JPS58630B2 - 耐トラッキング性試験装置 - Google Patents
耐トラッキング性試験装置Info
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- JPS58630B2 JPS58630B2 JP6301278A JP6301278A JPS58630B2 JP S58630 B2 JPS58630 B2 JP S58630B2 JP 6301278 A JP6301278 A JP 6301278A JP 6301278 A JP6301278 A JP 6301278A JP S58630 B2 JPS58630 B2 JP S58630B2
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
活電状態にある絶縁材料が高温、湿潤、塵埃等にさらさ
れた場合に生成する絶縁材料の表面炭化による絶縁破壊
、すなわちトラッキング破壊は、電気機器の安全寿命の
上で最も重要な要素であり、これを短期間で評価する試
験法の確立が国際的にも最重要課題の一つとなっている
。
れた場合に生成する絶縁材料の表面炭化による絶縁破壊
、すなわちトラッキング破壊は、電気機器の安全寿命の
上で最も重要な要素であり、これを短期間で評価する試
験法の確立が国際的にも最重要課題の一つとなっている
。
1EC−112の制トラッキング性推奨試験法は、暫定
的に、このトラッキング現象を評価する目安として国際
電気技術委員会(IEC)で決められたもので、規格決
定の段階から再現性に問題点を残していることがよく知
られており、数年毎に各国の改訂案が提案され、徐々に
改良されつつある。
的に、このトラッキング現象を評価する目安として国際
電気技術委員会(IEC)で決められたもので、規格決
定の段階から再現性に問題点を残していることがよく知
られており、数年毎に各国の改訂案が提案され、徐々に
改良されつつある。
1EC−112の推奨耐トラツキング性試験方法は、第
1図に示す如く、先ず試料1に対電極2を接触させ、電
源スィッチ3をオンにして切替スイッチ4をB位置にし
、電圧調整器5と電流調整器6とにより試験電圧と1A
の短絡電流を設定する。
1図に示す如く、先ず試料1に対電極2を接触させ、電
源スィッチ3をオンにして切替スイッチ4をB位置にし
、電圧調整器5と電流調整器6とにより試験電圧と1A
の短絡電流を設定する。
次に切替スイッチ4をA位置にして遮断電流調整器7A
により0.5Aの電流が2秒間流れたとき、遮断器3B
が遮断するように調整する。
により0.5Aの電流が2秒間流れたとき、遮断器3B
が遮断するように調整する。
この様な条件設定のもとで、スイッチ3A、3Bがオン
、スイッチ4がA位置にあることを確認し、滴下スイッ
チ8をオンにして試験液滴下器9を動作させ、試験液粒
10を30秒に一回の頻度で試料1に滴下する。
、スイッチ4がA位置にあることを確認し、滴下スイッ
チ8をオンにして試験液滴下器9を動作させ、試験液粒
10を30秒に一回の頻度で試料1に滴下する。
試験液の滴下は試料1の表面を流れる電流が、7Aによ
りスイッチ3Bを動作させるまで継続し、滴下時間計1
2により3Bが遮断するまでの時間が求められる。
りスイッチ3Bを動作させるまで継続し、滴下時間計1
2により3Bが遮断するまでの時間が求められる。
この場合の電流変化をたとえば電流調整器7Aの両端の
電圧降下で引出し、これを直流変換器13により検出し
、記録計14により測定する方法もある。
電圧降下で引出し、これを直流変換器13により検出し
、記録計14により測定する方法もある。
このようにして絶縁材料の耐トラツキング性は試験液の
滴下回数や試験液の滴下に伴う試料表面の電流変化がデ
ータとして求められているが、データのバラツキ原因を
除くため、試料と対電極との接触条件や試験液の滴下条
件を再現性の良い高精度な方法で管理しても、試料その
もののバラツキ、試料表面の環境劣化の再現性、および
試料表面のトラック(炭化導電路)の形成過程のバラツ
キなどを区分することができない。
滴下回数や試験液の滴下に伴う試料表面の電流変化がデ
