JPS5823891B2 - フラツシユ法熱定数測定装置 - Google Patents
フラツシユ法熱定数測定装置Info
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- JPS5823891B2 JPS5823891B2 JP13893478A JP13893478A JPS5823891B2 JP S5823891 B2 JPS5823891 B2 JP S5823891B2 JP 13893478 A JP13893478 A JP 13893478A JP 13893478 A JP13893478 A JP 13893478A JP S5823891 B2 JPS5823891 B2 JP S5823891B2
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Links
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
平板状に形成された試料の表面にレーザ光のような輻射
線を瞬間的に入射させると、表面の温度が時間と共に上
昇しである時間の後に一定の温度に達する。
線を瞬間的に入射させると、表面の温度が時間と共に上
昇しである時間の後に一定の温度に達する。
この場合、試料に吸収されたエネルギと試料裏面の温度
上昇、並びにこの温度が２分の１だけ上昇する時間を求
めることにより、該試料の熱三定数すなわち熱容量、熱
拡散率および熱伝導率を測定することができる。
上昇、並びにこの温度が２分の１だけ上昇する時間を求
めることにより、該試料の熱三定数すなわち熱容量、熱
拡散率および熱伝導率を測定することができる。
このようなフラッシュ法熱定数測定装置において試料裏
面の温度変化を検出するために従来は熱電対接点を添着
していだが、熱の伝導損による誤差が大きいと共に接着
の工作が煩雑であり、かつ高温に加熱すると離脱し易い
等の欠点がある。
面の温度変化を検出するために従来は熱電対接点を添着
していだが、熱の伝導損による誤差が大きいと共に接着
の工作が煩雑であり、かつ高温に加熱すると離脱し易い
等の欠点がある。
従って最近は赤外線検出器を用いて非接触的に検出する
装置が注目されているが、試料を照射する輻射線の一部
が試料面等で散乱するから、その散乱線の一部が試料と
保持台との間隙を通って検出器に入射するために測定誤
差を生じ易い欠点がある。
装置が注目されているが、試料を照射する輻射線の一部
が試料面等で散乱するから、その散乱線の一部が試料と
保持台との間隙を通って検出器に入射するために測定誤
差を生じ易い欠点がある。
本発明はこのような欠点を除去しようとするものである
。
。
第１図は本発明実施例の縦断面図で、例えばア・ルミナ
のような断熱材をもって筒状の試料収容筒１を形成して
、この収容筒を電気炉２の中に挿入すると共に該収容筒
の下端に輻射線遮蔽筒３の上端を対向させである。
のような断熱材をもって筒状の試料収容筒１を形成して
、この収容筒を電気炉２の中に挿入すると共に該収容筒
の下端に輻射線遮蔽筒３の上端を対向させである。
上記収容筒１はその下部の側面に試料挿入口４を設ける
と共に下端に内方へ；突出しだ環状のつば５を形成した
もので、中央に孔を有する円板状の試料保持台６および
これに取付けた試料７を前記挿入口４から挿入してつば
５の上に載置しである。
と共に下端に内方へ；突出しだ環状のつば５を形成した
もので、中央に孔を有する円板状の試料保持台６および
これに取付けた試料７を前記挿入口４から挿入してつば
５の上に載置しである。
保持台６はアルミナ等で形成したもので、第２図および
第３図にその縦断面５図、並びに平面図を示しだように
前記孔の周辺および外周部に石英のような耐熱性の熱絶
縁材料で形成した例えば３本あてのピン８および９を植
設しである。
第３図にその縦断面５図、並びに平面図を示しだように
前記孔の周辺および外周部に石英のような耐熱性の熱絶
縁材料で形成した例えば３本あてのピン８および９を植
設しである。
このピン８の先端上に円板状の試料７を水平に載置し、
ピン９の先端で該試料の周側面１を押えである。
ピン９の先端で該試料の周側面１を押えである。
また保持板６の上に例えば０．５關程度の厚みを有する
