Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7849446B2 - 加工装置およびウェーハの加工方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7849446B2 - 加工装置およびウェーハの加工方法 - Google Patents

加工装置およびウェーハの加工方法

Info

Publication number
JP7849446B2
JP7849446B2 JP2024201531A JP2024201531A JP7849446B2 JP 7849446 B2 JP7849446 B2 JP 7849446B2 JP 2024201531 A JP2024201531 A JP 2024201531A JP 2024201531 A JP2024201531 A JP 2024201531A JP 7849446 B2 JP7849446 B2 JP 7849446B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
positioning
processing
spinner
robot hand
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2024201531A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2025135545A (ja
Inventor
暢之 福士
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to US19/056,918 priority Critical patent/US20250282019A1/en
Publication of JP2025135545A publication Critical patent/JP2025135545A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7849446B2 publication Critical patent/JP7849446B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、加工装置およびウェーハの加工方法に関する。
特許文献1および2に開示のように、ウェーハを研削する研削装置のような加工装置では、カセットステージに載置されたウェーハをチャックテーブルに搬送して、チャックテーブルに保持されたウェーハを砥石で研削加工する。その後、チャックテーブルからスピンナ洗浄ユニットのスピンナテーブルにウェーハを搬送して、スピンナテーブルでウェーハを洗浄してから、ウェーハをカセットに収納している。
特開2021-126744号公報 特開2021-132180号公報
スピンナテーブルでウェーハを保持して洗浄する際、ウェーハが反っていると、加工装置は、スピンナテーブルにウェーハが保持されていないと認識して、洗浄動作を停止することがある。すなわち、実際にはスピンナテーブルにウェーハがあるにも関わらず、加工装置が、スピンナテーブルにウェーハが無いと認識してしまうことがある。
この状態で連続加工が継続された場合、スピンナテーブルにあるウェーハの上に、次のウェーハが重ねて載置されることになり、スピンナ洗浄ユニットでの洗浄中に、重なっていたウェーハが離れて破損することがある。
したがって、本発明の目的は、スピンナテーブルのようなテーブルにおけるウェーハの有無を良好に検知することにある。
本発明の第1の加工装置は、カセットを載置するためのカセットステージと、ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウェーハを加工する加工ユニットと、洗浄されるウェーハを吸引保持するスピンナテーブルと、該カセットステージに載置された該カセットに対してウェーハを搬出または搬入するためにウェーハを保持するロボットハンドを有するロボットと、を備える加工装置であって、該ロボットハンドは、ウェーハの有無を検知するウェーハ有無センサを備え、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する制御部をさらに備え、該制御部は、該スピンナテーブルと、該スピンナテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って、該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する。
本発明の第2の加工装置は、カセットを載置するためのカセットステージと、ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウェーハを加工する加工ユニットと、該チャックテーブルに保持させるウェーハの位置決めをするための位置決めテーブルと、該カセットステージに載置された該カセットに対してウェーハを搬出または搬入するためにウェーハを保持するロボットハンドを有するロボットと、を備える加工装置であって、該ロボットハンドは、ウェーハの有無を検知するウェーハ有無センサを備え、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する制御部をさらに備え、該制御部は、該位置決めテーブルと、該位置決めテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って、該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する。
本発明の第1のウェーハの加工方法は、第1の加工装置を用いてウェーハを加工するウェーハの加工方法であって、該チャックテーブルにウェーハを保持させる保持工程と、該ウェーハを該加工ユニットによって加工する加工工程と、該加工後のウェーハを該スピンナテーブルに保持させ該ウェーハを洗浄する洗浄工程と、所定のタイミングで該洗浄工程の前に実施される、該スピンナテーブルと該スピンナテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知するウェーハ検知工程と、を含み、該ウェーハ検知工程にて該スピンナテーブルにウェーハが無いことが検知された場合に、該洗浄工程が実施される一方、該ウェーハ検知工程にて該スピンナテーブルにウェーハが有ることが検知された場合に、該加工装置の通知部によってウェーハが該スピンナテーブルにあることを作業者に通知する通知工程が実施される。
本発明の第2のウェーハの加工方法は、第2の加工装置を用いてウェーハを加工するウェーハの加工方法であって、該カセットからウェーハを取り出して該位置決めテーブルに保持させ該ウェーハの位置決めを実施する位置決め工程と、該位置決め工程が実施された該ウェーハを該チャックテーブルに保持させる保持工程と、該ウェーハを該加工ユニットによって加工する加工工程と、所定のタイミングで該位置決め工程の前に実施される、該位置決めテーブルと該位置決めテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知するウェーハ検知工程と、を含み、該ウェーハ検知工程にて該位置決めテーブルにウェーハが無いことが検知された場合に該位置決め工程が実施される一方、該ウェーハ検知工程にて該位置決めテーブルにウェーハが有ることが検知された場合に、該加工装置の通知部によってウェーハが該位置決めテーブルにあることを作業者に通知する通知工程が実施される。
第1および第2の加工装置ならびに第1および第2のウェーハの加工方法では、ロボットハンドのウェーハ有無センサによって、スピンナテーブルあるいは位置決めテーブルにおけるウェーハの有無を検知する。これにより、テーブルにおけるウェーハの有無を明確に検知することができる。したがって、たとえば、テーブルに不適格なウェーハが載置されたままになっているにも関わらず、このウェーハに次のウェーハが重ねて配置されてウェーハが破損してしまうことを、良好に防止することが可能となる。
