JPS581864B2

JPS581864B2 - 専用回線出合試験装置

Info

Publication number: JPS581864B2
Application number: JP10419977A
Authority: JP
Inventors: 高橋秀一; 石山清吾; 渡辺亮二
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: NTT Inc
Priority date: 1977-09-01
Filing date: 1977-09-01
Publication date: 1983-01-13
Also published as: JPS5438712A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は本配線盤（以下ＭＤＦと略称する）、避雷器弾
器（以下ＡＲＲと略称する）等に収容されている電電公
社各種規格の専用回線について、電鍵の操作のみで簡単
に出合い、および各種試験（容量、絶縁抵抗、導体抵抗
、接地抵抗、呼出、通話試験等）ができる装置に関する
ものである。

従来、電話局市内試験部門における専用回線の試験は、
次のように行なわれているが、それぞれ欠点がある。

（１）ＰＤ（耐圧３０Ｖ１Ｗ）挿入の回線に対しては、
自動局線路試験架（以下ＬＴＦと略称する）の信号電圧
（Ａ．Ｃ７５Ｖ）の送出や、回線試験電圧（ＤＣ４８Ｖ
）の印加をさけ、通称テスター等の低い電圧によるもの
で、絶縁試験や導体抵抗試験等を実施している。

（２）ＬＴＦは加入電話の試験を主体として開発された
ため４Ｗ回線に対する出合い等の機能がなく、そのため
４Ｗ回線に対応するにはＬＴＦを２座席使用するか、別
途備え付けの特聴アンプを２台使用するか、特聴アンプ
と受話器等を併用するか等その都度準備し、対応してい
る。

（３）専用回線の端末設備は加入者宅内に設置されるた
め、上位端末と下位端末の双方に対し出合いや試験を必
要とするため、その都度ＭＤＦまたはＡＲＲにおいてプ
ラグの挿入替えを必要とする。

またＬＴＦによる試験が可能な回線でもプラグ挿入等や
差替えのためＬＴＦとＭＤＦ間の往復に要する時間が加
わる。

（４）専用回線の試験担当局所は複数以上介在するのが
大半であり、障害や開通等の出合いや試験時には回線監
視のため聴話等を要するためＭＤＦ等に要員の所謂貼り
付けが必要である。

本発明は上記のような従来技術の欠点を解決し、１回の
プラグ挿入により各種規格の専用回線についても、また
上位端末下位端末いずれの方向にも電鍵の操作のみで出
合いができるとともに、各種試験や聴話、割込み等に簡
単に対応でき、専用回線に対する出合いや試験等の簡便
化、能率化をはかった専用回線出合試験装置を提供する
ものである。

以下図面を用いて詳細に説明する。

第１図主装置と外部電源及びＭＤＦ，又はＡＲＲへの接
続関係を示す。

（イ）外部からの電源としては公社Ｄ２規格による端末
が電話機の専用回線の呼出信号用電源（ＡＣ７５Ｖ）及
び通話用等の電源（ＤＣ４８Ｖ）を接続するためのプラ
グから供給される。

（ロ）ＭＤＦ又はＡＲＲプラグはＬ１、Ｌ２の上位端末
方面、下位端末方而対応の４心線のものを２個設備し、
ＳＬ（又は２Ｗ回線）用として１個、４Ｗ回線対応のＲ
Ｌ用として１個を使用した。

（ハ）主装置には関係図面に記載したすべてを内蔵させ
たものである。

第２図はＭＤＦ又はＡＲＲプラグと２５６（または２５
４）試験弾器又はＡＲＲ弾器との接続図で、プラグの挿
入により、（イ）上位端末方面に対しては試験装置への回路又は通
話回路が接続される。

（ロ）下位端末方面は、スピーカーによる聴話回路が接
続される。

（ハ）ａ１〜ａ４接点はプラグ挿入時通話中等に対し、
回線への影響を防止するため挿入したものである。

第３図ａ，ｂ，ｃは主装置の回路を示しており、対応す
る端子が相互に接続される。

（１）プラグを弾器に挿入することにより若し通話中の
場合には影響を与えることなく、スピーカーによる聴話
等が可能である。

（２）２Ｗ回線への出合い等の場合、Ｎｏ．１プラグを
該当試験弾器等に挿入する。

（イ）上位端末への出合等Ａ）ＯＵＴ電鍵の操作によりＡ及びＢ継電器が動作し、
ａ１、ａ２、ａ３、ａ４接点により上位、下位それぞれ
の端末方面が分離され、上位端末方面はｂ１、ｂ２、ｂ
３、ｂ４の動作接点及び電鍵ならびにｄ１、ｄ２の平常
接点を経て１号回路計（テスター）の回路へ接続される
。

また下位端末方面はｃ１、ｃ２、ｃ３、ｃ４の平常接点
によりスピーカー回路に接続となり、聴話及び監視が可
能となる。

Ｂ）上位端末方面はＭＥＴ電鍵の操作により、回線の容
量、絶縁ならびに導体抵抗試験及びアース試験等が可能
である。

また上位端末や上位試験局等の要請による回線の断、短
絡、接地等がそれぞれの電鍵Ｌ１Ｅ，Ｌ２Ｅ，ＳＳＨＯＲＴの操作により対応することができ
る。

Ｃ）ＳＰＫ電鍵の操作によりＤ継電器が動作し、ｄ１、
ｄ２の動作接点、ｇ１、ｇ２、ｇ３、ｇ４、ｇ５、ｇ６
、ｇ７、ｇ８の平常接点を経て送受話器Ｔ，Ｒの回路に
接続され通話が可能となる。

