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JPS6316794B2 - - Google Patents
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JPS6316794B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6316794B2
JPS6316794B2 JP54060925A JP6092579A JPS6316794B2 JP S6316794 B2 JPS6316794 B2 JP S6316794B2 JP 54060925 A JP54060925 A JP 54060925A JP 6092579 A JP6092579 A JP 6092579A JP S6316794 B2 JPS6316794 B2 JP S6316794B2
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JP
Japan
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line segment
point
sub
feature
register
Prior art date
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Expired
Application number
JP54060925A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS55153076A (en
Inventor
Yoshitake Tsuji
Yukio Hoshino
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NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS55153076A publication Critical patent/JPS55153076A/en
Publication of JPS6316794B2 publication Critical patent/JPS6316794B2/ja
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  • Character Discrimination (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光学的文字認識装置(以下OCRと称
す)の特徴抽出方式、特にパターンの丸み及び屈
曲を有するパターンを区別する特徴を抽出する方
式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a feature extraction method for an optical character recognition device (hereinafter referred to as OCR), and particularly to a method for extracting features that distinguish patterns having roundness and curvature.

紙上に書かれた文字を認識する場合、一般に光
学的に走査し、文字部を“1”、紙の白部を“0”
というように2値パターンに量子化し、1文字づ
つに分離してから、雑音除去、細線化等の前処理
を経て、特徴抽出部、判定部を通るといつた順序
で行なわれる。特徴抽出部では、通常線の端点、
分岐点、屈折点等の特徴点、凹、凸部等の特徴量
を抽出し、判定部ではこれらの特徴の存否あるい
は量によつて入力された文字を判定するようにな
つている。この特徴抽出に関しては様々な特徴抽
出方法が提案され、実用化されてきた。例えば読
み取り対象文字が、数字、英字、カタカナ等と拡
げると、類似した文字が増加するため、最初に読
取り対象文字全体を識別するために比較的有効な
特徴(以下基本特徴と称す)を抽出し、抽出され
た基本特徴により候補文字を決め、続いてこの候
補文字についてだけ各文字毎に記述された複数個
の特徴リストに従つて基本特徴あるいは入力パタ
ーンから特徴抽出し、特徴リストを満足する候補
文字を1つにしぼるという手段が採用され、実用
化されている。
When recognizing characters written on paper, it is generally scanned optically, and the character part is set to "1" and the white part of the paper is set to "0".
The data is quantized into a binary pattern, separated into individual characters, then subjected to preprocessing such as noise removal and thinning, and then passed through a feature extraction section and a determination section. In the feature extraction part, the end points of the normal line,
Feature points such as branching points and bending points, and feature amounts such as concave and convex portions are extracted, and the determining section determines the input character based on the presence or absence or amount of these features. Regarding this feature extraction, various feature extraction methods have been proposed and put into practical use. For example, when the number of characters to be read is expanded to include numbers, alphabets, katakana, etc., the number of similar characters increases, so first, relatively effective features (hereinafter referred to as basic features) for identifying the entire character to be read are extracted. , a candidate character is determined based on the extracted basic features, and then features are extracted from the basic features or the input pattern according to multiple feature lists described for each character only for this candidate character, and candidates that satisfy the feature list are extracted. A method of reducing the number of characters to one has been adopted and put into practical use.

この基本特徴抽出の方法については例えば文
献、電子通信学会パターン認識と学習研究会資料
(1975年2月26日発行)「折線近似による手書きカ
タカナ認識」資料番号(PRL74−62)で示され
るように、第1図1のような文字パターンから第
1図2に示すように端点T、分岐点B、屈折点
K、1、2、3、5等の数字で示されるストロー
クの方向(矢印で示してある。)が検出順に
2K5B3B1Bのような記号列とされる。尚第1図
3はストロークの方向と数字0、1、2、…7の
対応関係を示した一例である。上述した記号列は
予め用意された標準パターンと照合される。この
標準パターンは例えばア:123K(45K)
45B23B01Bのような形をしており、この形式に
おいて、最初のアはこの標準パターンの文字名を
示し、K、B、数字(0〜7)は第1図2と同様
に屈折点、分岐点、ストロークの方向を示し、特
に123Kの数字123は方向1、2、3のいずれかを
示し、その後のKは屈折点のあることを示してい
る。
This basic feature extraction method is described, for example, in the literature, IEICE Pattern Recognition and Learning Study Group material (published February 26, 1975), "Handwritten Katakana Recognition by Broken Line Approximation", document number (PRL74-62). , from the character pattern shown in Fig. 1, to the end point T, branch point B, bending point K, stroke direction indicated by numbers such as 1, 2, 3, 5, etc. (indicated by arrows) as shown in Fig. 1. ) in the order of detection.
It is assumed to be a symbol string such as 2K5B3B1B. Incidentally, FIG. 1 is an example showing the correspondence between the stroke direction and the numbers 0, 1, 2, . . . 7. The above-mentioned symbol string is checked against a standard pattern prepared in advance. This standard pattern is for example A: 123K (45K)
It has a shape like 45B23B01B, and in this format, the first A indicates the letter name of this standard pattern, and K, B, and numbers (0 to 7) indicate inflection points and branching points as in Figure 1 and 2. , indicates the direction of the stroke; in particular, the number 123K indicates one of directions 1, 2, and 3, and the subsequent K indicates the presence of an inflection point.

また( )で示した内部の部分はあつてもなく
とも良いストロークを示している。
Also, the inner part shown in parentheses shows good strokes even if they are not normal.

この形式のような標準パターンには第1図2の
ようなパターンの記号列2K5B3B1Bは含まれる
ので、標準パターンの文字名アは候補文字とな
る。このような特徴抽出方式では第2図1で示し
たパターン“□”では第2図3で示すように
2K4K6K0Tのような記号列で示され、第2図2
で示したパターン“□”では第2図4で示すよう
に2K3K5K6K7Tのような記号列で示される。第
2図3及び4で一例として示したように、端点、
分岐点等で狭まれた細線(以下線分と呼ぶ)が屈
曲または丸みを有する場合に、その線分を屈折点
を用いて分割し、上述したような記号列で表現す
ると、屈折点が生じる位置が不安定となる場合が
あり、そのため、屈折点の個数及びストロークの
方向が変化し、類似したパターン同志でも上述し
たように、記号列が増加する。この記号列の記述
量の増加を防ぐため、予め用意される標準パター
ンに多くの記号列を含むように記述されると、そ
の記述に供い、候補文字が多く生じる場合があ
り、文字パターンの分類効率が低下し、そのた
め、それらの候補文字を個々に区別するための各
文字毎に記述された特徴リストの記述量が増加
し、それをやめると認識不可能となる。また、第
2図5は上部にわずかなかざりをもつパターン
“1”であり第2図6は上部のストロークが直線
的に屈曲したパターン“1”であり、第2図7は
パターン“2”であり、いずれも上述した基本特
徴より抽出された記号列が第2図8で示すように
2K5B6B2Bとなる場合を一例として示したもの
である。これら3つのパターンは、上述したよう
な基本特徴では共に候補文字として登録されるた
め、各文字毎に用意された特徴リストには第2図
5と第2図6のパターンを区別するための特徴も
含まれる。このように簡単に識別できたパターン
も改めて他のパターンと識別するための特徴を抽
出する必要が生じそのため、パターンの特徴量を
記述する記述量が増加すると共に誤読の原因とな
る。
Since a standard pattern of this format includes the symbol string 2K5B3B1B of the pattern shown in FIG. 1, the character name A of the standard pattern becomes a candidate character. In such a feature extraction method, the pattern “□” shown in Fig. 2 1 is as shown in Fig. 2 3.
It is indicated by a symbol string such as 2K4K6K0T, and is shown in Fig. 2.
The pattern "□" shown in is represented by a symbol string such as 2K3K5K6K7T as shown in FIG. 24. As shown by way of example in FIGS. 2, 3 and 4, the end points,
When a thin line narrowed at a branch point, etc. (hereinafter referred to as a line segment) has a bend or roundness, if the line segment is divided using the inflection point and expressed by the symbol sequence described above, an inflection point will occur. The position may become unstable, so the number of inflection points and the direction of the stroke change, and the number of symbol strings increases as described above even for similar patterns. In order to prevent an increase in the number of symbol strings to be described, if a standard pattern prepared in advance is written to include many symbol strings, a large number of candidate characters may be generated due to the description. Classification efficiency decreases, and as a result, the amount of feature lists written for each character for distinguishing these candidate characters increases, and if this is stopped, recognition becomes impossible. Further, Fig. 2 5 shows pattern "1" with a slight pattern on the upper part, Fig. 2 6 shows pattern "1" in which the upper stroke is linearly bent, and Fig. 2 7 shows pattern "2". In both cases, the symbol string extracted from the basic features mentioned above is as shown in Figure 2.8.
This example shows a case where the number is 2K5B6B2B. Since these three patterns are registered as candidate characters together with the basic features mentioned above, the feature list prepared for each character includes features to distinguish between the patterns in Fig. 2 5 and Fig. 2 6. Also included. Even for patterns that can be easily identified in this way, it becomes necessary to extract features to distinguish them from other patterns, which increases the amount of description for describing the feature amounts of the pattern and causes misreading.

再に第2図6及び第2図7で示されたように、
文字パターンに丸みがあるか否が相異点である類
似したパターンを識別することは困難であり、安
定な方法は見つからなかつた。
As shown again in FIG. 2 6 and FIG. 2 7,
It is difficult to identify similar patterns whose difference is whether or not the character patterns are rounded, and no stable method has been found.

本発明の目的は前記従来の欠点を解決し、パタ
ーンの屈曲あるいは丸みを有する端点、分岐点等
の特徴点で、狭まれた線分に対して、屈折点を用
いずその線分を分割することにより、パターンの
特徴量の記述量を増やすことなく安定にパターン
の屈曲あるいは丸みを有するパターンの識別に有
効な特徴を抽出するパターンの特徴抽出方式を提
供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional drawbacks, and to divide a line segment narrowed at a characteristic point such as a curved or rounded end point or a branch point without using a refraction point. By doing so, it is an object of the present invention to provide a pattern feature extraction method that stably extracts features that are effective for identifying patterns having curvature or roundness without increasing the amount of description of pattern feature amounts.

本発明によれば、端点、分岐点等で狭まれた線
分において、線分の始点である端点、分岐点等の
特徴点より追跡を行ない、線分の終点である端
点、分岐点等の特徴点までの追跡長に対する線分
の始点、終点間の距離の比が設定値以下となる線
分を検出する副線分化判定手段と、前記副線分化
判定手段により検出された線分の始点より終点ま
で追跡を行ない、各追跡点のY座標値とX座標値
を変数とし、それらの線形結合で表現される関数
F1(X、Y)、F2(X、Y)の値を検出した際、そ
れらの関数値が最大または最小となる追跡点を基
にして副線分特徴点を検出する手段と、前記副線
分特徴点と線分の始点及び終点とのX、Y座標差
が共に一定値以内となる副線分特徴点を線分の始
点及び終点に統合する統合手段と、前記統合手段
に線分の始点及び終点に統合されなかつた副線分
特徴点により線分を分割し、分割された線分に対
し、方向、長さ、等の特徴量を検出する副線分特
徴量抽出手段とを具備することを特徴としたパタ
ーンの特徴抽出方式が得られる。
According to the present invention, in a line segment narrowed by end points, branch points, etc., tracking is performed from characteristic points such as end points, branch points, etc. that are the starting points of the line segment, and tracking is performed from characteristic points such as end points, branch points, etc. sub-line differentiation determination means for detecting a line segment in which a ratio of the distance between the starting point and the end point of the line segment to the tracing length to the feature point is less than or equal to a set value; and a starting point of the line segment detected by the sub-line differentiation determination means. Tracking is performed until the end point, and the Y and X coordinate values of each tracking point are variables, and a function is expressed as a linear combination of them.
When detecting the values of F 1 (X, Y) and F 2 (X, Y), means for detecting a sub-line segment feature point based on a tracking point at which the function value thereof is maximum or minimum; integrating means for integrating sub-line segment feature points whose X and Y coordinate differences between the sub-line segment feature points and the start and end points of the line segment are both within a certain value, into the start and end points of the line; sub-line segment feature extracting means for dividing a line segment by sub-line segment feature points that are not integrated at the starting point and end point of a segment, and detecting feature quantities such as direction, length, etc. for the divided line segment; A pattern feature extraction method is obtained which is characterized by comprising the following.

