JPS6334581B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6334581B2 JPS6334581B2 JP53055582A JP5558278A JPS6334581B2 JP S6334581 B2 JPS6334581 B2 JP S6334581B2 JP 53055582 A JP53055582 A JP 53055582A JP 5558278 A JP5558278 A JP 5558278A JP S6334581 B2 JPS6334581 B2 JP S6334581B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- alignment
- image pickup
- pickup tube
- target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はアライメント補正作業不要の撮像管に
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an image pickup tube that does not require alignment correction work.
撮像管を構成する各電極の中心軸がすべて一直
線上に存在することは、常識的に考えて極めて望
ましい。もし隣接する電極の中心軸が、両電極の
境界部分で同じ位置になく方向も異なるときは、
それらの電極は所期の作用を完全には行うことが
不可能となり、その結果、性能たとえば解像度の
低下などが生ずることは容易に考えられる。した
がつて従来、撮像管の各電極の中心軸を一直線上
に配列すること、すなわちアライメントを良く行
うこと、に対する努力が払われていたが、完全に
アライメントを行うことは困難であるから、撮像
管の外部に設けたいわゆるアライメントコイルに
通電し、その磁界によつて撮像管内の電子ビーム
の方向を適当に調整して、いわゆるアライメント
補正を行つて来た。アライメント補正を要する磁
界、したがつてアライメントコイル電流が少ない
ほど、各電極の中心軸の軸合わせが精度良く行わ
れていると判断していた。 It is extremely desirable, based on common sense, that the central axes of the electrodes constituting the image pickup tube all lie on a straight line. If the central axes of adjacent electrodes are not at the same position at the boundary between the two electrodes and have different directions,
It is easy to imagine that these electrodes will not be able to perform their intended function completely, resulting in a decrease in performance, such as resolution. Therefore, in the past, efforts have been made to align the central axes of the electrodes of the image pickup tube in a straight line, that is, to achieve good alignment, but since it is difficult to achieve perfect alignment, the imaging So-called alignment correction has been performed by energizing a so-called alignment coil provided outside the tube and appropriately adjusting the direction of the electron beam inside the imaging tube using its magnetic field. It has been determined that the smaller the magnetic field that requires alignment correction, and therefore the smaller the alignment coil current, the more accurately the center axes of each electrode are aligned.
アライメント補正作業は、同一形式管を使用す
る場合でも、それぞれの管ごとに別々に行わなけ
ればならないから、撮像管をテレビジヨンカメラ
に新たに組込む時は勿論、撮像管交換時にも、そ
の都度行う必要があり面倒であるから、アライメ
ント補正作業不要(アライメントフリー
alignment−free)の撮像管の開発が要望されて
いた。 Alignment correction work must be performed separately for each tube even when using tubes of the same type, so it must be performed each time the image pickup tube is replaced, as well as when it is newly installed in a television camera. Alignment correction work is unnecessary (alignment-free) because it is necessary and troublesome.
There has been a demand for the development of an image pickup tube that is alignment-free.
本発明の目的はアライメント補正作業不要の撮
像管を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an image pickup tube that does not require alignment correction work.
本発明者は上記目的を達成するために、まず各
電極やそれらの組合せ組立てる際の精度向上をは
かり、アライメントの精度向上に努めた。このよ
うにして得られた、機械的には極めて良好なアラ
イメント精度に達していることが確認されている
相当多数の撮像管の特性について調査した結果、
これらの撮像管に対しても、前記アライメントコ
イルによるほぼ一定のアライメント補正が必要で
あることを見出した。 In order to achieve the above object, the present inventors first attempted to improve the precision of assembling each electrode and their combinations, and endeavored to improve the precision of alignment. As a result of investigating the characteristics of a considerable number of image pickup tubes obtained in this way, which have been confirmed to have achieved extremely good mechanical alignment accuracy, we found that:
It has been found that these image pickup tubes also require substantially constant alignment correction using the alignment coil.
一例として、静電集束、電磁偏向形1インチ径
ビジコンで、電極中心軸位置ずれ3μm以内、中
心軸の傾斜角3分以内というアライメント精度が
確認されている試料群について調査した結果を、
第1図に示す。 As an example, we investigated the results of a study on a sample group using an electrostatic focusing and electromagnetic deflection type 1-inch diameter vidicon for which alignment accuracy was confirmed, with the electrode center axis position deviation within 3 μm and the center axis tilt angle within 3 minutes.
