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JP7712741B2 - Release Film - Google Patents
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JP7712741B2 - Release Film - Google Patents

Release Film

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JP7712741B2
JP7712741B2 JP2019051299A JP2019051299A JP7712741B2 JP 7712741 B2 JP7712741 B2 JP 7712741B2 JP 2019051299 A JP2019051299 A JP 2019051299A JP 2019051299 A JP2019051299 A JP 2019051299A JP 7712741 B2 JP7712741 B2 JP 7712741B2
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Description

本発明は、離型フィルムに関する。 The present invention relates to a release film.

プリント配線基板、フレキシブル回路基板、多層プリント配線板等の製造工程において離型フィルムが使用されている。
フレキシブル回路基板の製造工程においては、銅回路を形成したフレキシブル回路基板本体に、熱硬化型接着剤又は熱硬化型接着シートを介してカバーレイフィルムが熱プレス接着される。このとき、カバーレイフィルムと熱プレス板との間に離型フィルムを配置することで、カバーレイフィルムと熱プレス板とが接着するのを防止することができ、また、接着剤が染み出して電極部のめっき処理の障害となる等の不具合を防止することができる。
近年では、フレキシブル回路基板のL/S(ライン/スペース)の細線化にも対応して離型性、凹凸への追従性(埋め込み性)等の性能を確保できるよう、離型層とクッション層とを含む多層からなる離型フィルムも使用されている。
2. Description of the Related Art Release films are used in the manufacturing processes of printed wiring boards, flexible circuit boards, multilayer printed wiring boards, and the like.
In the manufacturing process of a flexible circuit board, a coverlay film is heat-pressed to a flexible circuit board body having a copper circuit formed thereon via a thermosetting adhesive or a thermosetting adhesive sheet. At this time, by disposing a release film between the coverlay film and the heat-press plate, it is possible to prevent the coverlay film and the heat-press plate from adhering to each other, and also to prevent problems such as the adhesive seeping out and interfering with the plating process of the electrode portion.
In recent years, release films made of multiple layers including a release layer and a cushion layer have also been used to ensure performance such as releasability and ability to conform to irregularities (embedding ability) in response to the thinning of L/S (line/space) of flexible circuit boards.

離型フィルムには、熱プレス接着後に容易に剥離する離型性が求められる。離型性の向上のために、例えば、離型フィルム表面の極性を調整することが行われている。また、離型フィルムの結晶化度を調整することも行われている。特許文献1には、ポリエステル系樹脂を含有する表層を有し、表層の表面から厚み1μmまでの領域において、ポリエステル系樹脂に含まれるカルボニル基のうちの面に対して平行に配向したカルボニル基の割合が45%以上である離型フィルムが記載されている。特許文献2には、少なくとも一方の面に、ポリエステル樹脂を含む離型層を有し、離型層の結晶化度が10%以上50%以下である離型フィルムが記載されている。 Release films are required to have releasability that allows easy peeling after heat press bonding. In order to improve releasability, for example, the polarity of the release film surface has been adjusted. The crystallinity of the release film has also been adjusted. Patent Document 1 describes a release film having a surface layer containing a polyester resin, in which the proportion of carbonyl groups oriented parallel to the surface among the carbonyl groups contained in the polyester resin in a region from the surface of the surface layer to a thickness of 1 μm is 45% or more. Patent Document 2 describes a release film having a release layer containing a polyester resin on at least one surface, in which the crystallinity of the release layer is 10% or more and 50% or less.

特開2015-083379号公報JP 2015-083379 A 特開2016-2730号公報JP 2016-2730 A

近年、フレキシブル回路基板の薄膜化に伴い、離型フィルムには離型性の更なる向上が求められている。また、近年、フレキシブル回路基板の製造は、ロールトゥーロール(RtoR)方式等による自動化も進んでいる。RtoR方式では、ロールから繰り出したフレキシブル回路基板本体や離型フィルム等をそれぞれ熱プレス板の間に搬送し、熱プレス接着した後、再びロールに巻き取ることが行われる。このようなRtoR方式においては、熱プレス接着後にフレキシブル回路基板から離型フィルムを剥離する際に、剥離角度が低角度となる傾向にある。そのため、従来の離型フィルムを用いた場合は、剥離の際により大きな力をかけなければならないことがあり、不良の発生等につながるおそれがある。従って、離型フィルムには離型性の更なる向上が求められる。
離型性の向上のためには離型フィルムの表面の結晶質相における分子配向を調整することが考えられるが、特許文献1に記載されているように表層の表面から厚み1μmまでの領域のカルボニル基の配向を調整しただけでは、近年求められているほどの高い離型性を得ることは困難であった。
In recent years, as flexible circuit boards become thinner, further improvement in the releasability of the release film is required. In addition, in recent years, the manufacturing of flexible circuit boards has also been automated by the roll-to-roll (RtoR) method and the like. In the RtoR method, the flexible circuit board body and the release film, etc., unwound from the roll are transported between heat press plates, heat press bonded, and then wound up on the roll again. In such an RtoR method, when the release film is peeled off from the flexible circuit board after heat press bonding, the peel angle tends to be low. Therefore, when a conventional release film is used, a larger force may have to be applied during peeling, which may lead to the occurrence of defects. Therefore, further improvement in the releasability of the release film is required.
In order to improve the releasability, it is conceivable to adjust the molecular orientation in the crystalline phase on the surface of the release film. However, as described in Patent Document 1, it has been difficult to obtain the high releasability that has been required in recent years by simply adjusting the orientation of carbonyl groups in the region from the surface of the surface layer to a thickness of 1 μm.

本発明は、離型性にも凹凸への追従性にも優れ、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することを目的とする。 The present invention aims to provide a release film that has excellent releasability and conformability to uneven surfaces, and can be suitably used in the manufacture of flexible circuit boards using the roll-to-roll method.

本発明は、芳香族ポリエステル樹脂を含有する離型層を少なくとも1つ有する離型フィルムであって、前記離型層は、入射角を0.06°とした斜入射広角X線回折法により得られるプロファイルのうち、(010)に由来する面積をX、(100)に由来する面積をYとしたとき、X/Y>0.7を満たす離型フィルムである。
以下、本発明を詳述する。
The present invention provides a release film having at least one release layer containing an aromatic polyester resin, wherein the release layer satisfies X/Y>0.7, where X is the area derived from (010) and Y is the area derived from (100) in a profile obtained by oblique incidence wide-angle X-ray diffraction with an incidence angle of 0.06°.
The present invention will be described in detail below.

本発明者らは、芳香族ポリエステル樹脂を含有する離型層を少なくとも1つ有する離型フィルムにおいて、離型性の向上のためには、離型層の表面領域のなかでも極めて薄い領域(極表面)におけるカルボニル基の配向が特に重要であることを見出した。本発明者らは、離型層の表面の極めて薄い厚みの領域(極表面)におけるカルボニル基の配向を調整することで、凹凸への追従性を損なうことなく、離型性を劇的に向上できることを見出し、本発明を完成させるに至った。 The present inventors have found that in a release film having at least one release layer containing an aromatic polyester resin, the orientation of carbonyl groups in an extremely thin region (extreme surface) of the surface region of the release layer is particularly important for improving the release properties. The present inventors have found that by adjusting the orientation of carbonyl groups in an extremely thin region (extreme surface) of the surface of the release layer, the release properties can be dramatically improved without impairing the ability to conform to unevenness, and have completed the present invention.

本発明の離型フィルムは、芳香族ポリエステル樹脂を含有する離型層を少なくとも1つ有する。
上記離型層は、入射角を0.06°とした斜入射広角X線回折法(In-Plane法)により得られるプロファイルのうち、(010)に由来する面積をX、(100)に由来する面積をYとしたとき、X/Y>0.7を満たす。
斜入射広角X線回折法において入射角を0.06°とすることにより、上記離型層全体又は上記離型層の比較的厚みのある表面領域のプロファイルではなく、上記離型層の極表面のみのプロファイルを得ることができる。極表面とは、表面の極めて薄い領域をいい、より具体的には、表面から厚み約4nm程度までの領域をいう。
The release film of the present invention has at least one release layer containing an aromatic polyester resin.
The release layer satisfies X/Y>0.7, where X is the area derived from (010) and Y is the area derived from (100) in a profile obtained by oblique incidence wide-angle X-ray diffraction method (in-plane method) with an incidence angle of 0.06°.
By setting the incidence angle to 0.06° in the oblique incidence wide-angle X-ray diffraction method, it is possible to obtain a profile of only the extreme surface of the release layer, rather than a profile of the entire release layer or a relatively thick surface region of the release layer. The extreme surface refers to an extremely thin region of the surface, more specifically, a region from the surface to a thickness of about 4 nm.

