JPS5926074B2 - Pattern information processing device - Google Patents
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- JPS5926074B2 JPS5926074B2 JP52155421A JP15542177A JPS5926074B2 JP S5926074 B2 JPS5926074 B2 JP S5926074B2 JP 52155421 A JP52155421 A JP 52155421A JP 15542177 A JP15542177 A JP 15542177A JP S5926074 B2 JPS5926074 B2 JP S5926074B2
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明はパターン情報の処理装置に関するものである。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a pattern information processing device.
従来、物品の欠陥検査等に於いて、種々のパターン情報
処理方法及び装置が提供されている。Conventionally, various pattern information processing methods and devices have been provided for defect inspection of articles.
斯る従来の方法に於いては、被検査物のパターン情報を
白黒2値に変換し、被検査物の形状、面積等のデータと
し、このデータを予め設定した基準物の標準パターンの
データと比較して、被検査物の良、否を判定している。
然し乍ら、実際の被検査物は、白黒の2値に明確に分か
れているものは少なく、或る程度の濃淡度を有するもの
が多い。In such conventional methods, the pattern information of the inspected object is converted into black and white binary data, which is used as data such as the shape and area of the inspected object, and this data is combined with data of a standard pattern of a preset reference object. By comparison, it is determined whether the inspected object is acceptable or not.
However, there are few actual objects to be inspected that are clearly divided into two values, black and white, and many have a certain degree of density.
従つて、上述した如き従来の方法は、複雑なパターンの
物品の検査に使用するには、困難であると云う欠点があ
る。従来のパターン情報処理方法に於て、テレビカメラ
等を使用する場合は、通常、テレビカメラの一画面を、
例えば500×500の画素に分割し、その各々の画素
に投影される被検査物の映像の明暗の度合を、A−D(
アナログ−デジタル)変換器により数値化してデータと
し、このデータをコンピュータ等により処理して、被検
査物の特徴を抽出する方法が多い。Therefore, the conventional methods as described above have the disadvantage that they are difficult to use for inspecting articles with complex patterns. In conventional pattern information processing methods, when a television camera or the like is used, one screen of the television camera is usually
For example, the degree of brightness of the image of the inspected object divided into 500 x 500 pixels and projected onto each pixel is determined by A-D(
There are many methods in which the characteristics of the object to be inspected are extracted by converting the data into numerical values using an analog-to-digital (analog-to-digital) converter and processing this data using a computer or the like.
この場合、データの量が膨大となり、処理時間が長くな
るので、物品の欠陥検査等に於ては、テレビカメラの画
面を画素に分割せず、或る閾値を設定し、テレビカメラ
よりの被検査物の画像信号のうち、例えばこの閾値を越
える部分のみを2値に変換し、この値を計数して、被検
査物の特徴を抽出したり、傷等の欠陥を検出したりする
方法もある。この後者の方法を、第1図A及びBを参照
して説明する。In this case, the amount of data becomes enormous and the processing time becomes long. Therefore, when inspecting goods for defects, etc., the screen of the TV camera is not divided into pixels, but a certain threshold value is set and the amount of exposure from the TV camera is measured. There is also a method in which, for example, only the portion of the image signal of the inspection object that exceeds this threshold is converted into binary values, and this value is counted to extract the characteristics of the inspection object or detect defects such as scratches. be. This latter method will be explained with reference to FIGS. 1A and B.
第1図Aに関連する方法は、最も簡単な方法で、この場
合、1個の或る閾IBSIを設定し、テレビカメラ等よ
りの被検査物に対応する画像信号52が、この閾値51
を越えるか、否かを判別し、物品の検査を行う。この方
法は複雑なパターン物品の欠陥を検出するのではなく、
比較的無地に近い素地の物品自体又はその傷等の簡単な
パターンの物品の検査には、有効であるが、複雑パター
ンの物品の検査には、不適である。第1図Bに示す従来
の他の方法は、第1図Aに関して説明した方法より、や
\複雑なパターンの物品の検査、例えば物品の面積等の
計測に用いられる。The method related to FIG.
