JPS5920198B2 - 電子部品の試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、バブルメモリやＬＳＩ等の電子部品に加える
各種信号成分の変動許容範囲を保証するために行なう試
験方法に関する。

バブルメモリやＬＳＩ等の電子部品は、各種の入力を受
けて動作するが、これらの入力に変動はつきものである
から、入力がどの程度まで変動しても該部品が正常に作
動するかをチェックし、変動許容範囲を保証する必要が
ある。

例えばバブルメモリのあるゲートについての仕様書では
ゲート入力信号が４位相については最小ｏ度から最大１
００度まで、＠パルス巾については最小１００オノセカ
ンドから最大２００ナノセカンドまで、そして〇電流値
については最小１００ｍＡから最大２００ｍＡまでの範
囲で変動しても正常に動作することという条件が付けら
れる。この場合、バブルメモリのゲートが当該条件で正
常に作動するということを試験する方法としては従来は
、まず位相を最小のｏ度に固定して、パルス巾及び電流
値を仕様書の最大値と最小値に変化させて測定し、その
後、位相を例えば５度に固定し、再びパルス巾と電流値
を同様に変化させ、次にまた位相を変化させて同様の測
定手順を繰り返すという方法をとつていた。しかしなが
らこの試験方法では最大値と最小値という２点しか抑え
ておらず、中間状態ではどうかという不安が残る。しか
しながら中間状態も確認しようとして位相、パルス巾電
流値をその最小値と最大値との間で選んで試験を行なう
と、測定点は非常に多くなりそれらの組合せは膨大なも
のとなる。これに加えてバブルメモリのゲートは多数あ
るのでそれらの間での組合せも考えると、組合せ数は天
文学的な数となり、従つて完壁な試験を行なうことは現
実的には不可能であつた。第１図はバブルメモリの試験
要領を説明する図である。

ａは各試験要素（入力信号成分）の組合せを示した試験
計画表の一部であり、各試験要素の変数は、最小値を「
一」、標準値を「Ｏ」そして最大値を「＋」で表わして
いる。同図を−ｄはそれぞれ位相、パルス巾、電流値に
ついて３変数「一」 ，「Ｏ」 ，［＋」の概要を図示
したものである。図ａの計画表に基づいて、バブルメモ
リの５つのゲートについての試験方法を説明すると、ま
ずテスト１においてはバブル発生器Ｇｅｎに加える信号
については、位相のみを「一」の値に設定し、パルス巾
及び電流値についてはそれぞれ「Ｏ」の値に設定し、こ
れと共に他のすべてのゲートすなわち分割器Ｓｐｔｌ消
去器Ａｎｎｌ入力転送ゲートＴｒ−１ｎ、出力転送ゲー
トＴｒ−０ｕｔに印加する信号は位相、パルス巾、電流
値共に「０」の値に設定する。この状態でバブルメモリ
が正常に作動するかが試験され、次にテスト２へ移る。
テスト２ではバブル発生器Ｇｅｎに印加する信号がパル
ス巾については「一」の値である以外は、このゲート及
び他のゲートに加わる信号はテスト１の場合と同じく「
０」の状態をとる。以下同様にあらゆる組合せが電算機
の制御等によつてデジタル的に設定され、試験が行なわ
れていくが、このように、各試験要素についてわずか３
点を選びだして試１験するだけでもその組合せは相当多
数になつて試験時間が最大なものとなる欠点がある。各
試験要素についてわずか２点か３点の測定では、これら
の値の中間値での電子部品の作動状態はあくまで推定に
よらざるを得ず、このため合格品とされた電子部品でも
市場に出て実際に稼動してから障害を起こしたりする。

これは、各試験要素がある特定値をとつて組合されると
、その組合せでは正常に作動しても他の組合せでは正常
に作動しなくなる場合があるからである。各試験要素の
各値のどのような組合せが最も誤動作を生じ易いか、従
つて動作マージンが最も狭い最悪組合せなのかは経験的
にある程度分つている場合もあるが、ＬＳＩメモリなど
では組合せが極めて多数になるので分りかねるのが実悄
である。最悪組合せが判明しておれば勿論その組合せを
あらかじめ試験計画に組入れておくという措置をとるこ
とができるが、それが判明していない場合は如何ともな
し難い。本発明は従来の試験方法では解決し得なかつた
か＼る欠点を除去すべくなされたもので、電子部品につ
いてのあらゆる試験条件の組合せを能率的に極めて迅速
に行ない、最悪組合せも漏さない完壁な試験を行なうこ
とができる試験方法を提供することを目的とする。

