パッド11aとの接触力を低減するため、いずれも大きなR加工が施されている。 The first dressing surface 31 has a large R on both ends 31a and 31b in the circumferential direction X of the platen to reduce the contact force with the polishing pad 11a.
また、第1ドレッシング面31には、第1領域33と、第2領域34と、が設定されている。第1領域33は、比較的大きい粒径の砥粒が電着され、例えば#50~325等の比較的低い番手の粒度(粗い粒度)に設定されている。第2領域34は、第1領域33よりも小さい粒径の砥粒が電着され、例えば#325~3000等の第1領域33よりも高い番手の粒度(細かい粒度)に設定されている。なお、第1領域33と第2領域34とは、図6に示すように、面一に設定されている。つまり、第1領域33から研磨パッド11aまでの距離と第2領域34から研磨パッド11aまでの距離は同一になる。 The first dressing surface 31 has a first region 33 and a second region 34. The first region 33 has abrasive grains with a relatively large grain size electroplated therein, and is set to a relatively low grain size (coarse grain size) such as #50 to #325. The second region 34 has abrasive grains with a smaller grain size than the first region 33 electroplated therein, and is set to a higher grain size (fine grain size) than the first region 33, such as #325 to #3000. The first region 33 and the second region 34 are set to be flush with each other, as shown in FIG. 6. In other words, the distance from the first region 33 to the polishing pad 11a and the distance from the second region 34 to the polishing pad 11a are the same.
そして、第1領域33と第2領域34とは、定盤周方向Xに沿って並んで配置されている。ここで、第1領域33が定盤周方向Xの一方の端部31a側に配置され、第2領域34が定盤周方向Xの他方の端部31b側に配置されている。第1領域33と第2領域34とは、区画線35によって区画されている。 The first region 33 and the second region 34 are arranged side by side along the circumferential direction X of the base plate. Here, the first region 33 is arranged on one end 31a side of the base plate in the circumferential direction X, and the second region 34 is arranged on the other end 31b side of the base plate in the circumferential direction X. The first region 33 and the second region 34 are divided by a dividing line 35.
区画線35は、図5に示すように、第1隅角部35aと第2隅角部35bと第3隅角部35c(中間点)とをつなぐ直線によって構成される。ここで、第1隅角部35aは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの一方の側部31cに設定された点である。第2隅角部35bは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの他方の側部31dに設定された点である。第3隅角部35cは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの中間部に設定された点である。そして、第3隅角部35cは、定盤径方向Yの両側部31c、31dに位置する第1、第2隅角部35a、35bよりも、第1ドレッシング面31の定盤周方向Xの一方の端部31aに近い位置に設定されている。 As shown in FIG. 5, the dividing line 35 is formed by a straight line connecting the first corner 35a, the second corner 35b, and the third corner 35c (midpoint). Here, the first corner 35a is a point set on one side 31c of the first dressing surface 31 in the radial direction Y of the platen. The second corner 35b is a point set on the other side 31d of the first dressing surface 31 in the radial direction Y of the platen. The third corner 35c is a point set in the middle of the first dressing surface 31 in the radial direction Y of the platen. The third corner 35c is set at a position closer to one end 31a of the first dressing surface 31 in the circumferential direction X of the platen than the first and second corners 35a, 35b located on both sides 31c, 31d in the radial direction Y of the platen.
これにより、第1領域33は、第2領域34との境界位置において、定盤径方向Yの両端部にそれぞれ先鋭部36が形成される。そして、第2領域34は、二つの先鋭部36の間に位置する。 As a result, the first region 33 has sharpened portions 36 formed at both ends in the radial direction Y of the platen at the boundary position with the second region 34. The second region 34 is located between the two sharpened portions 36.
なお、実施例1では、先鋭部36にR加工が施されている。そのため、実施例1では、第1隅角部35a及び第2隅角部35bは、先鋭部36にR加工が施されていないと仮定したときの仮想上の定盤径方向Yの両側部31c、31d、つまり各側部31c、31dに沿った直線上に設定されている。 In Example 1, the sharpened portion 36 is rounded. Therefore, in Example 1, the first corner portion 35a and the second corner portion 35b are set on both sides 31c, 31d in the imaginary radial direction Y of the base plate when it is assumed that the sharpened portion 36 is not rounded, that is, on straight lines along each side portion 31c, 31d.
また、第3隅角部35cは、図7に模式的に示すように、第1ドレッシング面31上に設定される第1直線L1と第2直線L2との交点上に設定される。ここで、第1直線L1は、上下定盤11、12の内周縁15の接線方向Lβに平行であって、第1ドレッシング面31に設定された第4隅角部35dを通る直線である。第4隅角部35dは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの一方の側部31cと、定盤周方向Xの一方の端部31aとの交点である。また、第2直線L2は、上下定盤11、12の外周縁14の接線方向Lαに平行であって、第1ドレッシング面31に設定された第5隅角部35eを通る直線である。第5隅角部35eは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの他方の側部31dと、定盤周方向Xの一方の端部31aとの交点である。 7, the third corner portion 35c is set at the intersection of the first straight line L1 and the second straight line L2 set on the first dressing surface 31. Here, the first straight line L1 is parallel to the tangent direction Lβ of the inner peripheral edge 15 of the upper and lower surface plates 11 and 12, and is a straight line passing through the fourth corner portion 35d set on the first dressing surface 31. The fourth corner portion 35d is an intersection point between one side portion 31c of the first dressing surface 31 in the surface plate radial direction Y and one end portion 31a in the surface plate circumferential direction X. The second straight line L2 is parallel to the tangent direction Lα of the outer peripheral edge 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, and is a straight line passing through the fifth corner portion 35e set on the first dressing surface 31. The fifth corner 35e is the intersection of the other side 31d of the first dressing surface 31 in the platen radial direction Y and one end 31a in the platen circumferential direction X.
さらに、第1領域33では、接線方向Lαと区画線35とでなす角(第1隅角部35aの内角)θ1と、接線方向Lβと区画線35とでなす角(第2隅角部35bの内角)θ2と、が同じ角度に設定されている。また、接線方向Lαと第1直線L1とでなす角θ3と、接線方向Lβと第2直線L2とでなす角θ4とが、同じ角度に設定されている。 Furthermore, in the first region 33, the angle θ1 between the tangential direction Lα and the partition line 35 (the interior angle of the first corner portion 35a) and the angle θ2 between the tangential direction Lβ and the partition line 35 (the interior angle of the second corner portion 35b) are set to the same angle. Furthermore, the angle θ3 between the tangential direction Lα and the first straight line L1 and the angle θ4 between the tangential direction Lβ and the second straight line L2 are set to the same angle.
また、実施例1では、外周縁14の接線方向Lαと内周縁15の接線方向Lβとでなす角θ5も、角θ3、θ4と同一角度に設定されている。なお、角θ5は、アーム部材2の長さ、又は上下定盤11、12の半径の大きさに応じて設定され、例えばゼロ°よりも大きく、100°程度までの角度に設定される。 In addition, in Example 1, the angle θ5 between the tangent direction Lα of the outer peripheral edge 14 and the tangent direction Lβ of the inner peripheral edge 15 is set to the same angle as the angles θ3 and θ4. Note that the angle θ5 is set according to the length of the arm member 2 or the size of the radius of the upper and lower surface plates 11 and 12, and is set to an angle greater than zero degrees and up to about 100 degrees, for example.
そして、第1直線L1と第2直線L2との交点上に第3隅角部35cを設定すると共に、θ1とθ2、θ3とθ4をそれぞれ同じ角度に設定することで、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているとき、図8に示すように、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向の接触長さは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの一方の側部31c(上下定盤11、12の外周縁14側の側部)から、定盤径方向Yの他方の側部31d(上下定盤11、12の内周縁15側の側部)に向かうにつれて、次第に低減する。なお、図8に示す定盤周方向の接触長さは、穴3cは考慮していない。 Then, by setting the third corner 35c at the intersection of the first straight line L1 and the second straight line L2 and setting θ1 and θ2, and θ3 and θ4 to the same angles, when the dresser 3 is located at the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, as shown in FIG. 8, the contact length in the circumferential direction of the surface plate between the first region 33 and the polishing pad 11a gradually decreases from one side 31c (the side on the outer periphery 14 side of the upper and lower surface plates 11 and 12) in the surface plate radial direction Y of the first dressing surface 31 (the side on the inner periphery 15 side of the upper and lower surface plates 11 and 12). Note that the hole 3c is not taken into account in the contact length in the circumferential direction of the surface plate shown in FIG. 8.
