JPS6115365B2 - - Google Patents
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- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、各種の分光学的測定に利用される
分光光度計に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a spectrophotometer used for various spectroscopic measurements.
まず、本発明に到達する直接の背景から説明す
る。医学生物学の分野では、臨床上あるいは研究
上しばしば分光学的測定法が利用される。例えば
光吸収を測定して血液中の微量成分を同定した
り、光散乱を測定して細胞内微少器官の動態を追
跡したりすることが行なわれている。さらに最近
では、フアイバ・オプテイツクスの発達により、
測定光を直接生体組織に導き、生きたままで生体
組織の代謝動態を追跡することも行なわれてい
る。このような生体組織の代謝の監視を行なうに
は、組織の吸収スペクトル特性を得たり、特定波
長の吸光度の時間経過を追跡したり、また、2波
長吸収測光としてよく知られている特定2波長に
おける吸光度の差の時間経過を追跡したり、組織
のある状態と別の状態(例えば、細胞内呼吸代謝
系の酸化状態と還元状態)の吸収スペクトルの差
スペクトルを得る等、様々なモードで分光学的測
定を行なうことが非常に有効で、ぜひ必要なこと
である。この発明は、上記のような各種のモード
の分光学的測定を任意に行なうことができる、す
なわち多目的に使用することができる分光光度計
を提供すべくなされたものである。 First, the immediate background to arrive at the present invention will be explained. In the field of medical biology, spectroscopic measurement methods are often used for clinical or research purposes. For example, light absorption is measured to identify trace components in blood, and light scattering is measured to track the dynamics of intracellular minute organs. More recently, with the development of fiber optics,
Measurement light is also guided directly into living tissue to track the metabolic dynamics of the living tissue. In order to monitor the metabolism of biological tissues, it is necessary to obtain the absorption spectrum characteristics of the tissue, track the time course of absorbance at specific wavelengths, and measure It can be analyzed in various modes, such as tracking the time course of the difference in absorbance in a tissue, or obtaining a difference spectrum between absorption spectra in one state of a tissue and another (e.g., the oxidized and reduced states of the intracellular respiratory metabolic system). Optical measurements are very effective and absolutely necessary. The present invention has been made to provide a spectrophotometer that can arbitrarily perform spectroscopic measurements in various modes as described above, that is, can be used for multiple purposes.
ところで、従来は各種の測定態様に適応するよ
うに各種の形式の分光光度計が商品化されてい
る。周知のように最も基本的なものは、光源から
の光のうちある特定の波長の光のみを単色器によ
つて選択して、その光を被測定物に照射するとと
もに、被測定物からの光を光電子増倍管等の光検
知器で受光し、その出力を増幅し、記録計に経時
的に描かせるものである。また、単色器を2系統
備え、異なる2種の波長による測定を交互に行な
い、両者の出力を演算し、両波長の差吸収を記録
計に経時的に描かせるもので、2波長分光光度計
と称されているものがある。さらに、被測定物の
吸収波長スペクトル特性を得るためのもので、自
記分光光度計と呼ばれているものは、単色器に波
長走査機構を設けて単色器の出力波長を自動的に
変化させ、光検知器、増幅器の出力信号をX−Y
記録計のY軸入力に、上記波長走査機構の波長送
り情報をX軸入力にそれぞれ印加することによ
り、スペクトル特性を描かせるように構成されて
いる。また、高速波長走査法として知られている
ラビツトスキヤン分光光度計と呼ばれているもの
は、1例を挙げれば被測定物に白色光を照射して
被測定物からの光を分光器に導入し、この分光器
の出射スリツト上(分光された各波長の光が分散
されて結像する)にフオトダイオードアレイ等の
イメージセンサを配置し、このイメージセンサの
各受光点の出力(各波長に対応する)を電気的な
高速走査によつて取り出し、これを増幅してメモ
リスコープ等の応答の速い表示装置に出力し、ス
ペクトル特性を描かせるものである。 Incidentally, various types of spectrophotometers have been commercialized in the past to suit various measurement modes. As is well known, the most basic method is to use a monochromator to select only the light of a certain wavelength from the light source and irradiate the object to be measured with that light. Light is received by a photodetector such as a photomultiplier tube, its output is amplified, and a recorder records it over time. In addition, it is equipped with two systems of monochromators, alternately performs measurements at two different wavelengths, calculates the output of both, and causes the recorder to plot the difference in absorption between the two wavelengths over time. There is something called. Furthermore, in the so-called self-recording spectrophotometer, which is used to obtain the absorption wavelength spectrum characteristics of the object to be measured, a monochromator is equipped with a wavelength scanning mechanism to automatically change the output wavelength of the monochromator. X-Y output signal of photodetector and amplifier
It is configured to draw the spectral characteristics by applying the wavelength feed information of the wavelength scanning mechanism to the Y-axis input of the recorder and the X-axis input, respectively. In addition, one example of a device called a Rabbit scan spectrophotometer, which is known as a high-speed wavelength scanning method, is to irradiate an object to be measured with white light and introduce the light from the object into a spectrometer. An image sensor such as a photodiode array is placed on the output slit of this spectrometer (where the separated light of each wavelength is dispersed and formed into an image), and the output of each light receiving point of this image sensor (corresponding to each wavelength) is ) is extracted by high-speed electrical scanning, amplified, and output to a fast-response display device such as a memory scope to plot its spectral characteristics.
前述のように、被測定物により、またどのよう
な情報を得たいかにより必要な測定系が異なつて
くるのであるが、上記の従来の各測定装置は、そ
れぞれある特定の測定態様に対応し、その測定に
便宜ならしめるように構成されたものである。 As mentioned above, the required measurement system differs depending on the object to be measured and what kind of information you want to obtain, but each of the conventional measurement devices mentioned above is compatible with a specific measurement mode. , and is constructed to make the measurement convenient.
しかし、本発明者らが直接の測定対象としてい
る生体組織についての光測定を考えた場合、ある
時必要なのは吸光度の時間経過であり、またある
時欲しいのは組織の吸収波長スペクトル情報であ
つたりする。さらに、生体組織のように複雑に入
り込んだ多成分系では、一連の代謝反応に関与す
る可能性があるとして、測定しておくべき吸収デ
ータの波長範囲も非常に広いものとなる。 However, when considering optical measurements of biological tissue, which is the direct measurement target of the present inventors, sometimes what is needed is the time course of absorbance, and other times what is needed is information on the absorption wavelength spectrum of the tissue. do. Furthermore, in a complex multi-component system such as a living tissue, the wavelength range of absorption data that must be measured is extremely wide, as the system may be involved in a series of metabolic reactions.
そこで本発明の基本的な目的とするところは、
単一の光学系を用いて一度に広い波長域の測定デ
ータを取得し、そのデータを必要な形に整理、加
工して出力するようにした分光光度計を提供する
ことにある。 Therefore, the basic purpose of the present invention is to
The object of the present invention is to provide a spectrophotometer that uses a single optical system to acquire measurement data in a wide wavelength range at once, organizes and processes the data into a necessary form, and outputs the data.
更に、本発明のより具体的な目的とするところ
は、高速で波長走査を繰り返して測定データを得
た後に、任意の間隔でその測定データをサンプリ
ングし、比較的長い時間尺度のデータの変化を観
察することができるようにした分光光度計を提供
することにある。 Furthermore, a more specific object of the present invention is to obtain measurement data by repeating wavelength scanning at high speed, and then sample the measurement data at arbitrary intervals to detect changes in the data over a relatively long time scale. The object of the present invention is to provide a spectrophotometer that enables observation.
すなわち本発明に係る分光光度計は、被測定物
に光を照射してこの被測定物よりの測定光を受光
し、波長走査を繰返して各波長毎の受光レベルに
対応したアナログ信号を出力する光学走査装置
と、この光学走査装置のアナログ信号出力をデジ
タル信号に変換するA−D変換器と、このA−D
変換器から順次出力される各波長走査毎の測定デ
ータを、走査範囲の各波長に対応させ、かつ前記
波長走査の回数を区別可能に記憶する記憶装置
と、測定内容を設定するための測定内容設定手段
と、出力間隔を設定するための出力間隔設定スイ
ツチと、この出力間隔設定スイツチに設定された
回数の波長走査おきに上記記憶装置に記憶された
測定データをサンプリングし、上記測定内容設定
手段の測定内容に基づいて必要な測定データを読
出すとともに、必要によりその測定データに所定
の演算を施すデータ選択演算手段と、このデータ
選択演算手段によつて選択演算された測定データ
を出力するための出力装置とから構成されるもの
である。 That is, the spectrophotometer according to the present invention irradiates an object to be measured with light, receives measurement light from the object, repeats wavelength scanning, and outputs an analog signal corresponding to the received light level for each wavelength. an optical scanning device; an A-D converter that converts an analog signal output of the optical scanning device into a digital signal;
A storage device that associates measurement data for each wavelength scan sequentially output from the converter with each wavelength in the scanning range and stores the number of wavelength scans in a distinguishable manner, and measurement contents for setting the measurement contents. a setting means, an output interval setting switch for setting an output interval, and a measurement content setting means for sampling the measurement data stored in the storage device every wavelength scanning of the number of times set in the output interval setting switch; data selection calculation means for reading out necessary measurement data based on the measurement contents and performing predetermined calculations on the measurement data if necessary; and for outputting measurement data selectively calculated by the data selection calculation means. It consists of an output device.
