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JPS5824945B2 - Double check method for non-defective products - Google Patents
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JPS5824945B2 - Double check method for non-defective products - Google Patents

Double check method for non-defective products

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Publication number
JPS5824945B2
JPS5824945B2 JP52070017A JP7001777A JPS5824945B2 JP S5824945 B2 JPS5824945 B2 JP S5824945B2 JP 52070017 A JP52070017 A JP 52070017A JP 7001777 A JP7001777 A JP 7001777A JP S5824945 B2 JPS5824945 B2 JP S5824945B2
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JP
Japan
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product
test
products
defective
stopper
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JP52070017A
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遠藤明博
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は軌道上の製品群から試験により順次良品を選別
する選別機構における、具体的には、モールドICやI
Cのセラミックパッケージ等のICディバイス群に電気
特性試験又は検査を自動的に順次節こすための場を提供
する装置、所謂「傾斜落下方式のオートハンドラーJに
おける、良品チェック方法の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention is applied to a sorting mechanism that sequentially selects non-defective products from a group of products in orbit through testing.
This invention relates to an improvement in the method for checking non-defective products in the so-called "inclined drop type autohandler J," which is a device that provides a place to automatically and sequentially perform electrical property tests or inspections on IC devices such as ceramic packages.

この種のオートハンドラーは;第1図に示すように、I
Cディバイス10を一本の軌道上に1列に隣接配置した
型式で収容する軌道式コンテナー20を装置する上部の
ローダ(1eader ) 1 +各ディバイスを収容
する前記と同種の軌道式コンテナー10を装置する下部
のアンローダ(unl oader )2;及び上部の
ローダから傾斜落下するディバイス群を受容し、次いで
各ディバイスを下部のアンローダに傾斜落下させて送り
込む過程で各ディバイスに対し特性試験場所を提供する
中間部の傾斜軌動体3を含んで構成されている。
This type of autohandler is;
An upper loader (1 leader) for installing a track-type container 20 that accommodates C devices 10 in a row adjacent to each other on one track 1 + a track-type container 10 of the same type as described above that accommodates each device a lower unloader (unloader) 2; and an intermediate device that receives a group of devices tilted down from the upper loader and then provides a characteristic testing place for each device in the process of tilting and feeding each device to the lower unloader. The structure includes an inclined track body 3 of the section.

ローダ1.軌道体3及びアンローダ2はこの順位で約4
0度の傾斜角度で以って組合されている。
Loader 1. The orbital body 3 and unloader 2 are approximately 4 in this order.
They are assembled with an inclination angle of 0 degrees.

ローダ1は軌道体と同一傾斜角度に傾斜したコンテナー
搭載面を有し、軌道体の軸線方向に対し直角な方向に段
階的に移動可能なコンベア機構である。
The loader 1 is a conveyor mechanism that has a container mounting surface inclined at the same inclination angle as the track body and can be moved stepwise in a direction perpendicular to the axial direction of the track body.

このローダにはコンテナ一群が多数皿載され、軌道体と
同一軌道線上に配位する1のコンテナーから全ての収容
ディバイスが軌道体に自重により自動的に供給されると
、次のコンテナーが当該軌道線上に転位するように、ロ
ーダのコンベア面が1段階だけ移動する。
A large group of containers are loaded on this loader, and when all the storage devices from one container arranged on the same track line as the track body are automatically supplied to the track body by its own weight, the next container is placed on the track line. The conveyor surface of the loader moves one step so that it is disposed on a line.

ローダの前記軌道上に配置するコンテナーから軌道体に
ディバイスを送るタイミングはゲート機構13によって
行なわれる。
A gate mechanism 13 controls the timing of sending the device from the container placed on the track of the loader to the track body.

アンローダ2はローダ1と同様に傾斜したコンテナー搭
載面を有し、軌道体の軸線方向に対し段階的に直角な方
向に移動可能なコンベア機構である。
The unloader 2 has an inclined container mounting surface like the loader 1, and is a conveyor mechanism that can move stepwise in a direction perpendicular to the axial direction of the track body.

そして、軌道体と同一軌道線上に配位する1のコンテナ
ーに軌道体から自重によって自動的に供給されたディバ
イスが所定量充填されると、コンベアー面が一段階移動
して、次のコンテナーが当該軌道線上に転位して待機す
るようになっている。
When one container arranged on the same track line as the track body is filled with a predetermined amount of devices automatically supplied from the track body by its own weight, the conveyor surface moves one step and the next container It is arranged to be transposed on the orbital line and on standby.

