JPS5845191B2 - フオトダイオ−ドアレイ - Google Patents
フオトダイオ−ドアレイInfo
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- JPS5845191B2 JPS5845191B2 JP51146587A JP14658776A JPS5845191B2 JP S5845191 B2 JPS5845191 B2 JP S5845191B2 JP 51146587 A JP51146587 A JP 51146587A JP 14658776 A JP14658776 A JP 14658776A JP S5845191 B2 JPS5845191 B2 JP S5845191B2
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- Japan
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- substrates
- photodiode
- photodiodes
- diode array
- photo diode
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- Expired
Links
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Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
模写電送等において、読取りの速度を向上するためにフ
ォトダイオードアレイが用いられる。
ォトダイオードアレイが用いられる。
すなわち多数のフォトダイオードを一列(こ配列し2、
原画をその配列方向と直角に移動させて各ダイオードか
ら信号を並列に取出すもので、新聞紙の読み取りに必要
な程度の解像度を得るためには1間の幅に3〜5個のフ
ォトダイオードを配列する必要がある。
原画をその配列方向と直角に移動させて各ダイオードか
ら信号を並列に取出すもので、新聞紙の読み取りに必要
な程度の解像度を得るためには1間の幅に3〜5個のフ
ォトダイオードを配列する必要がある。
また同一半導体基板上に複数個のフォトダイオードを形
成する場合は、励起キャリヤの拡散長の関係から各々の
間に20μm程度の間隔を設けなければならないから、
1つのフォトダイオード180μmX180μm程度の
犬さとなる。
成する場合は、励起キャリヤの拡散長の関係から各々の
間に20μm程度の間隔を設けなければならないから、
1つのフォトダイオード180μmX180μm程度の
犬さとなる。
かつ原画は一般にA4またはB4の大きさを有するから
フォトダイオードアレイの全長は200〜2601fL
mを必要とするが、シリコン等の単結晶半導体基板は径
50mm程度の円板であるから、これを帯状に切断して
用いると、その各々にフォトダイオードアレイを形成し
て更(こ複数個の帯状基板を一直線状に連結する必要が
ある。
フォトダイオードアレイの全長は200〜2601fL
mを必要とするが、シリコン等の単結晶半導体基板は径
50mm程度の円板であるから、これを帯状に切断して
用いると、その各々にフォトダイオードアレイを形成し
て更(こ複数個の帯状基板を一直線状に連結する必要が
ある。
しかし帯状半導体基板の端部を切断し、研磨して突き合
せると機械的加工の精度の点から、それらの間に100
μm程度の間隙が生ずることを避は得ない。
せると機械的加工の精度の点から、それらの間に100
μm程度の間隙が生ずることを避は得ない。
この間隙は同一基板上に形成されたフォトダイオードの
間隔20μmより遥かに大きいから基板の継目において
解像度が低下する。
間隔20μmより遥かに大きいから基板の継目において
解像度が低下する。
従って従来は基板の継目には、該基板上のフォトダイオ
ード列から外れた位置に更に他のフォトダイオードを配
置し、その出力に一定の遅延を与えて、連結された基板
上におけるフォトダイオードの出力と共に送出する装置
が用いられていた。
ード列から外れた位置に更に他のフォトダイオードを配
置し、その出力に一定の遅延を与えて、連結された基板
上におけるフォトダイオードの出力と共に送出する装置
が用いられていた。
しかしフォトダイオードアレイの構造が複雑で製作も煩
雑になると共(こ遅延回路等を必要とするから回路構成
も複雑であり、かつ遅延時間の誤差によって充分な解像
度が得られない等の欠点があった。
雑になると共(こ遅延回路等を必要とするから回路構成
も複雑であり、かつ遅延時間の誤差によって充分な解像
度が得られない等の欠点があった。
従って本発明はこのような欠点のないフォトダイオード
アレイを提供するものである。
アレイを提供するものである。
第1図は本発明実施例の平面図、第2図はその縦断面図
、また第3図は第1図の一部を拡大した図である。
、また第3図は第1図の一部を拡大した図である。
このように基台1に帯状のシリコン単結晶基板2,3を
エポキシ系接着剤で貼着すると共に基板2,3の端部を
突き合せた接合部にも上記接着剤4を塗布しである。
エポキシ系接着剤で貼着すると共に基板2,3の端部を
突き合せた接合部にも上記接着剤4を塗布しである。
基板2,3は例えばn型導電性の半導体であってその表
面にp型不純物の拡散層5を形成し、かつ中央を帯状に
残して両側をエツチングにより除去すると共に残った帯
状部に例えば20μmの幅のきざみ目を入れて、180
μmX180μmの大きさの正方形状フォトダイオード
6.6・・・・・・を形成しである。
面にp型不純物の拡散層5を形成し、かつ中央を帯状に
残して両側をエツチングにより除去すると共に残った帯
状部に例えば20μmの幅のきざみ目を入れて、180
μmX180μmの大きさの正方形状フォトダイオード
6.6・・・・・・を形成しである。
すなわち帯状の基板2,3の上にフォトダイオード6.
6・・・・・・が1間に5個の密度をもって一列に配列
されている。
6・・・・・・が1間に5個の密度をもって一列に配列
されている。
また各ダイオードにおける拡散層5の上には金属電極バ
ッド7を設け、かつ上記フォトダイオード列の両側に添
着した絶縁体層8の−Lに金属端子層9,9・・・・・
・を形成して例えば径25μの金線10.10・・・・
・・で各電極パッド7と端子層9とをそれぞれ接続しで
ある。
ッド7を設け、かつ上記フォトダイオード列の両側に添
着した絶縁体層8の−Lに金属端子層9,9・・・・・
・を形成して例えば径25μの金線10.10・・・・
・・で各電極パッド7と端子層9とをそれぞれ接続しで
ある。
従って基板2,3を接地すると、端子層9,9・・・・
・・から各フォトダイオード6.6・・・・・・の出力
を得ることができる。
・・から各フォトダイオード6.6・・・・・・の出力
を得ることができる。
上述の半導体基板2,3は、その端部をダイオード6.
