JPS6150243B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はヒステリシス特性を有する被測定回路
のヒステリシスレベルを測定するヒステリシスレ
ベル測定回路に関するものである。

従来のこの種の回路の一例を第１図に示し説明
すると、図において、１はプログラムによる電圧
の発生源であるプログラム電源、２はプログラム
電源１のプログラム値を出力状態により＋α、−
αする加減命令回路、３はプログラム電源１に対
し初期値を設定する基準設定回路、４はプログラ
ム電源１の値を記憶する記憶回路、５は記憶回路
４の値を数種計算（主に減算）する演算回路、６
は演算回路５の値を判定するGO／NG判定回路、
７はヒステリシス特性を有する被測定回路（デバ
イス）である。

つぎにこの測定回路の動作について説明する。
まず、基準設定回路３よりプログラム電源１に初
期値のデータが送られる。そして、プログラム電
源１では、このデータをアナログ電圧に変換し、
デバイス７に供給する。つぎに、デバイス７の出
力の変化がなければ、加減命令回路２よりプログ
ラム電源１に＋αの増加命令が送られる。これに
よりプログラム電源１は、＋α増加させたアナロ
グ電圧をデバイス７に供給する。そして、デバイ
ス７の出力の変化があるまで、これを繰返す。

つぎに、出力の変化がおこると、そのときのプ
ログラム電源１の出力値を記憶回路４に記憶す
る。（MEMO1）、ここで、この記憶命令は加減命
令回路２より発生する。また、この加減命令回路
２からプログラム電源１に送られる命令が＋αか
ら−αに変更される。そして、デバイス７の出力
の変化があるまで前述の＋αを−αに変更したも
のを繰り返す。

しかして、出力の変化がおこると、そのときの
プログラム電源１の出力電圧値を再び記憶回路４
に記憶する（MEMO2）。そして、演算回路５で
MEMO1−MEMO2の減算を行ない、ヒステリシ
ス値を出力する。そして、そのヒステリシス値を
判定する場合には、GO／NG判定回路６で行な
う。第２図はその入出力パターン例を示す説明図
で、ΔＶはヒステリシス値である。

しかしながら、このような構成の回路において
は、附属回路が複雑になり易く、故障および誤動
作がおこりやすいという欠点があつた。また、入
力を供給した後、出力をみなければならなかつた
ため時間がかかり、ノイズ等にも弱いという欠点
を有している。さらに、加減命令回路により与え
られる＋αの値が大きければ、誤差が大きく、ま
た、小さくすれば無用に時間がかかるという欠点
があつた。

本発明は以上の点に鑑み、このような欠点を除
去すべくなされたもので、その目的は回路を簡略
化すると共に測定の安定化を図り得るヒステリシ
スレベル測定回路を供給することにある。

このような目的を達成するために、本発明は、
吹出形定電流源と、吸込形定電流源と、被測定回
路の出力により制御され最初に吹出形定電流源の
出力を選択し被測定回路の出力が増加方向へ変化
したとき吸込形定電流源を選択し被測定回路の出
力が減少方向へ変化したときに吹出形定電流源の
出力を再度選択しこれらの選択動作を反復する出
力切換回路と、この出力切換回路を介する吹出形
定電流源からの定電流により充電されかつ吸込形
定電流源へ通ずる定電流により放電するコンデン
サを備えこのコンデンサの端子電圧を被測定回路
の入力へ与える時定数回路と、被測定回路のヒス
テリシスレベルによつて定まる出力変化周波数を
計測する周波数カウンタとを設け、ヒステリシス
値を周波数に変換して測定するようにしたもの
で、以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に
説明する。

第３図は本発明によるヒステリシスレベル測定
回路の一実施例を示すブロツク図である。第３図
において第１図と同一符号のものは相当部分を示
し、８はデバイス７に電圧を供給するバツフア電
源、９は三角波を発生するためのコンデンサＣお
よび抵抗Ｒを備える時定数回路、１０は出力状態
により吸込形定電流源１１または吹出形定電流源
１２を時定数回路９に接続する出力切換回路、１
３はデバイス７からのヒステリシスレベルによつ
て定まる出力outの周波数を計数する周波数カウ
ンタで、この計数値がヒステリシス値となる。