さらに、図8において、X軸とY軸及び第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向の接触長さを示す線とで囲まれた領域(斜線を付した領域)は、第1領域33と研磨パッド11aとの接触面積を示している。ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているとき、第1領域33と研磨パッド11aとの接触面積は、図8から分かるように、上下定盤11、12の最外周から徐々に小さくなり、横軸を定盤径方向Yとして図示したときにほぼ三角形状を呈する。 Furthermore, in FIG. 8, the area surrounded by the X-axis, Y-axis, and lines indicating the contact length in the circumferential direction of the platen between the first region 33 and the polishing pad 11a (hatched area) indicates the contact area between the first region 33 and the polishing pad 11a. When the dresser 3 is located at the outer periphery 14 of the upper and lower platens 11, 12, as can be seen from FIG. 8, the contact area between the first region 33 and the polishing pad 11a gradually decreases from the outermost periphery of the upper and lower platens 11, 12, and presents an approximately triangular shape when illustrated with the horizontal axis being the platen radial direction Y.
また、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているときには、図示しないが、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの他方の側部31d(上下定盤11、12の内周縁15側の側部)から、定盤径方向Yの一方の側部31c(上下定盤11、12の外周縁14側の側部)に向かうにつれて、次第に低減する。 In addition, when the dresser 3 is positioned at the inner peripheral edge 15 of the upper and lower surface plates 11, 12, the contact length in the surface plate circumferential direction X between the first region 33 and the polishing pad 11a gradually decreases from the other side 31d of the first dressing surface 31 in the surface plate radial direction Y (the side on the inner peripheral edge 15 side of the upper and lower surface plates 11, 12) toward one side 31c in the surface plate radial direction Y (the side on the outer peripheral edge 14 side of the upper and lower surface plates 11, 12).
つまり、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置したときと、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置したときとのいずれにおいても、定盤縁部(外周縁14或いは内周縁15)側から定盤内部(上下定盤11、12の定盤径方向Yの中間部)側に向かって次第に低減する。 In other words, the contact length between the first region 33 and the polishing pad 11a in the circumferential direction X of the platen gradually decreases from the platen edge (the outer peripheral edge 14 or the inner peripheral edge 15) side toward the platen interior (the middle part of the platen radial direction Y of the upper and lower platens 11, 12) side, whether the dresser 3 is positioned on the outer peripheral edge 14 of the upper and lower platens 11, 12 or on the inner peripheral edge 15 of the upper and lower platens 11, 12.
また、θ1、θ2、θ3、θ4は、同じ角度に設定されてもよい。その場合、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているとき、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの一方の側部31c(上下定盤11、12の外周縁14側の側部)から、定盤径方向Yの他方の側部31d(上下定盤11、12の内周縁15側の側部)に向かうにつれて、一定の低減率で低減、もしくは次第に低減する。また、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているときは、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの他方の側部31d(上下定盤11、12の内周縁15側の側部)から、定盤径方向Yの一方の側部31c(上下定盤11、12の外周縁14側の側部)に向かうにつれて、一定の低減率で低減、もしくは次第に低減する。 In addition, θ1, θ2, θ3, and θ4 may be set to the same angle. In that case, when the dresser 3 is located at the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the contact length between the first region 33 and the polishing pad 11a in the surface plate circumferential direction X decreases at a constant rate or gradually decreases from one side 31c (the side on the outer periphery 14 side of the upper and lower surface plates 11 and 12) in the surface plate radial direction Y of the first dressing surface 31 to the other side 31d (the side on the inner periphery 15 side of the upper and lower surface plates 11 and 12) in the surface plate radial direction Y. In addition, when the dresser 3 is positioned on the inner peripheral edge 15 of the upper and lower surface plates 11, 12, the contact length between the first region 33 and the polishing pad 11a in the circumferential direction X of the surface plate decreases at a constant rate or gradually decreases from the other side 31d of the first dressing surface 31 in the radial direction Y of the surface plate (the side on the inner peripheral edge 15 side of the upper and lower surface plates 11, 12) to one side 31c in the radial direction Y of the surface plate (the side on the outer peripheral edge 14 side of the upper and lower surface plates 11, 12).
さらに、第1ドレッシング面31には、溝部37が形成されている。溝部37は、第1ドレッシング面31に形成されたへこみであり、ドレッサー3の側方に開放している。溝部37は、ドレッシング実施時に供給される洗浄水等の流体が流動可能な幅及び深さに設定されている。 Furthermore, a groove portion 37 is formed on the first dressing surface 31. The groove portion 37 is a depression formed on the first dressing surface 31, and is open to the side of the dresser 3. The groove portion 37 is set to a width and depth that allows the flow of fluids such as cleaning water supplied during dressing.
また、実施例1の溝部37は、第1溝部37aと、第2溝部37bと、第3溝部37cとを有している。 The groove portion 37 in Example 1 has a first groove portion 37a, a second groove portion 37b, and a third groove portion 37c.
第1溝部37aは、区画線35に沿って延びている。第1溝部37aによって、第1領域33と第2領域34とは分割される。 The first groove portion 37a extends along the dividing line 35. The first groove portion 37a divides the first region 33 and the second region 34.
第2溝部37bは、定盤周方向Xに沿って延びている。第2溝部37bは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの中心位置を通る。また、第2溝部37bは、定盤周方向Xの一方の端部31aから定盤周方向Xの他方の端部31bに至るまで形成され、第1領域33及び第2領域34に形成されている。 The second groove portion 37b extends along the circumferential direction X of the base plate. The second groove portion 37b passes through the center position of the first dressing surface 31 in the radial direction Y of the base plate. The second groove portion 37b is formed from one end 31a in the circumferential direction X of the base plate to the other end 31b in the circumferential direction X of the base plate, and is formed in the first region 33 and the second region 34.
第3溝部37cは、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの中心位置から、定盤径方向Yの側部31c、31dに向かって、上定盤11の回転に対して下流方向に倣う向きに延びている。なお、「上定盤11の回転に対して下流方向に倣う向き」とは、溝部37に流れ込んだ流体を上定盤回転方向CCWの下流側に流す向きである。また、第3溝部37cは、第1領域33のみに形成されている。 The third groove portion 37c extends from the center position of the first dressing surface 31 in the platen radial direction Y toward the side portions 31c and 31d in the platen radial direction Y in a direction following the downstream direction relative to the rotation of the upper platen 11. Note that the "direction following the downstream direction relative to the rotation of the upper platen 11" refers to a direction in which the fluid that has flowed into the groove portion 37 flows downstream in the upper platen rotation direction CCW. The third groove portion 37c is formed only in the first region 33.
第2ドレッシング面32は、第1ドレッシング面31の反対側に位置し、図4に示すように、第1ドレッシング面31と同様の形状を呈しているため、詳細な説明を省略する。 The second dressing surface 32 is located on the opposite side of the first dressing surface 31 and has a similar shape to the first dressing surface 31 as shown in FIG. 4, so a detailed description is omitted.
また、第2ドレッシング面32にも、所定番手の粒度(例えば#50~325等)に設定された第1領域33と、第1領域33よりも高い番手の粒度(例えば#325~3000等)に設定された第2領域34と、が設定されている。第2ドレッシング面32に設定された第1領域33及び第2領域34と、第1ドレッシング面31に設定された第1領域33及び第2領域34とは、同一の形状であるため、詳細な説明を省略する。 The second dressing surface 32 also has a first region 33 set to a predetermined grain size (e.g., #50 to #325, etc.) and a second region 34 set to a higher grain size (e.g., #325 to #3000, etc.) than the first region 33. The first region 33 and second region 34 set on the second dressing surface 32 and the first region 33 and second region 34 set on the first dressing surface 31 have the same shape, so a detailed description will be omitted.
さらに、第2ドレッシング面32にも、第1溝部37a、第2溝部37b、第3溝部37cを有する溝部37が形成されている。ここで、第1溝部37a及び第2溝部37bの形状は、第1ドレッシング面31に形成された第1溝部37a及び第2溝部37bと同様であるため、詳細な説明を省略する。 Furthermore, a groove portion 37 having a first groove portion 37a, a second groove portion 37b, and a third groove portion 37c is formed on the second dressing surface 32. Here, the shapes of the first groove portion 37a and the second groove portion 37b are similar to those of the first groove portion 37a and the second groove portion 37b formed on the first dressing surface 31, so a detailed description is omitted.
