JPS6136296B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6136296B2 JPS6136296B2 JP14238878A JP14238878A JPS6136296B2 JP S6136296 B2 JPS6136296 B2 JP S6136296B2 JP 14238878 A JP14238878 A JP 14238878A JP 14238878 A JP14238878 A JP 14238878A JP S6136296 B2 JPS6136296 B2 JP S6136296B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- laser light
- light source
- tracking error
- error detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体レーザの自己結合作用を用い
るトラツキング誤差検出装置に関するもので、例
えば光方式デイスクプレーヤのピツクアツプ等に
使用することができる。
るトラツキング誤差検出装置に関するもので、例
えば光方式デイスクプレーヤのピツクアツプ等に
使用することができる。
光方式のビデオデイスクプレーヤ用ピツクアツ
プを例にして述べると、光方式は周知のように非
接触読取りが可能であることから種々の長所を持
つてはいるが、ピツクアツプ系が複雑になり、高
価なものになるという不都合があつた。この打解
策として、半導体レーザの自己結合効果を用いる
ことが提案されている。この半導体レーザの自己
結合効果は、半導体レーザにおいて光出力を光学
的にレーザ光源側にフイードバツクすると、光出
力あるいはレーザ光源の端子電圧や端子抵抗が変
化するという効果があり、これをデイスクプレー
ヤ用ピツクアツプに適用する際は、デイスクの情
報ピツトの有無により半導体レーザ光源側にフイ
ードバツクされる光が変化することを利用して情
報を読取るものである。これらの詳細については
例えば電子通信学会誌60（1977，No.１）23〜26頁
に詳述されているので、ここではこれ以上の説明
は省略する。
プを例にして述べると、光方式は周知のように非
接触読取りが可能であることから種々の長所を持
つてはいるが、ピツクアツプ系が複雑になり、高
価なものになるという不都合があつた。この打解
策として、半導体レーザの自己結合効果を用いる
ことが提案されている。この半導体レーザの自己
結合効果は、半導体レーザにおいて光出力を光学
的にレーザ光源側にフイードバツクすると、光出
力あるいはレーザ光源の端子電圧や端子抵抗が変
化するという効果があり、これをデイスクプレー
ヤ用ピツクアツプに適用する際は、デイスクの情
報ピツトの有無により半導体レーザ光源側にフイ
ードバツクされる光が変化することを利用して情
報を読取るものである。これらの詳細については
例えば電子通信学会誌60（1977，No.１）23〜26頁
に詳述されているので、ここではこれ以上の説明
は省略する。
上記の半導体レーザの自己結合効果を利用して
ビデオデイスクプレーヤ用ピツクアツプを構成す
る場合にトラツキング誤差をどのように検出する
かが問題となる。このトラツキング誤差検出とし
て、従来、回折格子で光の３スポツトを作り３分
割受光器を用いて検出する方式や、摂動方式が採
用されているが、前者方式の採用はピツクアツプ
光学系の構成上困難であり、また後者方式の採用
は誤差検出範囲が狭い、さらに摂動機構の開発が
必要、ホーカス誤差検出にも摂動方式を用いる場
合は両誤差情報の分離対策も必要、という問題点
がある。
ビデオデイスクプレーヤ用ピツクアツプを構成す
る場合にトラツキング誤差をどのように検出する
かが問題となる。このトラツキング誤差検出とし
て、従来、回折格子で光の３スポツトを作り３分
割受光器を用いて検出する方式や、摂動方式が採
用されているが、前者方式の採用はピツクアツプ
光学系の構成上困難であり、また後者方式の採用
は誤差検出範囲が狭い、さらに摂動機構の開発が
必要、ホーカス誤差検出にも摂動方式を用いる場
合は両誤差情報の分離対策も必要、という問題点
がある。
本発明の目的は、半導体レーザの自己結合効果
を用いるピツクアツプにおける簡易かつ安価なト
ラツキング誤差検出装置を提供することにある。
を用いるピツクアツプにおける簡易かつ安価なト
ラツキング誤差検出装置を提供することにある。
本発明の特徴は、上記目的を達成するために、
半導体レーザ又は半導体レーザ群による複数個の
点光源の光スポツト像をトラツク方向にずれて位
置するように配置し、全部又は１部の半導体レー