白金板のような副射線遮蔽板をもって截頭円錐状に形成
した環状の輻射線遮蔽板１０を載置してその先端すなわ
ち内周部を試料７の下面に微小の間隙を介して対向させ
である。
白金板のような副射線遮蔽板をもって截頭円錐状に形成
した環状の輻射線遮蔽板１０を載置してその先端すなわ
ち内周部を試料７の下面に微小の間隙を介して対向させ
である。
ン更に保持台６の上には、同様の白金板で形成した円筒
状の輻射線遮蔽筒１１を垂直に載置して、この遮蔽筒の
内部に前記試料７を配置しである。
状の輻射線遮蔽筒１１を垂直に載置して、この遮蔽筒の
内部に前記試料７を配置しである。
上述の装置において、炉２により試料γを所望の温度に
保持して矢印ａのように上方から試料の１上面に例えば
レーザ光を瞬間的に照射し、該試料の下面から遮蔽筒３
を通って矢印すのように放射される熱線の変化を例えば
トロイダルミラー等を介してインジウム・アンチモンあ
るいは硫化鉛その他適宜の赤外線検出器で検出する。
保持して矢印ａのように上方から試料の１上面に例えば
レーザ光を瞬間的に照射し、該試料の下面から遮蔽筒３
を通って矢印すのように放射される熱線の変化を例えば
トロイダルミラー等を介してインジウム・アンチモンあ
るいは硫化鉛その他適宜の赤外線検出器で検出する。
第４図はこのようにして検出された試料下面の温度Ｔと
時間ｔの関係である。
時間ｔの関係である。
すなわち時刻ｔｏにおいてレーザ光を照射すると試料７
の下面の温度は例えば数百分の一部の後の時刻ｔ１にお
いて最高の温度上昇ΔＴを示す。
の下面の温度は例えば数百分の一部の後の時刻ｔ１にお
いて最高の温度上昇ΔＴを示す。
この温度上昇ΔＴと試料に吸収されたレーザ光のエネル
ギーとによって試料の熱容量が算出される。
ギーとによって試料の熱容量が算出される。
またΔＴ／２の温度上昇を生ずる時間ｔｘと試料７の厚
みとによって、熱拡散率が、更に上述のようにして得ら
れた試料の熱容量および拡散率と試料の密度とによって
熱伝導率が算出される。
みとによって、熱拡散率が、更に上述のようにして得ら
れた試料の熱容量および拡散率と試料の密度とによって
熱伝導率が算出される。
上述の測定において、本発明の装置は前記実施例のよう
に試料７を熱遮蔽筒１１の内部に配置すると共に環状の
熱遮蔽板１０を設けてその内周部を試料の周縁に微小間
隙を介して対向させである。
に試料７を熱遮蔽筒１１の内部に配置すると共に環状の
熱遮蔽板１０を設けてその内周部を試料の周縁に微小間
隙を介して対向させである。
従って試料７にレーザ光等を照射すると、該試料の表面
および保持台６の表面等でレーザ光の一部が散乱するが
、この散乱線は大部分が遮蔽筒１１で吸収される。
および保持台６の表面等でレーザ光の一部が散乱するが
、この散乱線は大部分が遮蔽筒１１で吸収される。
また遮蔽筒１１の表面で更に反射したレーザ光も遮蔽板
１０によってほぼ完全に遮断されて赤外線検出器には殆
んど入射しない。
１０によってほぼ完全に遮断されて赤外線検出器には殆
んど入射しない。
すなわち第４図におけるピークｐがこの漏洩レーザ光に
よるものであるが、上述のような試料の表面等で散乱し
て検出器に入射するレーザ光が極めて少ないために上記
ピークｐを充分小さくすることができて前述の時間ｔｘ
の測定に支障を生じないものである。
よるものであるが、上述のような試料の表面等で散乱し
て検出器に入射するレーザ光が極めて少ないために上記
ピークｐを充分小さくすることができて前述の時間ｔｘ
の測定に支障を生じないものである。
すなわち遮蔽筒１１および遮蔽板１０を設けない場合は
散乱レーザ光が試料７と保持台６０間隙を通過しである
いは更に試料収容筒１等で散乱して検出器に入射するた
めに、第４図に破線ｑで示したように極めて大きなピー
クを生じて時間ｔｘの測定に支障を生じたものである。
散乱レーザ光が試料７と保持台６０間隙を通過しである
いは更に試料収容筒１等で散乱して検出器に入射するた
めに、第４図に破線ｑで示したように極めて大きなピー
クを生じて時間ｔｘの測定に支障を生じたものである。
かつ遮蔽筒１１はヒートシンクとしての作用をも有する
から、試料温度を安定に保持し得る効果がある。
から、試料温度を安定に保持し得る効果がある。
また遮蔽板１０は試料７に接触していないから、熱の伝
