JPS6057771B2 - A/D converter accuracy verification method - Google Patents
A/D converter accuracy verification methodInfo
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- JPS6057771B2 JPS6057771B2 JP6216178A JP6216178A JPS6057771B2 JP S6057771 B2 JPS6057771 B2 JP S6057771B2 JP 6216178 A JP6216178 A JP 6216178A JP 6216178 A JP6216178 A JP 6216178A JP S6057771 B2 JPS6057771 B2 JP S6057771B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はA/D変換器の精度検定方式、特にテレメー
タシステムに用いるA/D変換器に応用して好適な精度
検定方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an accuracy verification method for an A/D converter, and particularly to an accuracy verification method suitable for application to an A/D converter used in a telemeter system.
テレメータシステムはセンターと、該センターに対し
て情報の供給を行なう複数の子局とを有し、各該子局に
は多数の端末装置が接続される。A telemeter system has a center and a plurality of slave stations that supply information to the center, and each slave station is connected to a large number of terminal devices.
この様な構成により、センターは例えば電気、ガス、水
道等の料金、その他のアナログ情報、ディジタル情報、
パルス入力等を、遠隔制御により多数の端末装置から収
集することができる。さて、上記のテレメータシステム
において、前記各種情報のうちアナログ情報をセンター
に送出する場合にはこれをまずディジタル情報に変換し
なければならない。そのためにA/D(アナログ/ディ
ジタル)変換器が前記各子局に備えられる。この場合高
精度なテレメータシステムを実現する上でこのA/D変
換器が高精度で動作すべきことは言うまでもなく、従来
より種々の精度検定方式が採用されている。一般にこの
精度検定方式を実施するに際し後述の精度検定専用のハ
ードウェアが設けられる。然しながら、このハードウェ
アはテレメータシステムがアナログ情報を取扱う場合に
のみ使用に供されるものであるため、あらゆる場合に該
ハードウェアを常設することは、子局装置の標準化を図
りあるいはコスト低減を図る上で不経済であるという欠
点があつた。 一方、近年テレメータシステムに対して
コンピュータ化が進み前記子局の各々にマイクロプロセ
ッサを含んで構成される場合が多くなつた。With this configuration, the center can collect, for example, electricity, gas, water, etc. charges, other analog information, digital information,
Pulse inputs, etc. can be collected from multiple terminal devices by remote control. Now, in the above-mentioned telemeter system, when analog information among the various types of information mentioned above is to be sent to the center, it must first be converted into digital information. For this purpose, each slave station is provided with an A/D (analog/digital) converter. In this case, it goes without saying that this A/D converter must operate with high accuracy in order to realize a highly accurate telemeter system, and various accuracy verification methods have been employed heretofore. Generally, when implementing this accuracy testing method, hardware dedicated to accuracy testing, which will be described later, is provided. However, since this hardware is used only when the telemeter system handles analog information, permanently installing this hardware in all cases would standardize slave station equipment or reduce costs. The disadvantage was that it was uneconomical. On the other hand, in recent years, telemeter systems have become more computerized and each of the slave stations is increasingly configured to include a microprocessor.
従つて上記の欠点も、マイクロプロセッサの利用を考慮
しながら解決すべきである。 従つて本発明の目的は、
子局に備えられたマイクロプロセッサの併用によつて上
記欠点を排除することのできるA/D変換器の精度検定
方式を実現することである。Therefore, the above drawbacks should also be solved while considering the use of microprocessors. Therefore, the object of the present invention is to
The object of the present invention is to realize an A/D converter accuracy verification system that can eliminate the above drawbacks by using a microprocessor provided in a slave station.
上記目的に従い本発明は、複数チャネルより受信した各
端末装置よりのアナログ信号を順次デジタル信号に変換
するA/D変換器の精度検定方式において、該A/D変
換器のアナログ基準電圧を前記複数チャネルの一つのチ
ャネルに印加し、精度検定の際、前記アナログ基準電圧
が印加されたチャネルよりのアナログ信号をA/D変換
し、そのデジタル出力を前記基準電圧に対応するデジタ
ル信号と比較して精度検定を行うことを特徴とするもの
である。In accordance with the above object, the present invention provides an accuracy verification system for an A/D converter that sequentially converts analog signals from terminal devices received from a plurality of channels into digital signals. The analog reference voltage is applied to one of the channels, and during accuracy verification, the analog signal from the channel to which the analog reference voltage is applied is A/D converted, and the digital output is compared with the digital signal corresponding to the reference voltage. It is characterized by performing an accuracy test.
