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JPS5931149B2 - Magnetic bubble memory temperature detection method - Google Patents
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JPS5931149B2 - Magnetic bubble memory temperature detection method - Google Patents

Magnetic bubble memory temperature detection method

Info

Publication number
JPS5931149B2
JPS5931149B2 JP50065693A JP6569375A JPS5931149B2 JP S5931149 B2 JPS5931149 B2 JP S5931149B2 JP 50065693 A JP50065693 A JP 50065693A JP 6569375 A JP6569375 A JP 6569375A JP S5931149 B2 JPS5931149 B2 JP S5931149B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bubble
temperature
chip
magnetic
magnetic bubble
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP50065693A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS51140525A (en
Inventor
庄治 吉本
博文 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS51140525A publication Critical patent/JPS51140525A/en
Publication of JPS5931149B2 publication Critical patent/JPS5931149B2/en
Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気バブルメモリ温度検出法に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a magnetic bubble memory temperature detection method.

磁気バブルメモリ装置を構成するバブルチップの基本的
な要素は、バブルを発生し、消去し、転送しならびに検
出することであり、たとえば、発生においては、通常、
ヘアピン状のコンダクタループにパルス電流を流し、核
発生磁界HNを局部的に形成している。上記核発生磁界
HNは温度係数を有していることよりチップ自体の温度
の高低に応じた電流を流して形成しなければならない。
また、バブルがチップにおいて安定に存在することがで
きる最適バイアス磁界も温度係数を有しており、このた
めにチップの温度の高低に応じて、この磁界を形成しな
ければならない。さらに、バブルの径の大小も温度係数
の大小に関与する。従つて、バブルチップの諸特性を測
定し、また良好に動作できるようにするためにはチップ
自体の動作時における温度を正確に測定する必要がある
。従来、チップの温度測定法としては赤外線温度計、熱
電対計などが使用されているが、上記赤外線温度計はチ
ップが磁気バブルメモリ装置内に収容され、外部に露出
していないので測定が不可能である。
The basic elements of the bubble chip that constitute the magnetic bubble memory device are to generate, erase, transfer and detect bubbles; for example, in generation, usually,
A pulsed current is passed through a hairpin-shaped conductor loop to locally form a nucleation magnetic field HN. Since the nucleation magnetic field HN has a temperature coefficient, it must be formed by flowing a current depending on the temperature of the chip itself.
Further, the optimum bias magnetic field that allows the bubble to stably exist in the chip also has a temperature coefficient, and therefore this magnetic field must be formed depending on the temperature of the chip. Furthermore, the size of the bubble diameter also affects the size of the temperature coefficient. Therefore, in order to measure the various characteristics of the bubble chip and to ensure that it operates well, it is necessary to accurately measure the temperature of the chip itself during operation. Conventionally, infrared thermometers, thermocouple meters, etc. have been used to measure the temperature of chips, but with the infrared thermometers mentioned above, the chip is housed in a magnetic bubble memory device and is not exposed to the outside, so measurements cannot be performed. It is possible.

また、上記熱電対計を使用する方法においては、余分な
スペースと配線が必要となるだけでなく、チップの熱量
が熱電対を通じて外部に流出して正確な温度測定ができ
ない欠点を有している。したがつて、本発明の目的は簡
単な操作でかつ余分なスペースと配線を不要とし、しか
も正確な温度測定ができるようにするものである。
In addition, the above method using a thermocouple meter not only requires extra space and wiring, but also has the drawback that the heat of the chip leaks out through the thermocouple, making it impossible to accurately measure temperature. . SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a device that is simple to operate, requires no extra space and wiring, and yet provides accurate temperature measurement.

本発明はこのような目的を達成するために、チップ上に
それぞれ磁気バブル検出あるいは磁気バブル制御用とし
て形成された金属薄膜のパタンの電気抵抗率が、ρを、
=ρを、(1+α(を、−を、))で与えられる温度依
存性を有していることを利用し、上記パタンの抵抗値を
測定することにより、チップ1体の温度を正確に検知で
きるようにするものであり、以下実施例を用いて詳細に
説明する。
In order to achieve such an object, the present invention has been developed so that the electrical resistivity of the metal thin film pattern formed on the chip for magnetic bubble detection or magnetic bubble control is ρ,
By using the fact that =ρ has a temperature dependence given by (1+α(, -),) and measuring the resistance value of the above pattern, the temperature of a single chip can be accurately detected. This will be explained in detail below using examples.

