JPS592990B2 - magnetic bubble memory chip - Google Patents
magnetic bubble memory chipInfo
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- JPS592990B2 JPS592990B2 JP56130701A JP13070181A JPS592990B2 JP S592990 B2 JPS592990 B2 JP S592990B2 JP 56130701 A JP56130701 A JP 56130701A JP 13070181 A JP13070181 A JP 13070181A JP S592990 B2 JPS592990 B2 JP S592990B2
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11C19/02—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
- G11C19/08—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
- G11C19/0875—Organisation of a plurality of magnetic shift registers
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気バブルメモリチップの改良に関し、殊に
、夫々、ゲート制御導体に流す電流の生 j起する磁界
により各々の動作モードが定まる複数の連結ゲートで連
結された複数の磁気バブル転送路を持つ磁気バブルメモ
リチップにおいて、複数のゲート制御導体間の接続法を
変更できるような物理構成とすることにより、論理構成
を変更でき 。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improvement in a magnetic bubble memory chip, and more particularly, to an improvement in a magnetic bubble memory chip, which is connected by a plurality of connected gates each having a mode of operation determined by a magnetic field generated by a current flowing through a gate control conductor. In a magnetic bubble memory chip having multiple magnetic bubble transfer paths, the logical configuration can be changed by creating a physical configuration that allows changing the connection method between multiple gate control conductors.
るようにした、言わば適応構造型の磁気バブルメモリチ
ップに関する。磁気バブルメモリチップにも各種の駆動
原理のものがあるが、大概して高速性、不揮発性、高信
頼性等の利点を有し、高速補助メモリ、ファイルメモリ
等として有望視されている。This invention relates to a so-called adaptive structure type magnetic bubble memory chip. Although there are magnetic bubble memory chips based on various drive principles, most of them have advantages such as high speed, non-volatility, and high reliability, and are considered promising as high-speed auxiliary memory, file memory, etc.
が、チップの5 構造乃至構成に柔軟性が欠けるため、
これを多数組み合せる等してメモリ装置を実現する場合
には、(1)各用途に応じて別個に専用のチップを作成
するか、(i■斤定の構造を持つチップを無駄を承知で
(動作時間の増大あるいは制御の複雑化を止む無10し
として)各種用途に流用するか、のいづれかの方法を依
らざるを得ない。前者(i)の場合には、一つのプロセ
スで製造されるチップの枚数が少なくなるので、量産効
果によるコストダウンの幅が小さくなるという欠陥が生
15する。However, due to the lack of flexibility in the structure and configuration of the chip,
When realizing a memory device by combining a large number of these, (1) create separate dedicated chips for each purpose, or (i (In order to avoid increasing the operating time or complicating the control), there is no choice but to use it for various purposes.In the case of the former (i), the product is manufactured in one process. Since the number of chips to be used is reduced, a drawback arises in that the extent of cost reduction due to mass production effects is reduced15.
一方、後者(ii)の場合には、ある用途に対しては最
適なチップ構成であつても、他の用途に対しては必ずし
も最適となり得ないために、その本来の性能を発揮し得
なくなるという欠陥が生ずる。こうした欠陥は、比較的
汎用性が高いと思われフ0 る本出願人が別途開示した
二層導体膜電流駆動型の多分割型チップでも然りである
ので、このチップに就いての説明を行つて従来の欠陥を
より明確にしておく。この多分割型チップの代表的な構
成は、第1図フ5 示のように、磁気バブルを担う基板
膜1上にあつて該基板膜中での磁気バブルの転送路を定
めるために交互に配置された穴開きパターンを持つ二層
導体膜2、3を転送路と直交する方向に蛇行させたもの
である。On the other hand, in the case of the latter (ii), even if the chip configuration is optimal for a certain application, it may not necessarily be optimal for other applications, so it will not be able to demonstrate its original performance. A defect occurs. These defects also apply to the dual-layer conductive film current-driven multi-segmented chip that the applicant has separately disclosed, which is considered to be relatively versatile, so we will not provide an explanation of this chip. to make the existing flaws clearer. A typical configuration of this multi-segmented chip is as shown in Fig. 1, F5, on a substrate film 1 that carries magnetic bubbles, and in order to define the transfer path of the magnetic bubbles in the substrate film, Two-layer conductor films 2 and 3 each having a hole pattern are meandered in a direction perpendicular to the transfer path.
’0 即ち、二層導体膜2、3の同一位置に、右端の一
部を通電用として残したスロット4、及び左端の一部を
通電用として残したスロット5を交互に設けて複数の行
領域(図示の場合はマイナー・ループ領域のみ六行しか
示していないが本来は任意”5 でもつと多いのが普通
である)に分割してあり、各導体膜2、3の両端に所定
のタイミング関係の、駆動電圧V、、V2を印加して電
流の生起する磁界により基板膜1中のバブルを駆動する
ものである。'0 That is, at the same position of the two-layer conductor films 2 and 3, slots 4 with a part of the right end left for energization and slots 5 with a part of the left end left for energization are alternately provided to form a plurality of rows. It is divided into regions (in the figure, only six lines are shown for the minor loop region, but normally there are as many as 5 rows), and a predetermined timing is provided at both ends of each conductor film 2, 3. The related driving voltages V, , V2 are applied to drive the bubbles in the substrate film 1 by the magnetic field generated by the current.
尚、この第1図中には磁気バブル及び各導体膜の穴開き
パターンに就いては示していない。これ等は後の行間連
結ゲートの構成例に就いての説明で併示する。このよう
な物理構成のチツプでは、その論理構成(チツプ機能に
着目した構成)は代表的には第2図示のようになる。Incidentally, the magnetic bubbles and the perforation patterns of each conductive film are not shown in FIG. These will be shown later in the explanation of an example of the structure of the inter-row connecting gate. In a chip with such a physical configuration, its logical configuration (configuration focused on chip functions) is typically as shown in the second diagram.
