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JPS648811B2 - - Google Patents
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JPS648811B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS648811B2
JPS648811B2 JP4494980A JP4494980A JPS648811B2 JP S648811 B2 JPS648811 B2 JP S648811B2 JP 4494980 A JP4494980 A JP 4494980A JP 4494980 A JP4494980 A JP 4494980A JP S648811 B2 JPS648811 B2 JP S648811B2
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JP
Japan
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copolymer
maleic anhydride
fluorine
carbon
och
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Expired
Application number
JP4494980A
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Japanese (ja)
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JPS55146446A (en
Inventor
Takeshi Sukegawa
Shungo Sugawara
Hiroshi Murase
Takaomi Satokawa
Tsuneo Fujii
Akira Oomori
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Daikin Industries Ltd
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Daikin Kogyo Co Ltd
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Publication date
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  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明は新規な高エネルギー線レジスト材料に
関する。さらに詳しくは特定のフルオロアルキル
ビニルエーテル単位とマレイン酸不飽和アルキル
エステル単位を有する含フツ素共重合体からなる
高エネルギー線レジスト材料に関する。 大規模集積回路(LSI)にみられるような半導
体部品などの製造においては、従来フオトレジス
トと呼ばれる感光性を有する高分子材料を徴細パ
ターンの加工に用いてきたが、近年サブミクロン
程度の高い精度が要求されるようになつた。この
ような高精度の微細加工においては回折効果によ
る解像度の低下をさけるため、波長の短い高エネ
ルギー線として紫外光、軟X線、電子線などを用
いることが必要といわれている。そのため、これ
らの高エネルギー線に高感度で、しかも解像度の
よい微細パターンを形成できる高分子レジスト材
料の開発が急がれている。 本発明の目的は前記のごとき条件を満足しうる
高エネルギー線レジスト材料を提供することにあ
り、この目的は、一般式(): (式中、XはH、Fまたは
The present invention relates to a novel high energy ray resist material. More specifically, the present invention relates to a high-energy ray resist material comprising a fluorine-containing copolymer having specific fluoroalkyl vinyl ether units and maleic acid unsaturated alkyl ester units. In the manufacturing of semiconductor components such as those found in large-scale integrated circuits (LSI), a photosensitive polymer material called photoresist has traditionally been used to process fine patterns. Precision is now required. In such high-precision microfabrication, it is said that it is necessary to use ultraviolet