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JPS635837B2 - - Google Patents
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JPS635837B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS635837B2
JPS635837B2 JP57097513A JP9751382A JPS635837B2 JP S635837 B2 JPS635837 B2 JP S635837B2 JP 57097513 A JP57097513 A JP 57097513A JP 9751382 A JP9751382 A JP 9751382A JP S635837 B2 JPS635837 B2 JP S635837B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bubble
ion implantation
ion
implanted
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57097513A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS58215783A (en
Inventor
Yoshio Sato
Tsutomu Myashita
Makoto Oohashi
Keiichi Betsui
Kazuo Matsuda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS635837B2 publication Critical patent/JPS635837B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C19/00Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
    • G11C19/02Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements
    • G11C19/08Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure
    • G11C19/0808Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure using magnetic domain propagation
    • G11C19/0816Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using magnetic elements using thin films in plane structure using magnetic domain propagation using a rotating or alternating coplanar magnetic field

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明はイオン注入法で作成される磁気バブル
メモリデバイスの転送パターンに関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a transfer pattern for a magnetic bubble memory device created by ion implantation.

(2) 技術の背景 磁気バブルを利用して情報の蓄積、論理演算等
を行なう磁気バブル利用装置は、不揮発性高記憶
密度及び低消費電力等種々の特徴をもち、さらに
は機械的要素を全く含まない固体素子であること
から非常に高い信頼性を有している。このような
磁気バブルメモリ装置にも最近の情報量の増加、
装置の小型化要求などにより記憶密度の増加が求
められている。このため最近、バブル転送路をイ
オン注入法により形成し記憶密度を高度化する方
法が開発されている。この方法は第1図の平面図
および第2図の断面図に示す如くガドリニウム・
ガリウム・ガーネツト基板1の上にバブル用結晶
となる磁性ガーネツトの薄膜2を液相エピタキシ
ヤル成長法により形成し、この磁性薄膜2に対し
パターン3以外の部分4に水素、ネオン、ヘリウ
ム等のイオンを注入するのである。このようにパ
ターン3を形成した素子はイオンを注入された部
分4の磁化容易軸方向が矢印aの如く面内方向と
一致し、パターン部分3の磁化容易軸方向は矢印
bの如くもとのままの面内方向と垂直である。従
つてバブル5は回転磁界によつてパターン3の周
縁に沿つて矢印cの如く転送される。そしてこの
パターンは円形や4角形をその一部が重なるよう
にして列状に並べた形状であり、従来のパーマロ
イパターンの如くギヤツプを必要としないため寸
法精度が緩くとも良く、従つてパターンが小さく
でき高密度化が実現される。
(2) Background of the technology Magnetic bubble utilization devices that use magnetic bubbles to store information, perform logical operations, etc. have various features such as non-volatile high storage density and low power consumption, and furthermore, they do not require any mechanical elements. Since it is a solid-state device that does not contain any The recent increase in the amount of information in such magnetic bubble memory devices
There is a demand for increased storage density due to demands for smaller devices. For this reason, recently, a method has been developed to form bubble transfer paths by ion implantation to improve storage density. This method uses gadolinium as shown in the plan view in Figure 1 and the cross-sectional view in Figure 2.
A thin film 2 of magnetic garnet, which will become a crystal for bubbles, is formed on a gallium garnet substrate 1 by liquid phase epitaxial growth, and ions of hydrogen, neon, helium, etc. It is injected with. In the element in which the pattern 3 is formed in this way, the direction of the easy axis of magnetization of the ion-implanted part 4 coincides with the in-plane direction as shown by arrow a, and the direction of the easy axis of magnetization of pattern part 3 is the same as the original direction as shown by arrow b. It is perpendicular to the in-plane direction. Therefore, the bubble 5 is transferred along the periphery of the pattern 3 as shown by the arrow c by the rotating magnetic field. This pattern has a shape in which circles and squares are arranged in a row so that some of them overlap, and unlike conventional permalloy patterns, it does not require a gap, so the dimensional accuracy can be loose, and the pattern is small. This results in higher density.