即ち、二層導体膜2,3がh+2行に分割されていたと
すると、上下の行領域を除くh行の各行領域に、開口パ
ターンでループ状にしたn列の小ループ群を設け、同じ
列1(1−1、2、・・・・・・、n)に属する小ルー
プ群を上下に隣接するもの同志、第1図示のスロツト4
,5間を亘るスワツプゲート(往復線6で略示)で連結
して夫々n列のマイナーループMi(1=1、2、・・
・・・・、n)とし、この各マイナーループの上下を最
下行のメジャーループM1と最上行のメジヤーループM
2にスワツプゲート又はリプリケートゲート(往復線7
で略示)で連結するのである。尚、連結ゲート7が後に
示すリプリケート 闘ゲートである場合には各メジャー
ループMl,M2はその戻りの部分M/,Mノを省略し
た所謂メジャーラインに替わるのが普通である。また、
各メジヤーループ(ライン)Ml,M2にはバブル発生
器GEl,GE2、バブル検出器DEl,DE2が備え
シられる。而して、上述のような各ループ間乃至各転
送路間の連結ゲート6,7は、その動作モードが該ゲー
トを亘るゲート制御導体への電流の印加の有無乃至その
方向により制御されるものである。In other words, if the two-layer conductor films 2 and 3 are divided into h+2 rows, each row region of h rows, excluding the upper and lower row regions, is provided with a group of n columns of small loops formed into loops with an opening pattern. 1 (1-1, 2, . . . , n) that are vertically adjacent to each other, the slot 4 shown in the first diagram
, 5 are connected by a swap gate (schematically indicated by a round trip line 6), respectively, to form n columns of minor loops Mi (1=1, 2, . . .
..., n), and the top and bottom of each minor loop are the bottom row major loop M1 and the top row major loop M
2 Swap gate or Replicate gate (round trip line 7
). Incidentally, when the connecting gate 7 is a replicate fighting gate shown later, each of the major loops M1 and M2 is usually replaced with a so-called major line in which the return portions M/ and M are omitted. Also,
Each major loop (line) M1, M2 is equipped with a bubble generator GEl, GE2 and a bubble detector DE1, DE2. Therefore, the operation mode of the connection gates 6 and 7 between each loop or each transfer path as described above is controlled by whether or not a current is applied to the gate control conductor across the gate and its direction. It is.
この 5ことは、ここに例示した二層導体膜多分割型チ
ツプ用ゲート以外の磁気バブルメモリチツプ用のものに
おいても同様であるが、例えば上述したスワツプゲート
6は第3,4図示のような構成を持ち、ゲート制御導体
8への電流の印加の有無乃至その 3方向により、小ル
ープMj−1,iとMj,i(j″−2、3、・・・・
・・、k;i=1、2、・・・・・・、n)間を連結し
て情報を互いに入れ替え合うゞ入れ替え7モードと、そ
うではなく各ループ内で清報を伝搬させるゞループ内伝
搬7モードのいづれかのモー 4ドに選択されるように
なつている。そして、すべてのスワツプゲートを前者の
モードにした場合には同じ列1に属する小ループ群は等
価的に一つのマイナーループMiとして動作する。こう
したスワツプゲートは、本出願人が特願昭55−119
206号(特開昭 号)として出願中であつて、
詳しくはその明細書に譲るが、先に述べた第一、第二層
導体膜2,3を切欠いたスロツト4,5を挟んで対向す
る小ループm・と2Jmj−1(j−2、3、・・・・
・・、k;列番号1はぃづれの列でも良いので省略)の
コーナ部相互が一対の交叉開口パタン対2a,3aで連
結されていて、夫々の対向孔縁下が各ループコーナ部の
磁気バブル捕捉点Pl,P2;P/,P2″となる。This 5 is also true for gates for magnetic bubble memory chips other than the two-layer conductor film multi-segmented chip gate illustrated here. The small loops Mj-1,i and Mj,i(j''-2, 3,...)
..., k; i = 1, 2, ......, n), and the 7-swap mode in which information is exchanged with each other by connecting them, and the loop in which information is propagated within each loop instead. One of the seven internal propagation modes can be selected. When all the swap gates are set to the former mode, the small loops belonging to the same column 1 operate equivalently as one minor loop Mi. Such a swap gate was developed by the applicant in Japanese Patent Application No. 55-119.
The application is pending as No. 206 (Unexamined Japanese Patent Publication No. 206).
The details are given in the specification, but the small loops m and 2Jmj-1 (j-2, 3 ,...
..., k; the corner portions of row number 1 (omitted as it can be a staggered row) are connected to each other by a pair of crossed opening patterns 2a and 3a, and the lower edge of each opposing hole is connected to the magnetic field of each loop corner portion. The bubble capture point Pl, P2; P/, P2''.
尚、第3図では、第一層導体膜2の開口パタンを斜線を
施して示している。そして、このスワツプゲート部交叉
開口パタン対で連結されている各転送路乃至小ループM
j,mj−1は周知のように第一、第二層導体膜に所定
の喰違い関係で開けた開口パタン対2b,3bの連続で
形成されていて、各孔縁下が磁気バブル捕捉点P1〜P
4,P/〜P4′となつている。In FIG. 3, the opening pattern of the first layer conductive film 2 is shown with diagonal lines. Each transfer path or small loop M connected by this swap gate cross opening pattern pair
As is well known, the opening patterns 2b and 3b are formed in the first and second layer conductor films with a predetermined offset relationship, and the bottom of each hole is a magnetic bubble trapping point. P1~P
4, P/~P4'.