Shown in Figure 1.
第1図は、ターゲツト面を陰極側からみた場合
走査電子ビームをターゲツト面に垂直に入射させ
るためのアライメント補正量を示す。図中矢印方
向は電子ビーム走査方向を示し、水平方向H、垂
直方向Vとして示す。アライメント補正量は、タ
ーゲツト電圧の高低、ターゲツトへの入射光量の
大小、および電子ビームの偏向方向によつて変化
することから、電子ビームの電子がターゲツト面
に入射(着面)する際、ターゲツトの陰極側の面
上の電位分布によつて影響されるものと思われ
る。すなわちターゲツトの陰極側の面上の電位分
布は、第2図に示すように、ターゲツトの光入射
側にある正電位の透明電極からそれぞれの部分の
入射光量に応じた光導電膜の導電性によつてター
ゲツトの陰極側の面に伝導蓄積された正電荷は、
電子ビームによる走査が行われた部分Aではビー
ムの電子に中和されて、A部分の電位はほぼ零と
なつており、一方これから電子ビームにより走査
される部分Bでは前記正電荷が存在するので、入
射光量などによる変動はあるが2〜4Vの正電位
にあつて、電子ビームの電子はターゲツト面に入
射する際このターゲツトの陰極側の面上の電位の
影響を受け、第1図、第2図の場合、水平に右側
へ1、垂直に下側へ2、位の割合に引かれて、タ
ーゲツト面の垂直線に対してはやや傾斜した軌道
をとりながらターゲツト面に入射するもの思われ
る。これに対し、アライメント補正は、電子ビー
ムがターゲツト面に、撮像画面の中央部におい
て、直角に入射するような電子軌道をとるように
行われており、その結果、解像度や歪についても
良い結果を得ている。 FIG. 1 shows the alignment correction amount for making the scanning electron beam perpendicular to the target surface when the target surface is viewed from the cathode side. The arrow direction in the figure indicates the electron beam scanning direction, which is indicated as a horizontal direction H and a vertical direction V. The amount of alignment correction changes depending on the level of the target voltage, the amount of light incident on the target, and the deflection direction of the electron beam. It is thought that this is influenced by the potential distribution on the surface on the cathode side. In other words, as shown in Figure 2, the potential distribution on the cathode side surface of the target changes from the positive potential transparent electrode on the light incident side of the target to the conductivity of the photoconductive film depending on the amount of incident light on each part. Therefore, the positive charge conductively accumulated on the cathode side surface of the target is
In part A, which has been scanned by the electron beam, it is neutralized by the electrons of the beam, and the potential of part A is almost zero.On the other hand, in part B, which will be scanned by the electron beam, the positive charge is present. , at a positive potential of 2 to 4 V, although it varies depending on the amount of incident light, etc. When the electrons of the electron beam enter the target surface, they are influenced by the potential on the cathode side of the target, and as shown in Figs. In the case of Figure 2, it seems to be drawn horizontally to the right by 1, vertically downward by 2, and enters the target surface while taking a trajectory slightly inclined to the vertical line of the target surface. . In contrast, alignment correction is performed so that the electron beam takes an electron trajectory that is incident on the target surface at right angles to the center of the imaging screen, resulting in good results in terms of resolution and distortion. It has gained.
各電極の中心軸の軸合わせが良く行われ高精度
に機械的アライメントの行われた撮像管の電子ビ
ームが、アライメントコイルによる補正を行わな
い場合に、ターゲツト面に対する垂直線に対し傾
斜する角度は、前記の様に、ターゲツト電圧、入
射光量、電極寸法等により影響されるわけである
が、ある特定品種(電極寸法等)に対しては、ほ
ぼ一定の使用条件(電圧、光量等)が想定され、
したがつて前記傾斜角度も想定できる。 If the electron beam of an image pickup tube whose central axes of each electrode are well aligned and mechanically aligned with high precision is not corrected by an alignment coil, the angle at which it is inclined with respect to the perpendicular to the target surface is As mentioned above, it is affected by the target voltage, incident light amount, electrode dimensions, etc., but for a particular product (electrode dimensions, etc.), almost constant usage conditions (voltage, light amount, etc.) are assumed. is,
Therefore, the angle of inclination can also be assumed.