また、テーブルにおけるウェーハの有無を、作業者が目視によって検知する必要がない。このため、作業効率を高めることができる。
研削装置の構成を示す斜視図である。 スピンナテーブルの構成を示す断面図である。 位置決めテーブルの構成を示す断面図である。
図1に示す研削装置1は、加工装置の一例である。この研削装置1は、チャックテーブル5上に保持されたウェーハ100を、粗研削機構30および仕上げ研削機構31により研削する。
図1に示すウェーハ100は、被加工物の一例であり、たとえば、円形の半導体ウェーハである。図1では下を向いているウェーハ100の表面101には、図示しないデバイスが形成されている。ウェーハ100の裏面103は、研削加工が施される被加工面となる。
研削装置1は、第1の装置ベース10と、第1の装置ベース10の後方(+Y方向側)に配置された第2の装置ベース11とを有している。第1の装置ベース10上は、ウェーハ100の搬出入等が行われる領域である搬出入領域401となっている。第2の装置ベース11上は、加工領域402となっている。この加工領域402では、粗研削機構30および仕上げ研削機構31によって、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100が加工される。
第1の装置ベース10の正面側(-Y方向側)には、カセットを載置するための第1のカセットステージ160および第2のカセットステージ162が設けられている。第1のカセットステージ160および第2のカセットステージ162には、それぞれ、ウェーハ100が収容される第1のカセット161および第2のカセット163が載置されている。
第1のカセット161および第2のカセット163は、内部に複数の棚を備えており、各棚に一枚ずつウェーハ100が収容されている。
第1のカセット161および第2のカセット163の開口(図示せず)は、+Y方向側を向いている。これらの開口の+Y方向側には、ロボット150が配設されている。
ロボット150は、第1のカセット161および第2のカセット163に対してウェーハ100を搬出または搬入するためにウェーハ100を保持するロボットハンド151を有している。ロボットハンド151は、U字の板形状を有しており、一方の面に、ウェーハ100を吸着保持するための吸着面152(図2参照)を備えている。
また、ロボットハンド151は、この吸着面152にウェーハ100の有無を検知するためのウェーハ有無センサ153を備えるとともに、ウェーハ100の有無を検知する制御部158を備えている。本実施形態では、このウェーハ有無センサ153は、たとえば、吸着面152に対向する位置にウェーハ100が存在しているか否かを検知するために用いられる。ウェーハ有無センサ153は、例えば、投光部と受光部とを備え、投光部は、吸着面152に対向する所定の位置に向けて光を照射し、受光部は、投光部が照射した光の反射光を受光する。制御部158は、受光部が受光した反射光の光量に基づいて、所定の位置にウェーハ100が存在しているか否かを検知する。なお、制御部158は、研削装置1の制御部7でもよい。
また、図1および図2に示すように、ロボット150は、ロボットハンド151を駆動する駆動部154を有している。駆動部154は、ロボットハンド151の位置を制御(調整)する。詳細には、駆動部154は、上下移動機構155、水平移動機構156および反転機構157を備えている。
上下移動機構155は、ロボットハンド151をZ軸方向に沿って上下方向に移動させる。水平移動機構156は、ロボットハンド151を水平方向に移動させる。反転機構157は、ロボットハンド151を反転させることにより、その吸着面152を上向きあるいは下向きとする。
このような構成を有するロボット150は、ロボットハンド151に保持された加工後のウェーハ100を、図1に示した第1のカセット161あるいは第2のカセット163に搬入する。また、ロボット150は、ロボットハンド151によって、第1のカセット161あるいは第2のカセット163に収容されている加工前のウェーハ100を取り出して、位置決め機構6の位置決めテーブル60に載置する。
位置決め機構6は、第1のカセット161あるいは第2のカセット163から取り出されたウェーハ100の位置決め(たとえば中心位置の検出)を実施するために用いられ、ロボット150に隣接する位置に設けられている。位置決め機構6は、ウェーハ100を保持して回転する位置決めテーブル60、および、カメラを備えた中心位置検出部69を有している。
位置決めテーブル60は、チャックテーブル5に保持させるウェーハ100の位置決めをするためのテーブルである。位置決めテーブル60は、吸引源48(図3参照)に連通されることにより、自身に載置されたウェーハ100を吸引保持する。中心位置検出部69は、位置決めテーブル60に吸引保持されたウェーハ100の中心を検出する。
位置決め機構6では、ウェーハ100を吸引保持した位置決めテーブル60が低回転数で回転するとともに、中心位置検出部69が、ウェーハ100の外周縁の複数箇所(たとえば3か所)を撮像する。中心位置検出部69は、撮像箇所の座標に基づく幾何学的演算処理を実施することにより、ウェーハ100の中心位置を検出する。
なお、位置決め機構6は、位置決めテーブル60に載置されたウェーハ100を、位置決めテーブル60の中心とウェーハ100の中心とが一致する所定の位置に位置合わせするための機構(たとえばセンタリングピン)を有していてもよい。
位置決め機構6に隣接する位置には、搬入機構170が設けられている。搬入機構170は、チャックテーブル5に対してウェーハ100を搬出または搬入する搬送機構の一例である。搬入機構170は、位置決め機構6に保持されているウェーハ100を、チャックテーブル5に搬入する。
搬入機構170は、ウェーハ100の裏面103を吸引保持する搬送パッド171を備えている。搬入機構170は、位置決めテーブル60に保持されているウェーハ100を搬送パッド171によって吸引保持して、加工領域402内における位置決め機構6の近傍に位置しているチャックテーブル5へ搬送し、保持面50の中心とウェーハ100の中心とが略合致するように、保持面50に載置する。
チャックテーブル5は、ウェーハ100を吸引保持する部材であり、保持面50を備えている。保持面50は、図示しない吸引源に連通されて、ウェーハ100を吸引保持することが可能である。チャックテーブル5は、保持面50によってウェーハ100を保持し、この状態で、保持面50の中心を通りZ軸方向に延在する中心軸を中心として回転可能である。
本実施形態では、第2の装置ベース11上に配設されたターンテーブル2の上面に、3つのチャックテーブル5が、ターンテーブル2の中心を中心とする円上に、等間隔に配設されている。ターンテーブル2の中心には、ターンテーブル2を自転させるための図示しない回転シャフトが配設されている。ターンテーブル2は、この回転シャフトによって、Z軸方向に延びる軸心を中心に自転することができる。ターンテーブル2が自転することで、3つのチャックテーブル5が公転する。これにより、チャックテーブル5を、位置決め機構6の近傍、粗研削機構30の下方、および、仕上げ研削機構31の下方に、順次、位置付けることができる。
第2の装置ベース11上の後方(+Y方向側)には、第1のコラム12が立設されている。第1のコラム12の前面には、ウェーハ100を粗研削する粗研削機構30、および、粗研削機構30を研削送りする粗研削送り機構20が配設されている。粗研削機構30は、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100を加工する加工ユニットの一例であり、ウェーハ100を粗研削する。
粗研削送り機構20は、粗研削機構30を保持面50に垂直な方向に移動させる。粗研削送り機構20は、Z軸方向に平行な一対のガイドレール201、このガイドレール201上をスライドする昇降テーブル203、ガイドレール201と平行なボールネジ200、ボールネジ200を回転駆動するモータ202、および、昇降テーブル203の前面(表面)に取り付けられたホルダ204を備えている。ホルダ204は、粗研削機構30を保持している。