軌道体3は、コンテナーと同一寸法。The orbital body 3 has the same dimensions as the container.

形状の軌道31を有している。It has a shaped track 31.

軌道は断面凸型のアルミ製品であり、これにはリード1
1を有するディバイス10が馬乗りになってディバイス
本体の下面が軌道面上を摺動する。
The raceway is an aluminum product with a convex cross section, and it has lead 1.
The device 10 having the device 1 rides on a horse, and the lower surface of the device body slides on the track surface.

4は軌道体3に付設した試験装置であり、各種の自動試
験機器が収容されている。
Reference numeral 4 denotes a test device attached to the track body 3, which houses various automatic test equipment.

この装置の機器で自動的に各ディバイス10の電気特性
試験を行うためにはディバイス群を軌道上の所定個所に
1個1個所定時間だけ保留させる必要があり、又そのた
めにディバイス群の内置下位のものと残余のものを分離
して当該残余のものが落下しないように保留する必要が
ある。
In order to automatically test the electrical characteristics of each device 10 using the equipment of this device, it is necessary to hold each device group at a predetermined location on the orbit for a predetermined period of time. It is necessary to separate the items from the remaining items and hold them so that the remaining items do not fall.

これらの保留手段には主にエアシリンダが用いられる。Air cylinders are mainly used for these holding means.

エアシリンダは軌道体の必要個所に配置され、そのプラ
ンジャがディバイスの本体を上から押えて保留し、或い
はディバイスの下端側に侵入してディバイスを遮え切る
ことにより保留し、そしてプランジャの後退によって保
留を解除して必要なディバイスを解放するように機能す
る。
The air cylinder is placed at a necessary location on the track body, and its plunger holds the device body by pressing it from above, or by penetrating the lower end of the device and blocking the device, and by retracting the plunger, the air cylinder holds the device. Functions to remove the hold and release the required device.

試験装置4で試験されたディバイスは、試験後火の二種
のコースに別れる。
The device tested in test apparatus 4 separates into two courses of fire after the test.

即ち、ディバイスが特性試験に合格した良品の場合と合
格しない不良品の場合とでとられるコースが別れる。
That is, the course taken is different depending on whether the device is a good product that passed the characteristic test or a defective product that did not pass the characteristic test.

良品にあっては保留を解除され、そのまま軌道31を滑
り下り、軌道体3からその軸線上に待機しているアンロ
ーダ2上のコンテナー10に収容される。
If it is a good product, the hold is released, the product slides down the track 31, and is stored in the container 10 on the unloader 2 waiting on the axis of the track body 3.

不良品は試験位置にそのまま保留され、それと共に警報
器が駆動される。
Defective products are held in the test position, and an alarm is activated along with them.

この警報(アラーム)で作業者は駆は付けて当該不良品
を取り除き、試験装置を後続のディバイスに対処するよ
うにセットする。
This alarm prompts the operator to remove the defective product and set up the test equipment to handle subsequent devices.

このような二種のコースのための操作は、軌道体のディ
バイス保留手段或いは試験装置に組み込まれたディバイ
ス保留手段を試験結果の情報(良品、不良品)に基いた
自動制御によって行なわれる。
The operations for these two types of courses are performed by automatic control of the device holding means of the track body or the device holding means built into the testing apparatus based on the information of the test results (good product, defective product).

ところで、現実には、不良品であっても、保留手段の誤
動作により軌道を滑り下りて良品のみを収容すべきコン
テナーに入ってしまうという不都合な事態が稀ではある
が生じる。
Incidentally, in reality, although it is rare, an inconvenient situation occurs in which even a defective product slips down the track due to a malfunction of the holding means and enters a container that should only contain good products.

そのため、現状では良品コンテナーの信頼度が低い。Therefore, the reliability of good quality containers is currently low.

作業者がこのような誤動作により良品コンテナーに不良
品が1つでもまぎれ込んだことを何らかの理由から疑っ
たとすれば、良品コンテナー中のディバイスの全てを少
くとももう1度オートハンドラーで再試験しなければな
らない。
If for some reason the operator suspects that a defective product has been mixed into the good container due to such a malfunction, all devices in the good container must be retested by the autohandler at least once. Must be.

