JPS5929974B2 - Condition monitoring device for analog-to-digital converter - Google Patents
Condition monitoring device for analog-to-digital converterInfo
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- JPS5929974B2 JPS5929974B2 JP51100447A JP10044776A JPS5929974B2 JP S5929974 B2 JPS5929974 B2 JP S5929974B2 JP 51100447 A JP51100447 A JP 51100447A JP 10044776 A JP10044776 A JP 10044776A JP S5929974 B2 JPS5929974 B2 JP S5929974B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアナログ−ディジタル変換システムに関し、回
路の異常、故障を速やかに検出し、高信頼度の装置を提
供しようとするものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an analog-to-digital conversion system, and is intended to promptly detect circuit abnormalities and failures and provide a highly reliable device.
アナログ情報をコンピューター、マイクロプロセッサ−
等計算機によりデーター処理する場合、A−D変換装置
は不可欠のものである。Analog information is transferred to computers and microprocessors.
When processing data using a computer, an A/D converter is indispensable.
近時、大電力系統の保護監視制御用として使用されつつ
ある計算機により電力系統を保護制御するシステムの場
合、A−D変換装置は他の分野とは異り、大きな比重を
占め、その信頼度によってシステム全体の信頼度が左右
されると言っても過言でない。In the case of systems that protect and control power systems using computers, which have recently been used for protection, monitoring and control of large power systems, A-D converters play a large role, unlike in other fields, and their reliability is important. It is no exaggeration to say that the reliability of the entire system is affected by this.
その理由としては、電力系統の事故を検出する保護機能
という点より、高速度のサンプリング、常時の小入力よ
り事故時の大入力までの広範囲のA−D変換並びにサン
プリング対応での誤りの検出の必要性が考えられるから
である。The reason for this is not so much the protection function that detects faults in the power system, but also the high-speed sampling, wide range of A-D conversion from small inputs at normal times to large inputs in the event of an accident, and the ability to detect errors in sampling. This is because it is considered necessary.
この種A−D変換装置として代表的なブロック構成図を
第1図に示す。FIG. 1 shows a typical block diagram of this type of A-D converter.
同図で1はアナログセンサーで、このアナログセンサー
1によって検出されたアナログ情報は、2o〜2nのフ
ィルター回路により、サンプリングに伴う折返し誤差が
除去され、このフィルター出力が次段のサンプリングホ
ールド回路3゜〜3nに入力され、ある一定のサンプリ
ング周波数によってサンプリングホールドされる。In the figure, 1 is an analog sensor, and the analog information detected by this analog sensor 1 is filtered through filter circuits 2o to 2n to remove aliasing errors caused by sampling, and the output of this filter is sent to the next stage sampling hold circuit 3. ~3n, and is sampled and held at a certain sampling frequency.
4は入力される複数個のアナログ入力を切替えるマルチ
プレクサ回路で、これによりA−D変換回路5を時分割
に使用し、ディジタル量への変換を行い、このディジタ
ル出力を6のデーター処理回路に入力して所定のデータ
ー処理を行なうのが一般的である。4 is a multiplexer circuit that switches a plurality of analog inputs, which uses the A-D converter circuit 5 in time division to convert into digital quantities, and inputs this digital output to the data processing circuit 6. Generally, predetermined data processing is performed using the following steps.
このA−D変換装置として問題となる点としては、アナ
ログセンサー1よりの入力をフィルター回路2→サンプ
リングホールド回路3→マルチプレクサ回路4→A−D
変換回路5を通してディジタル変換する過程で、途中の
各回路が正常に動作しているか否かを検出する場合であ
る。The problem with this A-D converter is that the input from the analog sensor 1 is filtered through the filter circuit 2 → sampling hold circuit 3 → multiplexer circuit 4 → A-D.
In the process of digital conversion through the conversion circuit 5, it is detected whether each circuit in the middle is operating normally.