以下図面に従つて本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to the drawings.
第1図は従来のA/D変換器精度検定方式を実施するた
めのテレメータシステム全体を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an entire telemeter system for implementing a conventional A/D converter accuracy verification method.
本図において、テレメータシステム10は回線13を挾
んでセンター11と子局12に区分される。ただし1個
の子局のみ示す。子局12はマルチプレクサ14−1,
14−2・・・を介して多数の端末装置(図示せず)と
接続し、各チャネル群15−1,15−2・・・・・・
内の対応する1のチャネルを通して各種情報を端末装置
より収集する。どのチャネルを選択すべきかはワード走
査部16において走査されるアドレスを、アドレスバス
17およびアドレスデコーダ18を通して、マルチプレ
クサ14−1,14−2・・・・・・で受信することに
より行う。一方、1のチャネルが選択されると、対応す
る情報をライン19上に送出する。この情報がアナログ
情報である場合、A/D変換器20を通してディジタル
情報とし、データバス21を通してデータ送信部22に
送出し、センター11に送信する。ここで、A/D変換
器20に対する精度検定が精度検定部23によつて行わ
れる。精度検定を行うタイミングはアドレスデコーダ1
8よりライン21を介して例えば1サイクル毎に指示さ
れる。指示を受けた精度検定部.23はまずライン25
よりアナログ基準電圧を供給する。これをA/D変換器
20においてA/D変換したディジタル信号を精度検定
部23はライン26より受け、精度検定部23はその精
度検定結果をライン27より出力する。もしその結果に
−異常があれば、その旨をデータバス21、データ送信
部22を通してセンター11へ通知する。かくの如く従
来のA/D変換器精度検定方式では、特別の専用ハード
ウェアすなわち精度検定部23が必要であり既述の欠点
を伴つた。そこで本発明は近年の子局12がマイクロプ
ロセッサを用いて構成されることに着目し、このマイク
ロプロセッサの併用により上記の欠点を排除するものと
する。In this figure, a telemeter system 10 is divided into a center 11 and slave stations 12 with a line 13 in between. However, only one slave station is shown. The slave station 12 has a multiplexer 14-1,
14-2... to a large number of terminal devices (not shown), and each channel group 15-1, 15-2...
Various types of information are collected from the terminal device through a corresponding one of the channels. Which channel to select is determined by receiving the address scanned by the word scanning unit 16 through the address bus 17 and the address decoder 18 at the multiplexers 14-1, 14-2, . . . . On the other hand, when one channel is selected, it sends out the corresponding information on line 19. If this information is analog information, it is converted into digital information through the A/D converter 20, sent to the data transmitter 22 through the data bus 21, and transmitted to the center 11. Here, accuracy verification of the A/D converter 20 is performed by the accuracy verification section 23. The timing to perform accuracy test is address decoder 1.
8 via line 21, for example, every cycle. Accuracy testing department receives instructions. 23 is first line 25
supply an analog reference voltage. The accuracy test section 23 receives the digital signal obtained by A/D converting it in the A/D converter 20 through the line 26, and outputs the accuracy test result from the line 27. If there is an abnormality in the result, the center 11 is notified through the data bus 21 and the data transmitter 22. As described above, the conventional A/D converter accuracy verification method requires special dedicated hardware, that is, the accuracy verification section 23, and has the above-mentioned drawbacks. Therefore, the present invention focuses on the fact that recent slave stations 12 are constructed using microprocessors, and uses this microprocessor in combination to eliminate the above-mentioned drawbacks.
