Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPS6248365B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPS6248365B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6248365B2
JPS6248365B2 JP55142223A JP14222380A JPS6248365B2 JP S6248365 B2 JPS6248365 B2 JP S6248365B2 JP 55142223 A JP55142223 A JP 55142223A JP 14222380 A JP14222380 A JP 14222380A JP S6248365 B2 JPS6248365 B2 JP S6248365B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic body
copper coating
copper
ceramic
halogenated hydrocarbon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55142223A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5766613A (en
Inventor
Atsuo Senda
Takuji Nakagawa
Tooru Kasatsugu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP55142223A priority Critical patent/JPS5766613A/en
Publication of JPS5766613A publication Critical patent/JPS5766613A/en
Publication of JPS6248365B2 publication Critical patent/JPS6248365B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Preventing Corrosion Or Incrustation Of Metals (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はセラミツク素体上に形成された銅被
膜の酸化防止法に関し、特にセラミツク素体を含
む電気回路素子において、電極または導電部とし
て形成された銅被膜の酸化防止法に関するもので
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for preventing oxidation of a copper coating formed on a ceramic body, and particularly to a method for preventing oxidation of a copper coating formed as an electrode or a conductive part in an electric circuit element including a ceramic body. It is about law.

セラミツク素体上の導電被膜には、具体的な適
切な例として、セラミツクコンデンサの電極部分
があり、一般には高導電率の銀が用いられてい
た。このような銀電極は、銀ペーストをセラミツ
ク素体上に塗り、これを焼き付けることにより形
成していた。しかし、銀材料の価格の高騰に伴つ
て、このような銀電極のコストがセラミツクコン
デンサの全コストに対して占める割合が増えてき
た。そのため、セラミツクコンデンサの全コスト
を高騰させる要因となつていた。
A specific suitable example of a conductive film on a ceramic body is the electrode part of a ceramic capacitor, and silver, which has high conductivity, is generally used. Such silver electrodes were formed by applying silver paste onto a ceramic body and baking it. However, with the rise in the price of silver materials, the cost of such silver electrodes has increased as a percentage of the total cost of ceramic capacitors. This has been a factor in increasing the overall cost of ceramic capacitors.

このような背景のもとで、安価な電極の開発に
注目が向けられた。その1つのアプローチとし
て、金属被膜の形成方法である無電解メツキ法、
真空蒸着法、スパツタリング法、イオンプレーテ
イング法などについて種々検討が加えられた。ま
た、他のアプローチとして、銀にかわる安価な金
属を電極に用いる検討もなされた。
Against this background, attention has turned to the development of inexpensive electrodes. One approach is the electroless plating method, which is a method for forming metal coatings.
Various studies were conducted on vacuum evaporation, sputtering, ion plating, etc. In addition, as another approach, studies have been made to use inexpensive metals instead of silver for the electrodes.

そこで、当初試みられたのは、無電解メツキ法
によるニツケルメツキ電極であつた。ニツケルメ
ツキ電極は、銀電極にかわる安価な電極としてそ
の一応の目的を達成することができた。しかしな
がら、セラミツクコンデンサの電極としてニツケ
ルメツキ電極を用いることについては、次のよう
な問題点を有していることが明らかとなつた。す
なわち、ニツケル電極そのものの比抵抗が7.24×
10-6Ω・cmであり、銀の比抵抗1.62×10-6Ω・cm
にくらべて高い。したがつて、高周波における周
波数特性が低下するという問題があつた。また、
ニツケルメツキ電極は半田付け性も悪いという問
題点がある。さらに、ニツケルメツキ電極の比抵
抗を下げる手段として、全面に半田付けを行うと
いう手段も認みられた。しかし、電極全面に半田
付けをする際には、活性の強いフラツクスを多量
に用いなければならない。そのため、半田付け後
に不要なフラツクスの洗浄を行わなければならな
い。さらに、半田付けの際、たとえば、半田槽に
浸漬して処理するが、セラミツクにストレスが加
わつてセラミツクにクラツクがはいつたりするよ
うな欠点が見られた。
Therefore, the first attempt was to create a nickel-plated electrode using an electroless plating method. The Nickelmetsuki electrode was able to achieve its intended purpose as an inexpensive alternative to silver electrodes. However, it has become clear that the use of nickel plated electrodes as electrodes of ceramic capacitors has the following problems. In other words, the specific resistance of the nickel electrode itself is 7.24×
10 -6 Ω・cm, and the specific resistance of silver is 1.62×10 -6 Ω・cm
higher than that. Therefore, there was a problem that the frequency characteristics at high frequencies deteriorated. Also,
Nickel plated electrodes also have a problem of poor solderability. Furthermore, as a means of lowering the specific resistance of the nickel-plated electrode, a method of soldering the entire surface was also found. However, when soldering the entire surface of the electrode, a large amount of highly active flux must be used. Therefore, unnecessary flux must be cleaned after soldering. Furthermore, when soldering, for example, the ceramic is immersed in a solder bath, stress is applied to the ceramic, causing cracks to form in the ceramic.

次のステツプとして、上述のようなニツケル電
極にかわりうる安価で導電率のよい電極の開発が
さらに望まれていた。そこで、新たに銅の無電解
メツキ法による銅メツキ電極試みられた。しかし
ながら、この銅の無電解メツキ電極にも大きな障
害があつた。すなわち、無電解メツキ処理によつ
て形成された銅メツキ電極は、そのままでは酸化
されやすいという性質を有している。たとえば、
銅被膜をセラミツクコンデンサの電極として用い
ると、このような酸化の結果として生じた酸化膜
の形成により、導電率の低下をもたらし、かつ半
田付け性も低下するという好ましくない現象が見
られる。なお、無電解メツキ処理によつて形成さ
れた銅電極に限らず、真空蒸着法、スパツタリン
グ法、イオンプレーテイング法などによつて形成
された銅電極も同様の現象が見られる。
As a next step, there was a further desire to develop an inexpensive and highly conductive electrode that could replace the nickel electrode mentioned above. Therefore, a new copper plating electrode using electroless copper plating method was attempted. However, this copper electroless plating electrode also had major problems. That is, a copper-plated electrode formed by electroless plating has the property of being easily oxidized as it is. for example,
When a copper coating is used as an electrode of a ceramic capacitor, an undesirable phenomenon is observed in which the formation of an oxide film as a result of such oxidation leads to a decrease in electrical conductivity and also decreases solderability. Note that the same phenomenon is observed not only in copper electrodes formed by electroless plating, but also in copper electrodes formed by vacuum evaporation, sputtering, ion plating, and the like.