昇降テーブル203は、ガイドレール201にスライド可能に設置されている。図示しないナット部が、昇降テーブル203に固定されている。このナット部には、ボールネジ200が螺合されている。モータ202は、ボールネジ200の一端部に連結されている。
粗研削送り機構20では、モータ202がボールネジ200を回転させることにより、昇降テーブル203が、ガイドレール201に沿って、Z軸方向に移動する。これにより、昇降テーブル203に取り付けられたホルダ204、および、ホルダ204に保持された粗研削機構30も、昇降テーブル203とともにZ軸方向に移動する。このようにして、粗研削送り機構20は、粗研削機構30をZ軸方向に沿って研削送りする。
粗研削機構30は、ホルダ204に固定されたスピンドルハウジング301、スピンドルハウジング301に回転可能に保持されたスピンドル300、スピンドル300を回転駆動するスピンドルモータ302、スピンドル300の下端に取り付けられたホイールマウント303、および、ホイールマウント303の下面に着脱可能に接続された研削ホイール304を備えている。
スピンドルハウジング301は、Z軸方向に延びるようにホルダ204に保持されている。スピンドル300は、チャックテーブル5の保持面50と直交するようにZ軸方向に延び、スピンドルハウジング301に回転可能に支持されている。
スピンドルモータ302は、スピンドル300の上端側に連結されている。このスピンドルモータ302により、スピンドル300は、Z軸方向に延びる回転軸を中心として回転する。
ホイールマウント303は、円板状に形成されており、スピンドル300の先端(下端)に固定されて、スピンドル300の回転に応じて回転する。ホイールマウント303は、研削ホイール304を支持している。
研削ホイール304は、外径がホイールマウント303の外径と略同径を有するように形成されている。研削ホイール304は、金属材料から形成された円環状のホイール基台305を含む。ホイール基台305の下面には、全周にわたって、略直方体形状の複数の粗研削砥石306が、環状に配置および固定されている。
粗研削砥石306は、スピンドル300の回転により回転され、その下面によって、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100の裏面103を粗研削する。粗研削砥石306は、比較的大きな砥粒を含む砥石である。
また、粗研削機構30の近傍には、第1測定機構25が配置されている。第1測定機構25は、粗研削機構30の下方に配置されたチャックテーブル5に保持されているウェーハ100の厚みを測定する。
第2の装置ベース11上の後方には、第2のコラム13が、X軸方向に沿って第1のコラム12に隣接するように立設されている。第2のコラム13の前面には、ウェーハ100を仕上げ研削する仕上げ研削機構31、および、仕上げ研削機構31を研削送りする仕上げ研削送り機構21が配設されている。仕上げ研削機構31は、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100を加工する加工ユニットの一例であり、ウェーハ100を仕上げ研削する。
仕上げ研削送り機構21は、仕上げ研削機構31を保持面50に垂直な方向に移動させる。仕上げ研削送り機構21は、粗研削送り機構20と同様の構成を有しており、仕上げ研削機構31をZ軸方向に沿って研削送りすることができる。
仕上げ研削機構31は、粗研削砥石306に代えて、仕上げ研削砥石310を備えていることを除いて、粗研削機構30と同様の構成を有している。仕上げ研削砥石310は、スピンドル300の回転により回転され、その下面によって、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100の裏面103を仕上げ研削する。仕上げ研削砥石310は、比較的小さな砥粒を含む砥石である。
また、仕上げ研削機構31の近傍には、第2測定機構26が配置されている。第2測定機構26は、仕上げ研削機構31の下方に配置されたチャックテーブル5に保持されているウェーハ100の厚みを測定する。
仕上げ研削後のウェーハ100は、搬出機構172によって搬出される。搬出機構172は、チャックテーブル5に対してウェーハ100を搬出または搬入する搬送機構の一例である。搬出機構172は、チャックテーブル5に保持されたウェーハ100をスピンナ洗浄機構8に搬送する。
搬出機構172は、ウェーハ100の裏面103を吸引保持する搬送パッド173を備えている。搬出機構172は、チャックテーブル5に載置されている仕上げ研削後のウェーハ100の裏面103を、搬送パッド173によって吸引保持する。その後、搬出機構172は、ウェーハ100をチャックテーブル5から搬出して、枚葉式のスピンナ洗浄機構8のスピンナテーブル80に搬送する。
スピンナ洗浄機構8は、ウェーハ100を洗浄するスピンナ洗浄ユニットである。スピンナ洗浄機構8は、洗浄されるウェーハ100を吸引保持するスピンナテーブル80、および、スピンナテーブル80に向けて洗浄水および乾燥エアを噴射するノズル89を備えている。
スピンナ洗浄機構8では、ウェーハ100を保持したスピンナテーブル80が回転するとともに、ウェーハ100に向けて洗浄水が噴射されて、ウェーハ100がスピンナ洗浄される。その後、ウェーハ100に乾燥エアが吹き付けられて、ウェーハ100が乾燥される。
ここで、スピンナテーブル80の構成について説明する。図2に示すように、スピンナテーブル80は、ウェーハ100を保持するための円形板状のテーブルである。スピンナテーブル80は、円形板状のポーラス部材81、ポーラス部材81を支持する枠体83、および、枠体83を支持するテーブル基台84を備えている。ポーラス部材81は、吸引源48に連通されることが可能である。吸引源48からの吸引力が、ポーラス部材81の上面である保持面82に伝達されることで、スピンナテーブル80は、保持面82によってウェーハ100を吸引保持することができる。
また、スピンナテーブル80は、回転機構85によって回転可能となっている。回転機構85は、駆動源となるモータ86、モータ86のシャフト87、および、モータ86の回転角度を読み取るエンコーダ88を備えている。
シャフト87は、スピンナテーブル80(テーブル基台84)の下面における保持面82の中心の直下に接続されており、スピンナテーブル80の保持面82に対して垂直に延在している。モータ86がシャフト87を回転駆動することで、スピンナテーブル80が、保持面82の中心を軸に回転される。また、エンコーダ88により、モータ86の回転角度に基づいて、スピンナテーブル80の回転角度を認識することができる。
また、スピンナテーブル80は、研削装置1に備えられた流体流通機構40に接続されている。流体流通機構40は、スピンナテーブル80の保持面82に対して、エアを供給する、あるいは、保持面82に吸引力を付与するための機構である。
流体流通機構40は、スピンナテーブル80内に設けられたテーブル内流路403、テーブル内流路403に連通されているエア流路470、シャフト87に接続されているロータリージョイント460、および、エア流路470に連通されているエア配管471を備えている。
テーブル内流路403は、ポーラス部材81の下面に接するように、スピンナテーブル80における枠体83およびテーブル基台84内に設けられている。エア流路470は、テーブル内流路403から、シャフト87およびロータリージョイント460を通過するように延びている。
エア流路470は、ロータリージョイント460の外部で、エア配管471の一端側に接続されている。エア配管471の他端側には、エア供給源47が接続されている。エア供給源47は、コンプレッサー等を備え、スピンナテーブル80の保持面82にエアを供給するために用いられる。
また、エア配管471には、エア供給源47からエア流路470側に向かって順に、エア供給開閉弁475およびエア調整部473が配設されている。エア供給開閉弁475は、エア配管471とエア供給源47との連通状態を切り換える。エア調整部473は、たとえば比例制御弁であり、エア供給開閉弁475が開いているときに、内部のオリフィス径を変更して、エア供給源47から保持面82に送られるエアの流量を調整するために用いられる。