第2図は本発明のA/D変換器精度検定方式を実行する
場合のフローチャートを示し、第3図はそのフローチャ
ートを実施するための構成を含むテレメータシステム全
体を示すブロック図を示す。なお、第3図において第1
図とj同一の参照番号・記号が付された構成要素は同一
の構成要素である。第2図および第3図を参照しながら
説明する。まず第3図において概略構成を説明すると、
本テレメータシステム30は回線13を挾んでセンター
11と子局12″とに区分さ・れ、子局12″にはマイ
クロプロセッサ31が設けられる。これに付随してRO
M32、RAM(ランダムアクセスメモリ)33、およ
び端末装置(図示せず)のバス線とマイクロプロセッサ
31のバス線とを1対1に対応づけるインターフエー″
スの役目を果すI/Oドライバ34等が設けられる。R
OM32は各種制御プログラムを内蔵して゜おり、その
中の1つに精度検定プログラムが含まれる。この精度検
定プログラムはマイクロプロセッサ31の空き時間を見
て実行開始する(第2図のステップA)。精度検定プロ
グラムの実行が開始すると、まずA/D変換器20を起
動する(第2図のステップB)。この時、同時にアドレ
スデコーダ18を介してマルチプレクサ14−1により
15″を指定する。そしてチャネル1Vに印加されてい
るアナログ入力をA/D変換器20によりディジタル信
号に変換する。一方、A/D変換器20にはもともとA
/D変換用のアナログ基準電圧源(図示せす)が含まれ
ており、その出力がチャネル15″に予め接続されてい
る。これにより、精度検定プログラムでは、アナログ基
準電圧をA/D変換することになる。A/D変換に要す
る処理時間をおいて(第2図のステップC)、A/D変
換器20より前記アナログ基準電圧源のアナログ出力に
対応するディジタルデータを出力する。このディジタル
データは一旦マイクロプロセッサ31内のレジスタ(図
示せず)におさめられた後、RAM33に読込まれる(
第2図のステップD)。前記アナログ基準電圧源のアナ
ログ出力は一定の既知の値であるから、正常ならばその
ディジタルデータもまた既知の一定値である。従つてこ
の既知の一定値を予めRAM33内に書込んでおき、プ
ログラムによつて、実際に出力されたディジタルデータ
と、該既定の一定値との比較を行う(第2図のE)。こ
の比較結果が正常であるならば、RAM33内の、A/
D変換精度が異常であることを示す検定フラグをクリア
する(第2図のステップF)。そして精度検定プログラ
ムを終了する(第2図のステップG)。もし、その比較
結果が異常であるならば、前記検定フラグを゜゛1゛と
し(第2図のステップP)、ステップGに至る。検定フ
ラグが゜゜1゛となつたとき、引続き他のチャネル群よ
り収集したアナログ入力をセンター11へ送信する際に
、そのデータフォーマットの一部に検定フラグ゜゜1゛
を立て、センター11へ通知する。すなわち該データフ
ォーマットは1/0ドライバ34よりライン35を通し
てP/S変換器36により並列/直列変換され、変復調
回路(MOD)37を介してセンター11へ送信される
。なお、I/Oドライバ34のライン38は、他のI/
0との接続に用いるものである。以上説明したように本
発明によれば、従来の専用ハードウェアを要することな
くA/D変換器の精度検定を行うことが出来、子局装置
の標準化を図り、コストの低減を図る上で有利である。FIG. 2 shows a flowchart for implementing the A/D converter accuracy verification method of the present invention, and FIG. 3 shows a block diagram showing the entire telemeter system including the configuration for implementing the flowchart. In addition, in Figure 3, the first
Components with the same reference numbers and symbols as those in the figure are the same components. This will be explained with reference to FIGS. 2 and 3. First, the schematic configuration will be explained in Fig. 3.
This telemeter system 30 is divided into a center 11 and a slave station 12'' with a line 13 in between, and a microprocessor 31 is provided in the slave station 12''. Along with this, RO
M32, RAM (Random Access Memory) 33, and an interface that provides a one-to-one correspondence between the bus line of the terminal device (not shown) and the bus line of the microprocessor 31.
