JPS5819987B2 - Ae シンゴウイチヒヨウテイソウチニオケル シンゴウハンベツソウチ - Google Patents
Ae シンゴウイチヒヨウテイソウチニオケル シンゴウハンベツソウチInfo
- Publication number
- JPS5819987B2 JPS5819987B2 JP50109646A JP10964675A JPS5819987B2 JP S5819987 B2 JPS5819987 B2 JP S5819987B2 JP 50109646 A JP50109646 A JP 50109646A JP 10964675 A JP10964675 A JP 10964675A JP S5819987 B2 JPS5819987 B2 JP S5819987B2
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- JP
- Japan
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- signal
- multiplied
- amplitude
- defect
- multiplied signal
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- Expired
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、被測定物から発生するAE倍信号アコース
ティック・エミッション信号)を検出し、被測定物中の
欠陥位置を標定する装置の改良に関し更に詳しくは一組
のAE信号変換子により得られたAE倍信号振幅値を伝
播距離を考慮して比較し、適正な位置計算結果のみを出
力するようにしたAE信号判別装置に関するものである
。
ティック・エミッション信号)を検出し、被測定物中の
欠陥位置を標定する装置の改良に関し更に詳しくは一組
のAE信号変換子により得られたAE倍信号振幅値を伝
播距離を考慮して比較し、適正な位置計算結果のみを出
力するようにしたAE信号判別装置に関するものである
。
固体材料に外力が作用すると、欠陥箇所からAE倍信号
放出され、固体材料中を伝播する。
放出され、固体材料中を伝播する。
かかる音響放出現象を利用して、原子炉圧力容器や一次
冷却系配管などの構造物の稼動中に生ずる各種欠陥の進
展を監視すると共に、それらの健全性を常時診断し、そ
れらの構造物の安全性を確保することができる。
冷却系配管などの構造物の稼動中に生ずる各種欠陥の進
展を監視すると共に、それらの健全性を常時診断し、そ
れらの構造物の安全性を確保することができる。
このようなAE倍信号よる欠陥位置標定は、被測定物に
貼設した一組のAE信号変換子へのAE倍信号到達時間
差と到達順位を測定し、AE信号伝播速度との関係から
AE信号発生位置を算出して行っている。
貼設した一組のAE信号変換子へのAE倍信号到達時間
差と到達順位を測定し、AE信号伝播速度との関係から
AE信号発生位置を算出して行っている。
ところで、AE信号変換子によって検出される音響はA
E倍信号みならず測定環境による種々の雑音も含まれ、
従って質のよい解析結果を得るためにはかトる雑音によ
る測定誤差を排除する必要がある。
E倍信号みならず測定環境による種々の雑音も含まれ、
従って質のよい解析結果を得るためにはかトる雑音によ
る測定誤差を排除する必要がある。
この発明はか5る実情に鑑みなされたもので、その目的
とするところは、被測定物の真の欠陥位置を高精度で標
定し得るようにしたAE倍信号よる欠陥位置標定装置の
信号判別装置を提供することにある。
とするところは、被測定物の真の欠陥位置を高精度で標
定し得るようにしたAE倍信号よる欠陥位置標定装置の
信号判別装置を提供することにある。
この発明はAE倍信号被測定物中を伝播するとき、一定
の関係式に従ってその振幅が減衰することを利用してな
されたもので、一組のAE信号変換子に到達するAE倍
信号到達時間差と到達順位とからAE倍信号発生位置を
標定する装置において、信号発生位置計算結果と前記各
AE信号変換子からのAE倍信号振幅値とを夫々減衰補
正計算器に導き、各振幅補正結果を比較回路に導入して
比較し、それらの値がほぼ等しい場合のみ位置計算結果
を出力するようにした信号判別装置である。
の関係式に従ってその振幅が減衰することを利用してな
されたもので、一組のAE信号変換子に到達するAE倍
信号到達時間差と到達順位とからAE倍信号発生位置を
標定する装置において、信号発生位置計算結果と前記各
AE信号変換子からのAE倍信号振幅値とを夫々減衰補
正計算器に導き、各振幅補正結果を比較回路に導入して
比較し、それらの値がほぼ等しい場合のみ位置計算結果
を出力するようにした信号判別装置である。
以下図面に基づきこの発明について詳述する。
図面はこの発明の一実施例のブロック図であり、被測定
物が1次元構造物の場合について適用した例である。
物が1次元構造物の場合について適用した例である。
被測定物1の両端適宜箇所に一対のAE信号変換子2a
、2bが貼設されている。
、2bが貼設されている。
各AE信号変換子2a 、2bからの出力は夫々アンプ
/フィルタ3a 、3b及びピークホールド回路4a、
4bに接続された後、時間差測定回路5に導かれ、更に
信号位置計算装置6へ送られる。
/フィルタ3a 、3b及びピークホールド回路4a、
4bに接続された後、時間差測定回路5に導かれ、更に
信号位置計算装置6へ送られる。
また、前記アンプ/フィルタ3a 、3bからの出力は
