JPS627705B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS627705B2 JPS627705B2 JP51076948A JP7694876A JPS627705B2 JP S627705 B2 JPS627705 B2 JP S627705B2 JP 51076948 A JP51076948 A JP 51076948A JP 7694876 A JP7694876 A JP 7694876A JP S627705 B2 JPS627705 B2 JP S627705B2
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- Japan
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- collector
- region
- type
- transistor
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- Expired
Links
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 11
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 7
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Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置の製造方法、特にベース電
極用金属とコレクタ領域とが接触してなるトラン
ジスタの製造方法に関する。
極用金属とコレクタ領域とが接触してなるトラン
ジスタの製造方法に関する。
従来、高速スイツチング用としてコレクタ電圧
クランプ用のシヨツトキバリアダイオードが接続
された非飽和型トランジスタを含む回路を同一半
導体基板上に形成する場合には、飽和型トランジ
スタと共に二種類のトランジスタを形成しなけれ
ばならなかつた。そのため製造歩留りの低下のみ
に限らず半導体基板面積の増加を招いていた。
クランプ用のシヨツトキバリアダイオードが接続
された非飽和型トランジスタを含む回路を同一半
導体基板上に形成する場合には、飽和型トランジ
スタと共に二種類のトランジスタを形成しなけれ
ばならなかつた。そのため製造歩留りの低下のみ
に限らず半導体基板面積の増加を招いていた。
本発明の目的は非飽和型トランジスタ及び飽和
型トランジスタ動作をするマルチコレクタトラン
ジスタを得るための製造方法を提供することであ
る。
型トランジスタ動作をするマルチコレクタトラン
ジスタを得るための製造方法を提供することであ
る。
次に本発明を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の製造方法を拡散コレクタ形マ
ルチコレクタトランジスタに実施した場合の一実
施例の断面図でP-基板1、N型コレクタ領域
2、P型チヤネルストツパー3、P型ベース領域
4、N+型コレクタ領域5及び6、N+型エミツタ
領域7、シヨツトキバリアダイオード部8、酸化
膜9及びコレクタ電極用金属10及び11とベー
ス及びエミツタ金属配線12と13を含む。第2
図は第1図の拡散コレクタ形マルチコレクタトラ
ンジスタの等価回路を示す回路図で、図中抵抗
R1及びR2はシヨツトキバリアダイオード部8と
コレクタ電極金属10及び11と間におけるコレ
クタ領域4の拡散抵抗で、Dはシヨツトキバリア
ダイオードである。また抵抗R1とR2は、 R1≪R2 の関係があり、且つN+型コレクタ領域6はシヨ
ツトキバリアダイオードDがコレクタ14の電圧
クランプ作用を阻止しない程度の大きさを持つよ
うに配置されている。
ルチコレクタトランジスタに実施した場合の一実
施例の断面図でP-基板1、N型コレクタ領域
2、P型チヤネルストツパー3、P型ベース領域
4、N+型コレクタ領域5及び6、N+型エミツタ
領域7、シヨツトキバリアダイオード部8、酸化
膜9及びコレクタ電極用金属10及び11とベー
ス及びエミツタ金属配線12と13を含む。第2
図は第1図の拡散コレクタ形マルチコレクタトラ
ンジスタの等価回路を示す回路図で、図中抵抗
R1及びR2はシヨツトキバリアダイオード部8と
コレクタ電極金属10及び11と間におけるコレ
クタ領域4の拡散抵抗で、Dはシヨツトキバリア
ダイオードである。また抵抗R1とR2は、 R1≪R2 の関係があり、且つN+型コレクタ領域6はシヨ
ツトキバリアダイオードDがコレクタ14の電圧
クランプ作用を阻止しない程度の大きさを持つよ
うに配置されている。
本発明によればマルチコレクタトランジスタ1
8はコレクタ端子14を使用すれば、シヨツトキ
バリアダイオードDのコレクタ電圧クランプ作用
によつて非飽和型トランジスタとなるので高速ス
イツチング動作が可能であり、またコレクタ端子
15を使用すれば、高抵抗R2によつてシヨツト
キバリアダイオードDのコレクタ電圧クランプ作
用が阻止されるため飽和型トランジスタとなつて
低速スイツチング動作が可能となる。
8はコレクタ端子14を使用すれば、シヨツトキ
バリアダイオードDのコレクタ電圧クランプ作用
によつて非飽和型トランジスタとなるので高速ス
イツチング動作が可能であり、またコレクタ端子
15を使用すれば、高抵抗R2によつてシヨツト
キバリアダイオードDのコレクタ電圧クランプ作
用が阻止されるため飽和型トランジスタとなつて
低速スイツチング動作が可能となる。
従つてコレクタ端子14と15のどちらか一方
を使用することにより高速性と低速性のスイツチ
ングを得ることができる。即ち、配線工程もしく
は電極用コンタクト窓開け工程で高速性のスイツ
チングと低速性のスイツチングの選択が可能であ
るため、ゲートアレー、マスクROM等と組み合
わせた場合機能の多様化が容易となる。またコレ
クタ端子14を使用した場合には、逆方向NPN
トランジスタの電流増幅率やP型ベース領域4と
P-型基板1との間における寄生PNPトランジス
タ効果が非常に小さい。更にコレクタ端子15を
使用した場合には逆方向NPNトランジスタの電
流増幅率が大きいため、I2L回路などには有効で
ある。
を使用することにより高速性と低速性のスイツチ
ングを得ることができる。即ち、配線工程もしく
は電極用コンタクト窓開け工程で高速性のスイツ
チングと低速性のスイツチングの選択が可能であ
るため、ゲートアレー、マスクROM等と組み合
わせた場合機能の多様化が容易となる。またコレ
