JPS6337882B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、オフセツト印刷版などのパネルの
絵柄面積測定装置などに用いられる検査ヘツドに
係り、特に検査ヘツドの照射光学系の照明用光源
を覆うマスクの構造に関する。

オフセツト印刷版などのパネルの絵柄面積率を
計測する絵柄面積測定装置は、本体ハウジング前
面に形成されるテーブル上に被測定パネル（金属
プレートや可撓性樹脂シートなどを含む。）を吸
着して固定しており、固定されたパネル面の絵柄
面積は検査ヘツドをパネル面上で移動走査するこ
とにより測定されるようになつている。

検査ヘツドはパネル面上に照射光を照明する照
射光学系と、照明されたパネル面からの反射光を
受光する光学的検出装置とを有し、この光学的検
出装置でパネル面からの反射光の強度を光学的に
検出している。

しかして、パネルの絵柄面積率を光学的に検出
する場合、その検出精度を向上させるためには、
照明光学系からの照射光をパネル面の検出域に確
実に照射（露光）し、その検出域からの反射光の
みが光学的検出装置で受光されるようにしなけれ
ばならない。

この発明は上述した点を考慮し、照明光学系か
らの照明光を、パネル面の検出域に確実に照射
し、この検出域からの反射光を光学的検出装置に
案内し、検出精度の向上を確実に図ることができ
るようにしたパネルの絵柄面積測定装置等用検査
ヘツドを提供することを目的とする。

以下、この発明の実施例について添付図面を参
照して説明する。

第１図は発明に係る検査ヘツド１０を用いたパ
ネルの絵柄面積測定装置を示す全体斜視図であつ
て、図面符号１１は絵柄面積測定装置の本体ハウ
ジングを示す。この本体ハウジング１１内にブロ
ア等の負圧源（図示せず）が収納されるととも
に、その前面にテーブル１２が一体成形されてい
る。テーブル１２の前面はパンチングブレート１
３で覆われ、オフセツト印刷版などのパネル１４
を載置する載置面が形成される。この載置面は上
方に向つて本体ハウジング１１の背側に漸次近づ
くように傾斜しており、この傾斜により、テーブ
ル１２のパンチングプレート１３上にパネル１４
が簡単かつスムーズに載置される。テーブル１２
上に載置されたパネル１４は下部の位置決めバー
１５および左右いずれかの位置決めピン１６によ
り位置決めされ、保持される。

一方、本体ハウジング１１の前面上下部には一
対のガイドロツド１７，１８が水平方向に設けら
れており、上記ガイドロツド１７，１８により検
査ヘツド１０の水平方向の移動が案内される。検
査ヘツド１０はテーブル１２を跨ぐように装架さ
れ、テーブル１２上で往復動される。この検査ヘ
ツド１０の移動走査によりテーブル１２上のパネ
ル面の絵柄面積率が測定される。

検査ヘツド１０はボツクス状ケーシング２０を
有するとともに、このケーシング２０内に、第２
図に原理的に示すように、照明光学系２１と光学
的検出装置２２とが設けられる。照明光学系２１
は線状照明光源として並設された二本の螢光灯２
３，２３を有する。螢光灯２３，２３は第３図に
示すように端部近傍が固定保持具２４で保持さ
れ、ケーシング２０の両側底部に固定される。

また、光学的検出装置２２は、第４図に示すよ
うに両螢光灯２３，２３間の中間部上方に設置さ
れ、断面Ｌ字状の取付固定具２５によりケーシン
グ２０の底壁に固定され、ケーシング２０のボツ
クス状内に収容される。光学的検出装置２２は列
状に整列配置された多数の遮光ボツクス２６と、
この遮光ボツクス２６の頂部に取付けられた受光
器としてのフオトダイオート等の光センサー２７
とを有する。遮光ボツクス２６の下部は開口する
一方、この下端開口部にスリツト２８が設けられ
る。しかし、上記遮光ボツクス２６の下端開口部
の両側に前記螢光灯２３が設置される。

