JPS5819987B2 - AE - Google Patents
AEInfo
- Publication number
- JPS5819987B2 JPS5819987B2 JP50109646A JP10964675A JPS5819987B2 JP S5819987 B2 JPS5819987 B2 JP S5819987B2 JP 50109646 A JP50109646 A JP 50109646A JP 10964675 A JP10964675 A JP 10964675A JP S5819987 B2 JPS5819987 B2 JP S5819987B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- multiplied
- amplitude
- defect
- multiplied signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被測定物から発生するAE倍信号アコース
ティック・エミッション信号)を検出し、被測定物中の
欠陥位置を標定する装置の改良に関し更に詳しくは一組
のAE信号変換子により得られたAE倍信号振幅値を伝
播距離を考慮して比較し、適正な位置計算結果のみを出
力するようにしたAE信号判別装置に関するものである
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improvement of an apparatus for detecting an AE multiplied signal (acoustic emission signal) generated from an object to be measured and locating a defect position in the object to be measured. The present invention relates to an AE signal discrimination device that compares AE multiplied signal amplitude values obtained by a signal converter in consideration of propagation distance and outputs only appropriate position calculation results.
固体材料に外力が作用すると、欠陥箇所からAE倍信号
放出され、固体材料中を伝播する。When an external force acts on a solid material, an AE multiplied signal is emitted from the defective location and propagates through the solid material.
かかる音響放出現象を利用して、原子炉圧力容器や一次
冷却系配管などの構造物の稼動中に生ずる各種欠陥の進
展を監視すると共に、それらの健全性を常時診断し、そ
れらの構造物の安全性を確保することができる。Utilizing this acoustic emission phenomenon, we can monitor the progress of various defects that occur during the operation of structures such as reactor pressure vessels and primary cooling system piping, constantly diagnose their health, and Safety can be ensured.
このようなAE倍信号よる欠陥位置標定は、被測定物に
貼設した一組のAE信号変換子へのAE倍信号到達時間
差と到達順位を測定し、AE信号伝播速度との関係から
AE信号発生位置を算出して行っている。Defect position locating using such an AE multiplied signal involves measuring the arrival time difference and arrival order of the AE multiplied signal to a set of AE signal converters attached to the object to be measured, and determining the AE signal from the relationship with the AE signal propagation speed. This is done by calculating the location of the occurrence.
ところで、AE信号変換子によって検出される音響はA
E倍信号みならず測定環境による種々の雑音も含まれ、
従って質のよい解析結果を得るためにはかトる雑音によ
る測定誤差を排除する必要がある。By the way, the sound detected by the AE signal converter is A
It includes not only the E-fold signal but also various noises due to the measurement environment.
Therefore, in order to obtain high-quality analysis results, it is necessary to eliminate measurement errors caused by harsh noise.
この発明はか5る実情に鑑みなされたもので、その目的
とするところは、被測定物の真の欠陥位置を高精度で標
定し得るようにしたAE倍信号よる欠陥位置標定装置の
信号判別装置を提供することにある。This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to identify the signal of a defect position locating device using an AE multiplied signal so that the true defect position of the object to be measured can be located with high precision. The goal is to provide equipment.
この発明はAE倍信号被測定物中を伝播するとき、一定
の関係式に従ってその振幅が減衰することを利用してな
されたもので、一組のAE信号変換子に到達するAE倍
信号到達時間差と到達順位とからAE倍信号発生位置を
標定する装置において、信号発生位置計算結果と前記各
AE信号変換子からのAE倍信号振幅値とを夫々減衰補
正計算器に導き、各振幅補正結果を比較回路に導入して
比較し、それらの値がほぼ等しい場合のみ位置計算結果
を出力するようにした信号判別装置である。This invention was made by taking advantage of the fact that when an AE multiplied signal propagates through an object under test, its amplitude attenuates according to a certain relational expression, and the difference in arrival time of the AE multiplied signal to a set of AE signal converters is In the apparatus for locating the AE multiplied signal generation position from This is a signal discriminating device that is installed in a comparator circuit to compare the values, and outputs a position calculation result only when the values are approximately equal.
