JP7835019B2 - 分析装置、分析方法およびプログラム - Google Patents
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Description
図1を参照して、本実施の形態に係る分析装置の適用例について説明する。図1は、実施の形態に係る分析装置が適用される製造システムの一例を示す図である。図1に示されるように、製造システム1は、分析装置10と、情報処理装置20と、PLC(Programmable Logic Controller)30と、複数の機器40と、カメラ50と、を備える。
<PLCのハードウェア構成>
図2は、本実施の形態に係る製造システム1のPLC30のハードウェア構成例を示すブロック図である。図2に示されるように、PLC30は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro-Processing Unit)などのプロセッサ31と、チップセット32と、主メモリ33と、ストレージ34と、制御系ネットワークコントローラ35と、情報系ネットワークコントローラ36と、USBコントローラ37と、メモリカードインターフェイス38とを含む。
図4は、情報処理装置のハードウェア構成の一例を示す模式図である。情報処理装置20は、典型的には、汎用的なコンピュータアーキテクチャに従う構造を有する。図4に示されるように、情報処理装置20は、CPUやMPUなどのプロセッサ21と、メモリ22と、ストレージ23と、カメラインターフェイス24と、通信インターフェイス25と、を含む。これらの各部は、バスを介して、互いにデータ通信可能に接続される。
図7は、実施の形態に係る分析装置のハードウェア構成の一例を示す模式図である。図7に示されるように、分析装置10は、典型的には、汎用的なコンピュータアーキテクチャに従う構造を有する。
図8は、実施の形態に係る分析装置の機能構成の一例を示す図である。図8に示されるように、分析装置10は、第1取得部101と、第2取得部102と、分析部103と、提供部104と、記憶部110と、を備える。第1取得部101および第2取得部102は、通信インターフェイス16と分析プログラム131を実行するプロセッサ11とによって実現される。分析部103は、プロセッサ11が分析プログラム131を実行することにより実現される。提供部104は、表示コントローラ14と入力インターフェイス15と分析プログラム131を実行するプロセッサ11とによって実現される。記憶部110は、メモリ12およびストレージ13によって実現される。
図9は、実施の形態に係る分析装置による分析処理の流れを示すフローチャートである。
分析部103は、工程Prの分類ごとに、第1時間帯60と第2時間帯62との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の種類とを関連付けた情報(以下、「関連付け情報」と称する。)を記憶している。工程Prの分類として、「自動」、「半自動」および「手作業」が挙げられる。分類ごとの関連付け情報は、予めユーザによって作成され、分析装置10に登録される。
図15は、分析装置によって提供される画面の一例を示す図である。図16は、分析装置によって提供される画面の別の例を示す図である。図15および図16に示す画面90は、図9のステップS4において提供部104によって提供される。画面90は、領域91~93を含む。
図17は、変形例1に係る分析装置によって提供される画面の一例を示す図である。図17に示される画面90Aは、図15に示す画面90と比較して、グラフ92aに折れ線92fが追加されている点で相違する。折れ線92fは、作業効率を低下させる要因が削除されたときの生産推定数の推移を表す。
上記の説明では、第2時間帯データ群232は、カメラ50によって撮像された動画に基づいて生成される。しかしながら、第2時間帯データ群232は、別の手法を用いて生成されてもよい。
第2時間帯データ群232の各レコードは、各工程Prに滞在している作業者を識別する作業者IDを含んでもよい。
分類「手作業」の工程Prでは、新人の作業者に対する別の作業者による教育が実行され得る。このような教育は、作業効率を低下される要因の1つである。そのため、分析部103は、分類「手作業」と対応付けて、図18に示す関連付け情報83Aを記憶していてもよい。
変形例5に係る提供部104は、上記の実施の形態に係る提供部104の機能に加えて、以下の機能をさらに有する。
以上のように、本実施の形態は以下のような開示を含む。
複数の工程(Pr)を含む製造システム(1)の分析装置(10)であって、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品が滞在している第1時間帯(60)を示すデータ(343)を取得する第1取得部(101,11)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における作業者が滞在している第2時間帯(62)を示すデータ(232)を取得する第2取得部(102,11)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品についての作業状況を分析する分析部(103,11)と、
前記分析部(103,11)による分析結果を提供する提供部(104,11)と、を備え、
前記分析部(103,11)は、分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯(60)と前記第2時間帯(62)との第1関係に基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否かを判断する、分析装置(10)。
前記分析部(103,11)は、さらに、
