JPS6336705B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6336705B2 JPS6336705B2 JP17957080A JP17957080A JPS6336705B2 JP S6336705 B2 JPS6336705 B2 JP S6336705B2 JP 17957080 A JP17957080 A JP 17957080A JP 17957080 A JP17957080 A JP 17957080A JP S6336705 B2 JPS6336705 B2 JP S6336705B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line
- test
- ldl
- trunk
- wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
本発明は試験接続方式、特に自動交換機に収容
される複数の種類の通信回線を引込み、該通信回
線の線路側および自動交換機側の試験を行う試験
装置における試験接続方式に関す。 第１図はこの種試験装置における従来ある試験
接続方式の一例を示す図である。第１図におい
て、自動交換機EXには局線COL、直流中継線
LDL、２線式搬送回線２WODLおよび４線式搬
送回線４WODLの各種通信回線が配線盤MDFを
介して収容されている。該配線盤MDFには、前
記各通信回線毎に試験ジヤツクJi（ｉは０、１、
２および３）が設けられており、試験装置TST
の試験プラグTPを試験対象通信回線の試験ジヤ
ツクJiに挿入することにより、該通信回線を試験
装置TSTに引込み、局線トランクCOT、LDトラ
ンクLDT、２線式ODトランク２WODTあるい
は４線式ODトランク４WODTおよびネツトワー
クNW等含む自動交換機EX側と線路側とを切分
け試験が可能な構成となつている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験装置TST内の
トランク試験回路TTCおよび線路試験回路LTC
は、図示されぬ電鍵類の操作により、試験対象と
なる直流中継線LDLに適合する様、予め設定さ
れる。次に試験者が試験プラグTPを直流中継線
LDLに対応する試験ジヤツクＪ１に挿入すると、
該直流中継線LDLは復旧状態にあるリレーTTお
よびLTの接点ttおよびltにより、接続状態の侭試
験装置TSTに引込まれる。続いて試験者が電鍵
KMを操作すると、リレーMONが動作し、直流
中継線LDLをモニタ回路MOCに接続する。従つ
て試験者は該直流中継線LDLの使用状態、即ち
話中状態か空き状態かを識別することが出来る。
試験者が該直流中継線LDLの空き状態を確認の
上電鍵KTを操作すると、リレーTTが動作して
直流中継線LDLを切分け、LDトランクLDTをト
ランク試験回路TTCに接続して、自動交換機EX
側の試験が可能となる。同様に、試験者が電鍵
KLを操作するとリレーLTが動作し、直流中継線
LDLを線路試験回路LTCに接続して、線路側の
試験が可能となる。 以上の説明から明らかな如く、従来ある試験接
続方式によれば、試験対象通信回線（この場合直
流中継線LDL）の試験装置TSTへの引込みは、
総べて試験者の判断と操作に依存している。従つ
て、例えば試験者が電鍵KTまたはKLを動作さ
せた侭で試験プラグTPを試験ジヤツクＪ１に挿
入すると、通話中の直流中継線LDLを誤つて切
断する恐れがある。また、試験ジヤツクＪ１に挿
入すべき処、誤つて試験ジヤツクＪ３に挿入する
と、直流中継線LDLを対象に設定されている線
路試験回路LTCが、４線式搬送回線４WODLの
端局装置を損傷する恐れも生ずる。前記以外に
も、試験者の誤操作により、試験対象中継線ある
いは試験装置TSTに被害を及ぼす恐れが生ずる。 本発明の目的は、前述の如き従来ある試験接続
方式の欠点を除去し、試験者の誤操作に起因する
被害を防止する試験接続方式の実現にある。 この目的は、自動交換機に収容される複数の種
類の通信回線を引込み、該通信回線の線路側およ
び自動交換機側の試験を行う試験装置において、
試験対象通信回線の種別に対応して定まる線条
に、前記引込みに使用される接続手段を介して電
