JPS6156653B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6156653B2 JPS6156653B2 JP1569977A JP1569977A JPS6156653B2 JP S6156653 B2 JPS6156653 B2 JP S6156653B2 JP 1569977 A JP1569977 A JP 1569977A JP 1569977 A JP1569977 A JP 1569977A JP S6156653 B2 JPS6156653 B2 JP S6156653B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test
- line
- trunk
- predetermined value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 53
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子交換機におけるプログラム実行の
正常性を金物によつて確認する自動発呼試験装置
に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an automatic call testing device that uses metal objects to confirm the normality of program execution in an electronic exchange.
一般に交換機による交換処理が正常に行なわれ
ていることを確認するには、加入者を擬似した試
験回路を交換機のラインリンクネツトワーク側に
収容し、発呼状態にさせてトランクに接続された
か否かを判定し、トランクとの接続が確認できれ
ば交換処理は正常に行なわれていると判断してい
る。この従来から用いられている試験方法を第１
図に示す。第１図において試験回路TESTのＡ、
Ｂ端子はラインリンクネツトワーク側に収容す
る。ただしＡ端子はＡ線とＢ端子はＢ線とつなぐ
ものとし、ライン回路におけるＢ線は切断してい
るものとする。第１図の試験回路TESTにおいて
(1)st接点を閉じるとＡ線地気となりＬ（ライン）
リレーが動作して発呼の状態となる。また(2)トラ
ンクに接続されるとトランクからの地気を受けて
Ｍリレーが動作し、このＭリレーの接点を鑑視す
ることにより、交換処理の正常性を確認できるも
のである。 Generally, in order to confirm that switching processing by an exchange is being performed normally, a test circuit that simulates a subscriber is housed on the line link network side of the exchange, and a test circuit is placed in the line link network side of the exchange, and the test circuit is placed in a calling state to check whether it is connected to the trunk. If the connection with the trunk can be confirmed, it is determined that the exchange process is being performed normally. This conventionally used test method is the first
As shown in the figure. In Figure 1, A of the test circuit TEST,
The B terminal is housed on the line link network side. However, it is assumed that the A terminal is connected to the A line and the B terminal is connected to the B line, and the B line in the line circuit is disconnected. In the test circuit TEST shown in Figure 1
(1) When the st contact is closed, the A line is connected and the L (line)
The relay operates and becomes ready to make a call. (2) When connected to a trunk, the M relay operates in response to air from the trunk, and by observing the contacts of this M relay, the normality of the exchange process can be confirmed.
前記説明の通り従来の試験回路は、試験端子と
接続したライン回路の改造が必要となり、また試
験端子からトランクまで接続路の混線、地気障害
あるいは断線等に対する対策を講じていないため
に試験結果を誤まる可能性がある。 As explained above, conventional test circuits require modification of the line circuit connected to the test terminal, and also do not take measures to prevent crosstalk, earth disturbances, or disconnections in the connecting path from the test terminal to the trunk, resulting in poor test results. may be mistaken.
本発明は、これら従来の欠点を除去し、何ら特
殊な接続方法をとることなく、また試験精度を上
げて異常検出の信頼度を高める自動発呼試験装置
を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an automatic calling test device that eliminates these conventional drawbacks, increases test accuracy, and improves the reliability of abnormality detection without using any special connection method.
即ち、本発明においては一定時間毎に起動され
て発呼動作を行ないトランクに接続されたことを
確認する複数個の試験回路と該回路の発呼動作順
位を制御する順序回路、およびその前に試験をし
た試験回路による試験結果をチエツクする異常検
出回路を設けたことを特徴としている。 That is, in the present invention, a plurality of test circuits are activated at fixed time intervals to perform a calling operation and confirm that the circuits are connected to the trunk, a sequential circuit that controls the order of the calling operations of the circuits, and a sequential circuit before the testing circuits. It is characterized by the provision of an abnormality detection circuit that checks the test results of the tested test circuit.