したがつて、酸化されやすい銅被膜に対して酸
化防止処理が必要となる。
Therefore, oxidation prevention treatment is required for the copper coating, which is easily oxidized.

それゆえに、この発明の主たる目的は、セラミ
ツク素体上に形成された銅被膜のための酸化防止
方を提供することである。
Therefore, a primary object of the present invention is to provide a method for preventing oxidation of copper coatings formed on ceramic bodies.

この発明の他の目的は、セラミツク素体を含む
セラミツク電気回路素子の電極として用いられる
銅被膜の高信頼化を可能とすることである。
Another object of the present invention is to make it possible to improve the reliability of a copper coating used as an electrode of a ceramic electric circuit element including a ceramic body.

この発明のさらに他の目的は、銅被膜の長期保
存を可能にすることである。
Yet another object of the invention is to enable long-term storage of copper coatings.

すなわち、この発明を要約すると、表面に銅被
膜を形成したセラミツク素体の表面をハロゲン化
炭化水素化合物に接触させることを特徴とするも
のである。
That is, to summarize the present invention, the present invention is characterized in that the surface of a ceramic body on which a copper coating is formed is brought into contact with a halogenated hydrocarbon compound.

この発明の好ましい実施例の概要を一般的に説
明する。まず、誘電体、絶縁体、抵抗体、半導体
などのセラミツク素体を準備する。次に、セラミ
ツク素体の表面に、無電解メツキ法、真空蒸着
法、スパツタリング法、イオンプレーテイング法
などの薄膜形成技術により銅被膜を形成する。た
とえば、セラミツク素体として誘電体セラミツク
を用い、表面に銅被膜を形成することにより、コ
デンサが構成できる。また、セラミツク素体とし
て、アルミナ、ジルコニア、ホルステライトなど
のセラミツクを用い、表面に銅被膜からなる回路
パターンを形成すれば、回路用基板を構成するこ
とができる。そのほか、抵抗体、半導体などのセ
ラミツク素体表面に銅被膜を形成することにより
種々の電子部品が構成できる。なお、ここでセラ
ミツク素体として誘電体と絶縁体とを挙げている
が、誘電体はもつぱらその誘電率を利用してコン
デンサを構成することを目的とするものであり、
一方、絶縁体は誘電体のように大きな誘電率を有
するものではなく、もつぱらその絶縁性を利用
し、その表面に回路パターンを形成して回路用基
板として用いるものである。
A general overview of preferred embodiments of the invention will now be described. First, a ceramic element such as a dielectric, an insulator, a resistor, or a semiconductor is prepared. Next, a copper coating is formed on the surface of the ceramic body using a thin film forming technique such as electroless plating, vacuum evaporation, sputtering, or ion plating. For example, a codenser can be constructed by using dielectric ceramic as the ceramic body and forming a copper coating on the surface. Furthermore, a circuit board can be constructed by using ceramic such as alumina, zirconia, or holsterite as the ceramic body and forming a circuit pattern made of a copper film on the surface. In addition, various electronic components can be constructed by forming a copper coating on the surface of a ceramic element such as a resistor or a semiconductor. Note that although dielectrics and insulators are mentioned here as ceramic bodies, the purpose of dielectrics is to construct capacitors by utilizing their dielectric constant.
On the other hand, insulators do not have a large dielectric constant like dielectrics, and are used as circuit boards by making use of their insulating properties and forming circuit patterns on their surfaces.

このようにセラミツク素体表面に各種方法によ
り形成された銅被膜はできるだけ早くこの発明の
特徴となるハロゲン化炭化水素化合物との接触工
程にさらされる。すなわち、銅被膜の形成後ハロ
ゲン化炭化水素化合物と接触させるまでの時間は
より短いほどより好ましい。できれば、銅被膜形
成後30分以内に接触させることが好ましい。この
ようなハロゲン化炭化水素化合物による接触工程
によれば、ハロゲン化炭化水素化合物の被毒作用
によつて、銅被膜の活性点が消滅して触媒活性が
なくなり、銅被膜は安定になり、酸化されにくく
なる。
As described above, the copper coating formed on the surface of the ceramic body by various methods is exposed as soon as possible to the step of contacting with a halogenated hydrocarbon compound, which is a feature of the present invention. That is, it is more preferable that the time from the formation of the copper coating to the contact with the halogenated hydrocarbon compound be as short as possible. If possible, it is preferable to contact within 30 minutes after forming the copper coating. According to such a contact process using a halogenated hydrocarbon compound, the active sites in the copper coating disappear due to the poisoning effect of the halogenated hydrocarbon compound, and the catalytic activity disappears, making the copper coating stable and preventing oxidation. become less likely to be

ハロゲン化炭化水素化合物としては、好ましく
は、トリクロロエチレン、パークロロエチレン、
フルオルカーボン、クロルベンゼン、塩化メチ
ル、塩化メチレン、クロロホルム、四塩化炭素を
含むグループから選ばれた少なくとも一種が用い
られる。このようなハロゲン化炭化水素化合物を
銅被膜に接触させる方法としては、次のいずれの
方法を用いてもよい。すなわち、ハロゲン化炭化
水素化合物を塗布する方法、吹き付ける方法、浸
漬する方法またはハロゲン化炭化水素化合物の蒸
気にさらす方法などがある。
The halogenated hydrocarbon compound is preferably trichlorethylene, perchlorethylene,
At least one selected from the group including fluorocarbon, chlorobenzene, methyl chloride, methylene chloride, chloroform, and carbon tetrachloride is used. Any of the following methods may be used to bring such a halogenated hydrocarbon compound into contact with the copper coating. That is, there are methods of applying the halogenated hydrocarbon compound, methods of spraying, methods of dipping, and methods of exposing to the vapor of the halogenated hydrocarbon compound.

