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JPS588080B2 - エラ−チエツク方式 - Google Patents
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JPS588080B2 - エラ−チエツク方式 - Google Patents

エラ−チエツク方式

Info

Publication number
JPS588080B2
JPS588080B2 JP51145064A JP14506476A JPS588080B2 JP S588080 B2 JPS588080 B2 JP S588080B2 JP 51145064 A JP51145064 A JP 51145064A JP 14506476 A JP14506476 A JP 14506476A JP S588080 B2 JPS588080 B2 JP S588080B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
timing signal
timing
memory operation
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP51145064A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5368925A (en
Inventor
安藤三郎
宮坂秀
武藤博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5368925A publication Critical patent/JPS5368925A/ja
Publication of JPS588080B2 publication Critical patent/JPS588080B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電子計算組織における記憶装置におけるエラ
ーチェック方式に関し、特に記憶装置内で競合する信号
系のチェック方式に関する。
記憶装置内で、記憶素子を記憶情報の読み出しまたは書
き込み、あるいは記憶情報のリフレッシュの動作を行な
わせる場合、一般に記憶素子に数種のタイミングが必要
であり、一方記憶素子の各動作において共通のタイミン
グがある。
従来この様な場合のチェックとして、読み出し要求、書
き込み要求、リフレッシュ要求の選択または優先順位決
定回路が正しく動作するか、お互いの信号間でチェック
するか、記憶素子の各タイミング間のチェックをすると
いう各回路においてチェックするか、または一方の回路
だけチェックする様な場合、チェックする信号が多いと
回路が繁雑になったり、また前回路で引き起こされた誤
動作が後続の回路でチェックできない欠点がある。
本発明は、前述のごとく、記憶装置内で記憶素子を、記
憶情報の読み出し、または書き込み、あるいは記憶情報
のリフレッシュの動作を行なわせる場合、一般に記憶素
子に数種のタイミングが必要であり、一方各動作におい
て、共通のタイミングがある。
それらのタイミングは、まず各動作要求のうちから選択
された1つの要求から記憶素子を動作させる1つの基本
信号とし、その信号から記憶素子に必要な数種のタイミ
ングを発生し、各要求に合う動作をさせている。
この過程で、各動作要求を選択した場合、その選択が正
しく行なわれないと、記憶素子の誤動作へとつながり、
記憶情報の破壊、もしくは記憶情報の誤りへとつながる
その様なことを無くすために、本発明では、選択され選
ばれた信号から記憶素子に必要なタイミングを発生させ
る1信号線において、あらかじめ定められた時間の定め
られた時間巾をもつ信号であるか、そして定められた信
号以外の信号がないことをチェックすることで、選択ま
たは優先順位決定という前回路のチェックと後にこの信
号より造られる数種のタイミングの保障ができるように
している。
記憶情報の読み出し、または書き込み、あるいは記憶情
報保持のために必要な一定時間ごとのリフレッシュ各動
作において、一般に数種のタイミングが必要であり、ま
た各動作において共通のタイミングもあるような記憶素
子を用いた場合、記憶装置内でリフレッシュ要求を発生
する方法をとった記憶装置とCPUを結合した場合に、
CPUからの記憶装置への記憶情報の読み出し、あるい
は書き込み要求と、リフレッシュ要求とが互いに独立の
関係の時、記憶装置内で競合が生ずる。
この競合する要求をあらかじめ定められた優先順位によ
って、一つの要求を選択し、その要求に依って記憶素子
を動作させる時、正しく選択回路が動作して、一つの要
求信号通り記憶素子にタイミングを発生するかのチェッ
クは本発明では、次のようになされる。
即ち、選択回路後、記憶素子のタイミングを発生させる
1信号線において、あらかじめ定められた時間の定めら
れた時間巾をもつ信号であるか、そして定められた信号
以外の信号がないことをチェックする。
これにより、前段の回路のチェックとそれに続く後段の
回路に対する保障がなされるので、各回路において多数
の信号間をチェックするという従来方式に比べ、回路の
繁雑さがなくなる。
また、本発明によれば前段の回路の誤動作に依っては、
後段の回路でチェックできない場合等もなくなる。
次に図面を用いて、本発明を詳細に説明する。
第1図は記憶装置の概略図である。
図において、CPUは中央処理装置、Mは記憶装置、R
EGはレジスタ、PRIは優先決定回路、MEMはリフ
レッシュを要する半導体メモリ、Tはリフレッシュ要求
信号を発生する回路、DETはエラー検出装置である。
半導体メモリMEMに対する要求は、レジスタREGに
受付けられ、そして該受付けられた要求の中の1つが優
先決定回路PRIにより選ばれる。
選ばれた結果の信号が半導体メモリMEMに供給される
が、この信号をエラー検出装置DETがチェックするこ
とになる。
この優先決定回路PRIが正しく動作しない時、即ち、
所定タイミングで所定巾の信号が半導体メモリMEMに
与えられない。
この様な時には、半導体メモリを動作させるための種々
のタイミング信号が正しく発生されず、半導体メモリを
正しく動作させることはできない。
この様な事態を避けるために、本発明では優先決定回路
PRIの出力信号のエラー検出をするようにしている。
第2図は本発明のエラー検出装置であり、第3図は第2
図の各部のタイムチャートである。
回路構成を示す第2図と、タイムチャートを示す第3図
を参照すると、本発明の実施例は、■信号線(例えば第
1図における優先決定回路の出力信号線)に定められた
時間に、定められた時間巾をもつ1信号だけであるかを
チェックする。
図において、0〜10はクロツク信号であり、半導体メ
モリへの要求信号11から所定時間遅れた所定巾の信号
をチェックする時には、要求信号11を論理回路30,
31,32,33及びデイレーライン50によって微分
し、実行サイクル12の時間を定めるFF54のセット
入力信号とチェックされる1信号13,14のチェック
すべき時間を作るデイレーライン51の入力信号を作る
尚、説明上、信号13は所定タイミングの所定巾のパル