位検出手段を接続し、該線条の電位が予め定めら
れた電位に設定されていることを前記電位検出手
段により識別することにより、所期の通信回線で
あることおよび該通信回線が空き状態にあること
を確認した上で引込むことにより達成される。 以下、本発明の一実施例を第２図および第３図
により説明する。第２図は、本発明の一実施例に
よる試験接続方式を示す図である。第２図におい
て、局線COL、直流中継LDL、２線式搬送回線
２WODLおよび４線式搬送回線４WODLの各種
通信回線は、第１図同様、試験ジヤツクJi（ｉは
０乃至３）を備えた配線盤MDFを経由して、自
動交換機EXに収容されている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験者は第１図同
様、予め、試験装置TST′のトランク試験回路
TTCおよび線路試験回路LTCを、試験対象とな
る直流中継線LDLに適合する様設定した後、試
験プラグTPを試験ジヤツクＪ１に挿入する。試
験装置TST′においては、接続状態で引込まれた
直流中継線LDLに照合回路CHKが接続される。
該照合回路CHKは、引込まれた通信回線の種別
および使用状態を、該通信回線に妨害を与えるこ
と無く識別し、該通信回線種別が試験対象とする
直流中継線LDLであり、且つ空き状態にあるこ
とが識別された場合に、照合出力リレーＧを動作
させる。照合出力リレーＧが動作した状態で、試
験者が電鍵KTまたはKLを操作すると、リレー
TTまたはLTが動作し自己保持するので、第１
図同様、トランク試験回路TTCによる自動交換
機EX側の試験、または線路試験回路LTCによる
直流中継線LDLの試験が可能となる。若し引込
んだ直流中継線LDLが話中状態であるか、また
は誤つて他の種別の通信回線の試験ジヤツクJiに
挿入した場合には、照合回路CHKは照合出力リ
レーＧを動作させないので、試験者が誤つて電鍵
KTまたはKLを操作しても、リレーTTおよび
LTは動作することは無く、引込まれた通信回線
を切分ける恐れも無い。次に、第２図における照
合回路CHKの一例を第３図により説明する。第
３図においては、直流中継線LDLおよび４線式
搬送回線４WODLのみが示されている。試験ジ
ヤツクＪ１およびＪ３は共に６線式（Ａ乃至Ｆ）
ジヤツクが使用されている。従つて、２線式であ
る直流中継線LDLは、１個の試験ジヤツクＪ１
に３回線の直流中継線LDL＃０乃至LDL＃２が
収容されている。一方信号線を含め６線必要とす
る４線式搬送回線４WODLは、１個の試験ジヤ
ツクＪ３に１回線のみが収容されている。直流中
継線LDL＃０に着目すると、空き状態では線条
Ａに−48ボルト、線条Ｂに地電位がLDトランク
LDT＃０から供給され、話中状態では直流中継
線LDL＃０に作られるループにより、線条Ａお
よび線条Ｂの電位VAおよびVBはそれぞれ地電位
と−48ボルトの中間値を示す。直流中継線LDL
＃１の線条Ｃおよび線条Ｄ、並びに直流中継線
LDL＃２の線条Ｅおよび線条Ｆの電位も同様に
変化する。一方４線式搬送回線４WODLに着目
すると、線条Ａ，Ｂ，ＣおよびＤは使用状態に拘
わらず直流電位は供給されず、線条Ｅは空き状態
では４線式搬送回線４WODL（搬送端局装置）か
ら直流電位−VD（＜−48ボルト）が供給され、
話中状態では４線式ODトランク４WODTの接点
dlが動作して地電位が供給される。また線条Ｆは
空き状態では４線式ODトランク４WODTから−
48ボルトが供給され、話中状態では４線式搬送回
線４WODL（搬送端局装置）の接点γgが動作して
地電位が供給される。以上述べた試験ジヤツクＪ
１およびＪ３の各線条Ａ乃至Ｆの直流電位の使用
状態による変化を表に示す。一方試験装置
TST′の照合回路CHKは、−48ボルト比較器CMP
と図示
される複数の種類の通信回線を引込み、該通信回
線の線路側および自動交換機側の試験を行う試験
装置における試験接続方式に関す。 第１図はこの種試験装置における従来ある試験
接続方式の一例を示す図である。第１図におい
て、自動交換機EXには局線COL、直流中継線
LDL、２線式搬送回線２WODLおよび４線式搬
送回線４WODLの各種通信回線が配線盤MDFを
介して収容されている。該配線盤MDFには、前
記各通信回線毎に試験ジヤツクJi（ｉは０、１、
