JPS647335B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は籾米・玄米、白米等の米粒に発生する
亀裂（胴割）を検出して、その粒数計数する米粒
の亀裂検出装置の改良に係る。

従来の技術 従来の米粒中の亀裂粒の検出は多孔板の透光窓
上に米粒を列べ、これに下方から投光して透光模
様を目側計数して亀裂米の粒数または比率を算出
する原始的な手段が用いられ、作業が煩わしく雑
作であつた。

また、カプセルに対してランプより投光し、そ
の反射光線を受光素子で受光することにより、カ
プセルの形状の変形や汚れ等を検知するものが特
開昭55−39001号公報として提案されているが、
このものはカプセルからの反射光線を利用するも
のであるため、その内部の異常を検知することが
できず、また、総数と異常品の個数を知るもので
もなかつた。

発明が解決すべき課題 本発明は、米粒内部に存在する亀裂を検知する
ことができると共に、亀裂粒数及び総粒数を高精
度で計数することが可能な米粒の亀裂粒検出装置
を提供することを目的とするものである。

課題を解決するための手段 本発明の米粒の亀裂粒検出装置は、板体に開口
した透光窓を挾んで前記板体の一側に光源を、他
側に複数の受光素子を配置し、前記受光素子は前
記透光窓の中心の前後両側にその光軸がそれぞれ
向けられると共に、それら受光量の差と基準限界
値とを比較して亀裂粒を検知する亀裂粒検出回路
と総粒数用検出回路とに連絡され、前記亀裂粒検
出回路を胴割粒用カウンター回路に結合すると共
に前記総粒数用検出回路を総粒数用カウンター回
路に結合したことを特徴とする構成を有する。

実施例 第１図中、符号１０は箱形機枠で、該機枠１０
内の上側に振動装置１１を備えた送米樋１２を緩
傾斜状に装架し、その供給側の受入部１３の上部
に供給ホツパー１４を装架すると共に、排出側の
樋端を機枠壁部の開口部から外部に突出し、送米
樋１２の樋底部の板体９に設けた透光窓１の上下
位置に光量検出部１５の白熱電球などから成る光
源７と一対のフオートダイオードなどから成る受
光素子５，６を対向支架して配設し、各受光素子
５，６を機枠１０上部の亀裂粒子検出回路１６に
関連的に、かつ電気的に連結する。１７は検出回
路１６に設けた表示器である。

そして、供給ホツパー１４から流下し送米樋１
２に設けたスリツト状の透光窓１に達した米粒２
は微振動（振幅１粍程度）する状態においてその
前後両偏部３，４に対して光源７から照射すると
共に、その透過光線を両受光素子５，６がそれぞ
れ受光してその光量差を亀裂粒用検出回路１６に
設定した基準限界値と比較して米粒亀裂の有無を
検出し、その亀裂米粒、無亀裂米粒（異状粒子を
除く）の各粒数または比率をそれぞれ演算して表
示器１７に表示される。

第２図は前記透光窓１上に位置して下方から照
射された米粒を示し、その各図ａ，ｂ，ｃにおい
て中央の縦状点線（太線）は透光窓１のスリツ
ト、楕円形の閉曲線（点線）は籾米内の米粒２、
また、米粒２中に記した縦状点線（細線）は亀裂
面Ｐをそれぞれ表わす。また、図ａにおいて、Ａ
及びＢは前記各受光素子５，６が対向するそれぞ
れの視点位置で、亀裂面のない整粒子の場合、こ
の視点位置によつて受光される米粒２の両偏部３
４の光量（明度）は共に等しく、その光量差が基
準限界値（電圧）内になる。図ｂの米粒２′はそ
の亀裂面Ｐが透光窓１の左側にあり、ために透光
窓１から射入した粒子内の透過光線は前記亀裂面
Ｐで散乱してその粒体左側部の光量が低下してこ
の光量差が基準限界値外となる。図Ｃの米粒２″
は上記米粒２′と反対の明暗影面を生じ、その光
量差が基準限界値外となつて、この粒子も亀裂粒
として識別される。

次に第３図において、特許請求の範囲第２項の
ものは、前記透光窓１上に載置した米粒の透光検
出部Ｑに近接して配置したレンズ１８，１９をグ
ラスフアイバー２０，２１を介して受光素子５，
６に連絡したものであり、通常、米粒の前後両偏
部の間隔が短小であるため、直接に両受光素子枠
を米粒に近接的に臨設することが困難不便である
のに対し、本構成はグラスフアイバーを介在させ
ることにより、両受光素子の間隙を自由に設ける
ことができる効果がある。

また、特許請求の範囲第３項のものは、前記透
光窓１の下部に近接して光源７にレンズ２２を介
して連通したグラスフアイバーの先端面を臨設す
る構成にしたので、光源を直接レンズだけでの介
入で配置すると、光源と透光窓との間に必要な間
隔を設けて装置全体の高さが高くなり不便である
のに対し、本構成はグラスフアイバーにより光線
を屈曲できるから、光源の位置を自由に設定でき
装置全体を合理化できる効果がある。

