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JPS6335708B2 - - Google Patents
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JPS6335708B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6335708B2
JPS6335708B2 JP4910681A JP4910681A JPS6335708B2 JP S6335708 B2 JPS6335708 B2 JP S6335708B2 JP 4910681 A JP4910681 A JP 4910681A JP 4910681 A JP4910681 A JP 4910681A JP S6335708 B2 JPS6335708 B2 JP S6335708B2
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JP
Japan
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thin film
film
conductive thin
conductive
polymer
Prior art date
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Expired
Application number
JP4910681A
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Japanese (ja)
Other versions
JPS57162491A (en
Inventor
Susumu Yoshimura
Mutsuaki Murakami
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP56049106A priority Critical patent/JPS57162491A/en
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Publication of JPS6335708B2 publication Critical patent/JPS6335708B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は新規な電導性材料の薄膜の製造方法に
関し、特に本発明は熱分解により電導性の付与さ
れた縮合系耐熱性高分子を真空中にてスパタリン
グなどの物理蒸着法によつて基板上に薄膜を形成
させる方法に関する。 元来電気的に絶縁性である有機高分子に電導性
を付与し、無機物の金属、半導体、酸化物では実
現し得ないユニークな性質を出現させようという
試みが最近活発に行なわれている。その試みの中
で一つの重要な方法に熱分解高分子の形成があ
る。これはある特殊な材料から出発して、熱分解
により重縮合した化合物を得ようというものであ
る。その生成物は主に炭素質であるが、出発原料
によりその電導度が制御されるところに特徴があ
る。熱分解高分子の歴史は古く、1960年代前半に
注目を集めた材料である。例えばロシア学派によ
るポリアクリロニトリルの熱分解が有名で、約
2Scm-1の電導度が得られている。(A.V.
Airapetjanc氏等Dokl.Akad.Nauk SSSR誌、
148巻、605頁、1963年)。また、1964年にはIBM
社のS.D.Bruck氏はポリイミド(デユポン社のカ
プトンHフイルム)を800℃で熱分解し、20Scm-1
の電導度を有する電導体が得られることを発見し
た。ポリイミドフイルムの電導度は常温で10-18S
cm-1であり、熱分解により1020に及ぶ電導度変化
が生じている訳であるので、この方法は有機高分
子材料に電導度を付与するには非常に秀れた方法
であると言つてよい。このように熱分解によつて
高い電導性が得られる材料の種類は限られている
が、同一出願人の研究の結果、縮合系高分子のい
くつかが同様に熱分解により高電導性となり得る
ことが発見された。その高分子は最近の高分子化
学の進歩から生まれた耐熱性高分子に属するもの
で、例えば芳香族ポリアミド、ポリアミドイミ
ド、ポリエステルアミド、ポリベンズイミダゾー
ル、ポリオキサジアゾール、ポリチアジアゾール
あるいはポリベンズチアゾールなどである。これ
らの材料は真空中あるいは不活性気流中で400〜
1000℃の温度で熱分解されると、最高500Scm-1
電導度を与える。同一出願人はこれらの発見に基
づき、新規導電材料の製造方法およびこれらの粉
末と高分子バインダーから成る導電性組成物に関
する提案をしている。 同一出願人の出願に係る熱分解高分子の特徴は
高電導性と熱的・化学的安定性であるため、抵
抗、導体用の導電性皮膜、の外に、ヒータ、アク
チユエータを兼ねた温度、圧力、歪、風速などの
センサー、耐酸化・腐蝕性電極、太陽熱コレクタ
用吸収膜など非常に多くの分野での応用が考えら
れる。しかしながら、このような多様な応用を具
体化するためには、上記熱分解高分子の皮膜を目
的に合わせて製造してやる必要がある。まず上に
挙げた耐熱性高分子は全て2〜150ミクロンのキ
ヤスト皮膜で得られ、20ミクロン以上の厚みのも
のは熱分解後も孔や亀裂が生じたりすることはな
く、フリーな可撓性の皮膜となるので、導体、セ
ンサーなどの応用には適している。また、熱分解
生成物を数ミクロン以下の粉末に粉砕して高分子
あるいはガラス質バインダーに分散させたもの
は、同一出願人の発明にあるように導電性皮膜と
しての用途に最適のものとなる。さらに本材料の
応用を広げるためには、数1000オングストローム
以下の強固で耐熱性の高い導電性薄膜が製造され
る必要がある。 従つて本発明の目的とするところは、熱分解に
よつて電導性の付与された耐熱性高分子の薄膜の
製造方法を提供するものであり、更に本発明は上
記熱分解高分子のうち、ある熱分解条件で作られ
たものがスパツタリングなどの物理蒸着法によつ
て薄膜化することが可能であることに基づく新規
な電導性薄膜の製造方法を提供するものである。 物理蒸着法で最も簡単な方法は真空熱蒸着であ
るが、本発明で用いる熱分解高分子は1時間に
100オングストローム以上の速度で蒸着されるこ
とはなく、この方法は使用できないことが分つ
た。次に、RFプラズマ中で高分子を分解し、基
板上に沈澱させる方法(プラズマCVD)を検討
したが、この場合、透明度が高く、10-10Scm-1
下の絶縁性の皮膜の沈澱しか得られなかつた。そ
の他種々の物理蒸着法を検討した結果、高エネル
ギー粒子を熱分解高分子に衝突することにより薄
膜を基板上に沈澱させることが有効であることが
見出された。高エネルギー粒子としては、放電し