以下本発明の具体的実施例を参照して説明す
る。第3図は本発明のパターンの特徴抽出方式を
実現するための一実施例を示すブロツク図であ
る。1は1文字分のパターンを記憶するためのパ
ターンメモリで、OCRの光電変換や切り出し等
の処理を経たパターン情報が貯えられる。2はパ
ターンメモリ1の細線化パターンを記憶するため
の細線化パターンメモリである。3は特徴点検出
手段であり、端点、分岐点等の特徴点を細線化パ
ターン2より抽出する。4は線分特徴抽出手段で
あり、特徴点検出手段3より検出された特徴点間
で狭まれた線分を追跡し、追跡した際得られる線
分の追跡長(以下線分弧長と呼ぶ)、特徴点間の
方向(以下線分弦方向と呼ぶ)及び距離(以下線
分弦長と呼ぶ)等の特徴量を抽出し、特徴レジス
タ5に記憶される。尚、端点、分岐点等の特徴点
で狭まれた線分を追跡した際、各追跡点のX、Y
座標値は検出順に追跡点ワークメモリ7に記憶さ
れる。
The present invention will be described below with reference to specific embodiments. FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment for realizing the pattern feature extraction method of the present invention. Reference numeral 1 denotes a pattern memory for storing a pattern for one character, in which pattern information that has undergone processing such as OCR photoelectric conversion and cutting is stored. 2 is a thinning pattern memory for storing the thinning pattern of pattern memory 1; Reference numeral 3 denotes a feature point detection means, which extracts feature points such as end points and branch points from the thinning pattern 2. 4 is a line segment feature extraction means, which traces the line segment narrowed between the feature points detected by the feature point detection means 3, and calculates the tracing length of the line segment obtained when tracing (hereinafter referred to as line segment arc length). ), the direction (hereinafter referred to as the line segment chord direction), and the distance (hereinafter referred to as the line segment chord length) between feature points are extracted and stored in the feature register 5. In addition, when tracing a line segment narrowed by feature points such as end points and branch points, the X, Y of each tracing point
The coordinate values are stored in the tracking point work memory 7 in the order of detection.

線分特徴抽出手段4では例えば第4図1で示し
たパターン“コ”に対してT1T2(Tは端点を
示し、数字1,2は検出順に付けた番号を示す)
の特徴点列、点線で示す弦の方向4、T1からT
2までの線分の線分弧長L2、線分弦長L1、線分
が右回りであることを示す特徴量R、等が抽出さ
れる。8は副線分化判定手段であり、特徴レジス
タ5に記憶された線分弧長に対する線分弦長にの
比が一定値以下となる線分を検出する。9は副線
分特徴点抽出手段であり、副線分化判定手段8に
より検出された線分の始点より終点までの各追跡
点のX、Y座標値を順々に追跡点ワークメモリ7
より読み出し、その追跡点のX、Y座標値を変数
とし、それらの線形結合で表現される関数F1
(X、Y)、F2(X、Y)…FN(X、Y)の値を検
出した際、それらの関数値が最大または最小とな
る追跡点を基にして副線分特徴点を抽出する手段
である。10は統合手段であり、副線分特徴点抽
出手段9より検出された副線分特徴点のうちその
線分の始点及び終点とのX、Y座標差が共に一定
値以下となる副線分特徴点を統合する手段であ
る。11は副線分特徴量抽出手段であり、副線分
化判定手段8により検出された線分を、副線分特
徴点抽出手段9及び統合手段10より得られた副
線分特徴点により分割化された線分(以下副線分
と呼ぶ)に対し、例えば副線分の方向や副線分の
弦長及び副線分の弧長等の特徴量が抽出され、正
規化された後副線分特徴レジスタ12に記憶され
る。6は認識部であり、1文字の入力パターンよ
り抽出され、特徴レジスタ5及び副線分特徴レジ
スタ12に記憶された特徴量を予め用意された辞
書と照合して1文字の入力パターンを認識する。
For example, the line segment feature extracting means 4 performs T1T2 for the pattern "K" shown in FIG.
sequence of feature points, chord direction 4 indicated by dotted line, from T1 to T
The line segment arc length L 2 of the line segments up to 2, the line segment chord length L 1 , the feature amount R indicating that the line segment is clockwise, etc. are extracted. Reference numeral 8 denotes a sub-line differentiation determining means, which detects a line segment in which the ratio of the line segment chord length to the line segment arc length stored in the feature register 5 is equal to or less than a certain value. Reference numeral 9 denotes a subline segment feature point extracting means, which sequentially stores the X and Y coordinate values of each tracking point from the starting point to the end point of the line segment detected by the subline differentiation determining means 8 into the tracking point work memory 7.
The function F 1 is read out from
When the values of (X, Y), F 2 (X, Y)...F N (X, Y) are detected, subline segment feature points are determined based on the tracking point where the function value is maximum or minimum. It is a means of extraction. Reference numeral 10 denotes an integrating means, which extracts sub-line segments whose X and Y coordinate differences with the starting point and end point of the sub-line segment are both below a certain value, among the sub-line segment feature points detected by the sub-line segment feature point extraction means 9. It is a means of integrating feature points. Reference numeral 11 denotes a sub-line segment feature extraction means, which divides the line segment detected by the sub-line segment feature point extraction means 8 by the sub-line segment feature points obtained by the sub-line segment feature point extraction means 9 and the integration means 10. For the line segment (hereinafter referred to as sub-line segment), features such as the direction of the sub-line segment, the chord length of the sub-line segment, and the arc length of the sub-line segment are extracted, and the sub-line is normalized. minutes is stored in the feature register 12. Reference numeral 6 denotes a recognition unit, which recognizes the input pattern of one character by comparing the feature amounts extracted from the input pattern of one character and stored in the feature register 5 and the sub line segment feature register 12 with a dictionary prepared in advance. .

第4図及び第5図を用いて第3図の副線分化判
定手段8、副線分特徴点抽出手段9、統合手段1
0、副線分特徴量抽出手段11について具体的に
説明する。
Using FIG. 4 and FIG.
0. The sub-line segment feature extracting means 11 will be specifically explained.

第4図1の細線化されたパターン“コ”に対
し、第3図の副線分化判定手段8は、図中T1,
T2の端点で狭まれた線分の弧長L2及び弦長L1
よりL1/L2の値が一定値以下である線分を検出
し、L1/L2の値が一定値以下となる線分は後述
で示すように分割化される。第7図は、前述した
副線分特徴点抽出手段において、第7図1及び2
で示した端点T1,T2で狭まれた線分から副線分
特徴点を抽出するために用いた図である。第7図
1及び2において、図中丸印及び黒丸印は各追跡
点(端点も含む)を示しており、各追跡点の位置
は、X座標値(右方向を正とする)、Y座標値
(下方向を正とする)によつて示すことができる。
ここで、端点T1,T2で狭まれた線分の追跡方向
は、図中矢印で示す如く、端点T1から出発して
順次端点T2に到る方向とする。最初に各追跡点
のX座標値及びY座標値を変数とする関数F1
(X、Y)及びF2(X、Y)の一つとして、関数
Y+X(第7図1)、関数Y−X(第7図2)を用
いるとする。ここで、関数Y+Xの値F1(=Y+
X)は、第7図1に示す如く、各追跡点を右斜め
45度方向からY座標軸に射影した場合のY座標値
を示すことになる。同様に、関数Y−Xの値F2
(X、Y)(=Y−X)は、第7図2に示す如く、
各追跡点を左斜め45度方向からY座標軸に射影し
た場合のY座標値を示すことになる。
4. For the thinned pattern "K" in FIG. 1, the subline differentiation determination means 8 in FIG.
Arc length L 2 and chord length L 1 of the line segment narrowed at the end point of T2
Line segments for which the value of L 1 /L 2 is less than or equal to a certain value are detected, and the line segments for which the value of L 1 /L 2 is less than or equal to the certain value are divided as described later. FIG. 7 shows how the above-mentioned sub-line segment feature point extraction means is used in FIGS. 1 and 2.
2 is a diagram used to extract subline segment feature points from a line segment narrowed by end points T 1 and T 2 shown in FIG. In Figures 7 1 and 2, circles and black circles in the figures indicate each tracking point (including end points), and the position of each tracking point is determined by the X coordinate value (the right direction is positive) and the Y coordinate value. (The downward direction is positive).
Here, the tracing direction of the line segment narrowed by the end points T 1 and T 2 is the direction starting from the end point T 1 and sequentially reaching the end point T 2 , as shown by the arrow in the figure. First, a function F 1 that uses the X and Y coordinate values of each tracking point as variables
Assume that the function Y+X (FIG. 7 1) and the function Y- X (FIG. 7 2) are used as one of (X, Y) and F 2 (X, Y). Here, the value F 1 of the function Y+X (=Y+
X) moves each tracking point diagonally to the right as shown in Figure 7.1.
This shows the Y coordinate value when projected onto the Y coordinate axis from a 45 degree direction. Similarly, the value F 2 of the function Y−X
(X, Y) (=Y-X) is as shown in Fig. 72,
This shows the Y coordinate value when each tracking point is projected onto the Y coordinate axis from a diagonal of 45 degrees to the left.

尚、関数F1(X、Y)、F2(X、Y)は前述した
45度方向以外でも0度から90度までの任意の角度
に対して適用できる。即ち、各追跡点のX座標値
及びY座標値の線形結合で表現される関数F(X、
Y)=aX+bX(但しa、bは、0、±1、±2、…
とする)に関しても同様に後述する副線分特徴抽
出に用いることができる。
In addition, the functions F 1 (X, Y) and F 2 (X, Y) are as described above.
It can be applied to any angle from 0 degrees to 90 degrees, even if it is not 45 degrees. That is, the function F(X,
Y)=aX+bX (however, a, b are 0, ±1, ±2,...
) can also be used for sub-line segment feature extraction, which will be described later.

次に、第7図1を参照しつつ、関数F1(X、
Y)=X+Yを用いた副線分特徴抽出処理につい
て説明する。図中、追跡点P1のX座標値、Y座
標値を変数とする関数値F1(X、Y)(=X+Y)
は、F1(P1)で示した値となる。そこで、端点T1
から矢印の方向に順次追跡点の関数値F1(X、
Y)を算出した場合、第7図1から明らかなよう
に端点T1で最小値F1(MIN)をとり、追跡点P2
で最大値F1(MAX)をとることになる。
Next, referring to FIG. 71, the function F 1 (X,
A sub-line segment feature extraction process using Y)=X+Y will be explained. In the figure, the function value F 1 (X, Y) (=X+Y) uses the X and Y coordinate values of tracking point P 1 as variables.
is the value indicated by F 1 (P 1 ). Therefore, the end point T 1
The function value F 1 (X,
Y), as is clear from Fig. 7 1, the minimum value F 1 (MIN) is taken at the end point T 1 , and the tracking point P 2
will take the maximum value F 1 (MAX).

即ち端点T1及び追跡点P2が副線分特徴点とし
て抽出されることになる。尚、第7図1において
抽出された副線分特徴点のうち、端点T1は、線
分の始点でもあるため、端点T1を副線分特徴点
から除外される。即ち、前述した統合手段におい
て、各線分の始点及び終点に統合されることを意
味する。同様に、第7図2を参照しつつ、関数
F2(X、Y)=Y−Xを用いた副線分特徴抽出処
理について説明する。図中、追跡点P5のX座標
値、Y座標値を変数とする関数値F2(X、Y)
(=Y−X)は、F2(P5)で示した値となる。そ
こで、端点T1から矢印の方向に順次各追跡点の
関数値F2(X、Y)を算出した場合、第7図2か
ら明らかなように、追跡点P1,P2,P3,P4でい
ずれも最小値F2(MIN)をとり、端点T2で最大
値F2(MAX)をとることになる。
That is, the end point T 1 and the tracking point P 2 are extracted as subline segment feature points. Note that among the sub-line segment feature points extracted in FIG. 71, the end point T 1 is also the starting point of the line segment, so the end point T 1 is excluded from the sub-line segment feature points. That is, it means being integrated at the starting point and ending point of each line segment in the above-mentioned integrating means. Similarly, with reference to FIG. 7 2, the function
A subline segment feature extraction process using F 2 (X, Y)=Y−X will be explained. In the figure, the function value F 2 (X, Y) uses the X and Y coordinate values of tracking point P 5 as variables.
(=Y−X) becomes the value indicated by F 2 (P 5 ). Therefore, when the function value F 2 (X, Y) of each tracking point is calculated sequentially from the end point T 1 in the direction of the arrow, as is clear from FIG. 7 2, the tracking points P 1 , P 2 , P 3 , The minimum value F 2 (MIN) is taken at P 4 , and the maximum value F 2 (MAX) is taken at the end point T 2 .