この発明の他の好ましい実施例としては、ハロ
ゲン化炭化水素化合物に接触させる工程で、ステ
アリン酸などの脂肪酸や蝋などの高位脂肪酸エス
テルを溶解したハロゲン化炭化水素化合物溶液が
用いられる。
In another preferred embodiment of the present invention, in the step of contacting the halogenated hydrocarbon compound, a halogenated hydrocarbon compound solution in which a fatty acid such as stearic acid or a higher fatty acid ester such as wax is dissolved is used.

使用可能な脂肪酸または脂肪酸エステルとして
は、ステアリン酸、蝋に限ることなく、そのほか
パルミチン酸、ラノリン酸などの脂肪酸類、脂肪
酸エステル類などがある。この実施例によれば、
銅被膜表面に脂肪酸や脂肪酸エステルの単分子膜
を形成し、それによつて銅被膜の酸化と経時変化
が一層防止できるようになる。このような観点か
ら、この実施例に用いられる脂肪酸または脂肪酸
エステルを選択すればよく、単分子膜を銅被膜表
面に形成しやすい脂肪酸類または脂肪酸エステル
類であればいずれでもよい。
Usable fatty acids or fatty acid esters include not only stearic acid and wax, but also fatty acids such as palmitic acid and lanolic acid, and fatty acid esters. According to this example,
A monomolecular film of fatty acids or fatty acid esters is formed on the surface of the copper coating, thereby further preventing oxidation and aging of the copper coating. From this viewpoint, the fatty acid or fatty acid ester used in this example may be selected, and any fatty acid or fatty acid ester that can easily form a monomolecular film on the surface of the copper coating may be used.

この発明のさらに他の好ましい実施例では、ハ
ロゲン化炭化水素化合物に接触させる工程は、高
分子化合物を溶解したハロゲン化炭化水素化合物
溶液によつて実施される。
In yet another preferred embodiment of the invention, the step of contacting the halogenated hydrocarbon compound is carried out with a solution of the halogenated hydrocarbon compound in which the polymer compound is dissolved.

使用可能な高分子化合物としては、たとえば、
ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニ
ル、ポリエステルレジン、ポリ酢酸ビニル、ポリ
ビニルホルマール、ポリスチレン、ポリビニルブ
チラール、ポリウレタン、MMA,ABS,SBR、
ネオプレン、塩素化ゴムなどが例示されうる。こ
の実施例によれば、高分子化合物を用いない実施
例にくらべて、銅被膜表面に高分子化合物の膜を
形成する現象がさらに生じるので、一層の銅被膜
の酸化防止および経時変化防止効果が得られる。
Examples of usable polymer compounds include:
Polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polyester resin, polyvinyl acetate, polyvinyl formal, polystyrene, polyvinyl butyral, polyurethane, MMA, ABS, SBR,
Examples include neoprene and chlorinated rubber. According to this example, the phenomenon of forming a film of a polymer compound on the surface of the copper coating occurs more than in the example in which no polymer compound is used, so that the effect of preventing oxidation and preventing aging of the copper coating is further enhanced. can get.

なお、上述した他の好ましい実施例として、ハ
ロゲン化炭化水素化合物に脂肪酸および高位脂肪
酸エステル、高分子化合物を溶解したハロゲン化
炭化水素化合物を銅被膜に接触させる方法として
は、この溶液を塗布する方法、吹き付ける方法、
溶液に浸漬する方法などがあるが、いずれの方法
を用いてもよい。
In addition, as another preferred embodiment mentioned above, a method of bringing a halogenated hydrocarbon compound in which a fatty acid, a higher fatty acid ester, and a polymer compound are dissolved into contact with the copper coating is a method of applying this solution. , how to spray,
There are methods such as immersion in a solution, but any method may be used.

以下に、この発明を詳細な実施例にもとづいて
説明する。
The present invention will be explained below based on detailed examples.

実施例 1 直径6.5mm、厚み0.5mmの酸化チタン系誘電体セ
ラミツク素体を無電解銅メツキ液に浸漬し、この
セラミツク素体の全面に銅メツキ被膜を形成し
た。これを一旦乾燥させたのち、ステンレス製網
かごの容器に入れ、クロロホルムの蒸気に1分間
曝した。さらに銅被膜表面を乾燥させた。
Example 1 A titanium oxide dielectric ceramic body having a diameter of 6.5 mm and a thickness of 0.5 mm was immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the ceramic body. After this was once dried, it was placed in a stainless steel mesh basket container and exposed to chloroform vapor for 1 minute. Furthermore, the surface of the copper coating was dried.

このようにして得られたセラミツク誘電体と、
上述した処理を行つていないセラミツク誘電体に
ついて、それぞれ24時間自然雰囲気中に放置し、
銅被膜表面を観察したところ、この発明による処
理を行つていないものは褐色を呈しはじめ、半田
付け性も低下した。一方、この発明によるものは
一カ月後放置したもについても何ら変化が見られ
ず、半田付け性も良好であつた。
The ceramic dielectric thus obtained,
Ceramic dielectrics that had not been subjected to the above treatment were left in a natural atmosphere for 24 hours.
When the surface of the copper film was observed, it was found that the surface of the copper film that had not been treated according to the present invention began to take on a brown color and its solderability decreased. On the other hand, when the product according to the present invention was left for one month, no change was observed, and the solderability was also good.