このイオン注入法によりパターンを形成した磁
性薄膜には、第3図に示す如くストライプアウト
されやすい軸が3方向()、()、()に120゜
の間隔をなして存在し、これら120゜の間隔をなす
磁化容易軸に対し連接デイスクパターン3がいず
れの方向に一列に並んでいるかによつてスーパー
トラツクsとバツドトラツクbとグツドトラツク
gの3通りのバブル移動通路ができる。
The magnetic thin film patterned by this ion implantation method has axes that are easily striped out at 120° intervals in three directions (), (), and (), as shown in Figure 3. Depending on in which direction the connected disk patterns 3 are lined up in a line with respect to the axis of easy magnetization which forms the interval , there are three bubble movement paths: super track s, butt track b, and good track g.

(3) 従来技術と問題点 第4図は従来のイオン注入バブルデバイスのバ
ブル転送パターンの1例を示す図である。同図に
おいて、6はU字状に折り返した形状にイオンが
注入されない部分で形成された転送パタン、7は
イオン注入領域をそれぞれ示す。
(3) Prior Art and Problems FIG. 4 is a diagram showing an example of a bubble transfer pattern of a conventional ion implantation bubble device. In the figure, numeral 6 indicates a transfer pattern formed in a U-shaped folded portion where ions are not implanted, and numeral 7 indicates an ion implantation region.

第4図に示すように、従来マイナーループのス
ーパー側もしくはバツド側において1組の正逆コ
ーナーを設計する際、幾可学的なパターン形状の
制限から、どうしても非イオン注入領域の面積が
大きくなる部分A,Bが生ずる。このような場
合、矢印P方向から転送されて来るバブル8がQ
点から隣りのパターンのR点へ移るような誤動作
をすることがある。
As shown in Figure 4, when conventionally designing a pair of positive and negative corners on the super side or butt side of a minor loop, the area of the non-ion implanted region inevitably becomes large due to restrictions on the geometric pattern shape. Parts A and B are generated. In such a case, bubble 8 transferred from the direction of arrow P is
A malfunction such as moving from a point to the R point of an adjacent pattern may occur.

(4) 発明の目的 本発明は上記従来の問題点に鑑み、イオン注入
バブルデバイスにおける誤動作の生じ難い転送パ
ターンを提供することを目的とするものである。
(4) Object of the Invention In view of the above-mentioned conventional problems, it is an object of the present invention to provide a transfer pattern that is less likely to cause malfunctions in an ion implantation bubble device.

(5) 発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、磁気バブル
結晶にイオン注入法によつてバブルの転送路を形
成したイオン注入バブルデバイスのバブル転送路
において、非イオン注入領域の面積の広い部分に
転送路とは別にイオン注入領域の穴を設けたこと
を特徴とするイオン注入バブルデバイス用転送パ
ターンを提供することによつて達成される。
(5) Structure of the Invention According to the present invention, the object is to reduce the area of the non-ion-implanted region in the bubble transfer path of an ion-implanted bubble device in which a bubble transfer path is formed in a magnetic bubble crystal by ion implantation. This is achieved by providing a transfer pattern for an ion-implanted bubble device, which is characterized in that a hole for an ion-implanted region is provided in a wide portion in addition to a transfer path.

(6) 発明の実施例 以下本発明実施例を図面によつて詳述する。(6) Examples of the invention Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第5図は本発明によるイオン注入バブルデバイ
ス用転送パターンを示す図である。同図は結晶の
121(211または112は等価の方向)側の1組
のスーパー側正コーナー、バツト側逆コーナーに
ついて適用した場合を示すものであり、10は非イ
オン注入領域(ハツチングを入れて示す)で形成
された転送パターン、11は(ハツチングのない
部分)イオン注入領域をそれぞれ示す。
FIG. 5 is a diagram showing a transfer pattern for an ion implantation bubble device according to the present invention. The figure shows the case where the application is applied to a pair of super-side positive corners and butt-side reverse corners on the 121 side (211 or 112 are equivalent directions) of the crystal, and 10 is a non-ion implanted region (hatched). 11 indicates the ion implantation region (the part without hatching).

本発明による転送パターン10は、その非イオ
ン注入領域の面積の広い部分にイオン注入領域の
穴12,13を設けたものである。
In the transfer pattern 10 according to the present invention, holes 12 and 13 for ion implantation regions are provided in the large area of the non-ion implantation region.

