Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPS588080B2 - Error check method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPS588080B2 - Error check method - Google Patents

Error check method

Info

Publication number
JPS588080B2
JPS588080B2 JP51145064A JP14506476A JPS588080B2 JP S588080 B2 JPS588080 B2 JP S588080B2 JP 51145064 A JP51145064 A JP 51145064A JP 14506476 A JP14506476 A JP 14506476A JP S588080 B2 JPS588080 B2 JP S588080B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
timing signal
timing
memory operation
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP51145064A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5368925A (en
Inventor
安藤三郎
宮坂秀
武藤博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP51145064A priority Critical patent/JPS588080B2/en
Publication of JPS5368925A publication Critical patent/JPS5368925A/en
Publication of JPS588080B2 publication Critical patent/JPS588080B2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電子計算組織における記憶装置におけるエラ
ーチェック方式に関し、特に記憶装置内で競合する信号
系のチェック方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an error checking method in a storage device in an electronic computing organization, and more particularly to a method for checking competing signal systems within the storage device.

記憶装置内で、記憶素子を記憶情報の読み出しまたは書
き込み、あるいは記憶情報のリフレッシュの動作を行な
わせる場合、一般に記憶素子に数種のタイミングが必要
であり、一方記憶素子の各動作において共通のタイミン
グがある。
In a storage device, when a storage element is used to read or write stored information or refresh stored information, several types of timing are generally required for the storage element, while a common timing is required for each operation of the storage element. There is.

従来この様な場合のチェックとして、読み出し要求、書
き込み要求、リフレッシュ要求の選択または優先順位決
定回路が正しく動作するか、お互いの信号間でチェック
するか、記憶素子の各タイミング間のチェックをすると
いう各回路においてチェックするか、または一方の回路
だけチェックする様な場合、チェックする信号が多いと
回路が繁雑になったり、また前回路で引き起こされた誤
動作が後続の回路でチェックできない欠点がある。
Conventionally, checks in such cases include checking whether the read request, write request, refresh request selection or priority determination circuit operates correctly, checking between each other's signals, or checking between each timing of the storage element. When each circuit or only one circuit is checked, if there are many signals to be checked, the circuit becomes complicated, and malfunctions caused in the previous circuit cannot be checked in the subsequent circuit.

本発明は、前述のごとく、記憶装置内で記憶素子を、記
憶情報の読み出し、または書き込み、あるいは記憶情報
のリフレッシュの動作を行なわせる場合、一般に記憶素
子に数種のタイミングが必要であり、一方各動作におい
て、共通のタイミングがある。
As described above, when a storage element in a storage device is caused to read or write stored information or refresh stored information, several types of timing are generally required for the storage element. In each operation, there is a common timing.

それらのタイミングは、まず各動作要求のうちから選択
された1つの要求から記憶素子を動作させる1つの基本
信号とし、その信号から記憶素子に必要な数種のタイミ
ングを発生し、各要求に合う動作をさせている。
These timings are determined by first using one basic signal that operates the storage element from one request selected from among the operation requests, and then generating several types of timing required for the storage element from that signal to match each request. It's working.

この過程で、各動作要求を選択した場合、その選択が正
しく行なわれないと、記憶素子の誤動作へとつながり、
記憶情報の破壊、もしくは記憶情報の誤りへとつながる
In this process, when each operation request is selected, if the selection is not performed correctly, it will lead to malfunction of the memory element.
This leads to destruction of memory information or errors in memory information.

その様なことを無くすために、本発明では、選択され選
ばれた信号から記憶素子に必要なタイミングを発生させ
る1信号線において、あらかじめ定められた時間の定め
られた時間巾をもつ信号であるか、そして定められた信
号以外の信号がないことをチェックすることで、選択ま
たは優先順位決定という前回路のチェックと後にこの信
号より造られる数種のタイミングの保障ができるように
している。
In order to eliminate such a problem, in the present invention, a signal having a predetermined time width of a predetermined time is used in one signal line that generates the timing necessary for the storage element from the selected signal. By checking that there is no signal other than the predetermined signal, it is possible to check the previous circuit for selection or priority determination, and to guarantee several types of timing that are later created from this signal.