到達順位弁別回路7に送られ、到達順位に関する信号は
前記の信号位置計算装置6へ送られる。
到達順位弁別回路7に送られ、到達順位に関する信号は
前記の信号位置計算装置6へ送られる。
ピークホールド回路4a、4bからのAE倍信号振幅電
圧と、信号位置計算装置6からのAE信号位置情報とを
減衰補正計算器7a、7bに送り、その出力を比較回路
8に導き、該比較回路8からの出力により位置計算結果
の出力を制御するのである。
圧と、信号位置計算装置6からのAE信号位置情報とを
減衰補正計算器7a、7bに送り、その出力を比較回路
8に導き、該比較回路8からの出力により位置計算結果
の出力を制御するのである。
次にこの装置の動作について説明する。
被測定物1のD点(変換子2a寄りの点)に欠陥がある
ものと仮定すると、D点で発生したAE倍信号被測定物
中を伝播する。
ものと仮定すると、D点で発生したAE倍信号被測定物
中を伝播する。
この機械的AE倍信号AE信号変換子2a 、2bによ
り電気信号に変換される訳であるが、今欠陥りが変換子
2a寄りにあるとしているので、変換子2aの方に早<
AE倍信号現われることになる。
り電気信号に変換される訳であるが、今欠陥りが変換子
2a寄りにあるとしているので、変換子2aの方に早<
AE倍信号現われることになる。
このように電気信号に変換されたAE倍信号夫々アンプ
/フィルタ3 a y3bに送られる。
/フィルタ3 a y3bに送られる。
アンプ部によって微小AE倍信号適宜の振幅に増幅し、
フィルタ部によって環境雑音の比較的多い低周波成分を
減衰させ、AE倍信号S/N比を向上させている。
フィルタ部によって環境雑音の比較的多い低周波成分を
減衰させ、AE倍信号S/N比を向上させている。
かくして得られたAE倍信号ピークホールド回路4a
、4bに送られる。
、4bに送られる。
このピークホールド回路4a 、4bは入力信号の最も
高いレベルを予め設定した一定時間だけ保持する機能を
有する回路であり、このようにして得られたピークホー
ルド信号の立下り部を測定の基準とし、時間差測定回路
5で両ピークホールド信号の立下り時の時間差を測定す
る。
高いレベルを予め設定した一定時間だけ保持する機能を
有する回路であり、このようにして得られたピークホー
ルド信号の立下り部を測定の基準とし、時間差測定回路
5で両ピークホールド信号の立下り時の時間差を測定す
る。
次に到達順位弁別回路7は、AE倍信号どちらの変換子
に先に到達したかを判別するもので、これによって欠陥
が変換子2a寄りにあるか、変換子2b寄りにあるかを
判断することができる。
に先に到達したかを判別するもので、これによって欠陥
が変換子2a寄りにあるか、変換子2b寄りにあるかを
判断することができる。
以上の到達時間差に関する情報と到達順位に関する情報
は信号位置計算装置6へ送られ、AE信号伝播速度との
関係からAE倍信号発生位置を計算するのである。
は信号位置計算装置6へ送られ、AE信号伝播速度との
関係からAE倍信号発生位置を計算するのである。
原理的には以上の装置によって欠陥位置の標定か可能で
あるが、前述したように変換子によって検出される電気
信号には、欠陥から発生する真正のAE倍信号環境雑音
が混入することは避けられず、したがってピークホール
ドした信号が常に真正なAE倍信号あるという保障は全
くない。
あるが、前述したように変換子によって検出される電気
信号には、欠陥から発生する真正のAE倍信号環境雑音
が混入することは避けられず、したがってピークホール
ドした信号が常に真正なAE倍信号あるという保障は全
くない。
もし、ピークホールドした信号が環境雑音にもとずく場
合にはか\るピークホールド信号によって求めた欠陥位
置は誤りであること明らかである。
合にはか\るピークホールド信号によって求めた欠陥位
置は誤りであること明らかである。
ところで、AE倍信号伝播によりその振幅が減衰する。
1次元構造物の場合、実験結果によれば伝播してきたA
E倍信号振幅値Eと発生位置での振幅値Eoとの間には
、 なる関係が成立つ。
E倍信号振幅値Eと発生位置での振幅値Eoとの間には
、 なる関係が成立つ。
ここでLは信号の伝播距離、Cは比例定数である。
したがって、測定したAE信号振幅値Eと伝播距離りと
から発生位置での振幅値Eoを求めることができる。
から発生位置での振幅値Eoを求めることができる。
減衰補正計算器7a 、7bはピークホールド回路4a
、4bによって得られたAE倍信号振幅値と、信号位
置計算装置6によって得られた欠陥位置に関する不確定
的情報とによって、上記の減衰式に従った演算処理をし
、発生位置でのAE信号振幅値を求めるものである。
、4bによって得られたAE倍信号振幅値と、信号位
置計算装置6によって得られた欠陥位置に関する不確定
的情報とによって、上記の減衰式に従った演算処理をし
、発生位置でのAE信号振幅値を求めるものである。
両AE信号変換子2 a t 2 bによって検知され
ピークホールドされた信号が、共に同じ欠陥位置から発
生したAE倍信号よるものであるとすると、両減衰補正
計算器7a、7bで求めた振幅値はほぼ等しくなるはず
であり、また、ピークホールドされた信号が異なる欠陥
位置から発生したAE倍信号よるものあるいは環境雑音
の混入によるものであるとすると、両減衰補正器7a。
ピークホールドされた信号が、共に同じ欠陥位置から発
生したAE倍信号よるものであるとすると、両減衰補正
計算器7a、7bで求めた振幅値はほぼ等しくなるはず
であり、また、ピークホールドされた信号が異なる欠陥
位置から発生したAE倍信号よるものあるいは環境雑音