以下図面に基づきこの発明について詳述する。The present invention will be explained in detail below based on the drawings.
図面はこの発明の一実施例のブロック図であり、被測定
物が1次元構造物の場合について適用した例である。The drawing is a block diagram of an embodiment of the present invention, and is an example in which the object to be measured is a one-dimensional structure.
被測定物1の両端適宜箇所に一対のAE信号変換子2a
、2bが貼設されている。A pair of AE signal converters 2a are installed at appropriate locations on both ends of the object to be measured 1.
, 2b are attached.
各AE信号変換子2a 、2bからの出力は夫々アンプ
/フィルタ3a 、3b及びピークホールド回路4a、
4bに接続された後、時間差測定回路5に導かれ、更に
信号位置計算装置6へ送られる。The output from each AE signal converter 2a, 2b is an amplifier/filter 3a, 3b and a peak hold circuit 4a, respectively.
4b, the signal is guided to a time difference measuring circuit 5, and further sent to a signal position calculation device 6.
また、前記アンプ/フィルタ3a 、3bからの出力は
到達順位弁別回路7に送られ、到達順位に関する信号は
前記の信号位置計算装置6へ送られる。Further, the outputs from the amplifiers/filters 3a and 3b are sent to the arrival order discrimination circuit 7, and the signal regarding the arrival order is sent to the signal position calculation device 6.
ピークホールド回路4a、4bからのAE倍信号振幅電
圧と、信号位置計算装置6からのAE信号位置情報とを
減衰補正計算器7a、7bに送り、その出力を比較回路
8に導き、該比較回路8からの出力により位置計算結果
の出力を制御するのである。The AE multiplied signal amplitude voltage from the peak hold circuits 4a and 4b and the AE signal position information from the signal position calculation device 6 are sent to the attenuation correction calculators 7a and 7b, and the output thereof is led to the comparator circuit 8. The output from 8 controls the output of the position calculation results.
次にこの装置の動作について説明する。Next, the operation of this device will be explained.
被測定物1のD点(変換子2a寄りの点)に欠陥がある
ものと仮定すると、D点で発生したAE倍信号被測定物
中を伝播する。Assuming that there is a defect at point D (point near the transducer 2a) of the object to be measured 1, the AE multiplied signal generated at the point D propagates through the object to be measured.
この機械的AE倍信号AE信号変換子2a 、2bによ
り電気信号に変換される訳であるが、今欠陥りが変換子
2a寄りにあるとしているので、変換子2aの方に早<
AE倍信号現われることになる。This mechanical AE multiplied signal is converted into an electrical signal by the AE signal converters 2a and 2b, but since it is assumed that the defect is near the converter 2a, it is faster to convert the signal to the converter 2a.
The AE multiplied signal will appear.
このように電気信号に変換されたAE倍信号夫々アンプ
/フィルタ3 a y3bに送られる。The AE multiplied signals thus converted into electrical signals are sent to the amplifier/filters 3a and 3b, respectively.
アンプ部によって微小AE倍信号適宜の振幅に増幅し、
フィルタ部によって環境雑音の比較的多い低周波成分を
減衰させ、AE倍信号S/N比を向上させている。The amplifier section amplifies the minute AE multiplied signal to an appropriate amplitude,
The filter section attenuates relatively large low frequency components of environmental noise, improving the AE multiplied signal S/N ratio.
かくして得られたAE倍信号ピークホールド回路4a
、4bに送られる。The thus obtained AE multiplied signal peak hold circuit 4a
, 4b.
このピークホールド回路4a 、4bは入力信号の最も
高いレベルを予め設定した一定時間だけ保持する機能を
有する回路であり、このようにして得られたピークホー
ルド信号の立下り部を測定の基準とし、時間差測定回路
5で両ピークホールド信号の立下り時の時間差を測定す
る。The peak hold circuits 4a and 4b are circuits that have the function of holding the highest level of the input signal for a preset period of time, and use the falling part of the peak hold signal obtained in this way as a reference for measurement. A time difference measuring circuit 5 measures the time difference between the falling edges of both peak hold signals.