一方、第2ドレッシング面32に形成された第3溝部37cは、第2ドレッシング面32の定盤径方向Yの中心位置から、定盤径方向Yの側部32c、32dに向かって、下定盤12の回転に対して下流方向に倣う向きに延びている。なお、「下定盤12の回転に対して下流方向に倣う向き」とは、溝部37に流れ込んだ流体を下定盤回転方向CWの下流側に流す向きである。ここで、上定盤回転方向CCWと下定盤回転方向CWとは逆向きになっている。そのため、図4に示すように、第2ドレッシング面32に形成された第3溝部37cは、第1ドレッシング面31に形成された第3溝部37cとは異なる方向に延びている。 On the other hand, the third groove portion 37c formed on the second dressing surface 32 extends from the center position of the second dressing surface 32 in the platen radial direction Y toward the side portions 32c and 32d in the platen radial direction Y in a direction following the downstream direction with respect to the rotation of the lower platen 12. Note that the "direction following the downstream direction with respect to the rotation of the lower platen 12" refers to the direction in which the fluid that has flowed into the groove portion 37 flows downstream in the lower platen rotation direction CW. Here, the upper platen rotation direction CCW and the lower platen rotation direction CW are opposite directions. Therefore, as shown in FIG. 4, the third groove portion 37c formed on the second dressing surface 32 extends in a different direction from the third groove portion 37c formed on the first dressing surface 31.
以下、実施例1のドレッシング装置1の作用を説明する。 The operation of the dressing device 1 of Example 1 is described below.
実施例1のドレッシング装置1は、両面研磨機10の研磨パッド11a、12aをドレッシングするとき、図示しない制御部により各部を制御し、まず、駆動機構4によってアーム部材2を回動させる。そして、駆動機構4は、アーム部材2の先端部2bに設けられたドレッサー3を上定盤11と下定盤12の間に入れる。 When dressing the polishing pads 11a and 12a of the double-sided polisher 10, the dressing device 1 of Example 1 controls each part using a control unit (not shown), and first rotates the arm member 2 using the drive mechanism 4. Then, the drive mechanism 4 places the dresser 3 provided at the tip 2b of the arm member 2 between the upper platen 11 and the lower platen 12.
次に、両面研磨機10は、上定盤11と下定盤12の間の隙間高さを予め設定した所定の高さに設定する。これにより、ドレッサー3が上下定盤11、12によって挟まれ、第1ドレッシング面31が上定盤11の研磨パッド11aに接触し、第2ドレッシング面32が下定盤12の研磨パッド12aに接触する。 Next, the double-sided polisher 10 sets the gap height between the upper platen 11 and the lower platen 12 to a predetermined height. As a result, the dresser 3 is sandwiched between the upper and lower platens 11 and 12, and the first dressing surface 31 contacts the polishing pad 11a of the upper platen 11, and the second dressing surface 32 contacts the polishing pad 12a of the lower platen 12.
そして、両面研磨機10は、第1、第2ドレッシング面31、32がそれぞれ研磨パッド11a、12aに接触した状態で、回転軸13を中心にして上定盤11及び下定盤12を互いに逆方向に回転させる。このとき、ドレッシング装置1は、駆動機構4を駆動してアーム部材2をさらに回動させる。この結果、ドレッシング装置1は、ドレッサー3を軌道2cに沿って上下定盤11、12の外周縁14側から内周縁15側へと移動させながら、研磨パッド11a、12aとドレッサー3とを摺接させ、研磨パッド11a、12aをドレッシングする。 The double-sided polisher 10 then rotates the upper platen 11 and the lower platen 12 in opposite directions around the rotation axis 13 with the first and second dressing surfaces 31, 32 in contact with the polishing pads 11a, 12a, respectively. At this time, the dressing device 1 drives the drive mechanism 4 to further rotate the arm member 2. As a result, the dressing device 1 moves the dresser 3 along the track 2c from the outer periphery 14 side to the inner periphery 15 side of the upper and lower platen 11, 12, while bringing the polishing pads 11a, 12a into sliding contact with the dresser 3, thereby dressing the polishing pads 11a, 12a.
ここで、実施例1のドレッシング装置1では、第1ドレッシング面31が、定盤周方向Xの一方の端部31aから、定盤周方向Xの他方の端部31bに向かって、定盤径方向Yの寸法Wが次第に長くなる形状を呈している。そして、実施例1のドレッシング装置1は、第1ドレッシング面31に、所定番手の粒度である第1領域33と、第1領域33よりも粒度の番手が高い第2領域34とが設定されている。また、第1領域33と第2領域34とは、定盤周方向Xに並ぶと共に、第1領域33が、定盤周方向Xの一方の端部31a側に配置されている。さらに、第1領域33と第2領域34とを区画する区画線35は、定盤径方向Yの中間部に、定盤径方向Yの両端部(第1隅角部35a、第2隅角部35b)よりも定盤周方向Xの一方の端部31aに近い位置に設定される第3隅角部35cを有する。 Here, in the dressing device 1 of Example 1, the first dressing surface 31 has a shape in which the dimension W in the radial direction Y of the platen gradually increases from one end 31a in the circumferential direction X of the platen toward the other end 31b in the circumferential direction X of the platen. In addition, in the dressing device 1 of Example 1, a first region 33 having a predetermined grain size and a second region 34 having a grain size higher than that of the first region 33 are set on the first dressing surface 31. In addition, the first region 33 and the second region 34 are aligned in the circumferential direction X of the platen, and the first region 33 is disposed on the side of one end 31a in the circumferential direction X of the platen. Furthermore, the dividing line 35 dividing the first region 33 and the second region 34 has a third corner 35c in the middle of the platen radial direction Y, which is set closer to one end 31a in the platen circumferential direction X than both ends (first corner 35a, second corner 35b) in the platen radial direction Y.
これにより、第2領域34よりも粒度の番手が低い(目が粗い)ために、第2領域34よりもドレッシング力が高くなっている第1領域33と、研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さを、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているときと、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているときとのいずれにおいても、定盤縁部(外周縁14或いは内周縁15)側から定盤内部(上下定盤11、12の定盤径方向Yの中間部)側に向かって次第に低減させることができる(例えば図8参照)。これにより、図9(a)に示すように、上定盤11の外周部(外周縁14の近傍位置)及び内周部(内周縁15の近傍位置)における研磨パッド11aの削り量と、上定盤11の径方向の中間部における研磨パッド11aの削り量との差を、ドレッサー3をオーバーハングさせることなく小さくすることができる。この結果、実施例1のドレッシング装置1は、研磨パッド11aの平坦度を向上させることができる。 As a result, the contact length in the circumferential direction X of the polishing pad 11a and the first region 33, which has a lower grain size (coarser grain) than the second region 34 and therefore a higher dressing force than the second region 34, can be gradually reduced from the edge of the plate (the outer peripheral edge 14 or the inner peripheral edge 15) toward the inside of the plate (the middle part of the plate radial direction Y of the upper and lower platens 11, 12) both when the dresser 3 is located on the outer peripheral edge 14 of the upper and lower platens 11, 12 and when the dresser 3 is located on the inner peripheral edge 15 of the upper and lower platens 11, 12 (see, for example, Figure 8). As a result, as shown in FIG. 9A, the difference between the amount of polishing pad 11a removed at the outer periphery (near outer edge 14) and inner periphery (near inner edge 15) of upper platen 11 and the amount of polishing pad 11a removed at the radially intermediate portion of upper platen 11 can be reduced without overhanging dresser 3. As a result, the dressing device 1 of Example 1 can improve the flatness of polishing pad 11a.
また、実施例1のドレッシング装置1では、粒度の番手によるドレッシング力を用いているが、砥粒の密度、材質、配置等によって得られるドレッシング力を用いてもよい。すなわち、ドレッシング装置1は、粒度の番手を調整することで、ドレッシング力の大きさを異ならせているが、砥粒の密度、材質、配置等を調整してドレッシング力の大きさを変更してもよい。 In addition, the dressing device 1 of Example 1 uses a dressing force based on the grain size, but a dressing force obtained by the density, material, arrangement, etc. of the abrasive grains may also be used. In other words, the dressing device 1 varies the magnitude of the dressing force by adjusting the grain size, but the magnitude of the dressing force may also be changed by adjusting the density, material, arrangement, etc. of the abrasive grains.