The product is inspected to determine whether or not it exceeds the limit. This method does not detect defects in complex patterned articles;
This method is effective for inspecting articles with relatively plain substrates or articles with simple patterns such as scratches, but is not suitable for inspecting articles with complex patterns. Another conventional method shown in FIG. 1B is used for inspecting articles with a more complex pattern than the method described with respect to FIG. 1A, such as measuring the area of the article.
この第1図Bに示す方法は、第1図Aに示すよりや\複
雑な画像信号S3が、或る閾値S4を越える部分の長さ
(時間)がどの位あるかを計測するもので、この為、ク
ロツク信号を用い、画像信号S3の閾値S4を越える部
分とクロツク信号とのアンドをとり、計測されたクロツ
ク信号の数を以つて、画像信号S3の閾値S4を越えた
部分の量を代表させ、画像信号S3に対応する物品の面
積を算出している。上述した従来の方法は、いづれにし
ても、物品のパターンが複雑になつた場合、それ等の物
品の検査を精確に行うことはできないと云う欠点がある
。The method shown in FIG. 1B measures the length (time) of a portion in which the image signal S3, which is more complex than that shown in FIG. 1A, exceeds a certain threshold value S4. Therefore, using the clock signal, AND the portion of the image signal S3 that exceeds the threshold S4 and the clock signal, and use the number of measured clock signals to calculate the amount of the portion of the image signal S3 that exceeds the threshold S4. The area of the article corresponding to the image signal S3 is calculated. In any case, the conventional methods described above have the disadvantage that when the pattern of an article becomes complex, it is not possible to accurately inspect the article.
従つて、本発明の目的は、物品の欠陥検査、パターン認
識等に使用して、好適なパターン情報の処理方法及びそ
ねを実施する装置を提供せんとするものである。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a pattern information processing method and an apparatus suitable for use in defect inspection of articles, pattern recognition, etc.
本発明によるパターン情報の処理装置の特徴とするとこ
ろは、物品の画像信号を形成するテレビカメラと、該画
像信号の一周期分のレベル内にある少なくとも3個の夫
々異なる値の閾値を作る手段と、上記画像信号の一周期
分を上記少なくとも3個の夫々貞なる閾値で夫々区切る
手段と、該手段よりの区切られた少なくとも3個の信号
の夫々とクロツクパルス発生手段よりのクロツクパルス
とのアンドを夫々取る少なくとも3個のアンド手段と、
該少なくとも3個のアンド手段よりのクロツクパルスの
数を夫々計数し、上記画像信号の一周期分を代表する数
列を作る少なくとも3個の手段とより成る点に在る。The pattern information processing device according to the present invention is characterized by a television camera that forms an image signal of an article, and a means for creating at least three different threshold values within the level of one cycle of the image signal. and means for dividing one cycle of the image signal by the at least three respective predetermined threshold values, and an AND operation between each of the divided at least three signals from the means and a clock pulse from the clock pulse generating means. at least three AND means each taken;
The invention comprises at least three means for counting the number of clock pulses from the at least three AND means, respectively, and creating a number sequence representing one period of the image signal.
以下、第2図A,B,C及びDを参照して本発明による
パターン情報の処理装置の画像信号処理技術の一例を、
先ず説明しよう。Hereinafter, an example of the image signal processing technology of the pattern information processing device according to the present invention will be explained with reference to FIGS. 2A, B, C, and D.
Let me explain first.
第2図Aに於て、Spは、例えばテレビカメラ等よりの
物品の画像信号の一周期分の波形を示すものである。In FIG. 2A, Sp indicates a waveform for one period of an image signal of an article from, for example, a television camera.