Ｄ）専用回線がＤ２規格における端末が自動式電話機の
場合、ＢＡＴＴ電鍵の操作により、端末電話機との通話
が可能である。

またこの場合における端末電話機に対する呼出信号は、
ＲＩＮＧ電鍵の操作による。

Ｅ）接続されている回線についてＬ１、Ｌ２の転極を要
する場合はＲＥＶ（２Ｗ）電鍵を操作する。

（ロ）下位端末への出合等Ａ）ＩＮ電鍵の操作によりＡ及びＣ継電器が動作し、ａ
１、ａ２、ａ３、ａ４及びｃ１、ｃ２、ｃ３、ｃ４４の
動作接点により下位端末方面が試験機方面の回路に接続
される。

この場合上位端末方面はｂ１，ｂ２，ｂ３，ｂ４の平常
接点によりスピーカー回路に接続となり聴話等が可能さ
なる。

Ｂ）試験又は通話等は前記（イ）項と同様である。

（３）４Ｗ回線への出合等の場合はＮｏ．１プラグをＳ
Ｌ，Ｎｏ．２プラグをＲＬ対応の試験弾器等に挿入する
。

（イ）上位端末方面への出合いか又は下位端末方面への
出合いかによりＯＵＴ又はＩＮ電鍵を操作する。

この操作による継電器の動作は２Ｗ回線と同様である。

（ロ）ＴＲ４Ｗ電鍵の操作によりＧ継電器が動作し、ｇ
１〜ｇ８の動作接点により、Ｎｏ．１プラグ挿入回線に
送話回路がＮｏ．２プラグ挿入回線に受話回路が、それ
ぞれ接続され、ＳＰＫ電鍵の操作でｄ１、ｄ２の動作接
点により通話が可能となる。

（ハ）上位端末方面か、下位端末方面かにより、ＳＬ，
ＲＬと反対となるので、その場合ＲＥＶ（４Ｗ）電鍵の操作により対応ができる。

（ニ）回線の試験については２Ｗ回線き同様であるが、
ＲＬ対応回線の試験の場合には（ハ）項と同様ＲＥＶ（
４Ｗ）電鍵を操作することにより可能である。

（４）割込みについてＯＦＦ２Ｗ又はＯＦＦ４Ｗ電鍵の操作により、Ｅ（４Ｗ
の場合はＥ、及びＦ）継電器が動作し、その動作接点及
びｂ１、ｂ２、ｂ３、ｂ４ならびにｃ１、ｃ２、ｃ３、
ｃ４の平常接点により割込みができる。

但し４Ｗ回線への割込みにはＴＲ４Ｗ電鍵も合わせて操
作する。

またこの場合スピーカー回路にも接続される。

（５）ランプ表示について現在の操作内容について可視表示をする目的で主要と思
われる６点について、ランプが点火するように設備した
。

（６）その他イ）聴話時等において、送話回路を断とすることを目的
としてＴＣＯ電鍵が用いられる。

ロ）スピーカー回路に挿入したトランス、ＩＣ等は市販
のものを使用したので説明は省略する。

本発明装置は従来の出合いや試験方法に比し、次のよう
な利点がある。

（１）１回のプラグ挿入のみですべて対応でき、他の試
験機器の準備や持運びが不要となり、またＬＴＦとＭＤ
Ｆ間の往復等の時間も不要となり、作業が大巾にスピー
ドアップされた。

（２）他の試験機器が他の用途に供されている場合の代
替品の準備等が不要となったほか、それぞれの配備機器
が本来の目的に常時活用されることができる。

（３）専用回線は、その性格上迅速な試験が要求されて
おり、それらの要求にマツチした機能のものとなり能率
的である。

（４）端末設備の機器やＰＤ（回線保護装置）等に対す
る影響を与えることなく要求される試験等が可能となっ
た。

【図面の簡単な説明】

第１図は主装置から外部への接続を示すブロック図、第
２図はＭＤＦ試験弾器又はＡＲＲ弾器へのプラグ挿入の
状況を示す回路図、第３図ａ、ｂ、ｃは本発明装置の実
施例を示す回路図である。

Claims

【特許請求の範囲】

１それぞれ２Ｗ回線の専用線収容弾器に接続される２
対のプラグと、回路計と、スピーカ回路と、前記２対の
プラグのうちの一方に接続される２Ｗ回線に対して電鍵
操作で上位局側に前記回路計を接続するとともに下位局
側に前記スピーカ回路を接続する接続手段と、前記２対
のプラグのうちの一方に接続される２Ｗ回線に対して電
鍵操作で送話回路を接続し他方の２Ｗ回線に対して受話
回路を接続する接続手段と、前記２対のプラグのうちの
一方に接続される２Ｗ回線に電鍵操作で送受話回路を接
続する接続手段とを備えて２Ｗ回線および４Ｗ回線に対
する必要な出合試験ができるように構成した専用回線出
合試験装置。