ータとして求められているが、データのバラツキ原因を
除くため、試料と対電極との接触条件や試験液の滴下条
件を再現性の良い高精度な方法で管理しても、試料その
もののバラツキ、試料表面の環境劣化の再現性、および
試料表面のトラック(炭化導電路)の形成過程のバラツ
キなどを区分することができない。
過去、数千回以上の耐トラツキング性試験の結果から、
考えられるトラッキング現象と各現象に対応する試験デ
ータの傾向を検討すると、耐トラツキング性試験の初期
段階に伴う試験液の蒸発現象1、試験液の蒸発による電
路の遮断に伴う放電現象■、および■の放電現象に伴う
高温による試料表面の炭化現象■は、電極や試験液の滴
下条件を高精度に管理することにより試験データの再現
性を向上できるが、試験液の滴下が約10滴以上になる
と、■〜■の終了後数秒経過してから不規則におこる炭
化導電路の発熱現象■、これらの温度上昇によるガス発
生現象■、発生ガスと試験液の蒸発成分を介した気中放
電現象■、これらの■■に伴う局部的な温度上昇による
試料表面の機械的な割れ、破断現象■、さらに■、V、
VI、■の現象が原因となった発火現象■などの諸現象
が発生したり、しなかったりするため、特に、試験液が
50滴前後となる試験において、バラツキが著しくなる
傾向にある。
考えられるトラッキング現象と各現象に対応する試験デ
ータの傾向を検討すると、耐トラツキング性試験の初期
段階に伴う試験液の蒸発現象1、試験液の蒸発による電
路の遮断に伴う放電現象■、および■の放電現象に伴う
高温による試料表面の炭化現象■は、電極や試験液の滴
下条件を高精度に管理することにより試験データの再現
性を向上できるが、試験液の滴下が約10滴以上になる
と、■〜■の終了後数秒経過してから不規則におこる炭
化導電路の発熱現象■、これらの温度上昇によるガス発
生現象■、発生ガスと試験液の蒸発成分を介した気中放
電現象■、これらの■■に伴う局部的な温度上昇による
試料表面の機械的な割れ、破断現象■、さらに■、V、
VI、■の現象が原因となった発火現象■などの諸現象
が発生したり、しなかったりするため、特に、試験液が
50滴前後となる試験において、バラツキが著しくなる
傾向にある。
これらのトラッキング過程と試験データとの対応が、正
確であると仮定すると、一つの試験データに含まれてい
る再現性の高いトラッキング現象1.II、IIIと、
再現性の悪いトラッキング現象■、V、VI、■、■と
を分離測定することができれば、一回の試験データで、
試験データの信頼性を評価することができる。
確であると仮定すると、一つの試験データに含まれてい
る再現性の高いトラッキング現象1.II、IIIと、
再現性の悪いトラッキング現象■、V、VI、■、■と
を分離測定することができれば、一回の試験データで、
試験データの信頼性を評価することができる。
本発明は、絶縁材料がトラック破壊を生ずる過程に伴う
諸現象の区別と、材料としてのバラツキの有無を把握し
、求められる試験データが信頼できるが否かの評価を同
時に行うことを目的とする。
諸現象の区別と、材料としてのバラツキの有無を把握し
、求められる試験データが信頼できるが否かの評価を同
時に行うことを目的とする。
以下に、本発明の実施例を詳細に説明する。
従来から使われている第1図aのような耐トラツキング
試験器の端子15Aと15B間に、例えば第1図6に示
されるように対電極2Aと並列に接続された複数個の対
電極2B、2C,2D、2E。
試験器の端子15Aと15B間に、例えば第1図6に示
されるように対電極2Aと並列に接続された複数個の対
電極2B、2C,2D、2E。
2Fと、その各対電極におのおの直列に接続され、定格
を段階的に変えた電流遮断器7B、7C,7D7Eおよ
び7Fを接続した対電極群を結線する。
を段階的に変えた電流遮断器7B、7C,7D7Eおよ
び7Fを接続した対電極群を結線する。
この対電極群は、例えば、第2図、第3図に示すように
、試験液滴下器9の直下に設けられた円筒形状の絶縁函
17の円周表面に配置され、回転機18により9の直下
に次々と移動させるよう構成する。
、試験液滴下器9の直下に設けられた円筒形状の絶縁函