そこで、副線分特徴点として追跡点P1,P2
P3,P4及び端点T2が抽出されるが、追跡点P1
P2,P3,P4のうち、いずれか1つで副線分特徴
点として登録すれば良いから、本願では、最初に
検出された追跡点P1のみを副線分特徴点として
抽出する。尚、第7図1の場合と同様に第7図2
の端点T2は副線分特徴点から除外されることに
なる。
Therefore, the tracking points P 1 , P 2 ,
P 3 , P 4 and end point T 2 are extracted, but tracking point P 1 ,
Since it is sufficient to register any one of P 2 , P 3 , and P 4 as a sub-line segment feature point, in this application, only the first detected tracking point P 1 is extracted as a sub-line segment feature point. . Furthermore, as in the case of Fig. 7 1, Fig. 7 2
The end point T 2 of will be excluded from the subline segment feature points.

第4図2は、第7図を用いて説明したように、
第4図1のパターン“コ”に対して第3図の副線
分特徴点抽出手段9で抽出される副線分特徴点に
ついて示した図である。尚、各追跡点のX、Y座
標値を変数とする関数F1(X、Y)、F2(X、Y)
は、第7図と同様にX+Y、Y−Xを用いるもの
とする。第4図2の図中C1,C2,C3,C4は、そ
れぞれ、各追跡点のX、Y座標値に対し、端点
T1から追跡した際、X+Yが最小値となる追跡
点、Y−Xが最小となる追跡点、X+Yが最大値
となる追跡点、Y−Xが最大値となる追跡点即
ち、副線分特徴点を示している。尚、X+Y(又
はY−X)の最小(又は最大)値が同一の値を示
す追跡点が複数個検出された場合には、最初に検
出された追跡点をとることにする。第3図の統合
手段10は第4図2の図中C1,C2,C3,C4の4
つの副線分特徴点のうちC1,C4は端点T1及び
端点T2に統合され、C2,C3の副線分特徴点を
用いることにより、端点T1から端点T2までの
線分が3つの副線分S1,S2,S3に分割され
る。第4図5の細線化されたパターン“7”のよ
うに傾きを持つ文字パターンに対して、上述した
ように関数F1(X、Y)F2(X、Y)としてX+
Y、X−Yを用いて、副線分特徴点を求めた一例
を示している。図中C1,C2,C3,C4はそれぞれ
X+Yが最小値となる追跡点、Y−Xが最小値と
なる追跡点、X+Yが最大値となる追跡点、Y−
Xが最大値となる追跡点である。第4図5の細線
化されたパターン“7”に対して、副線分特徴点
C4を線分の終点である端点T2に統合し、更に
副線分特徴点間のX、Y座標差が共に一定値以下
となる副線分特徴点C2及びC3を統合し、その代
表点とX、Y座標値の和が小さくなる副線分特徴
点C2を選ぶように第3図の統合手段10を用い
ることにより、副線分特徴点C1及びC2を用いて
端点T1から端点T2までの線分を3つの副線分
S1,S2,S3に分割することができる。第4
図5を一例として示されたように第3図の副線分
特徴点抽出手段9より得られた副線分特徴点のう
ち、副線分特徴点間のX、Y座標差が小さくなる
副線分特徴点が生じた場合は、副線分特徴点間の
統合も第3図の統合手段10で行なうことにより
線分を安定に分割することができる。
As explained using FIG. 7, FIG.
4 is a diagram showing sub-line segment feature points extracted by the sub-line segment feature point extracting means 9 of FIG. 3 for the pattern "K" of FIG. 1; In addition, functions F 1 (X, Y), F 2 (X, Y) whose variables are the X and Y coordinate values of each tracking point.
Assume that X+Y and Y-X are used in the same way as in FIG. In Fig. 4, C 1 , C 2 , C 3 , and C 4 are the end points for the X and Y coordinate values of each tracking point, respectively.
When tracing from T 1 , the tracing point where X+Y is the minimum value, the tracing point where Y-X is the minimum value, the tracing point where X+Y is the maximum value, the tracing point where Y-X is the maximum value, that is, the subline segment Shows feature points. Incidentally, if a plurality of tracking points having the same minimum (or maximum) value of X+Y (or Y-X) are detected, the first detected tracking point is taken. The integrating means 10 in FIG .
Of the two sub-line segment feature points, C 1 and C 4 are integrated into end point T1 and end point T2, and by using the sub-line segment feature points C 2 and C 3 , the line segment from end point T1 to end point T2 is It is divided into three sub-line segments S1, S2, and S3. For a character pattern with an inclination , such as the thinned pattern "7" in FIG.
An example of finding subline segment feature points using Y and XY is shown. In the figure, C 1 , C 2 , C 3 , and C 4 are the tracking points where X+Y is the minimum value, the tracking point where Y-X is the minimum value, the tracking point where X+Y is the maximum value, and Y-
X is the tracking point where the maximum value is reached. For the thinned pattern “7” in Fig. 4, the sub-line segment feature points
C 4 is integrated with the end point T2, which is the end point of the line segment, and further, the sub-line segment feature points C 2 and C 3 where the X and Y coordinate differences between the sub-line segment feature points are both below a certain value are integrated, and the By using the integrating means 10 of FIG. 3 to select the sub-line segment feature point C 2 for which the sum of the representative point and the X and Y coordinate values is small, the end point is determined using the sub-line segment feature points C 1 and C 2 . The line segment from T1 to end point T2 can be divided into three subline segments S1, S2, and S3. Fourth
As shown in FIG. 5 as an example, among the sub-line segment feature points obtained by the sub-line segment feature point extracting means 9 of FIG. When line segment feature points occur, the line segment can be stably divided by integrating the subline segment feature points by the integrating means 10 shown in FIG. 3.

第4図3及び4はそれぞれ第2図6及び第2図
7のパターンに対し、第3図の副線分特徴量抽出
手段9により得られる特徴量の一例を示したもの
である。
FIGS. 3 and 4 show examples of feature amounts obtained by the sub-line segment feature amount extracting means 9 of FIG. 3 for the patterns of FIGS. 6 and 7, respectively.

第4図3は端点T1から分岐点Bまでの線分
(その線分弧長をMとする)を、第3図の副線分
特徴点抽出手段9及び統合手段10により得られ
た副線分特徴点C2(関数Y−Xが最小となる追跡
点を示す)を用いて2つの副線分に分割し、端点
T1及び副線分特徴点C2に狭まれた線分、副線
分特徴点C2及び分岐点B2に狭まれた線分のうち、
副線分特徴点C2と分岐点Bで狭まれた線分につ
いて、副線分弦方向4、副線分弦長M1、副線分
弧長M2が検出され、正規化された特徴値M2/M、 M1/M2及び副線分弦方向4が得られる。同様に第4 図4について、副線分特徴点C2、分岐点Bに狭
まれた線分に対し、副線分弦方向4、副線分弦長
N1、副線分弧長N2が検出され、正規化された特
徴値N2/N(Nは端点T1から分岐点Bまでの線分 弧長を示す)、N1/N2及び副線分弦方向4が得られ る。第4図3と第4図4のパターンに対しては上
述した特徴値M1/M2及びN1/N2を用いることにより、 識別が可能となる。
4. FIG. 3 shows a line segment from the end point T1 to the branching point B (the arc length of the line segment is M) as a sub line obtained by the sub line segment feature point extracting means 9 and the integrating means 10 of FIG. The line segment is divided into two sub-line segments using the minute feature point C 2 (indicates the tracking point where the function Y-X is the minimum), and the line segment narrowed to the end point T1 and the sub-line segment feature point C 2 , the sub-line Of the line segment narrowed by minutiae point C 2 and branch point B 2 ,
For the line segment narrowed between the subline segment feature point C 2 and the branch point B, the subline segment chord direction 4, subline segment chord length M 1 , and subline segment arc length M 2 are detected and normalized features. The values M 2 /M, M 1 /M 2 and the minor chord direction 4 are obtained. Similarly, regarding Fig. 4, for the line segment narrowed to subline segment feature point C 2 and branch point B, subline segment chord direction 4, subline segment chord length
N 1 , sub-line segment arc length N 2 is detected, and the normalized feature value N 2 /N (N indicates the line segment arc length from end point T1 to branch point B), N 1 /N 2 and sub-line segment A line segment chord direction 4 is obtained. The patterns shown in FIGS. 4 and 4 can be identified by using the feature values M 1 /M 2 and N 1 /N 2 described above.

第5図は本発明の第1の実施例を示すブロツク
図であり、第3図の副線分化判定手段8、副線分
特徴点抽出手段9、統合手段10、副線分特徴量
抽出手段11、の具体的実施回路の一例を示した
図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention, which includes the sub-line segmentation determination means 8, sub-line segment feature point extraction means 9, integration means 10, and sub-line segment feature amount extraction means shown in FIG. 11 is a diagram showing an example of a specific implementation circuit.

尚、各追跡点のX、Y座標値を変数とする関数
としてX+Y、Y−Xを用いて、副線分特徴点を
検出し、検出された副線分に対し、特徴量として
副線分分割数、副線分弦長、副線分弧長、副線分
弦方向を検出するようにした回路図である。
Note that the sub-line segment feature points are detected using X+Y, Y-X as functions with the X and Y coordinate values of each tracking point as variables, and the sub-line segment is calculated as a feature amount for the detected sub-line segment. FIG. 7 is a circuit diagram in which the number of divisions, the sub-line segment chord length, the sub-line segment arc length, and the sub-line segment chord direction are detected.

尚第5図及び第6図では、信号線の番号の後に
Sを付けることによりその信号線上の信号を表わ
すことにする。20,21,43,44はそれれ
ぞれ1線分弧長記憶レジスタ、1線分弦長記憶レ
ジスタ、1線分終点記憶レジスタ、1線分始点記
憶レジスタである。1線分弧長記憶レジスタ20
には、1線分の線分弧長が制御回路100によ
り、検出された線分の順に第3図の1文字パター
ン分の線分弧長が記憶されている特徴レジスタ5
から読み出され、記憶される。同様に、1線分弦
長記憶レジスタ21及び1線分始点記憶レジスタ
44及び1線分終点記憶レジスタ43には、それ
ぞれ1線分の線分弦長、1線分の始点のX、Y座
標値、1線分の終点のX、Y座標値が制御回路1
00により、検出された線分の順に第3図の1文
字パターン分の線分弦長、線分の始点及び終点の
X、Y座標値が記憶されている特徴レジスタ5か
ら読み出され、記憶される。副線分化判定手段8
は割算回路22、ふくらみ設定値記憶レジスタ2
3、比較回路より構成される。制御回路100に
より、1線分弧長記憶レジスタ20及び1線分弦
長記憶レジスタ21の内容が割算回路22に転送
される。割算回路22は1線分弧長記憶レジスタ
20の内容で1線分弦長記憶レジスタ21の内容
が割られ、その値を比較回路24に転送する。比
較回路24はふくらみ設定値記憶レジスタ23の
内容と割算回路22の出力値とを比較し、割算回
路22の出力値がふくらみ設定値記憶レジスタ2
3の内容より小さければ出力信号241Sより
“1”が出力され、大きければ制御回路100に
より、1線分弧長記憶レジスタ20、1線分弦長
記憶レジスタ21、1線分終点記憶レジスタ4
3、1線分始点記憶レジスタ44にはそれぞれ第
3図の特徴レジスタ5から次に検出された線分の
弦長、弦長、始点及び終点のX、Y座標値が転送
される。
In FIGS. 5 and 6, the signal on the signal line is indicated by adding S after the number of the signal line. Reference numerals 20, 21, 43, and 44 are a one-line segment arc length storage register, a one-line segment chord length storage register, a one-line segment end point storage register, and a one-line segment start point storage register, respectively. 1 line segment length storage register 20
The line segment arc length of one line is stored in the feature register 5 in which the line segment arc length of one character pattern in FIG. 3 is stored in the order of detected line segments by the control circuit 100.
is read from and stored. Similarly, the 1-line segment chord length storage register 21, the 1-line segment start point storage register 44, and the 1-line segment end point storage register 43 each contain the line segment chord length of the 1-line segment, and the X and Y coordinates of the starting point of the 1-line segment. value, the X and Y coordinate values of the end point of one line segment are the control circuit 1
00, the line segment chord length for one character pattern shown in FIG. be done. Subline differentiation determination means 8
are the division circuit 22 and the expansion setting value storage register 2.
3. Consists of a comparison circuit. The control circuit 100 transfers the contents of the one-line segment length storage register 20 and the one-line segment chord length storage register 21 to the division circuit 22 . The division circuit 22 divides the contents of the one-line chord length storage register 21 by the contents of the one-line arc length storage register 20 and transfers the resulting value to the comparison circuit 24 . The comparison circuit 24 compares the contents of the bulge setting value storage register 23 and the output value of the division circuit 22, and determines whether the output value of the division circuit 22 is equal to the bulge setting value storage register 2.
If the content is smaller than the content of 3, "1" is output from the output signal 241S, and if it is larger, the control circuit 100 outputs the 1-line arc length storage register 20, the 1-line chord length storage register 21, and the 1-line segment end point storage register 4.
3. The chord length of the next detected line segment, the chord length, and the X and Y coordinate values of the starting point and ending point are transferred to the line segment starting point storage register 44 from the feature register 5 in FIG.