さらに、エア配管471には、吸引配管481が連通されている。吸引配管481は、スピンナテーブル80の保持面82と吸引源48とを連通するための配管である。
吸引配管481の一端側は、エア配管471を介して、エア流路470に接続されている。吸引配管481の他端側には、吸引源48が接続されている。この吸引源48は、たとえば、エジェクター機構あるいは真空発生装置等を備え、スピンナテーブル80のポーラス部材81に連通されて、その上面である保持面82に吸引力を与えるために用いられる。
また、吸引配管481には、吸引源48からエア流路470側に向かって順に、吸引開閉弁485および吸引流量調整部483が配設されている。吸引開閉弁485は、吸引配管481と吸引源48との連通状態を切り換える。吸引流量調整部483は、たとえば比例制御弁であり、吸引開閉弁485が開いているときに、内部のオリフィス径を変更して、吸引源48からポーラス部材81の保持面82に伝達される吸引力を調整するために用いられる。
なお、エア調整部473および吸引流量調整部483は、手動でオリフィス径を調整するニードルバルブ、ゲートバルブでもよい。
また、吸引配管481には、圧力センサ487が設けられている。圧力センサ487は、この吸引配管481の圧力値を検出する。本実施形態では、たとえば、吸引開閉弁485を開けて保持面82を吸引源48に連通させたときに、圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値が所定の閾値以下となったときに、スピンナテーブル80の保持面82上にウェーハ100が載置されており、このウェーハ100が保持面82によって保持されたと判断される。
このような構成のスピンナテーブル80を有するスピンナ洗浄機構8によって洗浄されたウェーハ100は、図1に示すロボット150により、第1のカセット161あるいは第2のカセット163(たとえば、このウェーハ100が取り出されたカセット)に搬入される。
また、研削装置1は、図1に示すように、第1の装置ベース10および第2の装置ベース11を覆う筐体15を備えている。筐体15の側面には、タッチパネル9が設置されている。
タッチパネル9には、研削装置1に関する加工条件等の各種情報が表示される。また、タッチパネル9は、各種情報を設定するためにも用いられる。このように、タッチパネル9は、情報を入力するための入力部材として機能するとともに、情報を表示(通知)するための表示部材(通知部)としても機能する。
また、研削装置1は、その内部に、研削装置1の制御のための制御部7を有している。制御部7は、制御プログラムにしたがって演算処理を行うCPU、および、メモリ等の記憶媒体等を備えている。制御部7は、研削装置1の上述した各部材を制御して、ウェーハ100に対する研削を実行する。
以下に、制御部7によって制御される、研削装置1を用いてウェーハ100を加工するウェーハの加工方法について説明する。
[位置決め工程]
まず、位置決め工程が実施される。この工程では、制御部7は、図1に示したロボット150を制御して、第1のカセット161あるいは第2のカセット163から加工前のウェーハ100を取り出して、位置決め機構6の位置決めテーブル60に保持させて、ウェーハ100の位置決めを実施する。
[保持工程]
位置決め工程の後、保持工程が実施される。この工程では、位置決め工程が実施されたウェーハ100を、チャックテーブル5に保持させる。具体的には、制御部7は、搬入機構170を制御して、位置決めテーブル60上のウェーハ100を保持し、位置決め機構6の近傍に配置されているチャックテーブル5の保持面50に、裏面103を上面として載置する。その後、制御部7は、保持面50を、図示しない吸引源に連通させる。これにより、保持面50がウェーハ100を吸引保持する。
[粗研削工程]
保持工程の後、粗研削工程が実施される。この粗研削工程は、ウェーハ100を加工ユニットによって加工する加工工程の一例である。この工程では、チャックテーブル5に保持されているウェーハ100を、加工ユニットとしての粗研削機構30によって粗研削する。具体的には、制御部7は、保持工程の後、ターンテーブル2を自転させることにより、ウェーハ100を保持しているチャックテーブル5を、粗研削機構30の下方に配置する。さらに、制御部7は、粗研削機構30の粗研削砥石306を回転させるとともに、ウェーハ100を保持しているチャックテーブル5を回転させる。その後、制御部7は、粗研削送り機構20を用いて粗研削機構30を下降させ、ウェーハ100の粗研削を実施する。この際、制御部7は、第1測定機構25を用いて研削されているウェーハ100の厚みを測定し、この厚みが所定の粗研削厚みになるまで、粗研削を実施する。
[仕上げ研削工程]
粗研削工程の後、仕上げ研削工程が実施される。この仕上げ研削工程は、ウェーハ100を加工ユニットによって加工する加工工程の一例である。この工程では、チャックテーブル5に保持されているウェーハ100を、加工ユニットとしての仕上げ研削機構31によって仕上げ研削する。具体的には、制御部7は、粗研削工程の後、ターンテーブル2を自転させることで、粗研削されたウェーハ100を保持しているチャックテーブル5を、仕上げ研削機構31の下方に配置する。さらに、制御部7は、仕上げ研削機構31の仕上げ研削砥石310を回転させるとともに、ウェーハ100を保持しているチャックテーブル5を回転させる。その後、制御部7は、仕上げ研削送り機構21を用いて仕上げ研削機構31を下降させ、ウェーハ100の仕上げ研削を実施する。この際、制御部7は、第2測定機構26を用いて研削されているウェーハ100の厚みを測定し、この厚みが所定の仕上げ削厚みになるまで、仕上げ研削を実施する。
[洗浄工程]
仕上げ研削工程の後、洗浄工程が実施される。この洗浄工程は、加工後のウェーハ100をスピンナテーブル80に保持させて洗浄する工程である。この工程では、制御部7は、ターンテーブル2を自転させることで、仕上げ研削されたウェーハ100を保持しているチャックテーブル5を、スピンナ洗浄機構8の近傍(位置決め機構6の近傍)に配置する。その後、制御部7は、搬入機構170を制御して、チャックテーブル5上のウェーハ100を保持し、スピンナ洗浄機構8におけるスピンナテーブル80の保持面82に載置する。さらに、制御部7は、図2に示した吸引開閉弁485を開けて、保持面82を吸引源48に連通させる。これにより、保持面82がウェーハ100を吸引保持する。
次に、制御部7は、回転機構85を制御してスピンナテーブル80を回転させるとともに、ノズル89からウェーハ100に向けて洗浄水を噴射して、ウェーハ100をスピンナ洗浄する。さらに、制御部7は、ノズル89からウェーハ100に乾燥エアを吹き付けて、ウェーハ100を乾燥させる。
その後、制御部7は、図1に示したロボット150を制御して、スピンナテーブル80上のウェーハ100をロボットハンド151によって保持し、第1のカセット161ある第2のカセット163(このウェーハ100が取り出された方のカセット)に収納する。
本実施形態では、たとえば、上記した保持工程、粗研削工程、仕上げ研削工程および洗浄工程が、複数のウェーハ100に対して連続的に実施される(連続加工)。
なお、洗浄工程では、スピンナ洗浄機構8の保持面82によってウェーハ100を吸引保持するために、吸引開閉弁485を開けて保持面82を吸引源48に連通させたとき、何らかの原因により、制御部7が、保持面82上にウェーハ100が載置されていないと判断する場合がありえる。
すなわち、保持面82上にウェーハ100が載置されていない場合には、保持面82から多量のエアが吸引配管481に進入するため、圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値(保持面82の負圧値)が、所定の閾値以下にならない。
したがって、制御部7は、保持面82を吸引源48に連通させても圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならない場合に、スピンナテーブル80の保持面82にウェーハ100が載置されていないと判断することができる。この場合、制御部7は、たとえば、連続加工を一時停止する。