なお、「オーバーハング」とは、上定盤11の外周縁14及び内周縁15に対し、ドレッサー3の一部を定盤外側にはみ出させた状態でドレッシングすることである。ドレッサー3をオーバーハングさせる場合、上下定盤11、12の外周部や内周部で研磨パッド11a、12aを所望の状態にドレッシングすることが可能となる。しかしながら、この場合、ドレッサー3の位置調整が複雑になったり、インターナルギヤやサンギヤ等の構造物とドレッサー3との干渉が起こったりする等、制御が難しい。そのため、ドレッサー3のオーバーハングは行わない方が好ましい。 "Overhanging" refers to dressing the upper platen 11 with a part of the dresser 3 protruding outside the platen relative to the outer periphery 14 and inner periphery 15. When the dresser 3 is overhanging, it is possible to dress the polishing pads 11a, 12a in the desired state on the outer periphery and inner periphery of the upper and lower platen 11, 12. However, in this case, it is difficult to control, as it is difficult to adjust the position of the dresser 3 and interference occurs between the dresser 3 and structures such as the internal gear and sun gear. For this reason, it is preferable not to overhang the dresser 3.
また、図9(a)に示す研磨パッド11aの削り量は、図9(b)に示す測定線LSに沿って測定した値である。さらに、図9(a)に示す研磨パッド11aの削り量は、ドレッシング時、第1ドレッシング面31が上定盤11の外周縁14に接したときと、第1ドレッシング面31が内周縁15に接したときに、ドレッサー3の軌道2cに沿った移動を所定時間(例えば10秒間)停止させた場合の値である。 The amount of polishing pad 11a removed shown in FIG. 9(a) is a value measured along measurement line LS shown in FIG. 9(b). Furthermore, the amount of polishing pad 11a removed shown in FIG. 9(a) is a value measured when the movement of the dresser 3 along the track 2c is stopped for a predetermined time (e.g., 10 seconds) when the first dressing surface 31 contacts the outer peripheral edge 14 of the upper surface plate 11 and when the first dressing surface 31 contacts the inner peripheral edge 15 during dressing.
また、例えば、図10(a)に示す第1比較例のように、平面視で長方形状を呈する第1領域33Xを有するドレッサーの場合、ドレッサーが上下定盤11、12の外周縁14又は内周縁15に位置するとき、アーム部材2の回動によりドレッシング面が外周縁14や内周縁15に対して斜め方向に接触する。このため、例えば、第1比較例のドレッサーが上下定盤11、12の外周縁14に位置するとき、第1領域33Xと研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、図10(b)に示すように、定盤径方向Yの一方の側部31cから、定盤径方向Yの他方の側部31dに向かって低減し続けることがない。また、図10(b)において斜線を付して示された第1領域33Xと研磨パッド11aとの接触面積は、横軸を定盤径方向Yとして図示したときに台形形状を呈する。 In addition, for example, in the case of a dresser having a first region 33X having a rectangular shape in a plan view, as in the first comparative example shown in FIG. 10(a), when the dresser is located on the outer periphery 14 or inner periphery 15 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the dressing surface contacts the outer periphery 14 or inner periphery 15 in an oblique direction due to the rotation of the arm member 2. Therefore, for example, when the dresser of the first comparative example is located on the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the contact length between the first region 33X and the polishing pad 11a in the surface plate circumferential direction X does not continue to decrease from one side 31c in the surface plate radial direction Y to the other side 31d in the surface plate radial direction Y, as shown in FIG. 10(b). In addition, the contact area between the first region 33X and the polishing pad 11a shown with diagonal lines in FIG. 10(b) is trapezoidal when the horizontal axis is the surface plate radial direction Y.
このため、図10(c)に示すように、実施例1と比べると上定盤11の外周部及び内周部において、研磨パッド11aの削り量が少なくなる。一方、上定盤11の径方向の中間部では、実施例1と比べると、研磨パッド11aの削り量が多くなる。そのため、上定盤11の外周部及び内周部の研磨パッド11aの削り量と、上定盤11の中間部の研磨パッド11aの削り量との差が実施例1よりも大きくなり、研磨パッド11aの平坦度を向上させることができない。 As a result, as shown in FIG. 10(c), the amount of polishing pad 11a removed is less at the outer and inner periphery of the upper platen 11 compared to Example 1. On the other hand, the amount of polishing pad 11a removed is greater at the radially middle portion of the upper platen 11 compared to Example 1. As a result, the difference between the amount of polishing pad 11a removed at the outer and inner periphery of the upper platen 11 and the amount of polishing pad 11a removed at the middle portion of the upper platen 11 is greater than in Example 1, and the flatness of polishing pad 11a cannot be improved.
また、例えば、図11(a)に示す第2比較例のように、平面視で二つの三角形の頂点が繋がっている形状を呈する第1領域33Yを有するドレッサーの場合、例えば、第2比較例のドレッサーが上下定盤11、12の外周縁14に位置するとき、第1領域33Yと研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さは、図11(b)に示すように、定盤径方向Yの一方の側部31cから、定盤径方向Yの他方の側部31dに向かって次第に低減することはなく、途中で増加して再び低減する。なお、図11(b)において斜線を付して示された第1領域33Yと研磨パッド11aとの接触面積は、横軸を定盤径方向Yとして図示したときに二つの三角形を並べた形となる。 In addition, for example, in the case of a dresser having a first region 33Y having a shape in which the vertices of two triangles are connected in a plan view, as in the second comparative example shown in FIG. 11(a), when the dresser of the second comparative example is located on the outer periphery 14 of the upper and lower base plates 11 and 12, the contact length between the first region 33Y and the polishing pad 11a in the base plate circumferential direction X does not gradually decrease from one side 31c in the base plate radial direction Y to the other side 31d in the base plate radial direction Y, as shown in FIG. 11(b), but increases halfway and then decreases again. Note that the contact area between the first region 33Y and the polishing pad 11a shown with diagonal lines in FIG. 11(b) is in the shape of two triangles lined up when the horizontal axis is the base plate radial direction Y.
このため、図11(c)に示すように、研磨パッド11aの削り量の増加が、上定盤11の外周部及び内周部において大きく変動し、いわゆる段差Dを生じる。そのため、研磨パッド11aの平坦度を向上させることができない。 As a result, as shown in FIG. 11(c), the increase in the amount of polishing pad 11a removed varies greatly between the outer and inner periphery of upper platen 11, resulting in a so-called step D. As a result, the flatness of polishing pad 11a cannot be improved.
さらに、実施例1のドレッシング装置1では、第1ドレッシング面31に第1領域33よりも粒度の番手が高く(目が細かい)、ドレッシング力が第1領域33よりも低い第2領域34が設定されている。ここで、第2領域34は、第1領域33に対して定盤周方向Xに沿って並んで配置されている。これにより、第1溝部37aの縁部に作用する衝撃力を抑制し、第1領域33の周縁のうち、区画線35に沿った部分、つまり先鋭部36を保護することができる。 Furthermore, in the dressing device 1 of Example 1, a second region 34 is set on the first dressing surface 31, which has a higher grain size (finer mesh) than the first region 33 and a lower dressing force than the first region 33. Here, the second region 34 is arranged in line with the first region 33 along the circumferential direction X of the platen. This makes it possible to suppress the impact force acting on the edge of the first groove portion 37a and to protect the portion of the periphery of the first region 33 along the dividing line 35, i.e., the sharp tip portion 36.
また、第2領域34によって先鋭部36の周囲を保護することで、先鋭部36における砥粒の剥離を抑制することができる。さらに、第2領域34によって研磨パッド11aを押さえることができ、先鋭部36が研磨パッド11aに引っ掛かりにくくなって、研磨パッド11aの損傷を防止することができる。 In addition, the second region 34 protects the periphery of the sharpened tip 36, which can suppress the peeling of abrasive grains at the sharpened tip 36. Furthermore, the second region 34 can hold down the polishing pad 11a, making it difficult for the sharpened tip 36 to get caught on the polishing pad 11a, preventing damage to the polishing pad 11a.
また、例えば、第2領域34がドレッシング力を有さない平坦な金属面等で形成された場合、第1領域33によって粗化された研磨パッド11aの目を第2領域34が潰してしまうおそれがある。そのため、第2領域34を金属面等のドレッシング力を有さない面とすることは望ましくない。これに対し、実施例1のドレッシング装置1では、第2領域34に第1領域33よりも低いドレッシング力を持たせることで、研磨パッド11aを積極的に粗化することはないものの、第1領域33によって粗化された研磨パッド11aの目を潰してしまうことを防止できる。 For example, if the second region 34 is formed of a flat metal surface or the like that does not have a dressing force, there is a risk that the second region 34 will destroy the grain of the polishing pad 11a that has been roughened by the first region 33. For this reason, it is undesirable to make the second region 34 a surface that does not have a dressing force, such as a metal surface. In contrast, in the dressing device 1 of Example 1, by giving the second region 34 a dressing force lower than the first region 33, the polishing pad 11a is not actively roughened, but the grain of the polishing pad 11a that has been roughened by the first region 33 can be prevented from being destroyed.