即ち系統事故発生時にセンサー側が過渡的に応答し、こ
の影響により従来方法では検出不可能になる。That is, when a system fault occurs, the sensor side responds transiently, and this effect makes it impossible to detect using conventional methods.
この過渡的な応答の問題点を解決する手段として例えば
第2図に示す如き構成が考えられる。As a means to solve this problem of transient response, a configuration as shown in FIG. 2, for example, can be considered.
即ち第1図に示す同一構成して成るA−D変換装置を2
組用意して、これらA−D変換装置A、Bの出力を図に
示す比較回路1で比較判定し、各回路の誤りを検出しよ
うとするものである。That is, two A-D converters having the same configuration as shown in FIG.
A comparison circuit 1 shown in the figure compares and judges the outputs of these A/D converters A and B to detect errors in each circuit.
なお第2図で第1図と同一のものは同一符号を付してあ
り、且つ第1図と同一機能をもつものは同一符号でII
/ IIを付している。In Fig. 2, the same parts as in Fig. 1 are given the same reference numerals, and parts with the same functions as in Fig. 1 are given the same numbers.
/ II is attached.
この様に同一構成して成るA−D変換装置を2組用意し
て両川力を比較する事により従来懸案化されてる問題点
は解決され、サンプリング対応での各回路の誤りは検出
可能である。In this way, by preparing two sets of A-D converters with the same configuration and comparing the Ryokawa power, the conventional problems can be solved, and errors in each circuit in response to sampling can be detected. .
しかしながら図の様に構成したとしても、例えばA、8
両ブロックの共通的要因による誤りの検出が不可能であ
る事が指摘できる。However, even if configured as shown in the figure, for example, A, 8
It can be pointed out that it is impossible to detect errors due to common factors in both blocks.
即ち、電源、サージ、ノイズ、温度変化等A、B両ブロ
ックが同じように誤る可能性のある共通的要因による異
常の検出は出来ない。That is, it is impossible to detect abnormalities caused by common factors such as power supply, surge, noise, temperature change, etc., which can cause errors in both blocks A and B in the same way.
本発明は以上の点に鑑みて発明されたものであって、以
下第3図、第4図に示す各実施例に基づき詳述する。The present invention was invented in view of the above points, and will be described in detail below based on the embodiments shown in FIGS. 3 and 4.
第3図は、本発明による一実施例を示したもので第1図
、第2図と同一のものは同一符号を付している。FIG. 3 shows an embodiment according to the present invention, and the same parts as in FIGS. 1 and 2 are given the same reference numerals.
同図で8゜〜8nは極性反転回路で、入力のアナログ信
号の値は変えずに、単に極性を逆にする機能を有するも
ので、これによりA−D変換回路5,5′の出力は、フ
ィルター回路2゜、2n′、サンプリングホールド回路
3゜、3n′、マルチプレクサ回路4゜’ 4n’)
A l)変換回路5’、5’、極性反転回路8゜、g
n’(7)各回路の誤差を別にすると時間的並びに絶対
値として一致しており、単に極性が逆になるだけである
。In the figure, 8° to 8n are polarity inverting circuits, which have the function of simply reversing the polarity without changing the value of the input analog signal. , filter circuit 2゜, 2n', sampling hold circuit 3゜, 3n', multiplexer circuit 4゜'4n')
A l) Conversion circuit 5', 5', polarity inversion circuit 8°, g
n'(7) Except for errors in each circuit, they match in terms of time and absolute values, and the polarities are simply reversed.
従って両者の出刃を比較する事により、データ誤りの検
出は可能になる。Therefore, data errors can be detected by comparing the two blades.
Tは比較回路で前記誤差を考慮し、各A−D変換装置A
、Bのディジタル出力を各サンプリング対応で演算比較
し、その値が整定値以内に納まっているかどうかを判断
するものである。T is a comparator circuit that takes into account the error and compares each A-D converter A.