たアルゴン、窒素などがあり、これらを用いる物
理蒸着法としては高周波スパタルングあるいはイ
オンビームスパタリング法などが最適である。し
かしこれらの方法を用いれば全ての高分子の蒸着
が可能になるのではなく、例えば、熱分解をしな
い高分子は全く蒸発せず、あるいは750℃以下の
温度で熱分解された高分子は蒸発しないかあるい
は蒸発速度が著しく低いかのいずれかであつた。 以下に実施例および応用例を述べ、本発明の効
果を説明する。 実施例 1 古河電工(株)から販売されているポリオキサジア
ゾール(PODフイルム、50ミクロン)を真空中
で900℃で1時間熱分解し、300Scm-1の電導度を
示す黒色皮膜を得た。これを第1図に示したイオ
ンビームスパタリング装置のターゲツト部分11
に置き、1.5×10-6Torrまで排気した後にアルゴ
ンをガス導入口14より導入し2×10-4Torrと
した。放電室12内のヒータ13を加熱しアルゴ
ンの放電を行なわせ、ヒーターターゲツト間に約
1.5KVの直流電圧を印加し、アルゴンのイオンビ
ーム17でターゲツト11をスパタした。この場
合ビーム電流は10〜20mA/cm2の間にあるように
レンズ16の電流を調整した。1時間スパタする
ことにより6000オングストロームの厚さの皮膜が
ガラスおよびグレーズしたアルミナ基板15上に
沈澱させられた。皮膜の電導度は190Scm-1であ
り、鉛筆強度は9H以上で、濃硫酸によつても1
ケ月以上も腐蝕されることはなかつた。電導度の
温度依存性を測定したところ、薄膜の電導度の活
性化エネルギーは0.01eV以下で、熱分解後の皮
膜のそれとほとんど差がなかつた。 同様の方法で熱分解前のPOD皮膜および750℃
までの温度で熱分解されたPOD皮膜のスパタリ
ングを行なつたが、導電性薄膜の沈澱を行なうこ
とはできなかつた。 実施例 2 デユポン社から販売されているポリイミド皮膜
(カプトンHフイルム、150ミクロン)を窒素気流
中にて800〜1000℃の間で熱分解して20〜100Scm
-1の導電性皮膜(厚さ120〜90ミクロン)を得た。
この皮膜を実施例1と同様の方法で30分物理蒸着
したところ、600〜900オングストロームの半透明
の黒色薄膜がガラス基板上に沈澱させられた。薄
膜の電導度は20Scm-1で熱分解温度への依存性は
少なかつた。600オングストロームの皮膜の電子
スペクトルを測定したところ、3000オングストロ
ーム以下の波長に大きなピークを有する外は長波
長側に向つてゆるやかに減少する吸光特性を示
し、10000オングストローム(1ミクロン)にお
ける吸光係数は2×105cm-1で一般の金属より1
ケタ高い光の透過性を示していた。3000オングス
トローム以下の吸収ピークは蒸着膜が有機性を保
持している証拠と考えられる。 実施例 3 本実施例では、含窒素ヘテロ環を有する縮合系
高分子の他の例であるポリベンズイミダゾールに
ついて述べる。ここで用いるポリベンズイミダゾ
ールは
The present invention relates to a method for producing a thin film of a novel conductive material, and in particular, the present invention relates to a method for manufacturing a thin film of a novel conductive material, and in particular, the present invention relates to a method of manufacturing a thin film of a novel conductive material, and in particular, the present invention relates to a method of manufacturing a thin film of a novel conductive material by depositing a condensed heat-resistant polymer imparted with conductivity by thermal decomposition onto a substrate by a physical vapor deposition method such as sputtering in a vacuum. The present invention relates to a method for forming a thin film on. Recently, many attempts have been made to impart electrical conductivity to organic polymers, which are originally electrically insulating, and to create unique properties that cannot be achieved with inorganic metals, semiconductors, and oxides. One important method in this effort is the formation of pyrolytic polymers. This is an attempt to obtain a polycondensed compound by thermal decomposition starting from a specific material. The product is mainly carbonaceous, but its electrical conductivity is controlled by the starting materials. Pyrolytic polymers have a long history and are a material that attracted attention in the early 1960s. For example, the thermal decomposition of polyacrylonitrile by the Russian school is famous;
An electrical conductivity of 2Scm -1 has been obtained. (AV
Airapetjanc et al. Dokl.Akad.Nauk SSSR magazine,
148, p. 605, 1963). Also in 1964, IBM
Mr. SDBruck of the company thermally decomposed polyimide (DuPont's Kapton H film) at 800℃, and 20Scm -1