特許請求の範囲第４項のものは、第１図におい
て前記透光窓１を傾架した送米樋１２の樋底に開
口する構成にしたから、試料の米粒を送米樋１２
を介して連続的に透光窓１に供給でき、その検出
作業を促進して検出能率を向上できる効果があ
る。

次に、第４図及び第５図において、特許請求の
範囲第５項のものは、前記受光素子５，６と光源
７間で前記両受光素子５，６に対向する所定位置
において、没入部２４とこの没入部２４に開口し
た透光窓１を多数縦列状に移動用板体２５に配設
し、前記縦列した透光窓１…が順次所定位置を通
過するよう板体２４が走行する軌道２６Ａ，２６
Ｂを設ける構成にしたもので、その駆動装置２７
を起動することにより前記各透光窓１…に供給さ
れた米粒が連続的に、かつ正確に所定位置に達し
てその検出作業を促進すると共に、各粒子が一定
の姿勢に位置してその検出精度を高揚できる等の
効果がある。

次に、第６図の電気回路について説明する。亀
裂粒用センサー部２８に設けた両受光素子５，６
は各増幅器２９，２９を介して亀裂粒用検出回路
３０の差動増幅器３１に連結され、該増幅器３１
の出力側アナログスイツチ３２を介して複数個の
比較器３３，３４にそれぞれ連結され、またその
出力側はOR回路３５を介して胴割粒用カウンタ
ー回路３６に連結される。また、一側に設けた受
光素子６の出力側の分岐路３７は粒選別用検出回
路３８の各比較器３９，４０及び総粒数用検出回
路４２の比較器４８にそれぞれ連結され、前記比
較器３９，４０の出力側はそれぞれAND回路４
１Ａ，４１Ｂ及びインバーターを介して総粒数用
検出回路４２に設けたAND回路４９にそれぞれ
連結される。４３，４４は前記検出回路３０に設
けた比較器３３，３４に連絡する亀裂粒用設定
器、４５，４６は前記検出回路３８に設けた比較
器３９，４０に連絡する粒選別用設定器、また亀
裂粒側の回路に設けたOR回路３５の出力側の分
岐路４７はインバーターを介して粒選別用側の回
路に設けたAND回路４１Ａ，４１Ｂにそれぞれ
連結されると共に、AND回路４１Ａ，４１Ｂの
入力側は総粒数用検出回路４２に設けたアナログ
スイツチ回路５０と前記比較器４８を結ぶ導線に
連結され、該スイツチ回路５０の出力側は前記
AND回路４９を介して総粒数用カウンター回路
５１に連結され、前記各カウンター回路３６，５
１は共に比率用計器５２に連結してある。また、
第７図の電気回路は前記第４図及び第５図に示す
移沈用板体２４の粒数用通孔Ｒ…を照射する発光
ダイオード５３と、受光するフオートセンサー５
４を設けて、そのフオートセンサー５４の出力側
を増幅器５５を介して前記アナログスイツチ回路
５０に連結してある。なお、５６は前記検出回路
４２の比較器４８に連絡する粒子検出用設定器で
ある。

したがつて、前記透光窓１の米粒２の両偏部
３，４の明暗影を受光した受光素子５，６の光量
の検出信号は増幅されて胴割粒用検出回路３０に
入力され、該検出回路３０においてその差動増幅
器３１でその光量差を検出すると共に、その検出
信号はアナログスイツチ３２に入力される。また
一方では、前記総粒数用検出回路４２側の比較器
４８によつて発する粒子の検出（確認）信号はア
ナログスイツチ回路５０に入力されると共に、そ
のスイツチ信号によつてアナログスイツチ３２は
その都度閉成し、前記差動増幅器３１の検出信号
は各比較器３３，３４に入力されて該比較器３
３，３４に連結された設定器４３，４４に設定さ
れた基準限界値（基準電圧−または＋）と比較さ
れ、その比較信号はOR回路３５を介して胴割粒
用カウンター回路３６に入力されて胴割粒数を計
数して表示器１７に表示する。また、前記受光素
子６側の分岐出力は粒選別用検出回路３８の各比
較器３９，４０に入力され、各比較器３９，４０
に連結された設定器４５，４６に所定された未熟
粒・玄米の明暗度（電圧）と比較されてその比較
信号はAND回路４１Ａ，４１Ｂに入力され、該
各回路４１Ａ，４１Ｂにおいて前記検出回路３０
のOR回路３５からインバーターを通した分岐出
力との一致信号によつて胴割米を除去した高明度
の玄米および高明度の玄米および高明度の未熟粒
を識別すると共に、その検出信号はインバーター
を介して総粒数用カウンター回路５１に設けた
AND回路４９に入力され、該回路４９によつて
未熟粒と玄米は総粒数から除外される。また、総
粒数側の回路に設けた比較器４８は、該回路４９
に連絡する粒子を識別するための粒子検出用設定
器５６からの入力と比較してその検出信号をアナ
ログスイツチ回路５０を介してAND回路４９に
入力し、該回路４９で前記粒選別用側のAND回
路４１Ａ，４１Ｂからインバーターを介して入力
する信号と相互に比較され、その一致信号が総粒
数用カウンター回路５１に入力されて玄米および
未熟粒を除外した米粒総数が表示器１７に表示さ
れ、また各カウンタ回路３６，５１の分岐出力は
それぞれ比率用計器５２に入力され、該計器５２
によつてその比率が演算されて表示器１７に表示
される。

