JPS6041844B2 - 可変抵抗基板選別装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は可変抵抗基板の抵抗値を測定し、抵抗値区分
に従い分類・選別する装置に関する。

可変抵抗に用いられる抵抗基板は、セラミック等に抵
抗体を蒸着またはスパッタリング等で付着させ、その付
着形状は両端に外部リード端子を接続できるよう馬蹄形
をなしている。スパッタリング等で抵抗体を付着させた
後、通常熱処理を行なうが熱処理時の温度、時間等の条
件の変化で抵抗値にばらつきが生じる。このため、抵抗
値を測定し顧客の要求精度に応じて数分類に選別する必
要がある。 従来かかる可変抵抗基板の抵抗値の測定・
選別は測定器に接続した一対の接触針を抵抗体の両端に
押し当てその抵抗値に応じて分類収納箱に入れるという
人手による手作業で行なわれていた。

したがつて、すべての作業が人手によつて行われている
ため作業能率が悪く、さらに多くの作業人員が必要とい
う大きな欠点があつた。また接触針を抵抗体の両端に押
し当てる際の加圧力は作業者によりばらつきがあり測定
した抵抗値の精度に信頼がおけない等の欠点があつた。
本発明はこのような欠点を除去し、自動的に可変抵抗
基板の抵抗値を測定しさらに分類選別をも行なう装置を
提供することを目的とする。

以下本発明を図面について詳細に説明する。

第１図は本発明の対象である可変抵抗基板１で、抵抗体
２は可変抵抗基板１の中心にあけられた穴４と同心でか
つ部分的に約９０度切欠いたドーナツ状に付着されてお
り、外部端子３は抵抗体２の両端に接し、穴４を中心と
して抵抗体の径より外側または内側まてを含む面積を有
し、金等を付着して形成される。 このような可変抵抗
基板１を一列に移送する場合、第２図に示すように裏表
、方向によりイ、口・・・・・・・・・チまで合計８通
りの姿勢がある。

第３図と第４図は本発明の原理を説明するための図で
、抵抗体２の径ａよりやや大きい径を上において抵抗体
２に接続した外部端子３’のほぼ中央の点１に配置した
接触針１１と、同様に外部端子３″のほぼ中央の点■に
配置した接触針１２と、抵抗体２の径ａよりやや大きい
径ｂと前記接触針１１を中心に接触針１１と１２の間隔
Ｃを半径とした円との交点■に配置した接触針１３と、
同様に接触針１２を中心に接触針１１と１２との間隔Ｃ
を半径とした円と抵抗体２の径ａよりやや大きい径ｂと
の交点■に配置した接触針１４と、可変抵抗基板１に対
し接触針１１，１２，１３，１４と反対側に備え前記と
同様な位置に配置した接触針２１，２２，２３，２４と
、前記８本の接触針１１〜１４，２１〜２４に接続し、
かつ８本の内から抵抗体２の外部端子３に接する２本の
接触針を選び出す選択回路３０と、選ひ出された２本の
接触針間の抵抗値を測定する測定回路４０と、抵抗値に
応じて良品・不良品さらに良品の細区分を判別する判定
回路５０から構成される。本発明の原理は以上のように
構成してあるから可変抵抗基板１が第２図イ〜チに示す
ようないずれの方向に置かれて移送されて来ても必ず接
触針が抵抗体２の外部端子３に接し抵抗値の測定ができ
る。次に本発明を第５図の実施例に従いさらに詳細に説
明する。

第５図は本発明の実施例を示す図で、第６図と第７図は
第５図の一部を拡大した断面図である。第５図において
、可変抵抗基板１をガイドレール５に沿つて可変抵抗基
板１の一辺の長さ分づつ間歇送りする移送機構７０と、
可変抵抗基板１の抵抗体２の外径よりやや大きい円と抵
抗体２に接．続した外部端子３のほぼ中心との交点に配
置した接触針１１、同様な接触針１２さらに接触針１１
を中心として接触針１１と１２との間隔を半径とした円
と抵抗体２の径よりやや大きい径の円との交互に配置し
た接触針１３、同様に接触針１２を．中心として接触針
１１と１２との間隔を半径とした円と抵抗体２の径より
やや大きい径の円との交点に配置した接触針１４とを保
持金具１５に固定した上部接触針群１０をガイドレール
５の上側に備え下側には上部接触針群１０と同様な下部
接触・針群２０とを備え、制御部６０の測定開始指令に
より両方の接触針群１０，２０が可変抵抗基板１に接す
る方向に動作するコンタクト部８０と、コンタクト部８
０の接触針１１〜１４，２１〜２４合計８本からの信号
のうち抵抗体２の外部端子に電気的に接続する２本の接
触針を選ひ出す選択回路３０と、選び出された２本の接
触針間の抵抗値を測定する測定回路４０と、抵抗値に応
じて良品、不良品さらに良品の細分類の区分を判別する
判定回路５０と、判定回路５０の分類区分に従いガイド
レール５から送られてくる可変抵抗基板１を指定された
収納箱９１に入れる分類収納部９０と、前記すべてを制
御する制御部６０とから構成”される。