第6図は本発明による転送パターンの正コーナ
ーのバイアスマージンを従来例と比較して示した
図である。同図は縦軸にバイアス磁界を、横軸に
駆動磁界をとり、曲線A,A′により本発明によ
る場合を、曲線B,B′により従来の特性をそれ
ぞれ示した。
FIG. 6 is a diagram showing a bias margin of a positive corner of a transfer pattern according to the present invention in comparison with a conventional example. In this figure, the vertical axis represents the bias magnetic field, and the horizontal axis represents the driving magnetic field. Curves A and A' represent the case according to the present invention, and curves B and B' represent the conventional characteristics.

図より本発明の場合の下限(曲線A′で示す)
は従来(曲線B′で示す)に比し約60e改善されて
いることがわかる。これは下限の誤動作のモード
が第4図で示したように矢印P方向から来たバブ
ル8が隣りのループへ移つてしまう誤動作である
ので、この誤動作がイオン注入領域の穴12,1
3を設けることにより改善されるためである。
From the figure, the lower limit in the case of the present invention (indicated by curve A')
It can be seen that this is improved by about 60e compared to the conventional model (shown by curve B'). This is because the lower limit malfunction mode is a malfunction in which the bubble 8 coming from the direction of arrow P moves to the adjacent loop as shown in FIG.
This is because it is improved by providing 3.

(7) 発明の効果 以上詳細に説明したように本発明のイオン注入
バブルデバイス用転送パターンは、その非イオン
注入領域の広い部分にイオン注入領域の穴を設け
ることにより誤動作を防止したものであつて、イ
オン注入バブルデバイスの信頼性向上に寄与する
といつた効果大なるものである。
(7) Effects of the Invention As explained in detail above, the transfer pattern for an ion-implanted bubble device of the present invention prevents malfunction by providing a hole in the ion-implanted region in a wide part of the non-ion-implanted region. This has a significant effect in that it contributes to improving the reliability of ion-implanted bubble devices.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はイオン注入法により形成される磁気バ
ブルメモ素子の平面図、第2図は第1図の−
線における断面図、第3図は磁性薄膜バブル結晶
の結晶方向と転送路との関係を説明するための
図、第4図は従来のイオン注入バブルデバイスの
バブル転送パターンの1例を示す図、第5図は本
発明によるイオン注入バブルデバイス用転送パタ
ーンを示す図、第6図は本発明による転送パター
ンの特性を従来の転送パターンと比較して示した
図である。 図面において、10は転送パターン、11はイ
オン注入領域、12,13はイオン注入領域の穴
をそれぞれ示す。
Fig. 1 is a plan view of a magnetic bubble memo element formed by ion implantation, and Fig. 2 is a - of Fig. 1.
3 is a diagram for explaining the relationship between the crystal direction of a magnetic thin film bubble crystal and a transfer path, and FIG. 4 is a diagram showing an example of a bubble transfer pattern of a conventional ion implantation bubble device. FIG. 5 is a diagram showing a transfer pattern for an ion implantation bubble device according to the present invention, and FIG. 6 is a diagram showing the characteristics of the transfer pattern according to the present invention in comparison with a conventional transfer pattern. In the drawing, reference numeral 10 indicates a transfer pattern, reference numeral 11 indicates an ion implantation region, and reference numerals 12 and 13 indicate holes in the ion implantation region.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 磁気バルブ結晶にイオン注入法によつてバブ
ルの転送路を形成したイオン注入バブルデバイス
のバブル転送路において、非イオン注入領域の面
積の広い部分に転送路とは別にイオン注入領域の
穴を設けたことを特徴とするイオン注入バブルデ
バイス用転送パターン。
1 In the bubble transfer path of an ion-implanted bubble device in which a bubble transfer path is formed in a magnetic valve crystal by ion implantation, a hole for the ion implantation region is provided separately from the transfer path in a large area of the non-ion implanted region. A transfer pattern for an ion implantation bubble device characterized by:
JP57097513A 1982-06-09 1982-06-09 Transfer pattern for ion implantation bubble device Granted JPS58215783A (en)

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JPS58215783A JPS58215783A (en) 1983-12-15
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