Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPS5821401B2 - 集合抵抗モジユ−ル - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPS5821401B2 - 集合抵抗モジユ−ル - Google Patents

集合抵抗モジユ−ル

Info

Publication number
JPS5821401B2
JPS5821401B2 JP53158346A JP15834678A JPS5821401B2 JP S5821401 B2 JPS5821401 B2 JP S5821401B2 JP 53158346 A JP53158346 A JP 53158346A JP 15834678 A JP15834678 A JP 15834678A JP S5821401 B2 JPS5821401 B2 JP S5821401B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
resistor
collective
pattern
probing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53158346A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5583201A (en
Inventor
西原幹雄
村瀬曄生
田中勝男
日渡正文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP53158346A priority Critical patent/JPS5821401B2/ja
Publication of JPS5583201A publication Critical patent/JPS5583201A/ja
Publication of JPS5821401B2 publication Critical patent/JPS5821401B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Details Of Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はセラミック回路印刷配線板における、特に、集
合抵抗モジュールの改良に関する。
従来より電子機器に用いられているこの種のセ。
ラミック回路印刷配線板は、LSIの他に、同一基板に
各種の多数の回路素子を実装しなければならないために
実装密度が低下し、従って、それら回路素子の高密度実
装が電子機器における装置の小型化を大きく左右するよ
うになってきた。
従来第1図に示す如く、回路印刷配線板6の電子回路に
おける各種の多数の回路素子としては、LSll(1−
1・・・1−n)の論理回路上のインピーダンスのマツ
チングとして、信号嵌送路の各終端に抵抗が接続され、
その抵抗の集合モジュール2,4(2−1・・・2−n
、4−1・・・4−n、)を多数実装し、また、回路の
スイッチング動作による誘導及び電源よりの誘導等の雑
音の防止として、多数のバイパス・コンデンサ3,5が
1ケ又は複数個実装されている。
そして、各論理回路における回路動作の検測として、波
形検測(以下、プロービングと云う)を行っている。
しかし、従来このプロービングの手段としてLSll(
1−1・・・1−n)の外部接続用の各々の端子Tと、
各集合モジュール2(2−1・・・2−B)、4(4−
1・・・4−n)の接地側の端子間(第2図aに示すa
−g間)と接触しながらプロービングするために、LS
Iの端子7と集合モジュール2(2−1・・・2−n
) 、 4 (4−1・・・4−n)の接地端子間とが
測定距離的に離れているので電気回路上の適正なプロー
ビングが困難であった。
また、回路印刷配線板に抵抗モジュール2゜4及びコン
デンサ3.5を別々に取り付けているために設置場所を
とり、回路印刷配線板の高密度実装を阻害しているよう
な欠点があった。
本発明はか〜る上記論理回路のプロービングの測定個所
による不適確と、回路印刷配線板の実装密度の阻害をす
る欠点を解消せしめることを目的とし、絶縁物である基
材の±に印刷等により複数個の抵抗体及び或はコンデン
サを形成し、外部接続用のリード部を有する集合抵抗モ
ジュールにおいて、同一面に形成される抵抗パターンと
接地パターンは、抵抗パターンが中央の接地パターンの
両側に設けられ、且つ、両パターンの絶縁コーテインク
の1部が取り除かれてなる集合抵抗モジュールを特徴と
する。
以下本発明を第2図により詳細に説明する。
図は本発明の一実施例の論理回路図a集合抵抗モジュー
ルの回路図b、斜視図Cを示す。
電子機器における情報処理量の増大に伴い装置としての
大型化される傾向にあるが、これを如何に対処して装置
の小型化をするかが今後の必須条件となって来ている。
ところで、本発明東金抵抗モジュールはその小型化の一
環として、セラミック印刷基板に印刷等により複数の抵
抗体と多数のコンデンサとを集合のモジュールの形成を
行い、また、論理回路のプロービングの接触の手段が簡
易に行える集合抵抗モジュールを提供することにより、
電子機器における回路印刷配線板の高密度実装並びに装
置への立体化実装ができることにより、装置の小型化を
可能とするものである。