即ち副線分化判定手段8は端点、分岐点等で狭
まれた線分の線分弦長の値を線分弧長の値で割つ
た特徴量により、その線分に一定以上のふくらみ
または屈曲があるか否かを検出し、あれば出力信
号241Sより“1”が出力される。比較回路2
4の出力信号241Sより“1”が出力される
と、制御回路100は一定時間毎に追跡点記憶ワ
ークメモリ7より1線分始点記憶レジスタ44の
内容である線分の始点に対応する追跡点から順に
各追跡点のX、Y座標値を読み出し、ワークレジ
スタ25に記憶する。また、出力信号241Sよ
り“1”が出力されると、1ビツトフリツプフロ
ツプ回路17は“1”となり、その出力信号17
1Sは“1”となるため、ゲート回路40が開
き、ワークレジスタ25の内容が加算回路18及
び減算回路19に転送される。加算回路18はワ
ークレジスタ25の内容である追跡点のX座標値
とY座標値とが加算され、レジスタ26に転送す
る。減算回路19に追跡点のY座標値からX座標
値が減じられ、レジスタ31に転送する。
That is, the sub-line differentiation determination means 8 determines whether the line segment has a bulge or bend exceeding a certain level, based on the feature value obtained by dividing the chord length value of the line segment narrowed at an end point, branch point, etc. by the line segment arc length value. It is detected whether or not there is, and if there is, "1" is outputted from the output signal 241S. Comparison circuit 2
When "1" is output from the output signal 241S of 4, the control circuit 100 selects the tracking point corresponding to the starting point of the line segment that is the content of the 1-line segment starting point storage register 44 from the tracking point storage work memory 7 at regular intervals. From then on, the X and Y coordinate values of each tracking point are read out in order and stored in the work register 25. Further, when "1" is output from the output signal 241S, the 1-bit flip-flop circuit 17 becomes "1", and the output signal 17 becomes "1".
Since 1S becomes "1", the gate circuit 40 is opened and the contents of the work register 25 are transferred to the addition circuit 18 and subtraction circuit 19. The adder circuit 18 adds the X and Y coordinate values of the tracking point, which are the contents of the work register 25, and transfers the result to the register 26. The subtraction circuit 19 subtracts the X coordinate value from the Y coordinate value of the tracking point and transfers it to the register 31.

加算最小値記憶レジスタ27及び加算最大値記
憶レジスタ28はそれぞれ、線分の始点より、ワ
ークレジスタ25に記憶された追跡点より1つ前
の追跡点のX座標値とY座標値の和の最小値及び
最大値を記憶し、減算最小値記憶レジスタ32及
び減算最大値記憶レジスタ35はそれぞれ線分の
始点よりワークレジスタ25に記憶された追跡点
より1つ前の追跡点までのX座標値とY座標値の
差の最小値及び最大値を記憶する。尚加算最大値
記憶レジスタ28及び減算最大値記憶レジスタ3
5は最初に“0”が、加算最小値記憶レジスタ2
7及び減算最小値記憶レジスタ32にはそれぞれ
X座標値とY座標値の和及び差の取り得る値の最
大値以上のある設定値が最初に記憶されている。
比較回路29ではレジスタ26の内容が加算最小
値記憶レジスタ27の内容より小さいか否かを調
べレジスタ26の内容が加算最小値記憶レジスタ
27の内容より小さければその出力信号291S
が“1”となる。
The minimum addition value storage register 27 and the maximum addition value storage register 28 each store the minimum sum of the X coordinate value and the Y coordinate value of the tracking point immediately before the tracking point stored in the work register 25 from the starting point of the line segment. The subtraction minimum value storage register 32 and the subtraction maximum value storage register 35 respectively store the X coordinate value from the starting point of the line segment to the tracking point one before the tracking point stored in the work register 25. Store the minimum and maximum values of the difference in Y coordinate values. Furthermore, the addition maximum value storage register 28 and the subtraction maximum value storage register 3
5 is initially “0” and is added to the minimum addition value storage register 2.
7 and the subtraction minimum value storage register 32, a set value that is greater than or equal to the maximum value of the sum and difference of the X and Y coordinate values is initially stored.
The comparison circuit 29 checks whether the contents of the register 26 are smaller than the contents of the minimum addition value storage register 27, and if the contents of the register 26 are smaller than the contents of the minimum addition value storage register 27, the output signal 291S is output.
becomes “1”.

比較回路30ではレジスタ26の内容が加算最
大値レジスタ28の内容より大きいか否かを調
べ、レジスタ26の内容が加算最大値記憶レジス
タ28の内容より大きければその出力信号301
Sが“1”となる。比較回路33では、レジスタ
31の内容が減算最小値記憶レジスタ32の内容
より小さいか否かを調べ、レジスタ31の内容が
減算最小値記憶レジスタ32の内容より小さけれ
ば出力信号331Sが“1”となる。比較回路3
4ではレジスタ31の内容が減算最大値記憶レジ
スタ35の内容より大きいか否かを調べ、レジス
タ31の内容が減算最大値記憶レジスタ35の内
容より大きければ出力信号341Sが“1”とな
る。即ち、副特徴点検出手段1003はワークレ
ジスタ25に記憶された追跡点のX座標値とY座
標値との和及び差を検出し、その和及び差が線分
の始点よりワークレジスタ25に記憶された追跡
点より1つ前の追跡点までのX座標値とY座標値
との和及び差の最大値または最小値より、大きい
か小さいかに応じて、それぞれ出力信号291
S,301S,331S,341Sが“1”とな
る。
The comparison circuit 30 checks whether the contents of the register 26 are larger than the contents of the maximum addition value register 28, and if the contents of the register 26 are larger than the contents of the maximum addition value storage register 28, the output signal 301 is
S becomes "1". The comparison circuit 33 checks whether the contents of the register 31 are smaller than the contents of the minimum subtraction value storage register 32, and if the contents of the register 31 are smaller than the contents of the minimum subtraction value storage register 32, the output signal 331S becomes "1". Become. Comparison circuit 3
4, it is checked whether the contents of the register 31 are larger than the contents of the maximum subtraction value storage register 35, and if the contents of the register 31 are larger than the contents of the maximum subtraction value storage register 35, the output signal 341S becomes "1". That is, the sub-feature point detection means 1003 detects the sum and difference between the X and Y coordinate values of the tracking point stored in the work register 25, and stores the sum and difference in the work register 25 from the starting point of the line segment. The output signal 291 is output depending on whether it is larger or smaller than the maximum or minimum value of the sum and difference between the X coordinate value and the Y coordinate value up to the tracking point one before the tracking point.
S, 301S, 331S, and 341S become "1".

比較回路29の出力信号291Sが“1”とな
るとゲート回路36が開き、レジスタ26の内容
が加算最小値記憶レジスタ27に転送されると共
にゲート回路50が開き、ワークレジスタ25の
内容が副特徴点記憶レジスタ45の1段目451
に転送される。比較回路33の出力信号331S
が“1”となると、ゲート回路38及びゲート回
路49が開き、レジスタ31の内容が減算最小値
記憶レジスタ32へ転送され、ワークレジスタ2
5の内容が副特徴点記憶レジスタ45の2段目4
52に転送される。比較回路30の出力信号30
1Sが“1”になると、ゲート回路37及びゲー
ト回路48が開き、レジスタ26の内容が加算最
大値記憶レジスタ28に転送され、ワークレジス
タ25の内容が副特徴点記憶レジスタ45の3段
目453に転送される。
When the output signal 291S of the comparison circuit 29 becomes "1", the gate circuit 36 opens, and the contents of the register 26 are transferred to the addition minimum value storage register 27, and the gate circuit 50 opens, and the contents of the work register 25 are transferred to the sub-feature point. First stage 451 of storage register 45
will be forwarded to. Output signal 331S of comparison circuit 33
When becomes "1", the gate circuit 38 and gate circuit 49 are opened, the contents of the register 31 are transferred to the subtraction minimum value storage register 32, and the contents of the register 31 are transferred to the subtraction minimum value storage register 32.
The contents of 5 are stored in the second stage 4 of the sub minutiae storage register 45.
52. Output signal 30 of comparison circuit 30
When 1S becomes "1", the gate circuit 37 and the gate circuit 48 are opened, the contents of the register 26 are transferred to the maximum addition value storage register 28, and the contents of the work register 25 are transferred to the third stage 453 of the sub feature point storage register 45. will be forwarded to.

比較回路34の出力信号341Sが“1”にな
ると、ゲート回路39及びゲート回路47が開い
て、レジスタ31の内容が減算最大値記憶レジス
タ35に転送され、ワークレジスタ25の内容が
副特徴点記憶レジスタ45の4段目454に転送
される。制御回路100は追跡点記憶ワークメモ
リ7の内容がワークレジスタ25に転送された時
間よりワークレジスタ25の内容が副特徴点記憶
レジスタ45に転送される時間を経過した後、制
御信号102Sより“1”を出力すると共に追跡
点記憶ワークメモリ15より、次の追跡点のX、
Y座標値がワークレジスタ25に読み出される。
When the output signal 341S of the comparison circuit 34 becomes "1", the gate circuit 39 and the gate circuit 47 are opened, the contents of the register 31 are transferred to the subtraction maximum value storage register 35, and the contents of the work register 25 are stored as sub-minus point storage. It is transferred to the fourth stage 454 of the register 45. The control circuit 100 outputs "1" from the control signal 102S after the time from when the contents of the tracking point storage work memory 7 were transferred to the work register 25 to when the contents of the work register 25 were transferred to the sub-minutiae storage register 45 has elapsed. ” and at the same time outputs the next tracking point X, from the tracking point storage work memory 15.
The Y coordinate value is read into the work register 25.

制御信号102Sより“1”が出力されるとゲ
ート回路95が開き、比較回路42において、ワ
ークレジスタ25の内容と線分終点記憶レジスタ
43の内容が比較される。比較回路42では線分
終点記憶レジスタ43の内容とワークレジスタ2
5の内容が等しいか否かを調べ、等しければその
出力信号421Sが“1”となる。
When "1" is output from the control signal 102S, the gate circuit 95 is opened, and the contents of the work register 25 and the contents of the line segment end point storage register 43 are compared in the comparison circuit 42. The comparison circuit 42 compares the contents of the line segment end point storage register 43 and the work register 2.
It is checked whether the contents of 5 are equal, and if they are equal, the output signal 421S becomes "1".