light, soft X-rays, electron beams, etc. as high-energy rays with short wavelengths in order to avoid a decrease in resolution due to diffraction effects. Therefore, there is an urgent need to develop polymer resist materials that are highly sensitive to these high-energy rays and can form fine patterns with good resolution. An object of the present invention is to provide a high-energy ray resist material that can satisfy the above-mentioned conditions, and the object is to provide a high-energy ray resist material that satisfies the above-mentioned conditions. (wherein, X is H, F or

【式】であり、 mは1〜10の整数であり、nは1または2の整数
である)で示されるフルオロアルキルビニルエー
テル単位とマレイン酸不飽和アルキルエステルの
マレイン酸基部分の炭素―炭素間不飽和結合が開
裂した形の単位が交互に繰返された構造を有する
含フツ素共重合体によつて達成されることが見出
された。 すなわち前記含フツ素共重合体は紫外光、軟X
線、電子線などの高エネルギー線に対して感光性
を有し、感度、解像度が高く、高エネルギー線用
レジスト材料として最適の特性を有している。 本発明に用いる前記含フツ素共重合体は新規な
重合体である。すなわち、一般式F(CF2p
CH2OCH=CH2(式中、pは1〜11の整数であ
る)で示されるフルオロアルキルビニルエーテル
は、古くから知られており、たとえば英国特許第
739731号明細書には、前記フルオロアルキルビニ
ルエーテルの製造方法とそれらホモポリマーをつ
くることならびに種々のフルオロアルキルビニル
エーテル同士でコポリマーをつくること、さらに
はそれらがアクリロニトリル、酢酸ビニル、スチ
レン、メチルアクリレート、メチルメタクリレー
トのようなビニルモノマーやイソプレン、ブタジ
エンのようなジエンモノマーと共重合しうること
も記載されている。また米国特許第2991278号明
細書にはCF3CH2OCH=CH2とテトラフルオロエ
チレンや塩化ビニルのようなハロオレフインとの
コポリマーが記載されている。しかしながら、フ
ルオロアルキルビニルエーテルとマレイン酸、無
水マレイン酸などα,β―不飽和ジカルボン酸ま
たはその誘導体との共重合体に関しては、いまだ
まつたく知られていない。 本発明に用いる含フツ素共重合体は、たとえば
一般式(): X(CF2n(CH2oOCH=CH2 () (式中、X、mおよびnは前記に同じである)
で示されるフルオロアルキルビニルエーテル(以
下、FVEという)と無水マレイン酸との共重合
体に不飽和アルコールを反応せしめてエステル化
することによつて製造される。 前記FVEは前記英国特許第739731号明細書に
記載された方法により、次式に示されるように、 X(CF2n(CH2oOH+CH3COOCH=CH2→ X(CF2n(CH2oOCH=CH2+CH3COOH フルオロアルカノールと酢酸ビニルとを水銀触媒
の存在下で反応させることによつて合成すること
ができる。 また、ここに使用するフルオロアルカノールで
XがHのものは、次式に示されるように、 mCF2=CF2+CH3OH→H(CF2CF2nCH2OH メタノールをテロゲンとするテトラフルオロエチ
レンのテロメリゼーシヨンによつて合成され、X
がFのものは、次式に示されるように、 C3F7COOH→C3F7COOCH3→C3F7CH2OH 市販のパーフルオロカルボン酸をメチルエステル
とし、それをリチウムアルミニウムハイドライド
(LiAlH4)により還元することによつて合成され
る。さらにXが
[Formula], m is an integer of 1 to 10, and n is an integer of 1 or 2 It has been found that this can be achieved by using a fluorine-containing copolymer having a structure in which units in which unsaturated bonds are cleaved are alternately repeated. That is, the fluorine-containing copolymer is exposed to ultraviolet light, soft