上記(010)に由来する面積Xは、上記離型層の面内へもぐりこむように(面に対して平行に)配向したカルボニル基の量を示し、上記(100)に由来する面積Yは、上記離型層の表面に向くように(面に対して垂直に)配向したカルボニル基の量を示す。従って、X/Yの値は、上記離型層の表面に向くように(面に対して垂直に)配向したカルボニル基の量に対する、上記離型層の面内へもぐりこむように(面に対して平行に)配向したカルボニル基の量の相対割合を示す。なお、カルボニル基は、主に上記離型層に含まれる芳香族ポリエステル樹脂に由来するものである。
上記離型層の極表面におけるX/Yの値が0.7より大きいことにより、上記離型層の面内へもぐりこむように(面に対して平行に)配向したカルボニル基の割合が増し、上記離型層の極表面の極性が低下する。このため、熱プレス接着時にカバーレイフィルムに形成された接着剤(エポキシ接着剤)が上記離型層に浸透することを充分に抑制でき、接着剤(エポキシ接着剤)と離型フィルムとの静電相互作用を抑制できるため、離型フィルムの離型性が大きく向上する。なお、上記離型層の少なくとも一方の表面がこのような極表面におけるX/Yの値を有していればよい。一方、上記離型層がこのような極表面におけるX/Yの値を有していても、離型フィルムのフィルム全体としての柔軟性は維持され、凹凸への追従性が低下することがない。上記離型層の極表面におけるX/Yの値は1.0より大きいことが好ましく、2.0より大きいことがより好ましい。
The area X derived from the (010) indicates the amount of carbonyl groups oriented (parallel to the surface) so as to penetrate into the surface of the release layer, and the area Y derived from the (100) indicates the amount of carbonyl groups oriented (perpendicular to the surface) so as to face the surface of the release layer.Therefore, the value of X/Y indicates the relative ratio of the amount of carbonyl groups oriented (parallel to the surface) so as to penetrate into the surface of the release layer to the amount of carbonyl groups oriented (perpendicular to the surface) so as to face the surface of the release layer.The carbonyl groups are mainly derived from the aromatic polyester resin contained in the release layer.
When the value of X/Y at the extreme surface of the release layer is greater than 0.7, the proportion of carbonyl groups oriented (parallel to the surface) so as to penetrate into the surface of the release layer increases, and the polarity of the extreme surface of the release layer decreases. Therefore, the adhesive (epoxy adhesive) formed on the coverlay film during hot press bonding can be sufficiently suppressed from penetrating into the release layer, and the electrostatic interaction between the adhesive (epoxy adhesive) and the release film can be suppressed, so that the releasability of the release film is greatly improved. It is sufficient that at least one surface of the release layer has such a value of X/Y at the extreme surface. On the other hand, even if the release layer has such a value of X/Y at the extreme surface, the flexibility of the release film as a whole is maintained, and the ability to follow unevenness is not reduced. The value of X/Y at the extreme surface of the release layer is preferably greater than 1.0, more preferably greater than 2.0.

上記離型層の極表面におけるX/Yの値の上限は特に限定されないが、好ましい上限は10.0である。上記離型層の極表面におけるX/Yの値が10.0以下であれば、離型層成分に起因する、フレキシブル回路基板の汚染を防ぐことができる。上記離型層の極表面におけるX/Yの値のより好ましい上限は8.0である。 The upper limit of the value of X/Y at the extreme surface of the release layer is not particularly limited, but a preferred upper limit is 10.0. If the value of X/Y at the extreme surface of the release layer is 10.0 or less, contamination of the flexible circuit board caused by the components of the release layer can be prevented. A more preferred upper limit of the value of X/Y at the extreme surface of the release layer is 8.0.

上記離型層の極表面におけるX/Yの値は、次のようにして求めることができる。即ち、X線の入射角を0.06°とし斜入射広角X線回折法により上記離型層の表面を分析して得られた回折測定プロットにベースラインを引き、結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれフィッティングを行う。更に、フィッティングを行うことにより結晶質相における(010)に由来する面積X及び(100)に由来する面積Yをそれぞれ求め、得られたX及びYからX/Yの値を求めることができる。 The value of X/Y at the extreme surface of the release layer can be determined as follows. That is, the surface of the release layer is analyzed by oblique incidence wide-angle X-ray diffraction with an X-ray incidence angle of 0.06°, a baseline is drawn on the diffraction measurement plot obtained, and fitting is performed for the crystalline phase and the amorphous phase, respectively. Furthermore, by performing fitting, the area X originating from (010) and the area Y originating from (100) in the crystalline phase are determined, and the value of X/Y can be determined from the obtained X and Y.

上記離型層の極表面におけるX/Yの値を求めるためのX線回折装置としては、例えば、下記の条件に設定したリガク社製の表面構造評価用多機能X線回折装置(ATX-G型)を用いることができる。
X線源 CuKα線
管電圧-管電流 50kV-300mA
入射光学系 集中法
入射角(ω) 0.06°
測定範囲 5-70°
測定間隔 0.02°
走査速度 1.0°/min
走査方法 In-Plane法
As an X-ray diffraction apparatus for determining the value of X/Y at the outermost surface of the release layer, for example, a multi-function X-ray diffraction apparatus for surface structure evaluation (ATX-G type) manufactured by Rigaku Corporation set under the following conditions can be used.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 50kV-300mA
Incidence optical system Concentration method incidence angle (ω) 0.06°
Measurement range: 5-70°
Measurement interval: 0.02°
Scanning speed: 1.0°/min
Scanning method: In-Plane method

上記離型層の極表面におけるX/Yの値を上記範囲に調整する方法は特に限定されないが、上記離型層の表面処理前の算術平均粗さRaを小さく、かつ/又は、上記離型層の表面処理前の光沢度を大きく調整したうえで、上記離型層の表面に対して表面処理を行う方法が好ましい。上記離型層の表面処理前の算術平均粗さRaを小さく、かつ/又は、上記離型層の表面処理前の光沢度を大きく調整することで、上記離型層の表面に対して表面処理を行った際に、カルボニル基が面内にもぐりこむ効果が大きく向上し、上記離型層の極表面におけるX/Yの値を上記範囲に調整することができる。 The method for adjusting the value of X/Y at the extreme surface of the release layer to the above range is not particularly limited, but a method is preferable in which the arithmetic mean roughness Ra of the release layer before the surface treatment is adjusted to be small and/or the glossiness of the release layer before the surface treatment is adjusted to be large, and then the surface of the release layer is subjected to surface treatment. By adjusting the arithmetic mean roughness Ra of the release layer before the surface treatment to be small and/or the glossiness of the release layer before the surface treatment to be large, the effect of carbonyl groups penetrating into the surface is greatly improved when the surface treatment is performed on the surface of the release layer, and the value of X/Y at the extreme surface of the release layer can be adjusted to the above range.

上記離型層の表面処理前の算術平均粗さRaを小さく、かつ/又は、上記離型層の表面処理前の光沢度を大きく調整する方法は特に限定されないが、上記離型層を構成する樹脂を溶融押出して、溶融樹脂を冷却する際に、例えば次のような方法を採用することが好ましい。即ち、より平滑な表面を有する冷却ロールを用いて、そのロール表面形状をフィルムに転写させる方法や、冷却の際に、溶融樹脂にかかる伸長応力が大きくなるように調整する方法等が好ましい。 The method for reducing the arithmetic mean roughness Ra of the release layer before surface treatment and/or increasing the gloss of the release layer before surface treatment is not particularly limited, but when melt-extruding the resin constituting the release layer and cooling the molten resin, it is preferable to adopt, for example, the following method. That is, a method of using a cooling roll with a smoother surface to transfer the shape of the roll surface to the film, or a method of adjusting the elongation stress applied to the molten resin during cooling to be large, etc. are preferable.

なお、表面処理前の表面処理前の算術平均粗さRaや光沢度を調整することで、表面処理によってカルボニル基が面内にもぐりこむ効果が向上する理由は定かではないが、次のように推定できる。算術平均粗さRaが比較的大きい場合は、表面処理による極表面への影響がばらついてしまう可能性があるが、算術平均粗さRaが比較的小さい場合は、表面処理による極表面への影響が均等になり、極表面のカルボニル基が面内にもぐりこむ確率や量が向上すると考えらえる。また、光沢度は、対象の表面粗さや内部の結晶粒の大きさに影響を受けるため、光沢度が大きいということは、表面粗さが小さく、結晶粒が小さい(一定のサイズ以下である)ことを意味する。表面処理前の結晶粒が比較的大きい場合は、複数の結晶粒が互いに立体的な障害となり、表面処理による極表面の配向が妨げられてしまう。一方、表面処理前の結晶粒が比較的小さい場合は、上述のような立体的な障害を受けることなく、表面処理による極表面の配向が促進されるため、結果として極表面のカルボニル基が面内にもぐりこむ効果が向上すると考えられる。また、結晶粒の大きさは、溶融押出時の冷却や伸長応力の影響を受けていると考えることができる。なお、極表面の結晶粒径は、斜入射広角X線回折の測定結果から、シェラーの式を用いて算出することができる。 The reason why the effect of the carbonyl group infiltrating into the surface by adjusting the arithmetic mean roughness Ra and glossiness before the surface treatment is improved by the surface treatment is not clear, but it can be assumed as follows. When the arithmetic mean roughness Ra is relatively large, the effect of the surface treatment on the extreme surface may vary, but when the arithmetic mean roughness Ra is relatively small, the effect of the surface treatment on the extreme surface becomes uniform, and it is considered that the probability and amount of the carbonyl group on the extreme surface infiltrating into the surface is improved. In addition, since the glossiness is affected by the surface roughness of the target and the size of the crystal grains inside, a high glossiness means that the surface roughness is small and the crystal grains are small (below a certain size). When the crystal grains before the surface treatment are relatively large, multiple crystal grains become three-dimensional obstacles to each other, preventing the orientation of the extreme surface by the surface treatment. On the other hand, if the crystal grains before surface treatment are relatively small, the orientation of the extreme surface is promoted by the surface treatment without the above-mentioned three-dimensional hindrance, and as a result, it is thought that the effect of the carbonyl groups on the extreme surface penetrating into the plane is improved. It is also thought that the size of the crystal grains is affected by the cooling and elongation stress during melt extrusion. The crystal grain size of the extreme surface can be calculated using the Scherrer formula from the results of measurement of oblique incidence wide-angle X-ray diffraction.