比較回路42の出力信号421Sが“1”とな
つた時点では、副特徴点記憶レジスタ45の1段
目451には追跡点のX座標値とY座標値の和が
最小となる追跡点うち、最初に検出された追跡点
のX、Y座標値が、2段目452には追跡点のY
座標値とX座標値の差が最小となる追跡点のう
ち、最初に検出された追跡点のX、Y座標値が3
段目453には追跡点のX座標値とY座標値の和
が最大となる追跡点のうち、最初に検出された追
跡点のX、Y座標値が、4段目454には追跡点
のY座標値とX座標値の差が最大となる追跡点の
うち、最初に検出された追跡点のX、Y座標値が
記憶されている。比較回路42の出力信号421
Sが“1”になると、制御回路100は制御信号
103Sを出力し、1ビツトフリツプフロツプ回
路17は“0”になると共に追跡点記憶ワークメ
モリ15からの読み出しは停止する。
At the time when the output signal 421S of the comparison circuit 42 becomes "1", the first stage 451 of the sub-minutiae storage register 45 stores the tracking points whose sum of the X coordinate value and the Y coordinate value of the tracking points is the minimum. The X and Y coordinate values of the first detected tracking point are displayed in the second row 452.
Among the tracking points where the difference between the coordinate value and the X coordinate value is the minimum, the X and Y coordinate values of the first detected tracking point are 3
The row 453 shows the X and Y coordinate values of the first detected tracking point among the tracking points where the sum of the X and Y coordinate values of the tracking point is maximum, and the fourth row 454 shows the X and Y coordinate values of the tracking point. Among the tracking points with the largest difference between the Y and X coordinate values, the X and Y coordinate values of the first detected tracking point are stored. Output signal 421 of comparison circuit 42
When S becomes "1", the control circuit 100 outputs the control signal 103S, the 1-bit flip-flop circuit 17 becomes "0", and reading from the tracking point storage work memory 15 is stopped.

次に制御回路100は制御信号105Sを出力
し、1ビツトフリツプフロツプ回路66が“0”
にリセツトされると共に副特徴点記憶レジスタ4
5の1段目451の内容が減算回路69に転送さ
れる。カウンター55は副特徴点記憶レジスタ4
5の内容が減算回路69に転送されると、制御信
号106Sにより1カウントアツプされる。一方
減算回路69には1ビツトフリツプフロツプ回路
66が“1”の時にはゲート回路67が開いて、
終点記憶レジスタ43の内容が転送され、1ビツ
トフリツプフロツプ回路66が“0”の時にはイ
ンバータ97の出力信号971Sが“1”となり
ゲート回路68が開いて、始点記憶レジスタ44
の内容が転送される。最初に1ビツトフリツプフ
ロツプ回路66の値は“0”であるから、減算回
路69には始点記憶レジスタ44の内容が転送さ
れる。減算回路69は始点記憶レジスタ44また
は終点記憶レジスタ43の内容であるX(Y)座
標値と副特徴点記憶レジスタ45の1段目451
の内容であるX(Y)座標値との差が計算される。
比較回路160では一定値が記憶されているレジ
スタ150の内容と減算回路69の出力であるX
またはY座標値の差の絶対値とが比較され、減算
回路69の出力であるX、Y座標値の差の絶対値
が共にレジスタ73の内容より小さければ統合信
号162Sが“1”となる。
Next, the control circuit 100 outputs the control signal 105S, and the 1-bit flip-flop circuit 66 becomes "0".
is reset to sub minutiae storage register 4.
The contents of the first stage 451 of 5 are transferred to the subtraction circuit 69. The counter 55 is the sub-minutiae storage register 4
When the contents of 5 are transferred to the subtraction circuit 69, the count is increased by 1 by the control signal 106S. On the other hand, in the subtraction circuit 69, when the 1-bit flip-flop circuit 66 is "1", the gate circuit 67 is open.
The contents of the end point memory register 43 are transferred, and when the 1-bit flip-flop circuit 66 is "0", the output signal 971S of the inverter 97 becomes "1", the gate circuit 68 is opened, and the start point memory register 44 is transferred.
The contents of will be transferred. Initially, the value of the 1-bit flip-flop circuit 66 is "0", so the contents of the starting point storage register 44 are transferred to the subtraction circuit 69. The subtraction circuit 69 extracts the X (Y) coordinate value which is the content of the start point storage register 44 or the end point storage register 43 and the first stage 451 of the sub-minutiae storage register 45.
The difference between the X (Y) coordinate value and the content of is calculated.
The comparison circuit 160 compares the contents of the register 150 storing a constant value with the output of the subtraction circuit 69
Alternatively, the absolute value of the difference between the Y coordinate values is compared, and if both the absolute values of the difference between the X and Y coordinate values output from the subtraction circuit 69 are smaller than the contents of the register 73, the integrated signal 162S becomes "1".

統合信号162Sが“1”となると、カウンタ
ー55の内容により選択回路56により、減算回
路69に転送された副特徴点記憶レジスタ45の
N段目(N=1…4)の内容を“0”にクリアす
る。制御回路100は減算回路69の出力値とレ
ジスタ150の内容が比較回路160で比較され
た後、副特徴点記憶レジスタ45の2段目452
の内容が減算回路69に転送され、制御信号10
6Sによりカウンター55は1カウントアツプさ
れ、“2”となる。以下同様な操作が行なわれ、
副特徴点記憶レジスタ45の4段目454の内容
が減算回路69に転送され、減算回路69の出力
値とレジスタ150の内容が比較回路160で比
較された時点で、制御回路100は、制御信号1
05S及び制御信号107Sを出力し、1ビツト
フリツプフロツプ回路66は“1”にセツトさ
れ、カウンター55は“0”にクリアされ、副特
徴点記憶レジスタ45の1段目451が減算回路
69に転送される。更に制御信号106Sが出力
され、カウンター55は1カウントアツプする。
1ビツトフリツプフロツプ回路は“1”となつて
いるので終点記憶レジスタ44の内容が減算回路
69に転送される。以下同様な操作が行なわれ
る。
When the integrated signal 162S becomes "1", the selection circuit 56 sets the contents of the Nth stage (N=1...4) of the sub feature point storage register 45 transferred to the subtraction circuit 69 to "0" according to the contents of the counter 55. Clear to. After the output value of the subtraction circuit 69 and the contents of the register 150 are compared in the comparison circuit 160, the control circuit 100 compares the output value of the subtraction circuit 69 with the contents of the register 150, and then compares the output value of the subtraction circuit 69 with the contents of the register 150.
The content of is transferred to the subtraction circuit 69, and the control signal 10
By 6S, the counter 55 is incremented by 1 and becomes "2". Similar operations are performed below,
When the contents of the fourth stage 454 of the sub feature point storage register 45 are transferred to the subtraction circuit 69 and the output value of the subtraction circuit 69 and the contents of the register 150 are compared in the comparison circuit 160, the control circuit 100 outputs the control signal. 1
05S and a control signal 107S, the 1-bit flip-flop circuit 66 is set to "1", the counter 55 is cleared to "0", and the first stage 451 of the sub feature point storage register 45 is set to the subtraction circuit 69. will be forwarded to. Furthermore, the control signal 106S is output, and the counter 55 counts up by one.
Since the 1-bit flip-flop circuit is at "1", the contents of the end point storage register 44 are transferred to the subtraction circuit 69. Similar operations are performed thereafter.

副特徴点記憶レジスタ45の4段目454の内
容が減算回路69に転送され、減算回路69の出
力値とレジスタ150の内容が比較回路160で
比較された時点で、制御信号105S及び制御信
号107Sが出力され、1ビツトフリツプフロツ
プ回路66は“0”にセツトされ、カウンター5
5はクリアされると共に制御回路100により、
副特徴点記憶レジスタ45の1段目451の内容
は、レジスタ51へ、2段目452の内容はレジ
スタ52へ3段目453の内容はレジスタ53
へ、4段目454の内容はレジスタ54へそれぞ
れ転送される。即ち統合手段10は副特徴点レジ
スタ45に記憶された副特徴点のX、Y座標値と
線分の始点及び終点のX、Y座標値との差が一定
値以内に入れば比較回路160より統合信号16
2Sを出力し、その副特徴点のX、Y座標値をク
リアする。次に制御回路100は追跡点記憶ワー
クメモリ7より1線分の始点記憶レジスタの内容
である線分の始点に対応する追路点から順に各追
跡点のX、Y座標値を一定時間毎に読み出しを開
始し、ワークレジスタに記憶すると共に制御信号
108Sが“1”となり1ビツトフリツプフロツ
プ回路18の出力信号181Sが“1”となる。
信号181Sが“1”になると、ゲート回路79
が開き、ワークレジスタ25の内容がレジスタ7
5に転送される。比較回路71において、レジス
タ51の内容とレジスタ75の内容が等しいか否
かを調べ、等しければその出力信号711Sが
“1”となる。比較回路72において、レジスタ
52の内容とレジスタ75の内容が等しいか否か
を調べ、等しければその出力信号721Sが
“1”となる。
The contents of the fourth stage 454 of the sub feature point storage register 45 are transferred to the subtraction circuit 69, and when the output value of the subtraction circuit 69 and the contents of the register 150 are compared in the comparison circuit 160, the control signal 105S and the control signal 107S are transferred. is output, the 1-bit flip-flop circuit 66 is set to "0", and the counter 5
5 is cleared and the control circuit 100
The contents of the first stage 451 of the sub feature point storage register 45 are sent to the register 51, the contents of the second stage 452 are sent to the register 52, and the contents of the third stage 453 are sent to the register 53.
Then, the contents of the fourth stage 454 are transferred to the register 54, respectively. That is, if the difference between the X, Y coordinate values of the sub feature point stored in the sub feature point register 45 and the X, Y coordinate values of the starting point and end point of the line segment is within a certain value, the integrating means 10 outputs the result from the comparing circuit 160. Integrated signal 16
2S is output, and the X and Y coordinate values of the sub-feature point are cleared. Next, the control circuit 100 obtains the X and Y coordinate values of each tracking point at regular intervals from the tracking point storage work memory 7 in order from the tracking point corresponding to the starting point of the line segment, which is the content of the starting point storage register for one line segment. Reading is started and the data is stored in the work register, and at the same time, the control signal 108S becomes "1" and the output signal 181S of the 1-bit flip-flop circuit 18 becomes "1".
When the signal 181S becomes “1”, the gate circuit 79
opens and the contents of work register 25 are transferred to register 7.
Transferred to 5. The comparison circuit 71 checks whether the contents of the register 51 and the contents of the register 75 are equal. If they are equal, the output signal 711S becomes "1". The comparison circuit 72 checks whether the contents of the register 52 and the contents of the register 75 are equal. If they are equal, the output signal 721S becomes "1".