導によって測定誤差を生ずるようなおそれがないもので
ある。
導によって測定誤差を生ずるようなおそれがないもので
ある。
第１図は本発明実施例の縦断面図、第２図は第１図にお
ける一部の拡大図、第３図は第２図の装置の平面図、第
４図は本発明の詳細な説明するだめの測定曲線の一例で
ある。 なお図において、１は試料収容筒、２は電気炉、３は遮
蔽筒、４は試料挿入口、５はつば、６は試料保持台、７
は試料、８．９はピン、１０は輻射線遮蔽板、１１は輻
射線遮蔽筒である。
ける一部の拡大図、第３図は第２図の装置の平面図、第
４図は本発明の詳細な説明するだめの測定曲線の一例で
ある。 なお図において、１は試料収容筒、２は電気炉、３は遮
蔽筒、４は試料挿入口、５はつば、６は試料保持台、７
は試料、８．９はピン、１０は輻射線遮蔽板、１１は輻
射線遮蔽筒である。
Claims (1)
- １ 保持台に熱絶縁性のピンで取付けて所望の温度に保
持し一方の面に輻射線を瞬間的に照射して他方の面から
放射される熱線の変化を赤外線検出器で放出することに
より熱定数を測定される板状の試料を輻射線遮蔽筒の内
部に配置すると共に前記保持台と試料との間に一方の周
縁が該保持台に連結されて他方の周縁り天試料の周縁に
微小間隙を介して対向する環状の輻射線遮蔽板を設けた
ことを特徴とするフラッシュ法熱定数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13893478A JPS5823891B2 (ja) | 1978-11-13 | 1978-11-13 | フラツシユ法熱定数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13893478A JPS5823891B2 (ja) | 1978-11-13 | 1978-11-13 | フラツシユ法熱定数測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5565142A JPS5565142A (en) | 1980-05-16 |
| JPS5823891B2 true JPS5823891B2 (ja) | 1983-05-18 |
Family
ID=15233551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13893478A Expired JPS5823891B2 (ja) | 1978-11-13 | 1978-11-13 | フラツシユ法熱定数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5823891B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5950349A (ja) * | 1982-09-16 | 1984-03-23 | Shinku Riko Kk | 熱定数測定装置 |
| JPS5997457U (ja) * | 1982-12-20 | 1984-07-02 | 三洋電機株式会社 | 電池集電体の溶接検査装置 |
| EP0851221A1 (en) * | 1996-12-23 | 1998-07-01 | European Atomic Energy Community (Euratom) | Measuring head for use in radiant energy flash measuring of the thermal diffusivity of heterogeneous samples |
| JP5894757B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2016-03-30 | アドバンス理工株式会社 | 熱定数測定装置 |
-
1978
- 1978-11-13 JP JP13893478A patent/JPS5823891B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5565142A (en) | 1980-05-16 |
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