Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPS5841544B2 - Debugging processing system for pattern recognition equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPS5841544B2 - Debugging processing system for pattern recognition equipment - Google Patents

Debugging processing system for pattern recognition equipment

Info

Publication number
JPS5841544B2
JPS5841544B2 JP13927076A JP13927076A JPS5841544B2 JP S5841544 B2 JPS5841544 B2 JP S5841544B2 JP 13927076 A JP13927076 A JP 13927076A JP 13927076 A JP13927076 A JP 13927076A JP S5841544 B2 JPS5841544 B2 JP S5841544B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern recognition
recognition device
memory
pattern
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP13927076A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5363928A (en
Inventor
清 岩田
真澄 吉田
栄一郎 山本
慎一 清水
幸和 蕪山
猛 桝井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP13927076A priority Critical patent/JPS5841544B2/en
Publication of JPS5363928A publication Critical patent/JPS5363928A/en
Publication of JPS5841544B2 publication Critical patent/JPS5841544B2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Input (AREA)
  • Processing Or Creating Images (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、パターン認識装置に対するデバッグ処理シス
テム、特に演算処理速度の早いパターン認識装置が保持
しかつランダムに発生する情報を受信してメモリ装置内
に格納すべく、上記パターン認識装置からの情報を受信
すると共に独立して上記メモリ装置に対する書込み処理
を行なうメモリ制御装置をもうけ、パターン認識装置デ
バッグに必贋な情報を抽出できるようにしたパターン認
識装置に対するデバッグ処理システムに関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a debug processing system for a pattern recognition device, in particular, a debug processing system for a pattern recognition device having a high calculation processing speed, in order to receive and store randomly generated information in a memory device. This invention relates to a debug processing system for a pattern recognition device, which includes a memory control device that receives information from the pattern recognition device and independently performs write processing to the memory device, and is capable of extracting information essential for debugging the pattern recognition device. It is something.

図形認識などのパターン認識装置においては、情報処理
量が膨大であり、認識処理を行なうハードウェア構成も
可能な限ぎり高速度処理を行なう得るもので構成される
In a pattern recognition device such as a pattern recognition device, the amount of information to be processed is enormous, and the hardware configuration for performing recognition processing is configured to perform processing at the highest possible speed.

このようなパターン認識装置を製作した場合、当該パタ
ーン認識装置の動作機能をデバッグすることが必要とな
るが、このためには大量の既知の入力情報を供給し、そ
の間における入カバターン自体、入カバターン分析結果
、抽出した特微量、認識処理結果などを抽出して解析す
ることが必要となる。
When such a pattern recognition device is manufactured, it is necessary to debug the operation function of the pattern recognition device, but for this purpose, a large amount of known input information is supplied, and the input pattern itself and the input pattern during that time are debugged. It is necessary to extract and analyze analysis results, extracted feature quantities, recognition processing results, etc.

上述の如き各種の情報は、パターン認識装置における各
処理段階でランダムに発生するために一旦バツファ記憶
手段をもつことを必然の構成とされる。
Since the various types of information described above are randomly generated at each processing stage in the pattern recognition device, it is necessary to have a buffer storage means.

しかし上述の如くパターン認識処理装置が大量の入カバ
ターンを次々と処理しつつある間に、順次デバッグに必
要な情報を取出してゆこうとすると、通常速度あるいは
それ以下の中央処理装置を経由して大容量のメモリ装置
に格納していたのでは時間的に間に合わない。
However, as mentioned above, while the pattern recognition processing unit is processing a large number of input patterns one after another, if you try to extract the information necessary for debugging one after another, it will be necessary to retrieve the information necessary for debugging through the central processing unit, which operates at normal speed or lower. Storing it in a large-capacity memory device would not be enough time.

また上記各種の情報のビット幅がランダムであり、上記
メモリ装置内に例えば1語単位にまとめて書込む必要が
あることから、上記処理が益々遅れることになる。
Further, the bit widths of the various types of information are random, and it is necessary to write them into the memory device in units of, for example, one word, which further delays the processing.