上記離型層の表面の算術平均粗さRaは特に限定されないが、好ましい下限は0.01μm、好ましい上限は0.50μmであり、より好ましい下限は0.02μm、より好ましい上限は0.40μmである。上記離型層の表面の算術平均粗さRaが上記範囲であることにより、離型フィルムの離型性が向上しやすくなる。
上記離型層の表面の算術平均粗さRaは、JIS B 0601:2013に準拠した算術平均粗さRaであり、例えば、Mitutoyo社製のサーフテストSJ-301を用いて測定することができる。
なお、上記離型層の表面の算術平均粗さRaは、離型フィルムの製造過程において製膜後に表面処理を行った場合であっても、通常は製膜後の表面処理による変化の影響は比較的少なく、表面処理の前後で値が著しく変化するものではない。
上記離型層の表面の算術平均粗さRaは、主に製膜時の条件に影響される。ただし、加熱プレス(プレスアニール)等の処理を加えた場合は、表面の凹凸がつぶれるため、一般に算術平均粗さRaの値は小さくなる。
The arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is not particularly limited, but the preferred lower limit is 0.01 μm, the preferred upper limit is 0.50 μm, the more preferred lower limit is 0.02 μm, and the more preferred upper limit is 0.40 μm. When the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is in the above range, the releasability of the release film is easily improved.
The arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is an arithmetic mean roughness Ra in accordance with JIS B 0601:2013, and can be measured, for example, using a Surftest SJ-301 manufactured by Mitutoyo Corporation.
In addition, even if a surface treatment is performed after film formation during the production process of the release film, the arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is usually relatively little affected by the surface treatment after film formation, and the value does not change significantly before and after the surface treatment.
The arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer is mainly affected by the conditions during film formation. However, when a process such as hot pressing (press annealing) is performed, the surface irregularities are flattened, and the value of the arithmetic mean roughness Ra generally becomes smaller.

上記離型層の表面の光沢度は特に限定されないが、好ましい下限は100%、好ましい上限は200%であり、より好ましい下限は120%、より好ましい上限は180%である。上記離型層の表面の光沢度が上記範囲であることにより、上記離型層の極表面におけるX/Yの値を上記範囲に調整しやすくなり、離型フィルムの離型性が向上しやすくなる。
上記離型層の表面の光沢度は、JIS Z8741に準拠し、入射角を60°として測定した光沢度であり、例えば、日本電色工業社製の光沢度計VG-1Dを用いて測定することができる。
なお、上記離型層の表面の光沢度は、離型フィルムの製造過程において製膜後に表面処理を行った場合であっても、通常は製膜後の表面処理による変化の影響は比較的少なく、表面処理の前後で値が著しく変化するものではない。
上記離型層の表面の光沢度は、主に製膜時の条件に影響される。
The surface gloss of the release layer is not particularly limited, but the lower limit is preferably 100%, the upper limit is preferably 200%, the lower limit is more preferably 120%, and the upper limit is more preferably 180%. When the surface gloss of the release layer is in the above range, it becomes easy to adjust the value of X/Y at the extreme surface of the release layer to the above range, and the releasability of the release film is easily improved.
The surface gloss of the release layer is measured in accordance with JIS Z8741 at an incident angle of 60°, and can be measured, for example, by using a gloss meter VG-1D manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.
In addition, even if a surface treatment is performed after film formation during the production process of the release film, the surface gloss of the above-mentioned release layer is usually relatively little affected by the surface treatment after film formation, and the value does not change significantly before and after the surface treatment.
The surface gloss of the release layer is mainly influenced by the conditions during film formation.

上記表面処理は特に限定されず、例えば、摩擦処理、熱処理、一軸延伸又は二軸延伸処理等が挙げられる。これらの表面処理は単独で用いられてもよいし、2種以上が併用されてもよい。
上記摩擦処理の方法は特に限定されないが、摩擦処理装置(例えば、山縣機械社製の研磨処理装置、型式YCM-150M)を用い、摩擦処理材の表面の素材として織物を用いて摩擦処理を行う方法が好ましい。
上記熱処理の方法は特に限定されないが、一定の温度に加熱したロールの間にフィルムを通す方法、ヒーターによりフィルムを加熱する方法等が好ましい。
上記一軸又は二軸延伸処理の方法は特に限定されないが、製膜後のフィルムを一定の温度下にて、延伸する方法等が好ましい。
The surface treatment is not particularly limited, and examples thereof include friction treatment, heat treatment, uniaxial stretching or biaxial stretching, etc. These surface treatments may be used alone or in combination of two or more kinds.
The method of the friction treatment is not particularly limited, but a method of performing the friction treatment using a friction treatment device (for example, a polishing treatment device manufactured by Yamagata Kikai Co., Ltd., model YCM-150M) and using a woven fabric as the surface material of the friction treatment material is preferred.
The method of the heat treatment is not particularly limited, but a method in which the film is passed between rolls heated to a certain temperature, a method in which the film is heated by a heater, and the like are preferable.
The method for the uniaxial or biaxial stretching treatment is not particularly limited, but a method in which the formed film is stretched at a constant temperature is preferred.

上記離型層全体の結晶化度は特に限定されないが、好ましい下限は25%、好ましい上限は50%である。
上記離型層が上述したような極表面におけるX/Yの値を有しつつ、上記離型層全体として上記範囲の適度な結晶化度を有することにより、離型フィルムは、離型性にも凹凸への追従性にも更に優れたものとなる。上記離型層全体の結晶化度が25%以上であれば、離型フィルムの耐熱性が向上する。上記離型層全体の結晶化度が50%以下であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層全体の結晶化度のより好ましい下限は30%、更に好ましい下限は35%である。上記離型層全体の結晶化度のより好ましい上限は45%、更に好ましい上限は40%、特に好ましい上限は35%である。
The degree of crystallinity of the entire release layer is not particularly limited, but the preferred lower limit is 25% and the preferred upper limit is 50%.
The release layer has the above-mentioned X/Y value at the extreme surface, and the release layer as a whole has a moderate degree of crystallinity in the above range, so that the release film has better releasability and conformability to unevenness. If the crystallinity of the entire release layer is 25% or more, the heat resistance of the release film is improved. If the crystallinity of the entire release layer is 50% or less, the conformability of the release film to unevenness is improved. The more preferable lower limit of the crystallinity of the entire release layer is 30%, and the even more preferable lower limit is 35%. The more preferable upper limit of the crystallinity of the entire release layer is 45%, the even more preferable upper limit is 40%, and the particularly preferable upper limit is 35%.

上記離型層全体の結晶化度は、広角X線回折法により上記離型層全体を分析して得られた回折測定プロットにベースラインを引き、結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれフィッティングを行い、得られた結晶質相のピーク総面積及び非晶質相のピーク総面積から下記式(1)により求めることができる。なお、離型フィルムが多層からなる場合には、離型フィルムの各層を剥がし、上記離型層のみからなるサンプルに対して分析を行うことで、上記離型層全体の結晶化度を評価することができる。
結晶化度(%)=結晶質相のピーク総面積/(結晶質相のピーク総面積+非晶質相のピーク総面積)×100 (1)
The crystallinity of the entire release layer can be calculated by plotting a baseline on a diffraction measurement plot obtained by analyzing the entire release layer by wide-angle X-ray diffraction, fitting the crystalline phase and the amorphous phase, and calculating the crystallinity of the entire release layer from the total peak area of the crystalline phase and the total peak area of the amorphous phase according to the following formula (1). When the release film is made of multiple layers, each layer of the release film is peeled off, and a sample consisting of only the release layer is analyzed, thereby evaluating the crystallinity of the entire release layer.
Crystallinity (%) = total peak area of crystalline phase / (total peak area of crystalline phase + total peak area of amorphous phase) × 100 (1)

上記離型層全体の結晶化度を求めるためのX線回折装置としては、例えば、下記の条件に設定したリガク社製の薄膜評価用試料水平型X線回折装置(Smart Lab)を用いることができる。
X線源 CuKα線
管電圧-管電流 45kV-200mA
入射光学系 集中法
測定範囲 5-80°
測定間隔 0.02°
走査速度 5.0°/min
走査方法 Out-of-Plane法
As an X-ray diffraction apparatus for determining the crystallinity of the entire release layer, for example, a horizontal sample X-ray diffraction apparatus for thin film evaluation (Smart Lab) manufactured by Rigaku Corporation set under the following conditions can be used.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 45kV-200mA
Incident optical system: Concentration method Measurement range: 5-80°
Measurement interval: 0.02°
Scanning speed: 5.0°/min
Scanning method Out-of-plane method

上記離型層全体の結晶化度を上記範囲に調整する方法は特に限定されないが、上記離型層を構成する樹脂を溶融押出して、溶融樹脂を冷却する際に、例えば次のような方法を採用することが好ましい。即ち、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間を調整する方法、冷却ロール温度を調整する方法等が好ましい。 The method for adjusting the degree of crystallinity of the entire release layer to the above range is not particularly limited, but when melt-extruding the resin constituting the release layer and cooling the molten resin, it is preferable to adopt, for example, the following method. That is, a method of adjusting the contact time between the molten resin and the cooling roll, a method of adjusting the cooling roll temperature, etc. are preferable.