本発明に於ては、同図に示す如く、予め夫々値の具るレ
ベルの複数の閾値A,b,c,d及びeを、画像信号S
pのレベル内にある如く設定する。尚、各閾値a乃至e
間の間隔(レベル差)及び各閾値の数は、特定の値及び
数に限定する必要はなく、任意でよい。画像信号Spが
各閾値a乃至eを横切る部分を取り出せば、第2図Cに
示す如き波形Al,bl,cl,dl及びe1が得られ
る。ここで、第2図Bに示す如き一定周波数のクロツク
信号即ちパルスScと、第2図Cに示す信号a1乃至e
1とのアンドを夫々取ると、第2図Dに示す如き信号A
2,b2,c2,d2及びE2が得られる。この信号A
2乃至E2中のクロツクパルスの数を夫々計数して数列
となし、この数列を以つて、この画像信号Sp、従つて
、この画像信号Spに対応する物品を代表するパターン
となす。尚、第2図に示ず如く、各閾値a乃至eを選び
、クロツクパルスScの周波数を選んだ場合、信号A2
乃至E2内のクロツクパルスの数は、夫々4+3=7,
14,3+17=20,2+22=24及び34となり
、従つて、画像信号Spに対応する数列は{7,14,
20,24,34}となる。初て、テレビカメラ等の撮
像体により撮映される物品が異れば、テレビカメラより
の画像信号も対応して巽り、従つて、この画像信号を上
述の如く処理して得られる数列も、物品に応じて勿論興
る。In the present invention, as shown in the figure, a plurality of threshold values A, b, c, d and e are set in advance for the image signal S.
Set it so that it is within the level of p. In addition, each threshold value a to e
The interval (level difference) between them and the number of each threshold need not be limited to specific values and numbers, and may be arbitrary. If the portions where the image signal Sp crosses each threshold value a to e are extracted, waveforms Al, bl, cl, dl, and e1 as shown in FIG. 2C are obtained. Here, a clock signal of a constant frequency, that is, a pulse Sc as shown in FIG. 2B, and signals a1 to e as shown in FIG.
When ANDed with 1, the signal A as shown in Fig. 2D is obtained.
2, b2, c2, d2 and E2 are obtained. This signal A
The number of clock pulses in 2 to E2 is counted and formed into a number sequence, and this number sequence is used to form a pattern representing this image signal Sp, and thus the article corresponding to this image signal Sp. Incidentally, as shown in FIG. 2, if each threshold value a to e is selected and the frequency of the clock pulse Sc is selected, the signal A2
The number of clock pulses in E2 is 4+3=7, respectively.
14,3+17=20,2+22=24 and 34, therefore, the sequence corresponding to the image signal Sp is {7,14,
20, 24, 34}. For the first time, if the object photographed by an imaging body such as a television camera differs, the image signal from the television camera will also vary accordingly, and therefore the sequence of numbers obtained by processing this image signal as described above will also vary. Of course, it depends on the item.
即ち、このように各物品の画像信号を処理すねば、各物
品を巽つた数列パターンによつて代表させ得るものであ
る。例えば、物品認識(パターン認識)に、上述した本
発明を適用する場合を、例に挙げ説明する。That is, by processing the image signal of each article in this way, each article can be represented by a series of numbers pattern. For example, a case will be described in which the above-described present invention is applied to article recognition (pattern recognition).
この場合、基準となる物品をテレビカメラで撮像し、そ
の画像信号を上述の如く処理して、これに対応する数列
を作り、この数列を例えばコンピユータに基準パターン
として記憶させておく。次に、認識されるべき物品を、
テレビカメラで撮映し、同様に、この物品に対応する数
列のパターンを作り、この数列パターンをコンピユータ
で、予め記憶してある基準の数列パターンと比較し、両
者が一致しているか否かを判別し、被認識物品が基準の
物品と同一か否かを判別させればよい。上述した本発明
の画像信号処理技術は、上述の例以外にも、物品の良否
の検査、形状、欠陥の有無の検査、面積の測定に使用し
得ることは、明らかであろう。In this case, a reference article is imaged with a television camera, the image signal is processed as described above to create a corresponding number sequence, and this number sequence is stored in, for example, a computer as a reference pattern. Next, the item to be recognized is
A TV camera photographs the item and similarly creates a number sequence pattern corresponding to this item, and a computer compares this number sequence pattern with a pre-stored standard number sequence pattern to determine whether or not the two match. However, it may be determined whether the recognized article is the same as the reference article. It will be obvious that the image signal processing technology of the present invention described above can be used for inspecting the quality of articles, inspecting the shape and presence of defects, and measuring the area, in addition to the above-mentioned examples.