スであることをチェックされる信号であり、信号14は
同じ実行サイクル中に現れた誤りのパルスである。
このデイレーライン51は、チェックすべき時間のスト
ローブパルス15,16,17,18及び19,20を
作り出す。
今、チェックされる信号が13とすると、まずパルス1
5が発生され、これによって定められる時間より信号1
3が速い場合、パルス15と論理積35が取れエラーと
してFF5Qのセットパルスとなり、エラー信号21が
発生する。
次にパルス16によって定められた時間に信号13が来
ていない場合、パルス16と論理積37がとれエラーと
されFF61のセットパルスとなり、エラー信号22が
発生する。
更にパルス17によって定められた時間まで信号が出て
いないとパルス17と論理積39がとれエラーとなりF
F62のセットパルスとなりエラー信号23が発生する
最後にパルス18により定められた時間以降も信号が出
ていると、パルス18と論理積40がとれエラーとなり
FF63のセットパルスとなりエラー信号24が発生す
る。
一方、被チェック信号13と実行サイクル12との論理
積42をとり、そのパルスによりまずFF65のセット
パルスとし、かつ次段のDタイプFF55のクロツクと
する。
またFF55の出力を次段のDタイプFF66のデータ
とすることにより、同じ実行サイクル12中に再び、被
チェック信号14と実行サイクル12との論理積42が
とれた時、FF55の出力と前段のFF65の論理積4
4がとれエラー信号25が発生する。
以上のエラー信号21,22,23,24,25の論理
和45をとりエラーとすべき時のタイミング19と論理
積46をとりエラー信号26を発生する。
以上の方法でチェックされる信号が定められた時間から
定められた時間まで発生していて、唯一つ発生したかど
うかチェックできる。
一方、これらのFF60〜66はエラー発生でリセット
信号20との論理積48がとれず、内容は保持される。
エラーのない状態ではリセット20により、又エラーの
発生した時は外部からのRe S e tによりリセッ
トされる。
本発明は以上説明したように、優先順位をとって記憶装
置に要求を出すという多信号から1信号を選択して、1
信号により記憶装置全体にわたる信号を作るという場合
、選択回路の保障が重要で、その選択された信号の発生
すべき時間と時間巾及び、その発生回数をチェックする
構成をとることで、前回路の厳しいチェックと後続の回
路の保障となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は記憶装置の概略図、第2図は本発明の実施例、
第3図は第2図における信号のタイムチャートを示す。 図において、MEMは半導体メモリ、DETはエラー検
出装置、Tはリフレッシュ要求信号発生回路、REGは
受付け1/ジスタ、CPUは中央処理装置、13は被チ
ェック信号、14は定められた以外の信号、51はチェ
ックのためのタイミング信号15〜19を発生するデイ
レーラインである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 内部から発生されるリフレッシュ要求信号と中央処
    理装置からの読出しまたは書込み要求信号とのうちのい
    ずれか1つをあらかじめ定められた順序で選択し、該選
    択した要求信号にもとづいて記憶素子を動作させるため
    のメモリ動作用タイミング信号を発生させる記憶装置に
    おいて、上記選択した要求信号をもとに、当該要求信号
    より一定時間だけ遅延された第1のタイミング信号と、
    該第1のタイミング信号よりさらに遅延されかつ該第1
    のタイミング信号と重なり合わない第2のタイミング信
    号と、該第2のタイミング信号よりさらに遅延された第
    3のタイミング信号と、該第3のタイミング信号よりさ
    らに遅延されかつ該第3のタイミング信号と重なり合わ
    ない第4のタイミング信号とを生成する手段と、上記メ
    モリ動作用タイミング信号と上記第1のタイミング信号
    との論理条件信号を保持する第1のフリツプフロツプと
    、上記メモリ動作用タイミング信号と上記第2のタイミ
    ング信号との論理条件信号を保持する第2のフリツプフ
    ロツプと、上記メモリ動作用タイミング信号と上記第3
    のタイミング信号との論理条件信号を保持する第3のフ
    リツプフロツプと、上記メモリ動作用タイミング信号と
    上記第4のタイミング信号との論理条件信号を保持する
    第4のフリツプフロツプとを少なくともそなえ、上記各
    フリツプフロツプの出力にもとづいて、上記メモリ動作
    用タイミング信号が正規の時点に発生されかつ正規の時
    間幅を有するか否かをチェックすることを特徴とするエ
    ラーチェック方式。
JP51145064A 1976-12-02 1976-12-02 エラ−チエツク方式 Expired JPS588080B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP51145064A JPS588080B2 (ja) 1976-12-02 1976-12-02 エラ−チエツク方式

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JP51145064A JPS588080B2 (ja) 1976-12-02 1976-12-02 エラ−チエツク方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5368925A JPS5368925A (en) 1978-06-19
JPS588080B2 true JPS588080B2 (ja) 1983-02-14

Family

ID=15376535

Family Applications (1)

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JP51145064A Expired JPS588080B2 (ja) 1976-12-02 1976-12-02 エラ−チエツク方式

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Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5175107U (ja) * 1974-12-09 1976-06-12
JPS5175137A (ja) * 1974-12-23 1976-06-29 Toyoda Automatic Loom Works Daburutsuisutayofuraiyano kaitenseidosochi

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Publication number Publication date
JPS5368925A (en) 1978-06-19

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