比較回路73において、レジスタ53の内容と
レジスタ75の内容が等しいか否かを調べ、等し
ければその出力信号731Sが“1”となる。比
較回路74において、レジスタ54の内容とレジ
スタ75の内容が等しいか否かを調べ、等しけれ
ばその出力信号741Sが“1”となる。レジス
タ77には線分の始点より追跡した際、レジスタ
75に記憶されている追跡のX、Y座標値の一つ
前に検出された追跡点のX、Y座標値が記憶され
ている。尚最初にレジスタ77及びレジスタ93
には線分の始点のX、Y座標値がセツトされる。
78は追跡点間距離計算回路であり、レジスタ7
7に記憶された追跡点のX、Y座標値及びレジス
タ75に記憶された追跡点のX、Y座標値より2
つの追跡点間の距離を計算し、レジスタ81に転
送される。加算回路82はレジスタ81の内容と
レジスタ83の内容とを加算し、レジスタ83に
転送する。制御回路100は、制御信号109S
より“1”を出力するため、ゲート回路80が開
き、レジスタ75の内容がレジスタ77に転送さ
れる。レジスタ75の内容がレジスタ77に転送
された時点でワークレジスタ25の内容がレジス
タ75に転送される。比較回路7N(N=1…4)
の出力信号7N1(N=1…4)が“1”になる
と、ゲート回路6N(N=1…4)が開き、レジ
スタ5N(N=1…4)の内容がレジスタ94に
転送される。更に制御信号111Sが“1”とな
り、ゲート回路60が開いて、レジスタ83は5
段のシフトレジスタからなる副線分弧長記憶レジ
スタ84に転送され制御信号113Sにより、レ
ジスタ83は“0”にクリアされる。92は2点
間の方向量子化回路であり、レジスタ94に記憶
された副特徴点のX、Y座標値とレジスタ93に
記憶された副特徴点のX、Y座標値より、第1図
3に示すような方向に量子化され、5段のシフト
レジスタよりなる方向レジスタ98に転送され
る。91は距離計算回路であり、レジスタ93及
びレジスタ94の内容で示される副特徴点及び始
点、終点のX、Y座標値よりその距離を計算し、
5段のシフトレジスタからなる副線分弦長記憶レ
ジスタ84に転送される。次に制御回路100よ
り制御信号115Sが“1”となりゲート回路9
5が開き、レジスタ94の内容がレジスタ93に
転送され、カウンター49は1カウントアツプさ
れる。
The comparison circuit 73 checks whether the contents of the register 53 and the contents of the register 75 are equal. If they are equal, the output signal 731S becomes "1". The comparison circuit 74 checks whether the contents of the register 54 and the contents of the register 75 are equal. If they are equal, the output signal 741S becomes "1". The register 77 stores the X, Y coordinate values of the tracing point detected immediately before the tracing X, Y coordinate values stored in the register 75 when tracing from the starting point of the line segment. First, register 77 and register 93
The X and Y coordinate values of the starting point of the line segment are set.
78 is a distance calculation circuit between tracking points, and register 7
2 from the X, Y coordinate values of the tracking point stored in 7 and the X, Y coordinate values of the tracking point stored in register 75.
The distance between the two tracking points is calculated and transferred to register 81. The adder circuit 82 adds the contents of the register 81 and the contents of the register 83 and transfers the result to the register 83. The control circuit 100 receives a control signal 109S.
In order to output "1", the gate circuit 80 is opened and the contents of the register 75 are transferred to the register 77. When the contents of register 75 are transferred to register 77, the contents of work register 25 are transferred to register 75. Comparison circuit 7N (N=1...4)
When the output signal 7N1 (N=1...4) becomes "1", the gate circuit 6N (N=1...4) opens and the contents of the register 5N (N=1...4) are transferred to the register 94. Furthermore, the control signal 111S becomes "1", the gate circuit 60 is opened, and the register 83 becomes "5".
The data is transferred to the sub-line branch length storage register 84, which is a shift register of the stage, and the register 83 is cleared to "0" by the control signal 113S. Reference numeral 92 denotes a direction quantization circuit between two points, which uses the X and Y coordinate values of the sub-feature point stored in the register 94 and the X and Y coordinate values of the sub-feature point stored in the register 93 to determine the direction as shown in FIG. The signal is quantized in the direction shown in , and transferred to a direction register 98 consisting of a five-stage shift register. 91 is a distance calculation circuit, which calculates the distance from the X and Y coordinate values of the sub-feature point, start point, and end point indicated by the contents of registers 93 and 94;
The data is transferred to a sub line segment chord length storage register 84 consisting of a five stage shift register. Next, the control signal 115S becomes “1” from the control circuit 100, and the gate circuit 9
5 is opened, the contents of register 94 are transferred to register 93, and counter 49 is incremented by one.

カウンター49は副線分の分割数をカウントし
ている。
A counter 49 counts the number of sub-line segments.

比較回路76において、レジスタ75の内容と
1線分終点記憶レジスタ43の内容とが等しいか
否かを調べ、等しければ、1線分終了信号761
Sが出力される。
The comparison circuit 76 checks whether the contents of the register 75 and the contents of the 1-line segment end point storage register 43 are equal or not, and if they are equal, the 1-line segment end signal 761 is output.
S is output.

1線分終了信号761Sが出力されると、ゲー
ト回路65が開き、1線分終点記憶レジスタ43
の内容がレジスタ94に転送される。一定時間
後、制御回路100は副線分弧長記憶レジスタ8
4の内容を順に割算回路85に転送する。割算回
路85では副線分弧長記憶レジスタ84の内容を
1線分弧長記憶レジスタ20の内容(信号線は省
略する)で割られ、副線分正規化弧長記憶レジス
タ86に転送される。
When the 1-line segment end signal 761S is output, the gate circuit 65 opens and the 1-line segment end point storage register 43
The contents of are transferred to register 94. After a certain period of time, the control circuit 100 stores the sub line segment length storage register 8.
The contents of 4 are sequentially transferred to the division circuit 85. The division circuit 85 divides the contents of the sub-line segment length storage register 84 by the contents of the one-line segment length storage register 20 (signal lines are omitted), and transfers the result to the sub-line segment normalized arc length storage register 86. Ru.

また制御回路100は副線分弧長記憶レジスタ
84の内容及び副線分弦長記憶レジスタ87の内
容を順に割算回路88に転送する。割算回路88
は副線分弦長記憶レジスタ87の内容を副線分弧
長記憶レジスタ84の内容で割り、その結果を副
線分ふくらみ記憶レジスタ89に転送する。
Further, the control circuit 100 sequentially transfers the contents of the sub-line segment length storage register 84 and the contents of the sub-line segment chord length storage register 87 to the division circuit 88. Division circuit 88
divides the contents of the subline segment chord length storage register 87 by the contents of the subline segment arc length storage register 84 and transfers the result to the subline segment bulge storage register 89.

更に制御回路100はカウンター49の内容を
副特徴点数記憶レジスタ99に転送し、制御信号
116Sによりクリアする。次に制御回路100
より制御信号108Sが出力され、1ビツトフリ
ツプフロツプ回路18は“0”となる。
Further, the control circuit 100 transfers the contents of the counter 49 to the sub-feature point storage register 99, and clears it by the control signal 116S. Next, the control circuit 100
The control signal 108S is output, and the 1-bit flip-flop circuit 18 becomes "0".

即ち、副線分特徴量抽出手段11は端点、分岐
点等の特徴点で狭まれた線分を統合手段10によ
り、消失されなかつた副特徴点のX、Y座標値を
用いて、分割し、分割された線分(副線分)に対
し、副線分弧長及び副線弦長を検出し、それぞれ
線分弧長、副線分弦長で正規化を行ない、更に、
副線分の弦方向及び線分の副線分の分割数を検出
する。
That is, the sub-line segment feature extracting means 11 divides the line segment narrowed by the feature points such as end points and branch points by the integrating means 10 using the X and Y coordinate values of the sub-feature points that have not disappeared. , detect the sub-line segment arc length and sub-line chord length for the divided line segment (sub-line segment), normalize with the line segment arc length and sub-line segment chord length, respectively, and further,
The chord direction of the sub-line segment and the number of divisions of the sub-line segment are detected.

尚、副線分方向記憶レジスタ98及び副線分正
規化弧長記憶レジスタ86、副線分ふくらみ記憶
レジスタ89、副線分分割数記憶レジスタ99は
第3図の副線分特徴量記憶レジスタ12に相当す
る。
The sub line segment direction storage register 98, the sub line segment normalized arc length storage register 86, the sub line segment bulge storage register 89, and the sub line segment division number storage register 99 are the sub line segment feature storage register 12 in FIG. corresponds to

制御回路100は第3図の特徴レジスタ5より
次に検出された線分の弧長、弦長、始点及び終点
のX、Y座標値が1線分弧長記憶レジスタ20、
1線分弦長記憶レジスタ21、1線分始点記憶レ
ジスタ44、1線分終点記憶レジスタ43に転送
する。
The control circuit 100 stores the arc length, chord length, and X and Y coordinate values of the starting point and ending point of the next detected line segment from the characteristic register 5 in FIG.
It is transferred to the 1-line segment chord length storage register 21, the 1-line segment start point storage register 44, and the 1-line segment end point storage register 43.

以下同様な操作が行なわれる。 Similar operations are performed thereafter.

第6図は本発明の第2の実施例のブロツク図で
あり第5図の統合手段10において副線分特徴点
と線分の始点及び終点とのX、Y座標差が共に一
定値以内となる副線分特徴点を線分の始点及び終
点に統合し、更に、副線分特徴点間のX、Y座標
差が共に一定値以下となる副線分特徴点も統合
し、統合した副線分特徴点の代表点として、副線
分特徴点のX座標値とY座標値の和が小さい副線
分特徴点とし、数多く発生された認識上不要な副
線分特徴点を統合し記述量を少なくするように、
第5図の実施例を変更したブロツク図である。尚
第6図では、第5図のワークレジスタ25、1ビ
ツトフリツプフロツプ回路17,18、比較回路
42、ゲート回路40,79を1つのブロツク図
200で示す。また第5図で用いられた制御信号
は制御信号105Sを除いて省略する。前述した
ように図中21,20,43,44はそれぞれ1
線分弦長記憶レジスタ、1線分弦長記憶レジス
タ、1線分終点記憶レジスタ、1線分始点記憶レ
ジスタであり、8は副線分化判定手段、9は副線
分特徴点抽出手段、11は副線分特徴量抽出手
段、12は副線分特徴レジスタ、45は副線分特
徴点記憶レジスタである。
FIG. 6 is a block diagram of a second embodiment of the present invention, in which the integration means 10 of FIG. The sub-line segment feature points that are As a representative point of a line segment feature point, use a subline segment feature point with a small sum of the X and Y coordinate values of the subline segment feature point, and integrate and describe a large number of subline segment feature points that are unnecessary for recognition. To reduce the amount
FIG. 6 is a block diagram of a modification of the embodiment shown in FIG. 5; In FIG. 6, the work register 25, 1-bit flip-flop circuits 17 and 18, comparator circuit 42, and gate circuits 40 and 79 of FIG. 5 are shown in one block diagram 200. Further, the control signals used in FIG. 5 are omitted except for the control signal 105S. As mentioned above, 21, 20, 43, and 44 in the figure are each 1
These are a line segment chord length storage register, a 1-line segment chord length storage register, a 1-line segment end point storage register, and a 1-line segment start point storage register, 8 is a sub-line differentiation determination means, 9 is a sub-line segment feature point extraction means, and 11 12 is a sub line segment feature extracting means, 12 is a sub line segment feature register, and 45 is a sub line segment feature point storage register.

前述したように副線分特徴点抽出手段9より得
られた副線分特徴点が副線分特徴点記憶レジスタ
45にセツトされたとする。制御回路100は制
御信号105S及び120Sを出力し、1ビツト
フリツプフロツプ回路302が“0”にリセツト
され、1ビツトフリツプフロツプ回路303が
“1”にセツトされる。更に制御回路100は制
御信号121S及び制御信号122Sを出力し、
カウンター304及びカウンター305を“0”
にリセツトする。レジスタ306には、1ビツト
フリツプフロツプ回路302が“1”の時ゲート
回路402が開き、更に1ビツトフリツプフロツ
プ回路303が“1”となるとゲート回路403
も開いて終点記憶レジスタ43の内容が転送さ
れ、1ビツトフリツプフロツプ回路302が
“0”の時、インバータ404によりゲート回路
405が開き、更に1ビツトフリツプフロツプ回
路303が“1”となるとゲート回路403も開
いて始点記憶レジスタ44の内容が転送される。
最初に1ビツトフリツプフロツプ回路302の値
は“0”であり、1ビツトフリツプフロツプ回路
303の値は“1”であるからレジスタ306は
始点記憶レジスタ44の内容が転送される。
Assume that the sub-line segment feature points obtained by the sub-line segment feature point extracting means 9 are set in the sub-line segment feature point storage register 45 as described above. Control circuit 100 outputs control signals 105S and 120S, 1-bit flip-flop circuit 302 is reset to "0", and 1-bit flip-flop circuit 303 is set to "1". Further, the control circuit 100 outputs a control signal 121S and a control signal 122S,
Set counter 304 and counter 305 to “0”
Reset to . In the register 306, when the 1-bit flip-flop circuit 302 is "1", the gate circuit 402 is opened, and when the 1-bit flip-flop circuit 303 is "1", the gate circuit 403 is opened.
When the 1-bit flip-flop circuit 302 is "0", the inverter 404 opens the gate circuit 405, and the 1-bit flip-flop circuit 303 becomes "1". Then, the gate circuit 403 is also opened and the contents of the starting point storage register 44 are transferred.
Initially, the value of the 1-bit flip-flop circuit 302 is "0" and the value of the 1-bit flip-flop circuit 303 is "1", so the contents of the start point storage register 44 are transferred to the register 306.