さらに、第2領域34は、ドレッシング力が第1領域33よりも低ければよいため、砥粒以外にも、比較的柔らかいブラシや番手の高い砥石、セラミックス等の表面を粗面化加工したもの等、ドレッシング力を有する材質で形成されていてもよい。 Furthermore, since the second region 34 only needs to have a lower dressing force than the first region 33, it may be made of a material with dressing force, such as a relatively soft brush, a high-grit grindstone, or a roughened surface of ceramics, in addition to abrasive grains.
また、実施例1のドレッシング装置1では、区画線35上に設定された第3隅角部35cが、上定盤11の内周縁15の接線方向Lβに平行な第1直線L1と、上定盤11の外周縁14の接線方向Lαに平行な第2直線L2との交点上に設定されている。さらに、接線方向Lαと区画線35とでなす角θ1と、接線方向Lβと区画線35とでなす角θ2とが、同じ角度に設定され、接線方向Lαと第1直線L1とでなす角θ3と、接線方向Lβと第2直線L2とでなす角θ4とが、同じ角度に設定されている。 In the dressing device 1 of Example 1, the third corner portion 35c set on the dividing line 35 is set on the intersection of a first straight line L1 parallel to the tangent direction Lβ of the inner peripheral edge 15 of the upper surface plate 11 and a second straight line L2 parallel to the tangent direction Lα of the outer peripheral edge 14 of the upper surface plate 11. Furthermore, the angle θ1 between the tangent direction Lα and the dividing line 35 and the angle θ2 between the tangent direction Lβ and the dividing line 35 are set to the same angle, and the angle θ3 between the tangent direction Lα and the first straight line L1 and the angle θ4 between the tangent direction Lβ and the second straight line L2 are set to the same angle.
これにより、実施例1のドレッシング装置1は、図8に示すように、第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さを、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているときと、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているときとのいずれにおいても、定盤縁部(外周縁14或いは内周縁15)側から定盤内部(上下定盤11、12の定盤径方向Yの中間部)側に向かって次第に低減させることができる。この結果、図9(a)に示すように、上定盤11の外周部及び内周部と中間部とで、研磨パッド11aの削り量の変動を抑制し、研磨パッド11aの平坦度を高めることができる。 As a result, as shown in FIG. 8, the dressing device 1 of Example 1 can gradually reduce the contact length between the first region 33 and the polishing pad 11a in the platen circumferential direction X from the platen edge (outer peripheral edge 14 or inner peripheral edge 15) side toward the platen interior (the intermediate part of the platen radial direction Y of the upper and lower platens 11 and 12) side, both when the dresser 3 is located on the outer peripheral edge 14 of the upper and lower platens 11 and 12 and when the dresser 3 is located on the inner peripheral edge 15 of the upper and lower platens 11 and 12. As a result, as shown in FIG. 9(a), the variation in the amount of polishing pad 11a removed can be suppressed between the outer peripheral part, inner peripheral part, and intermediate part of the upper platen 11, and the flatness of the polishing pad 11a can be improved.
なお、例えば、図12(a)に示す第1変形例の第1領域33Aのように、角θ1及びθ2が、角θ3及びθ4より著しく小さい角度に設定された場合では、図12(b)に示すように、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているとき、側部31cから側部31dに向かう途中位置(中間位置)で、第1領域33Aと研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さの低減率が大きく変化する。また、図示しないが、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているときには、側部31dから側部31cに向かう途中位置(中間位置)で、第1領域33Aと研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さの低減率が大きく変化する。さらに、図12(b)において斜線を付して示す第1領域33と研磨パッド11aとの接触面積は、横軸を定盤径方向Yとして図示した際、三角形を呈することはない。 For example, in the case where the angles θ1 and θ2 are set to angles significantly smaller than the angles θ3 and θ4, as in the first region 33A of the first modified example shown in FIG. 12(a), when the dresser 3 is located on the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, as shown in FIG. 12(b), the reduction rate of the contact length in the circumferential direction X of the first region 33A and the polishing pad 11a changes significantly at the midway position (middle position) from the side 31c to the side 31d. Also, although not shown, when the dresser 3 is located on the inner periphery 15 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the reduction rate of the contact length in the circumferential direction X of the first region 33A and the polishing pad 11a changes significantly at the midway position (middle position) from the side 31d to the side 31c. Furthermore, the contact area between the first region 33, which is shown with diagonal lines in FIG. 12(b), and the polishing pad 11a does not form a triangle when illustrated with the horizontal axis representing the platen radial direction Y.
しかしながら、このような場合であっても図12(c)に示すように、上定盤11の外周部及び内周部と、径方向の中間部とで、研磨パッド11aの削り量の変動を抑制し、研磨パッド11aの平坦度を高めることができる。 However, even in such a case, as shown in FIG. 12(c), it is possible to suppress the variation in the amount of polishing pad 11a removed at the outer and inner periphery of the upper platen 11 and at the radial middle portion, thereby improving the flatness of the polishing pad 11a.
ただし、第4隅角部35dと第5隅角部35eを結んだ直線から第3隅角部35cまでの最短距離Bは、第1隅角部35aと第2隅角部35bを結んだ直線から第3隅角部35cまでの最短距離Aの10%以上の長さであることが望ましい。これ以上距離Bが短くなると、第1領域33Aの面積が狭くなり、ドレッシング装置1のドレッシング機能が低下して実用性に乏しくなる。 However, it is desirable that the shortest distance B from the straight line connecting the fourth corner 35d and the fifth corner 35e to the third corner 35c be at least 10% of the shortest distance A from the straight line connecting the first corner 35a and the second corner 35b to the third corner 35c. If the distance B is shorter than this, the area of the first region 33A will be narrowed, the dressing function of the dressing device 1 will be reduced, and it will become less practical.
また、実施例1のドレッシング装置1では、第1ドレッシング面31に、ドレッシングの実施時に供給される洗浄水(流体)が流動可能であって、ドレッサー3の側方に開放した溝部37が形成されている。 In addition, in the dressing device 1 of Example 1, a groove portion 37 is formed on the first dressing surface 31 through which cleaning water (fluid) supplied when performing dressing can flow, and which is open to the side of the dresser 3.
これにより、実施例1のドレッシング装置1は、溝部37を流れる洗浄水によって、ドレッシングによって生じた研磨パッド11aの研削屑や、研磨パッド11aに付着した付着物や副生成物等を第1ドレッシング面31と研磨パッド11aとの間から排出することができる。 As a result, the dressing device 1 of Example 1 can use the cleaning water flowing through the groove portion 37 to remove grinding debris from the polishing pad 11a generated by dressing, as well as deposits and by-products attached to the polishing pad 11a, from between the first dressing surface 31 and the polishing pad 11a.
特に、実施例1では、溝部37が、区画線35に沿った第1溝部37aを有している。これにより、第1領域33と第2領域34との間に隙間を開けることができ、研削屑の排出性能を高めることができる。このため、ドレッサー3の目詰まりを抑制することができる。 In particular, in Example 1, the groove portion 37 has a first groove portion 37a that is aligned with the dividing line 35. This allows a gap to be created between the first region 33 and the second region 34, improving the discharge performance of grinding debris. This makes it possible to prevent clogging of the dresser 3.
また、実施例1では、溝部37が、定盤周方向Xに沿った第2溝部37bを有している。これにより、定盤周方向Xに沿って流れる洗浄水の排出性能を向上し、研削屑の排出性能を高めることができる。このため、ドレッサー3の目詰まりを抑制することができる。 In addition, in Example 1, the groove portion 37 has a second groove portion 37b along the circumferential direction X of the platen. This improves the discharge performance of the cleaning water flowing along the circumferential direction X of the platen, and improves the discharge performance of the grinding debris. This makes it possible to suppress clogging of the dresser 3.