２および３）が設けられており、試験装置TST
の試験プラグTPを試験対象通信回線の試験ジヤ
ツクJiに挿入することにより、該通信回線を試験
装置TSTに引込み、局線トランクCOT、LDトラ
ンクLDT、２線式ODトランク２WODTあるい
は４線式ODトランク４WODTおよびネツトワー
クNW等含む自動交換機EX側と線路側とを切分
け試験が可能な構成となつている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験装置TST内の
トランク試験回路TTCおよび線路試験回路LTC
は、図示されぬ電鍵類の操作により、試験対象と
なる直流中継線LDLに適合する様、予め設定さ
れる。次に試験者が試験プラグTPを直流中継線
LDLに対応する試験ジヤツクＪ１に挿入すると、
該直流中継線LDLは復旧状態にあるリレーTTお
よびLTの接点ttおよびltにより、接続状態の侭試
験装置TSTに引込まれる。続いて試験者が電鍵
KMを操作すると、リレーMONが動作し、直流
中継線LDLをモニタ回路MOCに接続する。従つ
て試験者は該直流中継線LDLの使用状態、即ち
話中状態か空き状態かを識別することが出来る。
試験者が該直流中継線LDLの空き状態を確認の
上電鍵KTを操作すると、リレーTTが動作して
直流中継線LDLを切分け、LDトランクLDTをト
ランク試験回路TTCに接続して、自動交換機EX
側の試験が可能となる。同様に、試験者が電鍵
KLを操作するとリレーLTが動作し、直流中継線
LDLを線路試験回路LTCに接続して、線路側の
試験が可能となる。 以上の説明から明らかな如く、従来ある試験接
続方式によれば、試験対象通信回線（この場合直
流中継線LDL）の試験装置TSTへの引込みは、
総べて試験者の判断と操作に依存している。従つ
て、例えば試験者が電鍵KTまたはKLを動作さ
せた侭で試験プラグTPを試験ジヤツクＪ１に挿
入すると、通話中の直流中継線LDLを誤つて切
断する恐れがある。また、試験ジヤツクＪ１に挿
入すべき処、誤つて試験ジヤツクＪ３に挿入する
と、直流中継線LDLを対象に設定されている線
路試験回路LTCが、４線式搬送回線４WODLの
端局装置を損傷する恐れも生ずる。前記以外に
も、試験者の誤操作により、試験対象中継線ある
いは試験装置TSTに被害を及ぼす恐れが生ずる。 本発明の目的は、前述の如き従来ある試験接続
方式の欠点を除去し、試験者の誤操作に起因する
被害を防止する試験接続方式の実現にある。 この目的は、自動交換機に収容される複数の種
類の通信回線を引込み、該通信回線の線路側およ
び自動交換機側の試験を行う試験装置において、
試験対象通信回線の種別に対応して定まる線条
に、前記引込みに使用される接続手段を介して電
位検出手段を接続し、該線条の電位が予め定めら
れた電位に設定されていることを前記電位検出手
段により識別することにより、所期の通信回線で
あることおよび該通信回線が空き状態にあること
を確認した上で引込むことにより達成される。 以下、本発明の一実施例を第２図および第３図
により説明する。第２図は、本発明の一実施例に
よる試験接続方式を示す図である。第２図におい
て、局線COL、直流中継LDL、２線式搬送回線
２WODLおよび４線式搬送回線４WODLの各種
通信回線は、第１図同様、試験ジヤツクJi（ｉは
０乃至３）を備えた配線盤MDFを経由して、自
動交換機EXに収容されている。今直流中継線
LDLの試験を行う場合には、試験者は第１図同
様、予め、試験装置TST′のトランク試験回路
TTCおよび線路試験回路LTCを、試験対象とな
る直流中継線LDLに適合する様設定した後、試
験プラグTPを試験ジヤツクＪ１に挿入する。試
験装置TST′においては、接続状態で引込まれた
直流中継線LDLに照合回路CHKが接続される。
該照合回路CHKは、引込まれた通信回線の種別
および使用状態を、該通信回線に妨害を与えるこ
と無く識別し、該通信回線種別が試験対象とする
直流中継線LDLであり、且つ空き状態にあるこ
とが識別された場合に、照合出力リレーＧを動作
させる。照合出力リレーＧが動作した状態で、試
験者が電鍵KTまたはKLを操作すると、リレー
TTまたはLTが動作し自己保持するので、第１
図同様、トランク試験回路TTCによる自動交換
機EX側の試験、または線路試験回路LTCによる
