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JPS6349417B2 - - Google Patents
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JPS6349417B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6349417B2
JPS6349417B2 JP57234147A JP23414782A JPS6349417B2 JP S6349417 B2 JPS6349417 B2 JP S6349417B2 JP 57234147 A JP57234147 A JP 57234147A JP 23414782 A JP23414782 A JP 23414782A JP S6349417 B2 JPS6349417 B2 JP S6349417B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
parallel
serial
register
conversion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57234147A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59125139A (ja
Inventor
Koji Torii
Juichi Ito
Hisashi Tanaka
Mikitaka Murase
Wataru Kikuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS59125139A publication Critical patent/JPS59125139A/ja
Publication of JPS6349417B2 publication Critical patent/JPS6349417B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751Error or fault detection not based on redundancy
    • G06F11/0763Error or fault detection not based on redundancy by bit configuration check, e.g. of formats or tags

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Computer And Data Communications (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Communication Control (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 情報処理装置において、例えばホストコンピユ
ータと入出力装置との間のデータの送受信を行な
う場合、パラレルの形の情報を、1ワードごとに
シリアルの形に変換して送受信することが行なわ
れている。受信側では、受信したシリアル情報を
パラレルに変換して処理する。本発明は、このよ
うにデジタル情報をシリアルに変換して送受信す
る回路の診断方式に関する。
(b) 技術の背景 第1図に示すようにホストコンピユータ1に
は、ワークステーシヨン・チヤネル2を介して複
数の入出力装置3a,3b,3c………が接続さ
れている。そしてワークステーシヨン・チヤネル
2と入出力装置3aに示されているように、それ
ぞれ送信のためのドライバDVとレシーバRVを
備えており、そしてドライバDVから相手側のレ
シーバRVへの情報送信は、同軸ケーブル4で行
なわれる。このとき、パラレルの形のデータをシ
リアルの形に変換して送信する。したがつて受信
側では、受信したデータをパラレルに変換しなけ
ればならない。
第2図は、このようにパラレルのデータをシリ
アルに、シリアルのデータをパラレルに変換して
送受信する回路の従来例を示すブロツク図であ
る。送信するデータは、ライトデータバス5から
パラレルの形でシリアル/パラレル、パラレル/
シリアル変換用のレジスタ6に入力され、サンプ
リング回路7にシフトして出力される。そしてサ
ンプリング回路7でシリアル・インターフエイス
部の転送方式に従つてパルス幅などをデータ変換
してから、ドライバDVを介して、シリアル・イ
ンターフエイス部に出力される。またシリアル・
インターフエイス部から入力したシリアルの受信
データは、レシーバRVを介してサンプリング回
路7に入力し、データ変換した後、前記の変換レ
ジスタ6にシリアルに入力し、パラレルに変換し
て、リードデータバス8に出力される。
(c) 従来技術とその問題点 このようにシリアル/パラレル、パラレル/シ
リアルに変換して送受信を行なう場合、電源投入
時に、各回路が正確に動作するか診断を行なつて
から、データの送受信が開始される。
従来はこのような診断を行なうのに、各種のビ
ツトパターンをもつた診断用のデータA1,A2
……をメモリ9に記横させておき、それぞれのデ
ータA1,A2………を順次、Xレジスタ10およ
び演算回路11を介して、シリアル/パラレル、
パラレル/シリアル変換用のレジスタ6にセツト
する。そしてシリアルに変換して、送信回路をオ
フにした状態で、変換レジスタ6→サンプリング
回路7→ドライバDV→レシーバRV→サンプリ
ング回路7→変換レジスタ6のように、出力デー
タを折り返して、再度変換レジスタ6に入力す
る。このようにシリアルに出力したデータを変換
レジスタ6でパラレルに変換し、リードデータバ
ス8を介してYレジスタ12に入力する。そして
演算回路11で、先にXレジスタ10から入力し
たデータと比較・照合して、ビツトパターンが一
致しているかどうかをチエツクする。このような
診断を、各診断用データA1,A2………について
行なう。
ところがこのような方式では、変換レジスタ6
にセツトしたデータが、例えば1ワード
“10111000P”(Pはチエツクビツト)であつたと
すると、該変換レジスタ6の誤動作でシフトが行
なわれず、該データが変換レジスタ6内に残つた
ままとなつた場合は、リードデータバス8に出力
した場合も、データの内容は“10111000P”とな
る。総ての回路が正確に動作した場合は、折り返
して来たデータを変換レジスタ6でパラレルに変
換してリードデータバス8に出力されたデータの
内容も“10111000P”となることはいうまでもな
い。結局送受信回路が正確に動作した場合の出力
データの内容も、変換レジスタ6からのシフトが
行なわれないで、セツトされたまま残つたデータ
の読み出し内容も等しくなり、変換レジスタ6自
身の診断は行なえないことになる。