It has photosensitivity to high-energy beams such as beams and electron beams, and has high sensitivity and resolution, making it ideal as a resist material for high-energy beams. The fluorine-containing copolymer used in the present invention is a novel polymer. That is, the general formula F(CF 2 ) p
Fluoroalkyl vinyl ethers represented by CH 2 OCH=CH 2 (wherein p is an integer from 1 to 11) have been known for a long time, and for example,
No. 739731 describes a method for producing the fluoroalkyl vinyl ethers, the production of homopolymers thereof, and the production of copolymers of various fluoroalkyl vinyl ethers; It is also described that it can be copolymerized with vinyl monomers such as and diene monomers such as isoprene and butadiene. Further, US Pat. No. 2,991,278 describes a copolymer of CF 3 CH 2 OCH=CH 2 and a haloolefin such as tetrafluoroethylene or vinyl chloride. However, little is known about copolymers of fluoroalkyl vinyl ethers and α,β-unsaturated dicarboxylic acids such as maleic acid and maleic anhydride or derivatives thereof. The fluorine- containing copolymer used in the present invention has, for example , the general formula ( ) : )
It is produced by reacting a copolymer of fluoroalkyl vinyl ether (hereinafter referred to as FVE) and maleic anhydride with an unsaturated alcohol to esterify it. The FVE was obtained by the method described in British Patent No. 739731, as shown in the following formula: X(CF 2 ) n (CH 2 ) o OH+CH 3 COOCH= CH 2 (CH 2 ) o OCH=CH 2 +CH 3 COOH It can be synthesized by reacting a fluoroalkanol and vinyl acetate in the presence of a mercury catalyst. In addition, the fluoroalkanol used here where X is H is mCF 2 = CF 2 + CH 3 OH→H (CF 2 CF 2 ) n CH 2 OH as shown in the following formula. Synthesized by telomerization of fluoroethylene,
is F, as shown in the following formula: C 3 F 7 COOH→C 3 F 7 COOCH 3 →C 3 F 7 CH 2 OH Synthesized by reduction with (LiAlH 4 ). Furthermore, X

【式】のものは、次式に示さ れるように、ヘキサフルオロプロピレンから誘導
されるフルオロアルキルアイオダイドより合成さ
れる。 本発明に用いる共重合体の製造で使用される一
般式()で示されるFVEは、前記のような方
法で製造されるn=1または2のフルオロアルキ
ルビニルエーテルであり、m>10のものは常温で
固体であつて沸点も高く、合成あるいは精製上取
扱いが困難であるため、本発明に用いる共重合体
の製造ではm=1〜10のフルオロアルキルビニル
エーテルが用いられる。 FVEと無水マレイン酸との共重合体は両単量
体をラジカル重合開始剤の存在下で共重合させる
ことによつてえられるが、共重合は塊状、懸濁、
乳化および溶液重合のいずれでも行なうことがで
きる。 共重合に用いるラジカル重合開始剤は、単量体
混合物あるいはそれらと溶媒との混合物に可溶な
開始剤であればいずれでもよく、また乳化重合を
行なうばあいには水に可溶な開始剤であればよ