直流中継線LDLの試験が可能となる。若し引込
んだ直流中継線LDLが話中状態であるか、また
は誤つて他の種別の通信回線の試験ジヤツクJiに
挿入した場合には、照合回路CHKは照合出力リ
レーＧを動作させないので、試験者が誤つて電鍵
KTまたはKLを操作しても、リレーTTおよび
LTは動作することは無く、引込まれた通信回線
を切分ける恐れも無い。次に、第２図における照
合回路CHKの一例を第３図により説明する。第
３図においては、直流中継線LDLおよび４線式
搬送回線４WODLのみが示されている。試験ジ
ヤツクＪ１およびＪ３は共に６線式（Ａ乃至Ｆ）
ジヤツクが使用されている。従つて、２線式であ
る直流中継線LDLは、１個の試験ジヤツクＪ１
に３回線の直流中継線LDL＃０乃至LDL＃２が
収容されている。一方信号線を含め６線必要とす
る４線式搬送回線４WODLは、１個の試験ジヤ
ツクＪ３に１回線のみが収容されている。直流中
継線LDL＃０に着目すると、空き状態では線条
Ａに−48ボルト、線条Ｂに地電位がLDトランク
LDT＃０から供給され、話中状態では直流中継
線LDL＃０に作られるループにより、線条Ａお
よび線条Ｂの電位VAおよびVBはそれぞれ地電位
と−48ボルトの中間値を示す。直流中継線LDL
＃１の線条Ｃおよび線条Ｄ、並びに直流中継線
LDL＃２の線条Ｅおよび線条Ｆの電位も同様に
変化する。一方４線式搬送回線４WODLに着目
すると、線条Ａ，Ｂ，ＣおよびＤは使用状態に拘
わらず直流電位は供給されず、線条Ｅは空き状態
では４線式搬送回線４WODL（搬送端局装置）か
ら直流電位−VD（＜−48ボルト）が供給され、
話中状態では４線式ODトランク４WODTの接点
dlが動作して地電位が供給される。また線条Ｆは
空き状態では４線式ODトランク４WODTから−
48ボルトが供給され、話中状態では４線式搬送回
線４WODL（搬送端局装置）の接点γgが動作して
地電位が供給される。以上述べた試験ジヤツクＪ
１およびＪ３の各線条Ａ乃至Ｆの直流電位の使用
状態による変化を表に示す。一方試験装置
TST′の照合回路CHKは、−48ボルト比較器CMP
と図示
【表】
されぬ種別選択リレーLD０，LD１，LD２およ
びODを有している。今試験対象として直流中継
線LDL＃０を選び、照合回路CHKの種別選択リ
レーLD０を動作させた状態で試験プラグTPを試
験ジヤツクＪ１に挿入する。該試験ジヤツクＪ１
に収容されている線条Ａ乃至Ｆは、前述の如く接
続状態の侭試験装置TST′に引込まれるが、線条
Ａ，Ｃ，ＥおよびＦのみが照合回路CHKに導び
かれ、更に線条Ａのみが動作中の接点Id０を経由
して−48ボルト比較器CMPに接続される。該−
48ボルト比較器CMPは−48ボルトが所定時間継
続して入力された場合に、照合出力リレーＧを動
作させる。従つて、直流中継線LDL＃０が空き
状態であれば、前述の如く線条Ａから−48ボルト
が入力されて、照合回路CHKは照合出力リレー
Ｇが動作させる。該直流中継LDL＃０が話中状
態であれば、線条Ａからは−VA（＞−48ボルト）
が入力されるので、照合回路CHKは照合出力リ
レーＧを動作させない。なお直流中継線LDL
＃０がダイヤルパルス送出中に短時間線条Ａから
−48ボルトが供給されても、−48ボルト比較器
CMPの時限特性により、照合出力リレーＧは動
作しない。若し試験者が誤つて試験プラグTPを
試験ジヤツクＪ３に挿入しても、４線式搬送回線
４WODLの線条Ａからは直流電位が入力されぬ
ため、照合回路CHKは照合出力リレーＧを動作
させることは無い。一方照合回路CHKは線条Ａ
以外には何も接続せず、線条Ａに接続される−48
ボルト比較器CMPの入力インピータンスも充分
高インピーダンスに保たれているので４線式搬送
回線４WODLおよび話中状態にある直流中継線
LDL＃０にも何等妨害を与えることは無い。 以上の説明から明らかな如く、本実施例によれ
ば直流中継線LDL＃０を試験対象とする試験装
置TST′は試験プラグTPの線条Ａのみに高イン
ピーダンスの−48ボルト比較器CMPを接続する
ので、直流中継線LDL＃０が空き状態にある場
合のみ照合出力リレーＧが動作して、以後の試験
動作が可能となる。その他の直流中継線LDL
＃１，LDL＃２および４線式搬送回線４WODL