第６図は第５図の実施例のコンタクト部８０の部分詳細
図で、コンタクト部８０はモータ８２の回転を中央で右
ねじおよび左ねじに分離した送りねじに伝え制御部６０
の測定開始指令により上部接触針群１０および下部接触
針群２０がカイト８１に案内されて同時に可変抵抗基板
１に接し、測定終了指令により同時に離れる構造である
。第７図は第６図の実施例の移送機構７０の部分詳細図
で、移送機構７０は可変抵抗基板１の一辺の長さに等し
いピッチの凸起７３を円周上に設けた羽根車７２にモー
タ７１の回転を伝え制御部６０の送り指令により可変抵
抗基板１をガイドレール５に沿つて可変抵抗基板１の一
辺の長さ分だけ間歇的に送る構造である。以上を動作さ
せるには制御部６０の送り指令により移送機構７０が動
作し可変抵抗基板１がガイドレール５上を間歇点に送ら
れる。

可変抵抗基板１が互いに押されながらコンタクト部８０
まで進むと、制御部６０の測定開始指令によりコンタク
ト部８０が動作し上部および下部接触針群１０，２０が
可変抵抗基板１の外部端子３に接する。選択回路３０は
８本の接触針から外部端子３に接続する２本の接触針の
みを選択し測定回路４０により抵抗値が測定される。判
定回路５０ではその抵抗値に応じて良品および不良品さ
らに良品の細分類の区分を判定し制御部６０に信号を返
し、その区分を一旦記憶する。次に制御部６０の測定終
了指令によりコンタクト部８０の接触針群１０，２０が
可変抵抗基板１から離れ続いて移送機構７０が働いて可
変抵抗基板１が送られる。この動作を繰り返しガイドレ
ール５の終端までくると、制御部６０に記憶されている
分類区分に従い分類収納部９０を動作させ制御部６０で
指定された収納箱９１をガイドレール５の終端の下に移
動させ可変抵抗基板を受け取る。これら一連の動作を繰
り返しすべての可変抵抗基板の分類・選別を行なう。本
発明ば以上のように構成されているから従来のように作
業者による測定分類に比し格段の作業能率をもたらすと
同時に全工程の自動化が可能になり、その効果は計り知
れない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の対象の可変抵抗基板を示し、第２図は
可変抵抗基板を一列上に移送する場合の姿勢を示す立体
図、第３図は本発明の原理説明図、第４図は接触針の配
置を示す説明図であり、第５図は本発明の実施例を示し
、第６図および第７図は第５図の実施例の部分詳細図で
ある。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 可変抵抗基板をガイドレールに沿つて一辺の長さづ
   つ間歇送りする移送機構と、可変抵抗基板の外部端子に
   少くとも２本が接するように配置した上部接触針群をガ
   イドレールの上側に同様な下側接触針群を下側に備え、
   測定開始または終了指令により前記両方の接触針群を可
   変抵抗基板に対し接近または離れる方向に同時に上下動
   するコンタクト部と、コンタクト部の接触針群から抵抗
   体の外部端子に接続する２本の接触針の信号を選び出す
   選択回路と、選び出された２本の接触針間の抵抗値を測
   定する測定回路と、抵抗値に応じて良品不良品さらに良
   品の細分類の区分を判別する判路回路と、前記分類区分
   に従いガイドレールから送られてくる可変抵抗基板を指
   定された収納箱に入れる分類収納部と、前記すべてを制
   御する制御部とからなる可変抵抗基板選別装置。