上記離型層は、芳香族ポリエステル樹脂を含有する。
上記離型層が上記芳香族ポリエステル樹脂を含有することにより、本発明の離型フィルムは、離型性にも凹凸への追従性にも優れ、カバーレイフィルムに形成された接着剤の染み出し防止性にも優れる。
The release layer contains an aromatic polyester resin.
Since the release layer contains the aromatic polyester resin, the release film of the present invention has excellent releasability and conformability to irregularities, and also has excellent resistance to bleeding of the adhesive formed on the coverlay film.

上記芳香族ポリエステル樹脂は特に限定されないが、結晶性芳香族ポリエステル樹脂が好ましい。具体的には例えば、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリヘキサメチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリブチレンナフタレート樹脂、テレフタル酸ブタンジオールポリテトラメチレングリコール共重合体等が挙げられる。これらの芳香族ポリエステル樹脂は単独で用いられてもよいし、2種以上が併用されてもよい。なかでも、耐熱性、離型性、凹凸への追従性等のバランスの観点から、ポリブチレンテレフタレート樹脂が好ましい。
また、ポリブチレンテレフタレート樹脂に、ポリブチレンテレフタレートと脂肪族ポリエーテルとのブロック共重合体を混合した混合樹脂も好ましい。上記脂肪族ポリエーテルは特に限定されず、例えば、ポリエチレングリコール、ポリジエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレングリコール等が挙げられる。
The aromatic polyester resin is not particularly limited, but crystalline aromatic polyester resin is preferred.Specific examples include polyethylene terephthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polyhexamethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, polybutylene naphthalate resin, terephthalic acid butanediol polytetramethylene glycol copolymer, etc.These aromatic polyester resins may be used alone or in combination of two or more.Among them, polybutylene terephthalate resin is preferred from the viewpoint of balance of heat resistance, releasability, conformability to unevenness, etc.
Also preferred is a mixed resin obtained by mixing a block copolymer of polybutylene terephthalate and an aliphatic polyether with a polybutylene terephthalate resin. The aliphatic polyether is not particularly limited, and examples thereof include polyethylene glycol, polydiethylene glycol, polypropylene glycol, and polytetramethylene glycol.

上記芳香族ポリエステル樹脂は、フィルム製膜性の観点から、メルトボリュームフローレートが30cm/10min以下であることが好ましく、20cm/10min以下であることがより好ましい。なお、メルトボリュームフローレートは、ISO1133に従って、測定温度250℃、荷重2.16kgで測定することができる。 From the viewpoint of film formability, the aromatic polyester resin preferably has a melt volume flow rate of 30 cm 3 /10 min or less, more preferably 20 cm 3 /10 min or less. The melt volume flow rate can be measured in accordance with ISO 1133 at a measurement temperature of 250° C. and a load of 2.16 kg.

上記芳香族ポリエステル樹脂のうち、市販されているものとして、例えば、「ペルプレン(登録商標)」(東洋紡社製)、「ハイトレル(登録商標)」(東レ・デュポン社製)、「ジュラネックス(登録商標)」(ポリプラスチックス社製)、「ノバデュラン(登録商標)」(三菱エンジニアリングプラスチックス社製)等が挙げられる。 Commercially available examples of the aromatic polyester resins include "Pelprene (registered trademark)" (manufactured by Toyobo Co., Ltd.), "Hytrel (registered trademark)" (manufactured by DuPont-Toray Co., Ltd.), "Duranex (registered trademark)" (manufactured by Polyplastics Co., Ltd.), and "NovaDuran (registered trademark)" (manufactured by Mitsubishi Engineering Plastics Corporation).

上記離型層は、更に他の樹脂を含有してもよい。上記他の樹脂は特に限定されず、例えば、ポリオレフィン、ポリスチレン等が挙げられる。上記ポリオレフィンは、ポリ(4-メチル-1-ペンテン)又は脂環式オレフィン系樹脂を含有することが好ましい。上記ポリスチレンは、シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂を含有することが好ましい。 The release layer may further contain other resins. The other resins are not particularly limited, and examples thereof include polyolefins and polystyrenes. The polyolefins preferably contain poly(4-methyl-1-pentene) or alicyclic olefin-based resins. The polystyrenes preferably contain polystyrene-based resins having a syndiotactic structure.

上記ポリ(4-メチル-1-ペンテン)を含有するポリオレフィンには、ポリ(4-メチル-1-ペンテン)樹脂が90重量%以上含有されていることが好ましい。
上記ポリ(4-メチル-1-ペンテン)樹脂は、例えば、三井化学社製の商品名TPX(登録商標)等の市販品を用いることができる。
The poly(4-methyl-1-pentene)-containing polyolefin preferably contains 90% by weight or more of poly(4-methyl-1-pentene) resin.
As the poly(4-methyl-1-pentene) resin, for example, a commercially available product such as TPX (registered trademark) manufactured by Mitsui Chemicals, Inc. can be used.

上記脂環式オレフィン系樹脂とは、主鎖又は側鎖に環状脂肪族炭化水素を有するオレフィン系樹脂であり、耐熱性、強度等の点から、熱可塑性飽和ノルボルネン系樹脂が好ましい。
上記熱可塑性飽和ノルボルネン系樹脂として、例えば、ノルボルネン系モノマーの開環重合体又は開環共重合体を、(必要に応じてマレイン酸付加やシクロペンタジエン付加のような変性を行った後に)水素添加した樹脂が挙げられる。また、ノルボルネン系モノマーを付加重合させた樹脂、ノルボルネン系モノマーとエチレン又はα-オレフィン等のオレフィン系モノマーとを付加重合させた樹脂、ノルボルネン系モノマーとシクロペンテン、シクロオクテン、5,6-ジヒドロジシクロペンタジエン等の環状オレフィン系モノマーとを付加重合させた樹脂が挙げられる。更に、これらの樹脂の変性物等も挙げられる。
The alicyclic olefin resin is an olefin resin having a cyclic aliphatic hydrocarbon in the main chain or side chain, and from the standpoint of heat resistance, strength, etc., thermoplastic saturated norbornene resin is preferred.
Examples of the thermoplastic saturated norbornene resin include resins obtained by hydrogenating a ring-opening polymer or a ring-opening copolymer of a norbornene monomer (after performing modification such as addition of maleic acid or addition of cyclopentadiene as necessary). Other examples include resins obtained by addition polymerization of a norbornene monomer, resins obtained by addition polymerization of a norbornene monomer and an olefin monomer such as ethylene or an α-olefin, and resins obtained by addition polymerization of a norbornene monomer and a cyclic olefin monomer such as cyclopentene, cyclooctene, or 5,6-dihydrodicyclopentadiene. Modified products of these resins are also included.

上記シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂を含有するポリスチレンには、シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂が70重量%以上、90重量%以下含有されていることが好ましい。
なお、シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂とは、シンジオタクチック構造、即ち、炭素-炭素シグマ結合から形成される主鎖に対して側鎖であるフェニル基や置換フェニル基が交互に反対方向に位置する立体規則構造を有する樹脂である。
The polystyrene containing the polystyrene resin having a syndiotactic structure preferably contains 70% by weight or more and 90% by weight or less of the polystyrene resin having a syndiotactic structure.
The polystyrene resin having a syndiotactic structure is a resin having a stereoregular structure in which phenyl groups and substituted phenyl groups, which are side chains, are alternately positioned in opposite directions relative to the main chain formed from carbon-carbon sigma bonds.