これらのうち、上記測定内容設定手段は、例え
ば後述第1図の操作盤A−1における後述第2図
の測定モード切替スイツチ1、あるいはこれと制
御信号回路群H−1とにより構成できる。また上
記データ選択演算手段は、例えば第1図の制御信
号回路群H−1により、または制御信号回路群H
−1、ゲートH−4,H−8,H−9により、あ
るいは制御信号回路群H−1、ゲートH−4,H
−8,H−9,H−14,H−5,H−6により
構成でき、必要により測定データに所定の演算が
施される場合にはゲートH−7、演算回路群F−
1を含む。 Among these, the measurement content setting means can be constituted by, for example, the measurement mode changeover switch 1 shown in FIG. 2, which will be described later, on the operation panel A-1 shown in FIG. 1, which will be described later, or this and the control signal circuit group H-1. Further, the data selection calculation means may be implemented by, for example, the control signal circuit group H-1 in FIG.
-1, by gates H-4, H-8, H-9, or by control signal circuit group H-1, gates H-4, H
-8, H-9, H-14, H-5, and H-6, and if necessary, when predetermined calculations are performed on the measured data, gate H-7 and calculation circuit group F-
Contains 1.
以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings.
第1図は本発明に係る分光光度計の全体のブロ
ツク図である。符号Aで示すA部は、本装置が動
作するのに必要なデータを入力するための操作部
である。B部は本装置の光学系の部分であり、被
測定物はこの部分に設置される。C部は本装置の
電気回路系を示し、B部で得られた光信号はこの
C部において電気信号に変換されるとともに、必
要な処理が加えられてアナログ信号として出力さ
れる。D部はC部の出力であるアナログ信号をデ
ジタル信号に変換するA−D変換部、E部はD部
の出力であるデジタル信号を波長に対応させて記
憶する記憶部、F部はE部に記憶されたデータを
必要な形に加工するための演算回路、G部は必要
な形に整理、加工された最終的なデータを出力す
る出力部である。これら以外の部分は、上記の各
要部にデータを転送するのに必要な制御を行なう
デジタル制御部である(これをH部とする)。 FIG. 1 is an overall block diagram of a spectrophotometer according to the present invention. A section indicated by the symbol A is an operation section for inputting data necessary for the operation of this device. Part B is the optical system part of the apparatus, and the object to be measured is installed in this part. Section C shows the electrical circuit system of this device, and the optical signal obtained at section B is converted into an electrical signal in section C, and is then subjected to necessary processing and output as an analog signal. The D section is an A-D converter that converts the analog signal output from the C section into a digital signal, the E section is a storage section that stores the digital signal that is the output of the D section in correspondence with the wavelength, and the F section is an E section. The G section is an arithmetic circuit for processing the data stored in the . The other parts are digital control parts (this will be referred to as H parts) that perform the control necessary to transfer data to each of the above-mentioned main parts.
各構成部分の細部の動作説明に入る前に本装置
の動作サイクルの概略を説明する。光学系(B
部)の1回の波長走査に対応する一連の動作サイ
クルは3つの期間に分けられる。第1番目の期間
は、光学系(B部)、電気回路系(C部)、A−
D変換器D−1によつて1回の波長走査毎に得ら
れたデジタル信号の測定データ(これを原始デー
タと呼ぶことにする)を、上記記憶部(E部)の
高速記憶回路E−1(一時記憶用)に波長に対応
させて書込む期間である。第2番目の期間は、
第1期間で上記高速記憶回路E−1に記録され
た1走査分の原始データを、記憶部(E部)に別
個に設けられた大容量記憶装置E−2(固定記憶
用で、磁気テープ記録装置等を用いる)に転送し
て書込む期間である(なお、これによつて高速記
憶回路E−1の記憶データが消失するものではな
い)。第3番目の期間は、高速記憶回路E−1
に記憶された原始データのうち必要なデータを読
出し、場合によつてはそのデータに必要な演算を
施し、この選択、演算されたデータ(これを整理
データと呼ぶことにする)を出力部(G部)で出
力する期間である。以上の3つの期間の各動作に
より、本装置の1回の波長走査に伴う1サイクル
の動作が完了し(以下、動作周期と呼ぶ)、この
動作が高速で繰返される。 Before entering into a detailed explanation of the operation of each component, an outline of the operation cycle of this device will be explained. Optical system (B
A series of operation cycles corresponding to one wavelength scan of section) are divided into three periods. In the first period, the optical system (B section), the electric circuit system (C section), the A-
The measurement data of the digital signal obtained for each wavelength scan by the D converter D-1 (this will be referred to as original data) is stored in the high-speed storage circuit E- of the storage section (E section). 1 (for temporary storage) in correspondence with the wavelength. The second period is
The original data for one scan recorded in the high-speed storage circuit E-1 in the first period is stored in a large-capacity storage device E-2 (for fixed storage, magnetic tape) provided separately in the storage section (E section). This is the period during which data is transferred and written to a storage device (using a recording device, etc.) (note that this does not erase the data stored in the high-speed storage circuit E-1). In the third period, high-speed memory circuit E-1
The necessary data is read out of the original data stored in the , in some cases necessary operations are performed on the data, and the selected and operated data (this will be referred to as organized data) is sent to the output section ( This is the period during which the signal is output in section G). Each operation in the three periods described above completes one cycle of operation associated with one wavelength scan of the present device (hereinafter referred to as an operation cycle), and this operation is repeated at high speed.
また本装置では、光学系(B部)における実際
の測定に並行して上述の動作が行なわれるリアル
タイムモードと呼ぶべき動作モードの他に、再生
モードとも呼ぶべき動作モードがある。この再生
モードは、一連の必要な測定が完了した後に、上
記大容量記憶装置E−2に記録した原始データを
再び読出し、これを整理・加工して任意の整理デ
ータを得、出力部(G部)で出力するものであ
る。なお、A部の操作盤A−1の詳細を示す第2
図において、符号2で示す出力モード切換スイツ
チが、上記リアルタイムモードと再生モードを選
択するスイツチである。再生モードの詳細につい
ては最後に説明する。 Further, in this apparatus, in addition to an operation mode called a real-time mode in which the above-described operations are performed in parallel with the actual measurement in the optical system (section B), there is an operation mode also called a reproduction mode. In this playback mode, after a series of necessary measurements are completed, the original data recorded in the mass storage device E-2 is read out again, this is organized and processed to obtain arbitrary organized data, and the output section (G section). In addition, the second section showing the details of the operation panel A-1 in the A section
In the figure, an output mode changeover switch indicated by reference numeral 2 is a switch for selecting the real-time mode and the playback mode. Details of the playback mode will be explained at the end.
次に、上記光学系(B部)の詳細について説明
する。第1図において、B−1は光源であり、必
要となる光量、安定性等を考慮してキセノンラン
プやハロゲンランプ等が使用される。B−2は分
光器であつて、本装置では回折格子を使用した分
光器を用いており、配置はツエルニー・ターナー
型である。B−3は分光器B−2の出力波長を走
査する波長走査機構、B−4は波長走査機構B−
3に附随して設けられた波長読取機構、B−5は
分光器B−2の出力光を被測定物に導くとともに
被測定物から測定光を導出する測定部である。 Next, details of the optical system (section B) will be explained. In FIG. 1, B-1 is a light source, and a xenon lamp, a halogen lamp, or the like is used in consideration of the required amount of light, stability, etc. B-2 is a spectrometer, and this device uses a spectrometer using a diffraction grating, and the arrangement is of the Czerny-Turner type. B-3 is a wavelength scanning mechanism that scans the output wavelength of spectrometer B-2, B-4 is a wavelength scanning mechanism B-
A wavelength reading mechanism B-5 provided in conjunction with 3 is a measuring section that guides the output light of the spectrometer B-2 to the object to be measured and also derives the measurement light from the object to be measured.
上記の波長走査機構B−3および波長読取機構
B−4の一例について第3図〜第5図に示す。本
装置の波長走査は、ツエルニー・ターナー型に配
置された回折格子を、この回折格子をその刻線方
向と垂直な平面で切断した場合の、その切断面の
中心を通り、かつ刻線方向に平行な軸の回りに回
転振動させることにより行なう。第3図におい
て、43は上記回転振動の中心軸となるトーシヨ
ンバーである。すなわち、回折格子41は、回折
格子保持具に適切に保持され、この保持具に回折
格子41の中心となるように固着されたトーシヨ
ンバー43によつて支持される。そして、上記回
折格子保持具は、電磁駆動機構によりトーシヨン
バー43の共振周波数で矢印のごとく回転振動す
る。これによつて、分光器B−2の出力波長が一
定波長域を高速で繰返し変化するのである。 Examples of the wavelength scanning mechanism B-3 and wavelength reading mechanism B-4 described above are shown in FIGS. 3 to 5. Wavelength scanning of this device is performed by cutting a diffraction grating arranged in a Czerny-Turner pattern along a plane perpendicular to the direction of the score lines, and passing through the center of the cut plane and in the direction of the score lines. This is done by rotating and vibrating around parallel axes. In FIG. 3, numeral 43 is a torsion bar that serves as the central axis of the rotational vibration. That is, the diffraction grating 41 is appropriately held in a diffraction grating holder and supported by a torsion bar 43 fixed to the holder so as to be centered on the diffraction grating 41. The diffraction grating holder rotates and vibrates as shown by the arrow at the resonance frequency of the torsion bar 43 by an electromagnetic drive mechanism. As a result, the output wavelength of the spectrometer B-2 changes repeatedly within a fixed wavelength range at high speed.
