JPS5819074B2 - コンデンサの検査方法 - Google Patents
コンデンサの検査方法Info
- Publication number
- JPS5819074B2 JPS5819074B2 JP51088327A JP8832776A JPS5819074B2 JP S5819074 B2 JPS5819074 B2 JP S5819074B2 JP 51088327 A JP51088327 A JP 51088327A JP 8832776 A JP8832776 A JP 8832776A JP S5819074 B2 JPS5819074 B2 JP S5819074B2
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- JP
- Japan
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- capacitor
- voltage
- measurement
- charging
- measured
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- Expired
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電解コンデンサなどの有極性のコンデンサの検
査方法に関する。
査方法に関する。
通常この種のコンデンサはベルトコンベヤ等で搬送しな
がら短絡の有無、リーケージ電流、Ｃｔａｎδの測定の
順に検査を行なう。
がら短絡の有無、リーケージ電流、Ｃｔａｎδの測定の
順に検査を行なう。
そして夫々の検査工程の前にその検査に必要な電圧値ま
でコンデンサを充電する工程があるのが普通である。
でコンデンサを充電する工程があるのが普通である。
ところでリーケージ電流の測定においてはコンデンサに
高電圧を充電する必要があるが、次のＣｔａｎδ測定工
程では１．５Ｖ程の低い充電々圧で良いために、リーケ
ージ電流の測定をし終えたコンデンサをそのまま次工程
に送ることはできず、その充電された高電圧を放電する
工程が必要である。
高電圧を充電する必要があるが、次のＣｔａｎδ測定工
程では１．５Ｖ程の低い充電々圧で良いために、リーケ
ージ電流の測定をし終えたコンデンサをそのまま次工程
に送ることはできず、その充電された高電圧を放電する
工程が必要である。
このため工程数の増加が避けられないものとなっている
のであるが、この不利益に加えて、高電圧に充電されて
いるためにそれを放電するのに長時間を要するという作
業能率面での欠点ももっているものである。
のであるが、この不利益に加えて、高電圧に充電されて
いるためにそれを放電するのに長時間を要するという作
業能率面での欠点ももっているものである。
即ち高電圧に充電されているコンデンサの端子間を短絡
すると短時間に放電することができるが、これではサー
ジ電流を発生してコンデンサを損壊することになるため
、高抵抗を接続して徐々に、即ち時間をかけて放電せね
ばならないのである。
すると短時間に放電することができるが、これではサー
ジ電流を発生してコンデンサを損壊することになるため
、高抵抗を接続して徐々に、即ち時間をかけて放電せね
ばならないのである。
通常この放電に要する時間は１０ｓｅｃ程である。
しかもこの放電を完了した後に今度はＣｔａｎδの：測
定に必要な充電々圧に充電せねばならず、この充電時間
も加味するとり一ケージ電流を測定してからＣｔａｎδ
を測定するまでには相当長時間を要するものである。
定に必要な充電々圧に充電せねばならず、この充電時間
も加味するとり一ケージ電流を測定してからＣｔａｎδ
を測定するまでには相当長時間を要するものである。
この点にあって本発明はり一ケージ電流測定に１要する
充電々圧よりも次工程の測定に要する充電電圧が低いと
いう点に着目し、リーケージ電流測定後の放電工程を改
良してその放電の過程で一挙に次工程の測定に要する充
電々圧を得るようにし、もって前記従来のコンデンサ検
査方法における欠）点及び不利益を解消しようとするも
のである。
充電々圧よりも次工程の測定に要する充電電圧が低いと
いう点に着目し、リーケージ電流測定後の放電工程を改
良してその放電の過程で一挙に次工程の測定に要する充
電々圧を得るようにし、もって前記従来のコンデンサ検
査方法における欠）点及び不利益を解消しようとするも
のである。
以下に本発明のコンデンサの検査方法を説明す礼
第１図はコンデンサの各種検査を示す工程図で、ベルト
コンベヤ等で搬送されつつあるコンデンサ１はまず第１
の充電工程１で所要の電圧まで充電されて短絡検査工程
２に送られ短絡の有無が検査される。
コンベヤ等で搬送されつつあるコンデンサ１はまず第１
の充電工程１で所要の電圧まで充電されて短絡検査工程
２に送られ短絡の有無が検査される。
この検査結果で良品と判定されると第２の充電工程３に
て所要の電圧に再充電されてリーケージ電流測定工程４
に送られ、リーケージ電流のノ測定がなされる。
て所要の電圧に再充電されてリーケージ電流測定工程４
に送られ、リーケージ電流のノ測定がなされる。
次に該測定工程４でも良品と判定されたコンデンサは放
電工程５に送られ、その充電々圧が放電されるのである
が、この工程５には後に述べるクランプ回路を用いてい
るので、完全に放電されずに次工程６での測定に必要の
充電；電圧例えば１．５■にクランプされる。
電工程５に送られ、その充電々圧が放電されるのである
が、この工程５には後に述べるクランプ回路を用いてい
るので、完全に放電されずに次工程６での測定に必要の
充電；電圧例えば１．５■にクランプされる。
そして該工程５で所要の充電々圧にクランプされたコン
デンサは次のＣｔａロδ測定工程に送られ、Ｃｔａ口δ
の測定がなされて全検査工程を終了する。
デンサは次のＣｔａロδ測定工程に送られ、Ｃｔａ口δ
の測定がなされて全検査工程を終了する。
第２図は前記放電工程５に用いているクランプ回路を示
し、Ｃｘはリーケージ電流測定を終えた被測定用コンデ
ンサで既述したように高電圧に充電されている。