It was discovered that an electrical conductor having a conductivity of . The conductivity of polyimide film is 10 -18 S at room temperature.
cm -1 , and the conductivity changes as much as 10 to 20 due to thermal decomposition, so this method is considered to be an excellent method for imparting conductivity to organic polymer materials. Good fit. In this way, the types of materials that can be made highly conductive through thermal decomposition are limited, but as a result of research by the same applicant, some condensation polymers can similarly become highly conductive through thermal decomposition. It was discovered that. The polymer belongs to the class of heat-resistant polymers developed from recent advances in polymer chemistry, such as aromatic polyamide, polyamideimide, polyesteramide, polybenzimidazole, polyoxadiazole, polythiadiazole, and polybenzthiazole. It is. These materials can be heated in vacuum or in an inert gas stream to
When pyrolyzed at a temperature of 1000°C, it gives a conductivity of up to 500 Scm -1 . Based on these discoveries, the same applicant has proposed a method for producing new conductive materials and a conductive composition comprising these powders and a polymeric binder. The pyrolytic polymer applied by the same applicant is characterized by high conductivity and thermal and chemical stability, so in addition to being a conductive film for resistors and conductors, it can also be used as a heater and actuator. Applications can be considered in a wide variety of fields, including sensors for pressure, strain, and wind speed, oxidation-resistant and corrosion-resistant electrodes, and absorption films for solar heat collectors. However, in order to realize such various applications, it is necessary to manufacture the above-mentioned pyrolytic polymer film according to the purpose. First of all, all of the heat-resistant polymers listed above are obtained as cast films of 2 to 150 microns, and those with a thickness of 20 microns or more do not form pores or cracks even after thermal decomposition, and are free and flexible. This film is suitable for applications such as conductors and sensors. In addition, pyrolysis products are crushed into powders of several microns or less and dispersed in a polymer or glass binder, which is ideal for use as a conductive film, as described in the invention of the same applicant. . Furthermore, in order to expand the applications of this material, it is necessary to manufacture strong, highly heat-resistant, conductive thin films of several thousand angstroms or less. Therefore, an object of the present invention is to provide a method for producing a thin film of a heat-resistant polymer imparted with electrical conductivity by thermal decomposition. The present invention provides a novel method for producing a conductive thin film based on the fact that a film produced under certain thermal decomposition conditions can be made into a thin film by a physical vapor deposition method such as sputtering. The simplest physical vapor deposition method is vacuum thermal evaporation, but the pyrolytic polymer used in the present invention