選択回路307はカウンター305の値が
“0”であれば、副線分特徴点記憶レジスタ45
の1段目451の内容を、カウンター305の値
が“1”であれば、副線分特徴点記憶レジスタ4
5の2段目452の内容を…というように選択さ
れ、制御回路100より制御信号124Sが出力
され、ゲート回路406が開いた状態で、レジス
タ306に転送される。選択回路308はカウン
ター304の値が“0”であれば、副線分特徴点
記憶レジスタ45の1段目451の内容を、カウ
ンター304の値が“1”になると、副線分特徴
点記憶レジスタ45の3段目452の内容を、…
というようにカウンター304の値に応じて副線
分特徴点記憶レジスタ45の内容をレジスタ30
9は転送する。最初、カウンター304の値は
“0”であるから副線分特徴点記憶レジスタ45
の1段目451の内容がレジスタ309に転送さ
れる。レジスタ306及び309に値がセツトさ
れると、レジスタ306の内容及びレジスタ30
9の内容が減算回路310に転送される。減算回
路310は、レジスタ306の内容であるX(Y)
座標値とレジスタ309の内容であるX(Y)座
標値との差が計算される。比較回路315では一
定値が記憶されているレジスタ312の内容と減
算回路310の出力であるXまたはY座標値の差
の絶対値とが比較され、減算回路310の出力で
あるX、Y座標値の差の絶対値が共にレジスタ3
12の内容より小さければその出力信号502S
が“1”となる。比較回路315の出力信号50
2Sが“1”となり、1ビツトフリツプフロツプ
回路303が“1”であると、ゲート回路409
が開いて、終点・始点統合信号1001Sが1と
なる。終点・始点統合信号1001Sが“1”と
なると、OR回路416の出力信号503Sが
“1”となりゲート回路415が開いて、カウン
タ304の内容がデコーダ322に転送されると
共に制御信号122Sより“1”が出力される。
デコーダ322はカウンタ304あるいはカウン
タ305の値に応じた副線分記憶レジスタ45の
N段目(N=1…4)の内容をデコーダ322の
出力信号522Sにより“0”にクリアする。即
ち、デコーダ22の出力信号522Sにより、統
合されるべき副線分特徴点は“0”にクリアされ
る。減算回路310の内容が比較回路315にお
いて比較された後、カウンター304は1カウン
トアツプされる。次に選択回路308によりカウ
ンター304の値に応じた副線分特徴点記憶レジ
スタ45のN段目(N=1…4)の内容がレジス
タ309に転送される。カウンター304の値が
3となり、副線分特徴点記憶レジスタ45の4段
目454の値がレジスタ309に読み出され、最
初は始点記憶レジスタ44の内容が記憶されてい
るレジスタ306とが減算回路310に転送さ
れ、比較回路315で比較された後、1ビツトフ
リツプフロツプ回路302は制御信号105Sに
より“1”にセツトされゲート回路402が開い
て終点記憶レジスタ43の内容がレジスタ306
に転送される。制御回路100より制御信号12
1Sが出力されカウンター304は“0”にクリ
アされる。
If the value of the counter 305 is “0”, the selection circuit 307 selects the sub line segment feature point storage register 45.
If the value of the counter 305 is "1", the contents of the first row 451 are stored in the sub line segment feature point storage register 4.
The contents of the second stage 452 of No. 5 are selected as follows, the control signal 124S is output from the control circuit 100, and is transferred to the register 306 with the gate circuit 406 open. When the value of the counter 304 is "0", the selection circuit 308 stores the contents of the first stage 451 of the sub line segment feature point storage register 45, and when the value of the counter 304 becomes "1", it stores the contents of the sub line segment feature point memory. The contents of the third row 452 of the register 45 are...
According to the value of the counter 304, the contents of the sub line segment feature point storage register 45 are stored in the register 30.
9 transfers. Initially, the value of the counter 304 is “0”, so the sub line segment feature point storage register 45
The contents of the first stage 451 are transferred to the register 309. When values are set in registers 306 and 309, the contents of register 306 and register 30
9 is transferred to the subtraction circuit 310. The subtraction circuit 310 extracts the contents of the register 306, X(Y)
The difference between the coordinate value and the X (Y) coordinate value that is the contents of the register 309 is calculated. The comparison circuit 315 compares the contents of the register 312 in which a constant value is stored with the absolute value of the difference between the X or Y coordinate values output from the subtraction circuit 310, and calculates the X and Y coordinate values output from the subtraction circuit 310. The absolute value of the difference is both in register 3.
If it is smaller than the contents of 12, its output signal 502S
becomes “1”. Output signal 50 of comparison circuit 315
When 2S becomes "1" and the 1-bit flip-flop circuit 303 is "1", the gate circuit 409
is opened, and the end point/start point integrated signal 1001S becomes 1. When the end point/start point integrated signal 1001S becomes "1", the output signal 503S of the OR circuit 416 becomes "1", the gate circuit 415 is opened, the contents of the counter 304 are transferred to the decoder 322, and the control signal 122S becomes "1". ” is output.
The decoder 322 clears the contents of the Nth stage (N=1...4) of the sub line segment storage register 45 to "0" according to the value of the counter 304 or the counter 305 using the output signal 522S of the decoder 322. That is, the sub line segment feature points to be integrated are cleared to "0" by the output signal 522S of the decoder 22. After the contents of the subtraction circuit 310 are compared in the comparison circuit 315, the counter 304 is incremented by one. Next, the selection circuit 308 transfers the contents of the Nth stage (N=1 . . . 4) of the sub line segment feature point storage register 45 to the register 309 according to the value of the counter 304. The value of the counter 304 becomes 3, the value of the fourth stage 454 of the sub line segment feature point storage register 45 is read out to the register 309, and initially the register 306 in which the contents of the starting point storage register 44 are stored is a subtraction circuit. 310 and compared in the comparison circuit 315, the 1-bit flip-flop circuit 302 is set to "1" by the control signal 105S, the gate circuit 402 is opened, and the contents of the end point storage register 43 are transferred to the register 306.
will be forwarded to. Control signal 12 from control circuit 100
1S is output and the counter 304 is cleared to "0".

以下同様にして、カウンター304の値が
“3”となり副線分特徴点記憶レジスタ45の4
段目454の値がレジスタ309に読み出され、
終点記憶レジスタ44の内容が記憶されているレ
ジスタ306とが減算回路310に転送され、比
較回路315で比較された後、1ビツトフリツプ
フロツプ回路303は制御信号120Sにより
“0”にリセツトされ、ゲート回路403が閉じ
て、1線分始点及び1線分終点記憶レジスタ4
3,44からのレジスタ306への転送は停止す
る。1ビツトフリツプフロツプ回路303が
“0”にリセツトされると、制御回路100は、
カウンター305の内容(最初は“0”にリセツ
トされている。)が加算回路318に転送する
(信号線は省略する)と共に制御信号125Sが
“1”となり、ゲート回路407が開く。加算回
路318は設定値“1”が記憶されている1ビツ
トフリツプフロツプ回路319の値とカウンター
305の内容が加算され、ゲート回路407が開
くと、カウンター304に転送する。
Similarly, the value of the counter 304 becomes "3" and the value of the sub-line segment feature point storage register 45 becomes "4".
The value of row 454 is read out to register 309,
After the contents of the end point storage register 44 and the register 306 stored therein are transferred to the subtraction circuit 310 and compared in the comparison circuit 315, the 1-bit flip-flop circuit 303 is reset to "0" by the control signal 120S. , the gate circuit 403 closes, and the 1-line segment start point and 1-line segment end point storage register 4
Transfer from 3 and 44 to register 306 is stopped. When the 1-bit flip-flop circuit 303 is reset to "0", the control circuit 100
The contents of the counter 305 (initially reset to "0") are transferred to the adder circuit 318 (the signal line is omitted), and the control signal 125S becomes "1", opening the gate circuit 407. The adder circuit 318 adds the value of the 1-bit flip-flop circuit 319 in which the set value "1" is stored and the contents of the counter 305, and transfers the result to the counter 304 when the gate circuit 407 opens.

また、1ビツトフリツプフロツプ回路303が
“0”にリセツトされると、制御信号124Sが
1となり、ゲート回路406が開いて、選択回路
307によりカウンター305の内容に応じた副
線分特徴点記憶レジスタ45のN段目(N=1…
4)の内容を選択して、レジスタ306にセツト
される。一方カウンター304の値に応じて、選
択回路308より副線分特徴点記憶レジスタ45
のN段目(N=1…4)の内容が選択され、レジ
スタ309にセツトされる。レジスタ306及び
レジスタ309に値がセツトされると、前述した
ように、レジスタ306の内容及びレジスタ30
9の内容が減算回路310に転送され、比較回路
315において減算回路310の内容とレジスタ
312の内容が比較される。
Further, when the 1-bit flip-flop circuit 303 is reset to "0", the control signal 124S becomes 1, the gate circuit 406 is opened, and the selection circuit 307 selects the subline segment feature point according to the contents of the counter 305. Nth stage of storage register 45 (N=1...
4) is selected and set in the register 306. On the other hand, in accordance with the value of the counter 304, the selection circuit 308 selects the sub line segment feature point storage register 45.
The contents of the Nth stage (N=1...4) are selected and set in the register 309. When values are set in register 306 and register 309, the contents of register 306 and register 30 are set as described above.
9 is transferred to the subtraction circuit 310, and the comparison circuit 315 compares the contents of the subtraction circuit 310 with the contents of the register 312.

比較回路315の出力信号502Sが“1”と
なると、1ビツトフリツプフロツプ回路303は
“0”にリセツトされているので、インバータ4
12により、AND回路408の出力信号100
4Sが1となり、ゲート回路413及びゲート回
路414が開いて、レジスタ306及びレジスタ
309の内容がそれぞれ加算回路313及び加算
回路314に転送される。加算回路313はレジ
スタ306の内容である副線分特徴点のX座標値
とY座標値が加算され、比較回路316及び比較
回路317に転送される。
When the output signal 502S of the comparison circuit 315 becomes "1", since the 1-bit flip-flop circuit 303 has been reset to "0", the inverter 4
12, the output signal 100 of the AND circuit 408
4S becomes 1, gate circuit 413 and gate circuit 414 are opened, and the contents of register 306 and register 309 are transferred to adder circuit 313 and adder circuit 314, respectively. The addition circuit 313 adds the X and Y coordinate values of the subline segment feature points, which are the contents of the register 306, and transfers the result to the comparison circuits 316 and 317.

加算回路314はレジスタ309の内容である
副線分特徴点のX座標値とY座標値が加算され、
比較回路316及び比較回路317に転送され
る。
The addition circuit 314 adds the X and Y coordinate values of the subline segment feature points, which are the contents of the register 309,
It is transferred to comparison circuit 316 and comparison circuit 317.

比較回路316は加算回路314の出力が加算
回路313の出力より小さいか否かを調べ、加算
回路314の出力が加算回路313の出力より小
さければその出力信号1003Sが“1”とな
る。信号1003Sが“1”となると、ゲート回
路418が開き、カウンター305の内容がデコ
ーダ322に転送されると共に、制御信号122
Sが“1”となり、デコーダ322の出力信号5
22Sによりカウンター305の内容に対応した
副線分特徴記憶レジスター45のN段目(N=1
…4)の内容が“0”にクリアされる。
Comparison circuit 316 checks whether the output of addition circuit 314 is smaller than the output of addition circuit 313, and if the output of addition circuit 314 is smaller than the output of addition circuit 313, its output signal 1003S becomes "1". When the signal 1003S becomes "1", the gate circuit 418 opens and the contents of the counter 305 are transferred to the decoder 322, and the control signal 122
S becomes "1", and the output signal 5 of the decoder 322
22S, the Nth stage (N=1) of the sub-line segment feature storage register 45 corresponding to the contents of the counter 305 is
...The contents of 4) are cleared to "0".

比較回路317は加算回路314の出力が加算
回路313の出力に等しい場合あるいは加算回路
314の出力が加算回路313より大きい場合に
その出力信号1002Sが“1”となる。信号1
002Sが“1”となると、OR回路416の出
力信号503Sが“1”となり、ゲート回路41
5が開いて、カウンター304の内容がデコーダ
322に転送されると共に、制御信号122Sが
“1”となり、デコーダ322の出力信号522
Sによりカウンター304の内容に応じて副線分
特徴点記憶レジスター45のN段目(N=1…
4)の内容が“0”にクリアされる。
The output signal 1002S of the comparison circuit 317 becomes "1" when the output of the addition circuit 314 is equal to the output of the addition circuit 313 or when the output of the addition circuit 314 is larger than that of the addition circuit 313. signal 1
When 002S becomes "1", the output signal 503S of the OR circuit 416 becomes "1", and the gate circuit 41
5 opens, the contents of the counter 304 are transferred to the decoder 322, the control signal 122S becomes "1", and the output signal 522 of the decoder 322
According to the contents of the counter 304, the Nth stage (N=1...
The contents of 4) are cleared to "0".