さらに、実施例1では、溝部37が、第1ドレッシング面31の定盤径方向Yの中心位置から定盤径方向Yの両側部31c、31dに向かって、上定盤11の回転に対して下流方向に倣う向きに延びる第3溝部37cを有している。これにより、研削屑の排出性能を高め、ドレッサー3の目詰まりを抑制することができる。 Furthermore, in Example 1, the groove portion 37 has a third groove portion 37c that extends from the center position of the first dressing surface 31 in the platen radial direction Y toward both side portions 31c and 31d in the platen radial direction Y in a direction following the downstream direction relative to the rotation of the upper platen 11. This improves the discharge performance of grinding debris and suppresses clogging of the dresser 3.
さらに、実施例1のドレッシング装置1では、第1ドレッシング面31が、定盤周方向Xの一方の端部31a及び定盤周方向Xの他方の端部31bの双方にR加工が施されている。これにより、第1ドレッシング面31の両端部31a、31bと研磨パッド11aと間で抵抗を少なくすることができる。このため、第1ドレッシング面31が研磨パッド11aに引っ掛かることを抑制し、研磨パッド11aや砥粒へのダメージを抑えることができる。 Furthermore, in the dressing device 1 of Example 1, the first dressing surface 31 is subjected to R processing on both one end 31a in the circumferential direction X of the platen and the other end 31b in the circumferential direction X of the platen. This makes it possible to reduce resistance between both ends 31a, 31b of the first dressing surface 31 and the polishing pad 11a. This makes it possible to prevent the first dressing surface 31 from getting caught on the polishing pad 11a, and to suppress damage to the polishing pad 11a and the abrasive grains.
なお、実施例1のドレッシング装置1では、第2ドレッシング面32においても、第1ドレッシング面31と同様の作用効果を得ることができる。すなわち、実施例1のドレッシング装置1は、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に位置しているとき、第1領域33と研磨パッド12aとの定盤周方向Xの接触長さを、第2ドレッシング面32の定盤径方向Yの一方の側部32cから、定盤径方向Yの他方の側部32dに向かって、次第に低減させることができる。また、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に位置しているとき、第1領域33と研磨パッド12aとの定盤周方向Xの接触長さを、第2ドレッシング面32の定盤径方向Yの他方の側部32dから、定盤径方向Yの一方の側部31cに向かうにつれて、次第に低減させることができる。 In the dressing device 1 of Example 1, the second dressing surface 32 can also provide the same effect as the first dressing surface 31. That is, when the dresser 3 is located on the outer periphery 14 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the dressing device 1 of Example 1 can gradually reduce the contact length between the first region 33 and the polishing pad 12a in the surface plate circumferential direction X from one side 32c in the surface plate radial direction Y of the second dressing surface 32 to the other side 32d in the surface plate radial direction Y. Also, when the dresser 3 is located on the inner periphery 15 of the upper and lower surface plates 11 and 12, the contact length between the first region 33 and the polishing pad 12a in the surface plate circumferential direction X can be gradually reduced from the other side 32d in the surface plate radial direction Y of the second dressing surface 32 to one side 31c in the surface plate radial direction Y.
これにより、下定盤12の外周部(外周縁14の近傍位置)及び内周部(内周縁15の近傍位置)における研磨パッド12aの削り量と、下定盤12の径方向の中間部における研磨パッド12aの削り量との差を小さくでき、研磨パッド12aの平坦度を向上させることができる。 This reduces the difference between the amount of polishing pad 12a removed at the outer periphery (near outer edge 14) and inner periphery (near inner edge 15) of the lower surface plate 12 and the amount of polishing pad 12a removed at the radial middle part of the lower surface plate 12, thereby improving the flatness of the polishing pad 12a.
さらに、実施例1のドレッシング装置1では、第2ドレッシング面32における第1領域33の砥粒の剥離を抑制すると共に、第2ドレッシング面32における先鋭部36の研磨パッド12aへの引っ掛かりを抑え、研磨パッド12aの損傷を防止することができる。 Furthermore, the dressing device 1 of Example 1 can suppress the peeling of abrasive grains in the first region 33 on the second dressing surface 32, and can also suppress the sharpened portion 36 on the second dressing surface 32 from getting caught on the polishing pad 12a, thereby preventing damage to the polishing pad 12a.
以上、本発明のドレッシング装置を実施例1に基づいて説明してきたが、具体的な構成については、この実施例に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。 The dressing device of the present invention has been described above based on Example 1, but the specific configuration is not limited to this example, and design changes and additions are permitted as long as they do not deviate from the gist of the invention as defined by each claim in the scope of the claims.
実施例1では、溝部37が、第1溝部37aと第2溝部37bと第3溝部37cとを有する例が示された。しかしながら、溝部37は、第1~第3溝部37a~37cのいずれかを有していればよい。また、溝部37は、第1ドレッシング面31及び第2ドレッシング面32に必ずしも形成されていなくてもよい。また、溝部37の大きさ(幅及び深さ)は任意に設定することができる。さらに、第2溝部37b及び第3溝部37cの数や、これらが形成される位置についても、任意に設定することができる。 In Example 1, an example is shown in which the groove portion 37 has the first groove portion 37a, the second groove portion 37b, and the third groove portion 37c. However, it is sufficient that the groove portion 37 has any of the first to third groove portions 37a to 37c. Furthermore, the groove portion 37 does not necessarily have to be formed on the first dressing surface 31 and the second dressing surface 32. Furthermore, the size (width and depth) of the groove portion 37 can be set arbitrarily. Furthermore, the number of the second groove portions 37b and the third groove portions 37c and the positions at which they are formed can also be set arbitrarily.
また、実施例1では、ドレッシング装置1が、第1ドレッシング面31と第2ドレッシング面32とを有するドレッサー3を備え、両面研磨機10の上定盤11と下定盤12とを同時にドレッシングすることができる例が示された。しかしながら、ドレッサー3はこれに限らない。ドレッサー3は、例えば、上定盤11の研磨パッド11aに対向する第1ドレッシング面31のみを有するドレッサー3や、下定盤12の研磨パッド12aに対向する第2ドレッシング面32のみを有するドレッサー3であってもよい。この場合、第1、第2ドレッシング面31、32の形状を上定盤回転方向CCWや下定盤回転方向CWに応じた最適な形状とすることが可能となる。 In addition, in Example 1, an example was shown in which the dressing device 1 is equipped with a dresser 3 having a first dressing surface 31 and a second dressing surface 32, and can simultaneously dress the upper platen 11 and the lower platen 12 of the double-sided polisher 10. However, the dresser 3 is not limited to this. The dresser 3 may be, for example, a dresser 3 having only a first dressing surface 31 facing the polishing pad 11a of the upper platen 11, or a dresser 3 having only a second dressing surface 32 facing the polishing pad 12a of the lower platen 12. In this case, it is possible to make the shapes of the first and second dressing surfaces 31 and 32 optimal according to the upper platen rotation direction CCW and the lower platen rotation direction CW.
実施例1では、第1ドレッシング面31が、定盤周方向Xの一方の端部31aから、定盤周方向Xの他方の端部31bに向かって、定盤径方向Yの寸法Wが次第に長くなる形状を呈している例が示された。しかしながら、例えば、定盤径方向Yに沿って上下定盤11、12の間にドレッサー3を入れる場合では、ドレッサー3が上下定盤11、12の外周縁14に接したときの外周縁14の接線方向Lαと、ドレッサー3が上下定盤11、12の内周縁15に接したときの内周縁15の接線方向Lβとが平行になる。 In Example 1, an example is shown in which the first dressing surface 31 has a shape in which the dimension W in the radial direction Y of the platen gradually increases from one end 31a in the circumferential direction X of the platen toward the other end 31b in the circumferential direction X of the platen. However, for example, when the dresser 3 is inserted between the upper and lower platens 11 and 12 along the radial direction Y of the platen, the tangent direction Lα of the outer peripheral edge 14 when the dresser 3 contacts the outer peripheral edge 14 of the upper and lower platens 11 and 12 and the tangent direction Lβ of the inner peripheral edge 15 when the dresser 3 contacts the inner peripheral edge 15 of the upper and lower platens 11 and 12 are parallel.
そのため、第1ドレッシング面は、定盤周方向Xの一方の端部31aから定盤周方向Xの他方の端部31bまでの定盤径方向Yの寸法Wが、一定であってもよい。 Therefore, the first dressing surface may have a constant dimension W in the radial direction Y of the base plate from one end 31a in the circumferential direction X of the base plate to the other end 31b in the circumferential direction X of the base plate.
