JPS637441B2 - - Google Patents
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- JPS637441B2 JPS637441B2 JP56058930A JP5893081A JPS637441B2 JP S637441 B2 JPS637441 B2 JP S637441B2 JP 56058930 A JP56058930 A JP 56058930A JP 5893081 A JP5893081 A JP 5893081A JP S637441 B2 JPS637441 B2 JP S637441B2
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- silicon
- thin film
- resistor
- electrode
- nickel
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- Expired
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Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、薄膜抵抗器に関するものであり、安
定性が良好で、高抵抗を容易に実現することので
きる抵抗器を提供しようとするものである。
定性が良好で、高抵抗を容易に実現することので
きる抵抗器を提供しようとするものである。
近年、電子工業の飛躍的な発展にともない、回
路素子に対する電気的特性上の要求も次第に厳し
いものになつて来ている。薄膜回路や個別抵抗器
においても同様であり、抵抗材料として安定度の
高い窒化タンタルやニツケル−クロム合金が開発
され、実用化されている。しかしながら、これら
の抵抗材料は、いずれも固有抵抗が低いものであ
り、これで高抵抗薄膜抵抗器を実現しようとする
と、抵抗器が大型化することを避けることができ
ない。
路素子に対する電気的特性上の要求も次第に厳し
いものになつて来ている。薄膜回路や個別抵抗器
においても同様であり、抵抗材料として安定度の
高い窒化タンタルやニツケル−クロム合金が開発
され、実用化されている。しかしながら、これら
の抵抗材料は、いずれも固有抵抗が低いものであ
り、これで高抵抗薄膜抵抗器を実現しようとする
と、抵抗器が大型化することを避けることができ
ない。
一方、高抵抗材料として、クロム−シリコンや
ニオブ−シリコンなどの金属−シリコンが開発さ
れている。これらは1KΩ/□以上の高抵抗を容
易に実現でき、上述の問題点を解決することがで
きるものである。しかしながら、金属−シリコン
を使用した抵抗器は、精密級薄膜抵抗器として使
用するには安定性に問題のあるものである。その
原因を解析したところ、薄膜抵抗体を構成する金
属−シリコン中のシリコンが拡散しやすく、電極
をアルミニウムで構成した場合、アルミニウムと
シリコンとの固溶体が形成されて、電極と抵抗体
との接触抵抗が高くなり、かつ、アルミニウム中
にシリコンが連続的に拡散して行くので、両者の
接触界面部が不安定となるためであることを見出
した。
ニオブ−シリコンなどの金属−シリコンが開発さ
れている。これらは1KΩ/□以上の高抵抗を容
易に実現でき、上述の問題点を解決することがで
きるものである。しかしながら、金属−シリコン
を使用した抵抗器は、精密級薄膜抵抗器として使
用するには安定性に問題のあるものである。その
原因を解析したところ、薄膜抵抗体を構成する金
属−シリコン中のシリコンが拡散しやすく、電極
をアルミニウムで構成した場合、アルミニウムと
シリコンとの固溶体が形成されて、電極と抵抗体
との接触抵抗が高くなり、かつ、アルミニウム中
にシリコンが連続的に拡散して行くので、両者の
接触界面部が不安定となるためであることを見出
した。
本発明は、この解析結果にもとずき、金属−シ
リコン薄膜抵抗体に接する電極を、アルミニウム
とニツケル−クロム合金とで構成し、かつ電極と
抵抗体との間にニツケル−クロムシリサイド層を
設けることによつて上述の問題点を解決したもの
である。
リコン薄膜抵抗体に接する電極を、アルミニウム
とニツケル−クロム合金とで構成し、かつ電極と
抵抗体との間にニツケル−クロムシリサイド層を
設けることによつて上述の問題点を解決したもの
である。
以下に、本発明の一実施例について、図面を用
いて説明する。
いて説明する。
図において、1は絶縁基板であり、その上に金
属−シリコン系薄膜抵抗体2が設けられている。
この抵抗体2は、たとえばクロム−シリコンまた
はこれにニツケルや鉄を添加した合金を絶縁基板
1上に真空蒸着法またはスパツタリング法で着膜
させ、所定の形状にエツチングしたものである。
3は電極で、まずニツケル−クロム合金を、次に
アルミニウムをその上に順次真空蒸着法またはス
パツタリング法で膜厚合計1μm程度(ニツケル
−クロム合金の膜厚は500Å以下)に着膜させた
後、所定の形状にエツチングして形成したもので
ある。4はニツケル−クロムシリサイド層であ
り、金属−シリコン系薄膜抵抗体2上に電極3を
形成した後、真空中またはアルゴンガスや窒素ガ
スなどの不活性雰囲気またはグリーンガスなどの
還元性雰囲気中において300〜600℃の温度で1時
間前後処理することによつて生成させたものであ
る。熱処理の際の雰囲気中に酸素が含まれている
と酸化シリコンなどの酸化物が同時に生成され、
その結果、ニツケル−クロムシリサイド層が不均
一かつ不完全なものとなり、安定性に悪影響を与
えてしまうので注意を要する。このニツケル−ク
ロムシリサイド層4は安定であり、上述の熱処理
条件で容易に得られるものである。
