JPS5824945B2 - 良品二重チェック方法 - Google Patents
良品二重チェック方法Info
- Publication number
- JPS5824945B2 JPS5824945B2 JP52070017A JP7001777A JPS5824945B2 JP S5824945 B2 JPS5824945 B2 JP S5824945B2 JP 52070017 A JP52070017 A JP 52070017A JP 7001777 A JP7001777 A JP 7001777A JP S5824945 B2 JPS5824945 B2 JP S5824945B2
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- JP
- Japan
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- test
- products
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は軌道上の製品群から試験により順次良品を選別
する選別機構における、具体的には、モールドICやI
Cのセラミックパッケージ等のICディバイス群に電気
特性試験又は検査を自動的に順次節こすための場を提供
する装置、所謂「傾斜落下方式のオートハンドラーJに
おける、良品チェック方法の改良に関する。
する選別機構における、具体的には、モールドICやI
Cのセラミックパッケージ等のICディバイス群に電気
特性試験又は検査を自動的に順次節こすための場を提供
する装置、所謂「傾斜落下方式のオートハンドラーJに
おける、良品チェック方法の改良に関する。
この種のオートハンドラーは;第1図に示すように、I
Cディバイス10を一本の軌道上に1列に隣接配置した
型式で収容する軌道式コンテナー20を装置する上部の
ローダ(1eader ) 1 +各ディバイスを収容
する前記と同種の軌道式コンテナー10を装置する下部
のアンローダ(unl oader )2;及び上部の
ローダから傾斜落下するディバイス群を受容し、次いで
各ディバイスを下部のアンローダに傾斜落下させて送り
込む過程で各ディバイスに対し特性試験場所を提供する
中間部の傾斜軌動体3を含んで構成されている。
Cディバイス10を一本の軌道上に1列に隣接配置した
型式で収容する軌道式コンテナー20を装置する上部の
ローダ(1eader ) 1 +各ディバイスを収容
する前記と同種の軌道式コンテナー10を装置する下部
のアンローダ(unl oader )2;及び上部の
ローダから傾斜落下するディバイス群を受容し、次いで
各ディバイスを下部のアンローダに傾斜落下させて送り
込む過程で各ディバイスに対し特性試験場所を提供する
中間部の傾斜軌動体3を含んで構成されている。
ローダ1.軌道体3及びアンローダ2はこの順位で約4
0度の傾斜角度で以って組合されている。
0度の傾斜角度で以って組合されている。
ローダ1は軌道体と同一傾斜角度に傾斜したコンテナー
搭載面を有し、軌道体の軸線方向に対し直角な方向に段
階的に移動可能なコンベア機構である。
搭載面を有し、軌道体の軸線方向に対し直角な方向に段
階的に移動可能なコンベア機構である。
このローダにはコンテナ一群が多数皿載され、軌道体と
同一軌道線上に配位する1のコンテナーから全ての収容
ディバイスが軌道体に自重により自動的に供給されると
、次のコンテナーが当該軌道線上に転位するように、ロ
ーダのコンベア面が1段階だけ移動する。
同一軌道線上に配位する1のコンテナーから全ての収容
ディバイスが軌道体に自重により自動的に供給されると
、次のコンテナーが当該軌道線上に転位するように、ロ
ーダのコンベア面が1段階だけ移動する。
ローダの前記軌道上に配置するコンテナーから軌道体に
ディバイスを送るタイミングはゲート機構13によって
行なわれる。
ディバイスを送るタイミングはゲート機構13によって
行なわれる。
アンローダ2はローダ1と同様に傾斜したコンテナー搭
載面を有し、軌道体の軸線方向に対し段階的に直角な方
向に移動可能なコンベア機構である。
載面を有し、軌道体の軸線方向に対し段階的に直角な方
向に移動可能なコンベア機構である。
そして、軌道体と同一軌道線上に配位する1のコンテナ
ーに軌道体から自重によって自動的に供給されたディバ
イスが所定量充填されると、コンベアー面が一段階移動
して、次のコンテナーが当該軌道線上に転位して待機す
るようになっている。
ーに軌道体から自重によって自動的に供給されたディバ
イスが所定量充填されると、コンベアー面が一段階移動
して、次のコンテナーが当該軌道線上に転位して待機す
るようになっている。
軌道体3は、コンテナーと同一寸法。
形状の軌道31を有している。
軌道は断面凸型のアルミ製品であり、これにはリード1
1を有するディバイス10が馬乗りになってディバイス