(d) 発明の目的 本発明は、従来の送受信回路の診断方式におけ
るこのような問題を解消し、変換レジスタの誤動
作も確実に診断できるようにすることを目的とす
る。
(e) 発明の構成 この目的を達成するために本発明は、シリア
ル/パラレル、パラレル/シリアル変換用のレジ
スタを用いて、パラレルに入力したデジタル情報
をシリアルに変換し、シリアルの形で送受信する
回路の診断を行なう場合に、 シリアル/パラレル、パラレル/シリアル変換
用のデジタルのビツト長を、データ長+αビツト
と設定し、シリアル/パラレル、パラレル/シリ
アル変換レジスタのパラレル入力と、シリアル/
パラレル、パラレル/シリアル変換レジスタから
出力した診断データを繰り返しで再入力するシリ
アル入力のビツト位置を異にする方式を採つてい
る。
(f) 発明の実施例 次に本発明によ送受信回路の診断方式が実際上
どのように具体化されるかを実施例で説明する。
第3図は本発明の方式の実施例を示すブロツク図
であり、第2図の構成と同一部分には、同一符号
が付されている。本発明の場合も、診断用のデー
タA1,A2………を順次変換レジスタ6にセツト
し、ループ状に折り返して再度変換レジスタ6に
シリアルに入力し、それをパラレルに読み出し
て、先に入力したデータと比較する点は同じであ
る。本発明では、最初にセツトされたデータと折
り返されたデータとのビツト位置が異なるように
している。そのために、変換レジスタ6のビツト
長を、診断用のデータのデータ長+αビツトと
し、診断用データのデータ長より、α分(図示例
では2ビツト)だけ長くする。そしてライトデー
タバス5からのデータセツトは、先頭から所定ビ
ツト(図示例ではパリテイチエツクビツトPも含
めて9ビツト)の領域に行なう。レシーバRVか
ら折り返してシリアルにセツトする場合は、先頭
の2ビツト分はデータセツトしないで、残りの9
ビツトの領域にセツトする。つまりライトデータ
バス5からのパラレル入力時と、折り返しデータ
をシリアル入力するときに、2ビツト分だけビツ
ト位置をずらす。
このようにすれば、最初のパラレル入力したデ
ータが例えば1ワード“10111000P”であつたと
すると、変換レジスタ6の誤動作どでシフトが行
なわれず、該データが変換レジスタ6内に残つた
ままとなつた場合は、それをリードデータバス8
に出力する際のデータの内容は、前記のように先
頭の2ビツトは使用されないため、
“111000PXX”となる。XXは不定で、前の状態
が残つている。したがつて第2図の演算回路11
で、パラレル入力データの“10111000P”と変換
レジスタ6の誤動作のために残つたデータ
“111000PXX”を比較すると、変換レジスタのビ
ツト長とデータ長との差のαビツト(図示例では
2ビツト)だけ、不一致となり、変換レジスタ6
が誤動作していることが検出できる。
総ての回路が正確に動作した場合は、折り返し
て来たデータも“10111000P”で、かつ3ビツト
目以降のビツト位置にセツトされる。ただし、読
み出しも3ビツト目以降から行なわれるので、リ
ードデータバス8に出力されるデータ内容も
“10111000P”となり、先にライトデータバス5
から入力したデータと一致することになる。
(g) 発明の効果 以上のように本発明によれば、シリアル/パラ
レル、パラレル/シリアル変換用のレジスタのビ
ツト長を、診断用データのデータ長+αビツトと
設定し、シリアル/パラレル、パラレル/シリア
ル変換用レジスタのパラレル入力と、折り返され
たシリアル入力のビツト位置をずらす方式になつ
ている。そのため、変換レジスタ自身の誤動作
で、パラレル入力データがそのまま残つていて
も、リードデータバスに読み出す際は、αビツト
だけずれた状態で読み出されることにより、デー
タ比較を行なつた場合不一致となり、変換レジス
タの誤動作をチエツクでき、総ての回路を確実に
診断することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図はデータの送受信方式を示すブロツク
図、第2図は従来の送受信回路の診断方式を示す
ブロツク図、第3図は本発明による送受信回路の
診断方式の実施例を示すブロツク図である。 図において、5はライトデータバス、6はシリ
アル/パラレル、パラレル/シリアル変換用のレ
ジスタ、7はサンプリング回路、DVはドライ
バ、RVはレシーバ、8はリードデータバス、1
1は比較・照合用の演算回路をそれぞれ示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 シリアル/パラレル、パラレル/シリアル変
    換用のレジスタを用いて、パラレルに入力したデ
    ジタル情報をシリアルに変換し、シリアルの形で
    送受信する回路の診断を行なう場合に、 シリアル/パラレル、パラレル/シリアル変換
    用のレジスタのビツト長を、データ長+αビツト
    と設定し、シリアル/パラレル、パラレル/シリ
    アル変換レジスタのパラレル入力と、シリアル/
    パラレル、パラレル/シリアル変換レジスタから
    出力した診断データを折り返して再入力するシリ
    アル入力のビツト位置を異にすることを特徴とす
    る送受信回路の診断方式。
JP57234147A 1982-12-31 1982-12-31 送受信回路の診断方式 Granted JPS59125139A (ja)

Priority Applications (1)

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JP57234147A JPS59125139A (ja) 1982-12-31 1982-12-31 送受信回路の診断方式

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JP57234147A JPS59125139A (ja) 1982-12-31 1982-12-31 送受信回路の診断方式

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JPS59125139A JPS59125139A (ja) 1984-07-19
JPS6349417B2 true JPS6349417B2 (ja) 1988-10-04

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ID=16966375

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JP57234147A Granted JPS59125139A (ja) 1982-12-31 1982-12-31 送受信回路の診断方式

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