17の円周表面に配置され、回転機18により9の直下
に次々と移動させるよう構成する。
この回転機18は、滴下頻度調整器11と同期させ、3
0秒間に一回転するよう調整する。
0秒間に一回転するよう調整する。
絶縁函は、例えば第4図のように構成する。
先ず、対電極2は板バネ19の作用により試料1の表面
に一定の圧力で当てられ、電極支持部20に接続される
。
に一定の圧力で当てられ、電極支持部20に接続される
。
電極支持部20は、例えばバネ式のヒユーズホルダーの
様な構造で、片側電極に対して電流ヒユーズ21、他方
の電極には表示用のネオンランプ22を介して、おのお
の電源供給レール23に接続され、さらにバネ式の刷子
24を介して端子15Aと15Bとに接続される。
様な構造で、片側電極に対して電流ヒユーズ21、他方
の電極には表示用のネオンランプ22を介して、おのお
の電源供給レール23に接続され、さらにバネ式の刷子
24を介して端子15Aと15Bとに接続される。
なお、この電流ヒユーズ21は、設定電流が2秒間以上
継続して流れた場合に、遮断する性能を持ったものを選
定する。
継続して流れた場合に、遮断する性能を持ったものを選
定する。
本発明に関する耐トラツキング性試験器による試験は、
以下のように行われる。
以下のように行われる。
先ず対電極群の各電極に、同一試料を同一条件で接触さ
せ、各電極支持体に例えば、0.15A、0.2A、0
.25A。
せ、各電極支持体に例えば、0.15A、0.2A、0
.25A。
0.35A、0.4Aの遮断電流定格を持つ電流ヒユー
ズを入れた状態で端子15A、15B間に接続する。
ズを入れた状態で端子15A、15B間に接続する。
次に前述したように、従来の試験方法に従って電圧、短
絡電流、遮断電流を設定し、滴下頻度調整器11の滴下
頻度を、30秒/並列試験試料数、たとえば6個の試料
の場合は、5秒間に調整し、試験液の滴下を開始する。
絡電流、遮断電流を設定し、滴下頻度調整器11の滴下
頻度を、30秒/並列試験試料数、たとえば6個の試料
の場合は、5秒間に調整し、試験液の滴下を開始する。
第5図は、本発明者らが過去に行った1EC−112推
奨法による試験データより、平均的な試験液の滴下に伴
う電流変化の様子を示したもので、試験液の蒸発現象は
、必ず5秒以内に終了する。
奨法による試験データより、平均的な試験液の滴下に伴
う電流変化の様子を示したもので、試験液の蒸発現象は
、必ず5秒以内に終了する。
このため試験で対電極数が6個以下であれば、各対電極
間に5秒間以上の時間間隔で試験液が滴下されることに
なり、試験液を蒸発させるために必要な電流は分流され
ず、どの試料にも一定の試験電力が供給される。
間に5秒間以上の時間間隔で試験液が滴下されることに
なり、試験液を蒸発させるために必要な電流は分流され
ず、どの試料にも一定の試験電力が供給される。
次に試験液の蒸発に伴う電路の遮断時に電界の集中によ
り生する放電現象■と、この放電に伴う高温による試料
表面の炭化現象■は、試験液の蒸発現象の直後、瞬間的
に発生するため時間的ズレによる分流は無視され、蒸発
現象と同様、−回目の滴下段階では短絡電流が分流され
る可能性はなく、各試料の■→■→■の過程に供給され
る電力条件は一定となる。
り生する放電現象■と、この放電に伴う高温による試料
表面の炭化現象■は、試験液の蒸発現象の直後、瞬間的
に発生するため時間的ズレによる分流は無視され、蒸発
現象と同様、−回目の滴下段階では短絡電流が分流され
る可能性はなく、各試料の■→■→■の過程に供給され
る電力条件は一定となる。
第2回目以降の試験液の滴下時における各試料への電力
供給条件を検討すると、現象I→■→■は滴下数の増加
に従って電極温度が飽和すると、試験液の抵抗値と電極
温度とにより3〜4秒間一定となり、試料表面の抵抗値
が試験液の抵抗値(平均300Ω)より極めて高い間は
、並列試験の時間的なズレにより、各試料に供給される
電力は一定値となる。
供給条件を検討すると、現象I→■→■は滴下数の増加
に従って電極温度が飽和すると、試験液の抵抗値と電極
温度とにより3〜4秒間一定となり、試料表面の抵抗値