なお、図2に示すように、スピンナテーブル80の保持面82に載置されたウェーハ100が破損しており、その一部が欠落していることがある。この場合、スピンナテーブル80の保持面82に、ウェーハ100によって覆われていない部分である露出部分821が発生する。また、保持面82に載置されたウェーハ100の反り量が大きい場合、保持面82によってウェーハ100の全面を良好に保持することが困難であるため、同様に、保持面82に露出部分821が発生する。
したがって、これらのような保持面82によって良好に保持することの困難な不適格なウェーハ100が保持面82に載置された場合にも、ウェーハ100が載置されていない場合と同様に、吸引開閉弁485を開けて保持面82を吸引源48に連通させたときに、保持面82から多量のエアが吸引配管481に進入する。このため、圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値が所定の閾値以下にならず、連続加工が一時停止されることがある。
なお、不適格なウェーハ100とは、たとえば、一部分が欠損しているウェーハ100、外周が反りあがっているウェーハ100、または、亀裂があるウェーハ100である。
このように、圧力センサ487の測定値を用いるだけでは、保持面82にウェーハ100が載置されていない場合と、保持面82に不適格なウェーハ100が載置されている場合とを区別することが困難である。
そこで、本実施形態では、制御部7は、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならず、連続加工が一時停止された場合には、制御部7は、ウェーハ検知工程を実施する。この工程では、制御部7は、洗浄工程の前、すなわち、仕上げ研削後のウェーハ100をスピンナテーブル80に搬送する前に、つまり、スピンナテーブル80にウェーハ100を載置する前に、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を使って、スピンナテーブル80にウェーハ100が有るか無いかを検知する。
具体的には、制御部7は、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならない場合、連続加工を一時停止した後、図2に示すように、ロボット150の駆動部154を制御して、ロボットハンド151の吸着面152をスピンナテーブル80の保持面82上に配置する。そして、制御部7は、ロボットハンド151の吸着面152に備えられているウェーハ有無センサ153によって、保持面82におけるウェーハ100の有無を検知する。
この際、制御部7は、たとえば、スピンナテーブル80と、スピンナテーブル80の上方に配置されたロボットハンド151とを相対的に水平移動させながら、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を使ってスピンナテーブル80にウェーハ100が有るか無いかを検知する。
たとえば、制御部7は、スピンナ洗浄機構8の回転機構85を制御してスピンナテーブル80を低回転数で回転させるとともに、ロボット150の駆動部154の水平移動機構156を用いてロボットハンド151を水平方向に移動させる。これにより、ウェーハ有無センサ153により、保持面82の全面におけるウェーハ100の有無を検知することができる。
そして、制御部7は、ウェーハ有無センサ153により保持面82の全面のどこにもウェーハ100がないと判断した場合には、スピンナテーブル80の保持面82にウェーハ100が載置されていないと判断する。この場合、制御部7は、たとえば、一時停止していたウェーハ100に対する連続加工を再開する。すなわち、制御部7は、ウェーハ検知工程にてスピンナテーブル80にウェーハ100が無いことが検知された場合に、連続加工を再開し、仕上げ研削されたウェーハ100をスピンナ洗浄機構8のスピンナテーブル80に保持させて、このウェーハ100に対する洗浄工程を実施する。
一方、制御部7は、ウェーハ有無センサ153により保持面82の全面あるいは一部にウェーハ100があると判断した場合には、保持面82によって良好に保持することの困難な不的確なウェーハ100が保持面82に載置されていると判断する。この場合、制御部7は、たとえば、ウェーハ100に対する連続加工の一時停止状態を維持したまま、通知工程を実施する。この工程では、制御部7は、作業者に情報を通知する通知部としてのタッチパネル9を用いて、不的確なウェーハ100が保持面82に載置されていることを作業者に通知する。すなわち、制御部7は、ウェーハ検知工程にてスピンナテーブル80にウェーハ100が有ることが検知された場合に、通知部としてのタッチパネル9によって、ウェーハ100がスピンナテーブル80にあることを作業者に通知する通知工程を実施する。
なお、保持面82の全面にウェーハ100があると判断されるときとして、ウェーハ100が中凸状または中凹状に反っている場合に、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならない場合がある。
以上のように、本実施形態では、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならずに連続加工が一時停止したときに、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153によって、保持面82におけるウェーハ100の有無を検知する。これにより、スピンナテーブル80の保持面82におけるウェーハの有無を明確に検知することができる。
したがって、たとえば、保持面82に不適格なウェーハ100が載置されたままになっているにも関わらず、連続加工が再開されて、このウェーハ100に次のウェーハ100が重ねて配置されてウェーハ100が破損してしまうことを、良好に防止することが可能となる。
また、保持面82におけるウェーハ100の有無を、作業者が目視によって検知する必要がない。このため、作業効率を高めることができる。
なお、本実施形態では、スピンナ洗浄機構8の圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下とならずに、ウェーハ100に対する連続加工、すなわち、保持工程、加工工程(粗研削工程および仕上げ研削工程)および洗浄工程を含むウェーハ加工工程が一時停止された場合に、制御部7がウェーハ検知工程を実施している。そして、制御部7は、スピンナテーブル80にウェーハ100がない場合にウェーハ加工工程を再開して洗浄工程を実施する一方、スピンナテーブル80にウェーハ100が有る場合に通知工程を実施している。
これに関し、制御部7は、ウェーハ検知工程を、作業者によって設定される所定のタイミングで洗浄工程の前に実施すればよい。たとえば、制御部7は、上述のように圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下とならずに連続加工が一時停止した場合にウェーハ検知工程を実施してもよいし、ウェーハ100に対する洗浄工程を実施する際、常にあるいは定期的に、ウェーハ100をスピンナテーブル80に載置する前に、連続加工を停止してウェーハ検知工程を実施してもよい。
また、本実施形態では、図1に示した位置決め機構6の位置決めテーブル60におけるウェーハ100の有無を検知することも可能である。
ここで、位置決めテーブル60の構成について説明する。図3に示すように、位置決めテーブル60は、ウェーハ100を保持するための円形板状のテーブルである。位置決めテーブル60は、円形板状のテーブル板61、および、テーブル板61を支持するテーブル基台64を備えている。テーブル板61の上面は、ウェーハ100を吸引保持するための保持面62である。この保持面62は、その中心を通る直線状の吸引溝63を有している(図1も参照)。吸引源48からの吸引力が吸引溝63に伝達されることで、位置決めテーブル60は、テーブル板61の保持面62によってウェーハ100を吸引保持することができる。