即ち本発明は電子部品に加えられる、ゲートパルスの位
相、パルス巾、電流値、および駆動磁界の強さなどの各
種入力信号成分の変動許容範囲を保証する試験方法にお
いて、前記各信号成分に対応しそれぞれ独立に動作する
連続波発振器を設け、該複数の発振器を互いに非同期で
動作させて前記各信号成分の複数個を非同期で周期的に
前記範囲の最大値と最小値の間で変更し、各種信号成分
の各値の任意の組合せを得てその組合せを電子部品に印
加することを特徴とするものであるが、次に図面を参照
しながらこれを詳細に説明する。第２図は各種信号成分
を周期的に変化させる状態を説明する図で、ａはパルス
波形の位相の変化を示し、太線で示したパルス波形は後
述の回路によつて位相変化を受け、図で斜線で示したよ
うな最小値（Ｍｉｎ）と最大値（Ｍａｘ）の間を周期的
に変動する。

同図ｂはパルス巾の変化を示し、パルス波形の位相変化
とは非同期で、最も小さい巾（Ｍｉｎ）と最も広い巾（
Ｍａｘ）との間で周期的に変動する。同図ｃは電流変化
を示し、これも最小値（Ｍｌｎ）と最大値（Ｍａｘ）の
間で周期的に、かつ位相等他のものとは非同期で変動す
る。このように３つの信号成分を全く非同期にかつ周期
的に変動させこれらをゲートへ入力する。従つてゲート
に印加されるパルス信号ＳＧは図ｄに示す如く、振幅お
よび位相変化の最大値（Ｍａｘ）内で全く任意に刻々と
その形状および位置を変え、これは要求される試験範囲
内での位相、パルス巾、電流値のあらゆる可能な組合せ
を含んだものとなる。こ．こで各信号成分の変動を同期
させなかつたのは、同期させると例えばある位相に対す
るパルス巾は常に一定値に定まつてしまい、あらゆる組
合せを実現することができなくなるからである。同様に
、各ゲートに加える信号ＳＧは互いに非同期とする。こ
のようにすれば同様の原理で各ゲートへの入口はあらゆ
る組合せを含んだものとなり、相互干渉のチエツクなど
を含む完壁な試験が可能になる。以上の説明では、便宜
上入力信号成分が３つの場合について述べたが例えばバ
ブルメモリに関してはこの他駆動磁界も入力信号成分と
なる。この場合は、４つの全部を非同期に変動させると
共に、各ゲート間でも同期しないようにする。そしてこ
のような状態でバイアス磁界を連続的に変えて、動作、
不動作の閾値を見つけて行けば、あらゆる入力条件の組
合せを含んだ動作マージン特性曲線が得られることとな
る。次に第３図に基づいて、各信号成分の周期的かつ非
同期的変動方法の例を説明する。

同図ａはパルス巾を周期的に変える回路で、Ｍ］はモノ
マル こチパイプレータ、Ｒ，，Ｒ２およびＣ，は該モ
ノマルチの時間制御要素を構成する抵抗およびコンデン
サ、０ＳＣは正弦波、三角波などの連続波を発振する発
振器である。抵抗Ｒ１の一端は＋５の直流電源へ接続し
、抵抗Ｒ，，Ｒ２の接続点Ｐ，へ １は発振器０ＳＣの
出力を加える。この回路ではバブルメモリのゲートパル
ス発生回路の出力パルス又はそれを位相シフト等の信号
処理をしたパルスＳｇ，をトリガパルス入力端１Ｎに加
えると、出力端０ＵＴからは一定巾の矩形波パルスＳｇ
２が出力されるが、このパルスＳｇ２のパルス巾は抵抗
Ｒ，，Ｒ２とコンデンサＣ，の積である時定数と電源電
圧で定まり、該電源電圧は＋５Ｖの一定電圧と発振器０
ＳＣからの例えば三角波状に変化する電圧との和である
から、結局出力パルスＳｇ２のパルス巾は図示の如く一
定巾を中心にして広狭に変化する。このパルス巾変化は
勿論発振器０ＳＣの出力と同期しており、そして発振器
０ＳＣはトリガパルスＳｇ，とは非同期でかつその周波
数は数１０〜数１００ＨｚであつてトリガパルスＳｇ，
のＫ［−１ｚまたはＭｌ−１ｚ範囲の周波数に比べて極
めて低いから、出力端０ＵＴからはパルス巾がはマ連続
的にかつ周期的に変る極めて多数の矩形波パルスＳｇ２
が出力される。第３図ｂは位相およびパルス巾をそれぞ
れ独立にかつ周期的に変えるパルスを出力する回路を示
す。