また第3図において、上記回折格子41の裏面
には回折格子41の回折面と平行に凹面鏡42が
固着されている。波長読取機構用の光源47より
放射された光は、集光レンズ46で集められ、波
長読取用パタン45を通過する。この波長読取用
パタン45は第4図に示すような模様をもつたも
ので、充分に薄いステンレス板にフオトエツチン
グ等により製作したものである。第4図の模様の
うち、白地の部分は光を通過させる部分であり、
斜線の部分は光を遮断する部分である。この波長
読取用パタン45を通過した光は、上記の凹面鏡
42に照射され、これによつて第3図の仮想平面
A面上に結像するように集められる。 Further, in FIG. 3, a concave mirror 42 is fixed to the back surface of the diffraction grating 41 in parallel with the diffraction surface of the diffraction grating 41. As shown in FIG. Light emitted from the light source 47 for the wavelength reading mechanism is collected by the condenser lens 46 and passes through the wavelength reading pattern 45. This wavelength reading pattern 45 has a pattern as shown in FIG. 4, and is manufactured by photo etching or the like on a sufficiently thin stainless steel plate. In the pattern in Figure 4, the white part is the part that allows light to pass through.
The shaded area is the area that blocks light. The light that has passed through this wavelength reading pattern 45 is irradiated onto the above-mentioned concave mirror 42 and is thereby focused so as to form an image on the virtual plane A shown in FIG.
上記A面の像はレンズ44により拡大され、B
面に上記パタン45の拡大像が結像される。B面
上には第3図の紙面に垂直な方向にフオトトラン
ジスタ等の4個の受光器48a,48b,48
c,48dが配設されている。この4個の受光器
48a〜48dは、第4図に示すように、上記パ
タン45の4列の模様にそれぞれ対応させて配置
してあり、各受光器48a〜48dの出力が、第
1図に示す波長信号回路H−2内のアツプダウン
カウンタの入力となる。 The image on the A side is magnified by the lens 44, and
An enlarged image of the pattern 45 is formed on the surface. On the B side, four light receivers 48a, 48b, 48 such as phototransistors are arranged in a direction perpendicular to the paper surface of FIG.
c, 48d are arranged. These four light receivers 48a to 48d are arranged to correspond to the four rows of the pattern 45, respectively, as shown in FIG. 4, and the output of each light receiver 48a to 48d is It becomes an input to the up-down counter in the wavelength signal circuit H-2 shown in FIG.
さて、回折格子41の回転振動につれて凹面鏡
42が回転振動すると、B面に結像されたパタン
45の像も振動し、第4図における受光器48a
〜48dに対してパタン45の像が相対的に左右
に移動することとなる。第4図に示す模様のパタ
ン45の像が受光器48a〜48dを横切ること
により、各受光器48a〜48dに入射する光量
が変化し、これに従つてその出力レベルは上下す
る。この各受光器48a〜48dの出力信号を入
力とする上記波長信号回路H−2では、第5図の
表に従つて波長信号回路H−2内のアツプダウン
カウンタを動作させる。第5図において、「↑」
は受光器の出力信号が低レベルから高レベルに変
化する状態を示し、「↓」は上記出力信号が高レ
ベルから低レベルに変化する状態を示し、また、
「Hi」は上記出力信号が高レベルである状態を示
し、「Lo」は上記出力信号が低レベルである状態
を示す。さらに、「*」は受光器の出力信号のレ
ベルがいずれであつても良いことを示す。そし
て、この表に示す各受光器48a〜48cの出力
の状態に応じて、上記アツプダウンカウンタがカ
ウントアツプあるいはカウントダウンされる。す
なわち第4図に従つて説明すれば、パタン45が
右から左へ移動するときは、上記アツプダウンカ
ウンタはパタン45の模様の1ピツチ毎に1づつ
カウントアツプされ、逆に左から右へ移動すると
きは、1づつカウントダウンされる。なお、第5
図の「set」というのは、この状態で波長信号回
路H−2の出力が波長走査の初期値に設定される
ことを意味する。 Now, when the concave mirror 42 rotates and vibrates as the diffraction grating 41 rotates, the image of the pattern 45 formed on the B surface also vibrates, and the light receiver 48a in FIG.
The image of the pattern 45 moves left and right relative to 48d. When the image of the pattern 45 shown in FIG. 4 crosses the light receivers 48a to 48d, the amount of light incident on each of the light receivers 48a to 48d changes, and the output level rises and falls accordingly. In the wavelength signal circuit H-2, which receives the output signals from each of the light receivers 48a to 48d, an up-down counter in the wavelength signal circuit H-2 is operated according to the table shown in FIG. In Figure 5, “↑”
indicates a state in which the output signal of the photoreceiver changes from a low level to a high level, "↓" indicates a state in which the above output signal changes from a high level to a low level, and,
"Hi" indicates that the output signal is at a high level, and "Lo" indicates that the output signal is at a low level. Further, "*" indicates that the level of the output signal of the photoreceiver may be any level. The up-down counter is counted up or down depending on the state of the output from each of the light receivers 48a to 48c shown in this table. That is, to explain according to FIG. 4, when the pattern 45 moves from right to left, the up-down counter counts up by 1 for each pitch of the pattern 45, and conversely, when the pattern 45 moves from left to right. When it does, it will count down by 1. In addition, the fifth
"Set" in the figure means that in this state, the output of the wavelength signal circuit H-2 is set to the initial value for wavelength scanning.
上記の構成により、第3図の回折格子41が回
転振動して波長走査が行なわれるのに伴つて、波
長信号回路H−2はその波長に対応したデジタル
信号(波長信号と呼ぶ)を出力する。本装置にお
いては、上記波長信号の最小ビツトは波長変化に
して1nmに相当する。また本装置の波長走査域は
350nm〜700nmである。 With the above configuration, as the diffraction grating 41 in FIG. 3 rotates and oscillates to perform wavelength scanning, the wavelength signal circuit H-2 outputs a digital signal (referred to as a wavelength signal) corresponding to the wavelength. . In this device, the minimum bit of the wavelength signal corresponds to a wavelength change of 1 nm. In addition, the wavelength scanning range of this device is
It is 350nm to 700nm.
また、上記測定部B−5の具体例について第6
図に基づき説明する。第6図において、分光器B
−2の出力光はビームスプリツタ52によつて二
分され、一方の光は光フアイバ54を通つて測定
対象物試料56に照射され、他方の光はミラー5
3により進路を変えられ光フアイバ55を通つて
測定対象物試料56に対する標準試料57に照射
される。測定対象物試料56は生体臓器等であ
り、これに対する標準試料57は、測定対象物側
と相まつていわゆるダブルビームを構成して、光
源変動等の影響を除去するとともに、両光路の光
量のレベルを合せるためのものであり、例えば酸
化マグネシウムの白色散乱板等が用いられる。各
試料56,57を通つた光は、それぞれ再び光フ
アイバ54,55で集められ、上記電気回路系
(C部)の光検出器58,59(光電子増倍管
等)にそれぞれ受光される。 Also, regarding the specific example of the measurement section B-5, the sixth section
This will be explained based on the diagram. In Figure 6, spectrometer B
-2 output light is split into two by the beam splitter 52, one light is irradiated onto the measurement object sample 56 through the optical fiber 54, and the other light is irradiated by the mirror 52.
3, and is irradiated through the optical fiber 55 onto a standard sample 57 relative to the measurement target sample 56. The measurement target sample 56 is a biological organ, etc., and the standard sample 57 for this, together with the measurement target side, forms a so-called double beam to eliminate the effects of light source fluctuations, etc., and to adjust the level of light intensity in both optical paths. For example, a white scattering plate made of magnesium oxide is used. The light that has passed through each sample 56, 57 is collected again by optical fibers 54, 55, respectively, and is received by photodetectors 58, 59 (photomultiplier tubes, etc.) of the electric circuit system (section C), respectively.
第1図に示すC部における光検出器C−1は、
上述のダブルビームに対応する2系統の光検出器
58,59に相当する。この光検出器C−1の出
力はそれぞれ増幅器C−2により増幅され、吸光
度を算出するためにそれぞれ対数変換器C−3を
通つて対数変換される。この対数変換器C−3の
2系統の出力は差動増幅器C−4に入力され、こ
れにより、上記標準試料57に対する測定対象物
試料56の吸光度が求められ、このアナログ信号
出力がA−D変換器D−1によつてデジタル信号
に変換される。 Photodetector C-1 in section C shown in FIG.
This corresponds to the two systems of photodetectors 58 and 59 corresponding to the above-mentioned double beam. The outputs of the photodetectors C-1 are each amplified by an amplifier C-2, and each output is logarithmically converted through a logarithmic converter C-3 in order to calculate the absorbance. The two outputs of the logarithmic converter C-3 are input to the differential amplifier C-4, whereby the absorbance of the measurement target sample 56 with respect to the standard sample 57 is determined, and this analog signal output is It is converted into a digital signal by converter D-1.
次に、上記A−D変換器D−1から出力される
測定データを上記高速記憶回路E−1に書込むま
での動作(すなわち上記期間の動作)について
説明する。 Next, the operation up to writing the measurement data output from the A-D converter D-1 into the high-speed storage circuit E-1 (ie, the operation during the above period) will be described.