本発明は上記の点を解決することを目的としており、本
発明のパターン認識装置に対するデバッグ処理システム
は入カバターンを受信して該入カバターンを分析して該
入カバターンに対応した特徴量を抽出し該特徴量にもと
ずいて認識処理を行なうパターン認識装置に接続される
よう構成さ札該パターン認識装置が保持する上記入カバ
ターンあるいは上記分析結果あるいは上記特徴量あるい
は上記認識処理結果の1つまたはそれらの組合わせたも
のを抽出するパターン認識装置に対するデバッグ処理シ
ステムにおいて、上記パターン認識装置に対するインタ
フェースをもちかつ当該パターン認識装置からランダム
に供給される上記入カバターンあるいは上記分析結果あ
るいは上記特徴量あるいは上記認識処理結果の1つまた
はそれらの組合わせたものを受信して蓄積するバッファ
記憶手段を有するメモリ制御回路部、上記バッファ記憶
手段の内容を格納するメモリ装置、少なくとも該メモリ
装置に対する書込み・読出し処理を行ないかつ上記パタ
ーン認識装置に対する制御を行なう中央処理装置をもう
け、上記メモリ制御回路部はダイレクト・メモリ・アク
セス方式によって直接上記メモリ装置に対して書込み処
理を行ない得るよう構成したことを特徴としている。
The present invention aims to solve the above-mentioned problems, and a debugging processing system for a pattern recognition device according to the present invention receives an input cover turn, analyzes the input cover turn, and extracts a feature amount corresponding to the input cover turn. The tag is configured to be connected to a pattern recognition device that performs recognition processing based on the feature amount.The above-mentioned cover pattern or the above-mentioned analysis result held by the pattern recognition device, or one of the above-mentioned feature amount or the above-mentioned recognition processing result, or In a debug processing system for a pattern recognition device that extracts a combination thereof, the input cover pattern, the analysis result, the feature value, or the A memory control circuit unit having a buffer storage means for receiving and storing one or a combination of recognition processing results, a memory device storing the contents of the buffer storage means, and at least writing/reading processing for the memory device. and a central processing unit that controls the pattern recognition device, and the memory control circuit section is configured to be able to directly write to the memory device using a direct memory access method. .

以下図面を参照しつつ説明する。This will be explained below with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例構成、第2図は本発明のシス
テムによって得られた情報にもとずいてデバッグを行な
う態様を説明する説明図を示す。
FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an aspect of debugging based on information obtained by the system of the present invention.

第1図において、1はパターン認識装置であって例えば
光学的パターン認識装置の如きもの、2は本発明対象と
なるデバッグ処理システム、3は本発明においてもうけ
られるメモリ制御回路部、4は大容量のメモリ装置、5
は中央処理装置を表わしている。
In FIG. 1, 1 is a pattern recognition device, such as an optical pattern recognition device, 2 is a debug processing system which is the subject of the present invention, 3 is a memory control circuit section provided in the present invention, and 4 is a large capacity memory device, 5
represents the central processing unit.

中央処理装置5は、ストアト・プログラム型の処理装置
であって通常の如くメモリ装置4に対する書込み・読出
し処理を行なうと共に、演算処理や外部入出力装置に対
する情報転送処理、更には各種装置に対する制御を行な
う機能をもっている。
The central processing unit 5 is a stored program type processing unit, and performs normal writing and reading processing on the memory device 4, as well as arithmetic processing, information transfer processing to external input/output devices, and control over various devices. It has the function to do.

またメモリ制御回路部3は、パターン認識装置1に対す
るインタフェースをもち次の機能をもっている。
The memory control circuit section 3 also has an interface to the pattern recognition device 1 and has the following functions.

即ち、(1)パターン認識装置1からランダムなタイミ
ングでビット幅が固定的に定まっていないデータ(#1
ないし#nデータ)をバッファリングし、(ii)#
1データないし#nデータのすべてがバッファリングさ
れ終ったとき、メモリ装置4に対する書込みバス幅にあ
わせて上記データを区分し、(ili)該区分にあわせ
て、メモリ装置4に対する書込みアドレス情報を更新す
ると共にメモリ装置4に対する書込みアクセス要求を発
するように構成される。
That is, (1) data (#1) whose bit width is not fixedly determined from the pattern recognition device 1 at random timing;
to #n data), and (ii) #n data).
When all of the 1 data to #n data have been buffered, the data is divided according to the write bus width for the memory device 4, and (ili) the write address information for the memory device 4 is updated according to the division. and is configured to issue a write access request to the memory device 4 at the same time.

換言すると、データを一時記憶するバッファ記憶手段と
、データ編集機能部と、メモリ装置4に対する書込みア
クセス機能部とをもっている。
In other words, it has a buffer storage means for temporarily storing data, a data editing function section, and a write access function section for the memory device 4.

今デバッグ処理システム2を作動せしめるプログラムを
メモリ装置4にローディングして起動すると、メモリ制
御回路部3を介してパターン認識装置1に対して制御信
号が供給され、パターン認識装置1をデバッグ・モード
にして例えばプログラムで指定したデータをパターン認
識装置1からメモリ制御回路部3に出力できるようにさ
れる。
When the program for operating the debug processing system 2 is loaded into the memory device 4 and started, a control signal is supplied to the pattern recognition device 1 via the memory control circuit section 3, and the pattern recognition device 1 is placed in the debug mode. For example, data specified by a program can be output from the pattern recognition device 1 to the memory control circuit section 3.