第2図における、第2図a、bはLSIの論理回路素子
における回路上の電源の供給及び信号伝送路の終端イン
ピーダンスのマツチング用の各抵抗とバイパス・コンデ
ンサとの回路図の例を示す1第2図Cは第2図すの抵抗
体とコンデンサとをモジュール化に形成した集合抵抗モ
ジュールの回路印刷板である。
また、第2図dは本発明集合抵抗モジュールを用いて電
子回路素子を実装した回路印刷配線板の実施例を示す。
第2図Cに示すように例えば、第2図すの回路では、絶
縁物である基材の上に印刷等により抵抗体を形成し、外
部接続用リード部を有する集合抵抗モジュールにおいて
、印刷基板20は、絶縁物である基材上に抵抗体R1o
(RIO1・・’Rto n)と電源用パターンV
及び信号用パターンSと接地パターンGとを形成され、
その上に絶縁コーテング(ポリイミド)23を有して形
成される。
プロービング用信号の窓部21ば、印刷基板20上の抵
抗体R16(R101”’R10n )表面を絶縁材で
あるフィルム或は塗料で覆う時に抵抗体Rto(R□。
−1・・・R10−n)から外部接続用リード部24へ
の接続パターンの部分に窓部を設け、プロービングがリ
ード部24とは別に可能なものとして形成される。
かつ、プロービング用接地の窓部22は印刷基板20上
でのプロービングの接触の際に前記信号とを対応して接
地端子が接続可能とするために接地に接続するパターン
25を設け、その接地上部にも窓を明けて形成する。
そして、電源V及び接地Gと各信号Sは接続端子により
リード部24へ1接続され、更に、バイパスコンデンサ
14は印刷楠板20の裏面に配設されたもので構成され
ている。
そして、例えば、第2図aに示す、LSI#1とLSI
02間(b−g間)の回路上の論理回路ン素子のプロー
ビングを行うには、オシロスコープの測定器を用い、そ
の測定用端子にて第2図Cに示す。
各抵抗体RIO(RIO1”’Rto n )のプロ
ービング用信号の窓部21とプロービング用接地の窓部
22とをそれぞれ接触してグローピング・することであ
るから、検測する個所が短い距離であるので電気回路的
に適正なプロービングができる。
また、第2図dに示す如(、この集合抵抗モジュールを
用いることにより回路印刷配線板におけ・る回路素子の
実装は高密度が可能なるとともに、装置への回路印刷配
線板の実装の立体化も可能になる。
前記実施例は印刷基板20上に抵抗体RIO(RIO−
1・・・RIOn)を印刷等により形成した面とは逆の
面、即ち、裏面にバイパス・コンデンサ14(14−1
・・・l4−n)を配設して集合抵抗モジュールを形成
したことで説明したが、印刷基板20の同一面の空間に
バイパス・コンデンサ14を塔載して形成することもで
きる。
以上説明したように本発明による集合モジュールにおい
ては、印刷基板上に抵抗体を印刷等により形成した面と
逆な面、即ち、裏面、または同一面の空間にバイパス・
コンデンサを塔載し、かつ、プロービング用の窓部を抵
抗体とその抵抗体に対応した接地側に設けることである
から、プロービングが確実に検測され、また、抵抗体と
バイパス・コンデンサとを集合モジュール化することに
より回路印判、配線板の回路素子の高密度実装が可能と
なり、それによって、電子機器における装置への回路印
刷配線板の実装を立体化させることにより装置の小型化
ができることが可能となり、その、実用的効果は大きい
利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のセラミック回路印刷配線板の実装正面図
、第2図a、bは集合抵抗モジュールの回路図、第2図
Cは本発明の集合抵抗モジュールの一実施例の斜視図、
第2図dは本発明集合抵抗モジュールを用いたセラミッ
ク回路印刷配線板の実装正面図を示している。 図において、1,11・・・・・・LSI、2,4・・
・・・・集合抵抗モジュール(抵抗体)、3.5.14
・・・・・・バイパス・コンデンサ、6.10・・・・
・・セラミック回路印刷配線板、12.13・・・・・
−集合抵抗モジュール(抵抗体、バイパス・コンデンサ
)、20・・・・・・印刷基板、21・・・・・・プロ
ービング用信号の窓部、22・・・・・・プロービング
用接地の窓部、23・・・・・・コーティング(ポリイ
ミド)、24・・・・・・接続リード部、25・・・・
・・接地に接続するパターン、R20(Rlo−1・・
・R10−n)・・・・・・抵抗体、S・・・・・・信
号、■・・・・・・電源、G・・・・・・接地を示して
いる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 絶縁物である基材の上に、印刷等により複数個の抵
    抗体及び或はコンデンサーを形成し、外部接続用のリー
    ド部を有する集合抵抗モジュールにおいて、同一面に形
    成される抵抗パターンと接地パターンは、抵抗パターン
    が中央の接地パターンの両側に設けられ、且つ両パター
    ンの絶縁コーティングの1部が取り除かれてなることを
    特徴とする集合抵抗モジュール。
JP53158346A 1978-12-19 1978-12-19 集合抵抗モジユ−ル Expired JPS5821401B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53158346A JPS5821401B2 (ja) 1978-12-19 1978-12-19 集合抵抗モジユ−ル