記憶情報の読み出し、または書き込み、あるいは記憶情
報保持のために必要な一定時間ごとのリフレッシュ各動
作において、一般に数種のタイミングが必要であり、ま
た各動作において共通のタイミングもあるような記憶素
子を用いた場合、記憶装置内でリフレッシュ要求を発生
する方法をとった記憶装置とCPUを結合した場合に、
CPUからの記憶装置への記憶情報の読み出し、あるい
は書き込み要求と、リフレッシュ要求とが互いに独立の
関係の時、記憶装置内で競合が生ずる。
In general, several types of timing are required for reading or writing stored information, or refreshing operations at fixed intervals necessary for retaining stored information, and storage elements that have common timing for each operation are used. When using a CPU and a storage device that generates a refresh request within the storage device,
When a request to read or write stored information from a CPU to a storage device and a refresh request are mutually independent, a conflict occurs within the storage device.

この競合する要求をあらかじめ定められた優先順位によ
って、一つの要求を選択し、その要求に依って記憶素子
を動作させる時、正しく選択回路が動作して、一つの要
求信号通り記憶素子にタイミングを発生するかのチェッ
クは本発明では、次のようになされる。
When one request is selected from these competing requests according to a predetermined priority order and the storage element is operated according to that request, the selection circuit operates correctly and the timing is set for the storage element according to one request signal. In the present invention, a check as to whether this occurs is performed as follows.

即ち、選択回路後、記憶素子のタイミングを発生させる
1信号線において、あらかじめ定められた時間の定めら
れた時間巾をもつ信号であるか、そして定められた信号
以外の信号がないことをチェックする。
That is, after the selection circuit, it is checked whether the signal has a predetermined time width and a predetermined time width on one signal line that generates the timing of the storage element, and that there is no signal other than the predetermined signal. .

これにより、前段の回路のチェックとそれに続く後段の
回路に対する保障がなされるので、各回路において多数
の信号間をチェックするという従来方式に比べ、回路の
繁雑さがなくなる。
As a result, the circuit in the previous stage is checked and the circuit in the subsequent stage is guaranteed, so that the circuit becomes less complex than the conventional system in which a large number of signals are checked in each circuit.

また、本発明によれば前段の回路の誤動作に依っては、
後段の回路でチェックできない場合等もなくなる。
Furthermore, according to the present invention, depending on the malfunction of the preceding stage circuit,
This eliminates cases where the circuit cannot be checked in the subsequent stage.

次に図面を用いて、本発明を詳細に説明する。Next, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は記憶装置の概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram of a storage device.

図において、CPUは中央処理装置、Mは記憶装置、R
EGはレジスタ、PRIは優先決定回路、MEMはリフ
レッシュを要する半導体メモリ、Tはリフレッシュ要求
信号を発生する回路、DETはエラー検出装置である。
In the figure, CPU is a central processing unit, M is a storage device, and R
EG is a register, PRI is a priority determination circuit, MEM is a semiconductor memory that requires refreshing, T is a circuit that generates a refresh request signal, and DET is an error detection device.

半導体メモリMEMに対する要求は、レジスタREGに
受付けられ、そして該受付けられた要求の中の1つが優
先決定回路PRIにより選ばれる。
Requests for the semiconductor memory MEM are accepted by the register REG, and one of the accepted requests is selected by the priority determination circuit PRI.

選ばれた結果の信号が半導体メモリMEMに供給される
が、この信号をエラー検出装置DETがチェックするこ
とになる。
A signal resulting from the selection is supplied to the semiconductor memory MEM, and this signal is checked by the error detection device DET.

この優先決定回路PRIが正しく動作しない時、即ち、
所定タイミングで所定巾の信号が半導体メモリMEMに
与えられない。
When this priority determination circuit PRI does not operate correctly, that is,
A signal of a predetermined width is not given to the semiconductor memory MEM at a predetermined timing.

この様な時には、半導体メモリを動作させるための種々
のタイミング信号が正しく発生されず、半導体メモリを
正しく動作させることはできない。
In such a case, various timing signals for operating the semiconductor memory are not generated correctly, and the semiconductor memory cannot be operated correctly.