本体の下面が軌道面上を摺動する。
1を有するディバイス10が馬乗りになってディバイス
本体の下面が軌道面上を摺動する。
4は軌道体3に付設した試験装置であり、各種の自動試
験機器が収容されている。
験機器が収容されている。
この装置の機器で自動的に各ディバイス10の電気特性
試験を行うためにはディバイス群を軌道上の所定個所に
1個1個所定時間だけ保留させる必要があり、又そのた
めにディバイス群の内置下位のものと残余のものを分離
して当該残余のものが落下しないように保留する必要が
ある。
試験を行うためにはディバイス群を軌道上の所定個所に
1個1個所定時間だけ保留させる必要があり、又そのた
めにディバイス群の内置下位のものと残余のものを分離
して当該残余のものが落下しないように保留する必要が
ある。
これらの保留手段には主にエアシリンダが用いられる。
エアシリンダは軌道体の必要個所に配置され、そのプラ
ンジャがディバイスの本体を上から押えて保留し、或い
はディバイスの下端側に侵入してディバイスを遮え切る
ことにより保留し、そしてプランジャの後退によって保
留を解除して必要なディバイスを解放するように機能す
る。
ンジャがディバイスの本体を上から押えて保留し、或い
はディバイスの下端側に侵入してディバイスを遮え切る
ことにより保留し、そしてプランジャの後退によって保
留を解除して必要なディバイスを解放するように機能す
る。
試験装置4で試験されたディバイスは、試験後火の二種
のコースに別れる。
のコースに別れる。
即ち、ディバイスが特性試験に合格した良品の場合と合
格しない不良品の場合とでとられるコースが別れる。
格しない不良品の場合とでとられるコースが別れる。
良品にあっては保留を解除され、そのまま軌道31を滑
り下り、軌道体3からその軸線上に待機しているアンロ
ーダ2上のコンテナー10に収容される。
り下り、軌道体3からその軸線上に待機しているアンロ
ーダ2上のコンテナー10に収容される。
不良品は試験位置にそのまま保留され、それと共に警報
器が駆動される。
器が駆動される。
この警報(アラーム)で作業者は駆は付けて当該不良品
を取り除き、試験装置を後続のディバイスに対処するよ
うにセットする。
を取り除き、試験装置を後続のディバイスに対処するよ
うにセットする。
このような二種のコースのための操作は、軌道体のディ
バイス保留手段或いは試験装置に組み込まれたディバイ
ス保留手段を試験結果の情報(良品、不良品)に基いた
自動制御によって行なわれる。
バイス保留手段或いは試験装置に組み込まれたディバイ
ス保留手段を試験結果の情報(良品、不良品)に基いた
自動制御によって行なわれる。
ところで、現実には、不良品であっても、保留手段の誤
動作により軌道を滑り下りて良品のみを収容すべきコン
テナーに入ってしまうという不都合な事態が稀ではある
が生じる。
動作により軌道を滑り下りて良品のみを収容すべきコン
テナーに入ってしまうという不都合な事態が稀ではある
が生じる。
そのため、現状では良品コンテナーの信頼度が低い。
作業者がこのような誤動作により良品コンテナーに不良
品が1つでもまぎれ込んだことを何らかの理由から疑っ
たとすれば、良品コンテナー中のディバイスの全てを少
くとももう1度オートハンドラーで再試験しなければな
らない。
品が1つでもまぎれ込んだことを何らかの理由から疑っ
たとすれば、良品コンテナー中のディバイスの全てを少
くとももう1度オートハンドラーで再試験しなければな
らない。
これは大変な手間を要し、試験費増加の原因となる。
しからば、誤動作の確率を是認した上で、再試験を要さ
ずに完全に良品のみがアンローダ上のコンテナーに収容
することを保証する方法が望まれる。
ずに完全に良品のみがアンローダ上のコンテナーに収容
することを保証する方法が望まれる。
そこで本発明の目的は上記要望に答える有利な方法を実
現することにある。
現することにある。
要するに本発明によれば、試験装置でチェックされた結
果そこから解放されてアンローダ上のコンテナーに向け
て軌道上を降下するディバイスの全てをコンテナーに侵
入する前に再チェックする所謂良品の二重チェク方法が
提供される。
果そこから解放されてアンローダ上のコンテナーに向け
て軌道上を降下するディバイスの全てをコンテナーに侵
入する前に再チェックする所謂良品の二重チェク方法が
提供される。
この場合の再チェックは、試験装置による再試験ではな
く、既に行われた試験の結果の情報に基いたチェックで
ある。
く、既に行われた試験の結果の情報に基いたチェックで
ある。
本発明方法を実施する機構領域は第1図のサークルDに
示すものであり、第2図は、この領域の二重チェック機
構を示す要部拡大説明図である。
示すものであり、第2図は、この領域の二重チェック機
構を示す要部拡大説明図である。
両図において、200は試験装置より下流に配位するデ
ィバイス保留手段としてのエアシリンダー型ストッパー