ザの自己結合効果による状態変化情報を組合せて
トラツキング誤差情報を得るものである。
半導体レーザ又は半導体レーザ群による複数個の
点光源の光スポツト像をトラツク方向にずれて位
置するように配置し、全部又は１部の半導体レー
ザの自己結合効果による状態変化情報を組合せて
トラツキング誤差情報を得るものである。
以下図面により本発明を説明する。
第１図は半導体レーザの自己結合効果の説明図
であり、横軸はフイードバツクされる光の割合を
示し、縦軸は半導体レーザの光出力を示してい
る。図のように、フイードバツク量の増加に伴な
つて光出力も増加する。フイードバツク量の増加
に伴なつてレーザ光源の端子電圧が変化する等の
現像も発生することは前記したが、本発明では繁
雑を避けるため光出力変化を例にとつて以下説明
する。
であり、横軸はフイードバツクされる光の割合を
示し、縦軸は半導体レーザの光出力を示してい
る。図のように、フイードバツク量の増加に伴な
つて光出力も増加する。フイードバツク量の増加
に伴なつてレーザ光源の端子電圧が変化する等の
現像も発生することは前記したが、本発明では繁
雑を避けるため光出力変化を例にとつて以下説明
する。
第２図は本発明の原理を説明するための光学系
統図で、１は受光器、２は半導体レーザ光源、３
及び３′はレンズ、４はビデオデイスク反射面で
ある。半導体レーザ光源２からの光はレンズ系
３，３′で集束されてビデオデイスク反射面４に
入射し、ここで反射されて再びレンズ系３，３′
を逆向きに通つて元のレーザ光源２に戻る。受光
器１はこのレーザ光源２の、自己結合効果による
変化分まで含めた光出力を受ける。
統図で、１は受光器、２は半導体レーザ光源、３
及び３′はレンズ、４はビデオデイスク反射面で
ある。半導体レーザ光源２からの光はレンズ系
３，３′で集束されてビデオデイスク反射面４に
入射し、ここで反射されて再びレンズ系３，３′
を逆向きに通つて元のレーザ光源２に戻る。受光
器１はこのレーザ光源２の、自己結合効果による
変化分まで含めた光出力を受ける。
このような構成において、いま、ビデオデイス
ク反射面における光スポツトが第３図に光スポツ
ト５として示すように反射面上のトラツク６ａ，
６ｂの丁度中間に位置するときは反射光量が最も
多くレーザ光源側にフイードバツクされ、スポツ
トが反射射面上のトラツク位置側に移動するに伴
なつてフイードバツク光量は減少するので、第４
図に示すように横軸に光スポツト位置を、縦軸に
レーザ光出力をとれば、光出力は曲線７のように
変化する。
ク反射面における光スポツトが第３図に光スポツ
ト５として示すように反射面上のトラツク６ａ，
６ｂの丁度中間に位置するときは反射光量が最も
多くレーザ光源側にフイードバツクされ、スポツ
トが反射射面上のトラツク位置側に移動するに伴
なつてフイードバツク光量は減少するので、第４
図に示すように横軸に光スポツト位置を、縦軸に
レーザ光出力をとれば、光出力は曲線７のように
変化する。
従つて、いま、２個一対のトラツキング誤差検
出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂ（第２図では図
示省略）を、記録情報読取用半導体レーザ光源２
と共に光軸にほぼ直交する平面上にあつて、かつ
レーザ光源２を中央に挾んで僅かにずれた位置に
２つのレーザ光源２ａ，２ｂが配置されるように
することにより、これらの２つのレーザ光源２
ａ，２ｂからの光スポツト５ａ，５ｂが第５図の
ようにトラツクを挾むように（トラツク直交方向
に少しずらして）位置せしめると、２つの誤差検
出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂのそれぞれの光
出力変化は第４図の曲線７ａ，７ｂのようにな
り、この２つの曲線７ａ，７ｂの光出力の差を求
めることで光スポツト群とトラツクとの位置関係
を知ることができる。
出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂ（第２図では図
示省略）を、記録情報読取用半導体レーザ光源２
と共に光軸にほぼ直交する平面上にあつて、かつ
レーザ光源２を中央に挾んで僅かにずれた位置に
２つのレーザ光源２ａ，２ｂが配置されるように
することにより、これらの２つのレーザ光源２
ａ，２ｂからの光スポツト５ａ，５ｂが第５図の
ようにトラツクを挾むように（トラツク直交方向
に少しずらして）位置せしめると、２つの誤差検
出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂのそれぞれの光
出力変化は第４図の曲線７ａ，７ｂのようにな
り、この２つの曲線７ａ，７ｂの光出力の差を求
めることで光スポツト群とトラツクとの位置関係