本発明はゲート構成そのものの発明ではないので、動作
原理の詳説は省き、以下、このスワツプゲートの動作自
体を説明するに留めると、第一、第二層導体膜に所定の
位相ずれと所定の方向を持つた交番電流を加えることに
より、第4図中に模式的に仮想線で示した磁気バブルB
,B″は夫々の転送路乃至小ループMj,mj−1の捕
捉点を→P1→P2→P3→P4→P1・・・・・・、
→P/→P2″→P3″→P4′→P/・・・・・・と
移動していくが、これ等バブルが交叉開口パタン対2a
の両端孔縁下の捕捉点Pl,P/に到達した時に、第一
、第二層導体膜2,3と平面的重なり関係にあるゲート
制御導体8に、同ループ内の次の捕捉点P2,Pノとの
間(PlP2,P/−P2′間)にはバブル反撥点が、
他ループの捕捉点P2′,P2との間(P1−PJ,P
/−P2間)にはバブル捕捉点乃至吸引点が出来るよう
な磁気ポテンシャル分布を作る電流を流すと、各バブル
B,B″は夫々相手方の小ループへ載り移り、同時交替
動作、即ちスワツプ動作が起きて、転送路乃至小ループ
Mj,mj−1間の情報入れ替えがなされる。一方、逆
に、P1−P2,P/−P2′間に捕捉点P1−PJ,
P/−P2間に反撥点を作るような電流をゲート制御導
体8に流すと、各小ループ内の伝搬動作、即ちゲートは
閉じたままとなる。場合によつてはゲート制御導体8に
はいづれかのモードの時にのみ電流を流して済ますこと
もあるが、尚、一般的には同第3,4図示のようにこの
スワツプゲートではそのゲート制御導体はスロツト4,
5を挟んで対向し、横方向に伸びる一対の往復制御導体
部材8a,8b(仮想線8cで示すように一端相互が連
結されて電流が向き合つている部分では逆方向に流れる
)で構成されるのが普通である。また、第4図示のよう
に各導体は絶縁層9で覆われてなつている。而して、同
様に、ゲート制御導体8にてゲート動作モードが定まる
ものには先に述べた連結ゲート7として使われることの
多いリプリケートゲート(第5図)(特願昭55−11
9205号;特開昭 号)やスロツト4,5は用
いないがトランスフアゲート(第6図)等もある。Since the present invention is not an invention of the gate structure itself, a detailed explanation of the operating principle will be omitted, and the operation of this swap gate itself will be explained below. By applying an alternating current with
, B'' are the capture points of the respective transfer paths or small loops Mj, mj-1 → P1 → P2 → P3 → P4 → P1...,
→P/→P2''→P3''→P4'→P/... These bubbles cross the opening pattern pair 2a.
When reaching the trapping point Pl, P/ under the edge of the hole at both ends, the gate control conductor 8, which is in a planar overlapping relationship with the first and second layer conductor films 2, 3, is exposed to the next trapping point P2 in the same loop. , P (between PlP2, P/-P2'), there is a bubble repulsion point,
Between the capture points P2' and P2 of other loops (P1-PJ, P
/-P2), when a current is applied to create a magnetic potential distribution that creates a bubble trapping point or attraction point, each bubble B, B'' is transferred to the other small loop, resulting in a simultaneous alternation operation, that is, a swap operation. occurs, and information is exchanged between the transfer path or small loops Mj, mj-1.On the other hand, conversely, the acquisition points P1-PJ,
When a current is passed through the gate control conductor 8 such that a repulsion point is created between P/-P2, the propagation action within each small loop, ie, the gate remains closed. In some cases, the gate control conductor 8 may be supplied with current only when it is in one of the modes; slot 4,
It is composed of a pair of reciprocating control conductor members 8a and 8b that face each other with 5 in between and extend laterally (as shown by the imaginary line 8c, the ends are connected to each other and the current flows in opposite directions in the parts facing each other). It is normal to Further, as shown in the fourth figure, each conductor is covered with an insulating layer 9. Similarly, when the gate operation mode is determined by the gate control conductor 8, there is a replicate gate (Fig. 5) which is often used as the connection gate 7 mentioned above (Japanese Patent Application No. 55-11).
There are also transfer gates (Fig. 6), which do not use slots 4 and 5.
同様の構成子には先と同一の符号を付して説明するが、
先づリプリケートゲートでは、一方の転送路m・(一般
にはマイナーループ)の各捕捉点Jを順に→P1→P2
→P3→P4→・・・・・・と進んできたバブルがスロ
ツト4,5で切欠かれた平行パタン対2c,3cの中、
一方の孔縁下P1に到達した時に、ゲート制御導体8(
一般にこれも往復導体部材8a,8bから成る)にバブ
ルを拡大せしめる電流パルスを印加すると、このバブル
は当該捕捉点P1とこれに対向する同じパタン2cの対
向孔縁下にあり、かつ他のループMj−1 (一般には
メジヤーループ又はライン)に属する捕捉点P/との間
に跨がるように拡大し、次の第一、第二層導体膜への電
流位相に従つてその大きさのまま次の捕捉点P2,P/
に移行し、その時にゲート制御導体8に今度はバブルを
消滅せしめる方向の磁界を発生する電流パルスを印加す
ると、引き伸ばされていたバブルは略々その中間で分断
され、各ループ内に夫々、一つづつのバブルが生成され
る。Similar constructors will be explained using the same reference numerals as before.
