JPS6336705B2 - - Google Patents
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- JPS6336705B2 JPS6336705B2 JP17957080A JP17957080A JPS6336705B2 JP S6336705 B2 JPS6336705 B2 JP S6336705B2 JP 17957080 A JP17957080 A JP 17957080A JP 17957080 A JP17957080 A JP 17957080A JP S6336705 B2 JPS6336705 B2 JP S6336705B2
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- Japan
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- line
- test
- ldl
- trunk
- wire
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
本発明は試験接続方式、特に自動交換機に収容
される複数の種類の通信回線を引込み、該通信回
線の線路側および自動交換機側の試験を行う試験
装置における試験接続方式に関す。
第1図はこの種試験装置における従来ある試験
接続方式の一例を示す図である。第1図におい
て、自動交換機EXには局線COL、直流中継線
LDL、2線式搬送回線2WODLおよび4線式搬
送回線4WODLの各種通信回線が配線盤MDFを
介して収容されている。該配線盤MDFには、前
記各通信回線毎に試験ジヤツクJi(iは0、1、
2および3)が設けられており、試験装置TST
の試験プラグTPを試験対象通信回線の試験ジヤ
ツクJiに挿入することにより、該通信回線を試験
装置TSTに引込み、局線トランクCOT、LDトラ
ンクLDT、2線式ODトランク2WODTあるい
は4線式ODトランク4WODTおよびネツトワー
クNW等含む自動交換機EX側と線路側とを切分
け試験が可能な構成となつている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験装置TST内の
トランク試験回路TTCおよび線路試験回路LTC
は、図示されぬ電鍵類の操作により、試験対象と
なる直流中継線LDLに適合する様、予め設定さ
れる。次に試験者が試験プラグTPを直流中継線
LDLに対応する試験ジヤツクJ1に挿入すると、
該直流中継線LDLは復旧状態にあるリレーTTお
よびLTの接点ttおよびltにより、接続状態の侭試
験装置TSTに引込まれる。続いて試験者が電鍵
KMを操作すると、リレーMONが動作し、直流
中継線LDLをモニタ回路MOCに接続する。従つ
て試験者は該直流中継線LDLの使用状態、即ち
話中状態か空き状態かを識別することが出来る。
試験者が該直流中継線LDLの空き状態を確認の
上電鍵KTを操作すると、リレーTTが動作して
直流中継線LDLを切分け、LDトランクLDTをト
ランク試験回路TTCに接続して、自動交換機EX
側の試験が可能となる。同様に、試験者が電鍵
KLを操作するとリレーLTが動作し、直流中継線
LDLを線路試験回路LTCに接続して、線路側の
試験が可能となる。
以上の説明から明らかな如く、従来ある試験接
続方式によれば、試験対象通信回線(この場合直
流中継線LDL)の試験装置TSTへの引込みは、
総べて試験者の判断と操作に依存している。従つ
て、例えば試験者が電鍵KTまたはKLを動作さ
せた侭で試験プラグTPを試験ジヤツクJ1に挿
入すると、通話中の直流中継線LDLを誤つて切
断する恐れがある。また、試験ジヤツクJ1に挿
入すべき処、誤つて試験ジヤツクJ3に挿入する
と、直流中継線LDLを対象に設定されている線
路試験回路LTCが、4線式搬送回線4WODLの
端局装置を損傷する恐れも生ずる。前記以外に
も、試験者の誤操作により、試験対象中継線ある
いは試験装置TSTに被害を及ぼす恐れが生ずる。
本発明の目的は、前述の如き従来ある試験接続
方式の欠点を除去し、試験者の誤操作に起因する
被害を防止する試験接続方式の実現にある。
この目的は、自動交換機に収容される複数の種
類の通信回線を引込み、該通信回線の線路側およ
び自動交換機側の試験を行う試験装置において、
試験対象通信回線の種別に対応して定まる線条
に、前記引込みに使用される接続手段を介して電
位検出手段を接続し、該線条の電位が予め定めら
れた電位に設定されていることを前記電位検出手
段により識別することにより、所期の通信回線で
あることおよび該通信回線が空き状態にあること