く、たとえばアゾビスイソブチロニトリルのよう
なアゾ化合物、ジイソプロピルパーオキシジカー
ボネートあるいはアンモニウムパーサルフエート
のような過酸化物などがあげられる。 かくしてえられるFVEと無水マレイン酸との
共重合体は、元素分析および核磁気共鳴
(NMR)の測定により、FVE単位と無水マレイ
ン酸単位がそれぞれ1:1で交互に繰返された構
造をもつ交互共重合体であることが判明した。 本発明に用いる含フツ素共重合体は前記FVE
と無水マレイン酸との共重合体に不飽和アルコー
ルを反応させることによりえられ、この反応はた
とえば次式で示される。なお次式において、Rは
不飽和アルキル基である。 前記不飽和アルコールとしてはアリルアルコー
ル、クロチルアルコール、プロパギルアルコール
などがあげられる。 かくしてえられる含フツ素共重合体は無色〜淡
黄色の非晶性の固体ポリマーであり、アセトンや
クロロホルムのような極性溶媒に溶解するが、n
―ヘキサンのような無極性溶媒には溶解しない。 前記含フツ素共重合体から高分子被膜パターン
を形成するには、該共重合体の被膜を基板上に形
成し、これに紫外光、軟X線、電子線などの高エ
ネルギー線を任意の形状に照射して、照射部分を
架橋により不溶化せしめたのち、非照射部分の被
膜を溶出除去できる現像液で処理することによ
り、照射部分を高分子被膜パターンとして基板上
に残すようにすればよい。すなわち、含フツ素共
重合体の溶液を常法にしたがつてシリコンウエハ
などの基板上に塗布、乾燥して被膜を形成せしめ
たのち、これに適宜のマスクをかぶせて高エネル
ギー線を照射し、ついで現像液で処理すれば、照
射部分は不溶化し、末照射部分は除去されて所望
の微細パターンを形成することができる。 つぎに実施例をあげて本発明を説明する。なお
以下において%は重量%である。 実施例 1 H(CF2CF24CH2OCH=CH2の91.6g(0.2モ
ル)と無水マレイン酸19.6g(0.2モル)を200ml
のガラスアンプルに入れ、アゾビスイソブチロニ
トリル0.03gを添加したのち、アンプル内を脱気
し溶封した。 該アンプルを65℃の水槽に沈め、加温しながら
時々振盪すると無水マレイン酸が溶解して均一に
なつた。24時間後、内容物を1のベンゼン中に
注入して白色の固体をえた。これを30℃で乾燥し
たのち、350mlのアセトンに溶解し、再び3の
ベンゼン中に注入し、分離した重合体を80℃で減
圧乾燥したところ、93gの白色の重合体がえられ
た。 この重合体は、元素分析を行なつたところ、F
=54.1%、H=1.41%、C=31.6%であり、また
核磁気共鳴(NMR)分析の結果から、H
(CF2CF24CH2OCH=CH2と無水マレイン酸と
が1:1の交互共重合体であることが判明した。
またこの共重合体の粘度(メチルエチルケトン
中、25℃における粘度)を測定したところ〔η〕
=0.61であつた。 前記共重合体10gをアリルアルコール中で5時
間還流して酸無水基を半アリルエステル化する
と、アリルアルコールに溶解するようになつた。
この溶液を冷却後n―ヘキサン中に投入し反応生
成物を析出させた。これを真空乾燥中で乾燥して
共重合体の半アリルエステル化物約8gをえた。 H(CF2CF24CH2OCH=CH2と無水マレイン
酸との共重合体およびそれをアリルアルコールで
半アリルエステルとしたものの赤外吸収スペクト
ルをそれぞれ第1図および第2図に示す。なお半
アリルエステル化前にも1730cm-1付近にカルボン
酸の吸収がみられるのは、重合系中の微量の水分
あるいは共重合体の保存中に空気中の水分により
酸無水基の一部が開環されたものと考えられる。
半アリルエステル化後は1800cm-1、1860cm-1にみ
られた酸無水基による吸収がなくなり、酸無水基
が半アリルエステル化されたことを示している。 前記でえたH(CF2CF24CH2OCH=CH2と無
水マレイン酸との共重合体の半アリルエステル化
物をメチルエチルケトンに溶かし10%溶液とし、
これをスピンコーテイング法によりシリコンウエ
ハ上に塗布し、60℃で15分間減圧下で加熱したと
ころ、厚さ約0.42μmの均一な皮膜が形成された。
これに軟X線(モリブデンターゲツト、16kV、
200mAで動作)を照射したのち、ジオキサンと
ベンゼンとの容積比2:3の混合溶媒で現像する
と、非照射部分は溶解除去される一方、照射部分
はアリル基の架橋反応により不溶化してウエハ上
に残つた。 このときの軟X線照射量に対する残膜率〔(現
像処理後照射部分に残つた膜厚)/(もとの膜
厚)〕をブロツトしたものを照射特性として第3
図に示す。感度として50%残膜率の照射量をとる
と約60mJ/cm2であつた。 前記感度は市販の電子線レジスト材料であるグ
リシジルアクリレートとエチルアクリレートとの
共重合体(ミードケミカル社製、商品名
Copolymer)に匹敵する感度である。加えて、
つぎの実施例2に述べるようなパターン状被膜を
えようとするときのパターンの解像性を左右する
尺度となるγ値(第4図に照射特性とγ値=
(logEo/Ei)-1との関係を示す)は1.5と前記グリ
シジルアクリレートとエチルアクリレートとの共
重合体のγ値1.2〔L.F.Thompson、J.P.