本発明はアライメントフリーの撮像管を提供す
る目的を達成するために、機械的に高精度に製作
された電極を、機械的に高精度に組立て、陰極か
ら放出された電子ビームの方向を、主レンズ電極
系の中心軸に対して、撮像画面の、水平方向へ約
10分、垂直方向へ約20分、すなわち前記アライメ
ント無補償電子ビームのターゲツト面入射時の想
定入射角度を打消す角度だけ傾斜させて、電子ビ
ームがターゲツト面の撮像画面中央部に直角に入
射するようにした。 In order to achieve the purpose of providing an alignment-free image pickup tube, the present invention assembles mechanically precisely manufactured electrodes with high mechanical precision to mainly direct the direction of the electron beam emitted from the cathode. Approximately in the horizontal direction of the imaging screen with respect to the central axis of the lens electrode system.
10 minutes in the vertical direction, approximately 20 minutes in the vertical direction, that is, the electron beam is tilted by an angle that cancels the assumed angle of incidence when the electron beam without alignment compensation is incident on the target surface, and the electron beam is incident at right angles to the center of the imaging screen on the target surface. I did it like that.
第3図は本発明一実施例撮像管の電極断面図で
ある。図中、1は陰極、2は第1グリツド、3は
第2グリツド、4は電子ビーム制限孔、5は下部
第3グリツド、6は第3グリツドシリンダ、7は
第4グリツドシリンダ、8は第5グリツドシリン
ダ、9は第6グリツドメツシユ、10はターゲツ
トである。θは陰極から放出された電子ビーム
と、主レンズ電極系(第3〜5グリツドよりな
る)中心軸すなわちターゲツト面に対し直角な方
向との傾斜角である。この図は傾斜角θを非常に
誇大して描いてあるが、実際には図示困難な程の
非常に小さい角度で、精密な治具を用いて、第3
グリツドシリンダ6と下部第3グリツドとの接続
部で傾斜を与える。なお第2グリツドの電子ビー
ム制限孔4の孔の位置で傾斜させてもよい。 FIG. 3 is a sectional view of an electrode of an image pickup tube according to an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a cathode, 2 is a first grid, 3 is a second grid, 4 is an electron beam restriction hole, 5 is a lower third grid, 6 is a third grid cylinder, 7 is a fourth grid cylinder, 8 is the fifth grid cylinder, 9 is the sixth grid mesh, and 10 is the target. θ is the inclination angle between the electron beam emitted from the cathode and the central axis of the main lens electrode system (consisting of the third to fifth grids), that is, the direction perpendicular to the target plane. This figure shows the inclination angle θ greatly exaggerated, but in reality it is a very small angle that is difficult to illustrate.
A slope is provided at the connection between the grid cylinder 6 and the lower third grid. Incidentally, the electron beam limiting hole 4 of the second grid may be tilted at the position of the hole.
第1図に例示した1インチ径ビジコンの場合
は、前記アライメントフリーにするため第3図中
の傾斜角θは、撮像画面の水平方向面内で8分、
垂直方向面内で15分となつた。この角度は小さい
けれども、精密な治具を用いれば確実に設定でき
る程度の値である。第1図の場合と同様な精度
で、上記の様な傾斜角を与えて組立てた電極を用
いた本発明実施例1インチビジコン試料群に対す
る測定結果を、同一尺度を用いて第4図に示す。
アライメントコイルによる補正を行わなくても、
電子ビームはターゲツト面にほとんど直角に入射
していることがわかる。 In the case of the 1-inch diameter vidicon shown in FIG. 1, the tilt angle θ in FIG.
It took 15 minutes in the vertical plane. Although this angle is small, it is a value that can be reliably set using a precision jig. Figure 4 shows the measurement results for the 1-inch vidicon sample group according to the present invention using electrodes assembled with the same accuracy as in Figure 1 and with the above-mentioned tilt angle, using the same scale. .
Even without correction using an alignment coil,
It can be seen that the electron beam is incident on the target surface almost at right angles.
またアライメントフリーにするための前記傾斜
角θを、現在最も一般的な2/3インチビジコンに
ついて求めると、水平方向にほぼ10分、垂直方向
にほぼ20分となる。 Furthermore, when the above-mentioned inclination angle θ for alignment free is determined for the currently most common 2/3-inch vidicon, it is approximately 10 minutes in the horizontal direction and approximately 20 minutes in the vertical direction.