第2図に示す操作盤A−1において、4は測定
の開始を指持するスタートスイツチ、5は測定の
終了を指示するストツプスイツチであつて、ま
ず、上記出力モード切換スイツチ2をリアルタイ
ムモードにしてスタートスイツチ4をONにす
る。すると、波長走査機構B−3が動作し、分光
器B−2内の回折格子が回転振動して波長走査が
行なわれるとともに、分光器B−2の出射スリツ
トから出射する光の波長に対応した波長読取機構
B−4の出力信号により、波長信号回路H−2の
出力が決定される。波長信号回路H−2から出力
される波長信号は9ビツトのデジタル信号で、こ
の波長信号はゲートH−3を通つてアドレスバス
ADRに乗せられる。このアドレスバスADR上の
データは波長信号回路H−2よりの読込み指令信
号S4のタイミングで、制御信号回路群H−1に読
込まれる。 In the operation panel A-1 shown in Fig. 2, numeral 4 is a start switch for instructing the start of measurement, and numeral 5 is a stop switch for instructing the end of measurement. Turn on start switch 4. Then, the wavelength scanning mechanism B-3 operates, and the diffraction grating in the spectrometer B-2 rotates and oscillates to perform wavelength scanning, and at the same time, the wavelength scanning mechanism B-3 rotates and oscillates to perform wavelength scanning. The output signal of the wavelength reading mechanism B-4 determines the output of the wavelength signal circuit H-2. The wavelength signal output from the wavelength signal circuit H-2 is a 9-bit digital signal, and this wavelength signal is sent to the address bus through gate H-3.
It will be put on ADR. The data on this address bus ADR is read into the control signal circuit group H-1 at the timing of the read command signal S4 from the wavelength signal circuit H-2.
また、上記波長信号が1ビツトづつ変化するに
応じて、すなわち分光器B−2の出力波長が1nm
変化するに応じて、制御信号回路群H−1はA−
D変換器D−1に変換開始指令信号S2を送出す
る。これを受けてA−D変換器D−1によつて高
速で変換が行なわれ、これが終了すると変換終了
信号S3を制御信号回路群H−1へ送出する。この
信号S3を受けて制御信号回路群H−1は、信号S5
によりゲートH−10を開いて、デジタル変換さ
れた測光データをデータバスDATAに乗せ、ま
た、信号S6によりゲートH−4を開くとともに書
込み指令信号S24を送つて、高速記憶回路E−1
に上記測光データを書込む。この際、高速記憶回
路E−1に対するアドレス指定は、先に波長信号
回路H−2より制御信号回路群H−1に送り込ま
れた波長信号に基づいてなされ、上記測定データ
は、その測光データが得られたときの分光器B−
2の出力波長に対応した位置に書込まれる。この
高速記憶回路E−1はランダム・アクセス型の半
導体メモリ(RAM)で構成されていて、上記の
各波長における測光データは12ビツトからなると
ともにアドレスは13ビツトからなり、16動作周期
分つまり16回の波長走査のデータが格納できる。
すなわち、制御信号回路群H−1は、波長信号回
路H−2よりの波長走査カウント信号S7を受けて
波長信号回路H−2からの9ビツトの波長信号に
順次累加させるビツトを付加し、高速記憶回路E
−1に対する13ビツトのアドレス情報を提供す
る。そして、高速記憶回路E−1に記憶されたあ
るデータは、16動作周期の間だけこの記憶回路E
−1に留めることができる。 In addition, as the wavelength signal changes one bit at a time, the output wavelength of spectrometer B-2 changes by 1 nm.
According to the change, the control signal circuit group H-1 changes to A-
A conversion start command signal S2 is sent to the D converter D-1. In response to this, the AD converter D-1 performs conversion at high speed, and when the conversion is completed, it sends a conversion completion signal S3 to the control signal circuit group H-1. In response to this signal S 3 , the control signal circuit group H-1 outputs the signal S 5
opens the gate H-10 and puts the digitally converted photometric data onto the data bus DATA, and also opens the gate H-4 with the signal S6 and sends the write command signal S24 to the high-speed storage circuit E-1.
Write the above photometric data to . At this time, the address specification for the high-speed storage circuit E-1 is made based on the wavelength signal sent from the wavelength signal circuit H-2 to the control signal circuit group H-1, and the above measurement data is based on the photometric data. Spectrometer B- when obtained
It is written in the position corresponding to the output wavelength of No. 2. This high-speed memory circuit E-1 is composed of a random access type semiconductor memory (RAM), and the photometric data at each of the wavelengths mentioned above consists of 12 bits, and the address consists of 13 bits, corresponding to 16 operation cycles, or 16 Data for multiple wavelength scans can be stored.
That is, the control signal circuit group H-1 receives the wavelength scanning count signal S7 from the wavelength signal circuit H-2 and adds bits to be added sequentially to the 9-bit wavelength signal from the wavelength signal circuit H-2. High speed memory circuit E
Provides 13 bits of address information for -1. Then, certain data stored in the high-speed memory circuit E-1 is stored in this memory circuit E-1 only during 16 operation cycles.
It can be kept at -1.
したがつて本装置では、波長走査が繰返される
ことによつて次々と得られる原始データは、第7
図の表に示すように、各波長λ1〜λnに対応さ
せた状態で、また各動作周期x1〜xo毎にそれぞ
れブロツク化した状態で順次高速記憶回路E−1
に書込まれることになる。 Therefore, in this device, the original data obtained one after another by repeated wavelength scanning is
As shown in the table of the figure, the high-speed memory circuit E-1 is sequentially constructed in a state corresponding to each wavelength λ 1 to λ n and in a state in which blocks are formed for each operation cycle x 1 to x o .
will be written in.
ところで、1回の波長走査によつて得られたデ
ータを高速記憶回路E−1に書込む動作が終了す
ると、第2番目の期間の動作に移る。すなわ
ち、高速記憶回路E−1に書込んだばかりの1走
査分のデータを、大容量記憶装置E−2に転送す
る動作である。まず、制御信号回路群H−1は波
長走査カウント信号を受けて、1回の波長走査の
終了を検知すると、信号S6,S8によりゲートH−
4,H−9を開き、転送開始指令信号S9を大容量
記憶装置E−2に送り、同時に制御信号回路群H
−1よりアドレスバスADRにアドレス指令を送
り、データバスDATAを介して高速記憶回路E
−1のデータを大容量記憶装置E−2へ転送す
る。なお大容量記憶装置E−2では、上記の転送
データとともに、このデータが得られた動作周期
番号に対応するラベルが記録される。この際のラ
ベル番号は、第2図の表示盤A−1における表示
器15に4桁の数字で表示される。このようにし
て、1走査分のデータの大容量記憶装置E−2へ
の転送が終ると、この記憶装置E−2は転送完了
信号S10を制御信号回路群H−1へ送り、これに
よつて本装置は第3番目の期間の動作で移行す
る。 By the way, when the operation of writing data obtained by one wavelength scan into the high-speed storage circuit E-1 is completed, the operation shifts to the second period. That is, the operation is to transfer one scan's worth of data that has just been written to the high-speed storage circuit E-1 to the mass storage device E-2. First, when the control signal circuit group H-1 receives the wavelength scanning count signal and detects the end of one wavelength scanning, it outputs the gate H-1 by signals S 6 and S 8 .
4. Open H-9, send the transfer start command signal S9 to the mass storage device E-2, and at the same time send the control signal circuit group H
-1 sends an address command to the address bus ADR, and sends an address command to the high-speed memory circuit E via the data bus DATA.
-1 data is transferred to the mass storage device E-2. In addition, in the mass storage device E-2, a label corresponding to the operation cycle number from which this data was obtained is recorded together with the above-mentioned transfer data. The label number at this time is displayed as a four-digit number on the display 15 on the display panel A-1 in FIG. In this way, when the transfer of data for one scan to the mass storage device E-2 is completed, the storage device E-2 sends a transfer completion signal S10 to the control signal circuit group H-1. Therefore, the device transitions to the third period of operation.
期間では、前述のように高速記憶回路E−1
に記憶された原始データから、適宜に選択、演算
された整理データを得て出力部(G部)に送出す
るのであるが、これには事前に、どのように整
理、加工した整理データを得るのかを(これを測
定モードと呼ぶ)、操作盤A−1によつて設定し
ておかねばならない。 In the period, as mentioned above, the high speed memory circuit E-1
From the original data stored in the original data, appropriately selected and calculated organized data is obtained and sent to the output section (G section). (This is called the measurement mode) must be set using the operation panel A-1.
そこで、本装置における各測定モードにそれぞ
れについて説明する。測定モードは基本的に次の
(イ),(ロ),(ハ)の3つに分けられ、この3つの測定モ
ードの選択は、第2図に示す操作盤A−1におけ
る測定モード切換スイツチ1によつて行なう。 Therefore, each measurement mode in this device will be explained. The measurement mode is basically as follows.
It is divided into three measurement modes: (a), (b), and (c), and selection of these three measurement modes is performed by the measurement mode changeover switch 1 on the operation panel A-1 shown in FIG.