これは大変な手間を要し、試験費増加の原因となる。This requires a great deal of effort and increases testing costs.

しからば、誤動作の確率を是認した上で、再試験を要さ
ずに完全に良品のみがアンローダ上のコンテナーに収容
することを保証する方法が望まれる。
Therefore, it is desirable to have a method that accepts the probability of malfunction and ensures that only perfectly good products are accommodated in the container on the unloader without requiring retesting.

そこで本発明の目的は上記要望に答える有利な方法を実
現することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The object of the present invention is therefore to realize an advantageous method that meets the above-mentioned needs.

要するに本発明によれば、試験装置でチェックされた結
果そこから解放されてアンローダ上のコンテナーに向け
て軌道上を降下するディバイスの全てをコンテナーに侵
入する前に再チェックする所謂良品の二重チェク方法が
提供される。
In short, according to the present invention, all the devices that are released from the test equipment as a result of being checked and descend on the orbit towards the container on the unloader are re-checked before entering the container. A method is provided.

この場合の再チェックは、試験装置による再試験ではな
く、既に行われた試験の結果の情報に基いたチェックで
ある。
The recheck in this case is not a retest using a test device, but a check based on information on the results of tests that have already been performed.

本発明方法を実施する機構領域は第1図のサークルDに
示すものであり、第2図は、この領域の二重チェック機
構を示す要部拡大説明図である。
The mechanism area in which the method of the present invention is implemented is shown in circle D in FIG. 1, and FIG. 2 is an enlarged explanatory view of the main part showing the double check mechanism in this area.

両図において、200は試験装置より下流に配位するデ
ィバイス保留手段としてのエアシリンダー型ストッパー
である。
In both figures, 200 is an air cylinder type stopper located downstream of the test apparatus as a device holding means.

これはストッパーのプランジャが軌道面に降下して傾斜
落下するディバイス10をその下流において遮断するよ
うに機能する。
This functions in such a way that the plunger of the stopper descends to the raceway surface and blocks the device 10 falling at an angle downstream thereof.

試験装置4とストッパー200との間には光源(図示省
略)とフォトセンサ210の両者を、光源光がディバイ
スで遮断可能な高度において軌道上を横断して受光され
るように、軌道体の基台100に配設されている。
Between the test device 4 and the stopper 200, both a light source (not shown) and a photosensor 210 are connected to the base of the orbital body so that the light from the light source crosses the orbit and is received at an altitude where the device can block the light. It is arranged on the stand 100.

上記構造において、試験装置から解放されたディバイス
10Aがフォトセンサ210を横切って軌道上を降下す
るや、センサの受光中断に基いて試験装置から良品か否
かの試験結果を表す最新の試験信号と当該最新試験から
フォトセンサの当該受光中断までの経過時間を表す時間
信号が試験装置から発信されるようになっている。
In the above structure, when the device 10A released from the test equipment descends on the orbit across the photosensor 210, the latest test signal representing the test result of whether the product is good or not is sent from the test equipment based on the interruption of light reception by the sensor. A time signal representing the elapsed time from the latest test to the interruption of light reception by the photosensor is transmitted from the test device.

そして、これら2種の信号の組合に基いてストッパー2
00は次のように駆動制御されている。
Then, based on the combination of these two types of signals, the stopper 2
00 is driven and controlled as follows.

即ち、ストッパーは、不良品試験信号を受けた場合或い
は良品試験信号と異常時間信号を受けた1場合にのみ起
動して、当該フォトセンサに感知されたディバイスを停
止させるように駆動制御される。
That is, the stopper is driven and controlled so as to be activated only when receiving a defective product test signal or when receiving a non-defective product test signal and an abnormal time signal to stop the device sensed by the photosensor.

換言すれば異常時間信号を受けた場合と正規時間信号と
不良品試験信号を受けた場合にストッパーが駆動される
In other words, the stopper is driven when receiving an abnormal time signal, a normal time signal, and a defective product test signal.

時間信号には正規信号と異常信号があり、正規信号は試
験装置から解放されたディバイスが測定個所から正常状
態でフォトセンサを横切るまでに要する傾斜落下時間を
表す時間信号であり、異常信号は当該正常状態でのディ
バイス落下時間より有意に小さいか或いは有意に大きな
落下時間を表す時間信号である。
There are two types of time signals: a normal signal and an abnormal signal.The normal signal is a time signal that represents the time required for the device released from the test equipment to fall from the measuring point to the photo sensor in a normal state, and the abnormal signal is the It is a time signal representing a drop time that is significantly smaller or significantly larger than the device fall time under normal conditions.