この様な事態を避けるために、本発明では優先決定回路
PRIの出力信号のエラー検出をするようにしている。
In order to avoid such a situation, the present invention detects an error in the output signal of the priority determining circuit PRI.

第2図は本発明のエラー検出装置であり、第3図は第2
図の各部のタイムチャートである。
Fig. 2 shows the error detection device of the present invention, and Fig. 3 shows the error detection device of the present invention.
It is a time chart of each part of the figure.

回路構成を示す第2図と、タイムチャートを示す第3図
を参照すると、本発明の実施例は、■信号線(例えば第
1図における優先決定回路の出力信号線)に定められた
時間に、定められた時間巾をもつ1信号だけであるかを
チェックする。
Referring to FIG. 2 showing the circuit configuration and FIG. 3 showing the time chart, the embodiment of the present invention has the following advantages: , check whether there is only one signal with a defined time width.

図において、0〜10はクロツク信号であり、半導体メ
モリへの要求信号11から所定時間遅れた所定巾の信号
をチェックする時には、要求信号11を論理回路30,
31,32,33及びデイレーライン50によって微分
し、実行サイクル12の時間を定めるFF54のセット
入力信号とチェックされる1信号13,14のチェック
すべき時間を作るデイレーライン51の入力信号を作る
In the figure, 0 to 10 are clock signals, and when checking a signal of a predetermined width delayed by a predetermined time from the request signal 11 to the semiconductor memory, the request signal 11 is sent to the logic circuit 30,
31, 32, 33 and the delay line 50, the input signal of the delay line 51 is differentiated by the set input signal of the FF 54, which determines the time of the execution cycle 12, and the input signal of the delay line 51, which creates the time to check the 1 signals 13, 14 to be checked. make.

尚、説明上、信号13は所定タイミングの所定巾のパル
スであることをチェックされる信号であり、信号14は
同じ実行サイクル中に現れた誤りのパルスである。
For the sake of explanation, the signal 13 is a signal that is checked to be a pulse of a predetermined width at a predetermined timing, and the signal 14 is an erroneous pulse that appears during the same execution cycle.

このデイレーライン51は、チェックすべき時間のスト
ローブパルス15,16,17,18及び19,20を
作り出す。
This delay line 51 produces strobe pulses 15, 16, 17, 18 and 19, 20 at the times to be checked.

今、チェックされる信号が13とすると、まずパルス1
5が発生され、これによって定められる時間より信号1
3が速い場合、パルス15と論理積35が取れエラーと
してFF5Qのセットパルスとなり、エラー信号21が
発生する。
Now, if the signal to be checked is 13, first pulse 1
5 is generated, and from the time determined by this, the signal 1
If 3 is fast, the logical product 35 of the pulse 15 is taken and becomes the set pulse of FF5Q as an error, and an error signal 21 is generated.

次にパルス16によって定められた時間に信号13が来
ていない場合、パルス16と論理積37がとれエラーと
されFF61のセットパルスとなり、エラー信号22が
発生する。
Next, if the signal 13 does not arrive at the time determined by the pulse 16, the logical product 37 with the pulse 16 is taken and an error is determined, which becomes a set pulse for the FF 61, and an error signal 22 is generated.

更にパルス17によって定められた時間まで信号が出て
いないとパルス17と論理積39がとれエラーとなりF
F62のセットパルスとなりエラー信号23が発生する
Furthermore, if the signal is not output until the time determined by pulse 17, the logical product of pulse 17 and 39 will be taken and an error will occur.
This becomes a set pulse of F62 and an error signal 23 is generated.

最後にパルス18により定められた時間以降も信号が出
ていると、パルス18と論理積40がとれエラーとなり
FF63のセットパルスとなりエラー信号24が発生す
る。
Finally, if the signal continues to be output after the time determined by the pulse 18, the logical product 40 with the pulse 18 is taken, resulting in an error, which becomes a set pulse for the FF 63, and an error signal 24 is generated.