を確認した上で引込むことにより達成される。
以下、本発明の一実施例を第2図および第3図
により説明する。第2図は、本発明の一実施例に
よる試験接続方式を示す図である。第2図におい
て、局線COL、直流中継LDL、2線式搬送回線
2WODLおよび4線式搬送回線4WODLの各種
通信回線は、第1図同様、試験ジヤツクJi(iは
0乃至3)を備えた配線盤MDFを経由して、自
動交換機EXに収容されている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験者は第1図同
様、予め、試験装置TST′のトランク試験回路
TTCおよび線路試験回路LTCを、試験対象とな
る直流中継線LDLに適合する様設定した後、試
験プラグTPを試験ジヤツクJ1に挿入する。試
験装置TST′においては、接続状態で引込まれた
直流中継線LDLに照合回路CHKが接続される。
該照合回路CHKは、引込まれた通信回線の種別
および使用状態を、該通信回線に妨害を与えるこ
と無く識別し、該通信回線種別が試験対象とする
直流中継線LDLであり、且つ空き状態にあるこ
とが識別された場合に、照合出力リレーGを動作
させる。照合出力リレーGが動作した状態で、試
験者が電鍵KTまたはKLを操作すると、リレー
TTまたはLTが動作し自己保持するので、第1
図同様、トランク試験回路TTCによる自動交換
機EX側の試験、または線路試験回路LTCによる
直流中継線LDLの試験が可能となる。若し引込
んだ直流中継線LDLが話中状態であるか、また
は誤つて他の種別の通信回線の試験ジヤツクJiに
挿入した場合には、照合回路CHKは照合出力リ
レーGを動作させないので、試験者が誤つて電鍵
KTまたはKLを操作しても、リレーTTおよび
LTは動作することは無く、引込まれた通信回線
を切分ける恐れも無い。次に、第2図における照
合回路CHKの一例を第3図により説明する。第
3図においては、直流中継線LDLおよび4線式
搬送回線4WODLのみが示されている。試験ジ
ヤツクJ1およびJ3は共に6線式(A乃至F)
ジヤツクが使用されている。従つて、2線式であ
る直流中継線LDLは、1個の試験ジヤツクJ1
に3回線の直流中継線LDL#0乃至LDL#2が
収容されている。一方信号線を含め6線必要とす
る4線式搬送回線4WODLは、1個の試験ジヤ
ツクJ3に1回線のみが収容されている。直流中
継線LDL#0に着目すると、空き状態では線条
Aに−48ボルト、線条Bに地電位がLDトランク
LDT#0から供給され、話中状態では直流中継
線LDL#0に作られるループにより、線条Aお
よび線条Bの電位VAおよびVBはそれぞれ地電位
と−48ボルトの中間値を示す。直流中継線LDL
#1の線条Cおよび線条D、並びに直流中継線
LDL#2の線条Eおよび線条Fの電位も同様に
変化する。一方4線式搬送回線4WODLに着目
すると、線条A,B,CおよびDは使用状態に拘
わらず直流電位は供給されず、線条Eは空き状態
では4線式搬送回線4WODL(搬送端局装置)か
ら直流電位−VD(<−48ボルト)が供給され、
話中状態では4線式ODトランク4WODTの接点
dlが動作して地電位が供給される。また線条Fは
空き状態では4線式ODトランク4WODTから−
48ボルトが供給され、話中状態では4線式搬送回
線4WODL(搬送端局装置)の接点γgが動作して
地電位が供給される。以上述べた試験ジヤツクJ
1およびJ3の各線条A乃至Fの直流電位の使用
状態による変化を表に示す。一方試験装置
TST′の照合回路CHKは、−48ボルト比較器CMP
と図示
The present invention relates to a test connection method, and particularly to a test connection method in a test device that draws in a plurality of types of communication lines housed in an automatic exchange and tests the line side and the automatic exchange side of the communication lines. FIG. 1 is a diagram showing an example of a conventional test connection method in this type of test equipment. In Figure 1, the automatic exchange EX has a central office line COL and a DC trunk line.