(イ) 第1の測定モードは、指定した特定波長につ
いての吸光度の時間経過による変動を観察する
ものである。すなわち、1回の波長走査により
λ1からλmまで1nm毎の波長に対応した原始
データが得られるが、このうち指定した特定波
長についてのデータのみを選択し、そのデータ
を出力部(G部)における記録計G−1に供給
し、これにその時間経過を描かせるのである。
この際の波長の指定は、第2図に示す波長設定
スイツチ8〜13によつて行なう。この6個の
波長設定スイツチ8〜13はそれぞれに波長を
設定できるデジタルスイツチであつて、本装置
では、この波長設定スイツチ8〜13に設定し
た6種の波長についてのそれぞれのデータを、
多ペン型である上記記録計G−1で出力させる
ことができる。(b) The first measurement mode is to observe changes in absorbance over time at a specified specific wavelength. In other words, by one wavelength scan, original data corresponding to wavelengths of 1 nm from λ 1 to λm can be obtained, but only the data for the specified specific wavelength is selected and the data is sent to the output section (G section). The data is supplied to the recorder G-1 at the time, and the time elapsed is plotted on the recorder G-1.
The wavelength at this time is specified by wavelength setting switches 8 to 13 shown in FIG. These six wavelength setting switches 8 to 13 are digital switches that can each set a wavelength, and in this device, the data for each of the six wavelengths set in these wavelength setting switches 8 to 13 are
It can be output using the multi-pen type recorder G-1.
この測定モードイの動作を詳細に説明する。
まず操作盤A−1に設定した内容は信号S1によ
り制御信号回路群H−1に伝えられる。そし
て、前述のように期間および期間の動作が
終了すると、制御信号回路群H−1は、上記波
長設定スイツチに設定された波長のアドレス情
報をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S6
を発してゲートH−4を開くとともに読出し指
令信号S20を送つて、高速記憶回路E−1中の
指定された波長に対応したデータをデータバス
DATAに送出する。また同時に、信号S11によ
りゲートH−14を開き、データバスDATA
上のデータをD−A変換器H−19へ供給し、
そのデータをアナログ信号に変換して記録計G
−1への入力とする。本装置においては、6つ
の異なる設定波長に対応して6つのD−A変換
器H−19が用意されている。このため、上記
のデータ出力サイクルを期間の動作状態にお
いて6回繰返すことになる。このようにして、
第1の測定モードイにおいて、記録計G−1を
時間送りすることにより吸光度データの時間変
化が6つの異なる波長について記録できる。 The operation of this measurement mode will be explained in detail.
First, the contents set on the operation panel A-1 are transmitted to the control signal circuit group H- 1 by a signal S1. Then, when the period and period operations are completed as described above, the control signal circuit group H-1 loads the address information of the wavelength set in the wavelength setting switch onto the address bus ADR, and at the same time outputs the signal S6.
and opens the gate H-4, and also sends the read command signal S20 to transfer the data corresponding to the specified wavelength in the high-speed storage circuit E-1 to the data bus.
Send to DATA. At the same time, the gate H-14 is opened by the signal S11 , and the data bus DATA is opened.
Supply the above data to the DA converter H-19,
Convert that data into an analog signal and recorder G
-1 input. In this device, six DA converters H-19 are prepared corresponding to six different set wavelengths. Therefore, the above data output cycle is repeated six times in the operating state of the period. In this way,
In the first measurement mode, time changes in absorbance data can be recorded for six different wavelengths by moving the recorder G-1 over time.
(ロ) 第2の測定モードは、波長スペクトル測定と
もいうべきもので、出力部(G部)に1回の波
長走査データを各波長における吸光度の関係と
して表示するものである。したがつて本測定モ
ードでは上述の波長の設定は不要である。(b) The second measurement mode can also be called wavelength spectrum measurement, in which one wavelength scan data is displayed on the output section (G section) as a relationship between absorbance at each wavelength. Therefore, in this measurement mode, the above-mentioned wavelength setting is not necessary.
この測定モードロの動作を詳細に説明する。
前述の期間および期間の動作が終了し、期
間の動作状態に入ると、制御信号回路群H−
1は、波長走査域の最初の波長λ1のデータの
格納番地に対応するアドレス情報をアドレスバ
スADRに乗せ、同時に信号S6によりゲートH
−4を開くとともに読出し指令信号S20を送出
して、高速記憶回路E−1中の指定されたデー
タをデータバスDATAに乗せる。この状態で
信号S16,S17を発してゲートH−5およびゲー
トH−6を開く。斯くして、データバス
DATA上の吸光度データはD−A変換器H−
11によつてアナログ信号に変換され、メモリ
スコープG−3のY軸入力となる。またアドド
レスバスADR上のデータは、減算器等からな
る論理回路H−12で適当な大きさの数値に整
値され、D−A変換器H−13の入力となる。
このD−A変換器H−13のアナログ信号出力
は、メモリスコープG−3のX軸入力となつ
て、メモリスコープG−3の水平軸を駆動す
る。 The operation of this measurement mode will be explained in detail.
When the above-mentioned period and operation of the period are completed and the operation state of the period is entered, the control signal circuit group H-
1 loads the address information corresponding to the data storage address of the first wavelength λ 1 in the wavelength scanning area onto the address bus ADR, and at the same time sends the gate H by the signal S 6 .
-4 is opened and a read command signal S20 is sent out to transfer the designated data in the high speed storage circuit E-1 onto the data bus DATA. In this state, signals S 16 and S 17 are generated to open gates H-5 and H-6. Thus, the data bus
The absorbance data on DATA is transferred to the DA converter H-
11 into an analog signal, which becomes the Y-axis input of memory scope G-3. Further, the data on the address bus ADR is converted into a numerical value of an appropriate size by a logic circuit H-12 consisting of a subtracter, etc., and is input to a DA converter H-13.
The analog signal output of this DA converter H-13 becomes the X-axis input of the memory scope G-3, and drives the horizontal axis of the memory scope G-3.
この一連の動作が完了すると制御信号回路群
H−1は、アドレス情報を1ビツト歩進し、上
記の一連の動作を行なう。このようにして、
1nmづつの波長走査域の最終波長λmにいたる
まで、1nmづつの波長送りで各波長の吸光度デ
ータがメモリスコープG−3のY軸に供給さ
れ、このメモリスコープG−3に波長スペクト
ル特性が描かれる。 When this series of operations is completed, the control signal circuit group H-1 increments the address information by 1 bit and performs the above series of operations. In this way,
Absorbance data for each wavelength is supplied to the Y axis of Memory Scope G-3 by 1 nm increments up to the final wavelength λm in the wavelength scanning range of 1 nm increments, and the wavelength spectrum characteristics are drawn on this Memory Scope G-3. It can be done.
(ハ) 第3の側定モードは、2波長吸収測定モード
ともいうべきもので、指定した2種の波長の吸
光度差が出力され、その時間経過が記録でき
る。この測定モードハでは、まず操作盤A−1
の波長設定スイツチ8〜13により、差吸収を
求めるべき2波長の指定を行なう。この装置で
は3組の2波長を設定することができる。スイ
ツチ8と9、スイツチ10と11、スイツチ1
2と13に、それぞれ2波長差吸収を測定すべ
き1組となる2種の波長を設定する。例えば、
スイツチ8と9にそれぞれ波長λaとλbを設
定すれば、2波長差吸光度D(λa)−D(λ
b)が出力されるのである。(c) The third measurement mode can also be called a two-wavelength absorption measurement mode, in which the absorbance difference between two specified wavelengths is output, and the elapsed time can be recorded. In this measurement mode, first operate the operation panel A-1.
The wavelength setting switches 8 to 13 specify two wavelengths for which differential absorption is to be determined. This device can set three sets of two wavelengths. Switches 8 and 9, Switches 10 and 11, Switch 1
2 and 13 are set as one set of two wavelengths at which the two-wavelength difference absorption should be measured. for example,
By setting wavelengths λa and λb in switches 8 and 9, respectively, the two wavelength difference absorbance D(λa)-D(λ
b) is output.
この測定モードハの動作を詳細に説明する。
前述の期間および期間の動作が終了し、期
間の動作状態に入ると、制御信号回路群H−
1は、まず波長設定スイツチ8に設定された波
長に対応したアドレス情報をアドレスバス
ADRに乗せ、同時に信号S6によりゲートH−
4を開くとともに読出し指令信号S20を送出し
て、高速記憶回路E−1中の指定された波長の
データをデータバスDATAに乗せる。この状
態で、信号S19によりゲートH−7を開き、演
算回路群F−1に読込み指令信号S22を送り、
これによりデータバスDATA上のデータは演
算回路群F−1内のレジスタに格納される。以
上の動作が完了すると、制御信号回路群H−1
は、次の波長設定スイツチ9に設定された波長
に対応したアドレス情報をアドレスバスADR
に乗せ、上記と同様に、信号S6でゲートH−4
を開くとともに読出し指令信号S20を送出し
て、高速記憶回路E−1中の指定された波長デ
ータをデータバスDATAに乗せる。この状態
で、信号S19によりゲートH−7を開くととも
に読込み指令信号S22を送出し、データバス
DATA上のデータを演算回路群F−1内のレ
ジスタに格納する。以上で波長設定スイツチ8
および9に設定した波長のデータが、それぞれ
演算回路群F−1内のレジスタに格納された。 The operation of this measurement mode will be explained in detail.
When the above-mentioned period and operation of the period are completed and the operation state of the period is entered, the control signal circuit group H-
1 first transmits address information corresponding to the wavelength set in the wavelength setting switch 8 to the address bus.
ADR, and at the same time the gate H- is set by signal S6 .