が試験液の抵抗値(平均300Ω)より極めて高い間は
、並列試験の時間的なズレにより、各試料に供給される
電力は一定値となる。
この結果数個の試料のどれかに現象■〜■が発生してい
る間は、他の試料には電力が供給されなくなり、現象■
〜■は、どの試料も■〜■が終了後の1〜2秒間の機会
に制限され、現象I〜■と現象■〜■は時間的に分離試
験される。
る間は、他の試料には電力が供給されなくなり、現象■
〜■は、どの試料も■〜■が終了後の1〜2秒間の機会
に制限され、現象I〜■と現象■〜■は時間的に分離試
験される。
試験液の滴下が進み、主として現象■〜■の効果で試料
表面に炭化導電路が形成されると、この炭化導電路の抵
抗値に従って電流が流れはじめ、例えば、0.15人定
格の電流遮断器を直列に接続した試料の試験が終了する
と、第6図に示すように、2Fの次、回転方向に隣接す
る2Eの耐トラツキング性時間が5秒間延長し、この試
料の■〜■現象の発生する機会が多くなる。
表面に炭化導電路が形成されると、この炭化導電路の抵
抗値に従って電流が流れはじめ、例えば、0.15人定
格の電流遮断器を直列に接続した試料の試験が終了する
と、第6図に示すように、2Fの次、回転方向に隣接す
る2Eの耐トラツキング性時間が5秒間延長し、この試
料の■〜■現象の発生する機会が多くなる。
このようにして次々と遮断電流の小さい定格の電流遮断
器から順番に試験が終了するように回路を構成すると、
最後のn個目の試験は、n−1個目が破壊するまでは、
主として現象■〜■によるトラッキング(トラックの形
成過程)が継続されたことになり、n−1個目の試料が
破壊するまでの試験すなわち、遮断電流定格の最も高い
回路の試験は現象■〜■が主効果とする試験、その他は
現象■〜■に加え■〜■が伴った試験として諸現象効果
が分離されたデータを得ることができる。
器から順番に試験が終了するように回路を構成すると、
最後のn個目の試験は、n−1個目が破壊するまでは、
主として現象■〜■によるトラッキング(トラックの形
成過程)が継続されたことになり、n−1個目の試料が
破壊するまでの試験すなわち、遮断電流定格の最も高い
回路の試験は現象■〜■が主効果とする試験、その他は
現象■〜■に加え■〜■が伴った試験として諸現象効果
が分離されたデータを得ることができる。
仮りに、遮断電流定格段階通りの破壊が生じない場合は
、材料としてのバラツキが、突然、不規則な現象■〜■
が発生したためと考えられ、n個全ての試験が終了する
までの試験過程をよく観察することにより、破壊原因を
知ることができる。
、材料としてのバラツキが、突然、不規則な現象■〜■
が発生したためと考えられ、n個全ての試験が終了する
までの試験過程をよく観察することにより、破壊原因を
知ることができる。
本発明により、特に1EC−112推奨法でCTI(C
omparative Tracking 1ndex
: 50滴で破壊する電圧)を求める場合によく生じる
数滴から100滴以上に及ぶ試験データのバラツキが伴
う試料について試験を行うと、同じ30秒毎に50滴の
試験液を滴下する試験時間の間に、データのバラツキ原
因が判ると共に、トラック破壊の主原因が現象I〜■に
よる試料のCTIについては、一回の試験で試験データ
の信頼性やトラック破壊過程が判別できるため、2〜3
回の繰収し試、験で高精度のデータを得ることができ、
結果的に、耐トラツキング性試験の所要時間を大巾に短
縮することができる。
omparative Tracking 1ndex
: 50滴で破壊する電圧)を求める場合によく生じる
数滴から100滴以上に及ぶ試験データのバラツキが伴
う試料について試験を行うと、同じ30秒毎に50滴の
試験液を滴下する試験時間の間に、データのバラツキ原
因が判ると共に、トラック破壊の主原因が現象I〜■に
よる試料のCTIについては、一回の試験で試験データ
の信頼性やトラック破壊過程が判別できるため、2〜3
回の繰収し試、験で高精度のデータを得ることができ、
結果的に、耐トラツキング性試験の所要時間を大巾に短
縮することができる。
第1図は本発明および一般的な耐トラツキング性試験装