減算回路310の内容が比較回路315におい
て比較された後、カウンタ304は1カウントア
ツプされ、選択回路308によりカウンター30
4の値に応じた副線分特徴点記憶レジスタ45の
内容がレジスタ309に転送される。
After the contents of the subtraction circuit 310 are compared in the comparison circuit 315, the counter 304 is incremented by 1, and the selection circuit 308 increases the count of the counter 304.
The contents of the subline segment feature point storage register 45 corresponding to the value of 4 are transferred to the register 309.

以下同様にして、カウンター304が“3”と
なり、副線分特徴点記憶レジスタ45の4段目4
54の内容がレジスター309に転送され、レジ
スタ306の内容とレジスタ309の内容が減算
回路310に転送されて、比較回路310におい
て比較された後、カウンター305が1カウント
アツプされると、制御回路100は、カウンター
305の内容を加算回路318に転送すると共に
制御信号125Sが“1”となりゲート回路40
7が開き、カウンター304にはカウンター30
5の内容に1を加算した値をセツトする。以下同
様にして、カウンター305の内容が制御信号1
30Sにより“3”になるまで続けられる。
In the same manner, the counter 304 becomes "3" and the fourth stage of the sub line segment feature point storage register 45 is "4".
54 is transferred to the register 309, the contents of the register 306 and the contents of the register 309 are transferred to the subtraction circuit 310, and compared in the comparison circuit 310. When the counter 305 is counted up by 1, the control circuit 100 transfers the contents of the counter 305 to the adder circuit 318, and the control signal 125S becomes “1” and the gate circuit 40
7 opens, counter 304 has counter 30
Sets the value obtained by adding 1 to the contents of 5. Similarly, the contents of the counter 305 are changed to control signal 1.
This continues until it reaches "3" by 30S.

カウンター305が“3”になると、副線分特
徴点記憶レジスタ45の内容は前述したように副
線分特徴量抽出手段11へ転送される。
When the counter 305 reaches "3", the contents of the sub-line segment feature point storage register 45 are transferred to the sub-line segment feature extraction means 11 as described above.

以上述べたように、本発明によれば屈曲あるい
は丸みを有する端点、分岐点等の特徴点で狭まれ
た線分に対して、線分を分割し、分割された線分
に対し、特徴量を検出することにより、安定にし
てパターンの特徴量の記述量を増やすことなく屈
曲あるいは丸みを有するパターンの識別を行なう
ことが可能となる。
As described above, according to the present invention, a line segment narrowed by a feature point such as a curved or rounded end point or a branch point is divided, and the feature value is calculated for the divided line segment. By detecting this, it becomes possible to stably identify a pattern having a bend or roundness without increasing the amount of description of the feature amount of the pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の基本特徴を説明する図、第2
図は従来の基本特徴より得られるパターンの例を
示す図、第4図は本発明を適用することによつ
て、得られる特徴点及び特徴量を説明する図、第
3図及び第5図は本発明の第1の実施例を示すブ
ロツク図、第6図は第5図の統合手段を変更した
本発明の第2の実施例を示すブロツク図、第7図
は副線分特徴点の抽出方法を説明する図、であ
る。 図において、1はパターンメモリ、2は細線化
パターンメモリ、3は特徴点抽出手段、4は線分
特徴量抽出手段、5は特徴レジスタ、6は認識
部、7は追跡点記憶ワークメモリ、8は副線分化
判定手段、9は副線分特徴点抽出手段、10は統
合手段、11は副線分特徴量抽出手段、12は副
線分特徴レジスタ、20は1線分弧長記憶レジス
タ、21は1線分弦長記憶レジスタ、43は1線
分終点記憶レジスタ、44は1線分始点記憶レジ
スタ、45は副線分特徴点記憶レジスタ、86は
副線分正規化弧長記憶レジスタ、89は副線分ふ
くらみ記憶レジスタ、98は副線分方向記憶レジ
スタ、99は副特徴点数記憶レジスタ、100は
制御回路である。
Figure 1 is a diagram explaining the basic features of the conventional system, Figure 2 is a diagram explaining the basic features of the conventional
The figure shows an example of a pattern obtained from conventional basic features, Figure 4 is a diagram explaining feature points and feature quantities obtained by applying the present invention, and Figures 3 and 5 are A block diagram showing the first embodiment of the present invention, FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention in which the integrating means of FIG. 5 is modified, and FIG. 7 is a block diagram showing the extraction of subline segment feature points. It is a figure explaining a method. In the figure, 1 is a pattern memory, 2 is a thinning pattern memory, 3 is a feature point extraction means, 4 is a line segment feature amount extraction means, 5 is a feature register, 6 is a recognition unit, 7 is a tracking point storage work memory, 8 9 is a sub line segment feature point extraction means; 10 is an integration means; 11 is a sub line segment feature extraction means; 12 is a sub line segment feature register; 20 is a one line segment arc length storage register; 21 is a 1 line segment chord length storage register, 43 is a 1 line segment end point storage register, 44 is a 1 line segment start point storage register, 45 is a sub line segment feature point storage register, 86 is a sub line segment normalized arc length storage register, 89 is a sub line segment bulge storage register, 98 is a sub line segment direction storage register, 99 is a sub feature point number storage register, and 100 is a control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 1文字の入力パターンを細線化し、細線化パ
ターンより端点、分岐点等の特徴点を検出し、前
記入力パターン及び細線化パターンを参照して特
徴量を抽出するパターンの特徴抽出方式におい
て、前記特徴点で狭まれた細線(以下線分と称
す)に、前記線分の始点である特徴点より追跡を
行ない、前記線分の始点より前記線分の終点であ
る特徴点に至る追跡長及び前記線分の始点、終点
の2点間の距離を検出し、前記追跡長に対する前
記線分の始点、終点の2点間の距離の比が設定値
以下となる線分を検出する副線分化判定手段と、
前記副線分化判定手段により検出された前記線分
の始点より前記線分の終点まで追跡し、各追跡点
のX座標値及びY座標値を変数とし、その線形結
合で表現される関数F1(X、Y)、F2(X、Y)、
…FN(X、Y)の値を検出した際、前記関数の値
が最大または最小となる追跡点を基にして副線分
特徴点を抽出する手段と、前記副線分特徴点と前
記線分の始点及び終点とのX、Y座標差が共に一
定値以内となる前記副線分特徴点を、前記線分の
始点及び終点に統合する手段と、前記統合手段に
前記線分の始点及び終点に統合されない前記副線
分特徴点により、前記線分を分割し、分割された
線分に対し、前記特徴量を抽出する副線分特徴量
抽出手段とを具備することを特徴としたパターン
の特徴抽出方式。 2 副線分特徴量抽出手段として、分割された線
分に分割された線分数及び分割された線分の始点
から終点への2点間の方向及び分割された線分の
始点より追跡を行ない、分割された線分の始点か
ら終点に至る追跡長を線分の追跡長で割つた特徴
量及び分割された線分の始点、終点の2点間の距
離を前記分割された線分の追跡長で割つた特徴量
を抽出するようにした特許請求の範囲第1項に記
載のパターンの特徴抽出方式。 3 1文字の入力パターンを細線化し、細線化パ
ターンより端点、分岐点等の特徴点を検出し、前
記入力パターン及び細線化パターンを参照して特
徴量を抽出するパターンの特徴抽出方式におい
て、前記線分に、前記線分の始点である特徴点よ
り追跡を行ない、前記線分の始点より前記線分の
終点である特徴点に至る追跡長及び前記線分の始
点、終点の2点間の距離を検出し、前記追跡長に
対する前記線分の始点、終点の2点間の距離の比
が設定値以下となる線分を検出する副線分化判定
手段と、前記副線分化判定手段により検出された
前記線分の始点より前記線分の終点まで追跡し、
各追跡点のX座標値及びY座標値を変数とし、そ
の線形結合で表現される関数F1(X、Y)、F2
(X、Y)…FN(X、Y)の値を検出した際、前
記関数の値が最大または最小となる追跡点を基に
して副線分特徴点を抽出する手段と、検出された
前記副線分特徴点と線分の始点及び終点とのX、
Y座標差が共に一定値以内となる前記副線分特徴
点を前記線分の始点及び終点に統合し、更に前記
線分の始点及び終点に統合されない前記副線分特
徴点間のX、Y座標差が共に一定値以内となる副
線分特徴点のうち、X、Y座標値の和が最小とな
る副線分特徴点を副線分代表点として、前記副線
分特徴点間の統合を行なう統合手段と、前記線分
の始点及び終点と前記副線分代表点により、前記
線分を分割し、分割された線分に対し、前記特徴
量を抽出する副線分特徴量抽出手段とを具備する
ことを特徴としたパターンの特徴抽出方式。
[Claims] 1. A pattern that thins an input pattern of one character, detects feature points such as end points and branch points from the thinned pattern, and extracts feature amounts by referring to the input pattern and the thinned pattern. In the feature extraction method, a thin line narrowed by the feature points (hereinafter referred to as a line segment) is traced from the feature point that is the starting point of the line segment, and a feature that is the end point of the line segment is traced from the starting point of the line segment. A line segment in which the tracing length leading to a point and the distance between the starting point and the ending point of the line segment are detected, and the ratio of the distance between the starting point and the ending point of the line segment to the tracing length is less than or equal to a set value. a subline differentiation determination means for detecting;
A function F 1 that traces from the starting point of the line segment detected by the sub-line differentiation determining means to the end point of the line segment, uses the X coordinate value and Y coordinate value of each tracing point as variables, and is expressed as a linear combination thereof. (X, Y), F 2 (X, Y),
...Means for extracting a sub-line segment feature point based on a tracking point at which the value of the function is maximum or minimum when the value of F N (X, Y) is detected; means for integrating the sub-line segment feature points whose X and Y coordinate differences with the starting point and end point of the line segment are both within a certain value, into the starting point and ending point of the line segment; and sub-line segment feature extraction means for dividing the line segment by the sub-line segment feature point that is not integrated at the end point and extracting the feature amount for the divided line segment. Pattern feature extraction method. 2. As a sub line segment feature extracting means, tracking is performed from the number of divided line segments, the direction between two points from the start point to the end point of the divided line segment, and the starting point of the divided line segment. , the feature amount obtained by dividing the tracing length from the starting point to the ending point of the divided line segment by the tracing length of the divided line segment, and the distance between the two points, the starting point and the ending point, of the divided line segment. 2. The pattern feature extraction method according to claim 1, wherein a feature amount divided by a length is extracted. 3. In a pattern feature extraction method that thins an input pattern of one character, detects feature points such as end points and branch points from the thinned pattern, and extracts feature amounts by referring to the input pattern and the thinned pattern, The line segment is traced from the feature point that is the starting point of the line segment, and the tracing length from the starting point of the line segment to the feature point that is the end point of the line segment, and the distance between the two points of the starting point and the ending point of the line segment. Detecting by the sub-line differentiation determination means, which detects a distance and detects a line segment in which the ratio of the distance between the starting point and the end point of the line segment to the tracing length is equal to or less than a set value; and the sub-line differentiation determination means detects the line segment. traced from the starting point of the line segment to the end point of the line segment,
The functions F 1 (X, Y) and F 2 are expressed as linear combinations of the X and Y coordinate values of each tracking point as variables.
(X, Y)...F N (X, Y), when the value of an X between the subline segment feature point and the starting point and ending point of the line segment;
The sub-line segment feature points whose Y coordinate differences are both within a certain value are integrated into the starting point and end point of the line segment, and the X and Y points between the sub-line segment feature points that are not integrated into the starting point and end point of the line segment are Among the sub-line segment feature points whose coordinate differences are both within a certain value, the sub-line segment feature point with the minimum sum of X and Y coordinate values is set as the sub-line segment representative point, and the sub-line segment feature points are integrated. and sub-line segment feature extracting means that divides the line segment by the starting point and end point of the line segment and the sub-line segment representative point, and extracts the feature amount for the divided line segment. A pattern feature extraction method characterized by comprising:
JP6092579A 1979-05-17 1979-05-17 Extraction system for feature of pattern Granted JPS55153076A (en)

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JP6092579A JPS55153076A (en) 1979-05-17 1979-05-17 Extraction system for feature of pattern

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JPS55153076A JPS55153076A (en) 1980-11-28
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02270210A (en) * 1989-04-10 1990-11-05 Fujikura Ltd Insulated wire

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JPH02270210A (en) * 1989-04-10 1990-11-05 Fujikura Ltd Insulated wire

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