4 and sends out a read command signal S20 to transfer the data of the designated wavelength in the high speed storage circuit E-1 onto the data bus DATA. In this state, the gate H-7 is opened by the signal S19 , and the read command signal S22 is sent to the arithmetic circuit group F-1.
As a result, the data on the data bus DATA is stored in the register in the arithmetic circuit group F-1. When the above operations are completed, control signal circuit group H-1
transmits the address information corresponding to the wavelength set in the next wavelength setting switch 9 to the address bus ADR.
, and in the same way as above, gate H-4 with signal S 6
At the same time as opening, a read command signal S20 is sent out, and the specified wavelength data in the high speed storage circuit E-1 is loaded onto the data bus DATA. In this state, the gate H-7 is opened by the signal S19 , the read command signal S22 is sent out, and the data bus
The data on DATA is stored in the register in the arithmetic circuit group F-1. With the above, switch the wavelength setting switch 8.
The data of the wavelengths set to 9 and 9 were respectively stored in the registers in the arithmetic circuit group F-1.
上記演算回路群F−1は、一時記憶用のレジス
タaと、加算器、減算器、割算器からなる演算論
理回路bと、バツフアゲートcよりなる。前述ま
での動作により演算回路群F−1のレジスタaに
格納された2種の波長についての2つのデータ
は、演算論理回路bの減算器によつて減算され、
その結果(差データ)はバツフアゲートcに一時
記憶される。この直後に、制御信号回路群H−1
は、信号S23を発して上記バツフアゲートc内の
データをデータバスDATA上に導出するととも
に、信号S11によりゲートH−14を開き、その
データをD−A変換器H−19に入力する。そし
て、D−A変換器H−19によつてアナログ信号
に変換された上記演算結果が記録計G−1の入力
となる。 The arithmetic circuit group F-1 consists of a register a for temporary storage, an arithmetic logic circuit b consisting of an adder, a subtracter, and a divider, and a buffer gate c. The two data regarding the two wavelengths stored in the register a of the arithmetic circuit group F-1 through the operations described above are subtracted by the subtracter of the arithmetic logic circuit b.
The result (difference data) is temporarily stored in buffer gate c. Immediately after this, control signal circuit group H-1
generates a signal S23 to derive the data in the buffer gate c onto the data bus DATA, and also opens a gate H-14 with a signal S11 and inputs the data to a DA converter H-19. The arithmetic result converted into an analog signal by the DA converter H-19 is input to the recorder G-1.
上述のように、本装置では3組の2波長差吸光
度が出力されるようになつている。すなわち制御
信号回路群H−1は、次に、波長設定スイツチ1
0と11に設定された1組の波長について上記と
同様な一連の制御を行ない、得られた演算結果を
記録計G−1の他の入力とし、さらに次に、波長
設定スイツチ12と13に設定された1組の波長
について同様な制御を行なう。斯くして、記録計
G−1を時間送りすることにより、3組の2波長
差吸光度の時間経過が描かれるのである。 As described above, this device outputs three sets of two-wavelength difference absorbance. That is, the control signal circuit group H-1 then switches the wavelength setting switch 1
A series of controls similar to those described above are performed for a set of wavelengths set to 0 and 11, and the obtained calculation results are used as another input to recorder G-1, and then to wavelength setting switches 12 and 13. Similar control is performed for the set set of wavelengths. In this way, by moving the recorder G-1 over time, the time course of three sets of two-wavelength difference absorbances is plotted.
以上の3つの測定モードイ,ロ,ハの動作説明
は、第2図に示す操作盤A−1における出力モー
ドスイツチ2がリアルタイムモードに設定され、
また、平均回数指定スイツチ6が「1」に設定さ
れている場合の動作である。 The operation of the above three measurement modes A, B, and C is explained when the output mode switch 2 on the operation panel A-1 shown in FIG. 2 is set to real-time mode,
Further, this is the operation when the average number designation switch 6 is set to "1".
次に、上記の平均回数指定スイツチ6について
説明する。本装置においては、前記各モードイ,
ロ,ハの動作説明のように、1回の波長走査によ
つて得られたデータそれのみに基づいて、期間
で所定の整理データを出力する動作態様の他に、
各回の波長走査によつて次々に得られるデータの
任意の複数走査分いついて、所定の整理データを
得る、平均動作と呼ぶべき動作態様がある。すな
わち、この平均動作では、各波長走査毎の測定デ
ータについて所定の選択あるいは演算が行なわれ
るに先だつて、指定された複数回の波長走査分の
測定データの中で上記選択演算に必要な測定デー
タを各波長毎に加算平均し、その結果を上記選択
演算のデータとして提供する。その際、何回の波
長走査分のデータを加算平均するかを、上記の平
均回数指定スイツチ6に設定するのである。この
スイツチ6を「2」以上に設定すれば、平均動作
が行なわれることにより、その場合は期間の動
作は前記とは多少異なつてくる。 Next, the above-mentioned average number designation switch 6 will be explained. In this device, each mode,
In addition to the operation mode that outputs predetermined organized data in a period based only on the data obtained by one wavelength scan, as explained in (b) and (c),
There is an operation mode called an averaging operation in which predetermined organized data is obtained from arbitrary plurality of scans of data sequentially obtained by each wavelength scan. In other words, in this averaging operation, before a predetermined selection or calculation is performed on the measurement data for each wavelength scan, the measurement data necessary for the above selection calculation is selected from among the measurement data for the specified multiple wavelength scans. are averaged for each wavelength, and the results are provided as data for the selection calculation. At this time, the average number designation switch 6 is set to determine how many wavelength scans of data are to be averaged. If this switch 6 is set to "2" or higher, an average operation is performed, and in that case, the operation during the period will be somewhat different from that described above.
(イ)′ まず、測定モードイで平均動作を行なう場
合について説明する。ここで、平均回数指定ス
イツチ6を「3」に設定したとする。この測定
モードイの前述の動作では、1動作周期毎に、
その動作周期で得られたデータのうち波長設定
スイツチ8〜13で指定された波長のデータ
が、高速記憶回路E−1から読出されて記録計
G−1に入力された。ところが平均動作では、
ある回の動作周期の期間の動作状態に入る
と、まず、その回の動作周期で得られたデータ
と、その前の2回の動作周期で得られたデータ
の合計3周期分のデータのうち波長設定スイツ
チで指定された波長(λaとする)のデータ
が、制御信号回路群H−1の制御の下に、高速
記録回路E−1からデータバスDATAに順番
に読出され、ゲートH−7を通つて演算回路群
F−1のレジスタに順次読込まれる。この演算
回路群F−1に読込まれた3動作周期分のデー
タを、D(λa,xb-2),D(λa,xb-1),D
(λa,xb)とすると、演算回路群F−1によ
つて、このデータの加算平均
D′=D(λa,xb−2)+D(λa,xb−1)+D(λa,xb)/3
が演算される。この演算結果は、制御信号回路群
H−1の制御の下に、演算回路群F−1からデー
タバスDATAに導出され、さらにゲートH−1
4からD−A変換器H−19へ導入され、このD
−A変換器H−19のアナログ信号出力が記録計
G−1の入力となる。斯くして、指定された波長
のデータが3周期分づつ加算平均され、その平均
データに基づいて記録計G−1により吸光度の時
間経過が描かれるのである。なお、平均回数指定
スイツチ6は最高「16」まで指定することができ
る。(a)′ First, the case where the averaging operation is performed in measurement mode I will be explained. Here, it is assumed that the average number designation switch 6 is set to "3". In the above-mentioned operation of this measurement mode, for each operation cycle,
Among the data obtained in the operating cycle, data of the wavelength specified by the wavelength setting switches 8 to 13 was read out from the high speed memory circuit E-1 and inputted into the recorder G-1. However, in the average operation,
When entering the operating state for a certain operating cycle, first of all the data obtained for that operating cycle and the data obtained for the previous two operating cycles, for a total of three cycles. The data of the wavelength (denoted as λa) specified by the wavelength setting switch is sequentially read out from the high-speed recording circuit E-1 to the data bus DATA under the control of the control signal circuit group H-1, and the data is read out from the high-speed recording circuit E-1 to the data bus DATA under the control of the control signal circuit group H-1. are sequentially read into the registers of the arithmetic circuit group F-1. The data for three operating cycles read into this arithmetic circuit group F-1 are D(λa, xb -2 ), D(λa, xb -1 ), D
(λa, xb), the arithmetic circuit group F-1 calculates the additive average of this data D'=D(λa,xb -2 )+D(λa,xb -1 )+D(λa,xb)/3 is calculated. The result of this calculation is led out from the calculation circuit group F-1 to the data bus DATA under the control of the control signal circuit group H-1, and is further output to the gate H-1.
4 to the D-A converter H-19, and this D
The analog signal output of the -A converter H-19 becomes the input of the recorder G-1. In this way, the data of the designated wavelength is added and averaged for three cycles at a time, and the time course of the absorbance is plotted by the recorder G-1 based on the average data. Note that the average number designation switch 6 can designate up to "16".