ストッパーは良品試験信号と正規時間信号を受けた場合
には起動されず、従って当該フォトセンサに感知された
ディバイスの落下を許容し、その結果このディバイスは
アンローダ2上のコンテナーに良品として収容されるこ
とになる。
The stopper is not activated when receiving the non-defective product test signal and the regular time signal, thus allowing the device detected by the photo sensor to fall, and as a result, this device is stored in the container on the unloader 2 as a non-defective product. It turns out.

ストッパーが起動される場合には、このストッパー起動
に基いて警報器(図示省略)が駆動されるように制御さ
れる。
When the stopper is activated, an alarm (not shown) is controlled to be driven based on the activation of the stopper.

従って、ストッパーがディバイスを停止させるや、作業
者は警報に基いて現場に駆は付けることができる。
Therefore, once the stopper stops the device, the operator can rush to the scene based on the alarm.

作業者は、停止ディバイスを取り除いて、オートハンド
ラーの操作を正常状態に復帰させる。
The operator removes the stop device to restore normal operation of the autohandler.

そして作業者は、この取り除いたディバイスを、他のコ
ンテナーに追加収容し、未試験ディバイスと共に再度試
験を受けるように手配することができる。
The operator can then arrange to additionally store the removed device in another container and undergo the test again along with the untested devices.

この再試験の必要性は以下の理由による。The necessity of this retest is due to the following reasons.

この取り除いたディバイス、即ちストッパーにより進行
を阻止されたディバイスには、良品のものと不良品のも
のとがあり得るし、そのいづれかの判別ができない場合
がある。
The removed device, that is, the device whose advancement is prevented by the stopper, may be a good product or a defective device, and it may not be possible to distinguish between the two.

試験装置のディバイス保留手段からフォトセンサ210
に至る軌道上には何らかの原因でディバイスが1個又は
複数個滞留したり、減速落下したりするという異常事態
の生じる可能性があるし、又現実に生じている。
Photo sensor 210 from the device holding means of the test equipment
There is a possibility, and actually occurs, of abnormal situations where one or more devices stay in the orbit for some reason or decelerate and fall.

そして、このような滞留ディバイスは、後続ディバイス
であるところの試験装置からの最新のディバイスに追突
されて、或いは未だ次の後続ディバイスが試験装置から
解放されていないにも拘わらず、何らかの原因で自動的
に落下を開始し、フォトセンサを横切る結果となる。
Such a stuck device may be rear-ended by the latest device from the test equipment, which is the succeeding device, or the next succeeding device may not be released automatically from the test equipment for some reason. The object starts falling and ends up crossing the photosensor.

この場合には、正規の経過時間より短い時間で以って或
いは長い時間で以ってフォトセンサに至ることになる。
In this case, the photo sensor will be reached in a shorter or longer time than the normal elapsed time.

又、減速落下中のディバイスは、正規経過時間以上の時
間を要してフォトセンサに至ることになる。
Furthermore, a device that is decelerating and falling will take longer than the normal elapsed time to reach the photosensor.

それ故に、最新の試験信号を受けた時点におけるセンサ
横切ディバイスが、当該最新の試験信号に係るディバイ
スであることの保証はなにもない。
Therefore, there is no guarantee that the sensor-crossing device at the time of receiving the latest test signal is the device related to the latest test signal.

当該最新の試験信号に係るディバイスは、正規時間信号
を条件とする。
Devices related to the latest test signal are subject to regular time signals.

従って正規時間信号に係るディバイスであって、且つ良
品試験信号に係るディバイスは良品と認めることができ
、又正規時間信号に係るディバイスであって、且つ不良
品信号に係るディバイスは不良品と認めることができる
Therefore, a device related to a normal time signal and a non-defective product test signal can be recognized as a good product, and a device related to a normal time signal and a defective product signal can be recognized as a defective product. I can do it.

逆に異常時間信号に係るディバイスは、それが良品、不
良品いづれの試験信号に係るディバイスであっても、良
品と不良品のいづれとも判定できない。
Conversely, a device related to an abnormal time signal cannot be determined as either a good product or a defective product, even if the device is related to a test signal for either a good product or a defective product.