一方、被チェック信号13と実行サイクル12との論理
積42をとり、そのパルスによりまずFF65のセット
パルスとし、かつ次段のDタイプFF55のクロツクと
する。
On the other hand, the logical product 42 of the signal to be checked 13 and the execution cycle 12 is taken, and the resulting pulse is first used as a set pulse for the FF 65 and as a clock for the D type FF 55 at the next stage.

またFF55の出力を次段のDタイプFF66のデータ
とすることにより、同じ実行サイクル12中に再び、被
チェック信号14と実行サイクル12との論理積42が
とれた時、FF55の出力と前段のFF65の論理積4
4がとれエラー信号25が発生する。
In addition, by using the output of FF55 as the data of the next stage D type FF66, when the logical product 42 of the signal to be checked 14 and the execution cycle 12 is obtained again during the same execution cycle 12, the output of FF55 and the data of the previous stage FF65 logical product 4
4 is removed, and an error signal 25 is generated.

以上のエラー信号21,22,23,24,25の論理
和45をとりエラーとすべき時のタイミング19と論理
積46をとりエラー信号26を発生する。
A logical sum 45 of the above error signals 21, 22, 23, 24, and 25 is taken, and a logical product 46 is taken with timing 19 when an error should be made, to generate an error signal 26.

以上の方法でチェックされる信号が定められた時間から
定められた時間まで発生していて、唯一つ発生したかど
うかチェックできる。
By the above method, it is possible to check whether the signal to be checked is occurring from a predetermined time to a predetermined time, and whether only one signal has occurred.

一方、これらのFF60〜66はエラー発生でリセット
信号20との論理積48がとれず、内容は保持される。
On the other hand, in these FFs 60 to 66, the logical product 48 with the reset signal 20 cannot be obtained due to the occurrence of an error, and the contents are retained.

エラーのない状態ではリセット20により、又エラーの
発生した時は外部からのRe S e tによりリセッ
トされる。
It is reset by the reset 20 when there is no error, and by Re Set from the outside when an error occurs.