第1図はバブルチップの全体を示す平面図であり、同図
において、1はバブル発生器、2は転送路、3は転送路
2の中のバブルを分割複製する複製器、4はバブル検出
器であり、これはパーマロイなど軟強磁性の磁気抵抗効
果素子で、第2図に示すように、多数配列された山形転
送素子21の上部に配置されており、バブル注入部22
から注入された複製バブルは素子21を介して、この検
出器4に近接するにしたがつて拡大され、この検出器4
に到達した際に電気信号で検出される。なお、第1図に
おいて、5はボンデイングパツドである。したがつて、
このような構成において、バブルはバブル発生器1で形
成される核発生磁界HNで発生した後、転送路2上を転
送され、複製器3で複製され、検出器4により検出され
る。本実施例においては上記バブル検出器4の抵抗値を
測定することによりチップ釘体の温度を検知するもので
ある。すなわち、上記検出器4はパーマロイ薄膜を微細
パターンに切り出したもので、その抵抗値は約1KΩで
ある。この検出器4の抵抗値の温度依存性を測定した結
果、温度係数αは0.32%/℃であり、この値は10
℃から50℃の範囲において不変であつた。温度係数は
パーマロイ薄膜NI−Fe組成比により変化するが、恒
温槽を使用してパツド間で測定すれば簡単に求めること
ができる。本実施例ではチツプ上に形成されたパタンを
そのまま温度計として使用する方法を示したものであり
、このバブルチツプの温度を検知する最良の方法である
。すなわち、バブルチツプに別途温度測定用の金属薄膜
パタンを形成し、これの抵抗測定で温度を検出すること
によつても測定が可能であるが、この方法によると別途
金属薄膜を形成する必要上コストが高くなり、このため
、上記実施例の方法が最良のものとなる。上記実施例は
、磁気バブル検出用の金属薄膜パタンの抵抗値を測定す
るものであるが、本発明はこれに限定されるものではな
く、転送路2の中のバブルを分割複製する複製器3のよ
うな磁気バブル制御用の金属薄膜パタンの抵抗値を測定
することによつてもバブルチツプの温度を検知しても良
いことは勿論である。以上説明したように本発明による
と、バブルチツプに直接形成された磁気バブル検出用、
あるいは例えば磁気バブル複製器のような磁気バブル制
御用の金属薄膜パタンの抵抗値の測定によりバブルチツ
プの温度を求めるようにした。
FIG. 1 is a plan view showing the entire bubble chip, in which 1 is a bubble generator, 2 is a transfer path, 3 is a replicator that divides and duplicates the bubble in the transfer path 2, and 4 is a bubble detector. This is a soft ferromagnetic magnetoresistive element such as permalloy, and as shown in FIG.
The replication bubble injected from the detector 4 is enlarged as it approaches the detector 4 via the element 21.
It is detected by an electrical signal when it reaches the point. In addition, in FIG. 1, 5 is a bonding pad. Therefore,
In such a configuration, bubbles are generated by the nucleation magnetic field HN generated by the bubble generator 1, transferred on the transfer path 2, replicated by the replicator 3, and detected by the detector 4. In this embodiment, the temperature of the chip nail body is detected by measuring the resistance value of the bubble detector 4. That is, the detector 4 is made by cutting a permalloy thin film into a fine pattern, and its resistance value is about 1KΩ. As a result of measuring the temperature dependence of the resistance value of this detector 4, the temperature coefficient α was 0.32%/°C, and this value was 10
It remained unchanged in the temperature range from °C to 50 °C. The temperature coefficient changes depending on the NI-Fe composition ratio of the permalloy thin film, but can be easily determined by measuring between pads using a constant temperature bath. This embodiment shows a method in which a pattern formed on a chip is used as it is as a thermometer, which is the best method for detecting the temperature of this bubble chip. In other words, it is possible to measure the temperature by separately forming a metal thin film pattern on the bubble chip and detecting the temperature by measuring the resistance of this pattern, but this method requires the cost of forming a separate metal thin film. Therefore, the method of the above embodiment is the best one. Although the above embodiment measures the resistance value of a metal thin film pattern for detecting magnetic bubbles, the present invention is not limited thereto. Of course, the temperature of the bubble chip may also be detected by measuring the resistance value of a metal thin film pattern for controlling magnetic bubbles, such as the one shown in FIG. As explained above, according to the present invention, a magnetic bubble detection device formed directly on a bubble chip,
Alternatively, the temperature of the bubble chip is determined by measuring the resistance value of a metal thin film pattern for controlling magnetic bubbles, such as a magnetic bubble replicator.