を知ることができる。
第６図は本発明の一実施例を説明するための光
学系統図であり、１及び２はそれぞれ記録情報読
取用の受光器及び半導体レーザ光源、３及び３′
はレンズ、４はビデオデイスク反射面、２ａ及び
２ｂは一対の記録情報読取用の半導体レーザ光
源、１ａ及び１ｂはそれぞれレーザ光源２ａ及び
２ｂの光出力を受ける受光器、８はトラツキング
誤差信号を演算する差動増幅器、９はトラツキン
グ誤差出力端子である。半導体レーザ光源２，２
ａ，２ｂは、第５図のように、光源２からの光ス
ポツト５が丁度トラツク上に位置するとき、光源
２ａ，２ｂからの光スポツト５ａ，５ｂがトラツ
クを挾んで位置するように、光軸にほぼ直交する
平面上に各光源の発光面が乗るように、配置され
る。
学系統図であり、１及び２はそれぞれ記録情報読
取用の受光器及び半導体レーザ光源、３及び３′
はレンズ、４はビデオデイスク反射面、２ａ及び
２ｂは一対の記録情報読取用の半導体レーザ光
源、１ａ及び１ｂはそれぞれレーザ光源２ａ及び
２ｂの光出力を受ける受光器、８はトラツキング
誤差信号を演算する差動増幅器、９はトラツキン
グ誤差出力端子である。半導体レーザ光源２，２
ａ，２ｂは、第５図のように、光源２からの光ス
ポツト５が丁度トラツク上に位置するとき、光源
２ａ，２ｂからの光スポツト５ａ，５ｂがトラツ
クを挾んで位置するように、光軸にほぼ直交する
平面上に各光源の発光面が乗るように、配置され
る。
以上のような構成であるから、トラツキング誤
差検出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂからの光出
力は光スポツト５の位置変化に応じて第４図の曲
線７ａ，７ｂのように変化し、差動増幅器８にて
曲線７ａ，７ｂの差を求めることで、出力端子９
から第７図に示す曲線のようなトラツキング誤差
信号を得ることができる。
差検出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂからの光出
力は光スポツト５の位置変化に応じて第４図の曲
線７ａ，７ｂのように変化し、差動増幅器８にて
曲線７ａ，７ｂの差を求めることで、出力端子９
から第７図に示す曲線のようなトラツキング誤差
信号を得ることができる。
第８図は本発明の他の実施例を示す半導体レー
ザ光源発光面の正面図であり、これはトラツキン
グ誤差検出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂとして
記録情報読取用半導体レーザ光源２よりも大きな
長方形の発光面を持つものを用いる場合であり、
このようにすれば、ビデオデイスク反射面４のト
ラツクのピツト構造によるトラツキング誤差検出
動作の妨害を軽減しうるようになり、また、これ
に伴なつてトラツキング誤差検出用の半導体レー
ザ光源２ａ，２ｂの各発光面積が増大するため、
その放射光束の拡がり角度が狭められる結果、レ
ンズ等による光のけられ損失が減少し、従つてフ
イードバツク光量比が増大し、半導体レーザの自
己結合効果を発生させやすくするという利点があ
る。
ザ光源発光面の正面図であり、これはトラツキン
グ誤差検出用半導体レーザ光源２ａ，２ｂとして
記録情報読取用半導体レーザ光源２よりも大きな
長方形の発光面を持つものを用いる場合であり、
このようにすれば、ビデオデイスク反射面４のト
ラツクのピツト構造によるトラツキング誤差検出
動作の妨害を軽減しうるようになり、また、これ
に伴なつてトラツキング誤差検出用の半導体レー
ザ光源２ａ，２ｂの各発光面積が増大するため、
その放射光束の拡がり角度が狭められる結果、レ
ンズ等による光のけられ損失が減少し、従つてフ
イードバツク光量比が増大し、半導体レーザの自
己結合効果を発生させやすくするという利点があ
る。
以上説明したように、本発明によれば、自己結
合効果を用いた半導体レーザピツクアツプにおけ
るトラツキング誤差検出が簡易かつ安価な構成で
可能となり、ピツクアツプの構成が容易となる。
合効果を用いた半導体レーザピツクアツプにおけ
るトラツキング誤差検出が簡易かつ安価な構成で
可能となり、ピツクアツプの構成が容易となる。
第１図は半導体レーザの自己結合効果の説明の
ための特性図、第２図〜第５図は本発明の原理説
明図で第２図は光学系統図、第３図はビデオデイ
スク反射面の要部面図、第４図は光出力の特性
図、第５図は反射面上での光スポツトの位置関係
を示す要部平面図、第６図は本発明の一実施例の
光学系統図、第７図は第６図による誤差検出信号
の一例を示す特性図、第８図は本発明の他の実施
例を示す正面図である。 符号の説明、１，１ａ，１ｂ…受光器、２…記
録情報読出用半導体レーザ光源、２ａ，２ｂ…ト