Various communication lines such as LDL, 2-wire carrier line 2WODL, and 4-wire carrier line 4WODL are accommodated via the distribution frame MDF. The distribution board MDF has test jacks Ji (i is 0, 1,
2 and 3) are provided, and the test equipment TST
By inserting the test plug TP into the test jack Ji of the communication line to be tested, the communication line is connected to the test equipment TST, and the communication line is connected to the central office line trunk COT, LD trunk LDT, 2-wire OD trunk 2WODT, or 4-wire OD trunk. The configuration allows for separate testing of the automatic exchange EX side, which includes 4WODT and network NW, and the line side. Now DC relay line
When testing LDL, use the trunk test circuit TTC and line test circuit LTC in the test equipment TST.
is set in advance to match the DC trunk line LDL to be tested by operating an electric key (not shown). Next, the tester connects the test plug TP to the DC relay wire.
When inserted into test jack J1 corresponding to LDL,
The DC trunk line LDL is drawn into the connecting test device TST by the contacts tt and lt of the relays TT and LT which are in the recovery state. Next, the examiner pressed the phone key.
When KM is operated, relay MON operates and connects DC trunk line LDL to monitor circuit MOC. Therefore, the tester can identify the usage state of the DC trunk line LDL, that is, whether it is busy or idle.
When the tester confirms the free status of the DC trunk line LDL and operates the telephone key KT, the relay TT operates, disconnects the DC trunk line LDL, connects the LD trunk LDT to the trunk test circuit TTC, and connects the automatic switchboard. EX
side test becomes possible. Similarly, if the tester
When KL is operated, relay LT operates and DC relay line
Testing on the line side is possible by connecting LDL to the line test circuit LTC. As is clear from the above explanation, according to a conventional test connection method, the connection of the communication line under test (in this case, the DC trunk line LDL) to the test equipment TST is as follows:
Everything depends on the tester's judgment and operation. Therefore, for example, if the tester inserts the test plug TP into the test jack J1 while operating the telephone key KT or KL, there is a risk of accidentally disconnecting the DC trunk line LDL during a call. In addition, if the test jack J3 is inserted when it should be inserted into the test jack J1, the line test circuit LTC, which is set for the DC trunk line LDL, will damage the terminal equipment of the four-wire carrier line 4WODL. Fear also arises. In addition to the above, erroneous operation by the tester may cause damage to the trunk line under test or the test equipment TST. An object of the present invention is to realize a test connection method that eliminates the drawbacks of the conventional test connection methods as described above and prevents damage caused by erroneous operation by a tester. The purpose of this is to provide a test equipment that connects multiple types of communication lines accommodated in an automatic exchange and tests the line side and the automatic exchange side of the communication line.
A potential detection means is connected to a filament determined according to the type of the communication line to be tested via the connection means used for the lead-in, and the potential of the filament is set to a predetermined potential. This is achieved by identifying the communication line by the potential detecting means, thereby confirming that it is the intended communication line and that the communication line is in an idle state, and then pulling in the communication line. An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a diagram illustrating a test connection scheme according to an embodiment of the present invention. In Figure 2, various communication lines such as the central office line COL, DC relay LDL, 2-wire carrier line 2WODL, and 4-wire carrier line 4WODL are equipped with test jacks Ji (i is 0 to 3) as in Figure 1. It is housed in the automatic exchange EX via the distribution board MDF. Now DC relay line
When conducting an LDL test, the tester must first test the trunk test circuit of the test device TST', as shown in Figure 1.
After setting the TTC and line test circuit LTC to match the DC trunk line LDL to be tested, insert the test plug TP into the test jack J1. In the test device TST', a verification circuit CHK is connected to the DC trunk line LDL which is connected and connected.