置の一回路構成を示すもので、回路aに回路群すを接続
するものであり、第2図、第3図は本発明の実施例にお
ける回路群すの構造を示す図、第4図は個々の電極支持
部の構造を示す図、第5図は耐トラツキング性試験過程
に伴う現象を示す図、第6図は本発明による6個の並列
試験において、各試料のトラック電流の経時変化と現象
を対応させた結果の一例を示す図である。 1・・・・・・試料、2A〜2F・・・・・・対電極、
7B〜7F・・・・・・電流遮断器、9・・・・・・試
験液滴下器、17・・・・・・電極支持部をなす絶縁面
。
置の一回路構成を示すもので、回路aに回路群すを接続
するものであり、第2図、第3図は本発明の実施例にお
ける回路群すの構造を示す図、第4図は個々の電極支持
部の構造を示す図、第5図は耐トラツキング性試験過程
に伴う現象を示す図、第6図は本発明による6個の並列
試験において、各試料のトラック電流の経時変化と現象
を対応させた結果の一例を示す図である。 1・・・・・・試料、2A〜2F・・・・・・対電極、
7B〜7F・・・・・・電流遮断器、9・・・・・・試
験液滴下器、17・・・・・・電極支持部をなす絶縁面
。
Claims (1)
- 1 複数個の対電極を等間隔をおいて円周方向に配置し
た板状または円筒形状の電極支持部と、この電極支持部
を30秒に1回転の回転速度で一定方向に駆動させる回
転機と、この複数個の対電極間に一定の電力条件を並列
に連続して供給する刷子と、この複数個の対電極間に流
れるトラック電流を段階的に検出するための遮断電流定
格が段階的に異なり一定の順序で各対電極におのおの直
列に接続した電流遮断器より成り、−試料の耐トラツキ
ング性試験を数個の同一試料の並列試験によって試料の
トラック破壊に伴う諸現象を分離測定することを特徴と
したトラッキング性試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6301278A JPS58630B2 (ja) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | 耐トラッキング性試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6301278A JPS58630B2 (ja) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | 耐トラッキング性試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54154368A JPS54154368A (en) | 1979-12-05 |
| JPS58630B2 true JPS58630B2 (ja) | 1983-01-07 |
Family
ID=13216973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6301278A Expired JPS58630B2 (ja) | 1978-05-25 | 1978-05-25 | 耐トラッキング性試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58630B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55110964A (en) * | 1979-02-20 | 1980-08-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus for testing anti-tracking property against multi-phenomenon |
-
1978
- 1978-05-25 JP JP6301278A patent/JPS58630B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54154368A (en) | 1979-12-05 |
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