, B are calculated and compared for each sampling, and it is determined whether the values are within a set value.
6はデーター処理回路で、γの比較回路の比較結果9に
基づきA−D変換されたデーター10,10’の処理演
算を行なうもので、この処理回路として例えばCPU、
マイクロプロセッサ−等の計算機が考えられる。Reference numeral 6 denotes a data processing circuit, which performs processing operations on the A-D converted data 10, 10' based on the comparison result 9 of the γ comparison circuit, and this processing circuit includes, for example, a CPU,
A computer such as a microprocessor can be considered.
なお8の極性反転回路は、入力のアナログ信号の値を変
えず、単に極性を逆にする機能を有するものであればよ
いので、例えば演算増巾器等を使用した位相反転回路で
も構成できるが、電力系統の電圧、電流等のアナログ量
を取り扱う場合には、周波数領域が限定されるので極性
反転回路を特に設けずとも、1のアナログセンサー内お
よびセンサー自身を例えば第5図、第6図に示す様に変
成器を用いて簡単に構成可能である。Note that the polarity inversion circuit 8 only needs to have the function of simply inverting the polarity without changing the value of the input analog signal, so it can also be configured with a phase inversion circuit using, for example, an operational amplifier. When dealing with analog quantities such as voltage and current in a power system, the frequency range is limited, so there is no need to provide a polarity reversal circuit. It can be easily configured using a transformer as shown in the figure.
即ち第5図の実施例は変成器の二次側を2巻線としてそ
の出力を逆極性としA、8両ブロックに印加する様にし
たもので、第6図の実施例は同一特性の変成器を2個用
い、一次側を逆極性に渉続してA。That is, the embodiment shown in Fig. 5 has two windings on the secondary side of the transformer, and the output has opposite polarity and is applied to both blocks A and 8, whereas the embodiment shown in Fig. 6 is a transformer with the same characteristics. A by using two devices and connecting the primary side with opposite polarity.
8両ブロックに印加する様にしたものである。The voltage is applied to eight blocks.
この様に構成すれば回路構成が簡素化される事は勿論の
事、さらにアナログセンサ一部に挿入する変成器の不良
をも検出できる等の効果を奏するものである。With this configuration, not only the circuit configuration can be simplified, but also a defect in the transformer inserted into a part of the analog sensor can be detected.
尚、第5図、第6図の各実施例は電圧変成器を用いた場
合を説明したものであるが、電流変成器を適用した場合
にも接続が異るだけで同一の考え方で構成し得る事は申
す迄もない。Although the embodiments shown in Figures 5 and 6 are explained using a voltage transformer, the same concept can be applied even when a current transformer is used, with the only difference being the connections. Needless to say, there is nothing to gain from it.
本発明は以上の様に同一構成、同一機能のA−り変換要
素を2組実装し、一方に正規のアナログ入力を印加し、
他方に逆極性の入力を加えて、その出力信号を比較回路
1で監視しデーター誤り並びに構成回路の異常を検出し
ようさするものであるが、この様に単にアナログ入力を
逆極性で印加する事により後述する様に種々の効果を奏
すものである。As described above, the present invention implements two sets of A-reconverting elements with the same configuration and the same function, applies a regular analog input to one, and
The idea is to apply an input of opposite polarity to the other side and monitor the output signal with comparator circuit 1 to detect data errors and abnormalities in the constituent circuits, but simply applying the analog input with opposite polarity in this way This provides various effects as described later.
第4図は本発明による他の実施例を示し、第1図及び第
2図、第3図と同一のものは同一符号を付しており、こ
の実施例で特徴とすべき点は第3図のものに新たに点検
信号発生回路11を挿入する事により、比較回路7のチ
ェックをも可能にした事である。FIG. 4 shows another embodiment according to the present invention, and the same parts as in FIGS. 1, 2, and 3 are given the same reference numerals. By newly inserting a check signal generation circuit 11 into the one shown in the figure, it is also possible to check the comparison circuit 7.