である。
ィバイス保留手段としてのエアシリンダー型ストッパー
である。
これはストッパーのプランジャが軌道面に降下して傾斜
落下するディバイス10をその下流において遮断するよ
うに機能する。
落下するディバイス10をその下流において遮断するよ
うに機能する。
試験装置4とストッパー200との間には光源(図示省
略)とフォトセンサ210の両者を、光源光がディバイ
スで遮断可能な高度において軌道上を横断して受光され
るように、軌道体の基台100に配設されている。
略)とフォトセンサ210の両者を、光源光がディバイ
スで遮断可能な高度において軌道上を横断して受光され
るように、軌道体の基台100に配設されている。
上記構造において、試験装置から解放されたディバイス
10Aがフォトセンサ210を横切って軌道上を降下す
るや、センサの受光中断に基いて試験装置から良品か否
かの試験結果を表す最新の試験信号と当該最新試験から
フォトセンサの当該受光中断までの経過時間を表す時間
信号が試験装置から発信されるようになっている。
10Aがフォトセンサ210を横切って軌道上を降下す
るや、センサの受光中断に基いて試験装置から良品か否
かの試験結果を表す最新の試験信号と当該最新試験から
フォトセンサの当該受光中断までの経過時間を表す時間
信号が試験装置から発信されるようになっている。
そして、これら2種の信号の組合に基いてストッパー2
00は次のように駆動制御されている。
00は次のように駆動制御されている。
即ち、ストッパーは、不良品試験信号を受けた場合或い
は良品試験信号と異常時間信号を受けた1場合にのみ起
動して、当該フォトセンサに感知されたディバイスを停
止させるように駆動制御される。
は良品試験信号と異常時間信号を受けた1場合にのみ起
動して、当該フォトセンサに感知されたディバイスを停
止させるように駆動制御される。
換言すれば異常時間信号を受けた場合と正規時間信号と
不良品試験信号を受けた場合にストッパーが駆動される
。
不良品試験信号を受けた場合にストッパーが駆動される
。
時間信号には正規信号と異常信号があり、正規信号は試
験装置から解放されたディバイスが測定個所から正常状
態でフォトセンサを横切るまでに要する傾斜落下時間を
表す時間信号であり、異常信号は当該正常状態でのディ
バイス落下時間より有意に小さいか或いは有意に大きな
落下時間を表す時間信号である。
験装置から解放されたディバイスが測定個所から正常状
態でフォトセンサを横切るまでに要する傾斜落下時間を
表す時間信号であり、異常信号は当該正常状態でのディ
バイス落下時間より有意に小さいか或いは有意に大きな
落下時間を表す時間信号である。
ストッパーは良品試験信号と正規時間信号を受けた場合
には起動されず、従って当該フォトセンサに感知された
ディバイスの落下を許容し、その結果このディバイスは
アンローダ2上のコンテナーに良品として収容されるこ
とになる。
には起動されず、従って当該フォトセンサに感知された
ディバイスの落下を許容し、その結果このディバイスは
アンローダ2上のコンテナーに良品として収容されるこ
とになる。
ストッパーが起動される場合には、このストッパー起動
に基いて警報器(図示省略)が駆動されるように制御さ
れる。
に基いて警報器(図示省略)が駆動されるように制御さ
れる。
従って、ストッパーがディバイスを停止させるや、作業
者は警報に基いて現場に駆は付けることができる。
者は警報に基いて現場に駆は付けることができる。
作業者は、停止ディバイスを取り除いて、オートハンド
ラーの操作を正常状態に復帰させる。
ラーの操作を正常状態に復帰させる。
そして作業者は、この取り除いたディバイスを、他のコ
ンテナーに追加収容し、未試験ディバイスと共に再度試
験を受けるように手配することができる。
ンテナーに追加収容し、未試験ディバイスと共に再度試
験を受けるように手配することができる。
この再試験の必要性は以下の理由による。
この取り除いたディバイス、即ちストッパーにより進行
を阻止されたディバイスには、良品のものと不良品のも
のとがあり得るし、そのいづれかの判別ができない場合
がある。
を阻止されたディバイスには、良品のものと不良品のも
のとがあり得るし、そのいづれかの判別ができない場合
がある。
試験装置のディバイス保留手段からフォトセンサ210
に至る軌道上には何らかの原因でディバイスが1個又は
複数個滞留したり、減速落下したりするという異常事態
の生じる可能性があるし、又現実に生じている。
に至る軌道上には何らかの原因でディバイスが1個又は
複数個滞留したり、減速落下したりするという異常事態
の生じる可能性があるし、又現実に生じている。
そして、このような滞留ディバイスは、後続ディバイス
であるところの試験装置からの最新のディバイスに追突
されて、或いは未だ次の後続ディバイスが試験装置から
解放されていないにも拘わらず、何らかの原因で自動的