照明光学系２１を構成する螢光灯２３，２３は
マスク３０で両外方から覆われている。マスク３
０，３０はケーシング２０の下部に取付けられ、
螢光灯２３，２３を外側から覆う円弧状あるいは
楕円状曲線部３１と、この曲線部３１の外側下端
からパネル１４またはテーブル１２面に向つて斜
めに延びる直線部３２とを有する。螢光灯２３は
曲線部３１の中心または焦点位置に配置されてパ
ネル１４面側に開口している。また、上記曲線部
３１は螢光灯２３からの照射光を反射する反射面
３１Ａとして形成される。また、両マスク３０の
直線部３２は黒色塗布され、螢光灯３２からの照
射光を吸収する非反射面３２Ａとして形成され、
この非反射面３２Ａからの反射による悪影響を未
然に防止している。非反射面３２Ａの領域は螢光
灯がスリツト２８から光学的検出装置２２の遮光
ボツクス２６内に直接入射されるのを防止できる
範囲内であればよい。

また、マスク３０の両直線部３２，３２はパネ
ル面側に向つて漸次接近する方向に傾斜して、パ
ネル１４面近傍で終端し、細長い矩形の窓部３５
が形成される。この窓部３５は螢光灯２３の長手
方向に平行に延びており、螢光灯２３からの照射
光が窓部３５を通してパネル面の検出域Ａをスリ
ツト露光させるようになつている。

すなわち、マスク３０はパネル面の近接位置に
矩形の窓部３５が形成され、これによりパネル面
の検出域Ａだけを照射し、スリツト露光してい
る。一方、第５図に示すように、マスク３０に傾
斜した直線部３２を設けることにより、検出域Ａ
以外からのパネル１４の反射光がカツトされ、そ
の反射光が光学的検出装置２２に入射されるのを
未然に防止できる。もし、直線部３２がない場合
には、一点鎖線で示すように螢光灯２３からパネ
ル面のＰ点に照射され、このＰ点で反射した反射
光の影響が検出域Ａに及ぼされる。その場合、Ｐ
点はオフセツト印刷版などのパネル面であり、絵
柄の有無により反射光量が異なるため、Ｐ点から
の反射光量の影響が検出域Ａの照度変化となり、
測定誤差の要因となる恐れがある。また、直線部
３２の内面を非反射面（反射防止面）３２Ａとす
ることにより、非反射面３２Ａで破線で示すよう
な反射光が存在しないので、直線部３２での反射
の変化がパネル１４の検出域Ａの照度に影響を及
ぼすことがない。したがつて、パネル１４の検出
域Ａは常に一定の照度となる。

なお、符号３７はパネルのキヤリブレーシヨン
マーク３８を通る位置の両側に取付けられた遮光
板である。

さらに、マスク３０の非反射面の上限は、第４
図において例えばＬ点であればよい。このＢ点
は、窓部３５の中心と螢光灯２３の中心Ｏとを結
ぶ線がパネル面から角度αをなす場合、この角度
αの線に直交し、上記中心Ｏを通る直線がマスク
３０と交差する点である。

次に検査ヘツド１０の作用について述べる。

照明光学系２１の両螢光灯２３，２３からの照
射光を、マスク３０の矩形窓部３５を通して、パ
ネル１４の検出域Ａに照射し、その部分をスリツ
ト露光する。その際、パネル１４はテーブル１２
上に吸着され、所定位置に固定されている。スリ
ツト露光により、パネル１４の検出域Ａからの反
射光はスリツト２８を通り、光学的検出装置２２
の各遮光ボツクス２６内に入り、それらの各頂部
に設置された受光器としてのフオトダイオード等
の光センサ２７で受光され、その反射光の強弱に
より各遮光ボツクス２６毎にパネルの絵柄面積が
計測される。しかして、各遮光ボツクスの光セン
サ２７がそれぞれ絵柄面積を測定することによ
り、スリツト露光されたパネル検出域Ａの絵柄面
積率が測定される。