First, at the replicate gate, each acquisition point J of one transfer path m (generally a minor loop) is sequentially → P1 → P2
→P3→P4→... The bubble that has progressed in the parallel pattern pair 2c, 3c cut out by the slots 4, 5,
When the gate control conductor 8 (
When a current pulse is applied to expand a bubble to the reciprocating conductor members 8a and 8b (generally also consisting of reciprocating conductor members 8a, 8b), this bubble is located under the edge of the opposing hole of the same pattern 2c opposite to the capture point P1, and It expands so as to straddle between the capture point P/ belonging to Mj-1 (generally a major loop or line), and maintains its size according to the current phase to the next first and second layer conductor films. Next capture point P2, P/
At that time, when a current pulse is applied to the gate control conductor 8 to generate a magnetic field in the direction of extinguishing the bubble, the stretched bubble is divided approximately in the middle, and each loop has a single current pulse. One bubble after another is generated.
従つて、次の第一、第二層導体膜への駆動電流シーケン
スでは各バブルがP2→P3,P2′→P3′と夫々の
ループを進んでいく。このゲートは、このように、情報
の複数が可能であるため、源情報を元の記憶場所に戻す
必要がないからチツプ全体の高速動作に寄与するという
利点を持つている。第6図示のトランスフアゲートは、
最も古くからあるので、スロツトはなく、交叉開口パタ
ン対3a,2aとゲート制御導体8(導体部材8a,8
b)がある。このゲートの動作は、一方のループm・を
進んできたバブルが交叉開口パタン対のJ一方3aの孔
縁下P2に来た時にゲート制御導体に電流パルスを印加
して同ループの次点P3ではなく他ループMj−1の次
点PIの方へバブルを導く磁気ポテンシヤルを生成する
ものである。Therefore, in the next sequence of driving current to the first and second layer conductor films, each bubble advances through the respective loops from P2 to P3 and from P2' to P3'. This gate thus has the advantage that it contributes to faster operation of the entire chip since it is not necessary to return the source information to its original memory location since the information can be multiplexed. The transfer gate shown in Figure 6 is
Since it is the oldest, there is no slot, and the cross opening pattern pair 3a, 2a and the gate control conductor 8 (conductor members 8a, 8
There is b). The operation of this gate is to apply a current pulse to the gate control conductor when the bubble that has progressed through one loop m comes to the bottom of the hole edge P2 of J one side 3a of the crossed aperture pattern pair, and to Instead, it generates a magnetic potential that guides the bubble toward the next point PI of the other loop Mj-1.
が、このゲートは相互に同時に情報の入れ替えができな
いがための不都合はある。以上は二層導体膜電流駆動型
の磁気バブルメモリチツプにおけるゲート例であるが、
他の動作原理の磁気バブルメモリチツプでも、同じよう
にゲートの動作モードの選択にゲート制御導体を要する
ものもある。However, this gate is inconvenient because information cannot be exchanged simultaneously with each other. The above is an example of a gate in a two-layer conductor film current-driven magnetic bubble memory chip.
Some magnetic bubble memory chips with other operating principles also require a gate control conductor to select the operating mode of the gate.
而して、このように、ゲート制御導体を必要とするメモ
リチツプでは、例えば同位相乃至同方向に電流を流せば
良いもの同志はチツプ完成時に予じめ接続した状態に形
成することが多い。Therefore, in a memory chip that requires a gate control conductor, for example, devices that require current to flow in the same phase or in the same direction are often connected in advance when the chip is completed.
例えば、上述したスワツプゲートで連結された小ループ
群の中、m1〜M6に対応するゲート制御導体82〜8
6のみを採り上げて第1図に併示すれば、一般には偶数
番目のゲート用のゲート制御導体82,84,86と奇
数番目のそれ83,85とを直列接続線路L2,4,L
4,6,L3,,5で連結し、夫々両端のパツドP2と
P6、P3とP5の間に先に述べた所要のゲート制御電
流を流すように構成する。For example, the gate control conductors 82 to 8 corresponding to m1 to M6 among the small loops connected by the swap gates mentioned above.
If only the gate control conductors 82, 84, 86 for even-numbered gates and those 83, 85 for odd-numbered gates are taken up and shown in FIG.
4, 6, L3, and 5, and are constructed so that the required gate control current described above flows between pads P2 and P6, and between pads P3 and P5 at both ends, respectively.
尚、このように奇偶の各組に分けるのは、例示した構成
ではゲート−ゲート間で清報伝搬のタイミングがπだけ
ずれるからであり、また、一つの行間(即ちスロツト上
)のゲート制御導体8j(j=2、3、・・・・・・、
k)は各列1(1−1、2、・・・・・・、n)のスワ
ツプゲートの共通制御導体となつている。而して、この
ような従来構成法では、例えば第2行の小ループM2,
i(1=1、2、・・・・・・、n)のみを単独で稼動
するために、82と83のゲート制御導体を他から独立
に用いたいというような場合にも、一旦、デイスクリー
トに直列接続線路L24,L35を形成してしまつた後
ではこれに応することができず、結局、この所望となつ
た論理構成に対応するためには新たにチツプを作り直さ
ねばならず、先の欠陥(1)、(Ji)を生んでいたの
である。The reason why these are divided into odd and even groups is that in the illustrated configuration, the timing of clear information propagation is shifted by π between gates, and the gate control conductor between one row (that is, on the slot) is 8j (j=2, 3,...
k) serves as a common control conductor for the swap gates of each column 1 (1-1, 2, . . . , n). Therefore, in such a conventional configuration method, for example, the small loop M2 in the second row,
If you want to use the gate control conductors 82 and 83 independently from the others in order to operate only i (1 = 1, 2, ..., n) independently, please This could not be done after forming the series connection lines L24 and L35 in the REIT, and in the end, a new chip had to be made to accommodate this desired logical configuration. This resulted in defects (1) and (Ji).