上記シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂は、特に限定されない。例えば、ラセミダイアッドで75%以上、又は、ラセミペンタッドで30%以上のシンジオタクティシティーを有するポリスチレン、ポリ(アルキルスチレン)、ポリ(アリールスチレン)、ポリ(ハロゲン化スチレン)、ポリ(ハロゲン化アルキルスチレン)、ポリ(アルコキシスチレン)、ポリ(ビニル安息香酸エステル)等が挙げられる。また、これらの水素化重合体及びこれらの混合物、これらを主成分とする共重合体等が挙げられる。上記シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂は、例えば、出光興産社製の商品名ザレック(登録商標)(XAREC(登録商標))等の市販を用いることができる。 The polystyrene resin having the syndiotactic structure is not particularly limited. For example, polystyrene having a syndiotacticity of 75% or more in racemic diads or 30% or more in racemic pentads, poly(alkylstyrene), poly(arylstyrene), poly(halogenated styrene), poly(halogenated alkylstyrene), poly(alkoxystyrene), poly(vinyl benzoate ester), etc. may be mentioned. In addition, hydrogenated polymers of these, mixtures of these, copolymers containing these as main components, etc. may be mentioned. As the polystyrene resin having the syndiotactic structure, for example, commercially available products such as XAREC (registered trademark) manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd. may be used.

上記離型層は、ゴム成分を含有してもよい。上記離型層がゴム成分を含有することにより、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。
上記ゴム成分は特に限定されず、例えば、天然ゴム、スチレン-ブタジエン共重合体、ポリブタジエン、ポリイソプレン、アクリルニトリル-ブタジエン共重合体、エチレン-プロピレン共重合体(EPM、EPDM)、ポリクロロプレン、ブチルゴム、アクリルゴム、シリコンゴム、ウレタンゴム等が挙げられる。また、上記ゴム成分として、例えば、オレフィン系熱可塑性エラストマー、スチレン系熱可塑性エラストマー、塩ビ系熱可塑性エラストマー、エステル系熱可塑性エラストマー、アミド系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。
The release layer may contain a rubber component. When the release layer contains a rubber component, the ability to conform to the irregularities of the release film is improved.
The rubber component is not particularly limited, and examples thereof include natural rubber, styrene-butadiene copolymer, polybutadiene, polyisoprene, acrylonitrile-butadiene copolymer, ethylene-propylene copolymer (EPM, EPDM), polychloroprene, butyl rubber, acrylic rubber, silicone rubber, urethane rubber, etc. Examples of the rubber component include olefin-based thermoplastic elastomers, styrene-based thermoplastic elastomers, vinyl chloride-based thermoplastic elastomers, ester-based thermoplastic elastomers, amide-based thermoplastic elastomers, etc.

上記離型層は、安定剤を含有してもよい。
上記安定剤は特に限定されず、例えば、ヒンダードフェノール系酸化防止剤、熱安定剤等が挙げられる。
上記ヒンダードフェノール系酸化防止剤は特に限定されず、例えば、1,3,5-トリメチル-2,4,6-トリス(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシベンジル)ベンゼン、3,9-ビス{2-〔3-(3-t-ブチル-4-ヒドロキシ-5-メチルフェニル)-プロピオニロキシ〕-1,1-ジメチルエチル}-2,4,8,10-テトラオキサスピロ〔5,5〕ウンデカン等が挙げられる。上記熱安定剤は特に限定されず、例えば、トリス(2,4-ジ-t-ブチルフェニル)ホスファイト、トリラウリルホスファイト、2-t-ブチル-α-(3-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)-p-クメニルビス(p-ノニルフェニル)ホスファイト、ジミリスチル3,3’-チオジプロピオネート、ジステアリル3,3’-チオジプロピオネート、ペンタエリスチリルテトラキス(3-ラウリルチオプロピオネート)、ジトリデシル3,3’-チオジプロピオネート等が挙げられる。
The release layer may contain a stabilizer.
The stabilizer is not particularly limited, and examples thereof include hindered phenol-based antioxidants and heat stabilizers.
The hindered phenol-based antioxidant is not particularly limited, and examples thereof include 1,3,5-trimethyl-2,4,6-tris(3,5-di-t-butyl-4-hydroxybenzyl)benzene, 3,9-bis{2-[3-(3-t-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl)-propionyloxy]-1,1-dimethylethyl}-2,4,8,10-tetraoxaspiro[5,5]undecane, and the like. The heat stabilizer is not particularly limited, and examples thereof include tris(2,4-di-t-butylphenyl)phosphite, trilauryl phosphite, 2-t-butyl-α-(3-t-butyl-4-hydroxyphenyl)-p-cumenylbis(p-nonylphenyl)phosphite, dimyristyl 3,3'-thiodipropionate, distearyl 3,3'-thiodipropionate, pentaerythryl tetrakis(3-laurylthiopropionate), ditridecyl 3,3'-thiodipropionate, and the like.

上記離型層は、更に、繊維、無機充填剤、難燃剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、無機物、高級脂肪酸塩等の従来公知の添加剤を含有してもよい。 The release layer may further contain conventional additives such as fibers, inorganic fillers, flame retardants, ultraviolet absorbers, antistatic agents, inorganic substances, and salts of higher fatty acids.

上記離型層の厚みは特に限定されないが、好ましい下限は10μm、好ましい上限は40μmである。上記離型層の厚みが10μm以上であれば、離型フィルムの耐熱性が向上する。上記離型層の厚みが40μm以下であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層の厚みのより好ましい下限は15μm、より好ましい上限は30μmである。 The thickness of the release layer is not particularly limited, but a preferred lower limit is 10 μm and a preferred upper limit is 40 μm. If the thickness of the release layer is 10 μm or more, the heat resistance of the release film is improved. If the thickness of the release layer is 40 μm or less, the ability of the release film to conform to unevenness is improved. A more preferred lower limit of the thickness of the release layer is 15 μm and a more preferred upper limit is 30 μm.

本発明の離型フィルムは、更にクッション層を有することが好ましい。上記クッション層を有することにより、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。
上記クッション層を有する場合、本発明の離型フィルムは、少なくとも1つの離型層とクッション層とを有してればよく、2層構造であってもよいし、3層以上の構造であってもよい。なかでも、クッション層の両側に離型層を有する構造を有することが好ましい。この場合、両側の離型層が上述したような極表面におけるX/Yの値を有していてもよいし、片側の離型層のみが上述したような極表面におけるX/Yの値を有していてもよい。また、両側の離型層は同じ樹脂組成であってもよいし、異なる樹脂組成であってもよい。また、両側の離型層は同じ厚みであってもよいし、異なる厚みであってもよい。
また、本発明の離型フィルムは、離型層とクッション層とが直接接して積層一体化している構造であってもよいし、離型層とクッション層とが接着層を介して積層一体化している構造であってもよい。
The release film of the present invention preferably further comprises a cushion layer, which improves the ability of the release film to conform to unevenness.
When the release film of the present invention has the cushion layer, it is sufficient that the release film has at least one release layer and a cushion layer, and may have a two-layer structure or a three-layer structure or more. In particular, it is preferable that the release film has a structure in which the release layer is provided on both sides of the cushion layer. In this case, the release layers on both sides may have the above-mentioned X/Y value at the extreme surface, or only the release layer on one side may have the above-mentioned X/Y value at the extreme surface. In addition, the release layers on both sides may have the same resin composition or different resin compositions. In addition, the release layers on both sides may have the same thickness or different thicknesses.
In addition, the release film of the present invention may have a structure in which the release layer and the cushion layer are in direct contact with each other and laminated together, or may have a structure in which the release layer and the cushion layer are laminated together via an adhesive layer.

上記クッション層を構成する樹脂は特に限定されないが、ポリオレフィン樹脂が好ましい。
上記ポリオレフィン樹脂は特に限定されず、例えば、ポリエチレン樹脂(例えば、高密度ポリエチレン、低密度ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン)、ポリプロピレン樹脂、エチレン-酢酸ビニル共重合体等が挙げられる。また、エチレン-メチルメタクリレート共重合体、エチレン-エチルアクリレート共重合体、エチレン-アクリル酸共重合体等のエチレン-アクリル系モノマー共重合体等も挙げられる。これらのポリオレフィン樹脂は単独で用いられてもよいし、2種以上が併用されてもよい。なかでも、凹凸への追従性と耐熱性とを両立させやすいことから、ポリプロピレン樹脂、ポリエチレン樹脂が好ましく、ポリプロピレン樹脂とポリエチレン樹脂とを併用することがより好ましい。
The resin constituting the cushion layer is not particularly limited, but a polyolefin resin is preferred.
The polyolefin resin is not particularly limited, and examples thereof include polyethylene resins (e.g., high-density polyethylene, low-density polyethylene, linear low-density polyethylene), polypropylene resins, ethylene-vinyl acetate copolymers, and the like. Other examples include ethylene-acrylic monomer copolymers such as ethylene-methyl methacrylate copolymers, ethylene-ethyl acrylate copolymers, and ethylene-acrylic acid copolymers. These polyolefin resins may be used alone, or two or more types may be used in combination. Among these, polypropylene resins and polyethylene resins are preferred because they easily achieve both conformability to irregularities and heat resistance, and it is more preferred to use polypropylene resin and polyethylene resin in combination.