The verification circuit CHK identifies the type and usage status of the connected communication line without disturbing the communication line, and determines whether the communication line type is the DC trunk line LDL to be tested and whether it is in an idle state. When something is identified, the verification output relay G is operated. When the tester operates the electric key KT or KL while the verification output relay G is activated, the relay
Since TT or LT operates and maintains itself, the first
As in the figure, it is possible to test the automatic exchange EX side using the trunk test circuit TTC, or test the DC trunk line LDL using the line test circuit LTC. If the drawn-in DC trunk line LDL is busy or if it is accidentally inserted into the test jack Ji of another type of communication line, the verification circuit CHK will not operate the verification output relay G. The tester accidentally used the telephone key.
Even if you operate KT or KL, relay TT and
LT does not operate, and there is no risk of cutting off the communication line that has been drawn in. Next, an example of the matching circuit CHK in FIG. 2 will be explained with reference to FIG. 3. In FIG. 3, only the DC trunk line LDL and the four-wire carrier line 4WODL are shown. Test jacks J1 and J3 are both 6-wire (A to F)
jack is used. Therefore, the two-wire DC trunk line LDL is connected to one test jack J1.
Three DC trunk lines LDL#0 to LDL#2 are accommodated in the . On the other hand, only one line of the four-wire transport line 4WODL, which requires six lines including the signal line, is accommodated in one test jack J3. Focusing on DC trunk line LDL#0, when it is empty, wire A has -48 volts and wire B has an earth potential of LD trunk.
The potentials V A and V B of the filament A and filament B each exhibit an intermediate value between the earth potential and -48 volts due to the loop that is supplied from the LDT #0 and is created in the DC trunk line LDL #0 in the busy state. . DC trunk line LDL
#1 filament C and filament D, and DC relay line
The potentials of striae E and striae F of LDL#2 change similarly. On the other hand, when focusing on the 4-wire transport line 4WODL, filaments A, B, C, and D are not supplied with DC potential regardless of the usage state, and when the wire E is idle, the 4-wire transport line 4WODL (carrier terminal station DC potential -VD (<-48 volts) is supplied from the
In busy state, 4-wire OD trunk 4WODT contact
dl operates and earth potential is supplied. Also, when the wire F is empty, it is from the 4-wire OD trunk 4WODT.
48 volts are supplied, and in the busy state, the contact γg of the 4-wire carrier line 4WODL (carrier terminal unit) is activated to supply ground potential. The test jack J mentioned above
The table shows changes in the DC potential of each of the filaments A to F of No. 1 and J3 depending on the usage conditions. Meanwhile testing equipment
The matching circuit CHK of TST′ is the −48 volt comparator CMP
and illustrated
【表】
されぬ種別選択リレーLD0,LD1,LD2およ
びODを有している。今試験対象として直流中継
線LDL#0を選び、照合回路CHKの種別選択リ
レーLD0を動作させた状態で試験プラグTPを試
験ジヤツクJ1に挿入する。該試験ジヤツクJ1
に収容されている線条A乃至Fは、前述の如く接
続状態の侭試験装置TST′に引込まれるが、線条
A,C,EおよびFのみが照合回路CHKに導び
かれ、更に線条Aのみが動作中の接点Id0を経由
して−48ボルト比較器CMPに接続される。該−
48ボルト比較器CMPは−48ボルトが所定時間継
続して入力された場合に、照合出力リレーGを動
作させる。従つて、直流中継線LDL#0が空き
状態であれば、前述の如く線条Aから−48ボルト