工程の分類ごとに、前記第1時間帯(60)と前記第2時間帯(62)との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の種類とを関連付けた情報(81~83)を記憶しており、
前記複数の工程(Pr)の各々について、当該工程が属する前記分類に対応する前記情報(81~83)から、前記第1関係が満たす前記条件に関連付けられた前記要因の種類を特定する、構成1に記載の分析装置(10)。
前記提供部(104,11)は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフ(91a)を提供し、
前記グラフ(91a)に前記第1時間帯(60)および前記第2時間帯(62)を表示し、
前記要因が発生していると判断された時間帯を残りの時間帯と異なる表示形式で表示する、構成1または2に記載の分析装置(10)。
前記分析部(103,11)は、前記要因が発生していると判断された前記第1時間帯および前記第2時間帯のうち、前記要因が発生している第3時間帯(64)を特定し、
前記提供部(104,11)は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフ(91a)を提供し、
前記グラフ(91a)に前記第1時間帯(60)および前記第2時間帯(62)を表示し、
前記分析部(103,11)によって特定された前記要因の種類に応じて、前記第3時間帯(64)の表示形式を異ならせる、構成2に記載の分析装置(10)。
前記提供部(104,11)は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフ(91a)を提供し、
前記グラフ(91a)に前記第1時間帯(60)および前記第2時間帯(62)を表示し、
前記グラフ(91a)において、前記要因が発生していると判断された前記分析対象期間について、前記分析部(103,11)によって特定された前記要因の種類を表すテキストを表示する、構成2に記載の分析装置(10)。
前記提供部(104,11)は、
前記複数の工程(Pr)の各々について、標準作業が実施されているときの、前記製品が滞在している第4時間帯(61)と前記作業者が滞在している第5時間帯(63)とを記憶しており、
前記グラフ(91a)に表示されている前記第1時間帯(60)および前記第2時間帯(62)において、前記第4時間帯(61)および前記第5時間帯(63)と異なる部分の表示形式を残りの部分の表示形式と異ならせる、構成3から5のいずれかに記載の分析装置(10)。
前記提供部(104,11)は、前記複数の工程(Pr)のうちの対象工程における各製品に対する作業に要した時間の分布を示すヒストグラム(93a)を提供し、
前記ヒストグラム(93a)の各区分は、前記分析部(103,11)によって特定された前記要因の種類ごとの割合を表す、構成2に記載の分析装置(10)。
前記分析部(103,11)は、前記要因が発生していると判断された前記第1時間帯および前記第2時間帯のうち、前記要因が発生している第3時間帯(64)を特定し、
前記提供部(104,11)は、前記第3時間帯(64)を削除したときの前記製品の生産数の推移のシミュレーション結果をさらに提供する、構成1から3のいずれかに記載の分析装置(10)。
複数の工程(Pr)を含む製造システム(1)の分析方法であって、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品が滞在している第1時間帯(60)を示すデータ(343)を取得するステップ(S1)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における作業者が滞在している第2時間帯(62)を示すデータ(232)を取得するステップ(S2)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品についての作業状況を分析するステップ(S3)と、
分析結果を提供するステップ(S4)と、を備え、
前記分析するステップ(S3)は、分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯(60)と前記第2時間帯(62)との関係に基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否かを判断するステップ(S17)を含む、分析方法。
複数の工程(Pr)を含む製造システム(1)の分析方法をコンピュータ(101)に実行させるプログラム(131)であって、
前記分析方法は、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品が滞在している第1時間帯(60)を示すデータ(343)を取得するステップ(S1)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における作業者が滞在している第2時間帯(62)を示すデータ(232)を取得するステップ(S2)と、
前記複数の工程(Pr)の各々における各製品についての作業状況を分析するステップ(S3)と、
分析結果を提供するステップ(S4)と、を備え、
前記分析するステップ(S3)は、分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯(60)と前記第2時間帯(62)との関係に基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否かを判断するステップ(S17)を含む、プログラム(131)。
Claims (10)
- 複数の工程を含む製造システムの分析装置であって、
前記複数の工程の各々における各製品が滞在している第1時間帯を示すデータを取得する第1取得部と、
前記複数の工程の各々における作業者が滞在している第2時間帯を示すデータを取得する第2取得部と、
前記複数の工程の各々における各製品についての作業状況を分析する分析部と、
前記分析部による分析結果を提供する提供部と、を備え、