また、上記クッション層は、上記離型層を構成する樹脂を含有することが好ましい。
上記クッション層が上記離型層を構成する樹脂を含有することにより、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記クッション層は、上記離型層の主成分樹脂を含有することがより好ましく、上記離型層の主成分樹脂及びポリオレフィン樹脂を含有することが更に好ましい。ここで、上記離型層の主成分樹脂とは、上記離型層に含まれる樹脂の中で含有量が最も多い樹脂のことを意味する。
The cushion layer preferably contains the resin that constitutes the release layer.
The cushion layer contains the resin constituting the release layer, so that the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. The cushion layer more preferably contains the main component resin of the release layer, and further preferably contains the main component resin of the release layer and a polyolefin resin. Here, the main component resin of the release layer means the resin with the highest content among the resins contained in the release layer.

上記クッション層における上記離型層を構成する樹脂の含有量は特に限定されないが、好ましい下限が10重量%、好ましい上限が50重量%である。上記離型層を構成する樹脂の含有量が10重量%以上であれば、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記離型層を構成する樹脂の含有量が50重量%以下であれば、上記クッション層の柔軟性が充分となり、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記離型層を構成する樹脂の含有量のより好ましい下限は20重量%、更に好ましい下限は25重量%である。上記離型層を構成する樹脂の含有量のより好ましい上限は40重量%、更に好ましい上限は35重量%である。 The content of the resin constituting the release layer in the cushion layer is not particularly limited, but the preferred lower limit is 10% by weight, and the preferred upper limit is 50% by weight. If the content of the resin constituting the release layer is 10% by weight or more, the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. If the content of the resin constituting the release layer is 50% by weight or less, the flexibility of the cushion layer is sufficient, and the ability to follow the unevenness of the release film is improved. A more preferred lower limit of the content of the resin constituting the release layer is 20% by weight, and an even more preferred lower limit is 25% by weight. A more preferred upper limit of the content of the resin constituting the release layer is 40% by weight, and an even more preferred upper limit is 35% by weight.

上記クッション層における上記ポリオレフィン樹脂の含有量は特に限定されないが、好ましい下限は50重量%、好ましい上限は90重量%である。上記ポリオレフィン樹脂の含有量が50重量%以上であれば、上記クッション層の柔軟性が充分となり、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記ポリオレフィン樹脂の含有量が90重量%以下であれば、上記離型層と上記クッション層との密着性が向上する。上記ポリオレフィン樹脂の含有量のより好ましい下限は60重量%、更に好ましい下限は65重量%である。上記ポリオレフィン樹脂の含有量のより好ましい上限は80重量%、更に好ましい上限は75重量%である。 The content of the polyolefin resin in the cushion layer is not particularly limited, but the preferred lower limit is 50% by weight, and the preferred upper limit is 90% by weight. If the content of the polyolefin resin is 50% by weight or more, the flexibility of the cushion layer is sufficient, and the ability to follow the unevenness of the release film is improved. If the content of the polyolefin resin is 90% by weight or less, the adhesion between the release layer and the cushion layer is improved. A more preferred lower limit of the content of the polyolefin resin is 60% by weight, and an even more preferred lower limit is 65% by weight. A more preferred upper limit of the content of the polyolefin resin is 80% by weight, and an even more preferred upper limit is 75% by weight.

上記クッション層は、更に、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリスルフォン、ポリエステル等の樹脂を含有してもよい。
上記クッション層は、更に、繊維、無機充填剤、難燃剤、紫外線吸収剤、帯電防止剤、無機物、高級脂肪酸塩等の添加剤を含有してもよい。
The cushion layer may further contain a resin such as polystyrene, polyvinyl chloride, polyamide, polycarbonate, polysulfone, or polyester.
The cushion layer may further contain additives such as fibers, inorganic fillers, flame retardants, ultraviolet absorbing agents, antistatic agents, inorganic substances, and salts of higher fatty acids.

上記クッション層は、単独の層からなる単層構造であってもよいし、複数の層の積層体からなる多層構造であってもよい。クッション層が多層構造である場合は、複数の層が接着層を介して積層一体化していてもよい。 The cushion layer may be a single-layer structure consisting of a single layer, or a multi-layer structure consisting of a laminate of multiple layers. When the cushion layer has a multi-layer structure, the multiple layers may be laminated together via an adhesive layer.

上記クッション層の厚みは特に限定されないが、好ましい下限は15μm、好ましい上限は200μmである。上記クッション層の厚みが15μm以上であれば、離型フィルムの凹凸への追従性が向上する。上記クッション層の厚みが200μm以下であれば、熱プレス接着時におけるフィルム端部で生じる上記クッション層からの樹脂の染み出しを抑制できる。上記クッション層の厚みのより好ましい下限は30μm、より好ましい上限は150μmである。 The thickness of the cushion layer is not particularly limited, but a preferred lower limit is 15 μm and a preferred upper limit is 200 μm. If the thickness of the cushion layer is 15 μm or more, the ability to conform to the unevenness of the release film is improved. If the thickness of the cushion layer is 200 μm or less, the exudation of resin from the cushion layer that occurs at the end of the film during heat press bonding can be suppressed. A more preferred lower limit of the thickness of the cushion layer is 30 μm and a more preferred upper limit is 150 μm.

本発明の離型フィルムを製造する方法は特に限定されず、例えば、水冷式又は空冷式共押出インフレーション法、共押出Tダイ法で製膜する方法、溶剤キャスティング法、熱プレス成形法等が挙げられる。
上記クッション層の両側に上記離型層を有する構造を有する場合には、一方の離型層となるフィルムを作製した後、このフィルムにクッション層を押出ラミネート法にて積層し、次いで他方の離型層をドライラミネーションする方法が挙げられる。また、一方の離型層となるフィルム、クッション層となるフィルム及び他方の離型層となるフィルムをドライラミネーションする方法が挙げられる。
なかでも、各層の厚み制御に優れる点から、共押出Tダイ法で製膜する方法が好適である。
The method for producing the release film of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a water-cooled or air-cooled coextrusion inflation method, a coextrusion T-die film formation method, a solvent casting method, and a hot press molding method.
In the case of a structure having the release layers on both sides of the cushion layer, a method of preparing a film to be one of the release layers, laminating the cushion layer on this film by extrusion lamination, and then dry laminating the other release layer can be used. Also, a method of dry laminating the film to be one of the release layers, the film to be the cushion layer, and the film to be the other release layer can be used.
Among these, the co-extrusion T-die method is preferred because it provides excellent control over the thickness of each layer.

本発明の離型フィルムの用途は特に限定されないが、プリント配線基板、フレキシブル回路基板、多層プリント配線板等の製造工程において好適に用いることができる。
具体的には例えば、フレキシブル回路基板の製造工程において、銅回路を形成したフレキシブル回路基板本体に、熱硬化型接着剤又は熱硬化型接着シートを介してカバーレイフィルムを熱プレス接着する際に本発明の離型フィルムを用いることができる。
本発明の離型フィルムは離型性にも凹凸への追従性にも優れ、特に離型性に極めて優れることから、高い離型性が求められるRtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる。
The use of the release film of the present invention is not particularly limited, but it can be suitably used in the production processes of printed wiring boards, flexible circuit boards, multilayer printed wiring boards, and the like.
Specifically, for example, in the manufacturing process of a flexible circuit board, the release film of the present invention can be used when hot press bonding a coverlay film to a flexible circuit board main body having a copper circuit formed thereon via a thermosetting adhesive or a thermosetting adhesive sheet.
The release film of the present invention is excellent in both releasability and conformability to unevenness, and in particular has extremely excellent releasability, and therefore can be suitably used in the production of flexible circuit boards by the roll-to-roll method, which requires high releasability.

本発明によれば、離型性にも凹凸への追従性にも優れ、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することができる。 The present invention provides a release film that has excellent releasability and conformability to uneven surfaces, and can be suitably used in the manufacture of flexible circuit boards using the roll-to-roll method.

以下に実施例を挙げて本発明の態様を更に詳しく説明するが、本発明はこれら実施例のみに限定されない。 The following examples further illustrate aspects of the present invention, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
(1)離型フィルムの製造
離型層を構成する樹脂として、ポリブチレンテレフタレート樹脂(PBT)を用いた。クッション層を構成する樹脂として、ポリプロピレン樹脂(PP)60重量部と、高密度ポリエチレン(HDPE)40重量部とを用いた。
離型層を構成する樹脂、及び、クッション層を構成する樹脂を押出機(ジーエムエンジニアリング社製、GM30-28(スクリュー径30mm、L/D28))を用いてTダイ幅400mmにて三層共押出し、押出された溶融樹脂を冷却ロール(温度70℃)により冷却した。これにより、クッション層(厚み60μm)の両側に離型層(厚み20μm)をそれぞれ有する3層構造のフィルムを得た。なお、冷却時には、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間を1.0秒、冷却ロールによって溶融樹脂を冷却する際の伸長応力を450kPaとした。
Example 1
(1) Production of release film: A polybutylene terephthalate resin (PBT) was used as the resin constituting the release layer. 60 parts by weight of a polypropylene resin (PP) and 40 parts by weight of a high density polyethylene (HDPE) were used as the resin constituting the cushion layer.
The resin constituting the release layer and the resin constituting the cushion layer were three-layer co-extruded at a T-die width of 400 mm using an extruder (GM Engineering, GM30-28 (screw diameter 30 mm, L/D 28)), and the extruded molten resin was cooled by a cooling roll (temperature 70°C). This resulted in a three-layer film having a release layer (thickness 20 μm) on each side of a cushion layer (thickness 60 μm). During cooling, the contact time between the molten resin and the cooling roll was 1.0 second, and the elongation stress when cooling the molten resin by the cooling roll was 450 kPa.