6・・・・・・の配列方向に対して例えば45度の角度
aをもって切断し、この切断端面を突き合せである。
6・・・・・・の配列方向に対して例えば45度の角度
aをもって切断し、この切断端面を突き合せである。
なおこの場合に、上記端面の機械的仕上精度の点から、
突き合わされた端面の間に100μm程度の間隙すを設
けなければならない。
突き合わされた端面の間に100μm程度の間隙すを設
けなければならない。
また基板2,3の端面c、dはこれを所定の間隙すをも
って対設したとき、基板2のダイオード列と基板3のダ
イオード列とが所定のピッチで連続的に配列されて一連
のダイオードアレイを構成するようにしである。
って対設したとき、基板2のダイオード列と基板3のダ
イオード列とが所定のピッチで連続的に配列されて一連
のダイオードアレイを構成するようにしである。
すなわち図は基板2および3の端部のダイオード6□お
よび63がそれぞれ一3角形状に切断され、それらが合
体して1つのフォトダイオードを形成したもので、この
ような場合は上記2つのダイオードを金線10で連結し
て1つの端子層に接続する。
よび63がそれぞれ一3角形状に切断され、それらが合
体して1つのフォトダイオードを形成したもので、この
ような場合は上記2つのダイオードを金線10で連結し
て1つの端子層に接続する。
しかし第3図(こ鎖線で示したように基板2,3の端部
のダイオードの一部だけが欠除する場合はこのような必
要がなく、それぞれを独立のダイオードとして別の端子
層に接続する。
のダイオードの一部だけが欠除する場合はこのような必
要がなく、それぞれを独立のダイオードとして別の端子
層に接続する。
上記実施例のように本発明は帯状半導体基板の端部を、
斜めに切断して、突き合せたものである。
斜めに切断して、突き合せたものである。
従って前記実施例においては基板2,3の端部のフォト
ダイオード62と63とが、ダイオード列に直角な走行
方向において距離eだけ重合する。
ダイオード62と63とが、ダイオード列に直角な走行
方向において距離eだけ重合する。
すなわち基板2,3の連結部に全く間隙を生じないから
、この部分の解像度が低下するような欠点がなく、しか
も各フォトダイオードがすべて実質的lこ一直線上lこ
配置されるから遅延回路lこよって信号発生時刻の差を
補償する等の必汝がないと共にフォトダイオードアレイ
の構造も簡単で、その製作が容易である。
、この部分の解像度が低下するような欠点がなく、しか
も各フォトダイオードがすべて実質的lこ一直線上lこ
配置されるから遅延回路lこよって信号発生時刻の差を
補償する等の必汝がないと共にフォトダイオードアレイ
の構造も簡単で、その製作が容易である。
なお前記実施例の場合は、連結部における1つの)第1
・ダイオードの受光面積が3分の1程度に減少する。
・ダイオードの受光面積が3分の1程度に減少する。
しかし模写電送のよう(こ原画を黒白の二値信号に変換
する場合は、フォトダイオードの出力をスライサに加え
てマーク、スペース信号を得るから、そのスライスレベ
ルを比較的低く設定することにより、例等支障を生じな
いものである。
する場合は、フォトダイオードの出力をスライサに加え
てマーク、スペース信号を得るから、そのスライスレベ
ルを比較的低く設定することにより、例等支障を生じな
いものである。
第1図は本賢明実施例の平面図、第2図は第1図のフォ
トダイオードアレイの縦断面図、第3図は第1図の一部
を拡大した図である。 なお図において、1は基台、2,3はシリコン単結晶半
導体基板、4は接着剤、5は不純物拡散層、6はフォト
ダイオード、7は電極パッド、8は絶縁体層、9は金属
端子層、10は金線である。
トダイオードアレイの縦断面図、第3図は第1図の一部
を拡大した図である。 なお図において、1は基台、2,3はシリコン単結晶半
導体基板、4は接着剤、5は不純物拡散層、6はフォト
ダイオード、7は電極パッド、8は絶縁体層、9は金属
端子層、10は金線である。
Claims (1)
- 1 複数個のフォトダイオードをそれぞれ一列に形成し
た複数個の帯状半導体基板の端部を上記フォトダイオー
ドの配列方向(こ対して傾斜するように斜めに切断し、
各半導体基板の端部を突き合せて連結することにより所
望の長さとなしたことを特徴とするフォトダイオードア
レイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51146587A JPS5845191B2 (ja) | 1976-12-08 | 1976-12-08 | フオトダイオ−ドアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51146587A JPS5845191B2 (ja) | 1976-12-08 | 1976-12-08 | フオトダイオ−ドアレイ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5371591A JPS5371591A (en) | 1978-06-26 |
| JPS5845191B2 true JPS5845191B2 (ja) | 1983-10-07 |
Family
ID=15411074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51146587A Expired JPS5845191B2 (ja) | 1976-12-08 | 1976-12-08 | フオトダイオ−ドアレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5845191B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1175884A (en) * | 1980-06-25 | 1984-10-09 | Hugh St. L. Dannatt | Light emitting diode assembly |
| JP6403369B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2018-10-10 | ローム株式会社 | 光検出装置およびセンサパッケージ |
-
1976
- 1976-12-08 JP JP51146587A patent/JPS5845191B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5371591A (en) | 1978-06-26 |
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