Ballantyne and E.D.Feit、J.Vac.Sci.Technol.,
Vol.12、p.1280(1975)〕よりも高い値を示してい
る。 実施例 2 実施例1でえたH(CF2CF24CH2OCH=CH2
と無水マレイン酸との共重合体の半アリルエステ
ル化物を用い、実施例1と同様にしてシリコン基
板上に塗布被膜を形成した。これに軟X線吸収材
として金を用いたパターンマスクを介して軟X線
を実施例1と同様に照射したのち、ジオキサンと
ベンゼンとの容積比1:1の溶媒で現像してマス
クのパターンを被膜に転写したところ、1μm程度
の解像がえられた。 実施例 3 実施例1でえたH(CF2CF24CH2OCH=CH2
と無水マレイン酸との共重合体の半アリルエステ
ル化物を用い、実施例1と同様にしてシリコン基
板上に0.6μmの塗布被膜を形成した。一方、石英
基板上に最小線巾1μmで形成したクロームハード
マスクを前記の被膜を形成したシリコンウエハ上
に密着させマスクを通して重水素放電管からの短
波長紫外光を37mJ/cm2照射した。ジオキサンと
ベンゼンとの容積比1:1の溶媒で現像したとこ
ろ、最小線巾が1μmで厚さ0.32μmの微小パター
ンがマスクパターンに忠実に形成された。 実施例 4 実施例1でえたH(CF2CF24CH2OCH=CH2
と無水マレイン酸との共重合体の半アリルエステ
ル化物2gと過酸化ベンゾイル0.03gとをアセト
ンに溶解してえた溶液をアルミニウム板上に塗布
し、50℃で30分間乾燥したのち、120℃で10分間
加熱したところ、均一な皮膜が形成された。この
皮膜を形成したアルミニウム板を2kW高圧水銀
灯から20cm離れた位置に置き、15分間紫外線照射
を行なつたところ、アセトンに膨潤はするが溶
解、剥離しない被覆がえられた。
[Formula] is synthesized from a fluoroalkyl iodide derived from hexafluoropropylene, as shown in the following formula. The FVE represented by the general formula () used in the production of the copolymer used in the present invention is a fluoroalkyl vinyl ether with n=1 or 2 produced by the method described above, and those with m>10 are Fluoroalkyl vinyl ether with m=1 to 10 is used in the production of the copolymer used in the present invention because it is solid at room temperature and has a high boiling point, making it difficult to handle in terms of synthesis or purification. A copolymer of FVE and maleic anhydride can be obtained by copolymerizing both monomers in the presence of a radical polymerization initiator.
Both emulsification and solution polymerization can be carried out. The radical polymerization initiator used in copolymerization may be any initiator that is soluble in the monomer mixture or a mixture of them and a solvent, and in the case of emulsion polymerization, an initiator that is soluble in water. Examples thereof include azo compounds such as azobisisobutyronitrile, peroxides such as diisopropyl peroxydicarbonate, and ammonium persulfate. The thus obtained copolymer of FVE and maleic anhydride was found to have an alternating structure in which FVE units and maleic anhydride units were alternately repeated in a 1:1 ratio, as determined by elemental analysis and nuclear magnetic resonance (NMR) measurements. It turned out to be a copolymer. The fluorine-containing copolymer used in the present invention is the FVE
It is obtained by reacting a copolymer of maleic anhydride and maleic anhydride with an unsaturated alcohol, and this reaction is shown, for example, by the following formula. In addition, in the following formula, R is an unsaturated alkyl group. Examples of the unsaturated alcohol include allyl alcohol, crotyl alcohol, and propargyl alcohol. The fluorine-containing copolymer thus obtained is a colorless to pale yellow amorphous solid polymer that dissolves in polar solvents such as acetone and chloroform.
-Not soluble in non-polar solvents such as hexane. In order to form a polymer film pattern from the fluorine-containing copolymer, a film of the copolymer is formed on a substrate, and then high-energy rays such as ultraviolet light, soft X-rays, and electron beams are irradiated with arbitrary radiation. After irradiating the shape and insolubilizing the irradiated area by crosslinking, the irradiated area can be left on the substrate as a polymer coating pattern by treating it with a developer that can elute and remove the coating on the non-irradiated area. . That is, a solution of a fluorine-containing copolymer is applied to a substrate such as a silicon wafer in a conventional manner, dried to form a film, and then a suitable mask is placed over the solution and high-energy rays are irradiated. Then, by processing with a developer, the irradiated portions become insolubilized and the least irradiated portions are removed, forming a desired fine pattern. Next, the present invention will be explained with reference to Examples. In addition, below, % is weight %. Example 1 91.6 g (0.2 mol) of H(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and 19.6 g (0.2 mol) of maleic anhydride in 200 ml
After adding 0.03 g of azobisisobutyronitrile to the glass ampoule, the inside of the ampoule was degassed and melt-sealed. The ampoule was submerged in a water bath at 65° C. and occasionally shaken while heating, so that the maleic anhydride was dissolved and the mixture became uniform. After 24 hours, the contents were poured into 1 part of benzene to yield a white solid. After drying this at 30°C, it was dissolved in 350ml of acetone and poured into the benzene from Step 3 again. The separated polymer was dried under reduced pressure at 80°C to obtain 93g of a white polymer. Elemental analysis of this polymer revealed that F
= 54.1%, H = 1.41%, C = 31.6%, and from the results of nuclear magnetic resonance (NMR) analysis, H
(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and maleic anhydride were found to be a 1:1 alternating copolymer.