次に到達順位弁別回路7は、AE倍信号どちらの変換子
に先に到達したかを判別するもので、これによって欠陥
が変換子2a寄りにあるか、変換子2b寄りにあるかを
判断することができる。Next, the arrival order discrimination circuit 7 determines which converter the AE multiplied signal reaches first, and thereby determines whether the defect is closer to the converter 2a or closer to the converter 2b. be able to.
以上の到達時間差に関する情報と到達順位に関する情報
は信号位置計算装置6へ送られ、AE信号伝播速度との
関係からAE倍信号発生位置を計算するのである。The above information regarding the arrival time difference and the information regarding the arrival order are sent to the signal position calculation device 6, and the AE multiplied signal generation position is calculated from the relationship with the AE signal propagation speed.
原理的には以上の装置によって欠陥位置の標定か可能で
あるが、前述したように変換子によって検出される電気
信号には、欠陥から発生する真正のAE倍信号環境雑音
が混入することは避けられず、したがってピークホール
ドした信号が常に真正なAE倍信号あるという保障は全
くない。In principle, it is possible to locate the defect location using the above device, but as mentioned above, it is necessary to avoid mixing the electrical signal detected by the transducer with the true AE multiplied signal environmental noise generated from the defect. Therefore, there is no guarantee that the peak held signal is always the true AE multiplied signal.
もし、ピークホールドした信号が環境雑音にもとずく場
合にはか\るピークホールド信号によって求めた欠陥位
置は誤りであること明らかである。If the peak-held signal is based on environmental noise, it is obvious that the defect location determined by the peak-held signal is incorrect.
ところで、AE倍信号伝播によりその振幅が減衰する。By the way, the amplitude is attenuated due to the AE multiplied signal propagation.
1次元構造物の場合、実験結果によれば伝播してきたA
E倍信号振幅値Eと発生位置での振幅値Eoとの間には
、
なる関係が成立つ。In the case of a one-dimensional structure, according to experimental results, the propagated A
The following relationship holds between the E-fold signal amplitude value E and the amplitude value Eo at the generation position.
ここでLは信号の伝播距離、Cは比例定数である。Here, L is the signal propagation distance and C is the proportionality constant.
したがって、測定したAE信号振幅値Eと伝播距離りと
から発生位置での振幅値Eoを求めることができる。Therefore, the amplitude value Eo at the generation position can be determined from the measured AE signal amplitude value E and the propagation distance.
減衰補正計算器7a 、7bはピークホールド回路4a
、4bによって得られたAE倍信号振幅値と、信号位
置計算装置6によって得られた欠陥位置に関する不確定
的情報とによって、上記の減衰式に従った演算処理をし
、発生位置でのAE信号振幅値を求めるものである。Attenuation correction calculators 7a and 7b are peak hold circuits 4a
, 4b and the uncertain information regarding the defect position obtained by the signal position calculation device 6, the arithmetic processing is performed according to the above attenuation formula, and the AE signal at the occurrence position is calculated. This is to find the amplitude value.
両AE信号変換子2 a t 2 bによって検知され
ピークホールドされた信号が、共に同じ欠陥位置から発
生したAE倍信号よるものであるとすると、両減衰補正
計算器7a、7bで求めた振幅値はほぼ等しくなるはず
であり、また、ピークホールドされた信号が異なる欠陥
位置から発生したAE倍信号よるものあるいは環境雑音
の混入によるものであるとすると、両減衰補正器7a。Assuming that the signals detected and peak-held by both AE signal converters 2 a t 2 b are AE multiplied signals generated from the same defect position, the amplitude values obtained by both attenuation correction calculators 7 a and 7 b should be approximately equal, and if the peak-held signal is due to an AE multiplied signal generated from a different defect position or due to the mixing of environmental noise, both attenuation correctors 7a.
7bで求めた振幅値は全く異なるものとなるはずである
。The amplitude values obtained in step 7b should be completely different.