即ち点検信号発生回路11より図示する様にA。That is, A from the inspection signal generation circuit 11 as shown in the figure.
Bブロックのマルチプレクサ回路4,4′に所定信号を
入力すれば、A、8両ブロックは夫々常に逆極性で動作
しているのでマルチプレクサ回路4゜4′の切替周期に
合せて比較回路γ自身の不動作故障を検出できると共に
、点検信号発生回路11としては単に所定の信号を発生
できるものであればよいので比較的簡素化されたものを
適用できる。When a predetermined signal is input to the multiplexer circuits 4 and 4' of the B block, since both blocks A and 8 always operate with opposite polarity, the comparator circuit γ's own signal changes in accordance with the switching cycle of the multiplexer circuit 4°4'. As the inspection signal generating circuit 11, a relatively simple one can be applied as long as it can detect a non-operational failure and simply generate a predetermined signal.
以上の様に本発明に於ては、同一構成で且つ同一機能を
有する2組のA−D変換装置を用意して、これ等装置に
入力するアナログ信号を単に逆極性にして印加せしめて
装置自体の常時の監視を行なう様にしたものであるから
、以下に示す様に種々の効果を奏するものである。As described above, in the present invention, two sets of A-D converters having the same configuration and the same function are prepared, and the analog signals input to these devices are simply applied with opposite polarities. Since it is designed to constantly monitor itself, it has various effects as shown below.
■ フィルター回路、サンプリングホールド回路、マル
チプレクサ回路、A−D変換回路の各回路が故障したり
誤った場合、その検出がサンプリング対応、ビット対応
で可能であるので、データー並びに装置自体の信頼性を
大幅に向上できる。■ If any of the filter circuits, sampling hold circuits, multiplexer circuits, and A-D conversion circuits break down or make errors, this can be detected by sampling or bit processing, greatly increasing the reliability of the data and the device itself. can be improved.
■ 入力信号を逆極性にし、2組の構成回路の動作を常
に正負逆方向にする事により、ノイズ、サージ、アース
電位の動揺等、同一方向へ作用する外乱による誤りをも
検出可能となる。■ By making the input signals have opposite polarities and always operating the two sets of component circuits in opposite directions, it is possible to detect errors caused by disturbances acting in the same direction, such as noise, surges, and ground potential fluctuations.
■ ■と同一の理由により回路を駆動する制御電源の変
動および異常、並びに温度変化等装置の共通的要因によ
る誤りも検出可能である。(2) For the same reason as (2), it is also possible to detect errors due to common factors in the device, such as fluctuations and abnormalities in the control power supply that drives the circuit, and temperature changes.
■ 第3図における1の比較回路は、A−D変換回路5
,5′のディジタル出力が正負逆極性の点より単に和演
算を行い、結果が零となるかどうかを見ていれば良く、
従来装置の様に複雑な差演算或いは比較演算を行なう必
要がなく回路構成が簡素化されコスト面で有利になる。■ The comparison circuit 1 in FIG. 3 is the A-D conversion circuit 5.
, 5' simply perform a sum operation based on the positive and negative polarity of the digital outputs, and check whether the result is zero.
Unlike conventional devices, there is no need to perform complicated difference calculations or comparison calculations, and the circuit configuration is simplified, which is advantageous in terms of cost.