発明の効果 本発明によると、複数の受光素子の受光量の差
を基準限界値と比較するため、外部の明るさに無
関係に米粒内部に存在する亀裂を検知することが
でき、亀裂粒数と総粒数とを高精度で計数するこ
とが可能である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の側断面図、第２図は米粒の明暗影面の説明
図、第３図はそのセンサー部の別実施例の側面
図、第４図はその移動用板体の一部拡大断面図、
第５図は移動用板体の一部平面図、第６図、第７
図は共にその電気回路図である。 １……透光窓、２，２′，２″……米粒、３……
前偏部、４……後偏部、５……受光素子、６……
受光素子、７……光源、８……間隙、９……板
体、１０……機枠、１１……振動装置、１２……
送米樋、１３……受入部、１４……供給ホツパ
ー、１５……光量検出部、１６……亀裂粒用検出
回路、１７……表示器、１８……レンズ、１９…
…レンズ、２０……グラスフアイバー、２１……
グラスフアイバー、２２……レンズ、２３……グ
ラスフアイバー、２４……没入部、２５……移動
用は板体、２６Ａ，２６Ｂ……軌道、２７……駆
動装置、２８……亀裂粒用センサー部、２９……
増幅器、３０……検出回路、３１……差動増幅
器、３２……アナログスイツチ、３３……比較
器、３４……比較器、３５……OR回路、３６…
…胴割粒用カウンター回路、３７……分岐路、３
８……粒選別用検出回路、３９……比較器、４０
……比較器、４１Ａ，４１Ｂ……AND回路、４
２……総粒数用検出回路、４３……設定器、４４
……設定器、４５……設定器、４６……設定器、
４７…分岐路、４８……比較器、４９……AND
回路、５０……アナログスイツチ回路、５１……
総粒数用カウンター回路、５２……比率用計器、
５３……発行ダイオード、５４……フオートセン
サー、５５……増幅器、５６……粒子検出用設定
器、Ａ，Ｂ……視点位置、Ｐ……亀裂面、Ｑ……
透光検出部、Ｒ……粒数用通孔。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 板体に開口した透光窓を挾んで前記板体の一
   側に光源を、他側に複数の受光素子を配置し、前
   記受光素子は前記透光窓の中心の前後両側にその
   光軸がそれぞれ向けられると共に、それら受光量
   の差と基準限界値とを比較して亀裂粒を検知する
   亀裂粒検出回路と総粒数用検出回路とに連絡さ
   れ、前記亀裂粒検出回路を胴割粒用カウンター回
   路に結合すると共に前記総粒数用検出回路を総粒
   数用カウンター回路に結合したことを特徴とする
   米粒の亀裂粒検出装置。 ２ 前記透光窓上に近接して設けたレンズに、受
   光素子に連通したグラスフアイバーの先端面を臨
   設した特許請求の範囲第１項記載の米粒の亀裂粒
   検出装置。 ３ 前記透光窓の下部に近接して設けたレンズ
   に、光源に連通したグラスフアイバーの先端面を
   臨設した特許請求の範囲第１項記載の米粒の亀裂
   粒検出装置。 ４ 前記透光窓を傾架した樋底に開口した特許請
   求の範囲第１項記載の米粒の亀裂粒検出装置。 ５ 前記透光窓が板体に多数縦列状に形成された
   没入部の底部に開口され、前記縦列した透光窓が
   順次受光素子と光源との間を通過するよう前記板
   体が軌道上を走行するようにした特許請求の範囲
   第１項記載の米粒の亀裂粒検出装置。 ６ 前記板体が前記透光窓に対応して粒数用通孔
   を有し、前記粒数用通孔を挾んで第２の光源と第
   ２の受光素子とを設け、該第２の受光素子が該第
   ２の光源からの光を感知したとき前記受光素子の
   受光量の差と基準限界とを比較する電気回路を設
   けた特許請求の範囲第１項記載の米粒の亀裂粒検
   出装置。 ７ 前記亀裂粒検出回路を所定明暗度以上の検出
   米粒を未熟粒として米粒数から除外する粒選別用
   検出回路に連結した特許請求の範囲第１項記載ま
   たは第６項記載の米粒の亀裂粒検出装置。 ８ 前記亀裂粒検出回路を所定明暗度以下の検出
   米粒を玄米粒として米粒数から除外する粒選別用
   検出回路に連結した特許請求の範囲第１項または
   第６項または第７項記載の米粒の亀裂粒検出装
   置。