(ロ)′ 次に、測定モードロで平均動作を行なう場
合について説明する。この場合は、前記(ロ)で説
明したように、アドレスバスADR上の波長に
対応するアドレス情報が、ゲートH−6、論理
回路H−12,D−A変換器H−13を介して
メモリスコープG−3のX軸入力となり、デー
タバスDATA上の上記波長についての測定デ
ータがゲートH−5,D−A変換器H−11に
介してメモリスコープG−3のY軸入力になる
のであるが、ここでメモリスコープG−3のY
軸入力は、平均回数指定スイツチ6で指定され
た複数動作周期分の各波長における測定データ
の加算平均データとなる。そのための制御は、
前記(イ)′の説明からも明かなように、まずゲー
トH−5を閉じた状態で、高速記憶回路E−1
から指定された複数動作周期分の特定波長につ
いてのデータをデータバスDATAに読出し、
これを演算回路群F−1に格納する。そして演
算回路群F−1によつて上記各データを加算平
均する演算が行なわれ、その結果を再びデータ
バスDATAに導出するとともに、上記ゲート
H−5を開いてデータバスDATA上のデータ
をメモリスコープG−3のY入力として取り込
むことになる。(b)' Next, the case where the averaging operation is performed in the measurement mode RO will be explained. In this case, as explained in (b) above, the address information corresponding to the wavelength on the address bus ADR is transferred to the memory via the gate H-6, the logic circuit H-12, and the DA converter H-13. This becomes the X-axis input of scope G-3, and the measurement data for the above wavelength on the data bus DATA becomes the Y-axis input of memory scope G-3 via gate H-5 and DA converter H-11. There is, but here memory scope G-3 Y
The axis input is the average data of the measurement data at each wavelength for a plurality of operation cycles designated by the average number designation switch 6. The control for this is
As is clear from the explanation of (a)' above, first, with the gate H-5 closed, the high-speed memory circuit E-1
Reads data about a specific wavelength for multiple operating cycles specified from to the data bus DATA,
This is stored in the arithmetic circuit group F-1. Then, the arithmetic circuit group F-1 performs an arithmetic operation to add and average the above data, and the result is again derived to the data bus DATA, and the gate H-5 is opened to transfer the data on the data bus DATA to the memory. This will be taken in as the Y input of scope G-3.
(ハ)′ 測定モードハで平均動作を行なう場合につ
いて説明する。前記(ハ)の動作では、1組の波長
設定スイツチで指定される2波長についてのデ
ータを高速記憶回路E−1から演算回路群F−
1に順次取り込み、その差を演算するのであ
る。しかしこの場合は、1組の2波長のうち一
方の波長についてのデータを記憶回路E−1か
ら演算回路群F−1に取り込む際に、平均回数
指定スイツチ6に設定された複数動作周期分の
データを取り込み、その加算平均を演算して一
時記憶する。また、他方の波長についてのデー
タに関しても同様で、指定された複数動作周期
分のデータを演算回路群F−1に取り込み、そ
の加算平均を演算する。そして、この2波長に
ついての平均データの差を演算し、その結果を
演算回路群F−1から記録計G−1へ入力する
ことになる。なお、1動作周期分についての2
波長の差データを先に求め、そのデータを指定
された複数動作周期分について加算平均して
も、その結果は前記と同じであり、このような
演算手順をとつても良いのは勿論である。(C)′ The case where the averaging operation is performed in measurement mode C will be explained. In the operation (c) above, data regarding two wavelengths specified by a set of wavelength setting switches are transferred from the high-speed storage circuit E-1 to the arithmetic circuit group F-1.
1 sequentially and calculate the difference. However, in this case, when data for one of the two wavelengths in a set is taken from the storage circuit E-1 to the arithmetic circuit group F-1, the number of operation cycles set in the average number designation switch 6 is Data is taken in, the average is calculated, and the data is temporarily stored. The same goes for the data regarding the other wavelength, and the data for a plurality of designated operation cycles is taken into the calculation circuit group F-1, and the average of the data is calculated. Then, the difference between the average data for these two wavelengths is calculated, and the result is input from the calculation circuit group F-1 to the recorder G-1. In addition, 2 for one operation cycle
Even if the wavelength difference data is first obtained and the data is averaged over a specified number of operating cycles, the result is the same as above, and it is of course possible to use such a calculation procedure. .
最後に、前記の再生モードについて説明する。
この再生モードは、まず大容量記憶装置E−2に
記録したデータのうち指定する部分を再生し、1
動作周期分のデータ(すなわち1ブロツクのデー
タ)づつ高速記憶回路E−1に順次書込み、これ
と並行して前記の期間の出力動作を行ない、任
意に整理、加工した整理データを出力する。 Finally, the above playback mode will be explained.
In this playback mode, first, a specified portion of the data recorded in the mass storage device E-2 is played back, and then
Data corresponding to an operation cycle (that is, one block of data) is sequentially written into the high-speed memory circuit E-1, and in parallel with this, the output operation for the above-mentioned period is performed to output organized data that has been arbitrarily organized and processed.
大容量記憶装置E−2から読出すべきデータの
先頭ブロツクを指定するには、第2図に示す操作
盤A−1のテンキー14を使用する。記憶装置E
−2に記憶される各ブロツクのデータには、前述
のようにラベルが付けられており、指定する先頭
ブロツクのラベルの番号をテンキー14により10
進数コードで入力し、データ入力スイツチ3(第
2図)を押すことにより、先頭ブロツクの指定が
なされる。そこでスタートスイツチ4を押すと、
制御信号回路群H−1は、大容量記憶装置E−2
に信号を送り、指定された先頭ブロツクを探査す
る。指定された先頭ブロツクを見い出せば、その
先頭ブロツクのデータをゲートH−8およびゲー
トH−4を介して高速記憶回路E−1に転送し、
上記期間の出力動作を行なう。さらに、次の1
ブロツクのデータを大容量記憶装置E−2から高
速記憶回路E−1に転送して、期間の出力動作
を行なう、という動作をストップスイツチ5が押
されるまで繰返すのである。 To designate the first block of data to be read from the mass storage device E-2, the numeric keypad 14 of the operation panel A-1 shown in FIG. 2 is used. Storage device E
The data of each block stored in -2 is labeled as described above, and the label number of the first block to be specified is entered using the numeric keypad 14.
The leading block is designated by inputting the base code and pressing the data input switch 3 (FIG. 2). So when you press start switch 4,
The control signal circuit group H-1 is connected to the mass storage device E-2.
Sends a signal to and searches the specified first block. When the designated head block is found, the data of the head block is transferred to the high speed memory circuit E-1 via gate H-8 and gate H-4,
The output operation is performed during the above period. Furthermore, the following 1
The operation of transferring the block data from the mass storage device E-2 to the high-speed storage circuit E-1 and performing the output operation for a period is repeated until the stop switch 5 is pressed.
この再生モードにおける期間の出力動作は、
勿論、前記測定モードイ,ロ,ハあるいはイ′,
ロ′,ハ′のいずれの態様でも行なうことができ
る。なお、波長スペクトル特性を出力するロある
いはロ′の測定モードの場合、データ再生の時間
的な問題と応答速度の点で、出力機器としては上
記メモリスコープG−3に変えて、これと並列に
接続されたX−Y記録計G−2が用いられる。 The period output operation in this playback mode is as follows:
Of course, the measurement modes I, B, C or A′,
It can be carried out in either mode B' or C'. In addition, in the case of the measurement mode A or B' which outputs the wavelength spectrum characteristics, due to the time problem of data reproduction and the response speed, the output device should be replaced with the above Memory Scope G-3 and used in parallel with this. A connected X-Y recorder G-2 is used.
また、第2図の操作盤A−1に示す出力間隔指
定スイツチ7は、前記再生モードの場合に任意に
使用される。上記の再生モードの動作説明は、こ
の出力間隔指定スイツチ7を「1」に設定した場
合のものであつて、この場合は前述のように、大
容量記憶装置E−2から1動作周期分の原始デー
タが読出される毎に、指定されたモードの期間
の出力動作が実行される。しかし、この出力間隔
指定スイツチ7を2以上の「N」に設定すると、
期間の出力動作は、大容量記憶装置E−2から
N動作周期分の原始データが読出される毎に、1
回だけ期間の出力動作が実行される。すなわち
N動作周期の間隔で原始データがサンプリングさ
れて、そのサンプリングされた1動作周期分の原
始データに基づく整理データが出力部(G部)に
出力され、サンプリングされない原始データの読
出し時には期間の出力動作は不実行となる。こ
れにより、比較的長い時間尺度でのデータの時間
経過が出力される。 Further, the output interval designation switch 7 shown on the operation panel A-1 in FIG. 2 is optionally used in the reproduction mode. The above explanation of the operation of the playback mode is based on the case where the output interval designation switch 7 is set to "1". Every time the original data is read, the output operation for the specified mode period is executed. However, if this output interval designation switch 7 is set to 2 or more "N",
The output operation for the period is 1 every time the original data for N operation cycles is read from the mass storage device E-2.
The output operation for the period is executed only once. That is, the source data is sampled at intervals of N operation cycles, and organized data based on the sampled source data for one operation cycle is output to the output section (G section), and when reading the source data that is not sampled, the period output is performed. The action will not be executed. This outputs the time course of the data on a relatively long time scale.
以上で本装置の各動作態様について説明した。
なお、以上の実施例においては、光学系(B部)
での波長走査は、電磁力を用いて機械的に回折格
子を回転振動させることにより行なつているが、
本発明はこれに限定されるものではなく、前述し
たように、被測定物に白色光を照射して被測定物
からの光を分光器で分光し、この分光器の出射面
にイメージセンサを配置し、電気的に波長走査を
行なうように構成しても良く、その場合は第3図
〜第5図で説明したような波長読取りのための技
術は必要ない。また、本装置における測定モード
すなわち原始データの整理、加工のし方は、実施
例で説明したものに限定されず、例えば、ある動
作周期での波長スペクトル特性と他の動作周期で
の波長スペクトル特性の差特性を演算して出力す
る等、必要な演算、制御機能を持たせることによ
り、様々なデータの整理、加工を行なうことがで
きる。 Each operating mode of this device has been described above.