実施例 2 直径6.5mm、厚み0.5mmの酸化チタン系誘電体セ
ラミツク素体を無電解メツキ液に浸漬し、このセ
ラミツク素体の全面に銅メツキ被膜を形成した。
これを一旦乾燥させたのち、ステンレス製網かご
の容器に入れ、トリクレンの蒸気に1分間曝し
た。さらに銅被膜表面を乾燥させた。
Example 2 A titanium oxide dielectric ceramic body having a diameter of 6.5 mm and a thickness of 0.5 mm was immersed in an electroless plating solution, and a copper plating film was formed on the entire surface of the ceramic body.
After this was once dried, it was placed in a stainless steel mesh basket container and exposed to trichlorene vapor for 1 minute. Furthermore, the surface of the copper coating was dried.

このようにして得られたセラミツク誘電体と、
トリクレン蒸気に曝していないセラミツク誘電体
について、それぞれ24時間自然雰囲気中に放置
し、銅被膜表面を観察したところ、この発明方法
による処理を行つていないものについては、褐色
を呈しはじめ半田付け性も低下した。一方、この
発明方法によるものは一カ月後放置したものにつ
いても、何ら変化も見られず、半田付け性も良好
であつた。
The ceramic dielectric thus obtained,
Ceramic dielectrics that had not been exposed to trichlene vapor were left in a natural atmosphere for 24 hours, and the surfaces of the copper coatings were observed; those that had not been treated by the method of this invention began to turn brown and had poor solderability. It also decreased. On the other hand, when the method of the present invention was used and left for one month, no change was observed and the solderability was good.

実施例 3 チタン酸ストロンチウム系の粒界絶縁型半導体
磁器として、直径10.0mm、厚み0.3mmのものを用
意し、無電解銅メツキ液に浸漬し、半導体磁器の
全面に銅メツキ被膜を形成した。これを一旦乾燥
させたのち、フレオン溶液中に銅メツキ被膜を形
成した半導体磁器を約1分間浸漬した。
Example 3 Strontium titanate-based grain boundary insulated semiconductor porcelain with a diameter of 10.0 mm and a thickness of 0.3 mm was prepared and immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the semiconductor porcelain. After this was once dried, the semiconductor porcelain on which the copper plating film was formed was immersed in the Freon solution for about 1 minute.

この溶液から半導体磁器を引き上げ、乾燥させ
て銅メツキ被膜を安定化させた。
The semiconductor porcelain was pulled out of this solution and dried to stabilize the copper plating film.

さらにこの半導体磁器を湿度95%、温度40℃の
条件下で強制的に酸化したところ、5000hr後にお
いても銅被膜表面の色調変化は全くなく、また半
田付け性も良好であつた。
Furthermore, when this semiconductor porcelain was forcibly oxidized under the conditions of 95% humidity and 40° C., there was no change in color tone of the surface of the copper coating even after 5000 hours, and the solderability was also good.

実施例 4 直径6.5mm、厚み0.5mmの酸化チタン系誘電体セ
ラミツク素体を無電解銅メツキ液に浸漬し、この
セラミツク素体の全面に銅メツキ被膜を形成し
た。次いで、このセラミツク素体の銅メツキ被膜
を乾燥させたのち、ステンレス製網かごの容器に
入れ、蝋を1重量%溶解させたトリクレンを吹き
つけた。このあと銅被膜表面を乾燥させた。
Example 4 A titanium oxide dielectric ceramic body having a diameter of 6.5 mm and a thickness of 0.5 mm was immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the ceramic body. Next, after drying the copper plating film on this ceramic body, it was placed in a stainless steel mesh basket container and sprayed with Triclean containing 1% by weight of wax. After this, the surface of the copper coating was dried.

このようにして得られたセラミツク誘電体と、
蝋を溶解したトリクレンを吹き付け処理していな
いセラミツク誘電体について、それぞれ24時間自
然雰囲気中に放置し、銅被膜表面を観察したとこ
ろ、この発明方法による処理を行つていないもの
は褐色を呈しはじめ、半田付け性も低下した。一
方、この発明方法によるものは、1カ月後放置し
たものについても、何ら変化が見られず、半田付
け性も良好であつた。
The ceramic dielectric thus obtained,
Ceramic dielectrics that had not been sprayed with trichlene containing melted wax were left in a natural atmosphere for 24 hours, and the surfaces of the copper coatings were observed, and it was found that those that had not been treated with the method of this invention began to turn brown. , solderability also decreased. On the other hand, in the case of the method according to the present invention, no change was observed even when left for one month, and the solderability was also good.

実施例 5 チタン酸ストロンチウム系の粒界絶縁型半導体
磁器として、直径10.0mm、厚み0.3mmのものを用
意し、無電解銅メツキ液に浸漬し、半導体磁器の
全面に銅メツキ被膜を形成した。次いで銅メツキ
被膜を乾燥させた。
Example 5 Strontium titanate-based grain boundary insulated semiconductor porcelain with a diameter of 10.0 mm and a thickness of 0.3 mm was prepared and immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the semiconductor porcelain. The copper plating film was then dried.

引き続き、ステアリン酸を1重量%溶解したフ
レオン溶液中に銅メツキ被膜を形成した半導体磁
器を約1分間浸漬した。この溶液から半導体磁器
を引き上げ、乾燥させて銅メツキ被膜を安定させ
た。
Subsequently, the semiconductor porcelain on which the copper plating film was formed was immersed for about 1 minute in a Freon solution containing 1% by weight of stearic acid. The semiconductor porcelain was pulled out of this solution and dried to stabilize the copper plating film.