第1図はA−D変換装置の代表的なブロック構成図、第
2図は従来方法による状態監視を行なう場合の具体的な
ブロック構成図、第3図及び第4図は本発明による一実
施例を示す具体的なブロック構成図、第5図、第6図は
本発明に係る極性反転回路をアナログセンサ一部に挿入
した場合の具体例。
1はアナログセンサー、28〜2n、25〜2n′はフ
ィルター回路、3o〜3n 、 3.)’〜3n′はサ
ンプリングホールド回路、4,4′はマルチプレクサ回
路、5,5′はA−D変換回路、6はデーター処理回路
、Tは比較回路、8o〜8nは極性反転回路、11は点
検信号発生回路、A、BはA−D変換装置。FIG. 1 is a typical block configuration diagram of an A-D conversion device, FIG. 2 is a specific block configuration diagram when status monitoring is performed using a conventional method, and FIGS. 3 and 4 are one implementation according to the present invention. FIGS. 5 and 6 are block diagrams illustrating specific examples in which a polarity inverting circuit according to the present invention is inserted into a part of an analog sensor. 1 is an analog sensor, 28 to 2n, 25 to 2n' are filter circuits, 3o to 3n, 3. )' to 3n' are sampling and hold circuits, 4 and 4' are multiplexer circuits, 5 and 5' are A-D conversion circuits, 6 is a data processing circuit, T is a comparison circuit, 8o to 8n are polarity inversion circuits, and 11 is a Inspection signal generation circuit, A and B are A-D converters.
Claims (1)
グ周波数によりディジタル量に変換するアナログ−ディ
ジタル変換装置の常時の状態監視を行なう様にしたもの
に於て、アナログ量を検出するアナログセンサ一部と、
フィルター回路と、アナログ入力量をホールドするサン
プリングホールド回路と、アナログ入力を所定周期で切
換えるマルチプレクサ回路と、アナログ入力をディジタ
ル信号に変換するA−D変換回路より成る同一構成で且
つ同一機能を有するアナログ−ディジタル変換装置を2
組用意して、一方のアナログ−ディジタル変換装置の入
力側にアナログ入力信号を逆極性に変換する回路を設け
て、一方のアナログ−ディジタル変換装置には正規のア
ナログ信号を入力し、且つ他方のアナログ−ディジタル
変換装置には正規のアナログ信号とは逆極性の信号を入
力して、各アナログ−ディジタル変換装置のディジタル
出力を比較せしめて各部の状態監視を行なう様にした事
を特徴とするアナログ−ディジタル変換装置の状態監視
装置。 21個又は複数個のアナログ入力量を、あるサンプリン
グ周波数によりディジタル量に変換するアナログ−ディ
ジタル変換装置の常時の状態監視を行なう様にしたもの
に於て、アナログ量を検出するアナログセンサ一部と、
フィルター回路と、アナログ入力量をホールドするサン
プリングホールド回路と、アナログ入力を所定周期で切
換えるマルチプレクサ回路と、アナログ入力をディジタ
ル信号に変換するA−D変換回路より成る同一構成で且
つ同一機能を有するアナログ−ディジタル変換装置を2
組用意して、一方のアナログ−ディジタル変換装置の入
力側にアナログ入力信号を逆極性に変換する回路を設け
て、一方のアナログ−ディジタル変換装置には正規のア
ナログ信号を入力し、且つ他方のアナログ−ディジタル
変換装置には正規のアナログ信号とは逆極性の信号を入
力すると共に、点検信号発生回路よりの点検信号を各々
のマルチプレクサ回路に入力して、各アナログ−ディジ
タル変換装置のディジクル出力を比較せしめて各部の状
態監視を行なう様にした事を特徴とするアナログ−ディ
ジタル変換装置の状態監視装置。 3 アナログ入力信号を逆極性に変換する回路として、
同一特性で且つ二次側を逆接続して成る2組の電流変成
器、又は電圧変成器を適用する様にして、該変成器をア
ナログセンサ一部と一体に構成する様にした特許請求の
範囲第1項又は第2項記載のアナログ−ディジタル変換
装置の状態監視装置。 4 アナログ入力信号を逆極性に変換する回路として、
同一特性で且つ一次側を逆接続して成る2組の電流変成
器、又は電圧変成器を適用する様にして、該変成器をア
ナログセンサ一部と一体に構成する様にした特許請求の
範囲第1項や第2項記載のアナログ−ディジタル変換装
置の状態監視装置。[Claims] In a system that constantly monitors the state of an analog-to-digital conversion device that converts 11 or more analog input quantities into digital quantities at a certain sampling frequency, an analog quantity is detected. Some analog sensors and
Analog circuits with the same configuration and functions, consisting of a filter circuit, a sampling hold circuit that holds the analog input amount, a multiplexer circuit that switches the analog input at a predetermined cycle, and an A-D conversion circuit that converts the analog input into a digital signal. - 2 digital conversion devices
A circuit for converting an analog input signal to the opposite polarity is provided on the input side of one analog-to-digital converter, and a regular analog signal is input to one analog-to-digital converter, while the other An analog device characterized in that a signal having a polarity opposite to that of a regular analog signal is input to the analog-to-digital converter, and the digital outputs of each analog-to-digital converter are compared to monitor the status of each part. - Condition monitoring devices for digital converters. 21 or a plurality of analog input quantities into digital quantities at a certain sampling frequency. ,