このときパターン認識装置1は転送するデータ(#1な
いし#nデータ)と共にタイミング信号なとの制御信号
(#1ないし#nC0NTL)を対して出力する。
At this time, the pattern recognition device 1 outputs control signals (#1 to #nC0NTL) such as timing signals together with data to be transferred (#1 to #n data).

メモリ制御回路部3においては、例えば制御信号(#I
C0NTL)と共に並列的に送られてきたデータ(#1
データ)をバッファ記憶手段内に格納する。
In the memory control circuit section 3, for example, a control signal (#I
C0NTL) sent in parallel with the data (#1
data) in a buffer storage means.

そして上述の如くすべてのデータが送られると、上記バ
ッファ記憶手段の内容をメモリ装置4に対するバス幅に
あわせて次々と区分し、該区分時にメモリ装置4に対す
る書込みアクセス要求を発してアドレス情報をメモリ装
置4に送り該アドレス情報を更新する。
When all the data has been sent as described above, the contents of the buffer storage means are divided one after another according to the bus width to the memory device 4, and at the time of division, a write access request to the memory device 4 is issued to store address information in the memory. The address information is sent to device 4 and updated.

即ち、パターン認識装置1からのデータはメモリ制御回
路部3を介して高速度でメモリ装置4内に書込まれてゆ
く。
That is, data from the pattern recognition device 1 is written into the memory device 4 at high speed via the memory control circuit section 3.

中央処理装置5は必要に応じてメモリ装置4の内容を外
部入出力装置I10に出力する。
The central processing unit 5 outputs the contents of the memory device 4 to the external input/output device I10 as necessary.

上述の如くパターン認識装置1からのデータは、入カバ
ターン自体、入カバターンを分析した分析結果、入カバ
ターンから抽出された特徴量、認識処理結果などであり
、例えば磁気テープ装置などに格納される。
As described above, the data from the pattern recognition device 1 includes the input cover pattern itself, the analysis result of the input cover pattern, the feature quantity extracted from the input cover pattern, the recognition processing result, etc., and is stored in, for example, a magnetic tape device.

第2図はデバッグを行なう態様を説明しており、図中の
符号2は第1図図示と同じデバッグ処理システム、6は
入出力装置の1つである磁気テープ装置、7は整合辞書
あるいはシミュレータ、8は不一致チェック装置部を表
わしている。
FIG. 2 explains the manner in which debugging is carried out, in which reference numeral 2 is the same debug processing system as shown in FIG. 1, 6 is a magnetic tape device which is one of the input/output devices, and 7 is a matching dictionary or simulator. , 8 represents a mismatch checking device section.

上述の都くデバッグ処理システム2から出力されたデバ
ッグ用データは磁気テープ装置6内に一旦格納される。
As mentioned above, the debug data output from the debug processing system 2 is temporarily stored in the magnetic tape device 6.

そして該磁気テープ装置6の内容とシミュレータによっ
て行なったシミュレーション結果とを比較することによ
り、パターン認識装置1内の障害個所を発見する。
By comparing the contents of the magnetic tape device 6 with the results of a simulation performed by a simulator, a fault in the pattern recognition device 1 is discovered.

また磁気テープ装置6内に格納された特徴量と既存の整
合辞書とを対比せしめて、当該整合辞書自体の修正に利
用したり、あるいはパターン認識装置が行なった標準パ
ターンの参照回数を調べることにより整合辞書の簡略化
のための情報に資するようにする。
In addition, by comparing the feature values stored in the magnetic tape device 6 with an existing matching dictionary and using it to modify the matching dictionary itself, or by checking the number of times the standard pattern is referenced by the pattern recognition device, Provide information for simplifying the harmonized dictionary.

以上説明した如く、本発明によれば、パターン認識装置
1内に発生する各種の情報を高速度でメモリ装置4内に
転送格納することができ、デバッグ処理のために利用で
きる。
As described above, according to the present invention, various information generated in the pattern recognition device 1 can be transferred and stored in the memory device 4 at high speed, and can be used for debugging processing.