なお、伸長応力は、下記式(2)で表される。
伸長応力(Pa)=ひずみ速度(1/s)×溶融樹脂の伸長粘度(Pa・s) (2)
また、ひずみ速度及び溶融樹脂の伸長粘度は、それぞれ下記式(3)、(4)で表される。
ひずみ速度(1/s)=9×V×{(V/V0)^(1/9)-1}/L (3)
溶融樹脂の伸長粘度(Pa・s)=零せん断粘度(Pa・s)×ひずみ速度(1/s)^(-0.1) (4)
式(3)中、Vはロール速度(m/s)、V0は金型出口の溶融樹脂の流速(m/s)、Lは金型出口から溶融樹脂のロール接触点までの距離(m)である。
The tensile stress is expressed by the following formula (2).
Elongational stress (Pa) = strain rate (1/s) × elongational viscosity of molten resin (Pa s) (2)
The strain rate and the elongational viscosity of the molten resin are expressed by the following formulas (3) and (4), respectively.
Strain rate (1/s) = 9 × V × {(V/V0)^(1/9)-1}/L (3)
Elongational viscosity of molten resin (Pa s) = zero shear viscosity (Pa s) × strain rate (1/s)^(-0.1) (4)
In formula (3), V is the roll speed (m/s), V0 is the flow velocity of the molten resin at the die outlet (m/s), and L is the distance (m) from the die outlet to the point where the molten resin contacts the roll.

得られたフィルムの一方の離型層の表面を、摩擦処理装置(山縣機械社製の研磨処理装置、型式YCM-150M)を用い、摩擦処理材の表面の素材として織物を用いて摩擦処理し、離型フィルムを得た。なお、摩擦処理の際に加えた仕事エネルギー量は350kJであった。また、摩擦処理前の極表面の(010)の結晶粒径は60Å、算術平均粗さRaは0.05μm、光沢度は188%であった。 The surface of one of the release layers of the obtained film was subjected to friction treatment using a friction treatment device (Yamagata Kikai Co., Ltd. polishing treatment device, model YCM-150M) and a woven fabric as the surface material of the friction treatment material, to obtain a release film. The amount of work energy applied during the friction treatment was 350 kJ. Furthermore, the crystal grain size of the (010) crystal on the extreme surface before the friction treatment was 60 Å, the arithmetic mean roughness Ra was 0.05 μm, and the glossiness was 188%.

(2)算術平均粗さRaの測定
JIS B 0601:2013に準拠し、Mitutoyo社製のサーフテストSJ-301を用いて摩擦処理後の離型層の表面の算術平均粗さRaを測定した。結果を表1に示した。
(2) Measurement of arithmetic mean roughness Ra The arithmetic mean roughness Ra of the surface of the release layer after the friction treatment was measured in accordance with JIS B 0601:2013 using a Surftest SJ-301 manufactured by Mitutoyo Corporation. The results are shown in Table 1.

(3)光沢度の測定
JIS Z8741に準拠し、入射角を60°として、日本電色工業社製の光沢度計VG-1Dを用いて摩擦処理後の離型層の表面の光沢度を測定した。結果を表1に示した。
(3) Measurement of Glossiness The glossiness of the surface of the release layer after the rubbing treatment was measured in accordance with JIS Z8741 at an incident angle of 60° using a glossmeter VG-1D manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd. The results are shown in Table 1.

(4)極表面におけるX/Yの値の算出
X線の入射角を0.06°とした斜入射広角X線回折法により摩擦処理後の離型層の表面を分析した。なお、X線の入射方向はフィルムの流れ(MD:Machine Direction)方向と一致させて測定した。得られた回折測定プロットに、2θ=9.5~35°の範囲で直線状のベースラインを引いた。結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれガウス関数としてフィッティングを行い、結晶質相における(010)に由来する面積X及び(100)に由来する面積Yをそれぞれ求め、得られたX及びYからX/Yの値を求めた。結果を表1に示した。
(4) Calculation of the value of X/Y at the extreme surface The surface of the release layer after friction treatment was analyzed by oblique incidence wide-angle X-ray diffraction with an X-ray incidence angle of 0.06°. The X-ray incidence direction was measured by matching it with the flow direction (MD: Machine Direction) of the film. A linear baseline was drawn in the range of 2θ = 9.5 to 35° on the obtained diffraction measurement plot. Fitting was performed as a Gaussian function for each of the crystalline phase and the amorphous phase, and the area X derived from (010) and the area Y derived from (100) in the crystalline phase were obtained, and the value of X/Y was calculated from the obtained X and Y. The results are shown in Table 1.

斜入射広角X線回折装置としては、下記の条件に設定したリガク社製の表面構造評価用多機能X線回折装置(ATX-G型)を用いた。
X線源 CuKα線
管電圧-管電流 50kV-300mA
入射光学系 集中法
入射角(ω) 0.06°
測定範囲 5-70°
測定間隔 0.02°
走査速度 1.0°/min
走査方法 In-Plane法
As the grazing incidence wide-angle X-ray diffraction device, a multi-function X-ray diffraction device for surface structure evaluation (ATX-G type) manufactured by Rigaku Corporation was used, which was set under the following conditions.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 50kV-300mA
Incidence optical system Concentration method incidence angle (ω) 0.06°
Measurement range: 5-70°
Measurement interval: 0.02°
Scanning speed: 1.0°/min
Scanning method: In-Plane method

(5)表面から厚み1μmまでの領域におけるカルボニル基の配向の分析
X線の入射角を0.19°とした斜入射X線回折法により離型層の表面を分析した。なお、X線の入射方向はフィルムの流れ(MD:Machine Direction)方向と一致させて測定した。得られた回折測定プロットに、2θ=9.5~35°の範囲で直線状のベースラインを引き、結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれガウス関数としてフィッティングを行った。更に、フィッティングを行うことにより、面に対して平行に配向したカルボニル基と面に対して垂直に配向したカルボニル基との合計量に対する、面に対して平行に配向したカルボニル基の量の相対割合を求めた。結果を表1に示した。
(5) Analysis of the orientation of carbonyl groups in the region from the surface to a thickness of 1 μm The surface of the release layer was analyzed by oblique incidence X-ray diffraction with an X-ray incidence angle of 0.19°. The X-ray incidence direction was measured by matching it with the flow direction (MD: Machine Direction) of the film. A linear baseline was drawn in the range of 2θ = 9.5 to 35° on the obtained diffraction measurement plot, and fitting was performed as a Gaussian function for each of the crystalline phase and the amorphous phase. Furthermore, by performing fitting, the relative ratio of the amount of carbonyl groups oriented parallel to the surface to the total amount of carbonyl groups oriented parallel to the surface and carbonyl groups oriented perpendicular to the surface was obtained. The results are shown in Table 1.

斜入射広角X線回折装置としては、下記の条件に設定したリガク社製の表面構造評価用多機能X線回折装置(ATX-G型)を用いた。
X線源 CuKα線
管電圧-管電流 50kV-300mA
入射光学系 集中法
入射角(ω) 0.19°
測定範囲 5-70°
測定間隔 0.02°
走査速度 1.0°/min
走査方法 In-Plane法
As the grazing incidence wide-angle X-ray diffraction device, a multi-function X-ray diffraction device for surface structure evaluation (ATX-G type) manufactured by Rigaku Corporation was used, which was set under the following conditions.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 50kV-300mA
Incidence optical system Concentration method incidence angle (ω) 0.19°
Measurement range: 5-70°
Measurement interval: 0.02°
Scanning speed: 1.0°/min
Scanning method: In-Plane method

(6)離型層全体の結晶化度の測定
離型フィルムの各層を剥がし、摩擦処理後の離型層のみからなるサンプルを得た。広角X線回折法により摩擦処理後の離型層を分析した。得られた回折測定プロットにベースラインを引いた。結晶質相及び非晶質相に対してそれぞれガウス関数としてフィッティングを行い、得られた結晶質相のピーク総面積及び非晶質相のピーク総面積から下記式(1)により離型層全体の結晶化度を求めた。結果を表1に示した。
結晶化度(%)=結晶質相のピーク総面積/(結晶質相のピーク総面積+非晶質相のピーク総面積)×100 (1)
(6) Measurement of crystallinity of entire release layer Each layer of the release film was peeled off to obtain a sample consisting of only the release layer after friction treatment. The release layer after friction treatment was analyzed by wide-angle X-ray diffraction. A baseline was drawn on the obtained diffraction measurement plot. Fitting was performed as a Gaussian function for each of the crystalline phase and the amorphous phase, and the crystallinity of the entire release layer was calculated from the obtained total peak area of the crystalline phase and the total peak area of the amorphous phase by the following formula (1). The results are shown in Table 1.
Crystallinity (%) = total peak area of crystalline phase / (total peak area of crystalline phase + total peak area of amorphous phase) × 100 (1)

