JPS5833580B2

JPS5833580B2 - 診断方式

Info

Publication number: JPS5833580B2
Application number: JP52066515A
Authority: JP
Inventors: 敏遠藤; 龍志広谷
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1977-06-06
Filing date: 1977-06-06
Publication date: 1983-07-20
Also published as: JPS541983A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、複数台の処理装置が非同期動作を行う処理装
置系の診断方式に関するものである。

複数台の中央処理装置を備えたシステムでは、システム
に付属する集中試験装置からのキー操作により、シンク
ロナス・モード（システムの二重化同期動作）、セパレ
ート・モード（それぞれが別システムとして独立に動作
）、あるいはマルチプロセッサ・モード（同一のメモリ
をそれぞれが任意にアクセスし、単一システムとして動
作）のいずれかに指定することができる。

二重化同期動作中の２台の中央処理装置の動作に不一致
があった場合、あるいは他のモードで障害が発生した場
合、実行中の仕事を中断して、診断を行い、罹障装置を
切離して代替装置に接続を切替える。

従来、処理装置を診断するためには、第１図に示すよう
に、罹障装置を含む２台の中央処理装置ＣＣＯ，ＣＣ１
が共通のメイン・メモリＭＭから診断プログラムを読出
し、同時にこれを実行して、結果を一致回路Ｍで照合す
ることにより行っている。

すなわち、２台の中央処理装置ＣＣＯ，ＣＣ１は１台の
メイン・メモリＭＭを共用するとともに、両装置ＣＣＯ
，ＣＣ１のプログラム処理結果を比較するために一致回
路Ｍを備え、かつ両装置ＣＣＯ、ＣＣ１は完全な同期運
転を行う。

この場合、処理装置ＣＣＯを診断系、処理装置ＣＣ１を
被診断系とする。

−数回路Ｍにおける照合結果が等しければ正常、等しく
なければ異常の判定を行う。

一致しなかった命令を実行した時点で、被診断装置ＣＣ
１は障害部分を使用したことになる。

第１図の診断方式は、簡単な方法で診断を行うことがで
きるが、メモＩＪＭＭを共用して同期運転を行うには、
タイミングの一致をとるための複雑な回路が必要であり
、また照合するための一致回路Ｍが特別に必要となる。

本発明の目的は、上記のような従来の診断方式における
欠点をなくし、簡単な構成により、処理装置の診断を精
度よ〈実施することにある。

以下、本発明の実施例を、図面により説明する。

第２図は、本方式におけるブロック構成国である。

中央処理装置ＣＣＯ，ＣＣ１には、それぞれ専用のメイ
ン・メモＩＪＭＭがくくりつけに接続され、他系のメイ
ン・メモＩＪＭＭを使用することができないようになっ
ている。

中央処理装置ＣＣＯとＣＣ１間の制御には、３つの機能
、すなわち他系のスタート、ストップおよびレジスタの
読込みの各機能がある。

画処理装置ＣＣＯ，ＣＣ１には、それぞれ外部メモリを
含む周辺装置ｌ１０−０、ｌ１０−１が接続されるが
、−数回路およびそれに相当する回路は何ら接続されな
い。

しかし、両系のメモリ・リフレッシュ回路は、専用に設
けられるので、リフレッシュのタイミングは第３図に示
すように、ずれが生ずる。

すなわち、ダイナミック型ＩＣメモリを使用する場合に
は、リフレッシュ動作が必要であり、各メモリＭＭＯ，
ＭＭ１に対して各処理装置ＣＣＯ、ＣＣ１よりリフレッ
シュ・クロックが送出されてくると、メモリ・リフレッ
シュ動作期間にメモリ・アクセスは待合せとなるため、
同一プログラムを同時にスタートさせた場合にも両系に
命令の実行タイミングのずれが生ずる。

また、スタートＳＴＡとストップＳＴＰが第３図のよう
になる場合には、プログラム実行期間Ｔではリフレッシ
ュの回数に差が生じＭＭｌに対するアクセスの待合せも
１回多くなり、ＣＣ１ではその分だけプログラムの進行
が遅れる。

その他、メイン・メモリの専用化および処理のスタート
・ストップのタイミング等の問題があり、第２図に示す
構成の装置により診断を行うことは非常に困難である。

そこで、本発明においては、同一プログラムを両系で並
行して実行する際、被診断系の命令処理結果を参照する
時診断系のプログラムを被診断系を停止させる命令と置
換えて実行させ、被診断系停止後に被診断系の実行番地
を参照することにより、実行命令がずれているか否かを
判別する。

本発明による診断方式のプログラム進行図を第４図に、
またリフレッシュ回数が一致している場合と差がある場
合の実施例を第５図ａ、ｂに、またストップ時における
結果および番地の照合回路のブロック図を第６図ａ、ｂ
に示す。

先ず、診断系と被診断系のメイン・メモリＭＭＯ，ＭＭ
１に同一の診断プログラムを格納し、診断系処理装置Ｃ
ＣＯからの指／＋ＳＴＡにより診断系および被診断系を
同時にスタートさせる。

これにより、両系は、第４図の命令番地にしたがって同
一の命令を実行していく。

この場合、最後の命令まで処理してしまっては、途中の
処理の結果を参照することができない。

そこで、被診断系に於て、被診断プログラムの実行結果
を参照したい命令があれば、その実行結果の正解データ
をあらかじめ診断系のメイン・メモリに保存しておき、
診断系命令ではその実行結果を参照したい命令を被診断
系をストップさせる命４＞ＳＴＰとあらかじめ置換えて
おく。