以下本発明の一実施例を説明する。第２図は自
動発呼試験装置のブロツク図である。第２図の起
動条件設定回路はある一定周期毎に起動し一定の
パルス及び試験回路の発呼及び復旧に必要なタイ
ミングを作成し、順序回路を制御する。順序回路
はある順序で試験回路を発呼させる。発呼による
結果を試験結果チエツク回路でチエツクし、トラ
ンクとの接続が確認された場合は、起動条件設定
回路を停止させてこの周期における発呼試験を終
了する。トランクとの接続が確認されないとき、
順序回路は順次試験回路を起動する。すべての試
験回路を発呼させてもトランクとの接続が確認で
きないとき、試験結果チエツク回路では異常と判
定する。このとき本装置外部に有する緊急処理装
置を起動することによつて交換処理の正常化をは
かることができる。 An embodiment of the present invention will be described below. FIG. 2 is a block diagram of the automatic call testing device. The activation condition setting circuit shown in FIG. 2 is activated at certain regular intervals to create a certain pulse and the timing necessary for calling and restoring the test circuit, thereby controlling the sequential circuit. A sequential circuit causes test circuits to call in a certain order. The test result check circuit checks the result of the call, and if connection with the trunk is confirmed, the activation condition setting circuit is stopped and the call test in this cycle is ended. When the connection with the trunk is not confirmed,
The sequential circuit sequentially activates the test circuit. If connection with the trunk cannot be confirmed even after all test circuits are activated, the test result check circuit determines that there is an abnormality. At this time, the exchange process can be normalized by activating an emergency processing device provided outside the device.
次に本発明の試験回路TESTについて、第３図
を参照しより詳しく説明する。 Next, the test circuit TEST of the present invention will be explained in more detail with reference to FIG.
第３図においてstメーク接点を閉じるとライン
回路に接続される端子Ａ−Ｂ間がＴリレー及び抵
抗Ｒ４の並列回路を介してつながる。(A)、(B)端子
はライン回路に接続されているのでラインリレー
（図示省略）が動作する。なおここにおいて、ラ
イン回路に端子Ａ−Ｂが接続されたままであつて
も、ライン回路のラインリレーに流れる電流の値
が、ラインリレーの感動電流値よりもはるかに下
まわる値になるように、抵抗R1，R2，R3の抵抗
値は設定してあるので、stメーク接点が閉じなけ
ればライン回路のラインリレーは動作しない。こ
の場合において、抵抗R1，R2，R3の抵抗値はそ
れぞれ50KΩ程度の値に設定してある。またこの
試験回路TESTのＴリレーはマージナルリレーで
あつて、ライン回路の電流では動作せず、トラン
クからの電流によつてのみ動作するように設定し
てある（一般に、電話機に接続されるトランクの
リレーは、ダイヤルインパルス中継特性を良好に
保つために、その抵抗値を小さく設計しておくの
が普通であり、その値はライン回路のラインリレ
ーの抵抗値の大凡1/2〜1/3程度である。）したが
つて、stメーク接点を閉じて発呼させ、Ｔリレー
が動作すればトランクに接続したものと判定でき
る。また、試験回路TESTにおいてトランジスタ
TR２は、本装置が起動中は、起動回路のst及び
ltrメーク接点が閉じていて(C)点の電位はOVにな
つているのでOFF状態である。ただし試験が終
了すると起動回路のstメーク接点はすぐに復旧す
るが、起動回路のltrメーク接点はstの接点の復旧
後所定のタイミングで復旧するようにしてある。
すなわち、試験回路TESTのst接点が復旧するこ
とによつてトランクへのループ回路は開放され、
トランクは復旧する。トランクが復旧することに
よつてラインリンクネツトワークの保持回路は開
放され、ラインリンクネツトワークは復旧し、同
時にライン回路のカツトオフリレーも復旧する。
このカツトオフリレーの復旧後試験回路TESTは
再びライン回路のラインリレーに接続される。こ
の試験回路TESTがライン回路のラインリレーに
再接続された後でなければ、ltrメーク接点は復
旧しないようにタイミングがとつてある。第３図
のトランジスタTR１、ツエナーダイオードZD
１、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３より成る回路は、この
試験回路TESTが平常の状態（すなわち、起動回
路のstメーク接点およびltrメーク接点がともに復
旧している状態）においては、(B)端子がライン回
路のＢ線のアースとつながつた場合は(C)点の電位
をOV近くにしてトランジスタTR１をオンにし、
トランク内抵抗以上の抵抗とつながつた場合又は
(A)端子と接続したＡ線に断線がある場合は(C)点の
電位をある一定の電位になるように設定してあ
る。その電位においてはツエナーダイオードZD
１，ZD２によりトランジスタTR２がON状態に
なるように設定してある。したがてＡ線、Ｂ線の
断線及びトランクと接続して復旧できない場合
は、トランジスタTR２がONしＦリレーを駆動す
る。Ｆリレーはｆメーク接点により自己保持し、
試験回路はｆブレーク接点により発呼できないよ
うにする。ただしＦリレーは試験終了時起動回路
のstメーク接点が復旧し、これより遅いタイミン
グで起動回路のltrブレーク接点が閉じるので地
気がしや断されＦリレーは自己保持より復旧す
る。これにより試験回路が永久に閉塞されるのを
防いでいる。 In FIG. 3, when the st make contact is closed, terminals A and B connected to the line circuit are connected through a parallel circuit of a T relay and a resistor R4. Since terminals (A) and (B) are connected to the line circuit, a line relay (not shown) operates. In this case, even if terminals A and B remain connected to the line circuit, the value of the current flowing through the line relay of the line circuit is set to a value far below the current value of the line relay. Since the resistance values of resistors R 1 , R 2 , and R 3 are set, the line relay in the line circuit will not operate unless the st make contact