さらに、この半導体磁器を湿度95%、温度40℃
の条件下で強制的に酸化したところ、5000hr後に
おいても銅被膜表面の色調変化は全くなく、また
半田付け性も良好であつた。
Furthermore, this semiconductor porcelain is heated at a humidity of 95% and a temperature of 40°C.
When the copper coating was forcibly oxidized under the following conditions, there was no change in color tone on the surface of the copper coating even after 5000 hours, and the solderability was also good.

実施例 6 直径6.5mm、厚み0.5mmの酸化チタン系誘電体セ
ラミツク素体を無電解銅メツキ液に浸漬し、この
セラミツク素体の全面に銅メツキ被膜を形成し
た。次いで銅メツキ被膜の表面を乾燥させた。引
き続き、ステンレス製網かごの容器に入れ、ポリ
エチレンを1重量%溶解したトリクレン溶液を吹
きつけた。こののち銅被膜表面を乾燥させた。
Example 6 A titanium oxide dielectric ceramic body having a diameter of 6.5 mm and a thickness of 0.5 mm was immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the ceramic body. Next, the surface of the copper plating film was dried. Subsequently, the container was placed in a stainless steel net basket container, and a trichlene solution containing 1% by weight of polyethylene was sprayed onto the container. After this, the surface of the copper coating was dried.

このようにして得られたセラミツク誘電体と、
ポリエチレンを溶解したトリクレンを吹き付け処
理していないセラミツク誘電体について、それぞ
れ24時間自然雰囲気中に放置し、銅被膜表面を観
察したところ、この発明方法による処理を行つて
いないものについては、褐色を呈しはじめ半田付
け性も低下した。一方、この発明方法によるもの
は一カ月後放置したのものについても、何らの変
化も見られず、半田付け性も良好であつた。
The ceramic dielectric thus obtained,
Ceramic dielectrics that had not been sprayed with trichlene, a solution of polyethylene, were left in a natural atmosphere for 24 hours and the surface of the copper coating was observed. The solderability also deteriorated. On the other hand, when the method of the present invention was used and left for one month, no change was observed and the solderability was good.

実施例 7 チタン酸ストロンチウム系の粒界絶縁型半導体
磁器として、直径10.00mm、厚み0.3mmのものを用
意し、無電解銅メツキ液に浸漬し、半導体磁器の
全面に銅メツキ被膜を形成した。次いで銅被膜表
面を乾燥させた。
Example 7 Strontium titanate-based grain boundary insulated semiconductor porcelain with a diameter of 10.00 mm and a thickness of 0.3 mm was prepared and immersed in an electroless copper plating solution to form a copper plating film on the entire surface of the semiconductor porcelain. The surface of the copper coating was then dried.

引き続き、ポリプロピレンを1重量%溶解した
フレオン溶液中に銅メツキ被膜を形成した半導体
磁器を約1分間浸漬した。この溶液から半導体磁
器を引き上げ、乾燥させて銅メツキ被膜を安定化
させた。
Subsequently, the semiconductor porcelain on which the copper plating film was formed was immersed for about 1 minute in a Freon solution containing 1% by weight of polypropylene. The semiconductor porcelain was pulled out of this solution and dried to stabilize the copper plating film.

さらにこの判導体磁器を湿度95%、温度40℃の
条件下で強制的に酸化したところ、5000hr後にお
いても銅被膜表面の色調変化は全くなく、また半
田付け性も良好であつた。
Furthermore, when this conductor porcelain was forcibly oxidized under conditions of 95% humidity and 40°C, there was no change in color tone on the surface of the copper coating even after 5000 hours, and the solderability was also good.

実施例 8 チタン酸ストロンチウム系の粒界絶縁型半導体
磁器として、直径10.0mm、厚み0.3mmのものを用
意し、この半導体磁器を直径二極スパツタリング
装置の陽極側に設置し、一方陰極側には金属銅の
ターゲツトを設置した。次いで、真空槽内を一旦
高真空状態としたのち、アルゴンガスを注入しな
がら真空度を5×10-2〜5×10-4torr、たとえば
5×10-3torrとし、ターゲツトに単位面積当た
り、たとえば6W/cm2の電力が供給されるよう
に、陰極と陽極間に直流電圧を印加した。
Example 8 Strontium titanate-based grain-boundary insulated semiconductor porcelain with a diameter of 10.0 mm and a thickness of 0.3 mm was prepared, and this semiconductor porcelain was installed on the anode side of a two-diameter sputtering device, while on the cathode side. A metallic copper target was placed. Next, once the inside of the vacuum chamber is brought to a high vacuum state, the degree of vacuum is set to 5 × 10 -2 to 5 × 10 -4 torr, for example, 5 × 10 -3 torr, while injecting argon gas, and the target is heated per unit area. A DC voltage was applied between the cathode and the anode so that a power of, for example, 6 W/cm 2 was supplied.

このようにして半導体磁器の表面にスパツタリ
ングによる銅被膜を形成し、そののち真空槽内に
フレオンガスを流入させ、銅被膜表面にフレオン
を接触させた。
In this way, a copper coating was formed on the surface of the semiconductor ceramic by sputtering, and then Freon gas was introduced into the vacuum chamber to bring Freon into contact with the surface of the copper coating.

得られた半導体磁器について自然雰囲気中に放
置したところ、1カ月後においても何ら変化が見
られず、半田付け性も良好であつた。
When the obtained semiconductor ceramic was left in a natural atmosphere, no change was observed even after one month, and the solderability was good.

実施例 9 直径6.5mm、厚み0.5mmの酸化チタン系誘電体よ
りなるセラミツク素体を準備した。次いで、この
セラミツク素体を真空蒸着装置の真空槽内に設置
し、さらに真空槽内が5×10-5〜5×10-6torrの
真空度になるように給排気口より排気した。引き
つづき加熱源ヒータに通電して蒸発源である銅を
加熱し、銅を蒸発させセラミツク素体に銅被膜を
形成した。
Example 9 A ceramic body made of a titanium oxide dielectric having a diameter of 6.5 mm and a thickness of 0.5 mm was prepared. Next, this ceramic body was placed in a vacuum chamber of a vacuum evaporation apparatus, and the vacuum chamber was further evacuated from an air supply/exhaust port so that the vacuum level within the chamber was 5.times.10.sup. -5 to 5.times.10.sup. -6 torr. Subsequently, electricity was applied to the heating source heater to heat the copper, which was the evaporation source, to evaporate the copper and form a copper coating on the ceramic body.

