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JPS6215319B2 - - Google Patents
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JPS6215319B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6215319B2
JPS6215319B2 JP52066557A JP6655777A JPS6215319B2 JP S6215319 B2 JPS6215319 B2 JP S6215319B2 JP 52066557 A JP52066557 A JP 52066557A JP 6655777 A JP6655777 A JP 6655777A JP S6215319 B2 JPS6215319 B2 JP S6215319B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weight
solder
silver
solder alloy
present
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP52066557A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS541254A (en
Inventor
Narutoshi Taguchi
Rikya Kato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Senju Metal Industry Co Ltd
Original Assignee
Senju Metal Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Senju Metal Industry Co Ltd filed Critical Senju Metal Industry Co Ltd
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Publication of JPS541254A publication Critical patent/JPS541254A/ja
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、Bi20〜35重量%、Sn1〜10重量%、
Sb2〜9重量%、Ag0.1〜1.5重量%、残部Pbより
なるはんだ合金、特に、セラミツクコンデンサー
またはアルミナ基板の銀電極にリード線をはんだ
付けするためのはんだ合金にかかるものである。 セラミツクコンデンサーあるいはアルミナ基板
に電極をとる場合、所定箇所に、通常、銀をやき
つけて電極とし、これにリード線をはんだ付けす
るのであるが、このリード線をはんだ付けする
際、そのはんだ付け方法が鏝付けであろうと、浸
漬付けであろうと、はんだ合金中にAgが拡散溶
解してしまう。このようなAgの拡散溶解は、は
んだ付け温度とその時間の因子に左右されるが、
拡散溶解がさらに進行すれば、セラミツクコンデ
ンサー等の地が露出したり、はんだ付け接着強度
が非常に劣化する等の問題が生ずる。このような
現象は通常はんだの主成分として50重量%以上含
まれるSnが非常にAgと親和力が強いためであ
り、このAgの溶解度の大きい現象を一般に「銀
食われ」と称している。 従来、この銀食われ防止法としてSn−Pb系は
んだ合金にあらかじめ、2〜4重量%のAgを含
有せしめたいわゆる銀入りはんだと称せられるは
んだ合金が使用されている。このはんだ合金に
は、あらかじめAgが含有されているので溶融し
ているはんだ合金にAgが拡散溶解して行く速度
は遅く、被はんだ付け面からのAgの溶解は少な
くてすむが、それはあくまでもある一定時間以内
のことであつて、それ以上のはんだ付け時間を要
すれば銀の拡散にともなつて銀食われは進行す
る。その進行の傾向ははんだ付け温度が上昇する
ほど著しくなる。 Sn50%−Pbはんだ合金は250℃ではAgは約3.5
%溶解するがこれがわずか50℃高い300℃になる
と、Agの溶解量は約6%に至る。故に、少々の
温度変化に対応できるためには、Sn−Pbはんだ
ではAgを6%近く、あらかじめ含有せしめてお
かなくてはならない。 しかし、Agは非常に高価で6%以上も含有せ
しめることははんだのコストを非常に高くするば
かりでなく、溶融温度が上昇する欠点を生ずる。 かくして、上記の理由から最近、銀食われの少
ないはんだ合金としてSn40〜60%、Cd5〜8.5