本発明は、基本的に従来チツプのもつこうした流通性の
なさ、論理構成変更に伴う融通性乃至適応性の乏しさを
克服する主目的としてなされたものである。The present invention has been made basically with the main purpose of overcoming the lack of distribution and the lack of flexibility or adaptability associated with changes in the logical configuration of conventional chips.
本発明を概説すれば、本発明は、チツプ製造段階で当初
子定される論理構成に応じてゲート制御導体間を接続線
路で接続する際にも、後に論理構成の変更に応じて切断
が所望されることが予想される接続線路中にはフェーズ
を組み込んで置くようにしたもので、これにより、使用
者側でのチツプ構成変更の要求に速やかに応えられるチ
ツプを提供せんとするものである。To summarize the present invention, the present invention can also be used when connecting gate control conductors with connection lines according to the logic configuration initially determined at the chip manufacturing stage, and when it is desired to disconnect the gate control conductors later according to the change in the logic configuration. The purpose is to provide a chip that can quickly respond to requests for chip configuration changes from users. .
これはまた、製造側からすれば同一プロセスでの大量生
産が利き、合理的である。以下、第7図以降に示す本発
明の各実施例に就き説明する。This is also rational from the manufacturer's point of view, as it facilitates mass production using the same process. Each embodiment of the present invention shown in FIG. 7 and subsequent figures will be described below.
第7,8図示の実施例は概ね第1,2図示に即して説明
した二層導体膜電流駆動型多分割磁気バブルメモリチッ
プであつて各小ループ間連結ゲート6はスワツプゲート
、上下両端小ループと第一第二メジャーループ乃至ライ
ンMl,M2間連結ゲート7はスワツプゲート又はリプ
リケートゲートであるメモリチツプへの本発明適用例で
ある。The embodiment shown in FIGS. 7 and 8 is a two-layer conductive film current-driven multi-division magnetic bubble memory chip described in accordance with FIGS. The connecting gate 7 between the loop and the first and second major loops or the lines M1 and M2 is an example of application of the present invention to a memory chip that is a swap gate or a replicate gate.
この実施例では、奇数番目のゲート制御導体{81,8
3,・・・・・・,8k+1}と偶数番目のゲート制御
導体{82,84,・・・・・・, 8k}の各類毎に
、隣接するもの同志を夫々フェーズ線路Fjj+2(j
=1、3、・・・・・・、k−1)及びクFjj+2(
j−2、4、・・・・・・、k−2)によりラ接続して
成つている(kは奇数に選んでも勿論良い)。In this example, the odd gate control conductors {81,8
3, .
=1,3,...,k-1) and Fjj+2(
j-2, 4, . . . , k-2) (k may of course be selected as an odd number).
そして、この場合は各ゲート制御導体8j(j−1、2
、・・・・・・、k+1)の各往復導体部材8a,8b
の端末に夫々、外部回路への接続パツドPj′,Pjを
付している。第8図はいくつかのゲート制御導体のみを
抜き出してフェーズ線路、接続パツドを含むこれ等の関
係を斜視構成図的に示しているが、各フェーズ線路Fは
例えば図示のようにゲート制御導体8と同じ材質であつ
ても細目に形成されることにより高抵抗化されていると
か、或いはこのフェーズ線路部分のみ低融点化されてい
る等していて良い。In this case, each gate control conductor 8j (j-1, 2
, ..., k+1) reciprocating conductor members 8a, 8b
Connecting pads Pj' and Pj to external circuits are attached to the terminals of the terminals, respectively. FIG. 8 extracts only some gate control conductors and shows their relationship including phase lines and connection pads in a perspective view. Even if it is made of the same material as the phase line, it may be formed into a thinner material to have a higher resistance, or only this phase line portion may have a lower melting point.
要は、例えば第8図中のフェーズ線路Fjj+2を溶断
したい場合には、接続パツドツPj′とP,+2間に比
較的大きな電流を印加することによりこのフェーズ線路
部分が分断してくれれば良いのであり、このこと自体は
既存の技術を任意に援用して差仕えない。The point is, for example, if you want to melt down the phase line Fjj+2 in Figure 8, all you have to do is apply a relatively large current between the connection pads Pj' and P,+2 to break this phase line part. Yes, and this in itself does not interfere with the arbitrary use of existing technology.
尚、この実施例でも、ゲート制御導体群を奇偶の類に分
類したが、これは先にも触れたように隣接ゲート間では
情報伝搬のタイミングがπだけ異なるためである。In this embodiment as well, the gate control conductor groups are classified into odd and even groups, but this is because, as mentioned earlier, the timing of information propagation differs by π between adjacent gates.
したがつて、ゲートの改良あるいは他の構成法、転送パ
タン等を用いることにより、この伝搬タイミングのずれ
をなくすことができれば、すべてのゲートを直列に接続
してももらろんよい。図示の例では、奇偶の類を従属動
作させるためには、ゲート電流印加のタイミングをπだ
けずらせばよい。而して、このようにフェーズ線路を組
み込んだメモリチツプは、要所要所のフェーズ線路の溶
断により、第9図A−Fに及ぶ各種の論理構成を使用者
で選択できるようになる。Therefore, if this propagation timing shift can be eliminated by improving the gates or using other configuration methods, transfer patterns, etc., all the gates may be connected in series. In the illustrated example, in order to cause the odd-even type to operate in a dependent manner, it is sufficient to shift the timing of gate current application by π. In the memory chip incorporating the phase line in this way, the user can select various logical configurations ranging from FIGS. 9A to 9F by blowing out the phase line at key points.