このために、余分なスペースと配線が不要となり、簡単
に測定でき、しかも金属薄膜パタンはバブルチツプに直
接形成されているのでその抵抗変化はチツプの温度変化
と確実に対応し、このために、その抵抗測定により得た
温度はきわめて正確なものとなる。したがつて、磁気バ
ブルメモリ装置に組込まれた任意のバブルチツプの温度
を本発明による方法で検知し、この温度の値を全体のバ
ブルチツプの温度とみなし、この温度の大きさにもとづ
いて核発生磁界等を制御するようにすればバブルチツプ
の諸特性の測定ならびに装置自体の良好な駆動が行なえ
る。なお、磁気ハブ火メモリ装置に組込まれたバブルチ
ツプのうち温度測定すべきチツプは正常に動作し得る任
意のものを選択してもよいが、たとえば検出器4のみが
正常で他の部分が不良な廃棄すべきバブルチツプを装置
内に組込んでこれの温度を検知するようにしてもよい。
このようにすれば、温度の検知に際しコストが低くなる
メリツトがある。
This eliminates the need for extra space and wiring, making it easy to measure.Moreover, since the metal thin film pattern is formed directly on the bubble chip, its resistance change reliably corresponds to the temperature change of the chip. The temperature obtained by resistance measurement is very accurate. Therefore, the temperature of any bubble chip incorporated in a magnetic bubble memory device is detected by the method according to the present invention, this temperature value is regarded as the temperature of the entire bubble chip, and the nucleation magnetic field is determined based on the magnitude of this temperature. By controlling the above, various characteristics of the bubble chip can be measured and the device itself can be operated properly. Note that among the bubble chips incorporated in the magnetic hub memory device, any bubble chip that should be used for temperature measurement may be selected that can operate normally. The temperature of the bubble chip to be discarded may be detected by incorporating it into the device.
This has the advantage of reducing costs when detecting temperature.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は磁気バブルチツプの概要を示す平面図、第2図
はバブル検出器の一例を示す平面図である。 1・・・・・・バブル発生器、2・・・・・・バブル転
送路、3・・・・・・バブル複製器、4・・・・・・バ
ブル検出器、5・・・・・・ボンデイングパツド。
FIG. 1 is a plan view showing an outline of a magnetic bubble chip, and FIG. 2 is a plan view showing an example of a bubble detector. 1... Bubble generator, 2... Bubble transfer path, 3... Bubble replicator, 4... Bubble detector, 5...・Bonding pad.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 磁気バブルメモリ装置内に積載されるバブルチップ
上に被着形成された磁気バブル検出用または磁気バブル
制御用の金属薄膜パタンの抵抗値を測定することにより
、上記バブルチップの温度を検知することを特徴とする
磁気バブルメモリ温度検出法。
1. Detecting the temperature of the bubble chip by measuring the resistance value of a metal thin film pattern for magnetic bubble detection or control formed on the bubble chip loaded in the magnetic bubble memory device. A magnetic bubble memory temperature detection method featuring:
JP50065693A 1975-05-30 1975-05-30 Magnetic bubble memory temperature detection method Expired JPS5931149B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50065693A JPS5931149B2 (en) 1975-05-30 1975-05-30 Magnetic bubble memory temperature detection method

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50065693A JPS5931149B2 (en) 1975-05-30 1975-05-30 Magnetic bubble memory temperature detection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS51140525A JPS51140525A (en) 1976-12-03
JPS5931149B2 true JPS5931149B2 (en) 1984-07-31

Family

ID=13294339

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50065693A Expired JPS5931149B2 (en) 1975-05-30 1975-05-30 Magnetic bubble memory temperature detection method

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Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5824864B2 (en) * 1975-05-27 1983-05-24 日本電信電話株式会社 Jiki Bubble Kiokusouuchino Bias Jikaisei Giyohoushiki

Also Published As

Publication number Publication date
JPS51140525A (en) 1976-12-03

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