第４図では、診断系の６番地の命’ｅＦがストップ命４
＞ＳＴＰと置換えられているので、命令が同時に進行し
て６番地に達すると、被診断系では命＋Ｆが実行される
一方、診断系ではストップ命令ＳＴＰが実行される。

そして、被診断系の命◆Ｆの処理が終った時点で、被診
断系はストップする。

次に、診断系の処理装置ＣＣＯはあらかじめ用意しであ
る命＋Ｆの正解データをレジスタＲＯにセットする。

次に診断系の処理装置ＣＣＯは被診断系処理装置ＣＣ１
のレジスタＲＯの内容を読込む指令を出す。

第６図ａに示すように、診断系の処理装置ＣＣＯは、ス
トップ命◆ＳＴＰを実行して、被診断系をストップした
後、命＋Ｆの実行結果が格納されている処理装置ＣＣ１
のレジスタＲ’０を読込み、命７＋Ｆの正解データが格
納されている処理装置ＣＣＤ内のレジスタＲＯの内容と
ともに演算回路ＡＤＤにて、ピットごとにエックス・ク
ルーシブ・オアをとり、その結果、全ビット零のとき正
常、１ビツトでも１があればその命＋Ｆで障害回路を使
用したことを判別する。

このように、被診断系のレジスタＲ’０を読取り、正解
データと照合すれば、処理の正常、異常を判定できる。

なお、主診断プログラムをストップした後に行う上記照
合用の副診断プログラムは、専用のメモＩＪＭＭＯに常
駐しておくか、あるいは診断時に、ｌ１０−０または■
１０−１の磁気テープ装置等から読込んでおく。

副診断プログラムによって、命◆Ｆの結果を参照した後
は、また元のプログラムＦを診断系の６番地に格納して
、終了する。

また、メモリ・リフレッシュ動作期間には、前述のよう
に診断プログラムの処理が中止されるが、この場合は両
系で専用のメイン・メモＩＪＭＭを使用し、リフレッシ
ュを別個に行うため、リフレッシュ・タイミングにずれ
が生ずる。

第５図ａのように、ストップ命＋ＳＴＰによりストップ
させたい命４＞Ｆをストップさせることができればよい
が、ＣＣＯのリフレッシュの回数が多い場合には、第５
図すに示すように、ストップ命４＞ＳＴＰによりストッ
プさせたい命◆Ｆの次の命◆Ｇをストップさせてしまう
。

そこで、ストップした時点で、処理結果を照合する前に
、被診断系の命令実行番地を診断系が参照することによ
り、当該命令であるか否かを判別する。

すなわち、第６図すに示すように、ストップ命令ＳＴＰ
を実行した後、次に実行するプログラム命令のアドレス
を指定する被診断系処理装置ＣＣ１のロケーション・レ
ジスタＬ在わ内容を診断系処理装置ＣＣＯに読込み、診
断系のロケーション・レジスタＬＲの内容とともに演算
回路ＡＤＤにて、ビットごとにエックス・クルーシブ・
オアをとる。

例えば、両方のアドレス内容が１１０１であれば、演算
結果はオール零となるので、当該プログラムであること
がわかる。

演算結果に１ビツトでも１があれば、当該プログラムで
ないので、最初に戻って被診断系をスタートさせる命令
ＳＴＡよりやり直す。

このように、本発明によれば、診断プログラムの途中で
結果照合のために命令をストップさせた際、該当番地で
あるか否かを調べるので、診断系と被診断系とでリフレ
ッシュ回数に差がある場合でも、差がなくなるまで診断
プログラムをＳＴＡより繰返して実行すれば、何ら問題
はない。

これは、ＳＴ人命令がメモリ・リフレッシュ間のどの時
点で実行されるかにより、リフレッシュ回数の差が出て
くるためである。

また、処理結果の照合および該当番地の参照は、汎用の
演算回路により行うので、照合のための一致回路やその
他の特別な回路は全く不要であり、かつタイミングの一
致をとるための複雑な回路も不要となって、簡単な構成
により高精度で処理装置の診断を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の診断方式のブロック図、第２図は本発明
による診断方式のブロック構成図、第３図はメモリ・リ
フレッシュの回数の違いの説明図、第４図は本発明の一
実施例を示す診断プログラムの進行状態説明図、第５図
ａ、ｂはリフレッシュ回数が一致している場合と、差が
ある場合のタイム・チャート、第６図ａ、ｂはプログラ
ム・ストップ時における処理結果照合回路と、実行番地
照合回路のブロック図である。ＭＭ、ＭＭＯ、ＭＭＩ：メイン・メモリ、Ｍニ一致回
路、ＣＣＯ、ＣＣ１：処理装置、ｌ１Ｏ−ＯＩｌｏ−１
：周辺装置、ＳＴＡニスタート命令、ＳＴＰニストップ
命◆、ＲＯ，Ｒ’０：結果蓄積レジスタ、ＬＲ，ＬＲ’
：ロケーション・レジスタ、ＡＤＤ：演算回路、ｔ：
リフレッシュ周期。

Claims

【特許請求の範囲】

１リフレッシュを必要とする半導体メモリ装置と中央
処理装置とをくくりつけて非同期で使用する処理システ
ムで、診断系と被診断系に同一プログラムを並行して実
行させ実行結果を照合する診断方式において、被診断系
の任意の命令処理結果を参照するために、診断系の同一
命令を被診断系を停止させる命令と置換えた後、両系を
同時に進行させ、被診断系が停止後に、診断系が被診断
系の命令実行番地を参照することにより、該当命令が停
止したか否かを判別し、該当命令が停止した後、命令処
理結果を参照することを特徴とする診断方式。