但し、簡単のため、ゲート制御導体は一本の実線8で示
し、独立に動作するゲート駆動回路を◎で、従属的に動
作するゲート駆動回転をOで示す。However, for the sake of simplicity, the gate control conductor is indicated by a single solid line 8, the gate drive circuit that operates independently is indicated by ◎, and the gate drive rotation that operates dependently is indicated by O.
またゲート制御導体は単にゲートと記す。第9A図は、
フェーズFk−1,k+1を溶断してゲート8k+1を
分離すると共に、他の奇数ゲート1駆動回路11で、偶
数ゲートをゲート1駆動回路/で駆動し、11とI/を
従属的に動作させたもので、シングル・ループ方式とい
われるものである。Further, the gate control conductor is simply referred to as a gate. Figure 9A shows
Phases Fk-1 and k+1 were fused to separate gate 8k+1, and the other odd-numbered gate 1 drive circuit 11 drove the even-numbered gates with gate 1 drive circuit /, and 11 and I/ were operated in a dependent manner. This is called a single loop method.
この方式は、アクセスタイムは大きいが、すべてのデー
タを直列的に記憶できるので、磁気テープと同様な使用
法に適したものである。同図Bは、更にフェーズFl3
を溶断してゲーアト81を独立したもので、ゲート81
をゲート駆動回路12で、他の奇数ゲートを13で、偶
数ゲートを13″で駆動し、13と13″を従属的に動
作させたものである0これはメジヤ一・マイナ一・ルー
プ方式といわれるもので、動作速度の点で同図Aの方式
より格段に優れているため、広く採用されている。Although this method requires a long access time, all data can be stored serially, so it is suitable for use similar to magnetic tape. B in the same figure further shows the phase Fl3.
The gate 81 is made independent by fusing the gate 81.
is driven by the gate drive circuit 12, the other odd numbered gates are driven by 13, the even numbered gates are driven by 13", and 13 and 13" are operated dependently. This method is widely used because it is much superior to the method shown in Figure A in terms of operating speed.
同図Cは、同図B方式はゲート8k+1を付加したもの
で、ゲート81をゲート駆動回路14で1駆動し、8k
+1を6で駆動すると共に、残りの奇数ゲートを15″
で、偶数ゲートを15で駆動し、5と15′を従属的に
動作させたものである。In the figure C, the method B in the figure has 8k+1 gates added, and the gate 81 is driven once by the gate drive circuit 14, and 8k+1 gates are added.
+1 is driven by 6 and the remaining odd gates are driven by 15''
The even gates are driven by 15, and gates 5 and 15' are operated in a dependent manner.
これは2メジャ一方式といわれるチツプ構成法で、同一
チツズ上に二つの入出力ポートをもつために、アクセス
タイムが同図Bの構成の1/2に短縮され、性能的にも
優れているが、適応分野はほぼ同じである。同図Dは、
フェーズFl3,F24,yラ
Fk−1,肚,を溶断して、ゲート8k+1を分離し、
ゲート全体を{81}、{82}、{83,85、・・
・・・・8k−1Lおよび{84,85,・・・・・・
8k}に分類すると共に、それぞれゲート駆動回路17
,18,19,197で駆動し、19と19″を従属的
に動作させたものである。This is a chip configuration method called a two-measure one-way system, and because it has two input/output ports on the same chip, the access time is reduced to half that of the configuration shown in Figure B, and it is superior in performance. However, the fields of application are almost the same. D in the same figure is
Fuse the phases Fl3, F24, y-ra Fk-1, and separate the gate 8k+1,
The entire gate is {81}, {82}, {83, 85,...
...8k-1L and {84, 85, ...
8k}, and each gate drive circuit 17
, 18, 19, and 197, and 19 and 19'' are operated dependently.
これは、マイナ一・ループを大小二つのループに分割し
て、小さい方をキヤツシユとして用いるもので、オンチ
ツプ・キヤツシユ方式といわれるものである。このチツ
プでは、使用頻度の高い情報を小ループ内に格納してお
くことによつて、マイナ一・ループ長を等価的にキヤツ
シユ・ループ長に近ずけることができるので、同図B,
Cの構成に比べて性能が格段に向上する。したがつて、
このチップは高速性が要求される分野に適している。尚
、このチツプでは、これを構成する二層導体膜を、第1
0図中に仮想線10で示すような第1,2図示の如き従
来型ではなく、実線で示すように、マイナ一・ループ領
域11、キャツシユ・ループ領域12、およびメジヤ一
・ライン領域13に分割し、それぞれを別個に、転送路
駆動回路VllとV1/、Vl2とVl2′、およびV
l3とVl3′により駆動することも可能である。This is called an on-chip cache system, in which the minor loop is divided into two large and small loops, and the smaller one is used as a cache. In this chip, by storing frequently used information in small loops, the minor loop length can be made equivalent to the cache loop length.
Performance is significantly improved compared to the C configuration. Therefore,
This chip is suitable for fields that require high speed. In addition, in this chip, the two-layer conductor film constituting it is
Instead of the conventional type shown in the first and second drawings, as shown by the imaginary line 10 in Fig. The transfer path drive circuits Vll and V1/, Vl2 and Vl2', and V
It is also possible to drive by l3 and Vl3'.