In addition, the viscosity of this copolymer (viscosity in methyl ethyl ketone at 25°C) was measured [η]
= 0.61. When 10 g of the copolymer was refluxed in allyl alcohol for 5 hours to convert the acid anhydride group into a semi-allylic ester, it became soluble in allyl alcohol.
After cooling this solution, it was poured into n-hexane to precipitate the reaction product. This was dried in a vacuum dryer to obtain about 8 g of a semiallylic ester of the copolymer. Figures 1 and 2 show the infrared absorption spectra of a copolymer of H(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and maleic anhydride and a half-allylic ester thereof made with allyl alcohol, respectively. . The absorption of carboxylic acid at around 1730 cm -1 is observed even before semi-allyl esterification because some of the acid anhydride groups are absorbed by trace amounts of moisture in the polymerization system or by moisture in the air during storage of the copolymer. It is thought that the ring has been opened.
After semi-allylic esterification, the absorption by the acid anhydride groups observed at 1800 cm -1 and 1860 cm -1 disappeared, indicating that the acid anhydride groups were semi-allylic esterified. The semi-allylic ester of the copolymer of H(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and maleic anhydride obtained above was dissolved in methyl ethyl ketone to make a 10% solution,
When this was applied onto a silicon wafer by spin coating and heated under reduced pressure at 60°C for 15 minutes, a uniform film with a thickness of approximately 0.42 μm was formed.
This is followed by soft X-rays (molybdenum target, 16kV,
After irradiation (operating at 200 mA), development is performed using a mixed solvent of dioxane and benzene at a volume ratio of 2:3. While the non-irradiated areas are dissolved and removed, the irradiated areas are insolubilized by the cross-linking reaction of allyl groups and are not deposited on the wafer. I stayed behind. At this time, the remaining film ratio [(film thickness remaining in the irradiated area after development processing)/(original film thickness)] against the soft X-ray irradiation amount was blotted and the third
As shown in the figure. The sensitivity was approximately 60 mJ/cm 2 when taking the irradiation dose at 50% residual film rate. The above sensitivity was measured using a commercially available electron beam resist material, a copolymer of glycidyl acrylate and ethyl acrylate (manufactured by Mead Chemical Co., trade name:
The sensitivity is comparable to that of Copolymer). In addition,
The γ value (Figure 4 shows the irradiation characteristics and γ value =
(logEo/Ei) -1 ) is 1.5 and the γ value of the copolymer of glycidyl acrylate and ethyl acrylate is 1.2 [LFThompson, JP
Ballantyne and EDFeit, J.Vac.Sci.Technol.