This method was found to be unusable, as it was never deposited at a rate greater than 100 angstroms. Next, we considered a method (plasma CVD) in which the polymer is decomposed in RF plasma and precipitated on the substrate, but in this case, only a highly transparent and insulating film of 10 -10 Scm -1 or less could be deposited. I couldn't get it. After investigating various other physical vapor deposition methods, it was found that it is effective to deposit a thin film on a substrate by bombarding a pyrolytic polymer with high-energy particles. High-energy particles include discharged argon, nitrogen, and the like, and high-frequency sputtering or ion beam sputtering is optimal as a physical vapor deposition method using these. However, these methods do not allow the deposition of all polymers; for example, polymers that do not undergo thermal decomposition do not evaporate at all, or polymers that are pyrolyzed at temperatures below 750°C do not evaporate. Either there was no evaporation or the evaporation rate was extremely low. Examples and application examples will be described below to explain the effects of the present invention. Example 1 Polyoxadiazole (POD film, 50 microns) sold by Furukawa Electric Co., Ltd. was thermally decomposed in vacuum at 900°C for 1 hour to obtain a black film exhibiting an electrical conductivity of 300 Scm -1 . . This is the target portion 11 of the ion beam sputtering apparatus shown in FIG.
After exhausting to 1.5×10 -6 Torr, argon was introduced from the gas inlet 14 to bring the pressure to 2×10 -4 Torr. The heater 13 in the discharge chamber 12 is heated to discharge argon, and approximately
A DC voltage of 1.5 KV was applied, and the target 11 was sputtered with an argon ion beam 17. In this case, the current of the lens 16 was adjusted so that the beam current was between 10 and 20 mA/cm 2 . A 6000 angstrom thick film was deposited on the glass and glazed alumina substrate 15 by sputtering for 1 hour. The conductivity of the film is 190Scm -1 , the pencil strength is 9H or more, and it is 190Scm -1 even with concentrated sulfuric acid.
It remained uncorroded for more than several months. When we measured the temperature dependence of electrical conductivity, we found that the activation energy of the electrical conductivity of the thin film was less than 0.01 eV, which was almost the same as that of the film after thermal decomposition. POD film before pyrolysis and 750℃ using the same method.
Sputtering of POD films pyrolyzed at temperatures up to 100 mL was performed, but it was not possible to deposit conductive thin films. Example 2 A polyimide film (Kapton H film, 150 microns) sold by DuPont was thermally decomposed at a temperature of 800 to 1000°C in a nitrogen stream to produce a film of 20 to 100 Scm.
-1 conductive film (thickness 120-90 microns) was obtained.
