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JPS637441B2 - - Google Patents
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JPS637441B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS637441B2
JPS637441B2 JP56058930A JP5893081A JPS637441B2 JP S637441 B2 JPS637441 B2 JP S637441B2 JP 56058930 A JP56058930 A JP 56058930A JP 5893081 A JP5893081 A JP 5893081A JP S637441 B2 JPS637441 B2 JP S637441B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
thin film
resistor
electrode
nickel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56058930A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57173902A (en
Inventor
Akyoshi Nomura
Yasuhisa Ishikura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP56058930A priority Critical patent/JPS57173902A/ja
Publication of JPS57173902A publication Critical patent/JPS57173902A/ja
Publication of JPS637441B2 publication Critical patent/JPS637441B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Non-Insulated Conductors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、薄膜抵抗器に関するものであり、安
定性が良好で、高抵抗を容易に実現することので
きる抵抗器を提供しようとするものである。
近年、電子工業の飛躍的な発展にともない、回
路素子に対する電気的特性上の要求も次第に厳し
いものになつて来ている。薄膜回路や個別抵抗器
においても同様であり、抵抗材料として安定度の
高い窒化タンタルやニツケル−クロム合金が開発
され、実用化されている。しかしながら、これら
の抵抗材料は、いずれも固有抵抗が低いものであ
り、これで高抵抗薄膜抵抗器を実現しようとする
と、抵抗器が大型化することを避けることができ
ない。
一方、高抵抗材料として、クロム−シリコンや
ニオブ−シリコンなどの金属−シリコンが開発さ
れている。これらは1KΩ/□以上の高抵抗を容
易に実現でき、上述の問題点を解決することがで
きるものである。しかしながら、金属−シリコン
を使用した抵抗器は、精密級薄膜抵抗器として使
用するには安定性に問題のあるものである。その
原因を解析したところ、薄膜抵抗体を構成する金
属−シリコン中のシリコンが拡散しやすく、電極
をアルミニウムで構成した場合、アルミニウムと
シリコンとの固溶体が形成されて、電極と抵抗体
との接触抵抗が高くなり、かつ、アルミニウム中
にシリコンが連続的に拡散して行くので、両者の
接触界面部が不安定となるためであることを見出
した。
本発明は、この解析結果にもとずき、金属−シ
リコン薄膜抵抗体に接する電極を、アルミニウム
とニツケル−クロム合金とで構成し、かつ電極と
抵抗体との間にニツケル−クロムシリサイド層を
設けることによつて上述の問題点を解決したもの
である。
以下に、本発明の一実施例について、図面を用
いて説明する。
図において、1は絶縁基板であり、その上に金
属−シリコン系薄膜抵抗体2が設けられている。
この抵抗体2は、たとえばクロム−シリコンまた
はこれにニツケルや鉄を添加した合金を絶縁基板
1上に真空蒸着法またはスパツタリング法で着膜
させ、所定の形状にエツチングしたものである。
3は電極で、まずニツケル−クロム合金を、次に
アルミニウムをその上に順次真空蒸着法またはス
パツタリング法で膜厚合計1μm程度(ニツケル
−クロム合金の膜厚は500Å以下)に着膜させた
後、所定の形状にエツチングして形成したもので
ある。4はニツケル−クロムシリサイド層であ
り、金属−シリコン系薄膜抵抗体2上に電極3を
形成した後、真空中またはアルゴンガスや窒素ガ
スなどの不活性雰囲気またはグリーンガスなどの
還元性雰囲気中において300〜600℃の温度で1時
間前後処理することによつて生成させたものであ
る。熱処理の際の雰囲気中に酸素が含まれている
と酸化シリコンなどの酸化物が同時に生成され、
その結果、ニツケル−クロムシリサイド層が不均
一かつ不完全なものとなり、安定性に悪影響を与
えてしまうので注意を要する。このニツケル−ク
ロムシリサイド層4は安定であり、上述の熱処理
条件で容易に得られるものである。
アルミニウムと、ニツケル−クロム合金を電極
に利用する利点は抵抗体と電極との接触部分のみ
において、シリサイド合金層を形成させることが
できることである。その結果、抵抗体中のシリコ
ンが連続的に電極へ拡散するのが防止され、抵抗
器が安定化される。そして、金属−シリコン系薄
膜抵抗体の面積抵抗が大きいために、抵抗器を小
型化でき、かつ上述のように抵抗体と電極との接
触が安定化されていることもあつて、高密度抵抗
回路網を構成する上で特に本発明は有利となる。
以上のように、本発明によれば、金属−シリコ
ン系薄膜抵抗体と電極との接触が安定化されるの
で、特性の安定した抵抗器を得ることができる。
なお絶縁基板1としては、酸化シリコン絶縁層を
設けたシリコン板、アルミナ磁器、フオルステラ
イト磁器、グレーズドアルミナ磁器やガラスが適
当である。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例における薄膜抵抗器の断
面図である。 1……絶縁基体、2……金属−シリコン系薄膜
抵抗体、3……電極、4……ニツケル−クロムシ
リサイド層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 絶縁基板上に、金属−シリコン系薄膜抵抗体
    およびこの金属−シリコン系薄膜抵抗体に接する
    電極を有し、前記電極がアルミニウムとニツケル
    −クロム合金とで構成されており、かつ前記電極
    と前記金属−シリコン系薄膜抵抗体との界面にニ
    ツケル−クロムシリサイド層を有することを特徴
    とする薄膜抵抗器。
JP56058930A 1981-04-17 1981-04-17 Thin film resistor Granted JPS57173902A (en)

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JPS57173902A JPS57173902A (en) 1982-10-26
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JPS57173902A (en) 1982-10-26

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