このように、セラミツク素体の表面に銅被膜を
形成したものを真空槽から取り出し、ステンレス
製網かご容器に入れたのち、クロロホルムの蒸気
に1分間曝した。さらに銅被膜表面を乾燥させ
た。
The ceramic body with the copper coating formed on its surface was taken out of the vacuum chamber, placed in a stainless steel mesh basket container, and then exposed to chloroform vapor for 1 minute. Furthermore, the surface of the copper coating was dried.

このようにして得られたセラミツク素体とクロ
ロホルム処理をしていないセラミツク素体につい
て、それぞれ24時間自然雰囲気中に放置し、銅被
膜表面に観察したところ、この発明によるクロロ
ホルム処理を行つていないものについては、褐色
を呈しはじめ半田付け性も低下した。しかしなが
らこの発明方法によるものは一カ月後放置したも
のは、何らの変化も見られず、半田付け性も良好
であつた。
The ceramic bodies obtained in this way and the ceramic bodies not treated with chloroform were each left in a natural atmosphere for 24 hours, and the surface of the copper coating was observed, and it was found that the chloroform treatment according to the present invention had not been carried out. The product began to turn brown and its solderability decreased. However, when the method of this invention was left for one month, no change was observed and the solderability was good.

実施例 10 チタン酸ストロンチウム系の粒界絶縁型半導体
磁器として、直径10.0mm、厚み0.3mmのものを準
備した。次いでこの半導体磁器をイオンプレーテ
イング装置の陰極側に設置し、一方陽極側に被膜
形成材料の銅を設置した。こののち真空槽の給排
気口より槽内を高真空とし、さらにアルゴンガス
をガス供給口より流入させて槽内を10-1
10-4torrのガス圧に調整した。引きつづき陰極、
陽極間に高電圧を印加してグロー放電させ、さら
にプラズマを発生させた。次いで被膜形成材料の
銅を加熱することにより銅を蒸発させ、プラズマ
中でイオン化あるいは励起されたアルゴンガスに
衝突させて荷電交換を行わしめ、銅粒子をイオン
化粒子または粒子群として飛散させ、銅被膜を半
導体磁器表面に付着させた。
Example 10 Strontium titanate-based grain boundary insulated semiconductor porcelain having a diameter of 10.0 mm and a thickness of 0.3 mm was prepared. Next, this semiconductor porcelain was placed on the cathode side of the ion plating apparatus, and on the other hand, copper as a coating material was placed on the anode side. After this, the inside of the vacuum chamber is brought to a high vacuum through the supply/exhaust port of the vacuum chamber, and argon gas is introduced through the gas supply port to bring the inside of the chamber to 10 -1 ~
The gas pressure was adjusted to 10 -4 torr. Continued cathode,
A high voltage was applied between the anodes to cause a glow discharge, and further plasma was generated. Next, the copper that is the film forming material is heated to evaporate the copper, and the copper is collided with ionized or excited argon gas in the plasma to perform charge exchange, scattering the copper particles as ionized particles or particle groups, and forming the copper film. was attached to the surface of semiconductor porcelain.

このように、半導体磁器の表面に銅被膜を形成
したものを真空槽から取り出し、ステンレス製網
かごに入れたのち、ナフテン酸石鹸を1重量%溶
解したクロロフルオロカーボン溶液に1分間浸漬
した。この溶液から半導体磁器を引き上げ、乾燥
させて銅被膜を安定化させた。
The semiconductor porcelain with the copper coating formed on its surface was taken out of the vacuum chamber, placed in a stainless steel mesh basket, and then immersed for 1 minute in a chlorofluorocarbon solution containing 1% by weight of naphthenic acid soap. The semiconductor porcelain was pulled out of this solution and dried to stabilize the copper coating.

このようにして得られた銅被膜を有する半導体
磁器を湿度95%、温度40℃の条件で強制的に酸化
したところ、5000hr後においても銅被膜表面の色
調変化は全くなく、また半田付け性も良好であつ
た。
When the semiconductor porcelain with the copper coating thus obtained was forcibly oxidized under the conditions of 95% humidity and 40°C, there was no change in the color tone of the copper coating surface even after 5000 hours, and the solderability was also poor. It was good and warm.

次に、この発明の方法が適用されるセラミツク
電気回路素子の一例としてのセラミツクコンデン
サの製造方法について説明する。このセラミツク
コンデンサの製造工程の一部に、この発明の方法
が用いられる。
Next, a method for manufacturing a ceramic capacitor as an example of a ceramic electric circuit element to which the method of the present invention is applied will be described. The method of the present invention is used in part of the manufacturing process of this ceramic capacitor.

第1図を参照して、セラミツクコンデンサは、
たとえば円板状のセラミツク素体1を含む。セラ
ミツク素体1の両主表面にはそれぞれ相互に対向
する電極2が形成される。この電極2は、銅被膜
から構成されるものである。各電極2には、それ
ぞれ半田3によりリード線4が接続される。リー
ド線4はたとえばラジアル方向に導出される。こ
のように構成された構造物は、想像線で示すよう
に、絶縁性樹脂5により外装される。もちろん、
リード線4は、その先端部から所定の長さ分だけ
絶縁性樹脂5から露出するように構成される。
Referring to Figure 1, the ceramic capacitor is
For example, it includes a disc-shaped ceramic body 1. Electrodes 2 facing each other are formed on both main surfaces of the ceramic body 1, respectively. This electrode 2 is made of a copper film. Lead wires 4 are connected to each electrode 2 with solder 3, respectively. The lead wire 4 is led out in the radial direction, for example. The structure configured in this way is covered with an insulating resin 5, as shown by the imaginary line. of course,
The lead wire 4 is configured to be exposed from the insulating resin 5 by a predetermined length from its tip.