第４図は第３図の動作説明に供する入出力パタ
ーン例を示す説明図で、AAは入力例を示し、
BBは入力例を示す。CCはAAに対する出力を
示したものであり、DDはBBに対する出力を示し
たものである。

つぎに第３図に示す実施例の動作を第４図を参
照して説明する。

第３図において、出力切換回路１０は、最初に
吹出形定電流源１２の出力を選択しており、これ
からの定電流を時定数回路９へ与えるため、抵抗
ＲとコンデンサＣとによる時定数に応じてコンデ
ンサＣが充電され、コンデンサＣの端子電圧が次
第に上昇し、この端子電圧が直流増幅器等を用い
たバツフア電源８を介し、デバイス７の入力IN
へ与えられる。

入力INの電圧が第４図イのとおり上昇し、ロ
において出力CCが増加方向へ変化すると、これ
に応じて出力切換回路１０が今度は吸込形定電流
源１１を選択するため、これへ通ずる定電流によ
りコンデンサＣや充電々荷の放電を開始し、これ
の端子電圧が次第に低下し、入力INの電圧もハ
のとおり低下する。

入力INの電圧が低下しニへ達すると、出力CC
が減少方向へ変化するため、これに応じて出力切
換回路１０が再度吹出形定電流源１２をを選択す
るものとなり、これによつてコンデンサＣの充電
が再開され、これの端子電圧が上昇を開始し、入
力INの電圧もホのとおり上昇する。

したがつて、出力OUTの変化に応じて出力切
換回路１０が以上の動作を反復するため、入力
INの電圧は三角波状となり、これと対応して出
力OUTの変化はパルス状となることにより、出
力OUTの変化周波数を周波数カウンタ１３によ
り計測し、これによつて求めた周波数から周期
１／を求めれば、第４図により明らかなとおり
１／のほゞ1/2がヒステリシス値ΔＶとなる。

なお、この演算はGO，NG判定回路６により行
なえばよく、デバイス７の特性に応じ、入力BB
および出力DDのとおりになつた場合も同様とな
る。すなわち、正確には ΔＶ＝１／２α１／ となる。ここで、αは時定数回路９で決まる値、
は周波数である。

このようにして、ヒステリシス特性を持つ被測
定物のヒステリシスレベルを測定することができ
る。

以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、一回測定が多回測定になるため、精度は高く
また、ノイズ等にも強くなり、さらに、回路構成
が簡素化されるので経済的に有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のヒステリシスレベル測定回路の
一例を示すブロツク図、第２図は第１図の動作説
明に供する入出力パターン例を示す説明図、第３
図は本発明によるヒステリシスレベル測定回路の
一実施例を示すブロツク図、第４図は第３図の動
作説明に供する入出力パターン例を示す説明図で
ある。 ７……デバイス、８……バツフア電源、９……
時定数回路、１０……出力切換回路、１１……吸
込形定電流源、１２……吹出形定電流源、１３…
…周波数カウンタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ ヒステリシス特性を有する被測定回路の前記
   ヒステリシスレベルを測定する回路において、吹
   出形定電流源と、吸込形定電流源と、前記被測定
   回路の出力により制御され最初に前記吹出形定電
   流源の出力を選択し前記被測定回路の出力が増加
   方向へ変化したとき前記吸込形定電流源を選択し
   前記被測定回路の出力が減少方向へ変化したとき
   に前記吹出形定電流源の出力を再度選択しこれら
   の選択動作を反復する出力切換回路と、該出力切
   換回路を介する前記吹出形定流電源からの定電流
   により充電されかつ前記吸込形定電流源へ通ずる
   定電流により放電するコンデンサを備え該コンデ
   ンサの端子電圧を前記被測定回路の入力へ与える
   時定数回路と、前記被測定回路のヒステリシスレ
   ベルによつて定まる出力変化周波数を計測する周
   波数カウンタとを設けたことを特徴とするヒステ
   リシスレベル測定回路。