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53158346A JPS5821401B2 (ja) 1978-12-19 1978-12-19 集合抵抗モジユ−ル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5583201A JPS5583201A (en) 1980-06-23
JPS5821401B2 true JPS5821401B2 (ja) 1983-04-30

Family

ID=15669628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53158346A Expired JPS5821401B2 (ja) 1978-12-19 1978-12-19 集合抵抗モジユ−ル

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5821401B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6035568U (ja) * 1983-08-18 1985-03-11 ティーディーケイ株式会社 混成集積回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5583201A (en) 1980-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4780670A (en) Active probe card for high resolution/low noise wafer level testing
WO1999041812A1 (fr) Support de circuit integre
US5923529A (en) Card slot unit for a personal computer
US20040257103A1 (en) Module having test architecture for facilitating the testing of ball grid array packages, and test method using the same
US6380752B1 (en) IC socket
JPH06213963A (ja) コネクタ・アセンブリ
JPS592364B2 (ja) 集合抵抗モジユ−ル
JPS5821401B2 (ja) 集合抵抗モジユ−ル
JP3093308U (ja) カードコネクタ構造
US6091608A (en) Method and apparatus for simplified and compact component addition to a printed circuit board
CN206497183U (zh) 一种集成电路测试接口装置
US20020075029A1 (en) Devices for testing contacts
US6987397B2 (en) Method and probe structure for implementing a single probe location for multiple signals
CN217116490U (zh) 一种pcb板及探针卡
KR200319244Y1 (ko) 인쇄회로기판의임피던스테스트쿠폰
JPH0315765A (ja) テストボード
JP3287184B2 (ja) 半導体デバイスの検査回路構造
JP3436183B2 (ja) 半導体検査装置およびそれを用いた検査方法
JPS62173733A (ja) 高速信号測定装置
JPS5830233Y2 (ja) プリント配線基板検査装置
KR100337524B1 (ko) 미세회로 기판의 단선측정을 위한 비접촉 센서
JPH0921830A (ja) 小型電子部品用測定装置
JPH04369253A (ja) 半導体集積回路パッケージ
JPS59108324A (ja) 半導体装置試験用プロ−ブカ−ド
JPH08293370A (ja) Icソケット及びこれを用いた試験装置