Vol.12, p.1280 (1975)]. Example 2 H (CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 obtained in Example 1
A coating film was formed on a silicon substrate in the same manner as in Example 1 using a semi-allylic ester of a copolymer of 1 and maleic anhydride. This was irradiated with soft X-rays through a pattern mask using gold as a soft X-ray absorbing material in the same manner as in Example 1, and then developed with a solvent of dioxane and benzene in a volume ratio of 1:1 to form a pattern on the mask. When transferred onto a film, a resolution of approximately 1 μm was obtained. Example 3 H (CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 obtained in Example 1
A coating film of 0.6 μm was formed on a silicon substrate in the same manner as in Example 1 using a semi-allylic ester of a copolymer of 1 and maleic anhydride. On the other hand, a chrome hard mask formed on a quartz substrate with a minimum line width of 1 μm was brought into close contact with the silicon wafer on which the film was formed, and 37 mJ/cm 2 of short wavelength ultraviolet light from a deuterium discharge tube was irradiated through the mask. When developed with a solvent containing dioxane and benzene in a volume ratio of 1:1, a minute pattern with a minimum line width of 1 μm and a thickness of 0.32 μm was formed faithfully to the mask pattern. Example 4 H (CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 obtained in Example 1
A solution prepared by dissolving 2 g of a semi-allylic ester of a copolymer of maleic anhydride and 0.03 g of benzoyl peroxide in acetone was coated on an aluminum plate, dried at 50°C for 30 minutes, and then heated at 120°C. After heating for 10 minutes, a uniform film was formed. When the aluminum plate coated with this film was placed 20 cm away from a 2kW high-pressure mercury lamp and exposed to ultraviolet light for 15 minutes, a coating was obtained that swelled in acetone but did not dissolve or peel.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はH(CF2CF24CH2OCH=CH2と無水
マレイン酸との共重合体の赤外吸収スペクトル、
第2図はH(CF2CF24CH2OCH=CH2と無水マ
レイン酸との共重合体の半アリルエステル化物の
赤外吸収スペクトルであり、第3図は、H
(CF2CF24CH2OCH=CH2と無水マレイン酸と
の共重合体の半アリルエステル化物に軟X線を照
射したときにえられる特性曲線、第4図はエネル
ギー線照射特性とγ値=〔logEo/Ei〕-1との関係を 示すグラフである。
Figure 1 shows the infrared absorption spectrum of a copolymer of H(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and maleic anhydride.
Figure 2 shows an infrared absorption spectrum of a semi-allylic ester of a copolymer of H(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=CH 2 and maleic anhydride;
(CF 2 CF 2 ) 4 CH 2 OCH=Characteristic curve obtained when a semi-allylic ester of a copolymer of CH 2 and maleic anhydride is irradiated with soft X-rays. Figure 4 shows the energy ray irradiation characteristics. It is a graph showing the relationship with γ value = [logEo/Ei] -1 .

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一般式(): (式中、XはH、Fまたは【式】であり、 mは1〜10の整数であり、nは1または2の整数
である)で示されるフルオロアルキルビニルエー
テル単位とマレイン酸不飽和アルキルエステルの
マレイン酸基部分の炭素−炭素間不飽和結合が開
裂した形の単位が交互に繰返された構造を有する
含フツ素共重合体からなる高エネルギー線レジス
ト材料。 2 含フツ素共重合体が、前記一般式()で示
されるフルオロアルキルビニルエーテル単位と無
水マレイン酸の炭素−炭素間不飽和結合が開裂し
た形の単位が交互に繰返された構造を有する共重
合体と不飽和アルコールとの反応生成物である特
許請求の範囲第1項記載の高エネルギー線レジス
ト材料。
[Claims] 1 General formula (): (wherein, X is H, F or [Formula], m is an integer of 1 to 10, and n is an integer of 1 or 2) and a maleic acid unsaturated alkyl ester A high-energy ray resist material comprising a fluorine-containing copolymer having a structure in which units in the form of cleaved carbon-carbon unsaturated bonds in the maleic acid group moiety are alternately repeated. 2. A copolymer in which the fluorine-containing copolymer has a structure in which fluoroalkyl vinyl ether units represented by the general formula () and units in which the carbon-carbon unsaturated bond of maleic anhydride is cleaved are alternately repeated. 2. The high-energy ray resist material according to claim 1, which is a reaction product of a combination and an unsaturated alcohol.
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