また、位置決めテーブル60は、回転機構65によって回転可能となっている。回転機構65は、図2に示した回転機構85と略同様の構成を有しており、駆動源となるモータ66、モータ66のシャフト67、および、モータの回転角度を読み取るエンコーダ68を備えている。
シャフト67は、位置決めテーブル60(テーブル基台64)の下面における保持面62の中心の直下に接続されており、位置決めテーブル60の保持面62に対して垂直に延在している。モータ66がシャフト67を回転駆動することで、位置決めテーブル60が、保持面62の中心を軸に回転される。また、エンコーダ68により、モータ66の回転角度に基づいて、位置決めテーブル60の回転角度を認識することができる。
また、位置決めテーブル60は、研削装置1に備えられた流体流通機構40aに接続されている。この流体流通機構40aは、位置決めテーブル60の保持面62に対して、エアを供給する、あるいは、保持面62に吸引力を付与するための機構である。
この流体流通機構40aは、図2に示した流体流通機構40と略同様の構成を有しているため、その詳細な説明を省略する。
この流体流通機構40aでは、位置決めテーブル60内に設けられたテーブル内流路403は、位置決めテーブル60におけるテーブル板61およびテーブル基台64に設けられており、その上端は、テーブル板61の保持面62に設けられた吸引溝63に接続されている。流体流通機構40aの他の構成については、流体流通機構40と同様である。
すなわち、流体流通機構40aでは、エア流路470が、テーブル内流路403から、シャフト67およびロータリージョイント460を通過するように延びている。このエア流路470、エア配管471および吸引配管481を介して、保持面62の吸引溝63に、エア供給源47あるいは吸引源48が連通されて、保持面62にエアが供給される、あるいは、保持面62に吸引力が付与される。
また、この構成においても、吸引配管481に圧力センサ487が設けられている。そして、吸引開閉弁485を開けて保持面62の吸引溝63を吸引源48に連通させたときに、吸引配管481に設けられた圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値が所定の閾値以下となったときに、位置決めテーブル60の保持面62上にウェーハ100が載置されており、このウェーハ100が保持面62によって保持されたと判断される。
この構成では、上述した保持工程において位置決め機構6の保持面62によってウェーハ100を吸引保持するために、吸引開閉弁485を開けて保持面62の吸引溝63を吸引源48に連通させたとき、何らかの原因により、保持面62上にウェーハ100が載置されていない場合がありえる。この場合には、吸引溝63から多量のエアが吸引配管481に進入するため、圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値(吸引溝63の負圧値)が、所定の閾値以下にならない。
したがって、制御部7は、吸引溝63を吸引源48に連通させても圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならない場合に、位置決めテーブル60の保持面62にウェーハ100が載置されていないと判断することができる。この場合、制御部7は、たとえば、連続加工を一時停止する。
また、上述したスピンナテーブル80の場合と同様に、位置決めテーブル60の保持面62に載置されたウェーハ100が破損して一部が欠落している場合、位置決めテーブル60の保持面62(吸引溝63)に、ウェーハ100によって覆われていない露出部分621が発生する。また、保持面62に載置されたウェーハ100の反り量が大きい場合も、同様に、保持面62に露出部分621が発生する。
したがって、これらのような保持面62によって良好に保持することの困難な不適格なウェーハ100が保持面62に載置された場合にも、ウェーハ100が載置されていない場合と同様に、圧力センサ487によって測定される吸引配管481の圧力値が所定の閾値以下にならず、連続加工が一時停止されることがある。
そこで、本実施形態では、制御部7は、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならず、連続加工が一時停止された場合には、制御部7は、ウェーハ検知工程を実施する。この工程では、制御部7は、位置決め工程の前、すなわち、第1のカセット161あるいは第2のカセット163に収容されているウェーハ100を位置決めテーブル60に搬送する前に、つまり、位置決めテーブル60にウェーハ100を載置する前に、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を使って、位置決めテーブル60にウェーハ100が有るか無いかを検知する。
具体的には、制御部7は、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならない場合、連続加工を一時停止した後、図3に示すように、ロボット150の駆動部154を制御して、ロボットハンド151の吸着面152を位置決めテーブル60の保持面62上に配置する。そして、制御部7は、ロボットハンド151の吸着面152に備えられているウェーハ有無センサ153によって、保持面62におけるウェーハ100の有無を検知する。
この際、制御部7は、たとえば、位置決めテーブル60と、位置決めテーブル60の上方に配置されたロボットハンド151とを相対的に水平移動させながら、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を使って位置決めテーブル60にウェーハ100が有るか無いかを検知する。
たとえば、制御部7は、位置決め機構6の回転機構65を制御して位置決めテーブル60を低回転数で回転させるとともに、ロボット150の駆動部154の水平移動機構156を用いてロボットハンド151を水平方向に移動させる。これにより、ウェーハ有無センサ153により、保持面62の全面におけるウェーハ100の有無を検知することができる。
そして、制御部7は、保持面62の全面のどこにもウェーハ100がないと判断した場合には、位置決めテーブル60の保持面62にウェーハ100が載置されていないと判断する。この場合、制御部7は、たとえば、一時停止していたウェーハ100に対する連続加工を再開する。すなわち、制御部7は、ウェーハ検知工程にて位置決めテーブル60にウェーハ100が無いことが検知された場合に、連続加工を再開し、第1のカセット161あるいは第2のカセット163からウェーハ100を取り出して位置決めテーブル60に保持させて、このウェーハ100に対する位置決め工程を実施する。
一方、制御部7は、保持面62の全面あるいは一部にウェーハ100があると判断した場合には、保持面62によって良好に保持することの困難な不的確なウェーハ100が保持面62に載置されていると判断する。この場合、制御部7は、たとえば、ウェーハ100に対する連続加工の一時停止状態を維持したまま、通知工程を実施する。この工程では、制御部7は、作業者に情報を通知する通知部としてのタッチパネル9を用いて、不的確なウェーハ100が保持面62に載置されていることを作業者に通知する。すなわち、制御部7は、ウェーハ検知工程にて位置決めテーブル60にウェーハ100が有ることが検知された場合に、通知部としてタッチパネル9によって、ウェーハ100が位置決めテーブル60にあることを作業者に通知する。
このように、位置決めテーブル60によるウェーハ100の吸引保持に関しても、圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下にならずに連続加工が一時停止したときに、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153によって保持面62におけるウェーハ100の有無を検知することにより、位置決めテーブル60の保持面62におけるウェーハの有無を明確に検知することができる。
したがって、たとえば、保持面62に不適格なウェーハ100が載置されたままになっているにも関わらず、連続加工が再開されて、このウェーハ100に次のウェーハ100が重ねて配置されてウェーハ100が破損してしまうことを、良好に防止することが可能となる。