When this film was physically vapor deposited for 30 minutes in the same manner as in Example 1, a translucent black thin film of 600-900 angstroms was deposited on the glass substrate. The conductivity of the thin film was 20Scm -1 and had little dependence on the thermal decomposition temperature. When we measured the electronic spectrum of a 600 angstrom film, it showed an absorption characteristic that had a large peak at wavelengths of 3000 angstroms or less, but gradually decreased toward longer wavelengths, and the extinction coefficient at 10000 angstroms (1 micron) was 2. ×10 5 cm -1 than ordinary metals
It showed an extremely high light transmittance. The absorption peak below 3000 angstroms is considered to be evidence that the deposited film retains its organic nature. Example 3 In this example, polybenzimidazole, which is another example of a condensed polymer having a nitrogen-containing heterocycle, will be described. The polybenzimidazole used here is

【式】なる形のポリアミ ド酸を分子内に含む中間体として入手して使用し
た。この中間体はジメチルアセトアミドあるいは
ジメチルフオルムアミドの溶液であるが、この溶
液をテフロンあるいはシリコーンゴム上にキヤス
トして約250℃の温度で硬化処理を行ない、900〜
1000℃の間で熱分解を行なつた。電導度は900℃
1時間で200、1000℃1時間で350Scm-1であつた。
この生成物を第1図のイオンビームスパタリング
装置を用いて、加速電圧2KV、電流密度30m
A/cm2で1時間スパタし、25ミクロンのポリイミ
ド基板上に沈澱させた。膜厚は3000オングストロ
ームで、電導度は100Scm-1であつた。導電性薄膜
とポリイミド基板との接着性は良好で、9Hの鉛
筆でも傷を付けることが困難で、基板の折れ曲げ
による剥離も全く観察されなかつた。 応用例 1 ここでは本発明で得られる電導性薄膜のヒータ
への応用を示す。 850℃にて5時間熱分解されたポリベンズチア
ゾールを実施例1の方法によつて、第2図の構成
のように銀パラジウム印刷電極22を設けた焼結
アルミナ基板23上に沈澱させた。21は沈澱し
たポリベンズチアゾールの電導性皮膜である。沈
澱物21はアルミナ焼結体23の中に浸透して、
灰色に近い皮膜となつた。スパツタ時間により皮
膜21の抵抗値が下記のように制御された。
A polyamic acid of the form [formula] was obtained and used as an intermediate containing it in the molecule. This intermediate is a solution of dimethylacetamide or dimethylformamide, and this solution is cast onto Teflon or silicone rubber and cured at a temperature of about 250°C.
Thermal decomposition was carried out between 1000℃. Conductivity is 900℃
It was 200 Scm -1 in 1 hour, and 350 Scm -1 in 1 hour at 1000°C.
This product was processed using the ion beam sputtering device shown in Figure 1 at an acceleration voltage of 2KV and a current density of 30m.
It was sputtered at A/cm 2 for 1 hour and deposited onto a 25 micron polyimide substrate. The film thickness was 3000 angstroms, and the electrical conductivity was 100 Scm -1 . The adhesion between the conductive thin film and the polyimide substrate was good, making it difficult to scratch even with a 9H pencil, and no peeling due to bending of the substrate was observed. Application Example 1 Here, an application of the conductive thin film obtained by the present invention to a heater will be shown. Polybenzthiazole, which had been pyrolyzed at 850 DEG C. for 5 hours, was precipitated by the method of Example 1 onto a sintered alumina substrate 23 provided with silver-palladium printed electrodes 22 in the configuration shown in FIG. 21 is a conductive film of precipitated polybenzthiazole. The precipitate 21 penetrates into the alumina sintered body 23,
It turned into a near-gray film. The resistance value of the film 21 was controlled by the sputtering time as shown below.