の混入によるものであるとすると、両減衰補正器7a。
7bで求めた振幅値は全く異なるものとなるはずである
。
。
比較回路8は、両減衰補正計算器7 a s7bにより
減衰補正した発生位置でのAE信号振幅値を比較し、比
較結果がほぼ等しいときのみAE信号変換子2a 、2
bによって検出した信号が妥当なものと判定し位置計算
結果を出力するのである。
減衰補正した発生位置でのAE信号振幅値を比較し、比
較結果がほぼ等しいときのみAE信号変換子2a 、2
bによって検出した信号が妥当なものと判定し位置計算
結果を出力するのである。
逆に、比較結果が全く異なる場合には、位置計算結果を
棄却するものである。
棄却するものである。
なお、この実施例は被測定物が1次元構造物の場合につ
いて適用した例であるが、3〜4個のAE信号変換子を
設置することによって、2次元構造物等についても同様
に欠陥位置を標定しうろことは熱論である。
いて適用した例であるが、3〜4個のAE信号変換子を
設置することによって、2次元構造物等についても同様
に欠陥位置を標定しうろことは熱論である。
この発明は上記のように構成したことにより、変換子に
よって検出された欠陥位置標定計算の基礎となる信号が
妥当なものであるか否かを判別しうるので、環境雑音等
による測定誤差の混入を防止し、被測定物の真の欠陥位
置を高精度で標定することができるものである。
よって検出された欠陥位置標定計算の基礎となる信号が
妥当なものであるか否かを判別しうるので、環境雑音等
による測定誤差の混入を防止し、被測定物の真の欠陥位
置を高精度で標定することができるものである。
図面はこの発明の一実施例のブロック図である。
2a 、 2b・・・・・・A、E信号変換子、7a、
7b・・・・・・減衰補正計算器、8・・・・・・比較
回路。
7b・・・・・・減衰補正計算器、8・・・・・・比較
回路。
Claims (1)
- 1 一組のAE信号変換子に到達するAE倍信号到達時
間差と到達順位とからAE倍信号発生位置を標定する装
置において、信号発生位置計算結果と前記各AE信号変
換子からのAE倍信号振幅値とを夫々減衰補正計算器に
導き、各振幅補正結果を比較回路に導入して比較し、振
幅補正値がほぼ等しい場合のみ位置計算結果を出力する
ようにしたことを特徴とする信号判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109646A JPS5819987B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | Ae シンゴウイチヒヨウテイソウチニオケル シンゴウハンベツソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50109646A JPS5819987B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | Ae シンゴウイチヒヨウテイソウチニオケル シンゴウハンベツソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5233788A JPS5233788A (en) | 1977-03-15 |
| JPS5819987B2 true JPS5819987B2 (ja) | 1983-04-21 |
Family
ID=14515550
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50109646A Expired JPS5819987B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | Ae シンゴウイチヒヨウテイソウチニオケル シンゴウハンベツソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819987B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021054368A1 (ja) | 2019-09-18 | 2021-03-25 | 日東電工株式会社 | 精製システム、精製方法、膜分離装置、及び溶剤の製造方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4980562A (ja) * | 1972-12-06 | 1974-08-03 | ||
| JP6349861B2 (ja) * | 2014-03-28 | 2018-07-04 | 日本電気株式会社 | 漏洩検知装置、漏洩検知システム、漏洩検知方法及びプログラム |
| JP6756927B2 (ja) | 2018-02-27 | 2020-09-16 | 株式会社東芝 | 構造物評価システム及び構造物評価方法 |
-
1975
- 1975-09-10 JP JP50109646A patent/JPS5819987B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021054368A1 (ja) | 2019-09-18 | 2021-03-25 | 日東電工株式会社 | 精製システム、精製方法、膜分離装置、及び溶剤の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5233788A (en) | 1977-03-15 |
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