し、Ｃｘはリーケージ電流測定を終えた被測定用コンデ
ンサで既述したように高電圧に充電されている。
Ｒは放電抵抗で前記被測定コンデンサＣｘが接続される
と同時にこの放電抵抗Ｒを通じて放電を始める。
と同時にこの放電抵抗Ｒを通じて放電を始める。
周知のようにこの放電の時定数はＣｘＲである。
Ｅは次工程６での測定用バイアス電源でこの電源Ｅとダ
イオードＤとて被測定コンデンサＣｘを所要の電圧にク
ランプする働きを行なう。
イオードＤとて被測定コンデンサＣｘを所要の電圧にク
ランプする働きを行なう。
即ち、リーケージ電流を測定し終えたコンデンサＣｘが
第２図に示すように接続されるとまず充電されている高
電圧を放電抵抗Ｒを通じて放電してゆくが、該コンデン
サＣｘの端子間電圧がバイアス電源Ｅの電圧と等しくな
るまで低下すると、ダイオードＤを介してバイアス電源
Ｅによって充電されるため、それ以下の電圧に降下する
ことはなく、当該バイアス電圧にクランプされるのであ
る。
第２図に示すように接続されるとまず充電されている高
電圧を放電抵抗Ｒを通じて放電してゆくが、該コンデン
サＣｘの端子間電圧がバイアス電源Ｅの電圧と等しくな
るまで低下すると、ダイオードＤを介してバイアス電源
Ｅによって充電されるため、それ以下の電圧に降下する
ことはなく、当該バイアス電圧にクランプされるのであ
る。
本発明に係るコンデンサの検査方法は以上のようニ被測
定コンデンサのリーケージ電流測定後の放電工程におい
て、同コンデンサにダイオード、一定電圧のバイアス電
源との直列回路を順方向に接続することにより、被測定
コンデンサの端子電圧を次工程の測定に必要なバイアス
電源に等しい電圧にクランプするものであるから、放電
工程という単一の工程で済み工程数の低減が図れる吉共
に、従来のように完全に放電してから充電する如き方法
に比べて大幅に時間短絡ができ作業能率の向上が期待で
きるものである。
定コンデンサのリーケージ電流測定後の放電工程におい
て、同コンデンサにダイオード、一定電圧のバイアス電
源との直列回路を順方向に接続することにより、被測定
コンデンサの端子電圧を次工程の測定に必要なバイアス
電源に等しい電圧にクランプするものであるから、放電
工程という単一の工程で済み工程数の低減が図れる吉共
に、従来のように完全に放電してから充電する如き方法
に比べて大幅に時間短絡ができ作業能率の向上が期待で
きるものである。
尚、Ｃ、ｔａｎδの測定には被測定コンデンサに交流電
圧が印加されるが、本発明方法の直流バイアス法を適用
しない場合にはＣｔａ口δの測定の際にリーケージ電流
が流れてｔａｎδがみかけ上増えているようになり測定
精度が悪いものであり、高精度の測定を行なうためには
充分に充電してからでないと測定できないという欠点が
あったが、本発明の方法を適用すると、即ちそのＣｔａ
ｎδの測定工程の前の放電工程で、所要の充電々圧にク
ランプするようにすると、工程数は増加することなく前
述した欠点を解消し得るものである。
圧が印加されるが、本発明方法の直流バイアス法を適用
しない場合にはＣｔａ口δの測定の際にリーケージ電流
が流れてｔａｎδがみかけ上増えているようになり測定
精度が悪いものであり、高精度の測定を行なうためには
充分に充電してからでないと測定できないという欠点が
あったが、本発明の方法を適用すると、即ちそのＣｔａ
ｎδの測定工程の前の放電工程で、所要の充電々圧にク
ランプするようにすると、工程数は増加することなく前
述した欠点を解消し得るものである。
第１図は本発明に係るコンデンサの検査方法の一実施例
を示すブ爾ツク図、第２図は本発明の方法の主要な動作
を行なう一例としての電気回路図である。
を示すブ爾ツク図、第２図は本発明の方法の主要な動作
を行なう一例としての電気回路図である。
Claims (1)
- １ 有極性の被測定コンデンサのり一ケージ電流測定後
の放電工程において、同コンデンサにダイオード、一定
電圧のバイアス電源との直列回路を順方向に接続するこ
とにより、被測定コンデンサの端子電圧を次工程の測定
に必要なバイアス電源に等しい電圧にクランプすること
を特徴とするコンデンサの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51088327A JPS5819074B2 (ja) | 1976-07-23 | 1976-07-23 | コンデンサの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51088327A JPS5819074B2 (ja) | 1976-07-23 | 1976-07-23 | コンデンサの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5313156A JPS5313156A (en) | 1978-02-06 |
| JPS5819074B2 true JPS5819074B2 (ja) | 1983-04-15 |
Family
ID=13939786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51088327A Expired JPS5819074B2 (ja) | 1976-07-23 | 1976-07-23 | コンデンサの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819074B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57138066U (ja) * | 1981-02-23 | 1982-08-28 |
-
1976
- 1976-07-23 JP JP51088327A patent/JPS5819074B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5313156A (en) | 1978-02-06 |
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