第1図のセラミツクコンデンサを製造する工程
の一例が第4図に示される。第4図を参照して、
第1ステツプ11として、セラミツク素体が準備
される。第2ステツプ12として、セラミツク素
体に対して、無電解メツキのための前処理が施さ
れる。この前処理は、脱脂、活性化、洗浄工程を
含む。第3ステツプ13として、前処理されたセ
ラミツク素体の表面に、銅の無電解メツキが施さ
れる。これによつて、セラミツク素体の全面に銅
のメツキ被膜が形成される。第4ステツプ14と
して、銅の被膜が形成されたセラミツク素体が水
洗される。第5ステツプ15として、銅被膜がハ
ロゲン化炭化水素化合物に接触される。このステ
ツプ15において、銅被膜に接触させるハロゲン
化炭化水素化合物またはハロゲン化炭化水素化合
物溶液としては、前述した種々のものが用いられ
る。また、接触の方法も、種々の方法のいずれで
も採用されうる。
An example of the process for manufacturing the ceramic capacitor shown in FIG. 1 is shown in FIG. Referring to Figure 4,
In the first step 11, a ceramic body is prepared. As a second step 12, the ceramic body is subjected to pretreatment for electroless plating. This pretreatment includes degreasing, activation, and cleaning steps. As a third step 13, electroless copper plating is applied to the surface of the pretreated ceramic body. As a result, a copper plating film is formed on the entire surface of the ceramic body. In a fourth step 14, the ceramic body on which the copper coating is formed is washed with water. As a fifth step 15, the copper coating is contacted with a halogenated hydrocarbon compound. In this step 15, the various halogenated hydrocarbon compounds or halogenated hydrocarbon compound solutions that are brought into contact with the copper coating are used. Furthermore, any of various contact methods may be employed.

第5ステツプ15を終えた段階で、第2図に示
すような中間物が得られている。すなわち、セラ
ミツク素体の全面に銅被膜6が形成されたもので
ある。この中間物における全面銅被膜を、コンデ
ンサのための対向電極とするため、第6ステツプ
16が実施される。この第6ステツプ16が実施
されたあとの状態は、第3図に示される。すなわ
ち、第6ステツプ16では、第2図の中間物の外
周の端面を研磨して、この端面からセラミツク素
体1を露出させることを行う。これによつて、全
面銅被膜6は、相互に対向する対向電極2とな
る。この第3図に示す構造物は、第1図のセラミ
ツク素体1および対向電極2に相当する。次に、
第7ステツプ17および第8ステツプ18が順次
実施され、第1図に示すようなセラミツクコンデ
ンサが得られる。
At the end of the fifth step 15, an intermediate product as shown in FIG. 2 has been obtained. That is, the copper coating 6 is formed on the entire surface of the ceramic body. A sixth step 16 is carried out in order to make the entire copper coating on this intermediate the counter electrode for the capacitor. The state after this sixth step 16 is executed is shown in FIG. That is, in the sixth step 16, the end face of the outer periphery of the intermediate product shown in FIG. 2 is polished to expose the ceramic body 1 from this end face. Thereby, the entire surface copper coating 6 becomes the counter electrodes 2 facing each other. The structure shown in FIG. 3 corresponds to the ceramic body 1 and counter electrode 2 in FIG. next,
The seventh step 17 and the eighth step 18 are carried out in sequence to obtain a ceramic capacitor as shown in FIG.

以上の各実施例から明らかなように、この発明
によれば、表面に銅被膜を形成したセラミツク素
体の該銅被膜表面をハロゲン化炭化水素化合物に
接触させると、銅被膜表面の酸化現象は見られ
ず、半田付け性も良好であるなど、銅被膜の酸化
防止法としてきわめて有用なものである。
As is clear from the above embodiments, according to the present invention, when the surface of the copper coating of a ceramic body having a copper coating formed on its surface is brought into contact with a halogenated hydrocarbon compound, the oxidation phenomenon on the surface of the copper coating is prevented. It is extremely useful as a method for preventing oxidation of copper coatings, as it has no visible oxidation and has good solderability.