従って本発明は、完全に不良品と認められる場合と良品
、不良品いづれとも疑わしい場合にはストッパーを起動
してディバイスの良品コンテナーへの収納を阻止するチ
ェック方法と云える。
Therefore, the present invention can be said to be a checking method that activates a stopper to prevent a device from being stored in a non-defective container when it is recognized as a completely defective product or when it is doubtful whether the device is good or defective.

以上に述べた本発明方法の手順を要約すれば、第3図に
示すブロックダイヤグラムで表現し得る。
The procedure of the method of the present invention described above can be summarized by the block diagram shown in FIG.

本発明によれば、頻度の少ない、従って数の僅かな異常
品だけを再試験するだけですみ、アンローダ上のコンテ
ナーに収容されたディバイスの良品であることの信頼度
は殆んど絶対的である。
According to the present invention, it is only necessary to retest infrequent and therefore few abnormal products, and the reliability that the devices contained in the container on the unloader are good is almost absolute. be.

なお、前述のように正規時間信号に係るディバイスであ
って且つ不良品信号に係るディバイスにあっては、警報
器を駆動して特殊な警報を発生させ、不良品の疑いのあ
るディバイスと区別することにより、作業者はそれを再
試験することなく廃棄することができるようにしてもよ
い。
In addition, as mentioned above, in the case of a device related to a normal time signal and a device related to a defective product signal, an alarm is activated to generate a special alarm to distinguish it from a device suspected of being a defective product. This may allow the operator to discard it without retesting it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係るオートハンドラーの全体を示す側
面説明図、第2図は本発明に係る装置部分を示す要部拡
大説明図、及び第3図は本発明の手順を要約して示すブ
ロックダイヤグラムである。 図において、1はローダ、2はアンローダ、3は軌道体
、4は試験装置、10 、10Aはディバイス、13は
ゲート機構、11はリード、20はコンテナー、31は
軌道、100は基台、200はストッパー、210はフ
ォトセンサを示す。
Fig. 1 is a side explanatory view showing the entire autohandler according to the present invention, Fig. 2 is an enlarged explanatory view of main parts showing the device part according to the present invention, and Fig. 3 is a summary of the procedure of the present invention. This is a block diagram. In the figure, 1 is a loader, 2 is an unloader, 3 is a track body, 4 is a test device, 10, 10A is a device, 13 is a gate mechanism, 11 is a lead, 20 is a container, 31 is a track, 100 is a base, 200 210 represents a stopper, and 210 represents a photosensor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 I ICディバイス等の製品を乗せて自重により傾針
落下させる傾斜軌道体;軌道上の製品に特性試験を順次
施こす試験装置;及び試験に合格した良品は軌道体下流
への落下を許容され、又試験に合格しない不良品は軌道
体下流への落下を許容されないようにした良品チェック
機構を有する製品選別機構において; 試験装置より下流の軌道上に試験装置から落下して来た
製品を停留させるためのストッパー機構及び試験装置と
ストッパー機構のストッパーとの間の軌道上で試験装置
から落下して来た製品を感知するフォトセンサ機構を配
設し;そしてセンサの製品感知に基いて試験装置から発
信された良品か不良品かの試験結果を表す最新の試験信
号及び当該最新試験からセンサの当該製品感知までの製
品の費す経過時間が正規のものであるかそれより長いか
短かい異常なものであるかの結果を表す時間信号に基い
て、下記のようにストッパー機構を駆動制御する; (1)正規時間信号と良品試験信号の組合せの場合ニハ
ストッパー機構を駆動せずに等該センサ感知製品の落下
を許容し; (2)不良品試験信号と時間信号の組合せの場合並びに
異常時間信号と試験信号の組合せの場合にはストッパー
機構を駆動して当該センサ感知製品を停留させる; こさを特徴とする良品二重チェック方法。 2 ICディバイス等の製品を乗せて自重により傾斜
落下させる傾斜軌道体;軌道上の製品に特性試験を順次
施こす試験装置;及び試験に合格した良品は軌道体下流
への落下を許容され、又試験に合格しない不良品は軌道
体下流への落下を許容されないようにした良品チェック
機構を有する製品選別機構において; 試験装置より下流の軌道上に試験装置から落下して来た
製品を停留させるためのストッパー機構、試験装置とス
トッパー機構のストッパーとの間の軌道上で試験装置か
ら落下して来た製品を感知するフォトセンサ機構及びス
トッパー起動に基いて駆動される警報機構を配置し;そ
してセンサの製品感知に基いて試験装置から発信された
良品か不良品かの試験結果を表す最新の試験信号及び当
該最新試験からセンサの当該製品感知までの製品の費す
経過時間が正規のものであるかそれより長いか短かい異
常なものであるかの結果を表す時間信号に基いて、下記
のようにストッパー機構と警報機構を駆動制御する; (1)正規時間信号と良品試験信号の組合せの場合には
ストッパー機構を駆動せずに当該センサ感知製品の落下
を許容し; (2)異常時間信号と試験信号の組合せの場合にはスト
ッパー機構を駆動して当該センサ感知製品を停留させ、
且つ警報機を駆動して当該停留製品に不良品の疑いのあ
ることを示す警報を発するようにし; (3)正規時間信号と不良品試験信号の組合せの場合に
はストッパー機構を駆動して当該センサ感知製品を停留
させ、且つ警報機構を駆動して当該停留製品が不良品で
あることを示す第2の警報を発するようにする; ことを特徴とする良品二重チェック方法。