また、保持面62におけるウェーハ100の有無を、作業者が目視によって検知する必要がない。このため、作業効率を高めることができる。
なお、上記の実施形態では、位置決め機構6の圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下とならずに、ウェーハ100に対する連続加工、すなわち、保持工程、加工工程(粗研削工程および仕上げ研削工程)および洗浄工程を含むウェーハ加工工程が一時停止された場合に、制御部7がウェーハ検知工程を実施している。そして、制御部7は、位置決めテーブル60にウェーハ100がない場合にウェーハ加工工程を再開して位置決め工程を実施する一方、位置決めテーブル60にウェーハ100が有る場合に通知工程を実施している。
これに関し、制御部7は、ウェーハ検知工程を、作業者によって設定される所定のタイミングで位置決め工程の前に実施すればよい。たとえば、制御部7は、上述のように圧力センサ487の測定値が所定の閾値以下とならずに連続加工が一時停止した場合にウェーハ検知工程を実施してもよいし、ウェーハ100に対する位置決め工程を実施する際、常にあるいは定期的に、ウェーハ100を位置決めテーブル60に載置する前に、連続加工を停止してウェーハ検知工程を実施してもよい。
なお、本実施形態では、ロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を使ってスピンナテーブル80(位置決めテーブル60)の保持面82(保持面62)におけるウェーハ100の有無を検知する際、スピンナテーブル80(位置決めテーブル60)と、その上方に配置されたロボットハンド151とを相対的に水平移動させている。
これに関し、このような水平移動を実施することなく、スピンナテーブル80(位置決めテーブル60)の上方にロボットハンド151のウェーハ有無センサ153を配置することにより、ウェーハ100の有無を検知してもよい。ただし、上述の水平移動を実施することにより、ウェーハ100の有無をより良好に検知することができる。
また、このような水平移動に関しては、スピンナテーブル80(位置決めテーブル60)の回転およびロボットハンド151の水平移動の両方を実施してもよいし、いずれか一方のみを実施してもよい。
また、本実施形態では、チャックテーブル5に対してウェーハ100を搬出または搬入する搬送機構として、搬入機構170および搬出機構172を示している。これに関し、研削装置1は、これらの搬入機構170および搬出機構172を備えなくてもよい。この場合、たとえば、ロボット150が、チャックテーブル5に対してウェーハ100を搬出または搬入するように構成されてもよい。すなわち、この場合、ロボット150は、位置決めテーブル60に保持されているウェーハ100をロボットハンド151によって吸引保持して、チャックテーブル5の保持面50に載置するように構成されていてもよい。また、ロボット150は、チャックテーブル5に保持された仕上げ研削後のウェーハ100をロボットハンド151によって吸引保持して、スピンナ洗浄機構8のスピンナテーブル80に載置するように構成されていてもよい。
また、本実施形態では、加工装置の一例として、研削装置1を例示している。これに関し、本実施形態の加工装置は、ウェーハ100を吸引保持するテーブルとロボット150とを有する装置であれば、ウェーハ100を研磨する研磨装置およびウェーハ100をチップに分割する切削装置等の他の加工装置であってもよい。
1:研削装置、2:ターンテーブル、5:チャックテーブル、6:位置決め機構、
7:制御部、8:スピンナ洗浄機構、9:タッチパネル、10:第1の装置ベース、
11:第2の装置ベース、12:第1のコラム、13:第2のコラム、15:筐体、
20:粗研削送り機構、21:仕上げ研削送り機構、25:第1測定機構、
26:第2測定機構、30:粗研削機構、31:仕上げ研削機構、
40:流体流通機構、40a:流体流通機構、47:エア供給源、48:吸引源、
50:保持面、60:位置決めテーブル、61:テーブル板、62:保持面、
63:吸引溝、64:テーブル基台、65:回転機構、66:モータ、
67:シャフト、68:エンコーダ、69:中心位置検出部、
80:スピンナテーブル、81:ポーラス部材、82:保持面、83:枠体、
84:テーブル基台、85:回転機構、86:モータ、87:シャフト、
88:エンコーダ、89:ノズル、
100:ウェーハ、101:表面、103:裏面、
150:ロボット、151:ロボットハンド、152:吸着面、
153:ウェーハ有無センサ、154:駆動部、155:上下移動機構、
156:水平移動機構、157:反転機構、160:第1のカセットステージ、
161:第1のカセット、162:第2のカセットステージ、163:第2のカセット、
170:搬入機構、171:搬送パッド、172:搬出機構、173:搬送パッド、
200:ボールネジ、201:ガイドレール、202:モータ、203:昇降テーブル、
204:ホルダ、300:スピンドル、301:スピンドルハウジング、
302:スピンドルモータ、303:ホイールマウント、304:研削ホイール、
305:ホイール基台、306:粗研削砥石、310:仕上げ研削砥石、
401:搬出入領域、402:加工領域、403:テーブル内流路、
460:ロータリージョイント、470:エア流路、471:エア配管、
473:エア調整部、475:エア供給開閉弁、481:吸引配管、
483:吸引流量調整部、485:吸引開閉弁、487:圧力センサ、
621:露出部分、821:露出部分

Claims (4)

  1. カセットを載置するためのカセットステージと、
    ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに保持されたウェーハを加工する加工ユニットと、
    洗浄されるウェーハを吸引保持するスピンナテーブルと、
    該カセットステージに載置された該カセットに対してウェーハを搬出または搬入するためにウェーハを保持するロボットハンドを有するロボットと、を備える加工装置であって、
    該ロボットハンドは、ウェーハの有無を検知するウェーハ有無センサを備え、
    該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する制御部をさらに備え、
    該制御部は、該スピンナテーブルと、該スピンナテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って、該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する、
    加工装置。
  2. カセットを載置するためのカセットステージと、
    ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに保持されたウェーハを加工する加工ユニットと、
    該チャックテーブルに保持させるウェーハの位置決めをするための位置決めテーブルと、
    該カセットステージに載置された該カセットに対してウェーハを搬出または搬入するためにウェーハを保持するロボットハンドを有するロボットと、を備える加工装置であって、
    該ロボットハンドは、ウェーハの有無を検知するウェーハ有無センサを備え、
    該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する制御部をさらに備え、
    該制御部は、該位置決めテーブルと、該位置決めテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って、該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知する、
    加工装置。
  3. 請求項1記載の加工装置を用いてウェーハを加工するウェーハの加工方法であって、
    該チャックテーブルにウェーハを保持させる保持工程と、
    該ウェーハを該加工ユニットによって加工する加工工程と、