前記分析部は、
工程の分類ごとに、前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の有無とを関連付けた情報を記憶しており、
分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯と前記第2時間帯との第1関係と前記情報とに基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否かを判断する、分析装置。 - 複数の工程を含む製造システムの分析装置であって、
前記複数の工程の各々における各製品が滞在している第1時間帯を示すデータを取得する第1取得部と、
前記複数の工程の各々における作業者が滞在している第2時間帯を示すデータを取得する第2取得部と、
前記複数の工程の各々における各製品についての作業状況を分析する分析部と、
前記分析部による分析結果を提供する提供部と、を備え、
前記分析部は、
工程の分類ごとに、前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の種類とを関連付けた情報を記憶しており、
分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯と前記第2時間帯との第1関係に基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否かを判断し、
前記複数の工程の各々について、当該工程が属する前記分類に対応する前記情報から、前記第1関係が満たす前記条件に関連付けられた前記要因の種類を特定する、分析装置。 - 前記提供部は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフを提供し、
前記グラフに前記第1時間帯および前記第2時間帯を表示し、
前記要因が発生していると判断された前記分析対象期間を残りの期間と異なる表示形式で表示する、請求項1または2に記載の分析装置。 - 前記分析部は、前記要因が発生していると判断された前記分析対象期間のうち、前記要因が発生している第3時間帯を特定し、
前記提供部は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフを提供し、
前記グラフに前記第1時間帯および前記第2時間帯を表示し、
前記分析部によって特定された前記要因の種類に応じて、前記第3時間帯の表示形式を異ならせる、請求項2に記載の分析装置。 - 前記提供部は、
第1軸を工程順方向とし、第2軸を時間軸とするグラフを提供し、
前記グラフに前記第1時間帯および前記第2時間帯を表示し、
前記グラフにおいて、前記要因が発生していると判断された前記分析対象期間について、前記分析部によって特定された前記要因の種類を表すテキストを表示する、請求項2に記載の分析装置。 - 前記提供部は、
前記複数の工程の各々について、標準作業が実施されているときの、前記製品が滞在している第4時間帯と前記作業者が滞在している第5時間帯とを記憶しており、
前記グラフに表示されている前記第1時間帯および前記第2時間帯において、前記第4時間帯および前記第5時間帯と異なる部分の表示形式を残りの部分の表示形式と異ならせる、請求項3から5のいずれか1項に記載の分析装置。 - 前記提供部は、前記複数の工程のうちの対象工程における各製品に対する作業に要した時間の分布を示すヒストグラムを提供し、
前記ヒストグラムの各区分は、前記分析部によって特定された前記要因の種類ごとの割合を表す、請求項2に記載の分析装置。 - 前記分析部は、前記要因が発生していると判断された前記分析対象期間のうち、前記要因が発生している第3時間帯を特定し、
前記提供部は、前記第3時間帯を削除したときの前記製品の生産数の推移のシミュレーション結果をさらに提供する、請求項1から3のいずれか1項に記載の分析装置。 - 複数の工程を含む製造システムの分析方法であって、
前記複数の工程の各々における各製品が滞在している第1時間帯を示すデータを取得するステップと、
前記複数の工程の各々における作業者が滞在している第2時間帯を示すデータを取得するステップと、
前記複数の工程の各々における各製品についての作業状況を分析するステップと、
分析結果を提供するステップと、を備え、
前記分析するステップは、分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係と、工程の分類ごとに、前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の有無とを関連付けた情報とに基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否か判断するステップを含む、分析方法。 - 複数の工程を含む製造システムの分析方法をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記分析方法は、
前記複数の工程の各々における各製品が滞在している第1時間帯を示すデータを取得するステップと、
前記複数の工程の各々における作業者が滞在している第2時間帯を示すデータを取得するステップと、
前記複数の工程の各々における各製品についての作業状況を分析するステップと、
分析結果を提供するステップと、を備え、
前記分析するステップは、分析対象工程の分析対象期間における前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係と、工程の分類ごとに、前記第1時間帯と前記第2時間帯との関係を定義するための条件と作業効率が低下する要因の有無とを関連付けた情報とに基づいて、前記分析対象工程の前記分析対象期間において作業効率を低下させる要因が発生しているか否か判断するステップを含む、プログラム。
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