広角X線回折装置としては、下記の条件に設定したリガク社製の薄膜評価用試料水平型X線回折装置(Smart Lab)を用いた。
X線源 CuKα線
管電圧-管電流 45kV-200mA
入射光学系 集中法
測定範囲 5-80°
測定間隔 0.02°
走査速度 5.0°/min
走査方法 Out-of-Plane法
As the wide-angle X-ray diffraction device, a horizontal type X-ray diffraction device for thin film evaluation (Smart Lab) manufactured by Rigaku Corporation was used, which was set under the following conditions.
X-ray source CuKα tube voltage-tube current 45kV-200mA
Incident optical system: Concentration method Measurement range: 5-80°
Measurement interval: 0.02°
Scanning speed: 5.0°/min
Scanning method Out-of-plane method

(実施例2)
離型層を構成する樹脂として、ポリブチレンテレフタレート樹脂(PBT)とPBT-ポリテトラメチレングリコール共重合体とを重量比85:15で用い、溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間、冷却ロール温度、伸長応力及び摩擦処理時の仕事エネルギー量を表1に示したように変更した以外は実施例1と同様にして、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして各物性を求めた。
Example 2
A release film was obtained in the same manner as in Example 1, except that polybutylene terephthalate resin (PBT) and PBT-polytetramethylene glycol copolymer were used in a weight ratio of 85:15 as the resin constituting the release layer, and the contact time between the molten resin and the cooling roll, the cooling roll temperature, the elongation stress, and the amount of work energy during friction treatment were changed as shown in Table 1. The physical properties of the obtained release film were determined in the same manner as in Example 1.

(実施例3~4、比較例1、3~4)
溶融樹脂と冷却ロールとの接触時間、冷却ロール温度、伸長応力及び摩擦処理時の仕事エネルギー量を表1に示したように変更した以外は実施例1と同様にして、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして各物性を求めた。
(Examples 3 to 4, Comparative Examples 1, 3 to 4)
A release film was obtained in the same manner as in Example 1, except that the contact time between the molten resin and the cooling roll, the cooling roll temperature, the elongation stress, and the amount of work energy during the friction treatment were changed as shown in Table 1. The physical properties of the obtained release film were determined in the same manner as in Example 1.

(比較例2)
冷却ロール温度、伸長応力及び摩擦処理時の仕事エネルギー量を表1に示したように変更した以外は実施例2と同様にして、離型フィルムを得た。得られた離型フィルムについて、実施例1と同様にして各物性を求めた。
(Comparative Example 2)
A release film was obtained in the same manner as in Example 2, except that the cooling roll temperature, the elongation stress, and the amount of work energy during the friction treatment were changed as shown in Table 1. The physical properties of the obtained release film were determined in the same manner as in Example 1.

<評価>
実施例及び比較例で得られた離型フィルムについて、以下の評価を行った。結果を表1に示した。
<Evaluation>
The release films obtained in the examples and comparative examples were evaluated as follows. The results are shown in Table 1.

(1)離型性の評価
離型フィルムを、摩擦処理後の離型層がエポキシ接着シート(ニッカン工業社製、CISV2535)に接するようにしてエポキシ接着シートに重ね、180℃、30kgf/cmの条件で5分間熱プレスした。その後、一部のサンプルでは離型フィルムが自然剥離した。熱プレスから10分間が経過しても離型フィルムが自然剥離しなかったサンプルについては、幅30mmにカットし、試験速度500mm/分、剥離角度30°で剥離試験を行い、30°剥離強度(30°ピール値)を求めた。離型フィルムが自然剥離した場合を○、自然剥離しなかった場合を×とした。
(1) Evaluation of releasability The release film was placed on an epoxy adhesive sheet (manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd., CISV2535) so that the release layer after friction treatment was in contact with the epoxy adhesive sheet, and the sheet was heat-pressed for 5 minutes under conditions of 180°C and 30 kgf/ cm2 . After that, the release film naturally peeled off in some samples. For samples in which the release film did not naturally peel off even after 10 minutes had passed from the heat press, the sample was cut to a width of 30 mm, and a peel test was performed at a test speed of 500 mm/min and a peel angle of 30° to determine the 30° peel strength (30° peel value). The case in which the release film naturally peeled off was marked as ○, and the case in which it did not naturally peel off was marked as ×.

(2)追従性の評価
銅張積層板(CCL)(12.5cm×12.5cm、ポリイミド厚み25μm、銅箔厚み35μm)の銅箔面に、φ=1mmの穴を空けたカバーレイフィルム(12.5cm×12.5cm、ポリイミド厚み25μm、エポキシ接着剤層厚み35μm)をエポキシ接着剤層が接するようにして積層させた。更に離型フィルムを、摩擦処理後の離型層がカバーレイフィルムに接するようにして積層した。この積層体を、180℃、30kgf/cmの条件で2分間熱プレスした。その後、離型フィルムを剥離し、銅張積層板(CCL)上に流れ出したエポキシ接着剤を光学顕微鏡にて観察した。エポキシ接着剤の染み出し幅を12点測定してその平均値を算出し、離型フィルムの追従性を評価した。エポキシ接着剤の染み出し幅の平均値が55μm未満であった場合を○、55μm以上であった場合を×とした。
(2) Evaluation of conformability A coverlay film (12.5 cm x 12.5 cm, polyimide thickness 25 μm, epoxy adhesive layer thickness 35 μm) with a hole of φ = 1 mm was laminated on the copper foil surface of a copper clad laminate (CCL) (12.5 cm x 12.5 cm, polyimide thickness 25 μm, copper foil thickness 35 μm) so that the epoxy adhesive layer was in contact with the coverlay film. Furthermore, a release film was laminated so that the release layer after friction treatment was in contact with the coverlay film. This laminate was hot pressed for 2 minutes under conditions of 180 ° C. and 30 kgf / cm 2. Thereafter, the release film was peeled off, and the epoxy adhesive that flowed out onto the copper clad laminate (CCL) was observed with an optical microscope. The exudation width of the epoxy adhesive was measured at 12 points and the average value was calculated to evaluate the conformability of the release film. When the average value of the exudation width of the epoxy adhesive was less than 55 μm, it was marked as ○, and when it was 55 μm or more, it was marked as ×.

本発明によれば、離型性にも凹凸への追従性にも優れ、RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造にも好適に用いることができる離型フィルムを提供することができる。 The present invention provides a release film that has excellent releasability and conformability to uneven surfaces, and can be suitably used in the manufacture of flexible circuit boards using the roll-to-roll method.

Claims (7)

芳香族ポリエステル樹脂を含有する離型層を少なくとも1つ有する離型フィルムであって、
前記離型層は、入射角を0.06°とした斜入射広角X線回折法により得られるプロファイルのうち、(010)に由来する面積をX、(100)に由来する面積をYとしたとき、X/Y>0.7を満たす
ことを特徴とする離型フィルム。
A release film having at least one release layer containing an aromatic polyester resin,
The release layer is a release film characterized in that, in a profile obtained by oblique incidence wide-angle X-ray diffraction at an incidence angle of 0.06°, when an area derived from (010) is X and an area derived from (100) is Y, the relationship X/Y>0.7 is satisfied.
離型層全体の結晶化度が25~50%であることを特徴とする請求項1記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, characterized in that the crystallinity of the entire release layer is 25 to 50%. 離型層は、表面の算術平均粗さRaが0.50μm以下であることを特徴とする請求項1又は2記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1 or 2, characterized in that the release layer has an arithmetic mean surface roughness Ra of 0.50 μm or less. 離型層は、表面の光沢度が100%以上であることを特徴とする請求項1、2又は3記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2 or 3, characterized in that the release layer has a surface gloss of 100% or more. 更にクッション層を有し、前記クッション層の両側に離型層を有することを特徴とする請求項1、2、3又は4記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2, 3 or 4, further comprising a cushion layer and a release layer on both sides of the cushion layer. 芳香族ポリエステル樹脂は、ポリブチレンテレフタレート樹脂を含有することを特徴とする請求項1、2、3、4又は5記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2, 3, 4 or 5, characterized in that the aromatic polyester resin contains polybutylene terephthalate resin. RtoR方式によるフレキシブル回路基板の製造に用いられることを特徴とする請求項1、2、3、4、5又は6記載の離型フィルム。 The release film according to claim 1, 2, 3, 4, 5 or 6, characterized in that it is used in the manufacture of flexible circuit boards by the roll-to-roll method.
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