closes. In this case, the resistance values of resistors R 1 , R 2 , and R 3 are each set to a value of about 50KΩ. Also, the T relay in this test circuit TEST is a marginal relay, and is set so that it does not operate on line circuit current, but only on trunk current (generally, it is set to operate only on trunk current that is connected to the telephone). In order to maintain good dial impulse relay characteristics, relays are normally designed with a small resistance value, and the value is approximately 1/2 to 1/3 of the resistance value of a line relay in a line circuit. ) Therefore, if the st make contact is closed and a call is made, and the T relay operates, it can be determined that the trunk is connected. In addition, in the test circuit TEST, the transistor
TR2 is the start circuit's st and
Since the ltr make contact is closed and the potential at point (C) is OV, it is in the OFF state. However, when the test is finished, the ST make contact of the startup circuit will be restored immediately, but the LTR make contact of the startup circuit will be restored at a predetermined timing after the ST contact is restored.
In other words, when the st contact of the test circuit TEST is restored, the loop circuit to the trunk is opened.
The trunk will be restored. When the trunk is restored, the holding circuit of the line link network is opened, the line link network is restored, and at the same time, the cutoff relay of the line circuit is also restored.
After the cut-off relay is restored, the test circuit TEST is again connected to the line relay of the line circuit. The timing is such that the LTR make contact is not restored until after this test circuit TEST has been reconnected to the line relay of the line circuit. Transistor TR1 and Zener diode ZD in Figure 3
1. In the circuit consisting of resistors R1, R2, and R3, when this test circuit TEST is in a normal state (that is, when both the st make contact and the ltr make contact of the starting circuit have been restored), the (B) terminal is When connected to the ground of line B line of the line circuit, set the potential at point (C) close to OV and turn on transistor TR1.
If it is connected to a resistance higher than the resistance inside the trunk, or
If there is a break in the A wire connected to terminal (A), the potential at point (C) is set to a certain level. At that potential, the Zener diode ZD
1, ZD2 is set so that the transistor TR2 is turned on. Therefore, if the A and B lines are disconnected or connected to the trunk and cannot be restored, transistor TR2 turns on and drives the F relay. The F relay is self-held by the f make contact.
The test circuit is disabled from making calls by means of the f-break contact. However, in the F relay, the ST make contact of the starting circuit recovers at the end of the test, and the LTR break contact of the starting circuit closes at a later timing, so the air is quickly cut off and the F relay recovers from self-holding. This prevents the test circuit from becoming permanently blocked.
以上述べたように本発明の回路は試験回路の端
子をライン回路に何ら改造することなく接続で
き、従来のものより異常検出の精度及び信頼性に
おいて優れている。 As described above, the circuit of the present invention allows the terminals of the test circuit to be connected to the line circuit without any modification, and is superior to the conventional circuit in terms of accuracy and reliability in abnormality detection.
第１図は従来の試験回路の動作原理図、第２図
は本発明の自動発呼装置のブロツク図、第３図は
第２図に示す試験回路の詳細回路図である。
FIG. 1 is a diagram of the operating principle of a conventional test circuit, FIG. 2 is a block diagram of an automatic calling device of the present invention, and FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the test circuit shown in FIG.