これは図ａと同様の回路を２個連結したものである。即
ちＭ２は第２のモノマルチバイブレータであり、Ｒ３，
Ｒ４、およびＣ２はＲ，，Ｒ２およびＣ，に対応する抵
抗およびコンデンサである。この回路の出力パルスＳｇ
３が位相とパルス巾を変動させる原理を第４図と共に説
明する。第３図ｂの入力端子１ＮにトリガパルスＳｇ，
が、また端子Ｐ，に変調用の三角波が加えられると、モ
ノマルチバイブレータＭ，の出力端子には、前述のよう
にパルス巾が周期的に変動するパルスＳｇ２が生じる。
第４図ａはこのパルスＳｇ２がパルス巾を変える状況を
誇張して示す。パルスＳｇ２を第２のモノマルチバイブ
レータＭ２に入力してこれをトリガさせると共に、抵抗
Ｒ３とＲ４の接続点Ｐ２に端子Ｐ，と同様な三角波を印
加すると、モノマルチバイブレータＭ２の出力端子０Ｕ
Ｔには第４図ｂに示すような位相および巾を周期的に変
えるパルスＳｇ３が得られる。即ち第２のモノマルチバ
イブレータＭ２はパルスＳｇ２の立下りでトリガされる
のでその出力パルスＳｇ３はパルスＳｇ２のパルス巾に
相当する位相シフトφ，，φ２を持ち、かつそのパルス
巾は端子Ｐ２に加わる三角波の振幅に応じてＷ，，Ｗ２
と変動する。端子Ｐ，，Ｐ２に加える三角波を出力する
発振器は各々独立に作動し、従つて位相およびパルス巾
の変動は相互にかつ入力信号Ｓｇ，と非同期である。次
に第３図ｃはゲート電流値を周期的に変える回路で、矩
形波パルスを出力する高インピーダンスの定電流ドライ
バＤ］の出力側に、高インピーダンスに変換するインピ
ーダンス変換器を介して端子Ｐ３から三角波電流を入力
する。

そうすると、２種類の電流は重畳され、出力端０ＵＴか
らは振幅が図示の如く変動するパルス電流Ｓｇ４が出力
される。この振幅つまり電流値の変動周期はもちろん入
力の三角波の同期と一致する。最後に同図ｄはバブルメ
モリの駆動磁界の大きさを周期的に変動させる回路を示
したもので、Ｅはコントロール電源であり、電圧制御端
子Ｐ４に入力された信号を増幅した出力電圧を生じる。
そこでこの制御端子に三角波を入力すると、コントロー
ル電源Ｅの出力側には三角波状に変動する電圧が現われ
、これを駆動コイル用のドライバＤ２へ電源電圧とし′
て印加すれば、該電圧変動に対応して振幅を変える電
流Ｓｇ５が得られる。こ＼で、ドライバＤ２が出力する
三角波電流の周波数は端子Ｐ４の三角波の周波数より極
めて高く、かつ両者は非同期である。か＼る回路を２つ
設け９０゜位相シフトした２つの５三角波電流Ｓｇ５を
得てこれをＸ，Ｙ駆動コイルに流せば、周期的に強さが
変動する回転磁界が得られる。以上に述べた方法等によ
り各入力信号成分の値を周期的にかつ相互に非同期に変
動させ、極めてＯ多数の組合せを得てそれにより電子部
品を制御する。

第３図ａ等で説明したように、入力信号Ｓｇ，の周波数
は端子Ｐ，，Ｐ２等へ加えられる変調用の信号に比べて
極めて高いので、変調用の信号が１サイクルを画く間に
パルス巾及び位相等をその全変動範囲に亘つて変動させ
た多数のパルスが得られる。従つて全ての組合せは変調
信号の１周期程度の時間で得られるから、試験は極めて
短時間で終了する。勿論、変調用信号の振幅は、試験要
素の所要変動巾に対応して選定する。また変調用信号に
は三角波、正弦波などの連続波を用いるが、これにより
試験要素の変動が連続的に行なわれ、極めて多くの組合
せが得られる。なお実際の試験にあたつては各入力信号
成分のすべてを変動させる代りにその一部のみを変動さ
せ、他は固定または逐次幾つかの値をとらせるようにし
てもよい。

以上詳細に説明したように本発明の試験方法は、各入力
信号成分の値を周期的にかつ互いに非同期に変化させて
該信号成分の各値のあらゆる組合せを得るので、最悪組
合せを含んだ試験条件で動作試験を行なうことができ、
電子部品の動作マージン保証が極めて完壁なものとなる
。

しかもこのような完壁な試験を従来と比べて極めて短時
間に、わずか１サイクル程度の時間で行なうことができ
、試験時間の大幅な短縮が可能となり、延いては製品の
信頼性の向上に寄与すること大なるものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の電子部品の試験方法を説明する図でａは
試験計画表、ｂ−ｄはそれぞれ測定の対象となる位相、
パルス巾、電流値を説明する波形図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 電子部品に加えられる、ゲートパルスの位相、パル
   ス巾、電流値、および駆動磁界の強さなどの各種入力信
   号成分の変動許容範囲を保証する試験方法において、前
   記各信号成分に対応しそれぞれ独立に動作する連続波発
   振器を設け、該複数の発振器を互いに非同期で動作させ
   て前記各信号成分の複数個を非同期で周期的に前記範囲
   の最大値と最小値の間で変更し、各種信号成分の各値の
   任意の組合せを得てその組合せを電子部品に印加するこ
   とを特徴とする電子部品の試験方法。