Analog circuits with the same configuration and functions, consisting of a filter circuit, a sampling hold circuit that holds the analog input amount, a multiplexer circuit that switches the analog input at a predetermined cycle, and an A-D conversion circuit that converts the analog input into a digital signal. - 2 digital conversion devices
A circuit for converting an analog input signal to the opposite polarity is provided on the input side of one analog-to-digital converter, and a regular analog signal is input to one analog-to-digital converter, while the other A signal of opposite polarity to the regular analog signal is input to the analog-to-digital converter, and a check signal from the check signal generation circuit is input to each multiplexer circuit to convert the digital output of each analog-to-digital converter. A condition monitoring device for an analog-to-digital converter, characterized in that the condition of each part is monitored by comparison. 3 As a circuit that converts an analog input signal to reverse polarity,
A patent claim in which two sets of current transformers or voltage transformers with the same characteristics and reversely connected secondary sides are applied, and the transformers are integrated with a part of the analog sensor. A condition monitoring device for an analog-to-digital converter according to item 1 or 2. 4 As a circuit that converts an analog input signal to reverse polarity,
Claims that apply two sets of current transformers or voltage transformers with the same characteristics and reversely connected primary sides, and the transformers are integrated with a part of the analog sensor. A state monitoring device for an analog-to-digital converter according to item 1 or item 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51100447A JPS5929974B2 (en) | 1976-08-23 | 1976-08-23 | Condition monitoring device for analog-to-digital converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51100447A JPS5929974B2 (en) | 1976-08-23 | 1976-08-23 | Condition monitoring device for analog-to-digital converter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5325347A JPS5325347A (en) | 1978-03-09 |
| JPS5929974B2 true JPS5929974B2 (en) | 1984-07-24 |
Family
ID=14274164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51100447A Expired JPS5929974B2 (en) | 1976-08-23 | 1976-08-23 | Condition monitoring device for analog-to-digital converter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5929974B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2024058548A (en) * | 2022-10-13 | 2024-04-25 | 惠州億緯▲り▼能股▲ふん▼有限公司 | Signal conditioning circuits and measurement devices |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5855210A (en) * | 1981-09-28 | 1983-04-01 | Nitto Electric Ind Co Ltd | Kneading method of resin powder material and kneader used thereof |
| JP6971819B2 (en) * | 2017-12-07 | 2021-11-24 | 株式会社東芝 | Digital protection controller |
| JP7432468B2 (en) * | 2020-08-19 | 2024-02-16 | 株式会社日立製作所 | Digital protection control device and monitoring method for digital protection control device |
-
1976
- 1976-08-23 JP JP51100447A patent/JPS5929974B2/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2024058548A (en) * | 2022-10-13 | 2024-04-25 | 惠州億緯▲り▼能股▲ふん▼有限公司 | Signal conditioning circuits and measurement devices |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5325347A (en) | 1978-03-09 |
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