特定のパネル検出域Ａの絵柄面積率が測定され
ると、検査ヘツド１０は次のパネル検出域の絵柄
面積率を測定するため移動される。実際には、パ
ネル検出域Ａの絵柄（パターン）の面積率は光学
的検出装置２２により瞬時に測定されるので、検
出ヘツド１０は連続的に移動走査される。

しかして、検査ヘツド１０の移動走査により、
パネル１４は各検出域毎に絵柄の面積率が測定さ
れる。

なお、マスクの直線部は断面がストレートな一
直線である必要はかならずしもなく、断面が直線
に近似していればよく、またなめらかであれば湾
曲していてもよい。

さらに、光学的検出装置の各遮光ボツクス内面
を黒色塗布して、反射を防止する非反射面として
もよい。

以上に述べたようにこの発明に係る、パネルの
絵柄面積測定装置等用検出ヘツドにおいては、照
明光学系の照明用光源を覆うようにマスクを設
け、上記マスクはパネル面側に延び、パネル近接
位置においてスリツト露光させるように窓部を形
成したから、この窓部を通してパネルの検出域上
に照射光を確実に照射し、スリツト露光すること
ができる。そして、スリツト露光された検出域の
反射光が光学的検出装置に入射され、パネル検出
域以外の反射光はマスクで遮光されるので、パネ
ル検出域の検出精度が向上し、パネル検出域を効
率的かつ正確に光学的に測定することができる。

また、線状照明光源を覆う曲線部とこの曲線部
からパネル面側に延びる直線部とを有するマスク
において、その直線部を照射光を吸収用非反射面
とした場合には、非反射面で反射した光が光学的
検出装置に直接案内されることは全くない。した
がつて、直線部からの反射光等の外乱が光学的検
出装置に案内されることがなく、パネル検出域の
検出精度をより向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る検査ヘツドを用いたパ
ネルの絵柄面積測定装置を示す全体斜視図、第２
図はこの発明に係るパネルの絵柄面積測定装置等
用検査ヘツドの原理図、第３図は上記検査ヘツド
の下半分を部分的に示す図、第４図は第３図の
−線に沿う断面図、第５図は検査ヘツドの照明
光学系からの照射光の反射原理を示す第４図と同
様な断面図である。 １０……検査ヘツド、１１……本体ハウジン
グ、１２……テーブル、１４……パネル、２０…
…ケーシング、２１……照明光学系、２２……光
学的検出装置、２３……螢光灯、２６……遮光ボ
ツクス、２７……光センサ、２８……スリツト、
３０……マスク、３１……曲線部、３１Ａ……反
射面、３２……直線部、３２Ａ……非反射面、３
５……窓部、Ａ……パネルの検出域。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ テーブル上に設けられたオフセツト印刷版等
   のパネルに照射光を照射する照射光学系と、照射
   されたパネルからの反射光を検出するためケーシ
   ング内に収容された光学的検出装置とを有するパ
   ネルの絵柄面積測定装置等用検査ヘツドにおい
   て、前記照射光学系はケーシングの下部に並設さ
   れた複数本の線状照明用光源を有する一方、光学
   的検出装置は各線状照明用光源間の上方において
   ケーシング内に収容されており、前記各線状照明
   用光源を外側方から覆うようにマスクが設けら
   れ、前記各マスクは前記各線状照明用光源を覆い
   かつパネル面側に向つて開口する円弧状あるいは
   楕円状曲線部と、この曲線部の一端からパネル面
   側に向つて斜めに延び、パネル面近接位置で終端
   する直線部とを有し、隣合う直線部間にパネル面
   検出域をスリツト露光させるように矩形の窓部が
   形成され、前記マスクの曲線部は前記線状照明用
   光源からの照射光を反射する反射面に、直線部は
   照射光を吸収する非反射面としてそれぞれ形成さ
   れたパネルの絵柄面積測定装置等用検査ヘツド。