An I/O driver 34 and the like serving as a bus are provided. R
The OM32 contains various control programs, one of which includes an accuracy test program. This accuracy test program starts executing by checking the free time of the microprocessor 31 (step A in FIG. 2). When execution of the accuracy test program starts, first, the A/D converter 20 is activated (step B in FIG. 2). At this time, 15'' is simultaneously specified by the multiplexer 14-1 via the address decoder 18. Then, the analog input applied to channel 1V is converted into a digital signal by the A/D converter 20. The converter 20 originally had A
An analog reference voltage source (shown) for A/D conversion is included, and its output is pre-connected to channel 15''.Thereby, the accuracy verification program converts the analog reference voltage to A/D. After the processing time required for A/D conversion (step C in FIG. 2), the A/D converter 20 outputs digital data corresponding to the analog output of the analog reference voltage source. The data is once stored in a register (not shown) in the microprocessor 31, and then read into the RAM 33 (
Step D in Figure 2). Since the analog output of the analog reference voltage source is a constant known value, the digital data is also a known constant value if normal. Therefore, this known constant value is written in the RAM 33 in advance, and the actually output digital data is compared with the predetermined constant value by a program (E in FIG. 2). If this comparison result is normal, the A/
The verification flag indicating that the D conversion accuracy is abnormal is cleared (step F in FIG. 2). Then, the accuracy test program is ended (step G in FIG. 2). If the comparison result is abnormal, the verification flag is set to ゜゛1゛ (step P in Fig. 2), and the process proceeds to step G. When the verification flag becomes ゜゜1゛, when analog inputs collected from other channel groups are subsequently transmitted to the center 11, the verification flag ゜゜1゛ is set in a part of the data format and the center 11 is notified. . That is, the data format is converted from parallel to serial by a P/S converter 36 from a 1/0 driver 34 through a line 35, and is transmitted to the center 11 via a modulation/demodulation circuit (MOD) 37. Note that the line 38 of the I/O driver 34 is connected to other I/O
This is used for connection with 0. As explained above, according to the present invention, it is possible to test the accuracy of an A/D converter without requiring conventional dedicated hardware, which is advantageous in standardizing slave station devices and reducing costs. It is.
第1図は従来のA/D変換器精度検定方式を実施するた
めのテレメータシステム全体を示すブロック図、第2図
は本発明のA/D変換器精度検定方式を実行するための
フローチャート、第3図は本発明のA/D変換器精度検
定方式を実施するテレメータシステムを示すブロック図
である。FIG. 1 is a block diagram showing the entire telemeter system for implementing the conventional A/D converter accuracy verification method, FIG. 2 is a flowchart for implementing the A/D converter accuracy verification method of the present invention, and FIG. FIG. 3 is a block diagram showing a telemeter system implementing the A/D converter accuracy verification method of the present invention.
Claims (1)
ネルであり他は各端末装置よりのアナログ信号を入力と
するチャネルの群である複数のチャネルと、マルチプレ
クサによつて選択された該複数のチャネルの1つから受
信した前記アナログ信号をディジタル信号に変換するA
/D変換器とを有し、前記精度検定用のアナログ信号を
該A/D変換器においてA/D変換して得たディジタル
出力と、予め準備された該精度検定用のアナログ信号に
対応するディジタルデータとを比較してその比較結果に
基づき精度検定を行うA/D変換器の精度検定方式にお
いて、前記A/D変換器に備えられたA/D変換用のア
ナログ基準電圧をもつて前記精度検定用のアナログ信号
とし、一方、該アナログ基準電圧に相当するディジタル
データをもつて前記の予め準備された精度検定用のアナ
ログ信号に対応するディジタルデータとすることを特徴
とするA/D変換器の精度検定方式。1 A plurality of channels, one of which is a channel that inputs an analog signal for accuracy verification, and the other channels are a group of channels that input analog signals from each terminal device, and the plurality of channels selected by a multiplexer. A converting said analog signal received from one of said digital signals into a digital signal;
/D converter, and the digital output obtained by A/D converting the analog signal for accuracy test in the A/D converter corresponds to the analog signal for accuracy test prepared in advance. In an accuracy testing method for an A/D converter that compares digital data and tests the accuracy based on the comparison result, the A/D converter has an analog reference voltage for A/D conversion that is An A/D conversion characterized in that an analog signal for accuracy verification is used, and digital data corresponding to the analog reference voltage is used as digital data corresponding to the analog signal for accuracy verification prepared in advance. Accuracy test method for instruments.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6216178A JPS6057771B2 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | A/D converter accuracy verification method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6216178A JPS6057771B2 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | A/D converter accuracy verification method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54154251A JPS54154251A (en) | 1979-12-05 |
| JPS6057771B2 true JPS6057771B2 (en) | 1985-12-17 |
Family
ID=13192107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6216178A Expired JPS6057771B2 (en) | 1978-05-26 | 1978-05-26 | A/D converter accuracy verification method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6057771B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011038876A (en) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Yazaki Corp | Voltage measuring instrument for a plurality of battery packs |
-
1978
- 1978-05-26 JP JP6216178A patent/JPS6057771B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54154251A (en) | 1979-12-05 |
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