なお撮像管の電子ビームを偏向させるには、偏
向コイルを必要とし、すべての偏向コイルが均一
に、かつ完全に製作されていることは期待できな
いので、極めて良好な品質の画像が要求される放
送業務用の場合に、撮像管の電極関係だけの精度
を向上させることに依存する本発明に係る行き方
で、一気にアライメントコイル全廃に踏切ること
は困難かもしれないが、アライメントコイルによ
る補正量が極めて少なくなることは確実であり、
放送業務用以外の一般用途に対しては、本発明撮
像管はアライメントコイルによる補正を行わない
で十分実用に耐えられる。 Note that in order to deflect the electron beam of the image pickup tube, a deflection coil is required, and it cannot be expected that all deflection coils are manufactured uniformly and perfectly, so for broadcasting where images of extremely good quality are required. In the case of commercial use, it may be difficult to completely eliminate alignment coils at once because the present invention relies on improving the accuracy of only the electrodes of the image pickup tube, but the amount of correction by alignment coils is extremely large. It is certain that there will be fewer
For general uses other than broadcasting, the image pickup tube of the present invention can be put to practical use without correction using an alignment coil.
以上説明した如く本発明によれば、一般用とし
て十分実用に耐えるアライメント補正不要の撮像
管が得られる効果がある。 As described above, according to the present invention, there is an effect that an image pickup tube that does not require alignment correction and is sufficiently practical for general use can be obtained.
第1図は各電極の中心軸合わせを高精度に行つ
た試料群に対する、アライメント補正量分布図、
第2図はターゲツトの陰極側の面上電子ビーム入
射位置近傍の電位分布図、第3図は本発明一実施
例撮像管の電極断面図、第4図は本発明実施例試
料群に対するアライメント補正量分布図。
1……陰極、2……第1グリツド、3……第2
グリツド、4……ビームデイスク、5……下部第
3グリツド、6……第3グリツドシリンダ、7…
…第4グリツドシリンダ、8……第5グリツドシ
リンダ、9……第6グリツドメツシユ、10……
ターゲツト。
Figure 1 is an alignment correction amount distribution diagram for a sample group in which the center axis of each electrode was aligned with high precision.
Fig. 2 is a potential distribution diagram near the electron beam incident position on the surface of the cathode side of the target, Fig. 3 is a cross-sectional view of the electrode of the image pickup tube according to an embodiment of the present invention, and Fig. 4 is an alignment correction for a sample group according to the embodiment of the present invention. Amount distribution map. 1... cathode, 2... first grid, 3... second
Grid, 4... Beam disk, 5... Lower third grid, 6... Third grid cylinder, 7...
...4th grid cylinder, 8...5th grid cylinder, 9...6th grid mesh, 10...
Target.
Claims (1)
電極系の中心軸に対して、撮像画面の、水平方向
へほぼ10分、垂直方向へほぼ20分、傾斜させて、
前記主レンズ電極系へ投入し、撮像管動作時走査
電子ビームが走査面中央部においてターゲツト面
に直角に入射するようにしたことを特徴とする撮
像管。1 The electron beam emitted from the cathode is tilted approximately 10 minutes in the horizontal direction and approximately 20 minutes in the vertical direction of the imaging screen with respect to the central axis of the main lens electrode system.
An image pickup tube, characterized in that the scanning electron beam is inserted into the main lens electrode system so that the scanning electron beam is incident at right angles to the target surface at the center of the scanning surface during operation of the image pickup tube.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5558278A JPS54147722A (en) | 1978-05-12 | 1978-05-12 | Pick up tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5558278A JPS54147722A (en) | 1978-05-12 | 1978-05-12 | Pick up tube |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54147722A JPS54147722A (en) | 1979-11-19 |
| JPS6334581B2 true JPS6334581B2 (en) | 1988-07-11 |
Family
ID=13002725
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5558278A Granted JPS54147722A (en) | 1978-05-12 | 1978-05-12 | Pick up tube |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54147722A (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE794167A (en) * | 1972-01-19 | 1973-07-17 | Philips Nv | CATHODE RAY TUBE |
-
1978
- 1978-05-12 JP JP5558278A patent/JPS54147722A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54147722A (en) | 1979-11-19 |
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