が入力されて、照合回路CHKは照合出力リレー
Gが動作させる。該直流中継LDL#0が話中状
態であれば、線条Aからは−VA(>−48ボルト)
が入力されるので、照合回路CHKは照合出力リ
レーGを動作させない。なお直流中継線LDL
#0がダイヤルパルス送出中に短時間線条Aから
−48ボルトが供給されても、−48ボルト比較器
CMPの時限特性により、照合出力リレーGは動
作しない。若し試験者が誤つて試験プラグTPを
試験ジヤツクJ3に挿入しても、4線式搬送回線
4WODLの線条Aからは直流電位が入力されぬ
ため、照合回路CHKは照合出力リレーGを動作
させることは無い。一方照合回路CHKは線条A
以外には何も接続せず、線条Aに接続される−48
ボルト比較器CMPの入力インピータンスも充分
高インピーダンスに保たれているので4線式搬送
回線4WODLおよび話中状態にある直流中継線
LDL#0にも何等妨害を与えることは無い。
以上の説明から明らかな如く、本実施例によれ
ば直流中継線LDL#0を試験対象とする試験装
置TST′は試験プラグTPの線条Aのみに高イン
ピーダンスの−48ボルト比較器CMPを接続する
ので、直流中継線LDL#0が空き状態にある場
合のみ照合出力リレーGが動作して、以後の試験
動作が可能となる。その他の直流中継線LDL
#1,LDL#2および4線式搬送回線4WODL
に対しては照合出力リレーGも動作せず、何等妨
害を与えることは無い。
なお、第2図および第3図はあく迄本発明の一
実施例に過ぎず、例えば試験対象は第3図におけ
る直流中継線LDL#0に限定されることは無く、
他の直流中継線LDL#1,LDL#2または4線
式搬送回線4WODLの場合にも、本発明の効果
は変らない。また照合回路CHKの構成は直流中
継線LDL#0,LDL#1,LDL#2および4線
式搬送回線4WODLを対象とするものに限定さ
れることは無く、他の種別の通信回線を対象とす
る場合にも、本発明の効果は変らない。
以上、本発明によれば、試験対象とする通信回
線が空き状態にある場合のみ試験装置の試験操作
が有効となり、試験者の誤操作により、話中状態
にある通信回線および試験対象外の通信回線に対
し被害を及ぼすことが防止される。[Table] The type selection relays LD0, LD1, LD2 and OD are included. Now select the DC trunk line LDL#0 as the test target, and insert the test plug TP into the test jack J1 while operating the type selection relay LD0 of the verification circuit CHK. The test jack J1
The wires A to F housed in Only row A is connected to the -48 volt comparator CMP via active contact Id0. -
The 48 volt comparator CMP operates the verification output relay G when -48 volts is continuously input for a predetermined period of time. Therefore, if the DC trunk line LDL#0 is in an empty state, -48 volts is input from the line A as described above, and the verification output relay G operates the verification circuit CHK. If the DC relay LDL#0 is busy, -V A (>-48 volts) from wire A.
is input, the verification circuit CHK does not operate the verification output relay G. In addition, the DC trunk line LDL
Even if -48 volts is supplied from wire A for a short time while #0 is sending dial pulses, the -48 volt comparator
Due to the time-limited characteristics of CMP, verification output relay G does not operate. Even if the tester accidentally inserts the test plug TP into the test jack J3, the verification circuit CHK operates the verification output relay G because no DC potential is input from the wire A of the 4-wire transport line 4WODL. There's nothing to do. On the other hand, the verification circuit CHK is a line A
It is connected to filament A without connecting to anything other than -48
The input impedance of the volt comparator CMP is also maintained at a sufficiently high impedance, so the 4-wire carrier line 4WODL and the DC trunk line in the busy state are
It does not interfere with LDL#0 in any way. As is clear from the above explanation, according to this embodiment, the test device TST' which tests the DC trunk line LDL#0 connects the high impedance -48 volt comparator CMP only to the wire A of the test plug TP. Therefore, the verification output relay G operates only when the DC trunk line LDL#0 is in an empty state, and the subsequent test operation becomes possible. Other DC trunk lines LDL
#1, LDL #2 and 4-wire carrier line 4WODL
Verification output relay G also does not operate, and does not cause any interference. Note that FIGS. 2 and 3 are only one embodiment of the present invention, and for example, the test object is not limited to the DC trunk line LDL#0 in FIG.