この場合、各領域には、その中にある情報にアクセスす
るときにのみ電流を印加すればよいから、電力消費の比
重が極めて高いマイナ一・ループ領域を駆動する頻度が
減少し、チツプからの発熱量が大幅に低減する。このよ
うな導体膜構成であつても、転送路駆動回路の数が増え
るだけであつて上記した同図A−Cの構成も、次の同図
E,Fの構成もいづれも実現できる。同図Eは)フ11
ズFl,37Fk−1,k+1を溶断し、ゲート8k+
1を分離すると共に、他のゲートを{81L{82,8
4,・・・・・・,8k)、および{83,85,・・
・・・・,8k−1}の類に分けて、それぞれをゲート
駆動回路110,111,112により互いに独立に駆
動するもので、バブルラダ一といわれるものである。In this case, current needs to be applied to each region only when accessing the information contained therein, which reduces the frequency of driving the minor and loop regions, which consume a very high proportion of power, and reduces the power consumption from the chip. The amount of heat generated is significantly reduced. Even with such a conductor film configuration, the number of transfer path drive circuits is increased, and both the configurations shown in FIGS. E in the same figure) F11
fuse Fl, 37Fk-1, k+1, gate 8k+
1 and the other gates {81L{82,8
4,...,8k), and {83,85,...
.
このチツプでは、記憶情報をプロツクごとに入れ換える
こと、新しいデータを挿入すること、および不要になつ
たデータを削除すること、等の高度なデータハンドリン
グ機能をオンチツプで行えるので、高機能性を要求され
る分野に適したチツプ構成法である。同図Fは、先の同
図Eの構成にゲート8k+1を付加し、ゲート全体を{
81}、{82,84,・・・・・・,8kL{83,
85,・・・・・・,8k−1 }、ぉよび{8k+1
}に分類すると共に、それぞれをゲート1駆動回路1
3,115および116により互いに独立に駆動するも
ので、同図Eの構成の性能改善を図つたものであるが、
適応分野はほぼ同じである。This chip can perform advanced data handling functions on-chip, such as exchanging stored information for each program, inserting new data, and deleting data that is no longer needed, so high functionality is required. This is a chip construction method suitable for various fields. In Figure F, gate 8k+1 is added to the configuration of Figure E, and the entire gate is {
81}, {82, 84,..., 8kL{83,
85,...,8k-1 }, and {8k+1
}, and each gate 1 drive circuit 1
3, 115 and 116 independently of each other, and is intended to improve the performance of the configuration shown in Figure E.
The fields of application are almost the same.
以上では、第7,8図示の構成(各ゲートに対してパツ
ドを二つ配置し、パツド間をすべてフェーズで連結する
構成)を基にして説明を加えたが、このチツプでは分割
数(図示の場合k+2)と共にパツド数が増えるので、
これが余りにも多いと実装上問題が生ずる。The above explanation was based on the configuration shown in Figures 7 and 8 (a configuration in which two pads are arranged for each gate and all the pads are connected in phases), but in this chip, the number of divisions (as shown in the figure) is In the case of , the number of pads increases with k+2), so
If there are too many of these, problems will occur in implementation.
したがつて、パツドの数は、実現したいチツプの種類と
、実装コスト間でのトレード・オフを考慮して決める必
要がある。例えば、第9A−F図示のチツプだけを実現
するのであれば、必ずしも第7,8図示の構成にする必
要はなく、第11図示の第二の実施例で充分である。こ
のチツプでは、分割数にかかわらずゲート駆動用の)ゞ
ツド数がP1クP/;P22P2l;″″1−8;P5
ラP5′の十本、フ1−ズがFl3ラF2472yFk
−1,k+1の三本と少なく現実的な値となつている。Therefore, the number of pads must be determined by taking into account the type of chip desired to be realized and the trade-off between implementation costs. For example, if only the chips shown in FIGS. 9A to 9F are to be implemented, the configurations shown in FIGS. 7 and 8 are not necessarily required, and the second embodiment shown in FIG. 11 is sufficient. In this chip, regardless of the number of divisions, the number of gate drive pins is P1, P/;P22P2l;''1-8;P5
Ten pieces of LA P5', f1-'s are Fl3 LA F2472yFk
-1, k+1, which is a small and realistic value.
この構成でも、フェーズFl32F24y7?Fk−1
,k+1を選択的に溶断すれば先のチップ構成が任意に
採択できることは既述した所から顕らかである。Even with this configuration, the phase Fl32F24y7? Fk-1
, k+1, it is clear from the above that the above chip configuration can be arbitrarily adopted.
ところで、今迄は、ゲート制御導体間を直列に接続する
場合に就いてのみ説明してきた。By the way, until now, only the case where the gate control conductors are connected in series has been described.
が、昨今のように、情報の高密度化、即ちバブル径の微
細化に伴つて各チツプ構成子の線幅が小さくなり、その
抵抗値が極端に大きくなる傾向が出てくると、これが特
にゲート制御導体に就いて問題となつてくる場合がある
。このような状況下で更にいくつかのゲート制御導体を
直列に接続すると問題を一層深刻化する因となる。そこ
で、そのような場合には、第12図示の第三の実施例に
示すように、並列接続も考えられる。However, in recent years, as the density of information has increased, that is, the bubble diameter has become smaller, the line width of each chip component has become smaller, and the resistance value has become extremely large. Problems may arise with gate control conductors. Under such circumstances, connecting several gate control conductors in series will further aggravate the problem. Therefore, in such a case, parallel connection may be considered as shown in the third embodiment shown in Figure 12.