クタ端子14を使用した場合には、逆方向NPN
トランジスタの電流増幅率やP型ベース領域4と
P-型基板1との間における寄生PNPトランジス
タ効果が非常に小さい。更にコレクタ端子15を
使用した場合には逆方向NPNトランジスタの電
流増幅率が大きいため、I2L回路などには有効で
ある。
なお、第1図に示した拡散コレクタ型マルチコ
レクタトランジスタは次の様にして形成される。
P-型基板1に、P,As,Sb等のN型不純物を拡
散してN型コレクタ領域2を形成後、P型チヤネ
ルストツパー3とP型ベース領域4を同時に形成
し、続いてN+型コレクタ領域5及び6とN+型エ
ミツタ領域7を形成し、最後にコレクタ・ベース
及びエミツタ電極金属10,11及び12,13
を形成する。この時ベース電極金属12とコレク
タ領域2との接触部にシヨツトキバリア障壁が形
成される。
レクタトランジスタは次の様にして形成される。
P-型基板1に、P,As,Sb等のN型不純物を拡
散してN型コレクタ領域2を形成後、P型チヤネ
ルストツパー3とP型ベース領域4を同時に形成
し、続いてN+型コレクタ領域5及び6とN+型エ
ミツタ領域7を形成し、最後にコレクタ・ベース
及びエミツタ電極金属10,11及び12,13
を形成する。この時ベース電極金属12とコレク
タ領域2との接触部にシヨツトキバリア障壁が形
成される。
以上は、本発明の製造方法を拡散コレクタ型マ
ルチコレクタトランジスタに使用した一実施例で
あるが、3重拡散型トランジスタ或いはエピタキ
シヤル拡散法によるトランジスタについても本発
明の製造方法が適用できることは勿論である。
ルチコレクタトランジスタに使用した一実施例で
あるが、3重拡散型トランジスタ或いはエピタキ
シヤル拡散法によるトランジスタについても本発
明の製造方法が適用できることは勿論である。
このように本発明は、ベース電極金属とコレク
タ領域との接触部に形成されたシヨツトキ障壁に
より、電圧クランプ作用を受ける第1のコレクタ
電極と、電圧クランプ作用を受けない第2のコレ
クタ電極を有するマルチコレクタトランジスタの
製造方法を得るもので、飽和型及び非飽和型トラ
ンジスタを1個のトランジスタで達成し得る製造
方法として極めて有効である。
タ領域との接触部に形成されたシヨツトキ障壁に
より、電圧クランプ作用を受ける第1のコレクタ
電極と、電圧クランプ作用を受けない第2のコレ
クタ電極を有するマルチコレクタトランジスタの
製造方法を得るもので、飽和型及び非飽和型トラ
ンジスタを1個のトランジスタで達成し得る製造
方法として極めて有効である。
第1図は本発明の製造方法の一実施例を示す断
面図、第2図は第1図の等価回路を示す回路図で
ある。 1……P-型基板、2……N型コレクタ領域、
3……P型チヤネルストツパー、4……P型ベー
ス領域、5,6……N+型コレクタ領域、7……
N+型エミツタ領域、8……シヨツトキバリアダ
イオード部、9……酸化膜、10,11……コレ
クタ電極金属、12……ベース電極金属、13…
…エミツタ電極金属、14,15……コレクタ端
子、16……ベース端子、17……エミツタ端
子。
面図、第2図は第1図の等価回路を示す回路図で
ある。 1……P-型基板、2……N型コレクタ領域、
3……P型チヤネルストツパー、4……P型ベー
ス領域、5,6……N+型コレクタ領域、7……
N+型エミツタ領域、8……シヨツトキバリアダ
イオード部、9……酸化膜、10,11……コレ
クタ電極金属、12……ベース電極金属、13…
…エミツタ電極金属、14,15……コレクタ端
子、16……ベース端子、17……エミツタ端
子。
Claims (1)
- 1 ベース電極金属とコレクタ領域とに接触して
シヨツトキ障壁を形成する接触部の近くのコレク
タ領域に第1の高濃度コレクタ不純物領域を形成
し、該接触部とは離れた該コレクタ領域に第2の
高濃度コレクタ不純物領域の形成された半導体基
板を準備する工程と、前記第1および第2の高濃
度コレクタ不純物領域の一方に選択的に接続する
コレクタ取り出し電極配線を形成する工程とを有
し、前記第1の高濃度コレクタ不純物領域からコ
レクタ取り出し電極配線が取り出されたときは電
圧クランプ作用の大きいトランジスタ特性を、前
記第2の高濃度コレクタ不純物領域からコレクタ
取り出し電極配線が取り出されたときは電圧クラ
ンプ作用の小さいトランジスタ特性を実現するこ
とを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7694876A JPS533071A (en) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7694876A JPS533071A (en) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | Semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS533071A JPS533071A (en) | 1978-01-12 |
| JPS627705B2 true JPS627705B2 (ja) | 1987-02-18 |
Family
ID=13619974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7694876A Granted JPS533071A (en) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | Semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS533071A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6156458A (ja) * | 1984-08-28 | 1986-03-22 | Matsushita Electronics Corp | 半導体装置 |
| JPH023267A (ja) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Fujitsu Ltd | リレー駆動回路 |
-
1976
- 1976-06-29 JP JP7694876A patent/JPS533071A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS533071A (en) | 1978-01-12 |
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