The effects of the present invention do not change even in the case of other DC trunk lines LDL#1, LDL#2 or four-wire carrier line 4WODL. Furthermore, the configuration of the verification circuit CHK is not limited to the DC trunk lines LDL#0, LDL#1, LDL#2 and the 4-wire carrier line 4WODL, but can also be used for other types of communication lines. Even in this case, the effects of the present invention remain unchanged. As described above, according to the present invention, the test operation of the test device is valid only when the communication line to be tested is in an idle state, and due to the tester's erroneous operation, a busy communication line and a communication line not to be tested are This prevents damage from occurring.
第1図は従来ある試験接続方式の一例を示す
図、第2図は本発明の一実施例による試験接続方
式を示す図、第3図は第2図における照合回路の
一例を示す図である。
図において、EXは自動交換機、NWはネツト
ワーク、COTは局線トランク、LDT,LDT
#0,LDT#1およびLDT#2はLDトランク、
2WODTは2線式ODトランク、4WODTは4
線式ODトランク、COLは局線、LDL,LDL
#0,LDL#1およびLDL#2は直流中継線、
2WODLは2線式搬送回路、4WODLは4線式
搬送回線、MDFは配線盤、J0,J1,J2お
よびJ3は試験ジヤツク、TPは試験プラグ、
TSTおよびTST′は試験装置、TTCはトランク
試験器、LTCは線路試験器、MOCはモニタ回
路、CHKは照合回路、CMPは−48ボルト比較
器、Gは照合出力リレー、TT,LTおよびMON
はリレー、KT,KLおよびKMは電鍵、dlおよび
γgはリレー接点、ld0,ld1,ld2およびodは種
別選択リレーの接点、A,B,C,D,Eおよび
Fは線条、を示す。
FIG. 1 is a diagram showing an example of a conventional test connection method, FIG. 2 is a diagram showing a test connection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing an example of the verification circuit in FIG. 2. . In the figure, EX is an automatic exchange, NW is a network, COT is a central office trunk, LDT, LDT
#0, LDT#1 and LDT#2 are LD trunks,
2WODT is 2 wire OD trunk, 4WODT is 4
Wire OD trunk, COL is central line, LDL, LDL
#0, LDL#1 and LDL#2 are DC relay lines,
2WODL is a 2-wire carrier circuit, 4WODL is a 4-wire carrier line, MDF is a distribution board, J0, J1, J2 and J3 are test jacks, TP is a test plug,
TST and TST' are test equipment, TTC is trunk tester, LTC is line tester, MOC is monitor circuit, CHK is verification circuit, CMP is -48 volt comparator, G is verification output relay, TT, LT and MON
is a relay, KT, KL, and KM are electric keys, dl and γg are relay contacts, ld0, ld1, ld2, and od are contact points of type selection relays, and A, B, C, D, E, and F are wires.
Claims (1)
線を引込み、該通信回線の線路側および自動交換
機側の試験を行う試験装置において、試験対象通
信回線の種別に対応して定まる線条に、前記引込
みに使用される接続手段を介して電位検出手段を
接続し、該線条の電位が予め定められた電位に設
定されていることを前記電位検出手段により識別
することにより、所期の通信回線であることおよ
び該通信回線が空き状態にあることを確認した上
で引込むことを特徴とする試験接続方式。1. In a test device that connects multiple types of communication lines accommodated in an automatic exchange and tests the line side and the automatic exchange side of the communication line, the above-mentioned A potential detection means is connected via a connection means used for lead-in, and the potential detection means identifies that the potential of the filament is set to a predetermined potential, thereby establishing the desired communication line. A test connection method characterized in that the connection is made after confirming that the communication line is empty and that the communication line is idle.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17957080A JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17957080A JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57103460A JPS57103460A (en) | 1982-06-28 |
| JPS6336705B2 true JPS6336705B2 (en) | 1988-07-21 |
Family
ID=16068042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17957080A Granted JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57103460A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110703U (en) * | 1989-02-21 | 1990-09-05 |
-
1980
- 1980-12-18 JP JP17957080A patent/JPS57103460A/en active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110703U (en) * | 1989-02-21 | 1990-09-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57103460A (en) | 1982-06-28 |
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