また、実施例1のドレッシング装置1では、区画線35が、第1隅角部35aと第3隅角部35c(中間点)とをつなぐ直線と、第2隅角部35bと第3隅角部35c(中間点)とをつなぐ直線によって構成されている。しかしながら、区画線35の形状はこれに限らず、例えば、第3隅角部35cを頂点とする円弧によって構成されてもよいし、第1隅角部35aと第3隅角部35c(中間点)とをつなぐ階段状に折れ曲がった折れ線と、第2隅角部35bと第3隅角部35c(中間点)とをつなぐ階段状に折れ曲がった折れ線とで構成されてもよい。 In the dressing device 1 of Example 1, the dividing line 35 is composed of a straight line connecting the first corner 35a and the third corner 35c (midpoint) and a straight line connecting the second corner 35b and the third corner 35c (midpoint). However, the shape of the dividing line 35 is not limited to this, and may be composed of, for example, an arc with the third corner 35c as an apex, or may be composed of a stepped broken line connecting the first corner 35a and the third corner 35c (midpoint) and a stepped broken line connecting the second corner 35b and the third corner 35c (midpoint).
また、実施例1のドレッシング装置1では、第1ドレッシング面31の定盤周方向Xの一方の端部31a及び定盤周方向Xの他方の端部31bの双方に、大きなR加工が施された例が示された。しかしながら、第1ドレッシング面31の形状はこれに限らない。第1ドレッシング面31は、定盤周方向Xの一方の端部31a又は定盤周方向Xの他方の端部31bのいずれか一方にR加工が施されてもよいし、端部31a、31bのいずれにもR加工が施されなくてもよい。 In addition, in the dressing device 1 of Example 1, an example is shown in which a large R processing is performed on both one end 31a in the circumferential direction X of the first dressing surface 31 and the other end 31b in the circumferential direction X of the first dressing surface 31. However, the shape of the first dressing surface 31 is not limited to this. The first dressing surface 31 may be R processed on either one end 31a in the circumferential direction X of the first dressing surface 31 or the other end 31b in the circumferential direction X of the first dressing surface 31, or neither end 31a nor 31b may be R processed.
さらに、実施例1のドレッシング装置1では、研磨パッド11a、12aの平坦度を向上させる例が示された。しかしながら、第3隅角部35c(中間点)の位置を制御することにより、側部31cから側部31dに向かって第1領域33と研磨パッド11a、12aとの定盤周方向Xの接触長さが低減する際の低減の仕方や、側部31dから側部31cに向かって第1領域33と研磨パッド11a、12aとの定盤周方向Xの接触長さが低減する際の低減の仕方を制御することが可能である。つまり、研磨パッド11a、12aの外周部及び内周部を、意図的にタチ(外周部及び内周部の削り量が少ない状態)やダレ(外周部及び内周部の削り量が多い状態)等の形状に制御することも可能となる。 Furthermore, in the dressing device 1 of Example 1, an example of improving the flatness of the polishing pads 11a and 12a was shown. However, by controlling the position of the third corner portion 35c (midpoint), it is possible to control the manner in which the contact length between the first region 33 and the polishing pads 11a and 12a in the circumferential direction X of the platen is reduced from the side portion 31c toward the side portion 31d, and the manner in which the contact length between the first region 33 and the polishing pads 11a and 12a in the circumferential direction X of the platen is reduced from the side portion 31d toward the side portion 31c. In other words, it is also possible to intentionally control the outer and inner peripheral portions of the polishing pads 11a and 12a to have shapes such as a ridge (a state in which the amount of cutting of the outer and inner peripheral portions is small) or a sag (a state in which the amount of cutting of the outer and inner peripheral portions is large).
また、実施例1のドレッシング装置1は、実際にドレッシングを行った後の研磨パッド11a、12aの外周部及び内周部の形状から、第1領域33と研磨パッド11a、12aとの接触面積の形状(X軸とY軸及び第1領域33と研磨パッド11aとの定盤周方向Xの接触長さを示す線とで囲まれた領域の形状)を適切に設定し、設定した接触面積の形状に基づいて第1領域33の形状(第3隅角部35cの位置)を設計することも可能である。これにより、研磨パッド11a、12aの形状を細かく制御することができる。 The dressing device 1 of Example 1 can also appropriately set the shape of the contact area between the first region 33 and the polishing pads 11a and 12a (the shape of the area surrounded by the X-axis, Y-axis, and a line indicating the contact length between the first region 33 and the polishing pad 11a in the circumferential direction X of the platen) from the shapes of the outer and inner peripheries of the polishing pads 11a and 12a after actual dressing, and can design the shape of the first region 33 (the position of the third corner portion 35c) based on the shape of the set contact area. This allows for precise control of the shapes of the polishing pads 11a and 12a.
さらに、実施例1のドレッシング装置1では、ドレッサー3が洗浄水噴射機構3bを有する例が示されたが、必ずしも洗浄水はドレッサー3から噴出可能でなくてもよい。すなわち、ドレッサー3が洗浄水噴射機構3bを有していなくてもよい。 Furthermore, in the dressing device 1 of Example 1, an example is shown in which the dresser 3 has a cleaning water spraying mechanism 3b, but cleaning water does not necessarily have to be able to be sprayed from the dresser 3. In other words, the dresser 3 does not necessarily have to have a cleaning water spraying mechanism 3b.
また、ドレッシング装置1を具備した両面研磨機10は、ドレッシング時に上定盤11を固定させる機構を持つことがある。その場合、上定盤11を所定の高さまで上昇させた位置に、上定盤11を吊下げた状態で固定する機構(以下、「上定盤吊部固定機構」という)によって、上定盤11が固定された状態で、ドレッシングを行ってもよい。 The double-sided polishing machine 10 equipped with the dressing device 1 may have a mechanism for fixing the upper platen 11 during dressing. In that case, dressing may be performed with the upper platen 11 fixed in a position where it has been raised to a predetermined height by a mechanism for fixing the upper platen 11 in a suspended state (hereinafter referred to as the "upper platen hanging part fixing mechanism").
上定盤吊部固定機構は、上定盤11及び上定盤11に設けられた上定盤吊部を吊下げた状態で支持する装置フレームに設けられる。上定盤吊部固定機構は、上定盤11の上下方向の位置(高さ)や振れを制止することができる。なお、上定盤吊部固定機構は、例えば、係止・解除する駆動が可能なU字状や円柱状、爪状などの装置フレームに設けられた係止部材が、上定盤吊部に設けられた被係止部材に係止されて装置フレームと上定盤吊部とを固定する機構や、逆に、係止・解除する駆動が可能な係止部材を上定盤吊部に設け、被係止部材を装置フレームに設けた機構など、任意の構造及び形状とすることができる。係止部材を係止・解除する際の駆動方向は、水平方向のほか、被係止部に対して係止が可能であれば、その他の方向でもよい。なお、上定盤吊部固定機構は、本発明のオートドレッシング技術に限らず、他の形態の定盤ドレッサー及びパッドドレッサーによるドレッシング、並びにあらゆる定盤のメンテナンス作業にも適用することができる。 The upper platen suspension fixing mechanism is provided on the device frame that supports the upper platen 11 and the upper platen suspension provided on the upper platen 11 in a suspended state. The upper platen suspension fixing mechanism can prevent the upper platen 11 from being moved in the vertical direction (height) or from vibrating. The upper platen suspension fixing mechanism can be of any structure and shape, such as a mechanism in which a locking member provided on the device frame, such as a U-shaped, cylindrical, or claw-shaped locking member that can be driven to lock and release, is locked to a locked member provided on the upper platen suspension to fix the device frame and the upper platen suspension, or a mechanism in which a locking member that can be driven to lock and release is provided on the upper platen suspension and the locked member is provided on the device frame. The driving direction when locking and unlocking the locking member may be any direction other than the horizontal direction as long as it can be locked to the locked part. The upper platen suspension fixing mechanism can be applied not only to the auto-dressing technology of the present invention, but also to dressing using other types of platen dressers and pad dressers, as well as to maintenance work on all types of platens.