特に認識対象カテゴリが犬となると共に手書き文字の如
く変形が多い場合には識別に必要な特徴量も多種多数に
わたるので、誤認識やりジエクトの原因が、整合辞書に
あるのかあるいは特徴抽出過程にあるのか、更にはもつ
と細部にわたる部位にあるのかなどをチェックする必要
があるが、これらの大量の情報を外部に取出すことが可
能となる。
In particular, when the recognition target category is dog and there are many deformations such as handwritten characters, there are many different types of feature values required for identification, so the cause of misrecognition or jikuto may lie in the matching dictionary or in the feature extraction process. Although it is necessary to check whether the information is present in very detailed parts, etc., it becomes possible to extract this large amount of information to the outside.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例構成、第2図は本発明のシス
テムによって得られた情報にもとずいてデバッグを行な
う態様を説明する説明図を示す。 図中、1はパターン認識装置、2はデバッグ処理システ
ム、3はメモリ制御回路部、4はメモリ装置、5は中央
処理装置を表わす。
FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an aspect of debugging based on information obtained by the system of the present invention. In the figure, 1 is a pattern recognition device, 2 is a debug processing system, 3 is a memory control circuit, 4 is a memory device, and 5 is a central processing unit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 人カバターンを受信して該入カバターンを分析して
該入カバターンに対応した特微量を抽出し該特微量にも
とずいて認識処理を行なうパターン認識装置に接続され
るよう構成され、該パターン認識装置が保持する上記入
カバターンあるいは上記分析結果あるいは上記特微量あ
るいは上記認識処理結果の1つまたはそれらの組合わせ
たものを抽出するパターン認識装置に対するデパック処
理システムにおいて、上記パターン認識装置に対するイ
ンタフェースをもちかつ当該パターン認識装置からラン
ダムに供給される上記入カバターンあるいは上記分析結
果あるいは上記特微量あるいは上記認識処理結果の1つ
またはそれらの組合わせたものを受信して蓄積するバッ
ファ記憶手段を有するメモリ制御回路部、上記バッファ
記憶手段の内容を格納するメモリ装置、少なくとも該メ
モリ装置に対する書込み・読出し処理を行ないかつ上記
パターン認識装置に対する制御を行なう中央処理装置を
もうけ、上記メモリ制御回路部はダイレクト・メモリ・
アクセス方式によって直接上記メモリ装置に対して書込
み処理を行ない得るよう構成したことを特徴とするパタ
ーン認識装置に対するデバッグ処理システム。
1 is configured to be connected to a pattern recognition device that receives a person's cover turn, analyzes the input cover turn, extracts a feature quantity corresponding to the input cover turn, and performs recognition processing based on the feature quantity; In a depack processing system for a pattern recognition device that extracts one or a combination of the input cover pattern, the analysis result, the feature quantity, or the recognition processing result held by the recognition device, an interface to the pattern recognition device is provided. A memory having buffer storage means for receiving and storing one or a combination of the above-mentioned cover pattern, the above-mentioned analysis result, the above-mentioned feature quantity, or the above-mentioned recognition processing result, which are supplied randomly from the pattern recognition device. A control circuit section, a memory device that stores the contents of the buffer storage means, and a central processing unit that performs at least write/read processing on the memory device and controls the pattern recognition device, and the memory control circuit section has a direct memory device. memory·
1. A debug processing system for a pattern recognition device, characterized in that the system is configured to directly write to the memory device using an access method.
JP13927076A 1976-11-19 1976-11-19 Debugging processing system for pattern recognition equipment Expired JPS5841544B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13927076A JPS5841544B2 (en) 1976-11-19 1976-11-19 Debugging processing system for pattern recognition equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13927076A JPS5841544B2 (en) 1976-11-19 1976-11-19 Debugging processing system for pattern recognition equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5363928A JPS5363928A (en) 1978-06-07
JPS5841544B2 true JPS5841544B2 (en) 1983-09-13

Family

ID=15241363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13927076A Expired JPS5841544B2 (en) 1976-11-19 1976-11-19 Debugging processing system for pattern recognition equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5841544B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5363928A (en) 1978-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900013389A (en) Data processing system with built-in program supervisor
RU2002118114A (en) Computer device using non-renewable random access dynamic memory
DE3688136D1 (en) METHOD FOR TESTING AND SETTING DATA INTO A DATA RECORD ON A DISK IN AN ATOMAR INPUT / OUTPUT OPERATION.
JPS5995660A (en) Data processor
JPH032579A (en) Method and device for logic circuit test using compressed data
JPS5987566A (en) Memory access detection method
JPS5841544B2 (en) Debugging processing system for pattern recognition equipment
US6965853B2 (en) Back annotation apparatus for carrying out a simulation based on the extraction result in regard to parasitic elements
US5222232A (en) Apparatus and method for monitoring prom access in a microcomputer
CN116185857B (en) Automated verification method, device, electronic equipment, and medium for simulation test cases
JPS63231695A (en) Test control system for automatic transactor
JP2727947B2 (en) Address trace method
SU896626A1 (en) Input-output monitoring device
SU750570A1 (en) Rapid-access checking device
JPS5838879B2 (en) fail memory
JPS61290546A (en) Tracing system for microprogram controller
JPS6278625A (en) Magnetic disk controller
JPS6011400B2 (en) IC test equipment
JPS6326411B2 (en)
JPS5852248B2 (en) Read data length extraction method
JPH01255924A (en) Directory memory access control device
JPH05276225A (en) Communication fault analyzer
JPS6366588A (en) Simulation data input/output system
JPS62134900A (en) Test circuit
JPS58182761A (en) Data checking system