属−シリコン系薄膜抵抗体2が設けられている。
この抵抗体2は、たとえばクロム−シリコンまた
はこれにニツケルや鉄を添加した合金を絶縁基板
1上に真空蒸着法またはスパツタリング法で着膜
させ、所定の形状にエツチングしたものである。
3は電極で、まずニツケル−クロム合金を、次に
アルミニウムをその上に順次真空蒸着法またはス
パツタリング法で膜厚合計1μm程度(ニツケル
−クロム合金の膜厚は500Å以下)に着膜させた
後、所定の形状にエツチングして形成したもので
ある。4はニツケル−クロムシリサイド層であ
り、金属−シリコン系薄膜抵抗体2上に電極3を
形成した後、真空中またはアルゴンガスや窒素ガ
スなどの不活性雰囲気またはグリーンガスなどの
還元性雰囲気中において300〜600℃の温度で1時
間前後処理することによつて生成させたものであ
る。熱処理の際の雰囲気中に酸素が含まれている
と酸化シリコンなどの酸化物が同時に生成され、
その結果、ニツケル−クロムシリサイド層が不均
一かつ不完全なものとなり、安定性に悪影響を与
えてしまうので注意を要する。このニツケル−ク
ロムシリサイド層4は安定であり、上述の熱処理
条件で容易に得られるものである。
アルミニウムと、ニツケル−クロム合金を電極
に利用する利点は抵抗体と電極との接触部分のみ
において、シリサイド合金層を形成させることが
できることである。その結果、抵抗体中のシリコ
ンが連続的に電極へ拡散するのが防止され、抵抗
器が安定化される。そして、金属−シリコン系薄
膜抵抗体の面積抵抗が大きいために、抵抗器を小
型化でき、かつ上述のように抵抗体と電極との接
触が安定化されていることもあつて、高密度抵抗
回路網を構成する上で特に本発明は有利となる。
に利用する利点は抵抗体と電極との接触部分のみ
において、シリサイド合金層を形成させることが
できることである。その結果、抵抗体中のシリコ
ンが連続的に電極へ拡散するのが防止され、抵抗
器が安定化される。そして、金属−シリコン系薄
膜抵抗体の面積抵抗が大きいために、抵抗器を小
型化でき、かつ上述のように抵抗体と電極との接
触が安定化されていることもあつて、高密度抵抗
回路網を構成する上で特に本発明は有利となる。
以上のように、本発明によれば、金属−シリコ
ン系薄膜抵抗体と電極との接触が安定化されるの
で、特性の安定した抵抗器を得ることができる。
なお絶縁基板1としては、酸化シリコン絶縁層を
設けたシリコン板、アルミナ磁器、フオルステラ
イト磁器、グレーズドアルミナ磁器やガラスが適
当である。
ン系薄膜抵抗体と電極との接触が安定化されるの
で、特性の安定した抵抗器を得ることができる。
なお絶縁基板1としては、酸化シリコン絶縁層を
設けたシリコン板、アルミナ磁器、フオルステラ
イト磁器、グレーズドアルミナ磁器やガラスが適
当である。
図は本発明の一実施例における薄膜抵抗器の断
面図である。 1……絶縁基体、2……金属−シリコン系薄膜
抵抗体、3……電極、4……ニツケル−クロムシ
リサイド層。
面図である。 1……絶縁基体、2……金属−シリコン系薄膜
抵抗体、3……電極、4……ニツケル−クロムシ
リサイド層。
Claims (1)
- 1 絶縁基板上に、金属−シリコン系薄膜抵抗体
およびこの金属−シリコン系薄膜抵抗体に接する
電極を有し、前記電極がアルミニウムとニツケル
−クロム合金とで構成されており、かつ前記電極
と前記金属−シリコン系薄膜抵抗体との界面にニ
ツケル−クロムシリサイド層を有することを特徴
とする薄膜抵抗器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56058930A JPS57173902A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Thin film resistor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56058930A JPS57173902A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Thin film resistor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57173902A JPS57173902A (en) | 1982-10-26 |
| JPS637441B2 true JPS637441B2 (ja) | 1988-02-17 |
Family
ID=13098547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56058930A Granted JPS57173902A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Thin film resistor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57173902A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106575555B (zh) * | 2014-08-18 | 2018-11-23 | 株式会社村田制作所 | 电子部件以及电子部件的制造方法 |
-
1981
- 1981-04-17 JP JP56058930A patent/JPS57173902A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57173902A (en) | 1982-10-26 |
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