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JPS606485B2 - 落射型螢光測光顕微鏡 - Google Patents
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JPS606485B2 - 落射型螢光測光顕微鏡 - Google Patents

落射型螢光測光顕微鏡

Info

Publication number
JPS606485B2
JPS606485B2 JP15944877A JP15944877A JPS606485B2 JP S606485 B2 JPS606485 B2 JP S606485B2 JP 15944877 A JP15944877 A JP 15944877A JP 15944877 A JP15944877 A JP 15944877A JP S606485 B2 JPS606485 B2 JP S606485B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wavelength
excitation
sample
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP15944877A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5491345A (en
Inventor
健二 小野木
良蔵 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP15944877A priority Critical patent/JPS606485B2/ja
Publication of JPS5491345A publication Critical patent/JPS5491345A/ja
Publication of JPS606485B2 publication Critical patent/JPS606485B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は落射型の蜜光側光顕微鏡に関し、特に試料の励
起波長スペクトルを求める際の装置関数を除去した落射
型蜜光側光顕微鏡に関する。
蟹光顕微鏡が広く一般に行き渡った今日、マクロの分光
技術の発達と相まって、顕微鏡レベルでの蟹光の発光強
度や蟹光波長スペクトルあるいは励起波長スペクトルを
求め、物質や蟹光色素の同定判定、鱗折を行なう顕微綾
光側光技術が盛んに用いられるようになってきた。この
ような顕徴蟹光側光技術に用いられる落射型蟹光側光顕
微鏡を第1図によって説明する。第1図において、1は
光源、2は励起側モノクロメー夕、3はダィクロイック
ミラ−、4は対物レンズ、5はステージ、6は試料、7
は顕微鏡の光路中に挿脱できる観察用プリズム、8は後
眼レンズ、9は蜜光側モノクロメータ、10はフオトマ
ル等で構成される検知器「 11は記録計である。この
ような顕微鏡において試料6の励起波長スペクトルを求
めるには、観察用プリズム7を光路中に挿入して視野を
決め、その後観察用プリズム7を光路から取外し、蟹光
側モノクロ〆−夕9を試料6の最大蟹光波長近傍のある
波長入Fに設定し「励起側モノクロメータ2を走査する
。この時、検知器10から得られるスペクトルS,入は
、顕微鏡の各要素の有する波長特性の影響である装置関
数と試料6の蟹光波長スペクトルとの積で与えられる。
蟹光側モノクロメータ9は、試料6からの蟹光のうち波
長入Fの光東のみしか透過しないから、試料6からの蟹
光に対する対物レンズ4、ターーィクロィツクミラー3
、蟹光側モノクロメータ9、検知器10の波長特性は考
える必要がない。それ故、装置関数としては励起光東に
関係する光源1、励起側モノクロメー夕2、ダィクロィ
ックミラ−3、対物レンズ4の波長特性を考えればよい
。いま励起光東の波長入に対する光源1、励起側モノク
ロメー夕2、ダィクロィックミラー3、対物レンズ4の
波長特性をそれぞれL入、M,入トBX「 0入とすれ
ば、検知器10で得られるスペクトルS,入と試料6の
励起波長スペクトルST入F入との間には次式(1}が
成立する。SI入=L人■MI入・ST人F入川川”【
1)すなわち、上述の従来技術では検知器10から得ら
れるスペクトルS,入は「試料6の励起波長スペクトル
STふ入の外に光源亀〜励起側モノクロメータ2、ダィ
クロイックミラー3、対物レンズ4の波長特性を含んだ
値となってしまう。
本発明は「試料の励起波長スペクトルを求める際に、検
知器からの信号に含まれる装置関数を除去し、試料の励
起波長スペクトルのみを取り出すことのできる落射型の
蟹光側光顕微鏡の提供を目的とする。
以下第2図に基づいて本発明の実施例を説明する。
クセノソランプ等の光源2黄からの光東は励起側モノク
ロ〆山夕22へ入射する。
励起側モノクロメータ22は光源21からの入射光東の
うち「あらかじめ設定した波長の光東のみを選択して射
出する。励起側モノクロメータ22から射出した光東は
、ダィクロィックミラー23で反射され、対物レンズ2
4を透過してステ−ジ25上の被測定物26を照明する
。被測定物26からの光東は、対物レンズ24、によっ
てダィクロィックミラ−23を透過してスリット27上
に集光する。スリット27に設けたピンホールを透過し
た光東は蟹光側モノクロメータ29に入射する。蟹光側