比較回路8は、両減衰補正計算器7 a s7bにより
減衰補正した発生位置でのAE信号振幅値を比較し、比
較結果がほぼ等しいときのみAE信号変換子2a 、2
bによって検出した信号が妥当なものと判定し位置計算
結果を出力するのである。The comparator circuit 8 compares the AE signal amplitude values at the generation positions subjected to attenuation correction by both attenuation correction calculators 7a and s7b, and only when the comparison results are approximately equal, the AE signal converters 2a and 2
It determines that the signal detected by b is valid and outputs the position calculation result.
逆に、比較結果が全く異なる場合には、位置計算結果を
棄却するものである。Conversely, if the comparison results are completely different, the position calculation results are rejected.
なお、この実施例は被測定物が1次元構造物の場合につ
いて適用した例であるが、3〜4個のAE信号変換子を
設置することによって、2次元構造物等についても同様
に欠陥位置を標定しうろことは熱論である。Note that this example is applied to a case where the object to be measured is a one-dimensional structure, but by installing three to four AE signal converters, defect locations can be similarly detected for two-dimensional structures, etc. It is a hot topic to locate the scales.
この発明は上記のように構成したことにより、変換子に
よって検出された欠陥位置標定計算の基礎となる信号が
妥当なものであるか否かを判別しうるので、環境雑音等
による測定誤差の混入を防止し、被測定物の真の欠陥位
置を高精度で標定することができるものである。With the above configuration, this invention can determine whether or not the signal detected by the transducer, which is the basis for defect position location calculation, is valid. It is possible to prevent this and locate the true defect position of the object with high precision.
図面はこの発明の一実施例のブロック図である。
2a 、 2b・・・・・・A、E信号変換子、7a、
7b・・・・・・減衰補正計算器、8・・・・・・比較
回路。The drawing is a block diagram of an embodiment of the invention. 2a, 2b...A, E signal converter, 7a,
7b... Attenuation correction calculator, 8... Comparison circuit.
Claims (1)
間差と到達順位とからAE倍信号発生位置を標定する装
置において、信号発生位置計算結果と前記各AE信号変
換子からのAE倍信号振幅値とを夫々減衰補正計算器に
導き、各振幅補正結果を比較回路に導入して比較し、振
幅補正値がほぼ等しい場合のみ位置計算結果を出力する
ようにしたことを特徴とする信号判別装置。1. In a device that locates the AE multiplied signal generation position from the arrival time difference and arrival order of the AE multiplied signal reaching a set of AE signal converters, the signal generation position calculation result and the AE multiplied signal amplitude from each of the AE signal converters are used. A signal discrimination device characterized in that the amplitude correction results are introduced into an attenuation correction calculator, each amplitude correction result is introduced into a comparison circuit for comparison, and a position calculation result is output only when the amplitude correction values are substantially equal. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109646A JPS5819987B2 (en) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | AE |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109646A JPS5819987B2 (en) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | AE |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5233788A JPS5233788A (en) | 1977-03-15 |
| JPS5819987B2 true JPS5819987B2 (en) | 1983-04-21 |
Family
ID=14515550
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50109646A Expired JPS5819987B2 (en) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | AE |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819987B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021054368A1 (en) | 2019-09-18 | 2021-03-25 | 日東電工株式会社 | Purification system, purification method, membrane separation device, and method for producing solvent |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4980562A (en) * | 1972-12-06 | 1974-08-03 | ||
| JP6349861B2 (en) * | 2014-03-28 | 2018-07-04 | 日本電気株式会社 | Leak detection device, leak detection system, leak detection method and program |
| JP6756927B2 (en) | 2018-02-27 | 2020-09-16 | 株式会社東芝 | Structure evaluation system and structure evaluation method |
-
1975
- 1975-09-10 JP JP50109646A patent/JPS5819987B2/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021054368A1 (en) | 2019-09-18 | 2021-03-25 | 日東電工株式会社 | Purification system, purification method, membrane separation device, and method for producing solvent |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5233788A (en) | 1977-03-15 |
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