%、Ag0.1〜1.5%、Pb残部から成る合金(特公
昭49−23986号)やSn−Pb−Cd三元合金よりな
るはんだ合金(特公昭49−21028号)が提案され
た。これら合金は銀食われは非常に少ないので、
はんだ合金の特性としては十分満足できるもので
あるが、Cdが含有されているのが難点である。
すなわち、Cdは最近、特定化学物質に制定さ
れ、その有害性のため、その取扱いや規制が強化
されており、Cd入りはんだは使用できなくなる
傾向にある。さらに、Cd入りSn−Pb合金は、そ
れが銀食われを防止するためには、Cd5〜8.5%
が必要であり、はんだ合金の固相線温度を低下さ
せる傾向がある。上記理由から、本発明者らは、
Cdを全く含有せず、しかも安価なPb−Bi系はん
だ合金を発明し(特願昭52−27797号)、既に実用
に供している。 したがつて、本発明の目的は従来のようなAg
を3〜6%含む高価な銀入りSn−Pbはんだと銀
食われが同等であつて、かつコストが安価であ
り、Cdを含有しないはんだ合金であつて、しか
も上記Pb−Bi系はんだ合金のはんだ付け性をさ
らに改善したはんだ合金を提供することにある。 かかるはんだ合金の具備すべき条件を列挙すれ
ば次の通り。 (1) はんだ合金中へのAgの溶解度が少ないこ
と。 (2) 銀電極に対するはんだ付け性は現在使用され
ている一般的な銀入りはんだ、すなわちSn50
〜60%、Ag2〜4%、残部Pbよりな合金と同程
度であること。 (3) 薄いセラミツク板、ガラス板、アルミナ板等
熱シヨツクに弱いものに対しても損傷を生じさ
せないような作業温度ではんだ付け作業ができ
る程度に融点(液相線温度)が低いこと。液相
線温度は220℃以下が望ましい。 (4) セラミツクコンデンサーやアルミナ基板はそ
の銀電極にリード線をはんだ付けしたのち、塗
料を焼付けるか又は樹脂をモールドするが、こ
の塗料焼付温度又はモールド温度は150〜160℃
であるので、この温度ではんだがとけて、リー
ド線にそつてにじみでないこと。 (5) 有害と考えられているCdを含有しないこ
と。 ここに、本発明者らは上記のような条件をいず
れも充分満足させるはんだ合金として、Bi20〜35
重量%、Sn1〜10重量%、Sb2〜9重量%、Ag0.1
〜1.5重量%、Pb残部よりなる合金がよいことを
見い出し、本発明を完成した。 PbとBiを合金することにより銀電極リード付
け用はんだとして適当な溶融温度領域を持つはん
だ合金が得られ、しかもAgの溶解度もかなり低
下することを見い出したことに基づくものであ
る。該Pb−Biはんだ合金に少量のSnを添加する
とはんだ付け性を向上させることができ、さらに
少量のSbを添加すると比較的高価なBiの添加量
を減らすことができ、またさらにAgを少量添加
するとAgの溶解度を一層改善することができ
る。 すなわち、本発明はBi20〜35重量%、Sn1ない
し10重量%、高価なBiの添加を少なくすることの
できるSbを2〜9重量%および銀食われを一層
有効に防止するためのAg0.1〜1.5重量%を含有
し、残部Pbよりなる、セラミツクコンデンサー
またはアルミナ基板の銀電極リード付け用はんだ
合金である。 本発明のはんだ合金を用いると次のような利点
を生ずる。 (1) 実施例に示す如く、Agの溶解度が現在広く
使用されている多量のAg入りはんだと同等で
ある。 (2) 限定範囲の組成は融点(液相線温度)が220
℃以下であるため低い温度ではんだ付け作業が
できるので、熱によるセラミツクスのわれがな
く、Agのはんだ中への拡散をさらに抑制する
という相乗効果がある。 (3) また本発明において特定する組成は160℃以
上の固相線温度を有するので、はんだ付け後、
150〜160℃に加熱されても、はんだがとけてリ
ード線にそつて流れでてくることはない。 (4) Cdのような有害な特定化学物質を含んでい
ない。 (5) 本発明のはんだ合金中のAg含有量は公知の
銀入りはんだと称せられているはんだに含有さ
れているAg量よりかなり少なくてよく、さら
にSnを従来のものと比較してはるかに少量し
か含有しないので、コスト面で非常に経済的で
ある。一般に銀入りはんだと比較して本発明の
はんだ合金のあるものは、その材料コストは半
分以下であり、また、本発明のはんだ合金の主
要成分であるBiおよびPbはSn、Agのように相
場には左右されることがないので、価格が安定
している。 次に本発明の組成限定範囲とその理由を示す。 Bi: BiはPbと合金すると銀電極リード付け用はん
だとして適当な溶融温度が得られるとともに、
Agの溶解度を低下させる。本発明においてBi含