モノクロメータ29はあらかじめ設定した波長の光東の
みを選択して射出する。蟹光側モノクロメータ29を射
出した光東は検知器3川こよって、その光強度に比例し
た電気信号に変えられる。スイッチSWは検知器30か
らの信号を割算回路31の一方の入力端子aもしくは記
憶回路32の入力端子bに選択的に印加する。割算回路
31の他方の入力端子cには記憶回路32から読み出さ
れた信号が印加される。記憶回路32からの信号の読み
出し‘ま、同期手段33からの信号によって行なわれる
。割算回路31は両入力信号の比をとり、記録計34を
駆動する。測定は以下のように行なう。
まずステージ25上の被測定物としてローダミンB3g
′そエチレングリコール溶液を用いる。ローダミンB3
g′そエチレングリコール溶液は励起光東の波長(ほぼ
30価m〜60仇m)にかかわらず蟹光の発光効率の一
定な蟹光物質である。このローダミンB聡/そエチレン
グリコール溶液は、周知のマイクロセルに入れてステー
ジ上に教壇される。この状態で蟹光側モノクロメーク2
9を試料の最大蟹光波長近傍のある値入Fに設定しト励
起側モノクロメータ22を走査する。この時、スイッチ
SWは端子bに接続されている。励起側モノクロメー夕
22の設定波長を入.とし光源21、励起側モノクロメ
ータ22「ダィクロィックミラ−23、対物レンズ24
の波長特性をそれぞれL^,,M人・,B入・,0入・
とすれば、検知器30で得られるスペクトル強度S2人
,はローダミンBの蟹光スペクトルをkとして次式‘2
}で与えられる。S2^・ =L入1・MI入1・B入
1 。
。入1 0k ……{21スペクト
ル強度S2入i は励起側モノクロメータ22で設定さ
れる波長に従って順次記憶回路32へ記憶される。次に
ステージ25上に試料を教壇する。この時「蟹光側モノ
クロメー夕29は波長入Fに設定されたままであり、ス
イッチSWは端子aに接続されるように切換えられる。
このとき励起側モノクロ〆−夕22を走査すると励起側
モノクロメータ22の設定波長が入2の時、検知器30
からは次式(3}で与えられるスペクトル強度S3入2
が生ずる。S3入2 =L^2 ・MI^2 ・B^2
・。入2・ST人F入2……(3,ただしST入F入
2は励起側モノクロメータの設定波長^2のときの試料
の励起波長スペクトルである。
同期手段33は、ステージ25上に試料を戦置した時、
励起側モノクロメー夕22の設定波長入2 に同期した
波長における記憶回路32の記憶内容を読み出して割算
回路31に印加する。すなわち割算回路31は、ステー
ジ25上に試料を戦層した時とローダミンB3g/〆エ
チレングリコール溶液を敷遣した時の励起側モノクロメ
ータ22の設定波長の等しい場合、すなわち入,=入2
=^におけるスペクトル強度の間で比をとる。よって割
算回路31の出力は次式{4}で与えられる。幹−S学
入肌【4)式{4}‘こおいてk!ま既知の定数である
から、試料の励起波長スペクトルST入F入は容易に求
めることができる。
なお、以上の実施例においていくつかの変形が可能であ
る。
例えば、先にステージ25上に試料を戦層して測定を行
ない、この結果を記憶回路32に記憶させ、後にローダ
ミンB3g′そエチレングリコール溶液をステージ25
上に載直して測定を行なっても同様の結果が得られる。
また、励起側モノクロメータ22の設定波長毎にローダ
ミンB3g′クェチレングリコール溶液と試料を交換し
て試料の励起波長スペクトルを求めるようにもできる。
以上述べたように本発明によれば、滋射型の蟹光側光顕
微鏡によって試料の励起波長スペクトルを求める際に、
検知器からの信号に含まれる装置関数を除去できる。
【図面の簡単な説明】 第1図は従来の頭徴蟹光額9光技術に用いられる蕗射型
蟹光側光顕微鏡の説明図、第2図は本発明の実施例の説
明図である。 主要部分の符号の説明、SW・・・・・・スイッチ、3
0…・・・検知器、31…・・・割算回路、32…・・
・記憶回路、33・・…・同期手段、34・・・・・・
記録計、25..・・・・ステージ、26・・・・・・
被測定物。 フャへ 図フャ2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 異なった波長の励起光を順次設定し出射する光源手
    段と、所定の波長の光を検出し、該検出した光を光電変
    換する検知手段と、前記光源手段からの励起光にて試料
    を落射照明し、該試料からの螢光を前記検知手段に入射
    せしめる光学手段とを有する落射型の螢光測光顕微鏡に
    おいて、入力端子からの光電変換信号を前記励起光の波
    長に対応せしめて記憶する記憶手段と、2つの入力端子
    を有し、そのうちの一方が前記記憶手段の出力端子に接
    続される割算手段と、前記検知手段の出力を前記記憶手
    段の入力端子と前記割算手段の他方の入力端子とに選択
    的に入力せしめる選択手段と、前記記憶手段の記憶値か
    ら前記光源手段の波長設定に同期せしめて、該設定波長
    に対応する記憶値を呼び出す同期手段と、を有し、 前記割算手段の出力によって試料の励起波長スペクトル
    を求めることを特徴とする螢光測光顕微鏡。
JP15944877A 1977-12-28 1977-12-28 落射型螢光測光顕微鏡 Expired JPS606485B2 (ja)

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