に落下を開始し、フォトセンサを横切る結果となる。
であるところの試験装置からの最新のディバイスに追突
されて、或いは未だ次の後続ディバイスが試験装置から
解放されていないにも拘わらず、何らかの原因で自動的
に落下を開始し、フォトセンサを横切る結果となる。
この場合には、正規の経過時間より短い時間で以って或
いは長い時間で以ってフォトセンサに至ることになる。
いは長い時間で以ってフォトセンサに至ることになる。
又、減速落下中のディバイスは、正規経過時間以上の時
間を要してフォトセンサに至ることになる。
間を要してフォトセンサに至ることになる。
それ故に、最新の試験信号を受けた時点におけるセンサ
横切ディバイスが、当該最新の試験信号に係るディバイ
スであることの保証はなにもない。
横切ディバイスが、当該最新の試験信号に係るディバイ
スであることの保証はなにもない。
当該最新の試験信号に係るディバイスは、正規時間信号
を条件とする。
を条件とする。
従って正規時間信号に係るディバイスであって、且つ良
品試験信号に係るディバイスは良品と認めることができ
、又正規時間信号に係るディバイスであって、且つ不良
品信号に係るディバイスは不良品と認めることができる
。
品試験信号に係るディバイスは良品と認めることができ
、又正規時間信号に係るディバイスであって、且つ不良
品信号に係るディバイスは不良品と認めることができる
。
逆に異常時間信号に係るディバイスは、それが良品、不
良品いづれの試験信号に係るディバイスであっても、良
品と不良品のいづれとも判定できない。
良品いづれの試験信号に係るディバイスであっても、良
品と不良品のいづれとも判定できない。
従って本発明は、完全に不良品と認められる場合と良品
、不良品いづれとも疑わしい場合にはストッパーを起動
してディバイスの良品コンテナーへの収納を阻止するチ
ェック方法と云える。
、不良品いづれとも疑わしい場合にはストッパーを起動
してディバイスの良品コンテナーへの収納を阻止するチ
ェック方法と云える。
以上に述べた本発明方法の手順を要約すれば、第3図に
示すブロックダイヤグラムで表現し得る。
示すブロックダイヤグラムで表現し得る。
本発明によれば、頻度の少ない、従って数の僅かな異常
品だけを再試験するだけですみ、アンローダ上のコンテ
ナーに収容されたディバイスの良品であることの信頼度
は殆んど絶対的である。
品だけを再試験するだけですみ、アンローダ上のコンテ
ナーに収容されたディバイスの良品であることの信頼度
は殆んど絶対的である。
なお、前述のように正規時間信号に係るディバイスであ
って且つ不良品信号に係るディバイスにあっては、警報
器を駆動して特殊な警報を発生させ、不良品の疑いのあ
るディバイスと区別することにより、作業者はそれを再
試験することなく廃棄することができるようにしてもよ
い。
って且つ不良品信号に係るディバイスにあっては、警報
器を駆動して特殊な警報を発生させ、不良品の疑いのあ
るディバイスと区別することにより、作業者はそれを再
試験することなく廃棄することができるようにしてもよ
い。
第1図は本発明に係るオートハンドラーの全体を示す側
面説明図、第2図は本発明に係る装置部分を示す要部拡
大説明図、及び第3図は本発明の手順を要約して示すブ
ロックダイヤグラムである。 図において、1はローダ、2はアンローダ、3は軌道体
、4は試験装置、10 、10Aはディバイス、13は
ゲート機構、11はリード、20はコンテナー、31は
軌道、100は基台、200はストッパー、210はフ
ォトセンサを示す。
面説明図、第2図は本発明に係る装置部分を示す要部拡
大説明図、及び第3図は本発明の手順を要約して示すブ
ロックダイヤグラムである。 図において、1はローダ、2はアンローダ、3は軌道体
、4は試験装置、10 、10Aはディバイス、13は
ゲート機構、11はリード、20はコンテナー、31は
軌道、100は基台、200はストッパー、210はフ
ォトセンサを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 I ICディバイス等の製品を乗せて自重により傾針
落下させる傾斜軌道体;軌道上の製品に特性試験を順次
施こす試験装置;及び試験に合格した良品は軌道体下流
への落下を許容され、又試験に合格しない不良品は軌道
体下流への落下を許容されないようにした良品チェック
機構を有する製品選別機構において; 試験装置より下流の軌道上に試験装置から落下して来た
製品を停留させるためのストッパー機構及び試験装置と
ストッパー機構のストッパーとの間の軌道上で試験装置
から落下して来た製品を感知するフォトセンサ機構を配
設し;そしてセンサの製品感知に基いて試験装置から発
信された良品か不良品かの試験結果を表す最新の試験信
号及び当該最新試験からセンサの当該製品感知までの製
品の費す経過時間が正規のものであるかそれより長いか
短かい異常なものであるかの結果を表す時間信号に基い