ラツキング誤差検出用半導体レーザ光源、３，
３′…レンズ、４…ビデオデイスク反射面、５，
５ａ，５ｂ…光スポツト、６ａ，６ｂ…トラツ
ク、８…差動増幅器、９…出力端子。
ための特性図、第２図〜第５図は本発明の原理説
明図で第２図は光学系統図、第３図はビデオデイ
スク反射面の要部面図、第４図は光出力の特性
図、第５図は反射面上での光スポツトの位置関係
を示す要部平面図、第６図は本発明の一実施例の
光学系統図、第７図は第６図による誤差検出信号
の一例を示す特性図、第８図は本発明の他の実施
例を示す正面図である。 符号の説明、１，１ａ，１ｂ…受光器、２…記
録情報読出用半導体レーザ光源、２ａ，２ｂ…ト
ラツキング誤差検出用半導体レーザ光源、３，
３′…レンズ、４…ビデオデイスク反射面、５，
５ａ，５ｂ…光スポツト、６ａ，６ｂ…トラツ
ク、８…差動増幅器、９…出力端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数個の半導体レーザ光源に対応する複数個
の光スポツト像を実効的に他部分と異なる反射率
をもつトラツク上に、該ポツト像の少なくとも１
部をトラツクと直交方向にずらして位置せしめ、
該半導体レーザ群の全部又は一部半導体レーザの
自己結合効果による状態変化を検知することによ
り該レーザ群からの少なくとも１ケの光スポツト
像と該トラツクとの相互位置関係を検出すること
を特徴とするトラツキング誤差検出装置。 ２ 前記トラツキング誤差検出用半導体レーザ光
源の発光面形状を前記記録情報読取用半導体レー
ザ光源の発光面形状と異ならしめることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載のトラツキング誤
差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14238878A JPS5570942A (en) | 1978-11-20 | 1978-11-20 | Tracking error detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14238878A JPS5570942A (en) | 1978-11-20 | 1978-11-20 | Tracking error detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5570942A JPS5570942A (en) | 1980-05-28 |
| JPS6136296B2 true JPS6136296B2 (ja) | 1986-08-18 |
Family
ID=15314195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14238878A Granted JPS5570942A (en) | 1978-11-20 | 1978-11-20 | Tracking error detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5570942A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6445859A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-20 | Hirano Kinzoku Co Ltd | Tenter type hot air treatment apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4759007A (en) * | 1981-12-10 | 1988-07-19 | Discovision Associates | Storage medium track pitch detector |
-
1978
- 1978-11-20 JP JP14238878A patent/JPS5570942A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6445859A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-20 | Hirano Kinzoku Co Ltd | Tenter type hot air treatment apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5570942A (en) | 1980-05-28 |
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