これ等の場合、検査されるべき対称に応じて、設定する
閾値の数、大きさを変更し、必要な数列パターンを形成
して、所望の目的を達成する。上述した本発明によりば
、設定する閾値の数等を変更して、認識又は検査される
べき物品のパターンに応じた数列を作つているので、複
雑なパターンの物品を、正確に認識又は検査することが
できるものである。In these cases, the number and size of threshold values to be set are changed depending on the symmetry to be inspected, and a necessary sequence pattern is formed to achieve the desired purpose. According to the present invention described above, the number of threshold values to be set is changed to create a number sequence according to the pattern of the article to be recognized or inspected, so that articles with complex patterns can be accurately recognized or inspected. It is something that can be done.
更に、例えば、第2図Aに於て、点線Sp″で示す如く
画像信号が画像信号Spと相巽している場合、即ち、閾
値eを横切る画像信号の期間は、立上り部分では、画像
信号Sp′はSpよりT1早く、立下り部分でも、同様
にT1早い。Furthermore, for example, in the case where the image signal is in phase with the image signal Sp as shown by the dotted line Sp'' in FIG. Sp' is T1 earlier than Sp, and the falling portion is also T1 earlier.
従つて、第2図Cの波形e1に於て点線で示す如く、全
体として波形の立上り部分の長さ(時間)に変化はなく
、この結果、第2図のDの波形E2に於て点線で示す如
く、クロツクパルスの数に変化が生ぜず、数列としては
、画像信号Sp及びSp2は共に同一となり、異なる物
品に対応する画像信号Sp及びSp′が、同一と判断さ
れる恐れ、即ぢ異る物品でも、同一と判断さねる恐ねが
生ずる。斯る場合は、例えば第2図Bに示す一定周波数
のクロツクパルスScを使用せず、周波数変調したクロ
ツクパルスを用いる。そうすねば、クロツクパルスの数
は、単位時間内で一定ではなく、時間と共に変化したも
のとなるので、上述の始と終りの同一時間内T1でも、
クロツクパルスの数は巽るので、当然、画像信号Sp及
びSp′の数列は異なる。従つて、上述した如き誤判定
の恐ねを回避し得る。尚、この様に、周波数変調したク
ロツクパルスを使用すわば、他の閾値部分に関しても同
様の効果がある。Therefore, as shown by the dotted line in waveform e1 in FIG. 2C, there is no change in the length (time) of the rising portion of the waveform as a whole, and as a result, in waveform E2 in FIG. As shown in , there is no change in the number of clock pulses, and the image signals Sp and Sp2 are both the same as a numerical sequence, so there is a risk that the image signals Sp and Sp' corresponding to different articles will be judged to be the same, and that they will be immediately different. There is a risk that even if the items are different, they may not be judged as the same. In such a case, for example, the constant frequency clock pulse Sc shown in FIG. 2B is not used, but a frequency modulated clock pulse is used. Otherwise, the number of clock pulses will not be constant within a unit time, but will change over time, so even within the same time T1 at the beginning and end,
Since the number of clock pulses varies, the sequence of image signals Sp and Sp' naturally differs. Therefore, the risk of erroneous determination as described above can be avoided. Incidentally, by using the frequency-modulated clock pulse in this manner, the same effect can be obtained for other threshold portions.
次に、第3図を参照して、上述した本発明によるパター
ン情報の処理装置の一例を説明しよう。Next, with reference to FIG. 3, an example of the pattern information processing apparatus according to the present invention described above will be explained.