本発明は以上説明したように、優先順位をとって記憶装
置に要求を出すという多信号から1信号を選択して、1
信号により記憶装置全体にわたる信号を作るという場合
、選択回路の保障が重要で、その選択された信号の発生
すべき時間と時間巾及び、その発生回数をチェックする
構成をとることで、前回路の厳しいチェックと後続の回
路の保障となる効果がある。
As explained above, the present invention selects one signal from among multiple signals that issue a request to a storage device in order of priority.
When creating a signal that spans the entire storage device using a signal, it is important to ensure the selection circuit, and by using a configuration that checks the time and duration that the selected signal should be generated, as well as the number of times it occurs, it is possible to This has the effect of conducting strict checks and guaranteeing subsequent circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は記憶装置の概略図、第2図は本発明の実施例、
第3図は第2図における信号のタイムチャートを示す。 図において、MEMは半導体メモリ、DETはエラー検
出装置、Tはリフレッシュ要求信号発生回路、REGは
受付け1/ジスタ、CPUは中央処理装置、13は被チ
ェック信号、14は定められた以外の信号、51はチェ
ックのためのタイミング信号15〜19を発生するデイ
レーラインである。
FIG. 1 is a schematic diagram of a storage device, FIG. 2 is an embodiment of the present invention,
FIG. 3 shows a time chart of the signals in FIG. In the figure, MEM is a semiconductor memory, DET is an error detection device, T is a refresh request signal generation circuit, REG is a reception 1/register, CPU is a central processing unit, 13 is a signal to be checked, 14 is a signal other than the specified one, 51 is a delay line that generates timing signals 15 to 19 for checking.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 内部から発生されるリフレッシュ要求信号と中央処
理装置からの読出しまたは書込み要求信号とのうちのい
ずれか1つをあらかじめ定められた順序で選択し、該選
択した要求信号にもとづいて記憶素子を動作させるため
のメモリ動作用タイミング信号を発生させる記憶装置に
おいて、上記選択した要求信号をもとに、当該要求信号
より一定時間だけ遅延された第1のタイミング信号と、
該第1のタイミング信号よりさらに遅延されかつ該第1
のタイミング信号と重なり合わない第2のタイミング信
号と、該第2のタイミング信号よりさらに遅延された第
3のタイミング信号と、該第3のタイミング信号よりさ
らに遅延されかつ該第3のタイミング信号と重なり合わ
ない第4のタイミング信号とを生成する手段と、上記メ
モリ動作用タイミング信号と上記第1のタイミング信号
との論理条件信号を保持する第1のフリツプフロツプと
、上記メモリ動作用タイミング信号と上記第2のタイミ
ング信号との論理条件信号を保持する第2のフリツプフ
ロツプと、上記メモリ動作用タイミング信号と上記第3
のタイミング信号との論理条件信号を保持する第3のフ
リツプフロツプと、上記メモリ動作用タイミング信号と
上記第4のタイミング信号との論理条件信号を保持する
第4のフリツプフロツプとを少なくともそなえ、上記各
フリツプフロツプの出力にもとづいて、上記メモリ動作
用タイミング信号が正規の時点に発生されかつ正規の時
間幅を有するか否かをチェックすることを特徴とするエ
ラーチェック方式。
1 Select one of a refresh request signal generated internally and a read or write request signal from the central processing unit in a predetermined order, and operate the storage element based on the selected request signal. In a storage device that generates a timing signal for a memory operation to perform a memory operation, a first timing signal that is delayed by a certain period of time from the selected request signal, based on the selected request signal;
further delayed than the first timing signal and
a second timing signal that does not overlap with the timing signal; a third timing signal that is further delayed than the second timing signal; and a third timing signal that is further delayed than the third timing signal. means for generating a fourth timing signal that does not overlap; a first flip-flop that holds a logical condition signal for the memory operation timing signal and the first timing signal; a second flip-flop holding a logical condition signal for the second timing signal;
and a fourth flip-flop that holds a logic condition signal between the memory operation timing signal and the fourth timing signal. An error check method characterized in that it is checked based on the output of the memory operation timing signal whether or not the memory operation timing signal is generated at a regular time and has a regular time width.
JP51145064A 1976-12-02 1976-12-02 Error check method Expired JPS588080B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP51145064A JPS588080B2 (en) 1976-12-02 1976-12-02 Error check method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP51145064A JPS588080B2 (en) 1976-12-02 1976-12-02 Error check method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5368925A JPS5368925A (en) 1978-06-19
JPS588080B2 true JPS588080B2 (en) 1983-02-14

Family

ID=15376535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51145064A Expired JPS588080B2 (en) 1976-12-02 1976-12-02 Error check method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS588080B2 (en)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5175107U (en) * 1974-12-09 1976-06-12
JPS5175137A (en) * 1974-12-23 1976-06-29 Toyoda Automatic Loom Works DABURUTSUISUTAYO FURAIYANO KAITENSEIDOSOCHI

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5368925A (en) 1978-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6918016B1 (en) Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble
US6473841B1 (en) Signal processing apparatus with memory access history storage
US20060104150A1 (en) Semiconductor memory device
JPS588080B2 (en) Error check method
JP2845868B2 (en) Error master detection device
EP0426169A2 (en) Optical data filing system with improved memory read/write control
JPS6130301B2 (en)
JPS5823680B2 (en) Storage device control method
JPH0143392B2 (en)
CN118819686B (en) Redundancy channel software period synchronization method and system meeting functional safety requirements
JPS60138661A (en) Processor control system
JPH05107314A (en) IC test equipment
JPH1153267A (en) Memory data error automatic correcting circuit
JP3329221B2 (en) LSI test equipment
JP2979918B2 (en) Interrupt detection circuit
JPS63278156A (en) Memory writing control circuit
JP2018156188A (en) Memory controller, information processor, and memory control method
JP2536781B2 (en) Parity check device
RU1807521C (en) Device for controlling regeneration in semiconductive dynamic storage
JPH0748192B2 (en) Storage device
JPH04332060A (en) data calculation device
JPS6049333B2 (en) Clock control method
JP2000293553A (en) Output simultaneous operation verification method and verification system
JPS6252338B2 (en)
JPH0254582B2 (en)