In addition, in the above embodiment, the optical system (B section)
Wavelength scanning is performed by mechanically rotating and vibrating the diffraction grating using electromagnetic force.
The present invention is not limited to this, and as described above, the object to be measured is irradiated with white light, the light from the object to be measured is separated by a spectrometer, and an image sensor is attached to the output surface of the spectrometer. It may be arranged so that the wavelength can be scanned electrically, and in that case, the technique for reading the wavelength as explained in FIGS. 3 to 5 is not necessary. In addition, the measurement mode of this device, that is, how to organize and process the original data, is not limited to that described in the embodiment. By providing the necessary calculation and control functions, such as calculating and outputting the difference characteristics of , various data can be organized and processed.
以上詳細に説明したように、本発明に係る分光
光度計は、単一の光学系を用いて一度に広い波長
域の測定データを取得して記憶するとともに、そ
のデータを必要な形に整理、加工して出力するよ
うにしたので、ある波長についての吸光度の時間
経過、波長スペクトル特性、特定2波長における
吸光度の差の時間経過等、各種の測定モードを同
一の装置で単に設定内容を切換えるだけで実行す
ることができるとともに、時間経過を観察する場
合にその時間尺度を任意に選ぶことができるので
ある。すなわち、1度の測定により非常に多くの
種類の整理、加工された測定データを任意に得る
ことができるので、従来のように測定目的によつ
て各種の装置で測定を繰返す必要がなく、各種の
目的の測定を1台の本発明装置によつて行なうこ
とができる。したがつて、前述した生体組織の代
謝動態の監視に極めて適した装置となる。 As explained in detail above, the spectrophotometer according to the present invention uses a single optical system to acquire and store measurement data in a wide wavelength range at once, organizes the data in a necessary form, Since it is processed and output, you can simply switch the settings for various measurement modes such as the time course of absorbance at a certain wavelength, wavelength spectrum characteristics, and the time course of the difference in absorbance at two specific wavelengths, etc. using the same device. In addition to being able to carry out the process in a timely manner, it is also possible to arbitrarily choose the time scale when observing the passage of time. In other words, a large number of types of organized and processed measurement data can be arbitrarily obtained through a single measurement, so there is no need to repeat measurements using various devices depending on the measurement purpose, as in the past. The desired measurements can be carried out using one device of the present invention. Therefore, the device is extremely suitable for monitoring the metabolic dynamics of living tissue as described above.
更にこの発明では、記憶された測定データを読
み出して、種々の演算を行なうので、繰り返し走
査する必要はなく、このため測定の時間的効率化
を図ることができる。 Further, in the present invention, since the stored measurement data is read out and various calculations are performed, there is no need for repeated scanning, and therefore the time efficiency of measurement can be improved.
また、単一の(原始)データに対して、異なる
演算(加工)を行なうので、測定タイミングのず
れによる雑音ないし誤差が生ずる余地がなく、こ
れにより分析精度の向上を図ることができる。 Furthermore, since different calculations (processing) are performed on a single (original) data, there is no room for noise or errors due to deviations in measurement timing, thereby improving analysis accuracy.
また、サンプリング期間を長短所要な値に設定
できるので、全体的観察と部分的詳細観察とを簡
単な操作で選択的に行なうことができる。 Furthermore, since the sampling period can be set to a desired value, it is possible to selectively perform overall observation and partial detailed observation with a simple operation.
第1図は本発明に係る分光光度計の全体のブロ
ツク図、第2図は操作盤の説明図、第3図、第4
図および第5図は波長走査機構および波長読取機
構の説明図、第6図は光学系測定部の説明図、第
7図は取得データの説明図である。
A……操作部、B……光学系、C……電気回路
系、D……D−A変換器、E……記憶部、F……
演算部、G……出力部、H……制御部、7……出
力間隔指定スイツチ。
Figure 1 is an overall block diagram of the spectrophotometer according to the present invention, Figure 2 is an explanatory diagram of the operation panel, Figures 3 and 4.
5 and 5 are explanatory diagrams of a wavelength scanning mechanism and a wavelength reading mechanism, FIG. 6 is an explanatory diagram of an optical system measuring section, and FIG. 7 is an explanatory diagram of acquired data. A...Operation unit, B...Optical system, C...Electric circuit system, D...D-A converter, E...Storage unit, F...
Arithmetic unit, G...output unit, H...control unit, 7...output interval designation switch.
Claims (1)
測定光を受光し、波長走査を繰り返して各波長毎
の受光レベルに対応したアナログ信号を出力する
光学走査装置と、 この光学走査装置のアナログ信号出力をデジタ
ル信号に変換するA−D変換器と、 このA−D変換器から順次出力される各波長走
査毎の測定データを走査範囲の各波長に対応さ
せ、かつ前記波長走査の回数を区別可能に記憶す
る記憶装置と、 複数の測定内容を設定するための測定内容設定
手段と、 出力間隔を設定するための出力間隔設定スイツ
チと、 この出力間隔設定スイツチに設定された回数の
波長走査おきに上記記憶装置に記憶された測定デ
ータをサンプリングし、上記測定内容設定手段の
設定内容に基づいて必要な測定データを読み出す
とともに、必要によりその測定データに所定の演
算を施すデータ選択演算手段と、 このデータ選択演算手段によつて選択演算され
た測定データを出力するための出力装置とからな
る分光光度計。 2 上記測定内容設定手段により所定の設定を行
なうと、上記選択演算手段により、上記記憶装置
に記憶された測定データのうち指定した特定波長
についての測定データが読み出され、上記出力装
置に供給される特許請求の範囲第1項記載の分光
光度計。 3 上記測定内容設定手段により所定の設定を行
なうと、上記選択演算手段により、上記記憶装置
に記憶された各波長についての測定データが読み
出されて、波長に対応させた状態で上記出力装置
に供給され、この出力装置により波長スペクトル
特性が出力される特許請求の範囲第1項記載の分
光光度計。 4 上記測定内容設定手段により所定の設定を行
なうと、上記選択演算手段により、上記記憶装置
に記憶された測定データのうち指定した2種の特
定波長についての測定データが読み出されるとと
もに、その2波長についての測定データの差が演
算され、その演算結果が上記出力装置に供給され
る特許請求の範囲第1項記載の分光光度計。[Claims] 1. An optical scanning device that irradiates a measured object with light, receives measurement light from the measured object, repeats wavelength scanning, and outputs an analog signal corresponding to the received light level for each wavelength. and an A-D converter that converts the analog signal output of this optical scanning device into a digital signal, and the measurement data for each wavelength scan sequentially output from this A-D converter is made to correspond to each wavelength in the scanning range. , and a storage device that distinguishably stores the number of wavelength scans, a measurement content setting means for setting a plurality of measurement content, an output interval setting switch for setting an output interval, and the output interval setting switch. The measurement data stored in the storage device is sampled every set number of wavelength scans, and the necessary measurement data is read out based on the settings of the measurement content setting means. A spectrophotometer comprising a data selection calculation means for performing calculations, and an output device for outputting measurement data selectively calculated by the data selection calculation means. 2. When a predetermined setting is made by the measurement content setting means, the selection calculation means reads measurement data for a designated specific wavelength from among the measurement data stored in the storage device, and supplies the measurement data to the output device. A spectrophotometer according to claim 1. 3 When a predetermined setting is made by the measurement content setting means, the selection calculation means reads out the measurement data for each wavelength stored in the storage device and outputs it to the output device in a state corresponding to the wavelength. 2. A spectrophotometer as claimed in claim 1, in which a wavelength spectral characteristic is output by the output device. 4. When a predetermined setting is made by the measurement content setting means, the selection calculation means reads out the measurement data for two designated specific wavelengths from among the measurement data stored in the storage device, and 2. The spectrophotometer according to claim 1, wherein a difference between measurement data for 1 is calculated, and the calculation result is supplied to the output device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10966677A JPS5443085A (en) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | Spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10966677A JPS5443085A (en) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | Spectrophotometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5443085A JPS5443085A (en) | 1979-04-05 |
| JPS6115365B2 true JPS6115365B2 (en) | 1986-04-23 |
Family
ID=14516076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10966677A Granted JPS5443085A (en) | 1977-09-12 | 1977-09-12 | Spectrophotometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5443085A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6483730A (en) * | 1987-09-25 | 1989-03-29 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Hot-water supply equipment |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59159029A (en) * | 1983-02-28 | 1984-09-08 | Shimadzu Corp | Spectrophotometer |
| JPS60222730A (en) * | 1984-04-20 | 1985-11-07 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
| JPS6155282A (en) * | 1984-08-21 | 1986-03-19 | 三浦製紙株式会社 | Treatment of pulp or old paper prior to beating process |
| JPH06316885A (en) * | 1993-05-07 | 1994-11-15 | Aikawa Tekko Kk | Treating machine for office waste paper and method for treating office waste paper |
-
1977
- 1977-09-12 JP JP10966677A patent/JPS5443085A/en active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6483730A (en) * | 1987-09-25 | 1989-03-29 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Hot-water supply equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5443085A (en) | 1979-04-05 |
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