同図に於て、Tは例えばテレビカメラの如き撮像体で、
これにより例えば基準物としての物品(図示せず)を撮
像すると、第2図Aに示した如き画像信号Spが得られ
る。この画像信号Spを、演算増巾器の如き増巾器1を
介してローパスフイルタ2へ供給して、画像信号の不要
な雑音成分を除去する。ローパスフイルタ2の出力信号
SPlを、レベルコンパレータ31,32,33,・・
・・・・3nの一方の入力端子に供給する。一方、基準
電圧源Bよりの電圧を、ポテンシヨメータPl,P2,
P3,・・・・・・Pnに印加し、これより夫々巽つた
レベル、且つローパスフイルタ2よりの画像信号SPl
のレベル内に存在するレベルの閾値THl,TH2,T
H3,・・・・・・THnを得(これは第2図Aの閾値
a乃至eに対応する)、これ等の閾値THl・・・・・
・THnを、レベルコンパレータ31・・・・・・3n
の他方の入力端子に夫夫供給する。従つて、各レベルコ
ンパレータ31・・・・・・3nは、ローパスフィルタ
2ょりの画像信号が、各ポテンシヨメータp1・・・・
・・Pnによつて設定された閾値THl・・・・・・T
Hnを越えている間、出力を出す。レベルコンパレータ
31・・・・・・3nの出力を、波形の立上りを整形す
るシユミツトトリガ41,42,43・・・・・・4n
(これにより、第2図Cに示す如きa1乃至e1に対応
する信号が得られる)を介して、アンド回路61,62
,63,・・・・・・6nの一方の入力端子に供給する
と共に、それ等の他方の入力端子に、クロツク信号(パ
ルス)発生器5よりの一定周波数のクロツクパルス(第
2図B参照)を供給する。従つて、これ等のアンド回路
61・・・・・・6nは、第2図Dに示す如きクロツク
パルスを出力する。これ等アンド回路61・・・・・・
6nの出力クロツクパルスを、カウンタ71,72,7
3,・・・・・・7nに夫々供給して、各クロツクパル
スを計数し、それ等よりの計数結果(第2図Dに相当す
る)を、コンピユータ8に供給し、基準のパターン情報
、即ち数列パターンとして記憶させる。次に、被検査物
をテレビカメラで撮映し、同様の処理を行い、その数列
パターンを作り、これをコンピユータで基準体の数列パ
ターンと比較し、被検査物の良否を判定する。In the figure, T is an imaging body such as a television camera,
As a result, when an article (not shown) as a reference object is imaged, for example, an image signal Sp as shown in FIG. 2A is obtained. This image signal Sp is supplied to a low-pass filter 2 via an amplifier 1 such as an operational amplifier to remove unnecessary noise components from the image signal. The output signal SPl of the low-pass filter 2 is input to the level comparators 31, 32, 33, .
...Supplied to one input terminal of 3n. On the other hand, the voltage from the reference voltage source B is applied to the potentiometers Pl, P2,
P3, . . . applied to Pn, and the level that has gone up from this, and the image signal SPl from the low-pass filter 2.
The level thresholds THl, TH2, T that exist within the level of
H3,...THn (which corresponds to the thresholds a to e in Figure 2A) are obtained, and these thresholds THl...
・THn, level comparator 31...3n
The signal is supplied to the other input terminal of the terminal. Therefore, each level comparator 31...3n outputs the image signal from the low-pass filter 2 to each potentiometer p1...
...Threshold value THl set by Pn...T
Output is output while Hn is exceeded. Schmitt triggers 41, 42, 43...4n that shape the rise of the waveform of the output of the level comparators 31...3n
(Thus, signals corresponding to a1 to e1 as shown in FIG. 2C are obtained.)
, 63, . supply. Therefore, these AND circuits 61...6n output clock pulses as shown in FIG. 2D. These AND circuits 61...
6n output clock pulse to counters 71, 72, 7.
3, . Memorize it as a number sequence pattern. Next, the object to be inspected is photographed with a television camera, and the same processing is performed to create a number sequence pattern.This is compared with the number sequence pattern of the reference body using a computer, and the quality of the object to be inspected is determined.
尚、数列パターンをコンピユータで処理する技術は、斯
る検査装置では周知の技術であるので、その詳細説明は
、これを省略する。尚、第3図に於て、9は変調器で、
これによりクロツクパルス発生器5を制御し、上述した
周波数変調したクロツクパルスを得て、後者の画像処理
技術を実施するものである。It should be noted that the technique of processing the sequence pattern with a computer is a well-known technique for such an inspection apparatus, so a detailed explanation thereof will be omitted. In addition, in Fig. 3, 9 is a modulator,
This controls the clock pulse generator 5 to obtain the above-mentioned frequency modulated clock pulses, thereby implementing the latter image processing technique.