この実施例では、奇数及び偶数ゲート制御導体群が各並
列になるように接続し、その並列接続線路中にフェーズ
Fj,j+2(j−1、2、・・・・・・、k−1)を
組込んでいる。従つて同時に1駆動するゲート数が増え
ても合成抵抗値は増加することがなく、また、アース側
となるパツド(例えばP/,P2″)は奇数類、偶数類
中では各共用できるので、先の直径接続の実施例に比し
てパツド数を削減できる利点もある。また、第9図A−
F図示の各論理構成チツプを選択的に実現できれば足り
る場合、先に第11図に即して述べたと同じ理由で、フ
ェーズFl,3,F2,4,Fk−1,k+1の三本を
残して他のフェーズ部分は第1図示従来例の如く通常の
接続線路Lj,j+−2(j=3、4、・・・・・・、
k−2)とし、パツドもP1ゞP4ラP/YP2ZPk
−1ゝPk−1を残して他を省いたチツプとして製作の
簡単化を図ることができる。In this embodiment, odd and even gate control conductor groups are connected in parallel, and phases Fj,j+2 (j-1, 2, ..., k-1) are connected in parallel connection lines. It incorporates. Therefore, even if the number of gates that are driven simultaneously increases, the combined resistance value will not increase, and the pads on the ground side (for example, P/, P2'') can be shared between odd and even numbers. There is also the advantage that the number of pads can be reduced compared to the previous embodiment of diameter connection.
If it is sufficient to selectively realize each of the logical configuration chips shown in Figure F, then for the same reason as stated above in conjunction with Figure 11, it is possible to leave out the three phases Fl, 3, F2, 4, Fk-1, and k+1. The other phase portions are connected to normal connection lines Lj, j+-2 (j=3, 4, . . . , as in the conventional example shown in the first figure).
k-2), and the pad is also P1ゞP4raP/YP2ZPk
-1ゝProduction can be simplified by using a chip in which Pk-1 is left and the others are omitted.
以上の実施例の説明から自明のように、ゲート制御導体
間を溶断可能なフェーズ線路で連結するという本発明主
旨からすれば、他のパツド配列、ゲート間接続法、導体
膜構造を持つチツプにも本発明は同様に適用が可能であ
る。As is obvious from the above description of the embodiments, from the point of view of the present invention, which is to connect gate control conductors with a fusible phase line, it is possible to apply other pad arrangements, gate-to-gate connection methods, and chips with conductor film structures. The present invention is also applicable to the following.
以上詳記のように本発明によれば、用途に応じてその構
成を変えることが可能な謂わばゞ適応構造型7チツプを
提供できるので、利用者のチツプ選択(論理構成選択)
の自由度が増大すると共に、量産効果による低価格化が
充分に期待できる。As detailed above, according to the present invention, it is possible to provide a so-called adaptive structure type 7 chip whose configuration can be changed depending on the application, so that the user can easily select the chip (logical configuration selection).
In addition to increasing the degree of freedom in manufacturing, we can fully expect cost reductions due to mass production effects.
第1図は本発明を適用可能で従来のゲート制御導体間接
続線路を持つ二層導体膜電流駆動型多分割磁気バブルメ
モリチツプの概略構成図、第2図は同じくその一輪理構
成図、第3図は第1,2図示構成のチップ沖に用いられ
る転送路間連結ゲートとしてのスワツプゲートの平面図
的概略構成図、第4図は第3図一線に沿う断面図、第5
図は他の連結ゲート例としてのリプリケートゲートの平
面図的概略構成図、第6図は更に他の連結ゲート例とし
てのトランスフアゲートの平面図的概略構成図、第7図
は本発明第一の実施例の概略構成図、第8図は第7図示
実施例の要部斜視図、第9図A乃至Fは、夫々、第一実
施例にて実現可能なチツプ構成例の説明図、第10図は
二層導体膜を領域分けしたチツプの説明図、第11図及
び第12図は、夫々、第二、第三の実施例の概略構成図
、である。
図中、1は磁気バブルを担う基板膜、2,3は第一、第
二層導体膜、4,5はスロット、6,7は連結ゲート、
8はゲート制御導体、Fはフェーズ線路、Pはパツド、
である。FIG. 1 is a schematic diagram of a two-layer conductor film current-driven multi-division magnetic bubble memory chip having a conventional gate-controlled interconnection line between conductors to which the present invention can be applied, and FIG. 3 is a plan view schematic diagram of a swap gate as a connection gate between transfer paths used for chip offsetting in the configuration shown in FIGS. 1 and 2; FIG. 4 is a sectional view taken along the line in FIG. 3;
The figure is a schematic plan view of a replicate gate as another example of a connection gate, FIG. 6 is a schematic plan view of a transfer gate as another example of a connection gate, and FIG. FIG. 8 is a perspective view of essential parts of the embodiment shown in FIG. FIG. 10 is an explanatory diagram of a chip in which a two-layer conductive film is divided into regions, and FIGS. 11 and 12 are schematic configuration diagrams of the second and third embodiments, respectively. In the figure, 1 is a substrate film that carries a magnetic bubble, 2 and 3 are first and second layer conductor films, 4 and 5 are slots, 6 and 7 are connection gates,
8 is a gate control conductor, F is a phase line, P is a pad,
It is.
Claims (1)
持ち、該連結ゲートがその動作モード制御用のゲート制
御導体を持つ磁気バブルメモリチップであつて、上記ゲ
ート制御導体間の接続に溶断可能なフユーズ線路を用い
たことを特徴とする磁気バブルメモリチップ。1 A magnetic bubble memory chip having a plurality of connecting gates connecting magnetic bubble transfer paths, each of which has a gate control conductor for controlling its operation mode, and the connection between the gate control conductors can be fused. A magnetic bubble memory chip characterized by using fuse lines.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56130701A JPS592990B2 (en) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | magnetic bubble memory chip |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56130701A JPS592990B2 (en) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | magnetic bubble memory chip |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5832293A JPS5832293A (en) | 1983-02-25 |
| JPS592990B2 true JPS592990B2 (en) | 1984-01-21 |
Family
ID=15040545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56130701A Expired JPS592990B2 (en) | 1981-08-20 | 1981-08-20 | magnetic bubble memory chip |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS592990B2 (en) |
-
1981
- 1981-08-20 JP JP56130701A patent/JPS592990B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5832293A (en) | 1983-02-25 |
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