Claims (1)
動発呼試験装置において、トランジスタのエミツ
タおよびベースにそれぞれ接続された第１および
第２の試験端子にそれぞれ回線から加えられる２
つの電位の電位差の値が所定の値をこえるときは
このトランジスタがオンし所定の値をこえないと
きはこのトランジスタがオフする電位検出手段に
より動作を制御される回路であつてこのトランジ
スタがオフになることによりこれら第１および第
２の試験端子に接続された前記回線が断線状態を
含む異常状態にあることを検出する回線異常検出
回路と、前記回線からこれら第１および第２の試
験端子を介して電流が環流する回路であつてこの
回路を環流する環流電流の値が所定の値をこえる
のを検出する電流検出手段と前記回線異常検出回
路の動作によりこの環流電流を切断する電流切断
手段とを設けこの環流電流の値が所定の値をこえ
ることによりこれら第１および第２の試験端子が
前記回線を介してトランクに接続されたことを確
認するトランク接続確認回路とを有する複数の試
験回路を備え、一定時間ごとに起動されて発呼動
作を行なう複数の試験回路のうちすくなくとも１
つの試験回路が回線異常を検出することなくトラ
ンク接続を確認することにより電子交換機の交換
処理の正常性を確認することを特徴とする自動発
呼試験装置。1. In an automatic calling test device that confirms the normality of the switching process of an electronic exchange, 2.
When the potential difference between two potentials exceeds a predetermined value, this transistor is turned on, and when it does not exceed a predetermined value, this transistor is turned off. a line abnormality detection circuit for detecting that the line connected to the first and second test terminals is in an abnormal state including a disconnection state; A current detecting means for detecting when the value of the circulating current circulating through the circuit exceeds a predetermined value, and a current cutting means for cutting off the circulating current by the operation of the line abnormality detection circuit. and a trunk connection confirmation circuit for confirming that the first and second test terminals are connected to the trunk via the line when the value of the circulating current exceeds a predetermined value. At least one of a plurality of test circuits that are equipped with a circuit and are activated at regular intervals to perform a calling operation.
An automatic call origination test device characterized in that two test circuits confirm the normality of switching processing of an electronic exchange by confirming trunk connections without detecting line abnormalities.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1569977A JPS53100711A (en) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | Automatic call test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1569977A JPS53100711A (en) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | Automatic call test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53100711A JPS53100711A (en) | 1978-09-02 |
| JPS6156653B2 true JPS6156653B2 (en) | 1986-12-03 |
Family
ID=11896007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1569977A Granted JPS53100711A (en) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | Automatic call test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS53100711A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58108853A (en) * | 1981-12-23 | 1983-06-29 | Fujitsu Ltd | Testing device for electronic exchange program |
-
1977
- 1977-02-15 JP JP1569977A patent/JPS53100711A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53100711A (en) | 1978-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0329347B2 (en) | ||
| JPS6156653B2 (en) | ||
| US5912957A (en) | Technique for reconnecting office line to key telephone system after power failure | |
| JPS59111452A (en) | Subscriber line confirming and calling tester | |
| US3591727A (en) | Automatic rerouting system for telephone subscriber station | |
| CA1079429A (en) | Dial pulse key telephone intercom system | |
| JPS6124359A (en) | Trunk line supervisory system in remote supervisory equipment | |
| JPH0330347B2 (en) | ||
| JPS6039970A (en) | Polarity inversion detecting circuit | |
| JPS647532B2 (en) | ||
| JPS6019699B2 (en) | automatic calling circuit | |
| JPS62208746A (en) | Mis-changeover preventing system | |
| JPH0342790Y2 (en) | ||
| JPS6014396A (en) | Communicator | |
| JPS61278261A (en) | Emergency informing device | |
| DE2938982A1 (en) | Circuit for sequential monitoring of subscriber terminal equipment - controlled by microprocessor and having resistors in it to provide voltage measuring points to which monitoring equipment connects | |
| US4169221A (en) | Method and apparatus for testing a subscriber line group marker of a telephone central office cross bar switching device | |
| JPS59168798A (en) | Method of detecting loop state of subscriber connecting line | |
| JPH0449754A (en) | Exchange monitoring circuit | |
| JPH03174855A (en) | Dial pulse signal dialing control system | |
| JPH0426587B2 (en) | ||
| JPS61224553A (en) | Message transmission system in emergency informer | |
| JPS59204358A (en) | Abnormality monitoring system | |
| JPS5854704B2 (en) | Network pseudo fault detection method for electronic exchanges | |
| JPS5994954A (en) | Automatic test system of subscriber telephone set |