[Scope of Claims] I: An inclined track body on which products such as IC devices are placed and the inclined needle falls under its own weight; A testing device that sequentially performs characteristic tests on products on the track; and non-defective products that pass the test are sent downstream of the track body. In a product sorting mechanism that has a good product check mechanism that allows the product to fall from the test device and prevents defective products that do not pass the test from falling to the downstream of the track body; A stopper mechanism for stopping incoming products and a photosensor mechanism for detecting products that have fallen from the testing device are provided on the orbit between the testing device and the stopper of the stopper mechanism; The latest test signal indicating whether the product is good or defective based on the test equipment and the elapsed time spent by the product from the latest test until the sensor detects the product is normal or longer. The stopper mechanism is driven and controlled as follows based on the time signal that indicates whether the result is long, short, or abnormal; (1) In the case of a combination of a normal time signal and a non-defective product test signal, the Niha stopper mechanism is driven. (2) In the case of a combination of a defective product test signal and a time signal, or in the case of a combination of an abnormal time signal and a test signal, drive the stopper mechanism to detect the sensor. Holding the product; a method for double checking non-defective products that is characterized by stiffness. 2 Inclined track body on which IC devices and other products are placed and dropped by their own weight; Test equipment that sequentially performs characteristic tests on products on the track; Good products that pass the test are allowed to fall downstream of the track body; In a product sorting mechanism that has a non-defective product check mechanism that does not allow defective products that do not pass the test to fall downstream of the track body; To park products that have fallen from the test device on the track downstream of the test device. a stopper mechanism, a photosensor mechanism that detects a product falling from the test device on the orbit between the test device and the stopper of the stopper mechanism, and an alarm mechanism that is driven based on activation of the stopper; and a sensor The latest test signal indicating the test result of a good or defective product sent from the test equipment based on the detection of the product and the elapsed time spent by the product from the latest test until the sensor detects the product. The stopper mechanism and the alarm mechanism are driven and controlled as follows based on the time signal representing the abnormal result, which is longer or shorter than that. (2) In the case of a combination of the abnormal time signal and the test signal, drive the stopper mechanism to stop the sensor-sensing product;
In addition, the alarm is activated to issue an alarm indicating that the stopped product is suspected to be defective; (3) In the case of a combination of the regular time signal and the defective product test signal, the stopper mechanism is activated to A method for double-checking non-defective products, comprising: parking a product detected by a sensor, and activating an alarm mechanism to issue a second alarm indicating that the product detected by the sensor is a defective product.
JP52070017A 1977-06-15 1977-06-15 Double check method for non-defective products Expired JPS5824945B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52070017A JPS5824945B2 (en) 1977-06-15 1977-06-15 Double check method for non-defective products

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JP52070017A JPS5824945B2 (en) 1977-06-15 1977-06-15 Double check method for non-defective products

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JPS545389A JPS545389A (en) 1979-01-16
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JPH01176623A (en) * 1987-12-30 1989-07-13 Sanki Eng Co Ltd Panel and shadow mask installing device in color cathode-ray tube manufacturing unit

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