量は20〜35重量%とする。Biは35重量%を越える
と、固相線温度が160℃となるので塗料の焼付け
時にはんだが溶出してしまい、またはんだをもろ
くする傾向が顕著になる。一方、20重量%未満の
Bi含有量では液相線温度を十分下げることができ
ない。したがつて、本発明においてはBi含有量を
20〜35重量%に制限する。 Sn: SnはPb−Biはんだ合金のはんだ付け性をさら
に改善するために添加する。Bi20〜35重量%の範
囲内のとき、Sn含有量が1重量%未満では所望
の効果が得られず、Sn含有量が10重量%を越え
ると、得られるはんだ合金の固相線温度が160℃
以下になるばかりでなく、製造コストの上昇を招
くので、本発明においてはSnを1〜10重量%に
制限する。 Sb: SbはPb−Biはんだ合金において、液相線温度
を下げる効果があるため、比較的高価なBiの添加
を少くすることができる。Bi20〜35重量%の範囲
においてSb含有量が9重量%を越えると液相線
温度が220℃以上となり、望ましくなく、さらに
はんだを硬くもろくする傾向にあり、接着強度の
低下をもたらす。また、Sb含有量が2重量%未
満では上記効果が少なく、したがつて本発明にお
いてSbは2〜9重量%に制限する。 Ag: 上記組成のPb−Bi−Sn−Sb系はんだ合金はそ
れのみでもAgの溶解度は少ないが、はんだ中へ
のAgの溶解をほとんどゼロにするため0.1〜1.5重
量%のAgを加える必要がある。Agの含有量が1.5
重量%を越えるとはんだの液相線温度が急激に高
くなり、そのうえコスト高となる。また0.1重量
%未満でははんだ中へのAgの溶解を防ぐ効果が
少ないので本発明においてはAgは0.1〜1.5重量%
に制限する。 次に、本発明の実施例および参考例の試験結果
を第1表に示す。
【表】 以上、前述の如く、本発明のはんだ合金は公知
銀入りはんだと同じようにはんだ付けが可能であ
り、銀食われは少なく、かつ塗料焼付温度や樹脂
のモールド温度に十分耐えうるはんだ合金であ
る。 現在および将来とし、銀および錫は世界的にも
不足気味の高価な金属であり、この銀、錫の添加
量を少量にしたことは材料コスト面で大きく寄与
し、その上はんだ付け作業において銀食われが実
用上、問題にならない程度であるから不良品は皆
無となる。また有害なCdを含有していない。こ
のような優れた効果から、本発明は斯界に寄与す
ることはなはだ大で、工業的に極めて有用であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 セラミツクコンデンサーまたはアルミナ基板
    の銀電極にリード付けするためのはんだ合金であ
    つて、Bi20〜35重量%、Sn1〜10重量%、Sb2〜
    9重量%、Ag0.1〜1.5重量%、残部Pbよりなる
    組成を有することを特徴とするはんだ合金。
JP6655777A 1977-06-06 1977-06-06 Solder alloy for silver electrode lead Granted JPS541254A (en)

Priority Applications (1)

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JP6655777A JPS541254A (en) 1977-06-06 1977-06-06 Solder alloy for silver electrode lead

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JPS541254A JPS541254A (en) 1979-01-08
JPS6215319B2 true JPS6215319B2 (ja) 1987-04-07

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS56133810A (en) * 1980-03-22 1981-10-20 Kck Co Ltd Through type porcelain capacitor
GB2201545B (en) * 1987-01-30 1991-09-11 Tanaka Electronics Ind Method for connecting semiconductor material

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JPS541254A (en) 1979-01-08

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