【表】 次に、電極22にハンダ付けにより、リード線
を取付け、ヒータとしての性能を調べた。電極形
状およびスパタ時間により約3.5KΩの抵抗値を
形成し、100Vの交流を与えたところ、アルミナ
基板23は450℃まで加熱され、空気中で1000時
間以上特性変化の全くないヒータとなつた。更に
電圧を130V以上に上げると、局部加熱によりア
ルミナ基板23が割れる温度までヒータは安定に
動作した。 この例は本発明により製造される電導性薄膜の
良好な安定性を示すものであるが、この特長を生
かして、他の加熱素子、例えば現在シリコン蒸着
膜が用いられている感熱記録用サーマルヘツドな
どとして使用することができる。 応用例 2 次に本発明で得られる電導性薄膜とシリコン単
結晶の接合形成について述べる。 ポリイミド(カプトンHフイルム)を1000℃で
1時間熱分解した皮膜をターゲツトにして、第1
図の装置で単結晶シリコン基板上に電導性薄膜を
沈澱させた。シリコンは拡散ドープされたn/
n+型のウエーハーで、先ずイオンビームで10分
間シリコンをスパツタして表面を清浄にしてから
その上に熱分解高分子を加熱電圧1KV、ビーム
電流10mA/cm2で30分間沈澱させた。皮膜はかつ
色に近い半透明の均一膜で、厚さは500オングス
トロームであつた。シリコン基板および蒸着膜に
電極リード線を取付け、電流電圧特性を測定した
ところ、第3図の結果を得た。電圧は蒸着膜が正
となるようプロツトされており、この図の結果か
ら、蒸着膜はP型であることが分る。順方向の電
流電圧特性はJ∝exp〔−q/kT(V−Vb)〕なる式 に合わされ、ビルトインポテンシヤルVbが最高
0.9Vに達することが判明した。この値は金、白
金とn−シリコンの接合のそれより高く、最近高
いバリアを形成することで注目されているポリア
セチレン−n−シリコンの場合(0.72V)よりも
高くなつている。このことは、本発明で得られる
導電性薄膜が高い電気陰性度をもち、従つて高い
仕事関数を持ち、n型の半導体に対して大きな障
壁を形成することを示すものである。このように
して製造される半導体との接合素子は熱安定性の
高い整流素子、太陽電池、光センサーなどとして
用いられることは言うまでもない。 以上のように本発明は熱分解により電導性を付
与された含窒素ヘテロ環を有する結合系高分子お
よび芳香族ポリアミドのいずれかを真空中にて物
理蒸着法により基板上に沈澱させる電導性薄膜の
製造方法を提供するものであり物理蒸着法として
は、イオンビームスパタリング法のように高エネ
ルギー粒子でスパタする方法が最適であるが、ア
ルゴンを用いた通常の高周波スパタリングでも不
純物の混入のおそれを除けば同様に薄膜を沈澱さ
せることができる。またここで用いられる高分子
原料としては実施例に挙げたものに限定されるも
のではなく、熱分解により高い電導性が付与され
る含窒素ヘテロ環を有する縮合系高分子、例え
ば、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポ
リチアジアゾールまたは芳香族ポリアミドなども
同様に使用できる。
[Table] Next, a lead wire was attached to the electrode 22 by soldering, and its performance as a heater was examined. When a resistance value of about 3.5KΩ was formed depending on the electrode shape and sputtering time, and an alternating current of 100V was applied, the alumina substrate 23 was heated to 450°C and became a heater with no change in characteristics for more than 1000 hours in air. When the voltage was further increased to 130V or higher, the heater operated stably up to a temperature at which the alumina substrate 23 cracked due to local heating. Although this example shows the good stability of the conductive thin film produced according to the present invention, this feature can be utilized to create other heating elements, such as thermal heads for heat-sensitive recording, which currently use silicon-deposited films. It can be used as such. Application Example 2 Next, the formation of a bond between a conductive thin film obtained by the present invention and a silicon single crystal will be described. The first film was made by thermally decomposing polyimide (Kapton H film) at 1000℃ for 1 hour.
A conductive thin film was deposited on a single crystal silicon substrate using the apparatus shown in the figure. Silicon is diffusion doped n/
Using an n + type wafer, silicon was first sputtered with an ion beam for 10 minutes to clean the surface, and then a pyrolytic polymer was precipitated thereon for 30 minutes at a heating voltage of 1 KV and a beam current of 10 mA/cm 2 . The film was a uniform semi-transparent film with a thickness of 500 angstroms. Electrode lead wires were attached to the silicon substrate and the deposited film, and current-voltage characteristics were measured, and the results shown in FIG. 3 were obtained. The voltage is plotted so that the deposited film is positive, and from the results in this figure it can be seen that the deposited film is of P type. The forward current-voltage characteristics are matched to the formula J∝exp [-q/kT (V-V b )], and the built-in potential V b is the highest.