    該加工後のウェーハを該スピンナテーブルに保持させ該ウェーハを洗浄する洗浄工程と、
    所定のタイミングで該洗浄工程の前に実施される、該スピンナテーブルと該スピンナテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該スピンナテーブルにウェーハが有るか無いかを検知するウェーハ検知工程と、を含み、
    該ウェーハ検知工程にて該スピンナテーブルにウェーハが無いことが検知された場合に、該洗浄工程が実施される一方、
    該ウェーハ検知工程にて該スピンナテーブルにウェーハが有ることが検知された場合に、該加工装置の通知部によってウェーハが該スピンナテーブルにあることを作業者に通知する通知工程が実施される、
    ウェーハの加工方法。
  4. 請求項記載の加工装置を用いてウェーハを加工するウェーハの加工方法であって、
    該カセットからウェーハを取り出して該位置決めテーブルに保持させ該ウェーハの位置決めを実施する位置決め工程と、
    該位置決め工程が実施された該ウェーハを該チャックテーブルに保持させる保持工程と、
    該ウェーハを該加工ユニットによって加工する加工工程と、
    所定のタイミングで該位置決め工程の前に実施される、該位置決めテーブルと該位置決めテーブルの上方に配置された該ロボットハンドとを相対的に水平移動させながら、該ロボットハンドの該ウェーハ有無センサを使って該位置決めテーブルにウェーハが有るか無いかを検知するウェーハ検知工程と、を含み、
    該ウェーハ検知工程にて該位置決めテーブルにウェーハが無いことが検知された場合に該位置決め工程が実施される一方、
    該ウェーハ検知工程にて該位置決めテーブルにウェーハが有ることが検知された場合に、該加工装置の通知部によってウェーハが該位置決めテーブルにあることを作業者に通知する通知工程が実施される、
    ウェーハの加工方法。
JP2024201531A 2024-03-05 2024-11-19 加工装置およびウェーハの加工方法 Active JP7849446B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US19/056,918 US20250282019A1 (en) 2024-03-05 2025-02-19 Processing apparatus and wafer processing method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2024032860 2024-03-05
JP2024032860 2024-03-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2025135545A JP2025135545A (ja) 2025-09-18
JP7849446B2 true JP7849446B2 (ja) 2026-04-21

Family

ID=97065720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2024201531A Active JP7849446B2 (ja) 2024-03-05 2024-11-19 加工装置およびウェーハの加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7849446B2 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019201107A (ja) 2018-05-16 2019-11-21 東京エレクトロン株式会社 現像処理装置および現像処理方法
JP2021129023A (ja) 2020-02-13 2021-09-02 東京エレクトロン株式会社 搬送装置の教示方法及び処理システム
JP2021132181A (ja) 2020-02-21 2021-09-09 株式会社ディスコ 加工装置
JP2023105336A (ja) 2022-01-19 2023-07-31 株式会社荏原製作所 基板搬送方法、基板処理装置、および記録媒体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019201107A (ja) 2018-05-16 2019-11-21 東京エレクトロン株式会社 現像処理装置および現像処理方法
JP2021129023A (ja) 2020-02-13 2021-09-02 東京エレクトロン株式会社 搬送装置の教示方法及び処理システム
JP2021132181A (ja) 2020-02-21 2021-09-09 株式会社ディスコ 加工装置
JP2023105336A (ja) 2022-01-19 2023-07-31 株式会社荏原製作所 基板搬送方法、基板処理装置、および記録媒体

Also Published As

Publication number Publication date
JP2025135545A (ja) 2025-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100472959B1 (ko) 언로딩구조가 개선된 반도체 웨이퍼의 표면평탄화설비
TWI861358B (zh) 加工裝置
JP2018140450A (ja) 研削装置
JP7042340B2 (ja) 加工装置、加工方法及びコンピュータ記憶媒体
JP7474150B2 (ja) テープ研削の後ウェーハ研削する研削方法及び研削装置。
JP7841940B2 (ja) ウェーハの研削方法及び研削装置
JP7849214B2 (ja) ウェーハの加工装置と洗浄装置及び洗浄方法
JP7145084B2 (ja) 基板処理装置および基板処理装置において部分研磨されるべき領域を特定する方法
JP2021169126A (ja) 研削研磨装置
JP7849446B2 (ja) 加工装置およびウェーハの加工方法
JP7303709B2 (ja) 加工装置
US20250282019A1 (en) Processing apparatus and wafer processing method
JP7421405B2 (ja) 加工装置
JP7593878B2 (ja) 加工装置、加工装置の電源遮断方法および加工装置の使用準備方法
JP6906312B2 (ja) 研磨装置
JP2010005717A (ja) 加工装置
JP2003257912A (ja) 半導体ウエーハの洗浄装置
JP3465074B2 (ja) 研削加工方法及び研削システム
TWI891857B (zh) 加工裝置
JP7772562B2 (ja) 研削装置、及び加工装置
JP7812705B2 (ja) 加工装置
JP2023171983A (ja) 研削装置
JP2024013274A (ja) 吸引保持監視方法、及び加工装置
KR20230111141A (ko) 연삭 장치
JP2024111456A (ja) ウエーハの研削方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20250221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20260122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20260127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20260203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20260317

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20260409

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7849446

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150