上述した本発明の実施例に基づき、多くの変化変更が当
該業者により達成され得ることは、明らかであろう。Based on the embodiments of the invention described above, it will be obvious that many variations and modifications may be effected by one skilled in the art.
第1図A及びBは夫々従来の情報処理方法の説明に供す
る波形図、第2図A乃至Dは本発明のパターン情報処理
の説明に供する波形図、第3図は本発明のパターン情報
処理装置の一例を示す系統図である。
図に於て、Sp及びSp′は画像信号、Scはクカツク
パルス、a乃至eは閾値、Tはテレビカメラ、1は増巾
器、2はローパスフイルタ、3,乃至3nはレベルコン
パレータ、41乃至4nはシユミツトトリガ、5はクロ
ツクパルス発生器、61乃至6nはアンド回路、71乃
至7nはカウンタ、8はコンピユータ、9は変調器、B
は電圧源、P1乃至Pnはポテンシヨメータ、THl乃
至THnは閾値を夫夫示す。1A and 1B are waveform diagrams for explaining the conventional information processing method, FIGS. 2A to 2D are waveform diagrams for explaining the pattern information processing of the present invention, and FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the pattern information processing of the present invention. It is a system diagram showing an example of a device. In the figure, Sp and Sp' are image signals, Sc is a tick pulse, a to e are threshold values, T is a television camera, 1 is an amplifier, 2 is a low-pass filter, 3, to 3n are level comparators, 41 to 4n is a Schmitt trigger, 5 is a clock pulse generator, 61 to 6n are AND circuits, 71 to 7n are counters, 8 is a computer, 9 is a modulator, B
is a voltage source, P1 to Pn are potentiometers, and TH1 to THn are threshold values.
Claims (1)
信号の一周期分のレベル内にある少なくとも3個の夫々
異なる値の閾値を作る手段と、上記画像信号の一周期分
を上記少なくとも3個の夫々異なる閾値で夫々区別る手
段と、該手段よりの区切られた少なくとも3個の信号の
夫々とクロックパルス発生手段よりのクロックパルスと
のアンドを夫々取る少なくとも3個のアンド手段と、該
少なくとも3個のアンド手段よりのクロックパルスの数
を夫々計数し、上記画像信号の一周期分を代表する数列
を作る少なくとも3個の手段とより成るパターン情報の
処理装置。 2 上記特許請求の範囲第1項記載の装置に於いて、上
記クロックパルス発生手段は周波数変調器を具備し、上
記クロックパルスを周波数変調することを特徴とするパ
ターン情報の処理装置。[Scope of Claims] 1. A television camera that forms an image signal of an article, means for creating at least three different threshold values within a level of one period of the image signal, and a television camera that forms an image signal of an article, at least three means for respectively discriminating the divided signals from the means using at least three different threshold values; A pattern information processing device comprising an AND means and at least three means for respectively counting the number of clock pulses from the at least three AND means and creating a number sequence representing one period of the image signal. 2. The pattern information processing device according to claim 1, wherein the clock pulse generating means includes a frequency modulator, and frequency modulates the clock pulse.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52155421A JPS5926074B2 (en) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | Pattern information processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52155421A JPS5926074B2 (en) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | Pattern information processing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5487436A JPS5487436A (en) | 1979-07-11 |
| JPS5926074B2 true JPS5926074B2 (en) | 1984-06-23 |
Family
ID=15605624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52155421A Expired JPS5926074B2 (en) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | Pattern information processing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926074B2 (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52781B2 (en) * | 1973-05-28 | 1977-01-10 | ||
| JPS554308B2 (en) * | 1974-02-19 | 1980-01-29 |
-
1977
- 1977-12-23 JP JP52155421A patent/JPS5926074B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5487436A (en) | 1979-07-11 |
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