なお、セラミツク素体については誘電体セラミ
ツク素体、粒界絶縁型半導体磁器について説明し
たが、そのほか誘電体、絶縁体、半導体、抵抗体
よりなるものに銅被膜を形成したものにこの発明
を適用しても同様な効果が得られる。
Regarding ceramic bodies, we have described dielectric ceramic bodies and grain-boundary insulated semiconductor porcelain, but the present invention can also be applied to other materials made of dielectrics, insulators, semiconductors, and resistors with copper coatings formed thereon. A similar effect can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はセラミツク素体を含むセラミツク電気
回路素子の一例としてのセラミツクコンデンサを
示す側面図、第2図は無電解メツキにより銅被膜
が全表面に形成されたセラミツク素体を示す斜視
図、第3図は第2図のセラミツク素体を端面研磨
して対向電極が形成されたセラミツクコンデンサ
本体を示す斜視図、第4図はこの発明の一実施例
としてのセラミツクコンデンサの製造工程を示す
ブロツク図である。 1……セラミツク素体、2……電極、3……半
田、4……リード線、5……絶縁性樹脂。
FIG. 1 is a side view showing a ceramic capacitor as an example of a ceramic electric circuit element including a ceramic body, FIG. 2 is a perspective view showing a ceramic body with a copper coating formed on the entire surface by electroless plating, and FIG. 3 is a perspective view showing a ceramic capacitor main body in which a counter electrode is formed by polishing the end face of the ceramic body shown in FIG. 2, and FIG. 4 is a block diagram showing the manufacturing process of a ceramic capacitor as an embodiment of the present invention. It is. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Ceramic body, 2... Electrode, 3... Solder, 4... Lead wire, 5... Insulating resin.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 セラミツク素体の表面に形成された銅被膜
を、ハロゲン化炭化水素化合物に接触させること
を特徴とするセラミツク素体上の銅被膜の酸化防
止法。 2 前記ハロゲン化炭化水素化合物としては、ト
リクロロエチレン、パークロロエチレン、フルオ
ルカーボン、クロルベンゼン、塩化メチル、塩化
メチレン、クロロホルム、四塩化炭素を含むグル
ープから選ばれた少なくとも1種からなる特許請
求の範囲第1項記載のセラミツク素体上の銅被膜
の酸化防止法。 3 前記ハロゲン化炭化水素化合物は、この中に
脂肪酸および高位脂肪酸エステルを含むグループ
から選ばれた少なくとも1種のものが溶解された
ものである特許請求の範囲第1項記載のセラミツ
ク素体上の銅被膜の酸化防止法。 4 前記ハロゲン化炭化水素化合物は、この中に
高分子化合物を溶解したものである特許請求の範
囲第1項記載のセラミツク素体上の銅被膜の酸化
防止法。 5 前記銅被膜は、無電解メツキ法、真空蒸着
法、スパツタリング法、イオンプレーテイング法
のいずれか1種により形成されたものである特許
請求の範囲第1項記載のセラミツク素体上の銅被
膜の酸化防止法。 6 前記セラミツク素体は、誘電体、絶縁体、抵
抗体、半導体のいずれか1種である特許請求の範
囲第1項記載のセラミツク素体上の銅被膜の酸化
防止法。 7 前記セラミツク素体は誘電体であり、前記銅
被膜は容量取り出し用の電極である特許請求の範
囲第1項記載のセラミツク素体上の銅被膜の酸化
防止法。
[Scope of Claims] 1. A method for preventing oxidation of a copper coating on a ceramic body, which comprises bringing the copper coating formed on the surface of the ceramic body into contact with a halogenated hydrocarbon compound. 2 The halogenated hydrocarbon compound is at least one selected from the group including trichlorethylene, perchloroethylene, fluorocarbon, chlorobenzene, methyl chloride, methylene chloride, chloroform, and carbon tetrachloride. A method for preventing oxidation of a copper coating on a ceramic body according to item 1. 3. The halogenated hydrocarbon compound on the ceramic body according to claim 1, wherein at least one compound selected from the group including fatty acids and higher fatty acid esters is dissolved therein. Method for preventing oxidation of copper coatings. 4. A method for preventing oxidation of a copper coating on a ceramic body according to claim 1, wherein the halogenated hydrocarbon compound has a polymer compound dissolved therein. 5. The copper coating on the ceramic body according to claim 1, wherein the copper coating is formed by any one of electroless plating, vacuum evaporation, sputtering, and ion plating. Antioxidant method. 6. The method for preventing oxidation of a copper coating on a ceramic body according to claim 1, wherein the ceramic body is any one of a dielectric, an insulator, a resistor, and a semiconductor. 7. A method for preventing oxidation of a copper coating on a ceramic body according to claim 1, wherein the ceramic body is a dielectric and the copper coating is an electrode for taking out a capacitance.
JP55142223A 1980-10-11 1980-10-11 Method of preventing oxidation of copper coating film on ceramic unit Granted JPS5766613A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55142223A JPS5766613A (en) 1980-10-11 1980-10-11 Method of preventing oxidation of copper coating film on ceramic unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55142223A JPS5766613A (en) 1980-10-11 1980-10-11 Method of preventing oxidation of copper coating film on ceramic unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5766613A JPS5766613A (en) 1982-04-22
JPS6248365B2 true JPS6248365B2 (en) 1987-10-13

Family

ID=15310271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55142223A Granted JPS5766613A (en) 1980-10-11 1980-10-11 Method of preventing oxidation of copper coating film on ceramic unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5766613A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0703172D0 (en) * 2007-02-19 2007-03-28 Pa Knowledge Ltd Printed circuit boards

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5766613A (en) 1982-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU735872B2 (en) Ultrasonically coated substrate for use in a capacitor and method of manufacture
US5790368A (en) Capacitor and manufacturing method thereof
US6740420B2 (en) Substrate having a modified native oxide layer for improved electrical conductivity
US4328048A (en) Method of forming copper conductor
US4668925A (en) Dielectric resonator and method for making
US4711814A (en) Nickel particle plating system
US6096391A (en) Method for improving electrical conductivity of metals, metal alloys and metal oxides
CN101175394A (en) A kind of anti-electromagnetic interference multi-layer composite material and preparation method thereof
US4508756A (en) Method for inhibiting oxidation of a copper film on ceramic body
US2211584A (en) Coaxial electrical conductor
US3984290A (en) Method of forming intralayer junctions in a multilayer structure
JPS6248365B2 (en)
JP2633387B2 (en) Manufacturing method of dielectric resonator
US3356912A (en) Porous electrode
JPS5946310B2 (en) Method for preventing oxidation of heat-treated copper coatings
US4833004A (en) Structure of copper conductor and method of forming same
JPS5934157B2 (en) Method for preventing oxidation of copper coating on ceramic body
US20030068509A1 (en) Ruthenium-containing oxide ultrasonically coated substrate for use in a capacitor and method of manufacture
US20010024700A1 (en) Ruthenium-containing ultrasonically coated substrate for use in a capacitor and method of manufacture
JPS5946312B2 (en) Method for preventing oxidation of heat-treated copper coatings
US3454999A (en) Capacitor
JPH0130286B2 (en)
JPS607026B2 (en) Heat treatment method for copper coating
JPS5946311B2 (en) Method for preventing oxidation of heat-treated copper coatings
JP3087554B2 (en) Plating method