に対しては照合出力リレーＧも動作せず、何等妨
害を与えることは無い。 なお、第２図および第３図はあく迄本発明の一
実施例に過ぎず、例えば試験対象は第３図におけ
る直流中継線LDL＃０に限定されることは無く、
他の直流中継線LDL＃１，LDL＃２または４線
式搬送回線４WODLの場合にも、本発明の効果
は変らない。また照合回路CHKの構成は直流中
継線LDL＃０，LDL＃１，LDL＃２および４線
式搬送回線４WODLを対象とするものに限定さ
れることは無く、他の種別の通信回線を対象とす
る場合にも、本発明の効果は変らない。 以上、本発明によれば、試験対象とする通信回
線が空き状態にある場合のみ試験装置の試験操作
が有効となり、試験者の誤操作により、話中状態
にある通信回線および試験対象外の通信回線に対
し被害を及ぼすことが防止される。
びODを有している。今試験対象として直流中継
線LDL＃０を選び、照合回路CHKの種別選択リ
レーLD０を動作させた状態で試験プラグTPを試
験ジヤツクＪ１に挿入する。該試験ジヤツクＪ１
に収容されている線条Ａ乃至Ｆは、前述の如く接
続状態の侭試験装置TST′に引込まれるが、線条
Ａ，Ｃ，ＥおよびＦのみが照合回路CHKに導び
かれ、更に線条Ａのみが動作中の接点Id０を経由
して−48ボルト比較器CMPに接続される。該−
48ボルト比較器CMPは−48ボルトが所定時間継
続して入力された場合に、照合出力リレーＧを動
作させる。従つて、直流中継線LDL＃０が空き
状態であれば、前述の如く線条Ａから−48ボルト
が入力されて、照合回路CHKは照合出力リレー
Ｇが動作させる。該直流中継LDL＃０が話中状
態であれば、線条Ａからは−VA（＞−48ボルト）
が入力されるので、照合回路CHKは照合出力リ
レーＧを動作させない。なお直流中継線LDL
＃０がダイヤルパルス送出中に短時間線条Ａから
−48ボルトが供給されても、−48ボルト比較器
CMPの時限特性により、照合出力リレーＧは動
作しない。若し試験者が誤つて試験プラグTPを
試験ジヤツクＪ３に挿入しても、４線式搬送回線
４WODLの線条Ａからは直流電位が入力されぬ
ため、照合回路CHKは照合出力リレーＧを動作
させることは無い。一方照合回路CHKは線条Ａ
以外には何も接続せず、線条Ａに接続される−48
ボルト比較器CMPの入力インピータンスも充分
高インピーダンスに保たれているので４線式搬送
回線４WODLおよび話中状態にある直流中継線
LDL＃０にも何等妨害を与えることは無い。 以上の説明から明らかな如く、本実施例によれ
ば直流中継線LDL＃０を試験対象とする試験装
置TST′は試験プラグTPの線条Ａのみに高イン
ピーダンスの−48ボルト比較器CMPを接続する
ので、直流中継線LDL＃０が空き状態にある場
合のみ照合出力リレーＧが動作して、以後の試験
動作が可能となる。その他の直流中継線LDL
＃１，LDL＃２および４線式搬送回線４WODL
に対しては照合出力リレーＧも動作せず、何等妨
害を与えることは無い。 なお、第２図および第３図はあく迄本発明の一
実施例に過ぎず、例えば試験対象は第３図におけ
る直流中継線LDL＃０に限定されることは無く、
他の直流中継線LDL＃１，LDL＃２または４線
式搬送回線４WODLの場合にも、本発明の効果
は変らない。また照合回路CHKの構成は直流中
継線LDL＃０，LDL＃１，LDL＃２および４線
式搬送回線４WODLを対象とするものに限定さ
れることは無く、他の種別の通信回線を対象とす
る場合にも、本発明の効果は変らない。 以上、本発明によれば、試験対象とする通信回
線が空き状態にある場合のみ試験装置の試験操作
が有効となり、試験者の誤操作により、話中状態
にある通信回線および試験対象外の通信回線に対
し被害を及ぼすことが防止される。
第１図は従来ある試験接続方式の一例を示す
図、第２図は本発明の一実施例による試験接続方
式を示す図、第３図は第２図における照合回路の
一例を示す図である。 図において、EXは自動交換機、NWはネツト
ワーク、COTは局線トランク、LDT，LDT
＃０，LDT＃１およびLDT＃２はLDトランク、
２WODTは２線式ODトランク、４WODTは４
線式ODトランク、COLは局線、LDL，LDL
＃０，LDL＃１およびLDL＃２は直流中継線、
２WODLは２線式搬送回路、４WODLは４線式