1 ドレッシング装置
2 アーム部材
3 ドレッサー
3a ドレッシング部材
31 第1ドレッシング面
31a 定盤周方向の一方の端部
31b 定盤周方向の他方の端部
31c 定盤径方向の一方の側部(定盤径方向の外周側の側部)
31d 定盤径方向の他方の側部(定盤径方向の内周側の側部)
32 第2ドレッシング面
33 第1領域
34 第2領域
35 区画線
35a 第1隅角部
35b 第2隅角部
35c 第3隅角部(中間点)
35d 第4隅角部
35e 第5隅角部
36 先鋭部
37 溝部
37a 第1溝部
37b 第2溝部
37c 第3溝部
10 両面研磨機
11 上定盤
11a 研磨パッド
12 下定盤
12a 研磨パッド
13 回転軸
14 外周縁
15 内周縁
X 定盤周方向
Y 定盤径方向
Lα 外周縁の接線方向
Lβ 内周縁の接線方向
1 Dressing device 2 Arm member 3 Dresser 3a Dressing member 31 First dressing surface 31a One end portion in the circumferential direction of the platen 31b The other end portion in the circumferential direction of the platen 31c One side portion in the radial direction of the platen (side portion on the outer circumferential side of the platen in the radial direction)
31d: the other side in the radial direction of the surface plate (the inner side in the radial direction of the surface plate)
32 Second dressing surface 33 First region 34 Second region 35 Partition line 35a First corner 35b Second corner 35c Third corner (midpoint)
35d Fourth corner 35e Fifth corner 36 Sharpened portion 37 Groove 37a First groove 37b Second groove 37c Third groove 10 Double-sided polisher 11 Upper surface plate 11a Polishing pad 12 Lower surface plate 12a Polishing pad 13 Rotary shaft 14 Outer periphery 15 Inner periphery X Surface plate circumferential direction Y Surface plate radial direction Lα Tangential direction of outer periphery Lβ Tangential direction of inner periphery
Claims (6)
前記ドレッサーは、前記研磨パッドに対向するドレッシング面を有し、
前記ドレッシング面には、所定のドレッシング力である第1領域と、前記第1領域よりも前記ドレッシング力が低い第2領域と、が設定され、
前記第1領域と前記第2領域とは、定盤周方向に並ぶと共に、前記第1領域が、前記ドレッシング面の前記定盤周方向の一方の端部側に配置され、
前記第1領域と前記第2領域とを区画する区画線は、定盤径方向の中間部に、両端部よりも前記定盤周方向の一方の端部に近い位置に設定される中間点を有し、
前記ドレッシング面は、前記定盤周方向の一方の端部から、前記定盤周方向の他方の端部に向かって、前記定盤径方向の寸法が次第に長くなる形状を呈し、前記ドレッサーが前記定盤の外周縁に位置するとき、前記定盤径方向の外周側の側部が前記定盤の外周縁の接線方向に沿い、前記ドレッサーが前記定盤の内周縁に位置するとき、前記定盤径方向の内周側の側部が前記定盤の内周縁の接線方向に沿い、
前記中間点は、前記定盤の内周縁の接線方向に平行であって、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部と、前記定盤周方向の一方の端部との交点を通る第1直線と、前記定盤の外周縁の接線方向に平行であって、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部と、前記定盤周方向の一方の端部との交点を通る第2直線との交点上に設定され、
前記定盤の外周縁の接線方向と前記区画線とでなす角と、前記定盤の内周縁の接線方向と前記区画線とでなす角とは、同一の角度に設定され、前記定盤の外周縁の接線方向と前記第1直線とでなす角と、前記定盤の内周縁の接線方向と前記第2直線とでなす角とは、同一の角度に設定され、
前記研磨パッドと前記第1領域との前記定盤周方向の接触長さは、前記ドレッサーが前記定盤の外周縁に位置するとき、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部から、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部に向かうにつれて、次第に低減し、前記ドレッサーが前記定盤の内周縁に位置するとき、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の内周側の側部から、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の外周側の側部に向かうにつれて、次第に低減する
ことを特徴とするドレッシング装置。 A dressing apparatus including a dresser for dressing a polishing pad attached to a platen for polishing a workpiece,
the dresser has a dressing surface facing the polishing pad;
The dressing surface is provided with a first region having a predetermined dressing force and a second region having a lower dressing force than the first region,
The first region and the second region are aligned in a circumferential direction of the platen, and the first region is disposed on one end side of the dressing surface in the circumferential direction of the platen,
A dividing line dividing the first region and the second region has a midpoint set at a position closer to one end in the circumferential direction of the platen than both end portions in a middle portion in the radial direction of the platen,
the dressing surface has a shape in which a dimension in the radial direction of the platen gradually increases from one end in the circumferential direction of the platen to the other end in the circumferential direction of the platen, and when the dresser is located on the outer circumferential edge of the platen, a side portion on the outer circumferential side of the platen in the radial direction is aligned along a tangential direction of the outer circumferential edge of the platen, and when the dresser is located on the inner circumferential edge of the platen, a side portion on the inner circumferential side of the platen in the radial direction is aligned along a tangential direction of the inner circumferential edge of the platen,
the midpoint is set on an intersection of a first straight line which is parallel to a tangential direction of an inner peripheral edge of the platen and passes through an intersection point between a side portion of the dressing surface on the outer peripheral side in the radial direction of the platen and one end portion in the circumferential direction of the platen, and a second straight line which is parallel to a tangential direction of an outer peripheral edge of the platen and passes through an intersection point between a side portion of the dressing surface on the inner peripheral side in the radial direction of the platen and one end portion in the circumferential direction of the platen,
The angle between the tangential direction of the outer peripheral edge of the platen and the dividing line and the angle between the tangential direction of the inner peripheral edge of the platen and the dividing line are set to the same angle, and the angle between the tangential direction of the outer peripheral edge of the platen and the first straight line and the angle between the tangential direction of the inner peripheral edge of the platen and the second straight line are set to the same angle,
A contact length between the polishing pad and the first region in the circumferential direction of the platen gradually decreases from a side portion of the dressing surface on the outer circumferential side in the radial direction of the platen to a side portion of the dressing surface on the inner circumferential side in the radial direction of the platen when the dresser is located on the outer circumferential edge of the platen, and gradually decreases from a side portion of the dressing surface on the inner circumferential side in the radial direction of the platen to a side portion of the dressing surface on the outer circumferential side in the radial direction of the platen when the dresser is located on the inner circumferential edge of the platen.
A dressing apparatus comprising:
前記ドレッシング面には、前記ドレッシングの実施時に供給される流体が流動可能であって、前記ドレッサーの側方に開放した溝部が形成されている
ことを特徴とするドレッシング装置。 2. The dressing apparatus according to claim 1 ,
a groove portion, which is open to a side of the dresser, and through which a fluid supplied during the dressing can flow, is formed on the dressing surface.
前記溝部は、前記区画線に沿った第1溝部を有する
ことを特徴とするドレッシング装置。 3. The dressing apparatus according to claim 2 ,
The dressing device, wherein the groove portion has a first groove portion extending along the partition line.
前記溝部は、前記定盤周方向に沿った第2溝部を有する
ことを特徴とするドレッシング装置。 4. The dressing apparatus according to claim 2 ,
The dressing device according to claim 1, wherein the groove portion has a second groove portion extending along a circumferential direction of the platen.
前記溝部は、前記ドレッシング面の前記定盤径方向の中心位置から前記定盤径方向の側
部に向かって、前記定盤の回転に対して下流方向に倣う向きに延びる第3溝部を有する
ことを特徴とするドレッシング装置。 The dressing apparatus according to any one of claims 2 to 4 ,
The dressing device according to claim 1, wherein the groove portion has a third groove portion extending from a center position of the dressing surface in the radial direction of the platen toward a side portion in the radial direction of the platen in a direction following a downstream direction with respect to rotation of the platen.
前記ドレッシング面は、前記定盤周方向の一方の端部又は前記定盤周方向の他方の端部
の少なくとも一方にR加工が施されている
ことを特徴とするドレッシング装置。 The dressing apparatus according to any one of claims 1 to 5 ,
The dressing device according to claim 1, wherein the dressing surface is subjected to R processing on at least one of one end portion in a circumferential direction of the platen or the other end portion in the circumferential direction of the platen.
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Families Citing this family (1)
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Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004017207A (en) | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Nikon Corp | Dressing tool and dressing device |
| JP2017019027A (en) | 2015-07-08 | 2017-01-26 | 不二越機械工業株式会社 | Dressing apparatus and dressing method for polishing cloth of double-side polishing apparatus |
Family Cites Families (2)
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|---|---|---|---|---|
| KR101242276B1 (en) * | 2011-02-14 | 2013-03-11 | 주식회사 엘지실트론 | Pad treatment apparatus |
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-
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Patent Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JP2004017207A (en) | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Nikon Corp | Dressing tool and dressing device |
| JP2017019027A (en) | 2015-07-08 | 2017-01-26 | 不二越機械工業株式会社 | Dressing apparatus and dressing method for polishing cloth of double-side polishing apparatus |
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