て、下記のようにストッパー機構を駆動制御する; (1)正規時間信号と良品試験信号の組合せの場合ニハ
ストッパー機構を駆動せずに等該センサ感知製品の落下
を許容し; (2)不良品試験信号と時間信号の組合せの場合並びに
異常時間信号と試験信号の組合せの場合にはストッパー
機構を駆動して当該センサ感知製品を停留させる; こさを特徴とする良品二重チェック方法。 2 ICディバイス等の製品を乗せて自重により傾斜
落下させる傾斜軌道体;軌道上の製品に特性試験を順次
施こす試験装置;及び試験に合格した良品は軌道体下流
への落下を許容され、又試験に合格しない不良品は軌道
体下流への落下を許容されないようにした良品チェック
機構を有する製品選別機構において; 試験装置より下流の軌道上に試験装置から落下して来た
製品を停留させるためのストッパー機構、試験装置とス
トッパー機構のストッパーとの間の軌道上で試験装置か
ら落下して来た製品を感知するフォトセンサ機構及びス
トッパー起動に基いて駆動される警報機構を配置し;そ
してセンサの製品感知に基いて試験装置から発信された
良品か不良品かの試験結果を表す最新の試験信号及び当
該最新試験からセンサの当該製品感知までの製品の費す
経過時間が正規のものであるかそれより長いか短かい異
常なものであるかの結果を表す時間信号に基いて、下記
のようにストッパー機構と警報機構を駆動制御する; (1)正規時間信号と良品試験信号の組合せの場合には
ストッパー機構を駆動せずに当該センサ感知製品の落下
を許容し; (2)異常時間信号と試験信号の組合せの場合にはスト
ッパー機構を駆動して当該センサ感知製品を停留させ、
且つ警報機を駆動して当該停留製品に不良品の疑いのあ
ることを示す警報を発するようにし; (3)正規時間信号と不良品試験信号の組合せの場合に
はストッパー機構を駆動して当該センサ感知製品を停留
させ、且つ警報機構を駆動して当該停留製品が不良品で
あることを示す第2の警報を発するようにする; ことを特徴とする良品二重チェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52070017A JPS5824945B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | 良品二重チェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52070017A JPS5824945B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | 良品二重チェック方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS545389A JPS545389A (en) | 1979-01-16 |
| JPS5824945B2 true JPS5824945B2 (ja) | 1983-05-24 |
Family
ID=13419412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52070017A Expired JPS5824945B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | 良品二重チェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5824945B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01176623A (ja) * | 1987-12-30 | 1989-07-13 | Sanki Eng Co Ltd | カラーブラウン管製造装置におけるパネルとシャドウマスクの装着装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS593536U (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-11 | 富士通株式会社 | Icオ−トハンドラ |
-
1977
- 1977-06-15 JP JP52070017A patent/JPS5824945B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01176623A (ja) * | 1987-12-30 | 1989-07-13 | Sanki Eng Co Ltd | カラーブラウン管製造装置におけるパネルとシャドウマスクの装着装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS545389A (en) | 1979-01-16 |
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