搬送回線、MDFは配線盤、Ｊ０，Ｊ１，Ｊ２お
よびＪ３は試験ジヤツク、TPは試験プラグ、
TSTおよびTST′は試験装置、TTCはトランク
試験器、LTCは線路試験器、MOCはモニタ回
路、CHKは照合回路、CMPは−48ボルト比較
器、Ｇは照合出力リレー、TT，LTおよびMON
はリレー、KT，KLおよびKMは電鍵、dlおよび
γgはリレー接点、ld０，ld１，ld２およびodは種
別選択リレーの接点、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅおよび
Ｆは線条、を示す。
図、第２図は本発明の一実施例による試験接続方
式を示す図、第３図は第２図における照合回路の
一例を示す図である。 図において、EXは自動交換機、NWはネツト
ワーク、COTは局線トランク、LDT，LDT
＃０，LDT＃１およびLDT＃２はLDトランク、
２WODTは２線式ODトランク、４WODTは４
線式ODトランク、COLは局線、LDL，LDL
＃０，LDL＃１およびLDL＃２は直流中継線、
２WODLは２線式搬送回路、４WODLは４線式
搬送回線、MDFは配線盤、Ｊ０，Ｊ１，Ｊ２お
よびＪ３は試験ジヤツク、TPは試験プラグ、
TSTおよびTST′は試験装置、TTCはトランク
試験器、LTCは線路試験器、MOCはモニタ回
路、CHKは照合回路、CMPは−48ボルト比較
器、Ｇは照合出力リレー、TT，LTおよびMON
はリレー、KT，KLおよびKMは電鍵、dlおよび
γgはリレー接点、ld０，ld１，ld２およびodは種
別選択リレーの接点、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅおよび
Ｆは線条、を示す。
Claims (1)
- １ 自動交換機に収容される複数の種類の通信回
線を引込み、該通信回線の線路側および自動交換
機側の試験を行う試験装置において、試験対象通
信回線の種別に対応して定まる線条に、前記引込
みに使用される接続手段を介して電位検出手段を
接続し、該線条の電位が予め定められた電位に設
定されていることを前記電位検出手段により識別
することにより、所期の通信回線であることおよ
び該通信回線が空き状態にあることを確認した上
で引込むことを特徴とする試験接続方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17957080A JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17957080A JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57103460A JPS57103460A (en) | 1982-06-28 |
| JPS6336705B2 true JPS6336705B2 (ja) | 1988-07-21 |
Family
ID=16068042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17957080A Granted JPS57103460A (en) | 1980-12-18 | 1980-12-18 | Connection system for test |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57103460A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110703U (ja) * | 1989-02-21 | 1990-09-05 |
-
1980
- 1980-12-18 JP JP17957080A patent/JPS57103460A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02110703U (ja) * | 1989-02-21 | 1990-09-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57103460A (en) | 1982-06-28 |
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