It was found that it reached 0.9V. This value is higher than that of the junction of gold, platinum, and n-silicon, and higher than that of polyacetylene-n-silicon (0.72 V), which has recently attracted attention for forming a high barrier. This indicates that the conductive thin film obtained by the present invention has high electronegativity and therefore a high work function, and forms a large barrier to n-type semiconductors. It goes without saying that the junction element with a semiconductor produced in this way can be used as a highly thermally stable rectifying element, solar cell, optical sensor, etc. As described above, the present invention provides an electrically conductive thin film in which either a bonded polymer having a nitrogen-containing heterocycle or an aromatic polyamide, which has been imparted with electrical conductivity by thermal decomposition, is deposited on a substrate by physical vapor deposition in a vacuum. As a physical vapor deposition method, sputtering with high-energy particles such as ion beam sputtering is optimal, but even ordinary high-frequency sputtering using argon may introduce impurities. A thin film can be precipitated in the same way, except that Further, the polymer raw materials used here are not limited to those listed in the examples, but include condensed polymers having a nitrogen-containing heterocycle that can be imparted with high conductivity by thermal decomposition, such as polyamideimide, Polyesterimide, polythiadiazole or aromatic polyamide can be used as well.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の方法の実施に用いられるイオ
ンビームスパタリング装置の概念図、第2図は本
発明の方法により得られた薄膜の応用例の一つで
ある薄膜ヒータの平面図、第3図は同n−型シリ
コンとの接合素子の電流電圧特性を示す図であ
る。 11……ターゲツト、12……放電室、13…
…ヒータ、14……ガス導入口、15……基板、
16……レンズ、17……イオンビーム、21…
…電導性薄膜、22……銀パラジウム電極、23
……アルミナ基板。
FIG. 1 is a conceptual diagram of an ion beam sputtering apparatus used to carry out the method of the present invention, FIG. FIG. 3 is a diagram showing the current-voltage characteristics of the junction element with n-type silicon. 11...Target, 12...Discharge chamber, 13...
...Heater, 14...Gas inlet, 15...Substrate,
16...Lens, 17...Ion beam, 21...
... Conductive thin film, 22 ... Silver palladium electrode, 23
...Alumina substrate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 真空中あるいは不活性気体中で800〜1000℃
の温度範囲で熱処理された含窒素ヘテロ環を有す
る縮合系高分子または芳香族ポリアミドのいずれ
かをターゲツトにして、他の基板に真空中にて物
理蒸着することを特徴とする電導性薄膜の製造方
法。 2 含窒素ヘテロ環を有する縮合系高分子がポリ
イミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミ
ド、ポリベンズイミド、ポリオキサジアゾール、
ポリベンズチアゾール、ポリチアジアゾールのい
ずれかである特許請求の範囲第1項記載の電導性
薄膜の製造方法。 3 芳香族ポリアミドがm−フエニレンジアミン
とイソフタル酸、あるいはp−フエニレンジアミ
ンとテレフタル酸のいずれかの縮合反応によつて
得られたものである特許請求の範囲第1項記載の
電導性薄膜の製造方法。 3 物理蒸着法がイオンビームスパタリング法で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の電導性薄膜の製造方法。
[Claims] 1. 800 to 1000°C in vacuum or inert gas
Production of a conductive thin film, which is characterized by physical vapor deposition on another substrate in vacuum, targeting either a condensed polymer having a nitrogen-containing heterocycle or an aromatic polyamide that has been heat-treated in a temperature range of Method. 2 The condensed polymer having a nitrogen-containing heterocycle is polyimide, polyamideimide, polyesterimide, polybenzimide, polyoxadiazole,
The method for producing a conductive thin film according to claim 1, which is either polybenzthiazole or polythiadiazole. 3. The conductive thin film according to claim 1, wherein the aromatic polyamide is obtained by a condensation reaction of m-phenylenediamine and isophthalic acid, or p-phenylenediamine and terephthalic acid. manufacturing method. 3. The method for producing a conductive thin film according to claim 1, wherein the physical vapor deposition method is an ion beam sputtering method.
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